TWM538223U - 記憶卡的測試裝置 - Google Patents

Description

記憶卡的測試裝置

本新型創作是有關於一種記憶卡的測試裝置。

記憶卡(memory card)是一種利用快閃記憶體(flash memory)模組所組成的儲存裝置。這種記憶卡常見應用於方便攜帶的多種消費性電子裝置中，例如數位相機、音樂播放機及筆記型電腦等。在市面上，這種記憶卡又可以分成很多格式，其中較常見的有Secure Digital (SD)、CompactFlash (CF)及Memory Stick (MS)等。

這種記憶卡中通常具有用來存取快閃記憶體的控制電路以及一個或多個的快閃記憶體模組(其數量視記憶卡的容量來決定)。在記憶卡的生產流程中，為了測試包裝好的記憶卡中的快閃記憶體模組及控制電路是否可以正常的工作，設計者常使用專門針對記憶卡測試所設計的測試機台來完成記憶卡的測試工作。這種測試機台的操作，通常必須要有專業的測試工程師來，並不容易被使用。且這種測試機台本身的造價甚高，且不是很容易被取得。這都使得記憶卡的測試工作的成本及難度相對的提高。

本新型創作提供一種記憶卡的測試裝置，可以直接利用讀卡機對記憶卡進行測試。

本新型創提出一種記憶卡的測試裝置，用以測試記憶卡，包括讀卡機以及主機端。讀卡機連接記憶卡。主機端藉由通用序列匯流排介面耦接讀卡機，並透過讀卡機與記憶卡傳送寫入指令以對記憶卡進行資料寫入。記憶卡並透過讀卡機傳送讀出結果至主機端，主機端依據寫入指令以及讀出結果來判斷記憶卡是否損毀。如果卡片毀損時亦可重新初始化予以修復。

在本新型創之一實施例中，上述之記憶卡具有控制電路以及至少一快閃記憶體模組。

在本新型創之一實施例中，上述之主機端透過讀卡機傳送寫入指令至控制電路，並使控制電路對快閃記憶體模組進行寫入動作。

在本新型創之一實施例中，上述之控制電路對快閃記憶體模組進行讀出動作，並透過讀卡機傳送讀出結果至主機端。

在本新型創之一實施例中，上述之主機端更包括透過讀卡機傳送韌體程式至記憶卡的控制電路中。

在本新型創之一實施例中，上述之主機端藉由寫入指令對記憶卡的受測位址寫入測試寫入資料，並讀取記憶卡的受測位址以獲得測試讀出資料。主機端比對測試寫入資料以及測試讀出資料並藉以判斷記憶卡的受測位址是否損毀。

在本新型創之一實施例中，上述之寫入指令包括寫入命令、受測位址的邏輯位址以及測試寫入資料。

在本新型創之一實施例中，上述之讀出結果包括讀出命令、受測位址的邏輯位址以及測試讀出資料。

基於上述，本新型創利用市售的一般規格的讀卡機，來達到對記憶卡進行測試的目的。使得記憶卡的測試不用再拘限一定要應用特殊的測試機台。使得記憶卡的測試更為簡單，並有效降低記憶卡的測試成本。

為讓本新型創作的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

請參照圖1，圖1繪示本新型創的一實施例的記憶卡的測試裝置100。記憶卡測試裝置100用以測試記憶卡170，其中包括讀卡機120以及主機端110。主機端110藉由通用序列匯流排介面CN1連接讀卡機120。讀卡機120則耦接記憶卡170 (也就是將記憶卡170插入讀卡機120所設置的插槽中)。

當記憶卡170的測試要進行時，首先，主機端110透過讀卡機120與記憶卡170間傳送寫入指令以對記憶卡170進行資料寫入。並在完成記憶卡170的資料寫入動作後，主機端110透過讀卡機120與記憶卡170間傳送讀出指令以對記憶卡170進行資料讀出。記憶卡170則回應由讀卡機120傳至的讀出指令並傳出讀出結果至主機端110。主機端110在獲得了讀出結果後，則依據寫入指令以及讀出結果進行比對，並藉以完成計憶卡170的測試動作。

請注意，上述的寫入指令中包括了命令讀卡機120進行資料寫入的寫入命令外，還包括所要寫入記憶卡170的邏輯位址以及測試寫入資料。其中，寫入指令中所包括的邏輯位址也就是這個寫入指令所要測試的記憶卡170的受測位址。而讀出結果則包括讀出指令、所讀取的測試讀出資料以及這個測試讀出資料所來自的記憶卡170的邏輯位址。

主機端110在透過讀卡機120獲得來自於記憶卡170的讀出結果後，就可以將讀出結果中的測試讀出資料與主機端110所發送的寫入指令中的測試寫入資料進行比對。當測試讀出資料與測試寫入資料相同時，則表示記憶卡170的該受測位址(寫入指令與讀出結果中的受測位址必須相同)並無損壞。相反的，當測試讀出資料與測試寫入資料不相同時，則表示記憶卡170的該受測位址已發生異常。如果記憶卡170毀損時亦可重新初始化予以修復。

另外，當主機端110進行記憶卡170的測試時，可以針對單一受測位址進行寫入並立刻對同樣受測位址進行讀出。這樣一來，就可以立刻獲知記憶卡170的該受測位址的狀態。當然，主機端110也可以針對記憶卡170中的多個不同的受測位址分成多次寫入，並在所有的受測位址都完成寫入後，再針對這些受測位址分別一一進行資料讀出。當然，這樣的作法將會使主機端110存在有多個測試寫入資料並由記憶卡170獲得多個的測試讀出資料。因此，在當主機端110進行測試讀出資料與測試寫入資料的比對動作時，還要附帶比對每個寫入指令與讀出結果中的受測位址。並僅針對受測位址相同的測試讀出資料與測試寫入資料進行比對，以得知記憶卡170的各個受測位址的正常與否。

而在偵對記憶卡170的多個不同的位址進行測試時，受測位址可以用遞增或遞減的方式來進行改變，當然也可以不連續的以跳躍的方式進行改變。在本實施例的架構之下，受測位址的順序並不被限制。並且，記憶卡170的同一受測位址也可以被連續的以相同或不相同的測試寫入資料來進行測試。也就是說，在達到最高的錯誤覆蓋率(fault coverage)的情況下，本新型創實施例的架構可以提供針對受測位址以及測試寫入資料進行多種類的不同測試方式的變化。

為了更詳細說明本新型創的實施方式。以下請參照圖2所繪示的本新型創的另一實施例的記憶卡的測試裝置200。在本實施例中，記憶體270包括控制電路271以及至少一個的快閃記憶體模組2761~2763。其中，控制電路271耦接至所有的快閃記憶體模組2761~2763，並藉以存取快閃記憶體模組2761~2763。

當要進行記憶卡270的測試時，主機端210所傳送的寫入指令，實際上是透過讀卡機220傳送至記憶卡270中的控制電路271中。由於寫入指令中包括寫入命令、測試寫入資料以及受測位址，因此控制電路271可以有效的依據寫入命令，將測試寫入資料寫入快閃記憶體模組2761~2763中邏輯位址等於受測位址的記憶區塊中。在完成測試寫入資料的寫入動作後，這個控制電路271會依據透過讀卡機220所傳送的由主機端發送的讀出命令來對受測位址的記憶區塊來進行讀取並藉以獲得測試讀出資料。控制電路271並將讀出命令、受測位址以及所讀出的測試讀出資料整合成為讀出結果，且將這個讀出結果透過讀卡機220傳送回給主機端210。

附帶一提的是，主機端210可以是電腦或伺服器等相關具有運算能力的裝置，而主機端210與讀卡機220的連接則是透過所謂的通用序列匯流排介面就可以達成。換句話說，讀卡機220並不需要經過特別設計，而只要是一般市售的記憶卡讀卡機就可以實施本實施例。

此外，由於讀卡機220可以具有一次連接多張記憶卡的功能。因此，本實施例的記憶卡的測試裝置200可以更針對連接於讀卡機220的另一記憶卡280進行測試。其中測試的方式與原理與針對記憶卡270進行測試的相關說明相同，在此恕不贅述。而記憶卡270與記憶卡280的格式並不一定要相同(也可以是相同的)，例如記憶卡270是SD型式的記憶卡，而記憶卡270是CF型式的記憶卡。

本實施例的記憶卡的測試裝置200中，主機端210也可以透過讀卡機220將韌體程式寫入記憶卡270的控制電路271中，以提供控制電路271執行這個韌體程式。

以下更請參照圖3，圖3繪示本新型創實施例的記憶卡測試的流程圖。在測試動作開始以後，首先判斷所要進行的是記憶卡的寫入或是讀出動作(步驟S310)。若是要進行記憶卡的寫入動作時，則由主機端提供寫入指令至記憶卡(步驟S320)。請注意，這個寫入指令的提供動作，是藉由與主機端連接的讀卡機來完成的。且寫入指令包括寫入命令、受測位址以及測試寫入資料。

若當步驟S310判斷出是要進行記憶卡的讀出動作時，則由記憶卡提供讀出結果至主機端(步驟S330)。相同於步驟S320，記憶卡提供讀出結果至主機端也是透過讀卡機來完成的。而讀出結果則包括讀出命令、受測位址以及測試讀出資料。

當讀出結果被提供至主機端後，主機端會針對相同受測位址的測試寫入資料以及測試讀出資料進行比對，以得知該受測位址的記憶區塊是否有受損的現象(步驟S370)。而在記憶卡所有的位址都被測試過後，主機端則可以判斷出此受測的記憶卡是否為良好的記憶卡。如果記憶卡片毀損時亦可重新初始化予以修復 (步驟S380)。

綜上所述，本新型創利用市售的讀卡機，來配合例如是個人電腦的主機端，來達成對記憶卡的測試動作。也就是說，本新型創提出一種最簡單的方式，來有效的使原本複雜且昂貴的記憶卡測試動作，可以由專業的測試廠轉換到例如是簡單的辦公室來完成。並且，不需要專業且昂貴的測試機台，有效的降低測試的成本與測試技術的門檻。

雖然本新型創作已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本新型創作，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本新型創作的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本新型創作的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

100‧‧‧測試裝置
110、210‧‧‧主機端
120、220‧‧‧讀卡機
170、270、280‧‧‧記憶卡
271‧‧‧控制電路
2761~2763‧‧‧快閃記憶體模組
S310~S380‧‧‧測試步驟

圖1繪示本新型創的一實施例的記憶卡的測試裝置100。 圖2所繪示的本新型創的另一實施例的記憶卡的測試裝置200。 圖3繪示本新型創實施例的記憶卡測試的流程圖。

100‧‧‧測試裝置

110‧‧‧主機端

120‧‧‧讀卡機

170‧‧‧記憶卡

Claims (8)

1. 一種記憶卡的測試裝置，用以測試一記憶卡，包括： 一讀卡機，連接該記憶卡；以及 一主機端，藉由一通用序列匯流排介面耦接該讀卡機，並透過該讀卡機與該記憶卡傳送一寫入指令，根據該記憶卡的邏輯位置以對該記憶卡進行資料寫入，該記憶卡並透過該讀卡機傳送一讀出結果至該主機端，該主機端依據該寫入指令以及該讀出結果來判斷該記憶卡在被測試的該邏輯位置的記憶區塊是否損毀。
2. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該記憶卡具有一控制電路以及至少一快閃記憶體模組。
3. 如申請專利範圍第2項所述之測試裝置，其中該主機端透過該讀卡機傳送該寫入指令至該控制電路，並使該控制電路對該快閃記憶體模組進行寫入動作。
4. 如申請專利範圍第2項所述之測試裝置，其中該控制電路對該快閃記憶體模組進行讀出動作，並透過該讀卡機傳送該讀出結果至主機端。
5. 如申請專利範圍第2項所述之測試裝置，其中該主機端更包括透過該讀卡機傳送一韌體程式至該記憶卡的該控制電路中。
6. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該主機端藉由該寫入指令對該記憶卡的一受測位址寫入一測試寫入資料，並讀取該記憶卡的該受測位址以獲得一測試讀出資料，該主機端比對該測試寫入資料以及該測試讀出資料並藉以判斷該記憶卡的該受測位址是否損毀。
7. 如申請專利範圍第6項所述之測試裝置，其中該寫入指令包括一寫入命令、該受測位址的邏輯位址以及該測試寫入資料。
8. 如申請專利範圍第6項所述之測試裝置，其中該讀出結果包括一讀出命令、該受測位址的邏輯位址以及該測試讀出資料。