WO2004106948A1 - Dispositif a connexions multiples perfectionne pour systeme de test de micro-circuits electroniques - Google Patents
Dispositif a connexions multiples perfectionne pour systeme de test de micro-circuits electroniques Download PDFInfo
- Publication number
- WO2004106948A1 WO2004106948A1 PCT/FR2003/001560 FR0301560W WO2004106948A1 WO 2004106948 A1 WO2004106948 A1 WO 2004106948A1 FR 0301560 W FR0301560 W FR 0301560W WO 2004106948 A1 WO2004106948 A1 WO 2004106948A1
- Authority
- WO
- WIPO (PCT)
- Prior art keywords
- electrical
- terminals
- circuit board
- printed circuit
- electrical connection
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07364—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
- G01R1/07371—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate card or back card with apertures through which the probes pass
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07364—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
- G01R1/07378—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate adapter, e.g. space transformers
Definitions
- the present invention relates to improved multiple connection devices for electronic micro-circuit testing system which find a particularly advantageous application for testing electronic components such as micro-computer chips, miniature photosensitive cells.
- the electrical connector having multiple contacts described in this prior document includes a body defining a cavity in which are housed three upper plates respectively, intermediate and lower substantially parallel and made of an electrically insulating material. These plates have a multiplicity of through holes arranged to be capable of being crossed by contact needles made of an electrically conductive material, of a length greater than the distance separating the upper and lower plates so that they emerge from the side and other of these two plates.
- One of the ends of the needles for example those emerging from the upper plate are connected by wire to the inputs-outputs of the test apparatus, while the body of the connector is moved so that the ends of the needles emerging from the lower plate come into mechanical contact with the input-output of the electronic component to be tested.
- an electrical connector with multiple contacts having the general shape of a patch or the like comprising a base in an electrically insulating material, at least two pairs of input-output terminals, two needles in an electrically conductive material respectively connecting the two input-output terminals of each pair, a first and a second plate made of an electrically insulating material, these first and second plates having through orifices, the needles being inserted in these orifices so that they emerge from their ends on either side of these first and second plates, the emerging ends of the needles constituting the input-output terminals of the two pairs, means for fixing the first and second plates relative to the base, at least two thirds and fourth plates, means for positioning these third and fourth plates between the first era and second plates, the second, third and fourth plates having through orifices of which at least one cross section has a minimum value substantially equal to the cross section of the needles, these orifices being made in the second, third and fourth plates so that the needles are slidably mounted in these orific
- the object of the present invention is therefore to provide an improved multiple connection device for an electronic micro-circuit test system which can operate in wide temperature ranges and which can, moreover, be adapted without great difficulty to test different types of circuits. e.
- the present invention relates to a multiple connections improved device for electronic microcircuits test system, characterized in that it comprises:
- a pin connector comprising a patch made of a first electrically insulating material and a plurality of pins, each pin being mounted by crossing the patch so that it emerges on either side of the two first and second opposite faces of the pastille, the parts of pins emerging from the first face being shaped into pointed needles,
- a printed circuit board comprising second electrical tracks for connecting second electrical connection terminals situated substantially near an edge of said card with third electrical connection terminals located on the surface of said card, • electrical connection means flexible for connecting said first terminals respectively to said second terminals,
- FIGS. 1 and 2 show the block diagram of an embodiment of the improved multiple connection device according to the invention for an electronic micro-circuit test system, FIG. 1 being a section referenced II in FIG. 2 and the Figure 2 is a section referenced II-II in Figure 1.
- the object of the invention comprises "at least one" element having a given function
- the embodiment described may include several of these elements.
- the assembly of such a patch 2 with the pins 3 is for example advantageously constituted by a base made of an electrically insulating material, at least two pairs of input-output terminals, a plurality of needles in one electrically conductive material, constituting the pin 3, respectively connecting the two terminals of each pair of input-output, a first and a second plate made of an electrically insulating material, said first and second plates having through holes, the needles being inserted in these orifices so that they emerge from their ends on either side of these first and second plates, the emerging ends of the needles constituting the input-output terminals of the two pairs, means for fixing the first and second plates with respect to the base, at least two third and fourth plates, means for positioning these third and fourth plates between the first and second plates, the second, third and fourth plates having through holes of which at least one cross section has a minimum value substantially equal to the section transversa the needles, these orifices being produced in the second, third and fourth plates so that the needles are slidably
- the device according to the invention further comprises a printed circuit board 30 comprising second electrical tracks 31 for connecting second electrical connection terminals 32 situated substantially near an edge 33 of the card 30 with third electrical connection terminals 34 located on the surface of the card 30.
- the printed circuit board 30 has the shape of a substantially flat ring 37, the second electrical connection terminals 32 being located substantially near the edge 35 of the central opening 36 of the crown.
- the plate 21 has the shape substantially of a disc 27 whose diameter is less than the diameter of the central opening 36 of the crown 37, the first means 41 for associating the electrical distribution connector 20 with the card PCB 30 being arranged so that the disc 27 is substantially located in the plane of the printed circuit board 30 and is centered in the central opening 36 of the crown.
- these first means 41 for associating the electrical distribution connector 20 with the printed circuit board comprise a base 43, means for securing the disc 27 with the base and means for securing the base 43 with the stiffener 50, so that a perfect decoupling exists between the electrical distribution connector 20 and the card 30, with the presence of a space 51 between the edge of this electrical distribution connector 20 and the edge 35 of the central opening 36 of the crown 37 allowing the thermal expansion essentially of the card 30 relative to the ceramic plate 21.
- the flexible electrical connection means 40 for connecting the first connection terminals 25 respectively to the second connection terminals 32 consist of wires 44 of electrically conductive material, the length of each wire being greater than the distance separating the first and second terminals to be connected.
- Such an improved multiple connection device for an electronic micro-circuit test system may include other means, for example an X, Y and Z displacement table 60 on which the micro-circuits to be tested are located, interfaces 61 to connect the third electrical connection terminals 34 of the card 30 to the inputs of the measuring devices known as testers.
- These latter means are well known in themselves and will not be detailed here for the sole purpose of simplifying the present description.
- the device according to the invention is used schematically as follows:
- the micro-circuit to be tested is positioned on the table 60 which is translated into X and / or Y and / or Z so as to bring the inputs and / or outputs of the micro-circuit into contact with the ends 6 of the pins 3 shaped into needles 7.
- test signals emanating from the testers are, as in the devices of the prior art, transmitted to the micro-circuit via the pins, the first electrical tracks of the distribution connector 20, the electrical wires 44, the second electrical tracks 31 of the printed circuit board 30 and the interfaces 61.
- the device according to the invention has many advantages over those of the prior art, of which two are very important.
- the first of these advantages is the fact that, even if the entire device is subjected to temperature variations over a wide range, the pin connector 1 and the electrical distribution connector 20 having the same coefficient of thermal expansion, these two elements expand linearly in the same way and do not cause electrical discontinuity.
- the differences in thermal expansion between the electrical distribution connector 20 and the printed circuit board 30 are absorbed by the flexible electrical connection means 40, in this case the electrical wires 44 in combination with the space 51.
- the second of these advantages is to be able to test different types of micro-circuits using the same pin connector 1 and the same printed circuit board 30.
- an electrical distribution connector 20 the electrical configuration of which is adapted to this micro-circuit to be tested, and suitably connect the first electrical connection terminals 25 to the second terminals 32.
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
Abstract
La présente invention concerne les dispositifs à connexions multiples perfectionnés pour systèmes de tests de micro-circuits électroniques. Le dispositif selon l'invention se caractérise essentiellement par le fait qu'il comporte un connecteur à broches (1) comportant une pastille (2) réalisée en un premier matériau électriquement isolant et une pluralité de broches (3), un connecteur de distribution électrique (20) comportant une plaque (21) en un second matériau électriquement isolant ayant un coefficient de dilatation thermique sensiblement identique à celui du premier matériau, une carte de circuit imprimé (30), des moyens de liaison électrique souple (40) pour relier les premières bornes de connexion (24) respectivement aux secondes bornes de connexion (32). Application, notamment, aux tests de micro-circuits électroniques comme les puces électroniques des micro-ordinateurs, les cellules photosensibles miniatures.
Description
DISPOSITIF A CONNEXIONS MULTIPLES PERFECTIONNE POUR SYSTEME DE TEST DE MICRO-CIRCUITS ELECTRONIQUES
La présente invention concerne les dispositifs à connexions multiples perfectionnés pour système de test de micro-circuits électroniques qui trouvent une application particulièrement avantageuse pour tester les composants électroniques comme les puces des micro-ordinateurs, les cellules photosensibles miniatures.
Ces connecteurs électriques à contacts multiples permettent de réaliser des contacts mécaniques en des endroits déterminés des composants électroniques à tester, pour assurer une liaison électrique continue entre les entrées-sorties de ces composants et celles correspondantes des appareils de tests.
On sait que les composants électroniques atteignent des dimensions de plus en plus petites et que leurs contacts électriques peuvent avoir des dimensions inférieures à trente microns avec des entraxes entre deux contacts contigus de l'ordre de quarante microns. Actuellement, pour un composant électronique du type «puce électronique », le nombre des contacts électriques répartis sur une surface de plus en plus réduite peut dépasser plusieurs centaines.
Pour pouvoir relier électriquement les entrées-sorties de ces composants électroniques avec celles des appareils utilisés pour les tester, il a donc été nécessaire de réaliser des connecteurs électriques à contacts multiples spécifiques.
Un tel type de connecteur électrique à contacts multiples est par exemple décrit dans le FR-A-2 748 813 et plus particulièrement illustré sur la figure 1 jointe à ce document. Le connecteur électrique à contacts multiples décrit dans ce document antérieur comporte un corps délimitant une cavité dans laquelle sont logées trois plaques respectivement supérieure, intermédiaire et inférieure sensiblement parallèles et réalisées dans un matériau électriquement isolant.
Ces plaques comportent une multiplicité de trous traversants disposés pour être aptes à être traversés par des aiguilles de contact réalisées en un matériau électriquement conducteur, d'une longueur supérieure à la distance séparant les plaques supérieure et inférieure de sorte qu'elles émergent de part et d'autres de ces deux plaques. L'une des extrémités des aiguilles, par exemple celles émergeant de la plaque supérieure sont reliées de façon filaire aux entrées- sorties des appareils de test, tandis que le corps du connecteur est déplacé de façon que les extrémités des aiguilles émergeant de la plaque inférieure viennent au contact mécanique des entrées-sorties du composant électronique à tester. II existe aussi un connecteur électrique à contacts multiples ayant la forme générale d'une pastille ou analogue comportant une embase en un matériau électriquement isolant, au moins deux paires de bornes d'entrées-sorties, deux aiguilles en un matériau électriquement conducteur reliant respectivement les deux bornes d'entrées-sorties de chaque paire, une première et une deuxième plaques réalisées en un matériau électriquement isolant, ces première et deuxième plaques comportant des orifices traversants, les aiguilles étant enfichées dans ces orifices de façon qu'elles émergent par leurs extrémités de part et d'autre de ces première et deuxième plaques, les extrémités émergentes des aiguilles constituant les bornes d'entrées-sorties des deux paires, des moyens pour fixer les première et deuxième plaques par rapport à l'embase, au moins deux troisième et quatrième plaques, des moyens pour positionner ces troisième et quatrième plaques entre les première et deuxième plaques, les deuxième, troisième et quatrième plaques comportant des orifices traversants dont au moins une section transversale présente une valeur minimale sensiblement égale à la section transversale des aiguilles, ces orifices étant réalisés dans les deuxième, troisième et quatrième plaques de façon que les aiguilles soient montées coulissantes dans ces orifices, et des moyens pour commander le déplacement des troisième et quatrième plaques respectivement dans deux directions sensiblement opposées de façon à réaliser, sur chaque aiguille, deux pré-flambages en opposition de part et d'autre de sa position de repos.
Or, ces dispositifs de test doivent pouvoir de plus en plus fonctionner sur des plages de température relativement grandes, et les problèmes posés par les dilatations thermiques des différents constituants ne sont plus négligeables. En
outre, les types de micro-circuits qui doivent être testés sont de plus en plus nombreux et il faut prévoir presque autant de dispositifs de test que de types de micro-circuits à tester.
La présente invention a donc pour but de réaliser un dispositif à connexions multiples perfectionné pour système de test de micro-circuits électroniques qui peut fonctionner dans des plages de température étendues et qui peut en plus s'adapter sans grandes difficultés pour tester différents types de circuits électroniques.
Plus précisément, la présente invention a pour objet un dispositif à connexions multiples perfectionné pour système de test de micro-circuits électroniques, caractérisé par le fait qu'il comporte :
• un connecteur à broches comportant une pastille réalisée en un premier matériau électriquement isolant et une pluralité de broches, chaque broche étant montée en traversant la pastille de façon qu'elle émerge de part et d'autre des deux première et seconde faces opposées de la pastille, les parties de broches émergeant de la première face étant conformées en aiguilles pointues,
• un connecteur de distribution électrique comportant une plaque en un second matériau électriquement isolant, ladite plaque comportant, sur l'une de ses faces, des contacts électriques répartis en correspondance avec les extrémités des parties de broches émergeant de la seconde face de la pastille et des premières pistes électriques réunissant lesdits contacts électriques avec des premières bornes de connexion électrique, ces dites première bornes étant réparties sensiblement à la périphérie de ladite plaque, ledit second matériau ayant un coefficient de dilatation thermique sensiblement identique à celui du premier matériau,
• une carte de circuit imprimé comportant des secondes pistes électriques pour relier des deuxièmes bornes de connexion électrique situées sensiblement à proximité d'un bord de ladite carte avec des troisièmes bornes de connexion électrique situées en surface de ladite carte, • des moyens de liaison électrique souple pour relier lesdites premières bornes respectivement aux dites secondes bornes,
• des premiers moyens pour associer ledit connecteur de distribution électrique avec ladite carte de circuit imprimé, et
• des seconds moyens pour associer ledit connecteur à broches avec ledit connecteur de distribution électrique de façon que les extrémités des parties de broches émergeant de la seconde face de la pastille soient en butée respectivement contre lesdits contacts électriques. D'autres caractéristiques et avantages de l'invention apparaîtront au cours de la description suivante donnée en regard des dessins annexés à titre illustratif mais nullement limitatif, dans lesquels :
Les figures 1 et 2 représentent le schéma de principe d'un mode de réalisation du dispositif à connexions multiples perfectionné selon l'invention pour système de test de micro-circuits électroniques, la figure 1 étant une coupe référencée I-I sur la figure 2 et la figure 2 est une coupe référencée II-II sur la figure 1.
La Demanderesse tient aussi à préciser que les figures ne représentent qu'un mode de réalisation de l'objet selon l'invention, mais qu'il peut exister d'autres modes de réalisation qui répondent à la définition de cette invention.
Elle précise en outre que, lorsque, selon la définition de l'invention, l'objet de l'invention comporte "au moins un" élément ayant une fonction donnée, le mode de réalisation décrit peut comporter plusieurs de ces éléments.
Elle précise aussi que, si le mode de réalisation de l'objet selon l'invention tel qu'illustré comporte plusieurs éléments de fonction identique et que si, dans la description, il n'est pas spécifié que l'objet selon cette invention doit obligatoirement comporter un nombre particulier de ces éléments, l'objet de l'invention pourra être défini comme comportant "au moins un" de ces éléments.
Le mode de réalisation du dispositif à connexions multiples perfectionné pour système de test de micro-circuits électroniques, tel que schematiquement illustré sur les deux figures 1 et 2, comporte un connecteur à broches 1 comportant une pastille 2 réalisée en un premier matériau électriquement isolant et une pluralité de broches 3, chaque broche étant montée en traversant la pastille 2 de façon qu'elle émerge de part et d'autre des première et seconde faces opposées 4, 5 de la pastille 2, les parties de broches 6 émergeant de la première face 4 étant conformées en aiguilles pointues 7.
L'ensemble d'une telle pastille 2 avec les broches 3 est par exemple avantageusement constitué d'une embase en un matériau électriquement isolant, au moins deux paires de bornes d'entrées-sorties, une pluralité d'aiguilles en un
matériau électriquement conducteur, constituant les broches 3, reliant respectivement les deux bornes d'entrées-sorties de chaque paire, une première et une deuxième plaques réalisées en un matériau électriquement isolant, ces première et deuxième plaques comportant des orifices traversants, les aiguilles étant enfichées dans ces orifices de façon qu'elles émergent par leurs extrémités de part et d'autre de ces première et deuxième plaques, les extrémités émergentes des aiguilles constituant les bornes d'entrées-sorties des deux paires, des moyens pour fixer les première et deuxième plaques par rapport à l'embase, au moins deux troisième et quatrième plaques, des moyens pour positionner ces troisième et quatrième plaques entre les première et deuxième plaques, les deuxième, troisième et quatrième plaques comportant des orifices traversants dont au moins une section transversale présente une valeur minimale sensiblement égale à la section transversale des aiguilles, ces orifices étant réalisés dans les deuxième, troisième et quatrième plaques de façon que les aiguilles soient montées coulissantes dans ces orifices, et des moyens pour commander le déplacement des troisième et quatrième plaques respectivement dans deux directions sensiblement opposées de façon à réaliser, sur chaque aiguille, deux pré-flambages en opposition de part et d'autre de sa position de repos. Le dispositif comporte aussi un connecteur de distribution électrique 20 comportant une plaque 21 en un second matériau électriquement isolant, cette plaque 21 comportant, sur l'une de ses faces 22, des contacts électriques 23 répartis en correspondance avec les extrémités des parties 8 de broches 3 émergeant de la seconde face 5 de la pastille 2 et des premières pistes électriques 24 réunissant ces contacts électriques 23 avec des premières bornes de connexion électrique 25, ces premières bornes 25 étant réparties sensiblement à la périphérie 26 de la plaque 21.
Selon une caractéristique importante de l'invention, le second matériau présente un coefficient de dilatation thermique sensiblement identique à celui du premier matériau.
Dans une réalisation avantageuse, les deux premier et second matériaux sont identiques et présentent un coefficient thermique de dilatation le plus faible possible. Ces deux matériaux sont par exemple de la céramique, ce matériau présentant, outre l'avantage d'être un bon isolant électrique, l'avantage de pouvoir
recevoir en surface une couche métallique conductrice sur laquelle il est possible, par gravure, de réaliser les contacts électriques 23 et les premières pistes électriques 24.
Dans une réalisation avantageuse, ces deux matériaux sont en outre choisis de façon que leur coefficient de dilatation thermique soit sensiblement identique à celui du matériau dans lequel est réalisé le micro-circuit électronique à tester. Par exemple, pour un micro-circuit en silicium, ces deux matériaux seront avantageusement de la céramique.
Le dispositif selon l'invention comporte en outre une carte de circuit imprimé 30 comportant des secondes pistes électriques 31 pour relier des deuxièmes bornes de connexion électrique 32 situées sensiblement à proximité d'un bord 33 de la carte 30 avec des troisièmes bornes de connexion électrique 34 situées en surface de la carte 30.
Cette carte de circuit imprimé 30 est constituée d'au moins une feuille de matériau électriquement isolant, par exemple une feuille de verre époxy ou analogue. Sur cette feuille sont déposées les secondes pistes électriques 31 et réalisées les deuxièmes et troisièmes bornes de connexion électrique 32, 34. Cette technique est bien connue en elle-même et ne sera donc pas plus amplement décrite ici. II est précisé que les deuxièmes et troisièmes bornes de connexion électrique 32, 34 peuvent traverser la feuille de matériau électriquement isolant dans laquelle est réalisée la carte 30 de façon que les secondes pistes électriques 31 puissent être sur l'une ou l'autre des deux faces de la feuille.
Enfin, le dispositif comporte des moyens de liaison électrique souple 40 pour relier les premières bornes de connexion électrique 25 respectivement aux deuxièmes bornes 32, des premiers moyens 41 pour associer le connecteur de distribution électrique 20 avec la carte de circuit imprimé 30, et des seconds moyens 42 pour associer le connecteur à broches 1 avec le connecteur de distribution électrique 20 de façon que les extrémités des parties de broches 8 émergeant de la seconde face 5 de la pastille 2 soient en butée respectivement contre les contacts électriques 23.
Dans une réalisation préférentielle, comme illustré sur les figures 1 et 2, la carte de circuit imprimé 30 a la forme d'une couronne 37 sensiblement plate, les
deuxièmes bornes de connexion électrique 32 étant situées sensiblement à proximité du bord 35 de l'ouverture centrale 36 de la couronne.
Dans ce cas, la plaque 21 a la forme sensiblement d'un disque 27 dont le diamètre est inférieur au diamètre de l'ouverture centrale 36 de la couronne 37, les premiers moyens 41 pour associer le connecteur de distribution électrique 20 avec la carte de circuit imprimé 30 étant agencés de façon que le disque 27 soit sensiblement situé dans le plan de la carte de circuit imprimé 30 et centré dans l'ouverture centrale 36 de la couronne.
Avantageusement, comme la feuille de verre époxy est relativement souple, le dispositif comporte en outre un raidisseur 50, par exemple une bande métallique ou analogue, qui vient en recouvrement de la carte de circuit imprimé 30 et des moyens pour solidariser la carte de circuit imprimé avec le raidisseur. Ces moyens peuvent être de tout type : vissage , collage, sertissage, etc..
Dans une réalisation avantageuse, ces premiers moyens 41 pour associer le connecteur de distribution électrique 20 avec la carte de circuit imprimé comportent une embase 43, des moyens pour solidariser le disque 27 avec l'embase et des moyens pour solidariser l'embase 43 avec le raidisseur 50, de façon qu'un parfait découplage existe entre le connecteur de distribution électrique 20 et la carte 30, avec la présence d'un espace 51 entre le bord de ce connecteur de distribution électrique 20 et le bord 35 de l'ouverture centrale 36 de la couronne 37 permettant la dilatation thermique essentiellement de la carte 30 par rapport à la plaque de céramique 21.
Pour permettre cette dilatation thermique, les moyens de liaison électrique souple 40 pour relier les premières bornes de connexion 25 respectivement aux deuxièmes bornes de connexion 32 sont constitués par des fils 44 de matériau électriquement conducteur, la longueur de chaque fil étant supérieure à la distance séparant les première et seconde bornes à relier.
Un tel dispositif de connexions multiples perfectionné pour système de test de micro-circuits électroniques peut comporter d'autres moyens, par exemple une table à déplacement en X, Y et Z 60 sur laquelle sont situés les micro-circuits à tester, des interfaces 61 pour relier les troisième bornes de connexion électrique 34 de la carte 30 aux entrées des appareils de mesures connus sous le nom de testeurs. Ces derniers moyens sont bien connus en eux-mêmes et ne seront pas détaillés ici dans l'unique souci de simplifier la présente description.
Le dispositif selon l'invention s'utilise schematiquement de la façon suivante :
Le micro-circuit à tester est positionné sur la table 60 qui est translatée en X et/ou Y et/ou Z de façon à amener les entrées et/ou sorties du micro-circuit au contact des extrémités 6 des broches 3 conformées en aiguilles 7.
Les signaux de test émanant des testeurs sont, comme dans les dispositifs de l'art antérieur, transmis au micro-circuit via les broches, les premières pistes électriques du connecteur de distribution 20, les fils électriques 44, les secondes pistes électriques 31 de la carte de circuit imprimé 30 et les interfaces 61. Mais le dispositif selon l'invention présente de nombreux avantages par rapport à ceux de l'art antérieur, parmi lesquels deux sont très importants.
Le premier de ces avantages est le fait que, même si tout l'ensemble du dispositif est soumis à des variations de température sur une large plage, le connecteur à broches 1 et le connecteur de distribution électrique 20 ayant le même coefficient de dilatation thermique, ces deux éléments se dilatent linéairement de la même façon et n'entraînent pas de discontinuité électrique. En revanche, les différences de dilatation thermique entre le connecteur de distribution électrique 20 et la carte de circuit imprimé 30 sont absorbées par les moyens de connexion électrique souple 40, en l'occurrence les fils électriques 44 en combinaison avec l'espace 51.
Le second de ces avantages est de pouvoir tester différents types de micro-circuits en utilisant le même connecteur à broches 1 et la même carte de circuit imprimé 30. Pour adapter le dispositif au test d'un micro-circuit donné, il suffit d'utiliser un connecteur de distribution électrique 20 dont la configuration électrique est adaptée à ce micro-circuit à tester et de relier de façon adaptée les premières bornes de connexion électrique 25 aux deuxièmes bornes 32.
Claims
1. Dispositif à connexions multiples perfectionné pour système de test de micro-circuits électroniques comportant :
• un connecteur à broches (1) comportant une pastille (2) réalisée en un premier matériau électriquement isolant et une pluralité de broches (3), chaque broche étant montée en traversant la pastille (2) de façon qu'elle émerge de part et d'autre des deux première et seconde faces (4, 5) opposées de la pastille (2), les parties de broches (6) émergeant de la première face (4) étant conformées en aiguilles pointues (7),
• un connecteur de distribution électrique (20) comportant une plaque (21) en un second matériau électriquement isolant, ladite plaque (21) comportant, sur l'une de ses faces (22), des contacts électriques (23) répartis en correspondance avec les extrémités des parties (8) de broches (3) émergeant de la seconde face (5) de la pastille (2) et des premières pistes électriques (24) réunissant lesdits contacts électriques (23) avec des premières bornes de connexion électrique (25), ces dites première bornes (25) étant réparties sensiblement à la périphérie (26) de ladite plaque (21),
• une carte de circuit imprimé (30) comportant des secondes pistes électriques (31) pour relier des deuxièmes bornes de connexion électrique (32) situées sensiblement à proximité d'un bord (33) de la carte (30) avec des troisièmes bornes de connexion électrique (34) situées en surface de ladite carte, caractérisé par le fait que ledit second matériau a un coefficient de dilatation thermique sensiblement identique à celui du premier matériau, et qu'il comporte en outre
• des moyens de liaison électrique souple (40) pour relier lesdites premières bornes de connexion (25) respectivement aux dites secondes bornes de connexion (32),
• des premiers moyens (41) pour associer ledit connecteur de distribution électrique (20) avec ladite carte de circuit imprimé (30), et • des seconds moyens (42) pour associer ledit connecteur à broches (1) avec ledit connecteur de distribution électrique (20) de façon que les extrémités des parties de broches (8) émergeant de la seconde face (5) de la pastille (2) soient en butée respectivement contre lesdits contacts électriques (23).
2. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé par le fait que lesdits premier et second matériaux électriquement isolants sont identiques.
3. Dispositif selon le revendication 2, caractérisé par le fait que lesdits premier et second matériaux sont de la céramique.
4. Dispositif selon l'une des revendications 1 à 3, caractérisé par le fait que ladite carte de circuit imprimé (30) a la forme d'une couronne (37) sensiblement plate, les deuxièmes bornes de connexion électrique (32) étant situées sensiblement à proximité du bord (35) de l'ouverture centrale (36) de ladite couronne (37).
5. Dispositif selon la revendication 4, caractérisé par le fait que ladite plaque (21) a la forme sensiblement d'un disque (27) dont le diamètre est inférieur au diamètre de l*ouverture centrale (36) de la couronne (37), lesdits premiers moyens (41) pour associer ledit connecteur de distribution électrique (20) avec ladite carte de circuit imprimé (30) étant agencés de façon que le disque (27) soit sensiblement situé dans le plan de la carte de circuit imprimé (30) et centré dans ladite ouverture centrale (36) de la couronne.
6. Dispositif selon l'une des revendications 1 à 5, caractérisé par le fait qu'il comporte un raidisseur (50) et des moyens pour solidariser ladite carte de circuit imprimé (30) avec le raidisseur.
7. Dispositif selon la revendication 6, caractérisé par le fait que les premiers moyens (41) pour associer ledit connecteur de distribution électrique (20) avec ladite carte de circuit imprimé (30) comportent une embase (43), des moyens pour solidariser le disque (27) avec ladite embase et des moyens pour solidariser ladite embase avec le raidisseur (50).
8. Dispositif selon l'une des revendications 1 à 7, caractérisé par le fait que les moyens de liaison électrique souple (40) pour relier lesdites premières bornes de connexion (25) respectivement aux dites secondes bornes de connexion (32) sont constitués par des fils (44) de matériau électriquement conducteur, la longueur de chaque fil étant supérieure à la distance séparant les première et seconde bornes à relier.
9. Dispositif selon l'une des revendications 1 à 8, caractérisé par le fait que lesdits premier et second matériaux ayant un coefficient de dilatation thermique sensiblement identique sont en outre choisis de façon que ce coefficient de dilatation thermique soit sensiblement identique à celui du matériau dans lequel est réalisé le micro-circuit électronique à tester.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| AU2003255595A AU2003255595A1 (en) | 2003-05-23 | 2003-05-23 | Multiple connection device for electronic micro-circuit test systems |
| PCT/FR2003/001560 WO2004106948A1 (fr) | 2003-05-23 | 2003-05-23 | Dispositif a connexions multiples perfectionne pour systeme de test de micro-circuits electroniques |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PCT/FR2003/001560 WO2004106948A1 (fr) | 2003-05-23 | 2003-05-23 | Dispositif a connexions multiples perfectionne pour systeme de test de micro-circuits electroniques |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| WO2004106948A1 true WO2004106948A1 (fr) | 2004-12-09 |
Family
ID=33484279
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PCT/FR2003/001560 WO2004106948A1 (fr) | 2003-05-23 | 2003-05-23 | Dispositif a connexions multiples perfectionne pour systeme de test de micro-circuits electroniques |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| AU (1) | AU2003255595A1 (fr) |
| WO (1) | WO2004106948A1 (fr) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110987172A (zh) * | 2019-12-18 | 2020-04-10 | 东阳汉林传感器有限公司 | 一种光敏传感器性能测试仪器 |
| US11404805B2 (en) | 2018-04-19 | 2022-08-02 | The Research Foundation For The State University Of New York | Solderless circuit connector |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0802418A2 (fr) * | 1996-04-18 | 1997-10-22 | Motorola, Inc. | Procédé de test à haute vitesse d'un appareil semi-conducteur |
| JPH11295342A (ja) * | 1998-04-06 | 1999-10-29 | Japan Electronic Materials Corp | プローブカード及びその製造方法 |
| US6297657B1 (en) * | 1999-01-11 | 2001-10-02 | Wentworth Laboratories, Inc. | Temperature compensated vertical pin probing device |
-
2003
- 2003-05-23 AU AU2003255595A patent/AU2003255595A1/en not_active Abandoned
- 2003-05-23 WO PCT/FR2003/001560 patent/WO2004106948A1/fr unknown
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0802418A2 (fr) * | 1996-04-18 | 1997-10-22 | Motorola, Inc. | Procédé de test à haute vitesse d'un appareil semi-conducteur |
| JPH11295342A (ja) * | 1998-04-06 | 1999-10-29 | Japan Electronic Materials Corp | プローブカード及びその製造方法 |
| US6297657B1 (en) * | 1999-01-11 | 2001-10-02 | Wentworth Laboratories, Inc. | Temperature compensated vertical pin probing device |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 2000, no. 01 31 January 2000 (2000-01-31) * |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11404805B2 (en) | 2018-04-19 | 2022-08-02 | The Research Foundation For The State University Of New York | Solderless circuit connector |
| CN110987172A (zh) * | 2019-12-18 | 2020-04-10 | 东阳汉林传感器有限公司 | 一种光敏传感器性能测试仪器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| AU2003255595A1 (en) | 2005-01-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5634265A (en) | Electrical interconnect using particle enhanced joining of metal surfaces | |
| US5471151A (en) | Electrical interconnect using particle enhanced joining of metal surfaces | |
| FR2792803A1 (fr) | Dispositif a semiconducteur monte sur une carte | |
| EP0310463A1 (fr) | Boîtier pour circuit intégré de haute densité | |
| FR2788646A1 (fr) | Carte a puce munie d'une antenne en boucle, et micromodule associe | |
| JP2000502810A (ja) | 支持面から突出した複数の個別絶縁プローブ・チップを有するプローブ構造、それを使用するための装置および製造方法 | |
| FR2612680A1 (fr) | Condensateur de decouplage pour support de microplaquette sans conducteur monte en surface, support de microplaquette a conducteur monte en surface et dispositif de grille a broches | |
| EP0424262B1 (fr) | Electronique portable connectable à puces | |
| FR2680284A1 (fr) | Dispositif de connexion a tres faible pas et procede de fabrication. | |
| EP1322966A1 (fr) | Connecteur electrique a contacts multiples | |
| JP2000012948A (ja) | 高周波レ―ザモジュ―ル、光電子素子および高周波レ―ザモジュ―ルの製造方法 | |
| EP0660386A1 (fr) | Structure de test de circuit intégré | |
| JP2838114B2 (ja) | 検出器緩衝ボード | |
| EP0228741B1 (fr) | Dispositif de test pour boîtier sans broches muni d'une pastille de circuit intégré hyperfréquences | |
| WO2004106948A1 (fr) | Dispositif a connexions multiples perfectionne pour systeme de test de micro-circuits electroniques | |
| EP1144680A3 (fr) | Boitier de logement d'une puce electronique a sondes biologiques | |
| FR2836721A1 (fr) | Dispositif a connexions multiples perfectionne pour systeme de test de micro-circuits electroniques | |
| FR2608775A1 (fr) | Interface de test pour circuits imprimes nus | |
| FR2662896A1 (fr) | Substrat de montage de composants electriques. | |
| EP1938863A1 (fr) | Procédé d'assemblage mécanique et d'interconnexion électrique des éléments fonctionnels d'un dispositif médical implantable actif | |
| JP2600745Y2 (ja) | 集積回路の検査装置用治具 | |
| EP0232564A1 (fr) | Dispositif de test pour pastille de circuit intégré hyperfréquences | |
| EP2772936B1 (fr) | Procédé d'interconnexion par fils paralleles ainsi qu'un procédé d'adaptation des formes de ceux-ci, et les outillages relatifs | |
| CA2012887A1 (fr) | Carte a pointes pour le test des composants semiconducteurs hyperfrequences | |
| FR3136588A1 (fr) | Boîtier, par exemple boîtier optique, de circuit integre |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| AK | Designated states |
Kind code of ref document: A1 Designated state(s): AE AG AL AM AU AZ BA BB BR BY BZ CA CN CO CR CU DM DZ EC GD GE GH GM HR HU ID IL IN IS JP KE KG KP KR KZ LC LK LR LS LT LV MA MD MG MK MN MW MX MZ NO NZ OM PH PL RO RU SD SG SK SL TJ TM TN TT TZ UA UG US UZ VN YU ZA ZM ZW |
|
| AL | Designated countries for regional patents |
Kind code of ref document: A1 Designated state(s): GH GM KE LS MW MZ SD SL SZ TZ UG ZM ZW AM AZ BY KG KZ MD RU TJ TM BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW ML MR NE SN TD TG |
|
| NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: JP |