CN209945677U - Csp测试夹具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及半导体测试装置领域，公开了一种CSP测试夹具，包括夹具本体和底座；夹具本体的端面上设置有电路板；电路板上设置有用于与产品对应连接的探针；底座罩在电路板上并连接于夹具本体上；夹具本体在探针位置设置有真空孔；夹具本体内设置有真空腔；夹具本体远离电路板的一面上设置有电源线；夹具本体远离电路板的一面上还设置有真空吸管；真空吸管与真空腔连接；底座可在外力作用下向夹具本体弹性压缩；底座上设置有与探针对应的缺口；底座向夹具本体压缩时探针刚好可以伸出底座上的缺口；通过在电路板上设置用于接触产品上电极的探针，避免了因产品上点胶过多导致的电极接触不良的情况，检测结果更精准。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种半导体测试装置，特别涉及一种CSP测试夹具。
背景技术
为保证产品质量，在LED生产过程中需要进行产品质量检测，目前的检测方法多为使用测试电极对产品上的电极通电，根据产品点亮结果判断产品好坏，该方法检测数据准确性差，不利于生产操作的稳步进行。
实用新型内容
本实用新型解决的技术问题是提供一种CSP测试夹具，可以提高检测效率，检测结果更精准，节约检测时间。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种CSP测试夹具，包括夹具本体和底座；所述夹具本体的端面上设置有电路板；所述电路板上设置有用于与产品对应连接的探针；所述底座罩在电路板上并连接于夹具本体上；所述夹具本体在探针位置设置有真空孔；所述夹具本体内设置有真空腔；所述夹具本体远离底座的一面上设置有电源线。通过在电路板上设置用于接触产品上电极的探针，避免了因产品上点胶过多导致的电极接触不良的情况，检测结果更精准。
进一步的是：所述夹具本体远离电路板的一面上还设置有真空吸管；所述真空吸管与真空腔连接。真空吸管为夹具本体提供真空吸附环境，通过探针位置的真空孔对待检测产品进行吸附，将产品固定住。
进一步的是：所述底座可在外力作用下向夹具本体弹性压缩。
进一步的是：所述底座上设置有与探针对应的缺口。
进一步的是：底座向夹具本体压缩时探针刚好可以伸出底座上的缺口。底座向夹具本体压缩时探针可以从底座上的缺口伸出，接触到产品上的电极，将产品点亮，再使用积分球对产品的光线进行测试。
附图说明
图1为CSP测试夹具结构示意图；
图2为产品检测示意图。
图中标记为：100、夹具本体；110、底座；111、探针；120、真空吸管；130、电源线。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进一步说明。
如图1所示，一种CSP测试夹具，包括夹具本体100和底座110；所述夹具本体100的端面上设置有电路板；所述电路板上设置有用于与产品对应连接的探针111；所述底座110罩在电路板上并连接于夹具本体100上；所述夹具本体100在探针111位置设置有真空孔；所述夹具本体100内设置有真空腔；所述夹具本体100远离底座110的一面上设置有电源线130。
在上述基础上，如图1所示，所述夹具本体100远离底座110的一面上还设置有真空吸管120；所述真空吸管120与真空腔连接。
在上述基础上，如图1所示，所述底座110可在外力作用下向夹具本体100弹性压缩。
在上述基础上，如图1所示，所述底座110上设置有与探针111对应的缺口。
在上述基础上，如图1所示，底座110向夹具本体100压缩时探针111刚好可以伸出底座110上的缺口。
在进行产品检测时，电源线130为探针111供电，将待检测产品放置到底座110上，真空吸管120为夹具本体100内的真空腔提供真空环境，通过探针111位置的真空孔将产品吸附在底座110上，底座110向内压缩，产品上的电极触碰到探针111，将产品点亮，再使用积分球对产品进行检测。探针111的结构更方便与产品上的电极接触，避免了产品上残胶过多导致电极接触不良，从而影响检测结果的准确性，提高了检测效率和可靠性。
以上所述的具体实施例，对本实用新型的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本实用新型的具体实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种CSP测试夹具，其特征在于：包括夹具本体(100)和底座(110)；所述夹具本体(100)的端面上设置有电路板；所述电路板上设置有用于与产品对应连接的探针(111)；所述底座(110)罩在电路板上并连接于夹具本体(100)上；所述夹具本体(100)在探针(111)位置设置有真空孔；所述夹具本体(100)内设置有真空腔；所述夹具本体(100)远离底座(110)的一面上设置有电源线(130)。
2.根据权利要求1所述的一种CSP测试夹具，其特征在于：所述夹具本体(100)远离底座(110)的一面上还设置有真空吸管(120)；所述真空吸管(120)与真空腔连接。
3.根据权利要求1所述的一种CSP测试夹具，其特征在于：所述底座(110)可在外力作用下向夹具本体(100)弹性压缩。
4.根据权利要求1所述的一种CSP测试夹具，其特征在于：所述底座(110)上设置有与探针(111)对应的缺口。
5.根据权利要求1所述的一种CSP测试夹具，其特征在于：底座(110)向夹具本体(100)压缩时探针(111)刚好可以伸出底座(110)上的缺口。
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