TWM608215U - 測試治具 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 163
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 claims abstract description 97
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 208000033999 Device damage Diseases 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
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Abstract
本申請公開了一種測試治具,其包括連接基座、待測件固定座、第一承載組件、第一訊號傳輸組件、第二承載組件及第二訊號傳輸組件,連接基座具有第一連接端部及第二連接端部;待測件固定座設置於第一連接端部及第二連接端部之間,待測件固定座設置為固定待測電路板;第一承載組件設置於第一連接端部的一側;第一訊號傳輸組件設置於第一承載組件的一側;第二承載組件設置於第二連接端部的一側;第二訊號傳輸組件設置於第二承載組件的一側,第一訊號傳輸組件及第二訊號傳輸組件分別與待測電路板電連接。
Description
本申請涉及晶片測試的技術領域,尤其涉及一種測試治具。
目前元器件測試通常透過複數線纜與具有元器件(例如是晶片)的電路板電連接,透過該些線纜輸入訊號至元器件,元器件根據輸入訊號產生對應的輸出訊號,輸出訊號透過該些線纜傳輸至外部裝置,若無輸出訊號傳輸至外部裝置或者輸出訊號發生異常時,則表示晶片為不良品。但在元器件測試的過程中,該些線纜垂掛於具有元器件的電路板的一側,如此該些線纜的重量及應力導致該些線纜容易與電路板分離,甚至造成電路板及元器件的損壞。
本申請實施例提供一種測試治具,解決目前在進行元器件測試時,與具有元器件的電路板連接的線纜垂掛於電路板的一側,線纜的重量及應力容易造成電路板及元器件損壞的問題。
為了解決上述技術問題,本申請是這樣實現的:
提供了一種測試治具,其包括:連接基座,具有第一連接端部及第二連接端部;待測件固定座,設置於連接基座的一側,待測件固定座位於第一連接端部及第二連接端部之間,待測件固定座設置為固定待測電路板;第一承載組件,設置於第一連接端部的一側,第一承載組件位於待測件固定座的一側;第一訊號傳輸組件,設置於第一承載組件的一側,第一訊號傳輸組件與電路板電連接;第二承載組件,設置於第二連接端部的一側,第二承載組件位於待測件固定座的另一側且與第一承載組件相對;以及第二訊號傳輸組件,設置於第二承載組件的一側,第二訊號傳輸組件與第一訊號傳輸組件相對,第二訊號傳輸組件與待測電路板電連接。
在本申請實施例中,透過測試治具可避免線纜直接與待測電路板連接,避免線纜懸掛於待測電路板的一側,使線纜能穩固地於待測電路板電連接,使具有待測電路板不受線纜的重量及應力的影響而損壞。
下面將結合本申請實施例中的附圖,對本申請實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例是本申請一部分實施例,而不是全部的實施例。基於本申請中的實施例,本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬本申請保護的範圍。
請參閱圖1、圖2及圖3,是本申請第一實施例的測試治具的立體圖及分解圖;如圖所示,本實施例的測試治具1包括連接基座10、待測件固定座11、第一承載組件12、第一訊號傳輸組件13、第二承載組件14及第二訊號傳輸組件15,待測件固定座11設置於連接基座10的一側,連接基座10具有第一連接端部101及第二連接端部102,待測件固定座11位於第一連接端部101及第二連接端部102之間。第一承載組件12與第一連接端部101連接,第一承載組件12位於待測件固定座11的一側。第一訊號傳輸組件13設置於第一承載組件12的一側,且位於待測件固定座11的一側。第二承載組件14與第二連接端部102連接,第二承載組件14位於待測件固定座11的另一側,第二承載組件14與第一承載組件12相對。第二訊號傳輸組件15設置於第二承載組件14的一側,且位於待測件固定座11的另一側,第二訊號傳輸組件15與第一訊號傳輸組件13相對。
本實施例的測試治具1在使用時,將具有待測晶片21的待測電路板2放置於待測件固定座11上,第一訊號傳輸組件13及第二訊號傳輸組件15分別與待測電路板2電連接,第一訊號傳輸組件13輸入訊號至待測電路板2,待測晶片21根據第一訊號傳輸組件13所輸入的訊號而產生輸出訊號,待測晶片21所產生的輸出訊號從第二訊號傳輸組件15傳輸至外部裝置。透過本實施例的測試治具1可避免線纜直接與待測晶片21的待測電路板2連接,避免線纜懸掛於具有待測晶片21的待測電路板2的一側,使線纜能穩固地於具有待測晶片21的待測電路板2電連接,使具有待測晶片21的待測電路板2不受線纜的重量及應力的影響而損壞。本實施例僅為本申請的一實施態樣,待測電路板2上的待測晶片21也可置換為其他元器件,不應以此為限。
本實施例的第一訊號傳輸組件13包括第一固定座131及第一測試電路板132,第一固定座131設置於第一承載組件12的一側且沿垂直方向Z延伸,第一測試電路板132設置於第一固定座131與第一水平方向Y 垂直的表面上,其中垂直方向Z與第一水平方向Y相互垂直。第一測試電路板132具有複數第一線纜連接器1321及第一測試連接器1322,第一測試連接器1322位於第一測試電路板132靠近待測件固定座11的一側,第一測試連接器1322與該些第一線纜連接器1321電連接,具體的說,第一測試連接器1322內具有複數連接線路,第一測試連接器1322透過該些連接線路與該些第一線纜連接器1321電連接。
第二訊號傳輸組件15的結構與第一訊號傳輸組件13的結構相同,第二訊號傳輸組件15包括第二固定座151及第二測試電路板152,第二固定座151設置於第二承載組件14的一側且沿垂直方向Z延伸,第二測試電路板152設置於第二固定座151與第一水平方向Y垂直的表面上,第二測試電路板152與第一測試電路板132位於同一平面上。第二測試電路板152具有複數第二線纜連接器1521及第二測試連接器1522,第二測試連接器1522位於第二測試電路板152靠近待測件固定座11的一側,第二測試連接器1522與該些第二線纜連接器1521電連接,具體的說,第二測試連接器1522內具有複數連接線路,第二測試連接器1522透過該些連接線路與該些第二線纜連接器1521電連接。
當本實施例的測試治具1於使用時,待測電路板2設置於待測件固定座11與第一水平方向Y垂直的表面上且位於第一測試電路板132及第二測試電路板152之間,即待測電路板2、第一測試電路板132及第二測試電路板152位於同一平面上。待測電路板2具有二連接器22,二連接器22分別位於待測電路板2相對的二側,第一測試電路板132的第一測試連接器1322及第二測試電路板152的第二測試連接器1522分別與二連接器22連接,如此使第一訊號傳輸組件13及第二訊號傳輸組件15分別與待測電路板2電連接, 第一訊號傳輸組件13、第二訊號傳輸組件15與待測電路板2之間進行訊號傳輸,以對待測晶片21進行測試。
此外第一測試電路板132的該些第一線纜連接器1321及第二測試電路板152的該些第二線纜連接器1521分別透過線路與外部裝置連接。本實施例的第一測試電路板132的該些第一線纜連接器1321及第二測試電路板152的該些第二線纜連接器1521分別在第一測試電路板132及第二測試電路板152上作圓弧排列,當然也可作其他的排列,於此不再贅述。本實施例的第一固定座131還具有第一鏤空部1311,第一測試電路板132從第一鏤空部1311露出,使該些第一線纜連接器1321可設置於第一測試電路板132在第一水平方向Y上且相對的二表面上;同樣地,第二固定座151還具有第二鏤空部1511,第二測試電路板152從第二鏤空部1511露出,使該些第二線纜連接器1521可位於第二測試電路板152在第一水平方向Y上且相對的二表面上。本實施例的第一測試電路板132還具有第一測試基板1323,該些第一線纜連接器1321設置於第一測試基板1323上,第一線纜連接器1321具有第一連接器本體1321a及第一固定部1321b,第一固定部1321b設置於第一連接器本體1321a的周緣,第一固定部1321b從第一連接器本體1321a凸出,每一第一線纜連接器1321的第一固定部1321b固定於第一測試基板1323上,可使第一線纜連接器1321穩固地位於第一測試電路板132上。同樣地,第二測試電路板152還具有第二測試基板1523,該些第二線纜連接器1521設置於第二測試基板1523上,第二線纜連接器1521具有第二連接器本體1521a及第二固定部1521b,第二固定部1521b設置於第二連接器本體1521a的周緣,第二固定部1521b從第二連接器本體1521a凸出,每一第二線纜連接器1521的第二固定部1521b固定於第二測試基板1523上,可使第二線纜連接器1521穩固地位於第二測試電路板152上。本實施例的第一訊號傳輸組件13作為訊號輸入端,第二訊號傳輸組件15作為訊號輸出端,當然第一訊號傳輸組件13也可作為訊號輸出端,第二訊號傳輸組件15作為訊號輸入端。
為了使第一測試電路板132的第一測試連接器1322及第二測試電路板152的第二測試連接器1522能分別精準地插入二連接器22,本實施例的待測件固定座11、第一承載組件12及第二承載組件14為可調整的,待測電路板2的二連接器22、第一測試電路板132的第一測試連接器1322及第二測試電路板152的第二測試連接器1522可分別透過待測件固定座11、第一承載組件12及第二承載組件14帶動而微調整其位置,使第一測試電路板132的第一測試連接器1322及第二測試電路板152的第二測試連接器1522分別與二連接器22對齊而精準地插入。
第一承載組件12帶動第一訊號傳輸組件13沿第一水平方向Y及第二水平方向X移動,第二承載組件14帶動第二訊號傳輸組件15沿第一水平方向Y或第二水平方向X移動,待測件固定座11帶動待測電路板2沿第二水平方向X或第一水平方向Y移動,換句話說,第一承載組件12帶動第一訊號傳輸組件13在二個方向上移動,第二承載組件14僅可帶動第二訊號傳輸組件15在一個方向上移動,待測件固定座11也僅帶動待測電路板2沿一個方向上移動,例如是第一承載組件12帶動第一訊號傳輸組件13沿第一水平方向Y及第二水平方向X移動,第二承載組件14帶動第二訊號傳輸組件15沿第二水平方向X移動,待測件固定座11帶動待測電路板2沿第一水平方向Y移動。在本實施例中,第一承載組件12可帶動第一訊號傳輸組件13沿第一水平方向Y及第二水平方向X移動,第二承載組件14可帶動第二訊號傳輸組件15沿第二水平方向X移動,待測件固定座11帶動待測電路板2沿第一水平方向Y移動。其中垂直方向Z、第一水平方向Y及第二水平方向X相互垂直。
下述詳細說明待測件固定座11、第一承載組件12及第二承載組件14的結構,第一承載組件12包括第一連接座121及第一承載座122,第一連接座121活動設置於第一連接端部101的一側,第一承載座122活動設置於第一連接座121遠離第一連接端部101的表面上。第一連接座121在垂直方向Z上且相對的二表面分別具有第一滑動部1211及第二滑動部1212,第一滑動部1211沿第一水平方向Y延伸,第二滑動部1212沿第二水平方向X延伸。當第一連接座121組裝於第一連接端部101時,第一連接端部101具有第三滑動部1011,第三滑動部1011沿第一水平方向Y延伸,第一連接座121的第一滑動部1211與第三滑動部1011活動連接。第一承載座122靠近第一連接座121的表面具有第四滑動部1221,第四滑動部1221沿第二水平方向X延伸,第一訊號傳輸組件13設置於第一承載座122遠離第一連接座121的表面上。當第一承載座122組裝於第一連接座121上時,第一承載座122的第四滑動部1221與第二滑動部1212活動連接。本實施例的第一承載組件12的第一連接座121相對於第一連接端部101沿第一水平方向Y移動,第一連接座121透過第一承載座122帶動第一訊號傳輸組件13沿第一水平方向Y移動,第一承載座122相對於第一連接座121沿第二水平方向X移動,第一承載座122帶動第一訊號傳輸組件13沿第二水平方向X移動。 本實施例中,第一滑動部1211為凸塊,第三滑動部1011為凹槽,第二滑動部1212為凹槽,第四滑動部1221為凸塊。當然第二滑動部1212及第三滑動部1011也可改為凸塊,第一滑動部1211及第四滑動部1221可改為凹槽。
第二承載組件14包括第二承載座142,第二承載座142活動設置於第二連接端部102。第二連接端部102的表面具有第五滑動部1021,第五滑動部1021沿第二水平方向X延伸。第二承載座142靠近第二連接端部102的表面具有第六滑動部1421,第六滑動部1421沿第二水平方向X延伸,第二訊號傳輸組件15設置於第二承載座142遠離第二連接端部102的表面上。當第二承載座142組裝於第二連接端部102上時,第二承載座142的第六滑動部1421與第五滑動部1021活動連接。本實施例的第二承載組件14的第二承載座142相對於第二連接端部102沿第二水平方向X移動,第二承載座142帶動第二訊號傳輸組件15沿第二水平方向X移動。本實施例中,第五滑動部1021為凹槽,第六滑動部1421為凸塊。當然第五滑動部1021也可改為凸塊,第六滑動部1421可改為凹槽。
位於第一連接端部101和第二連接端部102之間的連接基座10具有第一連接滑動部103,第一連接滑動部103沿第一水平方向Y延伸。待測件固定座11靠近連接基座10的表面具有第二連接滑動部111,第二連接滑動部111沿第一水平方向Y延伸,第二連接滑動部111與第一連接滑動部103活動連接,待測件固定座11能相對於連接基座10沿第一水平方向Y移動,待測件固定座11能帶動待測電路板2沿第一水平方向Y移動。本實施例中,第一連接滑動部103為凹槽,第二連接滑動部111為凸塊。當然第一連接滑動部103也可改為凸塊,第二連接滑動部111可改為凹槽。
本實施例的第一承載座122具有第一固定穿槽1222,第一固定穿槽1222沿第二水平方向X延伸且位於第一訊號傳輸組件13的一側。第一承載組件12還包括第一限位件123,第一限位件123穿過第一固定穿槽1222與第一連接座121活動連接。第一限位件123具有第一限位本體1231及第一限位凸部1232,第一限位本體1231穿過第一固定穿槽1222而與第一連接座121活動連接,第一限位凸部1232設置於第一限位本體1231遠離第一連接座121的一端,第一限位凸部1232位於第一承載座122遠離第一連接座121的一側,第一限位本體1231在第二水平方向X上的寬度小於第一固定穿槽1222在第二水平方向X上的寬度,使第一承載座122能相對於第一連接座121沿第二水平方向X移動。第一限位凸部1232在第一水平方向Y上的寬度大於第一固定穿槽1222在第一水平方向Y上的寬度。在第一承載組件12完成第二水平方向X上的移動之前,第一限位凸部1232與第一承載座122之間具有間距,使第一承載座122能沿第二水平方向X移動。在第一承載組件12完成第二水平方向X上的移動之後,第一限位凸部1232抵接於第一承載座122遠離第一連接座121的表面上,以固定第一承載座122在第一連接座121上。本實施例的第一連接座121還具有與第一限位件123的第一限位本體1231對應的穿孔(圖中未示),使第一限位件123可沿穿孔移動而靠近或遠離第一承載座122。本實施例的第一固定穿槽1222及第一限位件123的數量均為二個,二第一固定穿槽1222及二第一限位件123分別位於第一訊號傳輸組件13在第一水平方向Y上的相對二側,如此更能使第一承載座122穩固地固定在第一連接座121上。
本實施例的第一連接座121具有第二固定穿槽1213,第二固定穿槽1213沿第一水平方向Y延伸且位於第一訊號傳輸組件13的一側。第一承載組件12還包括第二限位件124,第二限位件124穿過第二固定穿槽1213與第一連接端部101活動連接。第二限位件124具有第二限位本體1241及第二限位凸部1242,第二限位本體1241穿過第二固定穿槽1213且與第一連接端部101活動連接,第二限位凸部1242與第二限位本體1241遠離第一連接端部101的一端連接,第二限位凸部1242位於第一連接座121遠離該第一連接端部101的一側,第二限位本體1241在第一水平方向Y上的寬度小於第二固定穿槽1213在第一水平方向Y上的寬度,使第一連接座121能相對於第一連接端部101沿第一水平方向Y移動。第二限位凸部1242在第二水平方向X上的寬度大於第二固定穿槽1213在第二水平方向X上的寬度。在第一承載組件12完成第一水平方向Y的移動之前,第二限位凸部1242與第一連接座121之間具有間距,使第一承載座122能沿第一水平方向Y移動。在第一承載組件12完成第一水平方向Y上的移動之後,第二限位凸部1242抵接於第一連接座121遠離第一連接端部101的表面上,以固定第一連接座121在第一連接端部101上。本實施例的第一連接端部101還具有與第二限位件124的第二限位本體1241對應的穿孔(圖中未示),使第二限位件124可沿穿孔移動而靠近或遠離第一連接座121。本實施例的第二固定穿槽1213及第二限位件124的數量均為二個,二第二固定穿槽1213及二第二限位件124分別位於第一訊號傳輸組件13在第一水平方向Y上相對的二側,如此更能使第一連接座121穩固地固定在第一連接端部101上。
本實施例的第二承載座142具有第三固定穿槽1422,第三固定穿槽1422沿第二水平方向X延伸且位於第二訊號傳輸組件15的一側。第二承載組件14還包括第三限位件143,第三限位件143穿過第三固定穿槽1422與第二連接座141活動連接。第三限位件143具有第三限位本體1431及第三限位凸部1432,第三限位本體1431穿過第三固定穿槽1422而與第二連接端部102活動連接,第三限位凸部1432設置於第三限位本體1431遠離第二連接端部102的一端,第三限位凸部1432位於第二承載座142遠離第二連接端部102的一側,第三限位本體1431在第二水平方向X上的寬度小於第三固定穿槽1422在第二水平方向X上的寬度,使第二承載座142能相對於第二連接端部102沿第二水平方向X移動。第三限位凸部1432在第一水平方向Y上的寬度大於第三固定穿槽1422在第一水平方向Y上的寬度。在第二承載組件14完成第二水平方向X上的移動之前,第三限位凸部1432與第二承載座142之間具有間距,使第二承載座142能沿第二水平方向X移動。在第二承載組件14完成第二水平方向X上的移動之後,第三限位凸部1432抵接於第二承載座142遠離第二連接端部102的表面上,以固定第二承載座142在第二連接端部102上。本實施例的第二連接端部102還具有與第三限位件143的第三限位本體1431對應的穿孔(圖中未示),使第三限位件143可沿穿孔移動而靠近或遠離第二承載座142。本實施例的第三固定穿槽1422及第三限位件143的數量均為二個,二第三固定穿槽1422及二第三限位件143分別位於第二訊號傳輸組件15在第一水平方向Y上相對的二側,如此更能使第二承載座142穩固地固定在第二連接端部102上。
本實施例的待測件固定座11具有固定穿槽112,固定穿槽112沿第一水平方向Y延伸且位於待測電路板2的一側。待測件固定座11還包括限位件113,限位件113穿過固定穿槽112與連接基座10活動連接。限位件113具有限位本體1131及限位凸部1132,限位本體1131穿過固定穿槽112而與連接基座10活動連接,限位凸部1132設置於限位本體1131遠離連接基座10的一端,限位凸部1132位於待測件固定座11遠離連接基座10的一側,限位本體1131在第一水平方向Y上的寬度小於固定穿槽112在第一水平方向Y上的寬度,使待測件固定座11能相對於連接基座10沿第一水平方向Y移動。限位凸部1132在第二水平方向X上的寬度大於固定穿槽112在第二水平方向X上的寬度。在待測件固定座11完成第一水平方向Y上的移動之前,限位凸部1132與待測件固定座11之間具有間距,使待測件固定座11能沿第一水平方向Y移動。在待測件固定座11完成第一水平方向Y上的移動之後,限位凸部1132抵接於待測件固定座11遠離連接基座10的表面上,以固定待測件固定座11在連接基座10上。本實施例的連接基座10還具有與限位件113的限位本體1131對應的穿孔(圖中未示),使限位件113可沿穿孔移動而靠近或遠離待測件固定座11。本實施例的固定穿槽112及限位件113的數量均為二個,二固定穿槽112及二限位件113分別位於待測件固定座11在第一水平方向Y上相對的二側,如此更能使待測件固定座11穩固地固定在連接基座10上。
請參閱圖4及圖5,是本申請第二實施例的測試治具的立體圖及分解圖;如圖所示,本實施例的測試治具1與第一實施例的測試治具不同在於第二承載組件14能帶動第二訊號傳輸組件15沿第一水平方向Y與第二水平方向X移動,待測件固定座11不帶動待測電路板2移動,省略第一連接滑動部與第二連接滑動部的設置,所以本實施例的第二承載組件14還包括第二連接座141,第二連接座141設置於第二承載座142與第二連接端部102之間,的第二連接座141是能相對於連接基座10沿第一水平方向Y移動,第二連接座141透過第二承載座142帶動第二訊號傳輸組件15沿第一水平方向Y移動。本實施例的第二連接端部102的第五滑動部1021是沿第 一水平方向Y延伸,第二連接座141遠離第二承載座142的表面還具有第七滑動部1411,第七滑動部1411沿第一水平方向Y延伸。當第二承載組件14組裝於第二連接端部102時,第二連接座141的第七滑動部1411與第五滑動部1021活動連接,第二連接座141相對於第二連接端部102沿第一水平方向Y移動。本實施例的第二連接座141靠近第二承載座142的表面上還具有第八滑動部1412,第八滑動部1412與第二連接座141的第六滑動部1421均沿第二水平方向X延伸。當第二承載座142組裝於第二連接座141時,第二連接座141的第八滑動部1412與第六滑動部1421活動連接,第二承載座142相對於第二連接座141沿第二水平方向X移動。
本實施例的第二承載組件14的第三限位件143的第三限位本體1431穿過第三固定穿槽1422而與第二連接座141活動連接,第三限位凸部1432設置於第三限位本體1431遠離第二連接座141的一端,第三限位凸部1432位於第二承載座142遠離第二連接座141的一側,第三限位本體1431在第二水平方向X上的寬度小於第三固定穿槽1422在第二水平方向X上的寬度,使第二承載座142能相對於第二連接座141沿第二水平方向X移動。在第二承載組件14完成第二水平方向X上的移動之後,第三限位凸部1432抵接於第二承載座142遠離第二連接座141的表面上,以固定第二承載座142在第二連接座141上。本實施例的第二連接座141還具有與第三限位件143的第三限位本體1431對應的穿孔(圖中未示),使第三限位件143可沿穿孔移動而靠近或遠離第二承載座142。本實施例的第三固定穿槽1422及第三限位件143的數量均為二個,二第三固定穿槽1422及二第三限位件143分別位於第二訊號傳輸組件15在第一水平方向Y上相對的二側,如此更能使第二承載座142穩固地固定在第二連接座141上。
本實施例的第二連接座141具有第四固定穿槽1413,第四固定穿槽1413沿第一水平方向Y延伸且位於第二訊號傳輸組件15的一側。第二承載組件14還包括第四限位件144,第四限位件144穿過第四固定穿槽1413與第二連接端部102活動連接。第四限位件144具有第四限位本體1441及第四限位凸部1442,第四限位凸部1442設置於第四限位本體1441的一端,第四限位本體1441穿過第四固定穿槽1413而與第二連接端部102活動連接,第四限位凸部1442設置於第四限位本體1441遠離第二連接端部102的一端,第四限位凸部1442位於第二連接座121遠離第二連接端部102的一側,第四限位本體1441在第一水平方向Y上的寬度小於第四固定穿槽1413在第一水平方向Y上的寬度,使第一連接座121能相對於第二連接端部102沿第一水平方向Y移動。第四限位凸部1442在第二水平方向X上的寬度大於第四固定穿槽1413在第二水平方向X上的寬度。在第二承載組件14完成第一水平方向Y上的移動之前,第四限位凸部1442與第二承載座142之間具有間距,使第二承載座142能沿第一水平方向Y上移動。在第一承載組件12完成第一水平方向Y上的移動之後,第四限位凸部1442抵接於第二連接座141遠離第二連接端部102的表面上,以固定第二連接座141在第二連接端部102上。本實施例的第二連接端部102還具有與第四限位件144的第四限位本體1441對應的穿孔(圖中未示),使第四限位件144可沿穿孔移動而靠近或遠離第二連接座141。本實施例的第四固定穿槽1413及第四限位件144的數量均為二個,二第四固定穿槽1413及二第四限位件144分別位於第二訊號傳輸組件15在第一水平方向Y上的相對二側,如此更能使第二連接座141穩固地固定在第二連接端部102上。
綜上所述,本申請提供一種測試治具,透過測試治具可避免線纜直接與待測電路板連接,避免線纜懸掛於待測電路板的一側,使線纜能穩固地於待測電路板電連接,使待測電路板不受線纜的重量及應力的影響而損壞。
此外,第一訊號傳輸組件及第二訊號傳輸組件分別透過第一測試連接器及第二測試連接器與待測電路板的二連接器連接,第一承載組件、第二承載組件和待測件固定座可分別帶動第一訊號傳輸組件、第二訊號傳輸組件及待測電路板;或第一承載組件和第二承載組件可分別帶動第一訊號傳輸組件和第二訊號傳輸組件,以對第一訊號傳輸組件、第二訊號傳輸組件及待測電路板的位置或第一訊號傳輸組件及第二訊號傳輸組件的位置進行微調整,第一訊號傳輸組件的第一測試連接器及第二訊號傳輸組件的第二測試連接器分別與待測電路板的二連接器對齊而精準地插入。
需要說明的是,在本文中,術語“包括”、“包括”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包括,從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者裝置不僅包括那些要素,而且還包括沒有明確列出的其他要素,或者是還包括為這種過程、方法、物品或者裝置所固有的要素。在沒有更多限制的情况下,由語句“包括一個……”限定的要素,並不排除在包括該要素的過程、方法、物品或者裝置中還存在另外的相同要素。
上面結合附圖對本申請的實施例進行了描述,但是本申請並不局限於上述的具體實施方式,上述的具體實施方式僅僅是示意性的,而不是限制性的,本領域的普通技術人員在本申請的啓示下,在不脫離本申請宗旨及申請專利範圍所保護的範圍情况下,還可做出很多形式,均屬本申請的保護之內。
1:測試治具
10:連接基座
101:第一連接端部
1011:第三滑動部
102:第二連接端部
1021:第五滑動部
103:第一連接滑動部
11:待測件固定座
111:第二連接滑動部
112:固定穿槽
113:限位件
1131:限位本體
1132:限位凸部
12:第一承載組件
121:第一連接座
1211:第一滑動部
1212:第二滑動部
1213:第二固定穿槽
122:第一承載座
1221:第四滑動部
1222:第一固定穿槽
123 :第一限位件
1231:第一限位本體
1232:第一限位凸部
124:第二限位件
1241:第二限位本體
1242:第二限位凸部
13:第一訊號傳輸組件
131:第一固定座
1311:第一鏤空部
132:第一測試電路板
1321:第一線纜連接器
1321a:第一連接器本體
1321b:第一固定部
1322:第一測試連接器
1323:第一測試基板
14:第二承載組件
141:第二連接座
1411:第七滑動部
1412:第八滑動部
1413:第四固定穿槽
142:第二承載座
1421:第六滑動部
1422:第三固定穿槽
143:第三限位件
1431:第三限位本體
1432:第三限位凸部
144:第四限位件
1441:第四限位本體
1442:第四限位凸部
15:第二訊號傳輸組件
151:第二固定座
1511:第二鏤空部
152:第二測試電路板
1521:第二線纜連接器
1521a:第二連接器本體
1521b:第二固定部
1522:第二測試連接器
1523:第二測試基板
2:待測電路板
21:待測晶片
22:連接器
Y:第一水平方向
X:第二水平方向
Z:垂直方向
圖1是本申請第一實施例的測試治具的立體圖;
圖2是本申請第一實施例的測試治具的另一立體圖;
圖3是本申請第一實施例的測試治具的分解圖;
圖4是本申請第二實施例的測試治具的立體圖; 以及
圖5是本申請第二實施例的測試治具的分解圖。
1:測試治具
10:連接基座
11:待測件固定座
12:第一承載組件
13:第一訊號傳輸組件
132:第一測試電路板
1322:第一測試連接器
14:第二承載組件
15:第二訊號傳輸組件
152:第二測試電路板
1522:第二測試連接器
2:待測電路板
21:待測晶片
22:連接器
Y:第一水平方向
X:第二水平方向
Z:垂直方向
Claims (12)
- 一種測試治具,其包括: 一連接基座,具有一第一連接端部及一第二連接端部; 一待測件固定座,設置於該連接基座的一側,該待測件固定座位於該第一連接端部及該第二連接端部之間,該待測件固定座設置為固定一待測電路板; 一第一承載組件,設置於該連接基座的一側,該第一承載組件位於該待測件固定座的一側; 一第一訊號傳輸組件,設置於該第一承載組件的一側,該第一訊號傳輸組件與該待測電路板電連接; 一第二承載組件,設置於該連接基座的一側,該第二承載組件位於該待測件固定座的另一側且與該第一承載組件相對;以及 一第二訊號傳輸組件,設置於該第二承載組件的一側,該第二訊號傳輸組件與該第一訊號傳輸組件相對,該二訊號傳輸組件與該待測電路板電連接。
- 如請求項1所述的測試治具,其中,該第一承載組件帶動該第一訊號傳輸組件沿一第一水平方向及一第二水平方向移動,該第一承載組件包括: 一第一連接座,活動設置於該第一連接端部的一側,該第一連接座在一垂直方向上且相對的二表面分別具有一第一滑動部及一第二滑動部,該第一滑動部沿該第一水平方向延伸,該第二滑動部沿該第二水平方向延伸,該第一連接端部具有沿該第一水平方向延伸的一第三滑動部,該第三滑動部與該第一滑動部活動連接;以及 一第一承載座,活動設置於該第一連接座遠離該第二連接端部的表面上,該第一承載座靠近該第一連接座的表面具有沿該第二水平方向延伸的一第四滑動部,該第四滑動部與該第二滑動部活動連接,該第一訊號傳輸組件設置於該第一承載座遠離該第一連接座的表面上。
- 如請求項2所述的測試治具,其中,該第一承載座具有沿該第二水平方向延伸的一第一固定穿槽,該第一固定穿槽位於該第一訊號傳輸組件的一側,該第一承載組件還包括一第一限位件,該第一限位件具有一第一限位本體及一第一限位凸部,該第一限位本體穿過該第一固定穿槽而與該第一連接座活動連接,該第一限位凸部設置於該第一限位本體遠離該第一連接座的一端,該第一限位凸部位於第一承載座遠離該第一連接座的一側,該第一限位本體在該第二水平方向上的寬度小於該第一固定穿槽在該第二水平方向上的寬度,該第一限位凸部在該第一水平方向上的寬度大於該第一固定穿槽在該第一水平方向上的寬度。
- 如請求項2所述的測試治具,其中,該第一連接座具有沿該第一水平方向延伸的一第二固定穿槽,該第二固定穿槽位於該第一訊號傳輸組件的一側,該第一承載組件還包括一第二限位件,該第二限位件具有一第二限位本體及一第二限位凸部,該第二限位本體穿過該第二固定穿槽而與該第一連接端部活動連接,該第二限位凸部設置於該第一限位本體遠離該第一連接座的一端,該第二限位凸部位於第一承載座遠離該第一連接座的一側,該第二限位本體在該第一水平方向上的寬度小於該第二固定穿槽在該第一水平方向上的寬度,該第二限位凸部在該第二水平方向上的寬度大於該第二固定穿槽在該第二水平方向上的寬度。
- 如請求項1所述的測試治具,其中,該第二承載組件帶動該第二訊號傳輸組件沿一第二水平方向移動,該第二承載組件包括: 一第二承載座,活動設置於該第二連接端部的一側,該第二連接端部具有沿該第二水平方向延伸的一第五滑動部,該第二承載座靠近該第二連接座的表面具有沿該第二水平方向延伸的一第六滑動部,該第六滑動部與該第五滑動部活動連接,該第二訊號傳輸組件設置於該第二承載座遠離該第二連接端部的表面上。
- 如請求項5所述的測試治具,其中,該第二承載座具有沿該第二水平方向延伸的一第三固定穿槽,該第三固定穿槽位於該第二訊號傳輸組件的一側,該第二承載組件還包括一第三限位件,該第三限位件具有一第三限位本體及一第三限位凸部,該第三限位本體穿過該第三固定穿槽而與該第二連接端部活動連接,該第三限位凸部設置於該第三限位本體遠離該第二連接端部的一端,該第三限位凸部位於第二承載座遠離該第二連接端部的一側,該第三限位本體在該第二水平方向上的寬度小於該第三固定穿槽在該第二水平方向上的寬度,該第三限位凸部在該第一水平方向上的寬度大於該第三固定穿槽在該第一水平方向上的寬度。
- 如請求項5所述的測試治具,其中,該待測件固定座帶動該待測電路板沿一第一水平方向移動,該待測件固定座活動設置於該連接基座的一側,該連接基座具有沿該第一水平方向延伸的一第一連接滑動部,該待測件固定座靠近該連接基座的表面具有沿該第一水平方向延伸的一第二連接滑動部,該第二連接滑動部與該第一連接滑動部活動連接。
- 如請求項7所述的測試治具,其中,該待測件固定座具有沿該第一水平方向延伸的一固定穿槽,該固定穿槽位於該待測電路板的一側,該第二承載組件還包括一限位件,該限位件具有一限位本體及一限位凸部,該限位本體穿過該固定穿槽而與該連接基座活動連接,該限位凸部設置於該限位本體遠離該連接基座的一端,該限位凸部位於該待測件固定座遠離該連接基座的一側,該限位本體在該第一水平方向上的寬度小於該固定穿槽在該第一水平方向上的寬度,該限位凸部在該第二水平方向上的寬度大於該固定穿槽在該第二水平方向上的寬度。
- 如請求項1所述的測試治具,其中,該第二承載組件帶動該第二訊號傳輸組件沿一第一水平方向及一第二水平方向移動,該第二承載組件包括: 一第二連接座,活動設置於該第二連接端部的一側,該第二連接端部具有沿該第一水平方向延伸的一第五滑動部,該第二連接座在一垂直方向上且相對的二表面分別具有一第七滑動部及一第八滑動部,該第七滑動部沿該第一水平方向延伸,該第八滑動部沿該第二水平方向延伸,該第七滑動部與該第五滑動部活動連接;以及 一第二承載座,活動設置於該第二連接座遠離該第二連接端部的表面上,該第二承載座靠近該第二連接座的表面具有沿該第二水平方向延伸的一第六滑動部,該第六滑動部與該第八滑動部活動連接,該第二訊號傳輸組件設置於該第二承載座遠離該第二連接座的表面上。
- 如請求項9所述的測試治具,其中,該第二承載座具有沿該第二水平方向延伸的一第三固定穿槽,該第三固定穿槽位於該第二訊號傳輸組件的一側,該第二承載組件還包括一第三限位件,該第三限位件具有一第三限位本體及一第三限位凸部,該第三限位本體穿過該第三固定穿槽而與該第二連接座活動連接,該第三限位凸部設置於該第三限位本體遠離該第二連接座的一端,該第三限位凸部位於第二承載座遠離該第二連接座的一側,該第三限位本體在該第二水平方向上的寬度小於該第三固定穿槽在該第二水平方向上的寬度,該第三限位凸部在該第一水平方向上的寬度大於該第三固定穿槽在該第一水平方向上的寬度。
- 如請求項9所述的測試治具,其中,該第二連接座具有沿該第一水平方向延伸的一第四固定穿槽,該第四固定穿槽位於該第二訊號傳輸組件的一側,該第二承載組件還包括一第四限位件,該第四限位件具有一第四限位本體及一第四限位凸部,該第四限位本體穿過該第四固定穿槽而與該第二連接端部活動連接,該第四限位凸部設置於該第四限位本體遠離該第二連接座的一端,該第四限位凸部位於第二承載座遠離該第二連接座的一側,該第四限位本體在該第一水平方向上的寬度小於該第四固定穿槽在該第一水平方向上的寬度,該第四限位凸部在該第二水平方向上的寬度大於該第四固定穿槽在該第二水平方向上的寬度。
- 如請求項1所述的測試治具,其中,該第一訊號傳輸組件包括一第一固定座及一第一測試電路板,該第一固定座設置於該第一承載組件的一側,該第一測試電路板設置於該第一固定座與一第一水平方向垂直的表面上,該第一測試電路板具有複數第一線纜連接器及第一測試連接器;該第二訊號傳輸組件包括一第二固定座及一第二測試電路板,該第二固定座設置於該第二承載組件的一側,該第二測試電路板設置於該第二固定座與該第一水平方向垂直的表面上,該第二測試電路板具有複數第二線纜連接器及一第二測試連接器,該些第一線纜連接器及該些第二線纜連接器設置為與外部裝置電連接,該第一測試電路板、該第二測試電路板及該待測電路板位於同一平面上,該第一測試連接器及該第二測試連接器設置為分別與該待測電路板的二連接器電連接。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW109215433U TWM608215U (zh) | 2020-11-23 | 2020-11-23 | 測試治具 |
CN202120156673.1U CN214252500U (zh) | 2020-11-23 | 2021-01-20 | 测试治具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW109215433U TWM608215U (zh) | 2020-11-23 | 2020-11-23 | 測試治具 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TWM608215U true TWM608215U (zh) | 2021-02-21 |
Family
ID=75641955
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW109215433U TWM608215U (zh) | 2020-11-23 | 2020-11-23 | 測試治具 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN214252500U (zh) |
TW (1) | TWM608215U (zh) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114152865B (zh) * | 2021-12-02 | 2023-06-23 | 业成科技(成都)有限公司 | 一种检测治具 |
-
2020
- 2020-11-23 TW TW109215433U patent/TWM608215U/zh not_active IP Right Cessation
-
2021
- 2021-01-20 CN CN202120156673.1U patent/CN214252500U/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN214252500U (zh) | 2021-09-21 |
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