TWM594143U - 無手測蓋力臂夾持ｉｃ測試座裝置 - Google Patents
無手測蓋力臂夾持ｉｃ測試座裝置 Download PDFInfo
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Abstract
本創作係一種無手測蓋力臂夾持IC測試座裝置，其包含一上板、扣鎖單元組、中板、蓋力臂、IC、彈簧組、底座與下板，上板、中板與下板利用扣鎖單元組固定在一起，上板下壓可使得中板內的Z型的蓋力臂下壓其下的彈簧組使得Z型的蓋力臂產生彎矩傾斜後，Z型的蓋力臂下端的溝槽原本緊密接合IC呈現分離狀態，可輕易利用吸取單元取出測試過的IC，蓋力臂、彈簧組與IC則原本固定在下方底座上。
Description
本創作係有關於一種夾持IC測試座裝置，尤指無手測蓋力臂夾持IC測試座裝置，上板下壓可使得中板內的Z型的蓋力臂下壓其下的彈簧組使得蓋力臂產生彎矩傾斜後，Z型的蓋力臂下端的溝槽原本緊密接合IC呈現分離狀態，可輕易利用吸取單元取出測試過的IC。
中華民國專利M589794，專利名稱積體電路晶片測試訊號隔離探針座，提供一種積體電路晶片測試訊號隔離探針座，主要係由插座殼、半導體IC測試探針及金屬管組成，其中半導體IC測試探針插入插座殼後作為待測晶片上複數測試點的測試，而半導體IC測試探針係可分為訊號探針與接地探針，其特徵在於訊號探針套入裝設金屬管，而金屬管無接觸訊號探針並以空氣作為介質，使探針與探針之間產生的訊號封住在金屬管與探針之間無外洩，而接地探針係連接金屬管將所有雜訊透過接地方式排除，使本創作的產品在於測試積體電路晶片時，能有效隔離探針與探針之間產生的雜訊干擾並排除，以獲得本創產品簡易操作、提高IC測試效率、測試精準與穩定性。
中華民國專利I678538，專利名稱探針型IC測試治具裝置，一種探針型IC測試治具裝置，利用高低螺絲與漸縮扣鎖溝槽扣鎖固定探針
型IC測試治具裝置，並將本創作放置在測試板的螺絲座固定並對準測試板上的測試對準單元，探測棒兩端電接IC和測試板，測試板上的燈號顯示正常或不正常，隨著檢查孔透出的不同電壓電流下的不同光波穿透人工藍寶石的穿透率也可檢視正常或不正常。
本創作有鑑於上述習知測試治具裝置之缺失，乃思及發明的意念，遂以多年的經驗加以設計，經多方探討並試作樣品試驗，及多次修正改良，乃推出本創作。
本創作為一種無手測蓋力臂夾持IC測試座裝置，其包含一上板、扣鎖單元組、中板、蓋力臂、IC、彈簧組、底座與下板，上板、中板與下板利用扣鎖單元組固定在一起，上板下壓可使得中板內的Z型的蓋力臂下壓其下的彈簧組使得蓋力臂產生彎矩傾斜後，Z型的蓋力臂下端的溝槽原本緊密接合IC呈現分離狀態，可輕易利用吸取單元取出測試過的IC，蓋力臂、彈簧組與IC則原本固定在下方底座上。
10:上板
110:扣鎖單元組
20:中板
210:蓋力臂
2110:溝槽
220:IC
230:彈簧組
240:底座
250:吸取單元
30:下板
第1圖 係本創作之無手測蓋力臂夾持IC測試座裝置示意圖一。
第2圖 係本創作之無手測蓋力臂夾持IC測試座裝置示意圖二。
第3圖 係本創作之無手測蓋力臂夾持IC測試座裝置示意圖三。
第4圖 係本創作之無手測蓋力臂夾持IC測試座裝置示意圖四。
第5圖 係本創作之無手測蓋力臂夾持IC測試座裝置示意圖五。
第6圖 係本創作之無手測蓋力臂夾持IC測試座裝置示意圖六。
第1圖、第2圖、第3圖與第4圖為本創作之一種無手測蓋力臂夾持IC測試座裝置示意圖一、二、三與四，本創作上板(10)、中板(20)與下板(30)利用扣鎖單元組(110)固定在一起，中板(20)與下板(30)緊密結合，中板(20)內的IC(220)和底座(240)緊密靠下板(30)做來測試，上板(10)下壓可使得中板(20)內的Z型的蓋力臂(210)下壓其下的彈簧組(230)使得Z型的蓋力臂(210)產生彎矩傾斜後，蓋力臂(210)下端的溝槽(2110)原本緊密接合IC(220)因彎矩作用而呈現分離狀態，可輕易取出IC(220)，蓋力臂(210)、彈簧組(230)與IC(220)則原本固定在下方底座(240)上。
第5圖與第6圖為本創作之一種無手測蓋力臂夾持IC測試座裝置示意圖五與示意圖六，蓋力臂(210)下壓其下的彈簧組(230)使得Z型的蓋力臂(210)產生彎矩傾斜後，蓋力臂(210)下端的溝槽(2110)原本緊密接合IC(220)因彎矩作用而呈現分離狀態，可輕易利用吸取單元(250)取出測試過的IC(220)，蓋力臂(210)、彈簧組(230)與IC(220)則原本固定在下方底座(240)上。
綜上所述，本創作確實已達突破性之結構設計，而具有改良之創作內容，同時又能夠達到產業上之利用性與進步性，且本創作未見於任何刊物，亦具新穎性，當符合專利法相關法條之規定，爰依法提出新型專利申請，懇請 鈞局審查委員授予合法專利權，至為感禱。
10:上板
110:扣鎖單元組
20:中板
210:蓋力臂
2110:溝槽
220:IC
230:彈簧組
240:底座
250:吸取單元
30:下板
Claims (1)
- 一種無手測蓋力臂夾持IC測試座裝置，其包含一上板、扣鎖單元組、中板、蓋力臂、IC、彈簧組、底座與下板，上板、中板與下板利用扣鎖單元組固定在一起，中板內有Z型的蓋力臂、IC、彈簧組與底座，中板與下板緊密結合，中板內的IC和底座緊密靠下板做來測試，上板下壓可使得中板內的Z型的蓋力臂下壓其下的彈簧組使得蓋力臂產生彎矩傾斜後，Z型的蓋力臂下端的溝槽原本緊密接合IC因彎矩作用而呈現分離狀態，可輕易利用吸取單元取出測試過的IC，蓋力臂、彈簧組與IC則原本固定在下方底座上。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW109201319U TWM594143U (zh) | 2020-02-06 | 2020-02-06 | 無手測蓋力臂夾持ｉｃ測試座裝置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW109201319U TWM594143U (zh) | 2020-02-06 | 2020-02-06 | 無手測蓋力臂夾持ｉｃ測試座裝置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TWM594143U true TWM594143U (zh) | 2020-04-21 |
Family
ID=71134208
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW109201319U TWM594143U (zh) | 2020-02-06 | 2020-02-06 | 無手測蓋力臂夾持ｉｃ測試座裝置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| TW (1) | TWM594143U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113189375A (zh) * | 2021-05-06 | 2021-07-30 | 杭州中安电子有限公司 | 一种微波器件测试夹具 |
-
2020
- 2020-02-06 TW TW109201319U patent/TWM594143U/zh unknown
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113189375A (zh) * | 2021-05-06 | 2021-07-30 | 杭州中安电子有限公司 | 一种微波器件测试夹具 |
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