TWM627329U - 電子裝置之檢測構造 - Google Patents

Abstract

一種電子裝置之檢測構造，係包含一測試電路板、一夾掣板，該測試電路板表面具有數測試部以及至少一樞接座，該些測試部上方用以設置該電子裝置之電路板，該夾掣板以可活動狀樞接於該樞接座，該夾掣板一側下方被至少一彈性體彈性頂推，用以使該夾掣板另一側所設一夾掣部朝該電子裝置之電路板彈性、緊密地夾掣，且下壓該夾掣板一側後，使該夾掣板另一側之夾掣部離開該電子裝置之電路板之夾掣位置。該電子裝置之電路板可疊置在數測試部上，使該夾掣板可彈性緩衝並緊密地夾掣該電路板，電路板檢測時不用多次插拔動作且避免受壓損壞，再者測試電路板之測試部及電子裝置之電路板可輕易地疊合且彼此可以快速便捷地移除，可增進檢測之效率。

Description

電子裝置之檢測構造

本創作係有關於一種檢測構造，特別是指其為一種電子裝置之檢測構造。

習用電子裝置如顯示器模組於出廠、出貨前，必須先經過測試階段、程序以確保產品品質，該顯示器模組包含有電路板，電路板上設有可電性連接及導通之接點如金手指(Golden-Finger)。

測試時主要係應用測試系統，該測試系統具有可與電路板之接點對應、導通之習知連接器，藉由將顯示器模組之電路板插入該習知連接器，而可以電性連接測試系統，達到電路導通狀態，使顯示器模組顯示測試畫面，以檢測判斷是否符合產品品質、標準，另外，因為顯示器模組測試項目通常有好幾個項目，所以顯示器模組之電路板與習知連接器彼此之間會發生多次插拔動作之情形。

當顯示器模組之電路板與習知連接器進行插拔動作時，由於插拔力量不定且施加之力量不妥當，所以顯示器模組之電路板在插拔位置通常會發生電路損壞及形狀變形之情形。

為了避免顯示器模組之電路板因多次插拔所造成之損壞，進而造成顯示器模組測試畫面顯示不正常之現象，業界申請有相關專利技術，請參閱台灣專利I400442號「一種檢測裝置及面板的檢測方法」，該專利案之檢測裝置用以檢測面板，其包括第二電路板及壓合件。第二電路板包括本體、數個測試墊、數個測試電路及數個導電元件。數個測試墊設置於本體之第一表面上，且此些測試墊分別對應面板之數個接腳設置。數個測試電路對應此些測試墊設置於本體之第二表面上。數個導電元件貫穿設置於該本體中以使測試電路與測試墊電性連接。壓合件對應第二電路板之測試墊設置，用以使面板之第一電路板及第二電路板疊合後緊密接合。當第一電路板疊合於第二電路板時，此些測試電路係經由此些導電元件、測試墊與此些接腳電性連接。

該案其中利用壓合件對應設置於測試墊上，藉由壓合件的重量增加接腳與測試墊的之間緊密度，而使第一電路板可與第二電路板疊合後緊密接合。但是此等檢測構造其壓合件因為沒有揭露彈性緩衝構造，加上壓合件的重量相當大，電路板通常是脆弱精密之元件，因此電路板進行檢測時，面板之第一電路板及第二電路板會容易受壓而損壞。

綜合以上所述，習用電子裝置如顯示器模組其檢測構造及功能仍未臻至於理想狀態。

爰是，本創作人乃秉持多年從事產品設計、開發之實務經驗，積極潛心研發思考、改良創新，經由無數次之實際試驗，致有本創作之產生。

本創作之目的，係在提供一種電子裝置之檢測構造。

為達上述之目的，本創作係包含一測試電路板、一夾掣板，其中，該測試電路板電性連接於一測試系統，該測試電路板表面具有數測試部以及至少一樞接座，該些測試部上方用以設置該電子裝置之電路板；該夾掣板以可活動狀樞接於該樞接座，該夾掣板一側下方被至少一彈性體彈性頂推，用以使該夾掣板另一側所設一夾掣部朝該電子裝置之電路板彈性、緊密地夾掣，且下壓該夾掣板一側後，使該夾掣板另一側之夾掣部離開該電子裝置之電路板之夾掣位置。

該電子裝置之電路板可疊置在數測試部上，使該夾掣板可彈性緩衝並緊密地夾掣該電路板，電路板檢測時不用多次插拔動作且避免受壓損壞，再者測試電路板之測試部及電子裝置之電路板可輕易地疊合且彼此可以快速便捷地移除，可增進檢測之效率。

以下僅藉由具體實施例，且佐以圖式作詳細之說明。

請參閱第1圖、第2圖、第3圖、第4圖所示，本創作係包含一測試電路板10、一夾掣板20。下文將詳細說明之：

該測試電路板10電性連接於一測試系統，該測試電路板10表面包含有二組檢測單元，各所述檢測單元具有數測試部11以及二樞接座12，該些測試部11上方用以設置一電子裝置30之電路板31。

該夾掣板20以可活動狀樞接於該樞接座12，該夾掣板20一側下方被二彈性體21彈性頂推，用以使該夾掣板20另一側所設一夾掣部22朝該電子裝置30之電路板31彈性、緊密地夾掣，且下壓該夾掣板20一側後，使該夾掣板20另一側之夾掣部22離開該電子裝置30之電路板31之夾掣位置。

於一實施例，該電子裝置30為顯示器模組。

於一實施例，該些樞接座12之間界定出一測試區13，並使數測試部11位於該測試區13。

據此，只要將電子裝置30之電路板31放置於該測試區13，就能自動準確地對應定位於數測試部11上方，該電路板31不會任意歪斜而利於檢測工作。

於一實施例，該測試電路板10設有一止擋部14，該止擋部14靠近數測試部11，用以該些測試部11上方設置電子裝置30之電路板31時可於該電路板31一側產生止擋定位作用，該電路板31不會任意移動而利於檢測工作。

於一實施例，藉由一樞軸23穿設該樞接座12及該夾掣板20，而可將該夾掣板20以可活動狀樞接於該樞接座12。

於一實施例，該彈性體21選自壓縮彈簧，該樞接座12設有一凹槽121，該彈性體21之下方設於該凹槽121中，而一螺件24穿設該夾掣板20後並伸入該彈性體21之上方內部，用以有效地將該彈性體21定位，避免該彈性體21移位、脫落。

上述為本創作之各部構件及其組成方式介紹，接著再將本創作之使用特點、功效介紹如下：

請參閱第4圖所示，可將該測試電路板10直接放置於該電子裝置30上方表面，之後下壓該夾掣板20一側後，使該夾掣板20另一側之夾掣部22形成打開狀，此時可將該電子裝置30之電路板31直接放置於該些測試部11上方。

請參閱第5圖所示，該電子裝置30之電路板31可疊置在數測試部11上，使該夾掣板20可彈性緩衝並緊密地夾掣該電路板31，電路板31檢測時不用多次插拔動作且避免受壓損壞，再者測試電路板10之測試部11及電子裝置30之電路板31可輕易地疊合且彼此可以可快速便捷地移除，可增進檢測之效率。

請參閱第6圖所示，數測試部11係於該測試電路板10上形成突出狀之金屬接點，而該電路板31具有數個形成突出狀且對應該些測試部11之導通部32，用以數測試部11與數導通部32構成突狀對突狀之電性導通構造，可增進定位時之精準性。

請參閱第7圖所示，數測試部11係形成上方表面平行於該測試電路板10表面狀之金屬接點，而該電路板31具有數個形成突出狀且對應該些測試部11之導通部32，用以數測試部11與數導通部32構成平面狀對突狀之電性導通構造，可增進定位時之精準性。

以上為本案所舉之實施例，僅為便於說明而設，當不能以此限制本案之意義，即大凡依所列申請專利範圍所為之各種變換設計，均應包含在本案之專利範圍中。

10:測試電路板 11:測試部 12:樞接座 121:凹槽 13:測試區 14:止擋部 20:夾掣板 21:彈性體 22:夾掣部 23:樞軸 24:螺件 30:電子裝置 31:電路板 32:導通部

第1圖係本創作之立體圖。 第2圖係本創作其中一個檢測單元之立體分解圖。 第3圖係本創作其中另一個檢測單元之立體分解圖。 第4圖及第5圖係本創作之使用例圖。 第6圖係本創作測試部與電路板之導通部之電性導通構造剖面圖。 第7圖係本創作測試部與電路板之導通部之另一電性導通構造剖面圖。

10:測試電路板

12:樞接座

13:測試區

20:夾掣板

21:彈性體

22:夾掣部

24:螺件

Claims (6)

1. 一種電子裝置之檢測構造，係包含：一測試電路板，電性連接於一測試系統，該測試電路板表面具有數測試部以及至少一樞接座，該些測試部上方用以設置該電子裝置之電路板；一夾掣板，以可活動狀樞接於該樞接座，該夾掣板一側下方被至少一彈性體彈性頂推，用以使該夾掣板另一側所設一夾掣部朝該電子裝置之電路板彈性、緊密地夾掣，且下壓該夾掣板一側後，使該夾掣板另一側之夾掣部離開該電子裝置之電路板之夾掣位置。
2. 如請求項1所述之電子裝置之檢測構造，其中，該電子裝置為顯示器模組。
3. 如請求項1所述之電子裝置之檢測構造，其中，該些樞接座之間界定出一測試區，並使數測試部位於該測試區。
4. 如請求項1所述之電子裝置之檢測構造，其中，該測試電路板設有一止擋部，該止擋部靠近數測試部，用以該些測試部上方設置電子裝置之電路板時可於該電路板一側產生止擋定位作用，而利於檢測工作。
5. 如請求項1所述之電子裝置之檢測構造，其中，藉由一樞軸穿設該樞接座及該夾掣板，而可將該夾掣板以可活動狀樞接於該樞接座。
6. 如請求項1所述之電子裝置之檢測構造，其中，該彈性體選自壓縮彈簧，該樞接座設有一凹槽，該彈性體之下方設於該凹槽中，而一螺件穿設該夾掣板後並伸入該彈性體之上方內部，用以將該彈性體定位。

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