WO2004079599A1 - 回路解析装置 - Google Patents

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predetermined
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Inventor
Masashi Arayama
Original Assignee
Fujitsu Limited
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/30Circuit design
    • G06F30/32Circuit design at the digital level
    • G06F30/33Design verification, e.g. functional simulation or model checking

Definitions

  • the present invention relates to a circuit device, and more particularly to a circuit device to which an efficient verification method for circuit operation delay in LSI circuit design or the like is applied.
  • the application of a predetermined input value at an input end of a circuit portion (hereinafter referred to as an “active path”) directly related to a predetermined input / output item in the circuit is performed.
  • the time required for a predetermined output value to appear at the output terminal is determined.
  • activation of “active path” refers to setting a predetermined operation of the corresponding circuit portion.
  • active path usually, in a large-scale difficult circuit, there are various active paths in one circuit, and analysis by activation in a specific active path is a problem in how to set the state of peripheral circuits in circuit analysis. It becomes.
  • the circuit portion is cut out along the signal propagation operation delay time, that is, the active path of the delay calculation job, and the delay analysis is performed only on the circuit portion of the cut out active path.
  • the delay of the active path in a real circuit of the ultra-high speed LSI in recent years is greatly affected by the signal setting status of the peripheral circuit. For this reason, the method of cutting out the circuit along the path for which the delay calculation is performed as described above cannot always accurately reproduce the load accompanying the signal transition.
  • Patent Document 2 JP-A-9-13 2 5 9 8 1
  • Patent Document 3 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-7606 0
  • the present invention has been made in view of the above-described problems, and in the signal propagation operation delay of an active node, among the input items that do not directly affect the activation of the active path, By extracting input items necessary for propagation operation delay analysis and making appropriate signal settings for those input items, delay accuracy can be effectively improved.
  • the aim is to provide a circuit that can be improved.
  • a signal propagation operation delay is caused in a predetermined operation of a specific circuit portion in a predetermined circuit configuration
  • an input that does not logically affect the predetermined operation of the specific circuit portion is provided. Attention is also paid to the item, and a signal is set for the input item under a predetermined condition, and a signal propagation operation delay in a predetermined operation of the specific circuit portion is taken into account by taking into account the effect of the signal setting.
  • the peripheral circuit portion under the specific condition is set. It is possible to analyze the signal propagation operation delay in the circuit part in consideration of the influence of the input signal setting state. Therefore, it is possible to obtain a highly accurate result on the signal propagation operation delay in the actual use state of the circuit configuration in the actual circuit state.
  • FIG. 1 is a block diagram showing an outline of a circuit analyzer according to one embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a flowchart for explaining in detail the operation of the peripheral play character setting unit in FIG.
  • FIG. 3 is a circuit diagram showing an example of a transistor circuit as an example thereof for explaining the operation of the embodiment of the present invention.
  • 4A, 4B, and 4C are diagrams for explaining circuit input related data applicable to the circuit basket according to the embodiment of the present invention. .
  • FIG. 5 is a diagram for explaining a signal setting rule for preventing abnormal circuit operation applicable to the circuit W according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a diagram for explaining a description example of a signal setting / rail in a branch of an active path applicable to a circuit jump according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 shows a signal setting algorithm for calculating a maximum delay as an example of a signal setting rule for a branch of an active path applicable to a circuit screen according to a difficult example of the present invention. This is a flow chart for explaining.
  • FIG. 8 is a flowchart for explaining a signal setting algorithm for calculating a minimum delay as an example of a signal setting rule applicable to a branch of an active path applicable to a circuit collision according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 9 is a flowchart for explaining a signal setting algorithm in consideration of an actual circuit operation as an example of a signal setting rule for a branch of an active path applicable to a circuit screen according to a difficult example of the present invention.
  • FIGS. 10A and 10B are diagrams for explaining a signal setting algorithm in consideration of the actual circuit operation shown in FIG. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
  • FIG. 1 is a block diagram of a circuit design analysis system according to one embodiment of the present invention.
  • the circuit design analysis system according to the present embodiment includes a simulation input pattern data creation unit 10 and an analog circuit simulation 20.
  • This system can be realized by, for example, a general-purpose computer and a software program installed on the computer.
  • LSI circuit design data 31 designed by a predetermined design process is given to a path input / output unit 11 of a simulation input pattern data generation unit 10.
  • the circuit data given here is usually information excluding the physical characteristics of the actual circuit elements that make up the LSI circuit and the physical tt of the 3 ⁇ 4 line connecting these circuit elements. (Such as an NMOS transistor or a PMOS transistor), and data indicating a logical circuit configuration such as a connection configuration between circuit elements.
  • the path analysis unit 11 of the simulation input pattern data creation unit 10 uses the input circuit data in accordance with a predetermined method in consideration of the purpose of use of the LSI circuit, basic circuit characteristics, and the like. The simulation input pattern required to activate (activate) the circuit operation to be verified in the simulation is determined.
  • the path activation unit 12 performs a path activation ⁇ 1 process from a logical point of view.
  • the analysis process is based on the detailed physical characteristics of each circuit element and wiring to be applied, such as circuit delay analysis! This is not to do, but to consider each circuit element as a pure logic element, and to verify only that the desired logical operation is the power to ensure.
  • the simulation input pattern data extracted and verified in this manner is applied to a predetermined area around an active path which is a circuit part whose operation is to be verified by the input pattern. Find the input pattern for the circuit part.
  • the simulation input pattern consisting of input signals to the nodes that determine the logical operation of the active path to be verified, signals that do not affect the logical operation of the active path but are related to the logical operation of the active path.
  • the simulation input / turn consisting of the input signal to the node that substantially affects the propagation operation delay is determined.
  • the extraction program is automatically performed by an application program in accordance with basic input-related data and a signal setting rule / preset by an operator or another computer system. Then, the input pattern data 32 (the node input signal setting directly related to the logical operation of the active path and the node input signal setting that is not directly related but affects the operation delay) Is input to the analog circuit simulator 20.
  • the circuit configuration indicated by the circuit design data 31 (here, not only the » Circuit operation when an input signal according to the input pattern data is given to the device (including detailed physical data such as elements and ⁇ ) is simulated in detail by a logical operation of a computer, and the result is used as a delay library 33.
  • the delay library 33 is a result of an operation simulation of an active path.
  • the path input / output is not limited to a mere logical operation verification, but includes detailed physical data (impedance value, etc.) of each applicable element and material.
  • 7 shows an analysis result including a signal propagation operation delay state between the two.
  • FIG. 2 is a flowchart showing an operation performed by the peripheral circuit signal setting unit 13 shown in FIG.
  • the operation of the setting unit 13 when the circuit configuration shown in FIG. 3 is applied as an example of the circuit configuration to be verified by the If device according to the present embodiment will be described.
  • the path indicated by P is an activity path to be verified here.
  • the nodes IN3, SI, S2, S3, IN4, and S4 other than the nodes IN1 and IN2 are all nodes that do not affect the logical operation of the active path [4 path P].
  • step S1 the circuit input related data is analyzed. That is, as shown in FIG. 4A, considering the above nodes INI and IN3, it is assumed that an inverter I NV is connected to the input: ⁇ , and as shown in FIG. 4B and FIG.
  • the input signal patterns are signals that are mutually inverted. Therefore, a signal of "1" is set to the node I N1 of the active path, and the inverted value, that is, "0" is set to the node I N3 (step S2).
  • nodes other than the nodes (IN1, IN2) directly related to the active path (P) are determined by the input part of the cage circuit configuration as shown in FIG. To be determined by the conditions, make settings according to the conditions. Note that the input signal settings of the nodes (IN1, IN2) directly related to the active path (P1) have already been made to activate the active path or to affect the logical operation of the active path. In the path section 11 shown in Fig. 1 The target logical operation is verified in the path activation ⁇ f unit 12.
  • a signal rule is analyzed. That is, as shown in FIG. 6, for example, a condition for a value to be set as an input signal of a node not directly related to the active path is provided in advance, and a node input signal set value determined by the condition (rule) is set. Set.
  • step S4 a branch node from the active path is extracted. This is to detect nodes that affect the logical operation of the circuit part branched from the active path.
  • the nodes IN3, S1, S2, D3, IN4, and S4 are sequentially detected as the corresponding branch nodes for the active path P.
  • step S5 for the nodes sequentially detected in this way, it is determined whether the signal setting is possible or not by the processing of the previous steps. That is, it is determined whether the setting is possible based on the condition based on the circuit input related data in steps S I and S 2 and the condition based on the signal setting rule in step S 3. Then, in step S6, the signal input of the node is set according to those conditions.
  • step S5 if the setting cannot be made, or the setting has been made in step S6.
  • step S7 the input signal setting of the node is detected from the viewpoint of preventing abnormal circuit operation. That is, conditions such as the generation of “through current” shown in Fig. 5 and the setting of conditions that do not make input settings that are clearly impossible, such as when the corresponding circuit performs abnormal operation with a specific input pattern, are performed.
  • step S8 it is determined whether or not all branch nodes have been processed. If it has not been processed, the process returns to step S4 to execute the processes of steps S4 to S7 for the unprocessed node.
  • the activation of the active path of the transistor circuit does not affect the logical operation of the corresponding active path.
  • the input signal setting is considered to be logically unnecessary.
  • the signal propagation operation delay (delay) at The effect of the operation of the peripheral circuits is large. Therefore, it is necessary to consider the operation status of this peripheral circuit in order to obtain the accurate critical path delay.
  • the following three methods are applied as signal setting to an input pin which does not affect the logic operation of the active path;
  • the active path P constitutes a known CMOS inverter circuit including a PMOS transistor P1 and an NMOS transistor N1. Therefore, for example, when the applied value to the input pin IN 1 is “0”: ⁇ , the PMOS transistor P 1 is turned off, while the NMOS transistor N 1 is turned on. As a result, the value appearing at the output pin OUT 1 is “1”.
  • a logic study on the activation of the activation path P of the input pin IN2 indicates that "1" is always applied to this pin IN2 in order to enable the operation of the CMOS sinker. What is needed is required.
  • any signal setting does not logically affect the activation of IN1 ⁇ OU1.
  • the signal settings at these inputs are also important.
  • the marked caloric value of the pin IN 1 is' 0 , ⁇ '1
  • the signal setting that prevents the charge at pin IN1 from changing to T that is, the positive charge state
  • the signal is diffused and propagated to the branch path other than the active path
  • pin IN1 changes from '0' to '1'
  • it is necessary to charge the pin IN1:: T but since the path from IN1 to OUT3 is conducting, Part of the charge supplied to I N1 escapes to the OUT3 side, and as a result, charging of the pin IN 1 is delayed.As a result, the activation of the active path P is delayed, and the operation of the transistors constituting the path is delayed. Therefore, the delay increases.
  • the pin IN1 changes from T to '0, the charge must be released from the pin IN1 as described above.
  • the pin OUT3 passes through this path. No more charge is drained off.
  • FIG. 7 is a flowchart showing the operation of the signal setting for maximum delay calculation.
  • step S31 an active path is selected in step S31, and the path is traced in step S32 to obtain a pn connection (connection to both a PMOS transistor and an NMOS transistor) node.
  • step S33 the node (node of interest) determines the path termination force. Attention is paid not to the terminal but to the transistor connected to the node of interest (step S35). At that time, all the transistors already connected to the node of interest are returned to step ⁇ 32 which has been processed, and the next step is performed. Move to the node at The above process is repeated. Otherwise (No in step S36), in step S37, the transistor power of interest is determined on the active path, and if it is on the active path, step S35 Then, the processing target is moved to the next unprocessed transistor.
  • step S38 it is determined in step S38 whether the transistor of interest has the gate terminal connected to the node of interest, and In this case (ie, in the case of the pass transistor PAS1 in the example of FIG. 3), it is determined in step S42 whether the force is the source connection to the node of interest. 3 Return to 5 and move processing ⁇ to the next unprocessed transistor.
  • step S43 the signal of the gate terminal is not set. That is, it is checked whether or not it has already been determined under other conditions as in the example of Fig. 4A. It is determined whether the shift of the node of interest (not set yet) of the node of interest is 1 ⁇ 0 (step S44). That is, the activation operation of the active path that is currently detected SE ⁇ f ⁇ is focused on. Judgment is performed to remove the charge from the node.
  • a signal is set so that the transistor of interest does not conduct. That is, when the load is removed, the transistor of interest is made non-conductive so that the escape of the ## at the node of interest is eliminated, thereby increasing the delay.
  • the transistor of interest is turned on to create a refuge for the charge of the node of interest, as a result of which the node of interest is less likely to be charged, resulting in a large delay Scream.
  • step S38 Yes: ⁇ , that is, in the case of a transistor whose logic is directly determined by the signal of the target node (in the case of FIG. 3, for example, P3 corresponds to IN1)
  • step S39 the terminal of the target transistor is traced in the source-to-drain direction, and the transistor on the path leading to the 3 ⁇ 43 ⁇ 4g-ground-pn connection is extracted.
  • step S40 for each of the extraction transistors, a signal input / output simulation with respect to a signal undetermined terminal is actually executed, and the result is stored.
  • step S 41 based on the result, a signal “ ⁇ ” having a phase opposite to that of the node of interest (IN 1) is output to the pn connection node (OUT 2 in the example of FIG. 3). Select the signal input to be applied. As a result, the capacitance value between the node of interest and the node of interest becomes apparently large, and when viewed from the node of interest, the load capacitance that must be charged increases. As a result, this also increases the delay. On the other hand, if there is no such signal input, a signal input that outputs a predetermined fixed value (arbitrary value) is selected.
  • the value of the pin IN 1 changes to '0, ⁇ ' ⁇ .
  • a signal setting that does not prevent the sculpture of the pin IN 1 from changing to '1', that is, a signal setting is made so that the signal is not spread and propagated to the branch paths other than the active path.
  • the signal at pin IN1 changes from '1' to '0'
  • the signal setting does not prevent the charge on pin IN1 from changing to '0'.
  • the signal is set so that the signal can be spread.
  • the path from pin IN1 to OUT3 is conducted as described above.
  • INf When IN 1 changes from '1' to '0', INf must exit pin IN 1.
  • the path from I Nl to OUT3 becomes conductive. If so, some of the charge will also escape to OUT3, resulting in a smaller delay compared to non-conducting ⁇ on the path from pin IN1 to OUT3.
  • FIG. 8 is a flowchart showing such a minimum delay signal setting algorithm.
  • the operation flow is basically the same as the algorithm of FIG. 7 described above. However, in steps S65 and S66, conduction / non-conduction is opposite to steps S45 and S46 in FIG. 7, respectively, and in step S61, the phase that is “reverse phase” in step S41 in FIG. “In-phase”.
  • the delay is made smaller by actively making a shelter. Alternatively, the charge load capacity seen from the node of interest is apparently reduced, thereby reducing the time required for charging and reducing the delay.
  • FIG. 9 is a flowchart showing a signal setting algorithm in consideration of the actual circuit operation.
  • step S81 the logical operation information prepared in advance, for example, shown in FIG. 4 is read, and in step S82, information on possible combinations as input signals as shown in FIG. Read.
  • step S83 the signal setting is extended based on the condition information read in steps S81 and S82 based on the signal setting state separately given for the circuit of the simulation experiment. I do. That is, for the circuit configuration (design data) to be verified, various input / output conditions that match the intended use are set, and possible circuit logic operations that meet those conditions are obtained by calculation. The process of finding a further possible logic operation based on the resulting new signal setting is repeated (loop by steps S83 and S84).
  • Fig. 6 shows the algorithm as "Signal setting rule for active path branch" (data D2 in Fig.
  • (1) indicates a fixed value designation condition, which indicates that "1" should be set to node S1 and "0" should be set to S3.
  • (2) indicates the signal setting node designation condition, and indicates that "the minimum delay calculation signal setting algorithm should be applied to node I NX".
  • the condition (3) indicates whether or not the application of the prescribed rule is necessary, and indicates that "the signal should be set according to the prescribed circuit input related data". Note that if there is no description (3) ⁇ , the application will set “Signal setting ignoring circuit input related data j. ⁇ Is an item that specifies the applied algorithm for general nodes. Indicates that "the node setting algorithm for maximum delay calculation should be applied to nodes not specified otherwise".
  • step S7 in FIG. 2 signal setting according to the through current countermeasure condition shown in FIG. 5 is applied (step S7 in FIG. 2). That is, in an actual CMOS circuit, signal setting that would cause dielectric breakdown of the circuit is not performed.
  • a cause of abnormal operation in a circuit composed of pass transistors as shown in Fig. 5, an undefined electrical short from the easy node (VDD) to ground (VSS) occurs. A through current may flow.
  • VDD easy node
  • VSS easy node
  • VSS easy node
  • VSS easy node
  • VSS easy node
  • a circuit which includes a peripheral circuit signal setting means for setting a signal under predetermined conditions, and delays a signal propagation operation in a predetermined operation of the predetermined circuit portion in consideration of an influence of a signal input by the signal setting.
  • Predetermined conditions when the peripheral circuit signal setting means performs signal setting for an input that does not logically affect the predetermined operation of the predetermined circuit portion are related to the circuit portion Depending on the conditions, if you limit it to the range excluding signal settings that are unlikely to occur Condition to select the signal setting that maximizes the delay of the predetermined operation of the corresponding predetermined circuit portion, and condition to select the signal setting that minimizes the delay of the predetermined operation of the corresponding predetermined circuit portion It is desirable that the configuration be made up of a predetermined combination of conditions for setting signals that match actual use conditions of the circuit portion.
  • the generation of the test pattern required for the delay analysis is considered not only from the viewpoint of the path activation but also from the viewpoint of the reproduction of the circuit load condition, thereby realizing a more accurate delay calculation. obtain. Therefore, the delay value can be obtained with an accuracy close to the actual circuit state even when the circuit frequency increases in an ultra-high-speed LSI circuit or the like. Specifically, the delay calculation pattern can be accurately obtained by not setting signals that cannot occur in a real circuit for the simulation pattern for delay calculation. In addition, by switching the pattern generation method for the simulation pattern for delay calculation according to the characteristics of the circuit, the pattern for delay calculation can be obtained as more suitable for the actual circuit conditions.

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Abstract

トランジスタ回路における信号遅延を解析するにあたり、該当する回路部分の所定の動作に対して論理的には影響を与えないが信号遅延量に影響する入力の信号設定を行なう構成であり、その際、当該回路部分に関連する条件によっては発生の可能性の無い信号設定を除いた設定、遅延が最大となる信号設定、遅延が最小となる信号設定、並びに実際の使用条件に合致した信号設定等を行う構成である。

Description

明細書 回路清装置 技術分野
本発明は、 回路 置に係り、 特に L S I回路設計等における回路動作遅延 に対する効率的な検証手法を適用した回路^ f装置に関する。 背景技術
近年、 様々な産業分野におけるデータ 、 制御等の用途に必要不可欠な L S I等の大規纏積回路においては、 高度の集積度と共に、 その回路動作タイミン グに対する厳しい要求が有り、 それらの回路特性を回路設計段階のおいて高精度 の検証し得る機能を有する信号遅延時間検証 (シミュレーション) 手法の導入が 望まれている。
このような L S I等のトランジスタ回路の信号遅延時間解析においては、 回路 上、 所定の入出力項目に直接関わる回路部分 (以下 「活性パス」 と称する) の入 力端の所定の入力値の印加から出力端に所定の出力値が現れるまでに要する時 間を求めることが行なわれている。 このような回路動作解析を行なうにあたって 該当回路部分の所定の動作を節することを「活性パス」の「活性化」と る。 ここで、 通常大規難積回路では一つの回路中に様々な活性パスが し、 特定 の活性パスにおける活性化による解析を行なう 回路解析上その周辺回路の 状態をどのように設定するカゝが問題となる。
このような回路 i^fにおいて、活性パスの活性化に論理的に影響を与えない入 力の信号設定は論理回路動作解析においては不要である。 従来の L S I回路では それ程動作の高速化に对する要求力 S厳しくなかったため、 特に周辺回路の動作状 況を考慮しなくても実回路評価に有用な信号遅延時間値、 即ちディレイ値を得る ことが可能であった。 しかしながらクロック周波数が 1 GH zを超えるような超 高速 L S Iにおいては周辺回路の信号設定の違いによって生じる実回路におけ る実際の信号伝播動作遅延量、 即ちディレイ値とシミュレーション計算で得られ るディレイ値との差が大きくなり、 実回路に促した信号伝播動作遅延時間解析、 即ちディレイ»を行うことが困難となる^^がある。 そのため、超高速 L S I 回路設計において活性パスのディレイ解析を高精度に行うには周辺回路の動作 状況を考慮する必要がある。
即ち、 従来の回路設 fl«fにおいては、 例えば信号伝播動作遅延時間、 即ちデ ィレイ計算職の活性パスに沿って回路部分を切り出し、 このように切り出され た活性パスの回路部分についてのみディレイ解析を行なっていた。 この手法では、 当該活性パスの活性化に影響を与える可能性のある他の周辺回路部分の信号設 定については特に考慮していなかった。 ところが上記の如く、 近年の超髙速 L S Iの実回路では活性パスのディレイはその周辺回路の信号設定状況によって受 ける影響が大きい。 このため、 上記の如くのディレイ計算対象のパスに沿って回 路を切り出す方法では、 必ずしも信号遷移に伴う負荷を正確に再現することは出 来なかった。 また、 信"^移や周辺回路の状態が十分考慮されておらず、 パス上 から見える負荷が一律であり、 実回路と計算上の誤差が大きくなる傾向があった。 又、 これとは別に活性化パスに着目して活性化のパターン生成を行う手法が有り、 この方法では上記回路を切り出す方法と比較して正確なディレイ計算を行える ものの、 周辺回路の信号設定状況が考慮されていなかったため、 必ずしもディレ ィ計算の精度が十分高!/、ものとは言えなかつた。 特許文献 1 特開平 8—6 3 4 9 9
特許文献 2 特開平 9一 3 2 5 9 8 1
特許文献 3 特開 2 0 0 1— 7 6 0 2 0 発明の開示
本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、活' 14ノ スの信号伝播動作遅 延 において、 直接その活性パスの活性化に影響を与えない入力項目のうち、 当該活性パスの信号伝播動作遅延解析に必要な入力項目を抽出してその入力項 目に対して適当な信号設定を行なうことにより、ディレイ の精度を効果的に 向上可能な回路 置を^することを目的とする。
本発明では、 所定の回路構成中、 特定の回路部分の所定の動作における信号伝 播動作遅延を籠する際、 当該特定回路部分の所定の動作に対して論理的には影 響を与えない入力項目についても着目し、 その入力項目について所定の条件で信 号設定を行ない、 それによる影響も加味して当該特定回路部分の所定の動作にお ける信号伝播動作遅延を ¾f i~る。
このように当該特定回路部分の所定の動作に対して論理的には影響を与えな い入力項目についても考慮し且つ所定の条件でそれに対する信号設定を行なう ため、 特定の条件における周辺回路部分の入力信号設 状態による影響を加味し た上で当該回路部分における信号伝播動作遅延を解析可能である。 そのため、 当 該回路構成の実回路状態での実際の使用状態における信号伝播動作遅延につい ての高精度の 結果を得ることが可能となる。 図面の簡単な説明
本発明の他の目的、 特 ぴ作用効果は添付の図面を参照しながら以下の詳細 な説明を見ることによってより一層明瞭となるであろう。
図 1は本発明の一実施例による回路解析装置の概要を示すプロック図である。 図 2は図 1中、周辺回劇言号設定部の動作を詳細に説明するためのフローチヤ ートである。
図 3は本努明の実施例の動作を説明するための、 その^ としてのトラン ジスタ回路例を示す回路図である。
図 4 A, 4 B, 4 Cは、 本発明の実施例による回路籠に適用可能な回路入力 関連データについて説明するための図である。 .
図 5は、 本発明の実施例による回路^ Wに適用可能な回路異常動作防止のため の信号設定ルールにっ 、て説明するための図である。
図 6は、 本発明の実施例による回路騰に適用可能な活性パスの分岐に る 信号設定/レールの記述例を説明するための図である。
図 7は、 本発明の難例による回路簾に適用可能な活性パスの分岐に财る 信号設定ルールの一例としての最大ディレイ計算用信号設定アルゴリズムにつ いて説明するためのフローチヤ一トである。
図 8は、本発明の実施例による回路衝に適用可能な活性パスの分岐に ¾~rる 信号設定ルールの一例としての最小ディレイ計算用信号設定アルゴリズムにつ いて説明するためのフローチャートである。
図 9は、 本発明の難例による回路簾に適用可能な活性パスの分岐に る 信号設定ルールの一例としての実回路動作を考慮した信号設定アルゴリズムに ついて説明するためのフローチヤ一トである。
図 1 0 A, 1 0 Bは、 図 9に示す実回路動作を考慮した信号設定アルゴリズム を説明するための図である。 発明を実施するための最良の形態
以下、 本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
図 1は、 本発明の一実施例による回路設計解析システムのブロック図である。 同図に示す如く、 本実施例による回路設計解析システムは、 シミュレーション 入力パターンデータ作成部 1 0とアナ口グ回路シミュレーク 2 0とよりなる。 こ のシステムは例えば汎用コンピュータとこれにィンストールするソフトウェア プログラムによって実現可能である。
同図のシステムでは、 先ず 所定の設計工程によって設計がなされた L S I回 路設計データ 3 1がシミュレーション入力パターンデータ作成部 1 0のパス解 祈部 1 1に与えられる。 ここで与えられる回路データは、 通常 L S I回路を構成 する実際の回路素子の物理特性、 これらの回路素子間を接続する ¾線の物理 tt 等を除いた情報とされ、 適用する回路素子翻の選定 (NMO Sトランジスタか PMO Sトランジスタか等)、 各回路素子間の接続構成等の論理的な回路構成を 示すデータである。 これを受けたシミュレーション入カパターンデータ作成部 1 0のパス解析部 1 1では当該入力回路データから所定の手法によって当該 L S I回路の使用目的、 基本的回路特性等に鑑み、 当該回路構成における、 シミュレ ーシヨンにて検証すべき回路動作を起動 (活性化) するための必要十分なシミュ レーション入カパターンを求める。
一般に一つの L S I回路設計構成データにおいて、 全ての可能なシミュレーシ ョン入力パターンの数はその回路規模に応じて指数関数的に増加する。 特に近年 の大規模 L S I回路等においては、 その可能な全ての入力パターンに対してシミ ュレーションによる回路動作検証を行なうと膨大な時間と工数を要する事とな る。 そのため、 その回路の使用目的、 基本的な回路特 14等に鑑みて真に検証が必 要な最小限の規模の入力パターンを予め決定しておくことが必要となる。 この必 要最小限な入力パターンを求める方法として、 例えば t&IBの特許文献 3にて本発 明者等が提示した活性化パスシミュレーション方法における 「活性化パターン作 成方法」 の適用が可能である。
次にこのようにして求められた基本的なシミュレーション入力パターンに対 し、 パス活性化 部 1 2にて、 論理的見地からパス活性化^1処理を行なう。 当該解析処理は回路遅延解析等、適用する各回路素子、 配線等の詳細な物理的特 性に基づ!/、て行なうようなものではなく、 各回路素子を純粋な論理素子と見なし、 所望の論理動作が確実に さ l る力 かのみを検証するものである。
次に周辺回路信号設定部 1 3では、 このようにして抽出、 検証されたシミュレ ーシヨン入力パターンデータに対し、 当該入力パターンによってその動作を検証 する対象の回路部分である活性パスの周辺の所定の回路部分に対する入力パタ ーンを求める。 即ち、検証すべき活性パスの鉢的な論理動作を決定するノード に対する入力信号よりなるシミュレーション入力パターンに加え、 当該活性パス の論理動作には影響を与えないが、活性パスの論理動作に関わる信号伝播動作遅 延に対して実質的に影響を与えるノードに対する入力信号よりなるシミュレー ション入力/ ターンを求める。
ここでは、 活性パスの論理動作には影響を与えないが、 その信号伝播動作 « に対して影響を与えるノードを抽出し、 更に、 その信号設定値として、 該当する 活性パスの動作に関わる信号伝播動作遅延に影響を与える設定値又はその信号 遷移を決定する。 尚、 この抽出設¾»作は、 オペレータ又は他の囊システム等 によって予め設定される基本的な入力関連データ、 信号設定ルー / に従ってァ プリケーシヨンプログラムが自動的に行なう。 そして、 このようにして設定され た入力パターンデータ 3 2 (活性パスの論理動作に直接関わるノード入力信号設 定、 及び、 直接関わらないが、 その動作遅延に影響を与えるノード入力信号設定 を含む) をアナ口グ回路シミュレータ 20に入力する。
アナ口グ回路シミュレータ 20では、 当該シミュレーション入力パターンデー タ 32と、 回路設計データ 31とを基に、 回路設計データ 31にて示される回路 構成 (ここでは »的論理構成に限らず、 各適用回路素子、 赚等の詳細な物理 データを含む) に対して入力パターンデータに従った入力信号が与えられた際の 回路動作をコンピュータの論理演算によって詳細にシミュレーションし、 その結 果をディレイライブラリ 33として出力する。 このディレイライブラリ 33は活 性パスの動作シミュレーション結果であり、 この場合には単なる論理動作検証に 止まらず、 各適用素子及ひ 材等の詳細な物理データ (インピーダンス値等) を加味したパス入出力間の信号伝播動作遅延状態を含めた解析結果である。
図 2は、 図 1に示す周辺回路信号設定部 13が実行する動作を示すフローチヤ 一トである。 ここでは図 3に示す くの回路構成を本実施例による^ If装置にて 検証すべき回路構成の例として適用した場合の同設定部 1 3の動作について説 明する。 図 3の回路構成において、 Pにて示す經路を、 ここで検証すべき活 性パスとする。 この ノード IN 1、 I N2以外のノード I N3, S I, S 2, S 3, I N 4, S 4は、 全て当該活' [4パス Pの論理動作に影響を与えな ヽノ ードである。
図 2中、 ステップ S 1では回路入力関連データについて解析する。 即ち 図 4 Aに示す如く、 上記ノード INI, IN 3について考えるに、 その入力にインバ ータ I NVが接続されていると仮定した:^、 図 4B、 図 4Cに示す如くこれら ノ一ドの入力信号パターンは互いに反転する信号となる。 そのため、 活性パスの ノード I N1に " 1" の信号を設定する 、 ノード I N3には、 その反転値、 即ち "0" を設定することとなる (ステップ S 2)。
即ちこれらステップ S I, S 2では、 活性パス (P) に直接関わるノード (I N 1、 I N 2 ) 以外のノ一ドに関し、 図 3に示す如くの籠舰回路構成に ¾~Τ る入力部分による条件によって必然的に決定される には、 その条件に従って 設定を行う。 尚、 活性パス (P 1) に直接関わるノード (IN1、 I N 2) の入 力信号設定については既に活性パスを活性化するノ一ド又は活性パスの論理動 作に直^^響を与えるノードに る設定として図 1に示すパス^部 1 1にて 行われ、 パス活性化^ f部 1 2にてその 的論理動作が検証されている。
次にステップ S 3では、 信号ルールの解析を行なう。 即ち、 例えば図 6に示す 如くの、活性パスに直接関わらないノードの入力信号として設定すべき値に财 る条件を予め設けておき、 当該条件 (ルール) によって決定されるノード入力信 号設定値を設定する。
次にステップ S 4では、 活性パスからの分岐ノードを抽出する。 これは、 活性 パスから分岐する回路部分の論理動作に対して影響を与えるノードを検出する ものである。即ち、図 3の例では活性パス Pに対してノード I N 3, S 1 , S 2 , D 3 , I N 4 , S 4の各ノードがこれに該当する分岐ノードとして順次検出され ることとなる。
そしてステップ S 5にて、 このようにして順次検出されるノードに対し、 これ までのステップの処理によって、その信号の設定が可能力、否かを判定する。即ち、 ステップ S I , S 2による回路入力関連データによる条件、 並びにステップ S 3 による信号設定ルールによる条件によつて設定可力 かを判定する。 そして、 そ の結 ^ ij定可の 、 ステップ S 6にて、 それらの条件に従って当該ノ一ドの信 号入力を設定する。
ステップ S 5の判定の結果、 設定不可の場合、 或いはステップ S 6にて設定済 の ¾\ 次にステップ S 7にて 回路異常動作防止の見地から、 ノードの入力信 号設定を検 t る。 即ち、 図 5に示す「貫流電流」 の発生等、 特定の入力パター ンでは該当する回路が異常動作を行なう場合等、 明らかにあり得ない入力設定を 行なわないような条件の設定を行なう。
次にステップ S 8では既に全ての分岐ノードについて処理済みか否かを判定 する。 処理済みでない 、 ステップ S 4に戻って未処理のノードについて、 上 記ステップ S 4乃至 S 7の処理を実行する。
次に、 図 3の回路構成を例に採り、本発明の実施例による周辺回賺号設
1 3における処理について以下に詳細に説明する。
上述の如くトランジスタ回路の活性パスの活性化に関し、該当する活性パスの 論理動作に影響を与えな ヽ入力の信号設定は論理的には不要と考えられるが、 超 高速 L S I回路等においては活性パスにおける信号伝播動作遅延(ディレイ)は、 その周辺回路の動作状況によつて受ける影響が大き 、 がある。 従つて正確な クリティカルパスのディレイを求めるためにはこの周辺回路の動作状況をも考 慮する必要がある。 本発明の実施例では活性パスの論理動作に影響を与えない入 力ピンへの信号設定;^として以下の 3種の方法を適用する。
( 1 ) 最大ディレイ計算用信号設定法 (アルゴリズム)
(2) 最小ディレイ計算用信号設定法 (アルゴリズム)
(3) 実回路動作を考慮した信号設定法 (アルゴリズム)
以下にこれらの方法について具体的に説明する。 図 3の回路において、活性パ ス Pは PMOSトランジスタ P 1と NMOSトランジスタ N1とよりなる周知の CMOSインバータ回路を構成する。 そのため、 例えばその入力ピンである I N 1への印加値が 「0」 の:^、 PMOSトランジスタ P 1は OFF状態となり、 他方 NMOSトランジスタ N1は ON状態となる。 その結果、 その出力ピンであ る OUT 1に現れる値は 「1」 となる。 又、 入力ピン IN 2については当該活性 化パス Pの活性化に関する論理検討により、 上記 CMO Sィンパータの動作を可 能にするためには、 このピン IN2には常時 「1」 が印加されている必要がある ことが求められる。
この際 他のピン IN3, I N4, S 1〜S4については、 どのような信号設 定を行つても、 上記 IN 1→OU 1の活性化には論理的には影響を与えることは ないが、正確なディレイを求めるにはこれらの入力に る信号設定も重要とな る。 ここで、 このディレイを求める上での上記 「最大ディレイ計算用信号設定法 (即ち上記活性パスの動作上の遅延量が最大となる信号設定)」 では、 ピン IN 1の印カロ値が '0,→ '1, に変化する 、 ピン IN1の電荷が T (即ち プラス側のチャージ状態) に変化するのを妨げる信号設定、 つまり、 当該活性パ ス以外の分岐パスに信号が拡散伝播され、 もつて活性パスの充電に要する時間が 余計に掛かつてしまうような信号設定を行う。 このような条件を満たす信号設定 は、 図 3の^^においては I N 3 = '1, ,S 1= 'Ο' , S 2= '1, である。 即ち、 ΙΝ3= Ί' とすることによってピン OU 2を出力とする 2NA D (PMOSトランジスタ Ρ 3, P4, NMOSトランジスタ N3, N4よりなる 回路) が稼動し、 ピン OUT 2には IN1と逆相の信号、 即ち '0' が出力され る。 このためピン OUT 2とピン I N 1との間の見かけ上の容量が大きくなり、 その結果ピン I N 1から見た場合の電荷をチャージすべき負荷が大きく見える。 又、 S l= Ό', S 2= '1, の信号設定によってパストランジスタ PAS 1 が導通し、 その結果ピン I N l→OUT 3のパスが導通する。 この状態において はピン IN 1が '0' → '1' に変化するときにピン IN1に電荷をチヤ一、:^ T る必要があるが、 I Nl→OUT3のパスが導通しているためピン I N1へ供給 する電荷の一部が OUT3側に抜けてしまい、結果的にピン I N 1への充電が遅れ、 その結果活性パス Pの活性化が遅れてパスを構成するトランジスタの動作が遅 れ、 もってディレイが大きくなる。
他方、 ピン IN 1が T→ '0, に変化する 、 ピン IN1の電荷が '0, に変化するのを妨げる信号設定、 つまり、 当該活性パス以外のその分岐パスへの 信号の拡散伝播が行われないような信号設定を行う。 即ち、 この ピン I N 1 の ® を取り除くことによってその値を £1' → (0' に変化させることが実現 されるが、 当該ピン I N 1から ®f が流出して拡散し得るパスを無くすことによ つてディレイが大きくなる。図 3の例においては IN3= '1, , S 1= ' 1' , S 2= '0, の各設定を行なう。
ここで上記設定 S l= Ί', S 2= £0' によってパストランジスタ PAS 1が非導通となり その結果ピン I N 1→OUT 3のパスが非導通となる。 ピン I N 1が T→ '0, に変化する際上記の如くピン I N 1からは電荷が抜けなけ ればならないが、 I Nl→OUT 3のパスが非導通のためこのパスを通ってピン OUT 3に電荷が抜けることがなくなる。 その結果、 ピン INl→OUT3への パスが導通している と比較してパス活性化に対するディレイは大きくなる。 図 7は、 上記最大ディレイ計算用信号設雜の動作を示すフローチャートであ る。 まずステップ S 31で活性パスを選択し、 ステップ S 32にて当該パスをト レースして pn接続 (PMOSトランジスタと NMOSトランジスタとの双方と の接続) ノードを得る。 ステップ S33では、 当該ノード (着目ノード) がパス 終端力 力,定する。 終端で無い 、 当該着目ノードに接続されたトランジス タに着目し (ステップ S35)、 その際既に着目ノードに接続された全部のトラ ンジスタにつ 、て処理済みの^^ステップ S 32に戻つて次にノードへ移り、 上 記処理を繰り返す。 それ以外の場合 (ステップ S 3 6の N o )、 ステップ S 3 7 にて、 当該着目トランジスタが活性パス上のトランジスタ力 カ^ lj定し、 活性パ ス上のものであればステップ S 3 5に戻って次の未処理トランジスタへ処理対 象を移す。
そうでない場合、即ち分岐パス上のものである場合(ステップ S 3 7の Y e s )、 ステップ S 3 8にて着目トランジスタが着目ノードにゲート端子接続している 力 かを判定し、 N oの場合 (即ち、 図 3の例のパストランジスタ P A S 1の場 合等) にはステップ S 4 2にて着目ノードにソース接続している力 かを判定し、 そうでなければ (N o ) ステップ S 3 5に戻つて次の未処理トランジスタに処理 ^を移す。 ソース接続の^^ (図 3の例におけるパストランジスタ P A S 1の ^等が該当)、 ステップ S 4 3にてゲート端子が信号未設^ »カ 力,定す る。 即ち、 図 4 Aの例の如く他の条件にて既に決定されていないかどうかを確認 する。 Y e sの (未設定の 、 上記着目ノードの信^ S移が 1→ 0カ かを判定する (ステップ S 4 4)。 即ち、 現在検 SE¾f^となっている活性パスの 活性化動作が着目ノードから電荷を取り除く動作力 かを判定する。
その結果 Y e sなら着目トランジスタが導通しないような信号設定を行なう。 即ち、 ®荷を取り除く場合着目トランジスタが導通しないようにすることによつ て着目ノードの ®#の逃げ場を無くし、 その結果ディレイが大きくなるようにす る。 他方、 逆の場合 (ステップ S 4 4の N o )、 上記と逆に着目トランジスタを 導通させて着目ノードの電荷の逃げ場を作り、 その結果着目ノードがチャージさ れにくくし、 その結果ディレイが大きくなるうにする。
又、 ステップ S 3 8の Y e sの:^、 即ち着目ノードの信号によって直接その 論理が決定されるトランジスタの場合 (図 3の例の場合、 例えば I N 1に対して P 3が該当)、 ステップ S 3 9にて着目トランジスタの端子間をソース一ドレイ ン方向にトレースし、 ¾¾g—グランド一 p n接続に至る経路上に するトラン ジスタを抽出する。そしてステップ S 4 0にて、抽出トランジスタの各々に対し、 信号未決定端子に対する信号入出力のシミュレーションを実砲し、 その結果を格 納する。 ステップ S 4 1ではその結果に基づき、 p n接続ノード (図 3の例の場 合、 OUT 2等) 上に、 着目ノード (この 、 I N 1 ) と逆相の信 "^移を出 力する信号入力を選択する。 その結果、 着目ノードとの間の容量値が見カ 上大 きくなり、 着目ノードから見た際、 チャージしなくてはならない負荷容量が増加 する。 その結果この もディレイが大きくなる。 他方、 そのような信号入力が 無い 、 所定の固定値 (任意値) が出力される信号入力を選択する。
次に上記 「最小ディレイ計算用信号設定法 (即ち当該活性パスの動作における 信^ g延量を最小とするための信号設定)では、 ピン IN 1の値が '0, → 'Γ に変化する ^には、 ピン IN 1の雕が '1, に変化するのを妨げない信号設 定、 つまり、 活性パス以外の分岐パスへの信号の拡散伝播が行われないような信 号設定を行う。図 3の例においては IN3== '0, , S 1= '1, , S 2= '0, の各設定を行なう。 ここで上記設定 ΙΝ3= '0, ではピン OUT2を出力とす る 2NAND (トランジスタ P 3, P4, N3, N4よりなる回路) は、 常に '1, を出力するように稼動するため、 ピン OUT 2には初期状態のピン I N 1と同相 の信号 '1' が ¾?れる。 この^ g\ 上記の如く常に逆相の信号が現れる^"と比 較するとピン I N 1から見た見かけ上の要チャージ容量は小さくなり、 もってチ ヤー- ペき負荷は小さく見えることとなる。 その結果チャージ動作を高速化し てディレイを小さくする。
又., 上記設定 S l= £ 1 S 2= '0, では上記パストランジスタ PAS 1 が非導通化し、 その結果ピン I N l→OUT 3のパスが非導通となる。 ピン I Ν 1が £0'→ £1, に変化するとき、 ピン IN 1には がチャージされなけれ ばならず、 このように I N 1→ O U T 3へのパスが非導通の の逃げ場が 無いため、 導通している と比較してパス活性化に ¾~ るディレイは小さくな る。
他方、 ピン IN1が '1, →' 0, に変化する 、 ピン IN1の電荷が '0, に変化するのを妨げないような信号設定、 まり、 ピン IN 1から活性パス以外 の分岐パスに対して信号が拡散伝播され得るような信号設定を行う。 図 3の例に おいては ΙΝ3= '0' , S 1= '0' , S 2= '1, の各設定である。 この設 定 S l= '0,, S 2= ' 1 ' によって上記の如くピン I Nl→OUT3のパス が導通する。 I N 1が ' 1 ' → ' 0 ' に変化するとき、 ピン I N 1からは ¾fが 抜けなければならない。 ここで上記の如く、 I Nl→OUT3のパスが導通して いれば、 電荷の一部が OUT 3にも抜け、 ピン I N l→OUT 3のパスが非導通 の^^に比して結果的にディレイが小さくなる。
図 8はこのような最小ディレイ用信号設定アルゴリズムを示すフローチヤ一 トである。動作の流れは ¾ ^的に上述の図 7のアルゴリズムと同じである。但し、 ステップ S65, S 66では、 夫々、 図 7のステップ S 45、 S46とは導通/ 非導通が逆であり、ステップ S 61では、図 7のステップ S 41において「逆相」 としているものを 「同相」 としている。 いずれも最大ディレイ信号設定用ァルゴ リズムの^^とは逆に、 着目ノードのチャージ時 (0— 1) には当該ノードから の ¾ の逃げ場を作らないようにし、 デイスチャージ時 (1→0) には逆に積極 的に逃げ場を作ることでディレイと小さくする。 或いは、 着目ノードから見たチ ヤージ負荷容量を見かけ上小さくすることでチャージに要する時間を削減して ディレイを小さくする。
又、 図 4 Aに示す^^のようにピン I N 1とピン I N 3との可能な信号の闋係 が外部で決定されている^ \ 図 3の回路での活性パス Pに対する信号決定 (I N1に対する信号設定) 後のピン IN3に ¾~Τる最大 (最小) ディレイ計算用の 信号設定等の検討は不要となる。
次に 「実回路動作を考慮した信号設定方法 (アルゴリズム)」 では、 実際の回 路動作を考慮した信号設定を行う。 即ち、 図 4 乃至4じの#^\ ピン IN1と I N 3の反転関係を論理演算 CCIN1 = N3" (図 4 B )、 可能な信号の闋 係を表す表 "(I Nl, IN3): (1, 0)、 (0, 1) " (図 4C) 等で記述さ れたものをアプリケーションにて 祈出来るようにし、任意のノードに対する入 力に関し、 関連する他のノードの入力が決定された その信号値を一意、若し くは一定の範囲内に限定する処理を行う。
図 9は上記実回路動作を考慮した信号設定アルゴリズムを示すフローチヤ一 トである。 この場合、 ステップ S 81では予め用意された、 例えば図 4 Β等に示 される論理演算情報を読み込み、 ステップ S 82では、 図 4 C等に示される如く の入力信号として可能な組み合わせに関する情報を読み込む。 そしてステップ S 83では、 シミュレーション驗の回路に関して別途与えられた信号設定状態を 基に、 ステップ S81, S82にて読み込んだ条件情報に鑑みて信号設定を拡張 する。 即ち当該動作検証対象回路構成 (設計データ) について、 その使用目的に 合致した様々な入出力条件を設定し、 それらの条件に合 s る、 可能な回路論理 動作を演算により求め、 その論理動作の結果として得られる新たな信号設定を基 に更に可能な論理動作を求める工程を繰り返す (ステップ S 8 3、 S 8 4による ループ)。 このような動作を行なうことで、 回路の使用目的に応じた、 使用 条件に合致した信号設定を行なう。 その結果、 その使用目的を加味した上で実回 路に即したシミュレーションを実行可能となり、 より効率的に所望のディレイ情 報を得ることが可能となる。
例えば図 1 O Aの回路例において、 ピン A1に " 1 " の信号が設定され、 ピン A 2, A 3の信号が未決定の ^を考える。ここで、ピン A 1が" 1 "である時、 ピン A 2は反転関係である " 0 " となることが、 図 1 O Bに示す回路入力関連デ ータ (図 9のステップ S 8 1にて読み込まれるものであり、 図 2中、 データ D 1 に該当する) の 1行目より分かる。 更に、 同じく回路入力関連データの 2行目よ り、 ピン A 2が " 0 " である時に、 ピン A 3がとり得る値は、 " 1,, しかないの で、 A 3は " 1 "であることが分かる。従って図 1 0 Aの回路で、ピン A 1が" 1 " である時、 ピン A 2は " 0 ", ピン A 3は " 1 " となる。 このように、 外部条件 をその使用状態に基づいて指定することにより、 実際の使用状態に即した信号設 定が可能となる。
しかしながらこのように実回路動作を考慮した信号設定ではトランジスタ回 路を論理代数に変換しなければならず。 巨大な力スタムセルでは回路上の全ての 構成を論理代数に変更することは困難な^も発生し得る。 そのような にお いては上記の如くの最大 Z最小ディレイ計算用信号設定法を適宜適用すること により、 目的に応じたディレイ計算を比較的簡易な構成にて行うことが可能であ る。 上記、 最大 Z最小ディレイ計算用信号設定法、 実回路動作を考慮した信号設 定法をどのように適用するかについては、 予めルールとして外部より与えられる ようにしておき、個々の回路構成やその使用目的によって適用ルールを適宜変更 することによつて様々なケースに対応出来るようにしておくことが望まし!/、。 図 6は "活性パスの分岐に対する信号設定ルール" (図 2中、 データ D 2 ) と してのアルゴリズムを示す。 即ち、 ここでは図中の上に位置するほどその条件を 適用する際の優先順位が高い。 ①は固定値指定条件を示し、 「ノード S 1には " 1 "、 S 3には " 0 " が設定されるべき」 との内容を示す。 ②は信号設定ノー ド指定条件を示し、 「ノード I NXについては上記最小ディレイ計算用信号設定 アルゴリズムを適用すべき」 との内容を示す。 ③は所定ルールの適用の要否を示 す条件であり、 「所定の回路入力関連データに従って信号設定を行なうべき」 と の内容を示す。 尚、 この記述 (③) が無い^、 アプリケーションは 「回路入力 関連データ j を無視して信号設定を行なうことになる。 ④は一般的ノードに る適用アルゴリズムを指定する項目であり、 "MAX"の記述により、 「特に指定 の無かったノードについては最大ディレイ計算用信号設定アルゴリズムを適用 すべき」 との内容を示す。
又更に、他の条件によっては信号設定が行われなかった信号入力 ノードに ついては、 例えば図 5に示す貫通電流対策条件による信号設定を適用する (図 2 のステップ S 7)。即ち、実際の CMOS回路では、回路が絶縁破壊を起こしてし まうような信号設定が行われることはない。 具体的には異常動作の原因としては 図 5に示すようなパストランジスタで構成される回路について、 本 ¾1定してい ない飄ノード (VDD) →グランド (VSS)への電気的ショートが発生し、貫通 電流が流れてしまうことが挙げられる。 ここではこのような状況発生防止のため、 そのような異常動作を防止するために活性パスに関係を持たないトランジスタ については可能な限り非導通とする信号設定を行うことが望ましい。 又、 信号設 定の際に電源ノードからグランドノードへの導通パスが出来ないようにチエツ クを行い、 そのような信号設定を禁止する 0
即ち本発明による実施例は、所定の回路部分の所定の動作における信号遅延を 解浙するにあたり、該所定の回路部分の所定の動作に対して論理的には影響を与 えない入力に対して所定の条件による信号設定を行なう周辺回路信号設定手段 を含み、 当該信号設定による信号入力による影響を加味して当該所定の回路部分 の所定の動作における信号伝播動作遅延を する回路^^置であって、 ΙίΠΒ 周辺回路信号設定手段が所定の回路部分の所定の動作に対して論理的には影響 を与えない入力に対して信号設定を行なう際の所定の条件は、 当該回路部分に関 連する条件によっては発生の可能性の無い信号設定を除いた範囲に限定すると いう条件、 該当する所定の回路部分の所定の動作の遅延が最大となる信号設定を 選択するという条件、該当する所定の回路部分の所定の動作の遅延が最小となる 信号設定を選択するという条件、 並びに当該回路部分の実際の使用条件に合致し た信号設定を行うという条件の所定の組み合わせよりなる構成とすることが望 ましい。
このように本発明では、 ディレイ解析に必要なテストパターン生成についてパ スの活性化という観点だけでなく、 回路の負荷条件の再現という観点からも考慮 を行い、 より精度の高いディレイ計算を実現し得る。 従って、 超高速 L S I回路 等において回路のク口ック周波数が増加しても実回路状態に近い精度でディレ ィ値を得ることが出来る。 具体的には、 ディレイ計算用のシミュレーションパタ ーンについて、 実回路では起こり得ない信号設定を行わないことにより、 ディレ ィ計算用のパターンを正確に求めることが出来る。 又、 ディレイ計算用のシミュ レーションパターンについて、 回路の特徴によりパターン生成手法を切り替える ことにより、 ディレイ計算用のパターンをより実回路条件に即したものとして求 めることができる。
尚、 本発明は上記実施例に限られず、 本発明の鉢思想を踏襲する限りにおい て様々な他の実施例が考案可能なことは言うまでも無い。

Claims

請求の範囲
1 . 所定の回路部分の動作における信^ Β延を するにあたり、 該所定の回 路部分の動作に対して論理的には影響を与えない周辺入力に対して所定の条件 による信号設定を行なう周辺入力信号設定手段を含み、 当該信号設定による信号 入力による影響を加味して当該所定の回路部分の動作における信号伝播動作遅 延を »する回路 置。
2. ΙϋΙΒ周辺入力信号設定手段が所定の回路部分の動作に対して論理的には影 響を与えない入力に対して信号設定を行なう際の所定の条件は、 当該回路部分に 関連する条件によっては発生の可能性の無い信号設定を除いた範囲に限定する という条件よりなる請求の範囲 1に記載の回路 iW¾So
3. 歸己周辺入力信号設定手段が所定の回路部分の所定の動作に対して論理的 には影響を与えない入力に対して信号設定を行なう際の所定の条件は、該当する 所定の回路部分の動作の遅延が最大となる信号設定を選択するという条件より なる請求の範囲 1に記載の回路 装置。
4. t riE周辺入力信号設定手段が所定の回路部分の所定の動作に対して論理的 には影響を与えない入力に対して信号設定を行なう際の所定の条件は、該当する 所定の回路部分の動作の遅延が最小となる信号設定を選択するという条件より なる請求の範囲 1に記載の回路 fililf装置。
5. 前記周辺入力信号設定手段が所定の回路部分の所定の動作に対して論理的 には影響を与えな 、入力に対して信号設定を行なう際の所定の条件は、 当該回路 部分の実際の使用条件に合致した信号設定を行うという条件よりなる請求の範 囲 1に記載の回路 置。
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JPH09114870A (ja) * 1995-10-20 1997-05-02 Nec Corp 疑似エラー削減クロストーク検証方法及びシステム
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