WO2004088668A3 - Vorrichtung und verfahren zum bestimmen einer elektrischen eigenschaft einer probe - Google Patents
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Abstract
Die Vorrichtung (1) weist einen Mikrowellenresonator (Koaxialresonator, 2) auf mit mindestens einem Außenleiter (3), der einen Hohlzylinder (31) mit einem Innenraum (32) aufweist, wobei der Innenraum von einer Mantelwandung (33) des Hohlzylinders mit einem Innendurchmesser (34) und von einer Stirnwandung (35) des Hohlzylinders mit einer Öffnung (36) begrenzt ist, und mit mindestens einem im Innenraum des Hohlzylinders des Außenleiters angeordneten und mit dem Außenleiter elektrisch leitend verbundenen Innenleiter (4), der einen Innenzylinder (41) mit einem Außendurchmesser (42) und eine mit dem Innenzylinder verbundene Spitze (43) zum Aussenden eines elektrischen Wechselfeldes mit einer Resonanzfrequenz des Mikrowellenresonators aufweist, wobei die Spitze des Innenleiters derart in der Öffnung der Stirnwandung des Hohlzylinders angeordnet ist, dass eine in einem Probenabstand (51) zur Spitze des Innenleiters anzuordnende Probe und das Wechselfeld derart in Wechselwirkung treten können, dass die Resonanzfrequenz des Mikrowellenresonators von der Eigenschaft der Probe abhängt. Ein Verhältnis des Innendurchmessers des Hohlzylinders des Außenleiters und des Außendurchmessers des Innenzylinders des Innenleiters ist derart gewählt, dass eine Güte des Mikrowellenresonators kleiner ist als eine durch das Verhältnis der Durchmesser einstellbare maximale Güte des Mikrowellenresonators. Durch diese Maßnahme wird die Sensitivität der Vorrichtung erhöht. Die Vorrichtung wird zum Bestimmen der elektrischen Eigenschaft einer Probe angewendet. Die Vorrichtung und das Verfahren werden in der HTE (High Throughput Experimentation) zur Charakterisierung kombinatorischer Materialbibliotheken eingesetzt.
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- 2004-02-25 WO PCT/EP2004/001882 patent/WO2004088668A2/de active Application Filing
Patent Citations (3)
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Non-Patent Citations (1)
Title |
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HONG SUNGHYUK ET AL: "Improved surface imaging with a near-field scanning microwave microscope using a tunable resonator", APPLIED PHYSICS LETTERS, AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS. NEW YORK, US, vol. 80, no. 3, 21 January 2002 (2002-01-21), pages 524 - 526, XP012031365, ISSN: 0003-6951 * |
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