TWM537211U - 可供複數樣品自動進樣之進樣機 - Google Patents

Description

可供複數樣品自動進樣之進樣機

本新型是關於一種搭配手持式分析儀之進樣機，特別是一種可供複數樣品自動進樣之進樣機。

針對一些物質分析之儀器，其最常見的為XRF射線螢光分析儀（X-ray fluorescence spectroscopy 簡稱XRF），該XRF射線螢光分析儀不但可以不破壞樣品、檢測速度快、解析度高又能準確地檢測出各種測試樣品之成分；但，傳統XRF射線螢光分析儀為手持式，以至於檢測時需要一手握持著才能進行檢測掃描，不但容易造成分析儀器晃動而導致檢測誤判外，操作人員持續握持儀器時，也容易造成手部痠痛疲勞與暴露於輻射的環境中，而影響工作效率與操作人員的安全性。

因此，就有業者研發XRF射線螢光分析儀之簡易腳架，以企圖欲解決手持式之XRF射線螢光分析儀必須以手握方式進行檢測之缺點；故使用時，先將該XRF射線螢光分析儀放置於該簡易腳架後，再將待測物相對放置於該XRF射線螢光分析儀之位置，使得檢測過程中，操作人員不須持續握持該XRF射線螢光分析儀即可完成掃描檢測之功效。

然，實際使用後發現，當有複數欲進行檢測之樣品時，操作人員還是必須一一將樣品放置於相對該XRF射線螢光分析儀之位置，才能供該XRF射線螢光分析儀進行檢測，且進行檢測後又必須手動將檢測後之樣品卸下，再手動換上另一樣品進行檢測，如此反覆作業，除造成檢測時間增加、效率降低外，操作人員也須時時刻刻注意該檢測機之檢測時間，以便即時再換上另一樣品進行檢測，故相對也造成人員極度不便，實需改善。

因此，本新型之目的，是在提供一種可供複數樣品自動進樣之進樣機，其可搭配一分析儀進行使用，可達到輕易使用、操作方便外，能提高整體之檢測效率及確保操作人員安全之功效。

於是，本新型可供複數樣品自動進樣之進樣機，該進樣機係配合一分析儀裝設其上所使用，該進樣機包含有一殼體，一設於該殼體內之平台，一設於該平台上之移動座，一相對該移動座設置且可供該分析儀固定之固定裝置，以及一分別連接該移動座、分析儀之控制裝置；其中，該移動座上開設複數可供樣品放置之置放槽，且該固定裝置相對於該置放槽設置；當操作人員欲進行樣品檢測時，其先將該分析儀固定於該固定裝置上，而該樣品分別放置於該移動座之置放槽上，故透過該移動座設計，可一次將複數樣品放置於該移動座上，當有複數樣品欲進行檢測時，將可避免如同習知使用手持檢測，以及造成使用者重複上、下料之不便外，同時該進樣機進行運轉時，該移動座可一一將該置放槽轉至該分析儀位置處進行檢測，使得檢測複數樣品時，更能有效提升其檢測效率與使用便利性；再者，藉由該殼體設計，且適時於該殼體旁設有一偵測件，故當該殼體之檢測門開啟時，有效避免掃描過程所產生之輻射造成人體危害，確保操作人員的安全。

有關本新型之前述及其他技術內容、特點與功效，在以下配合參考圖式之較佳實施例的詳細說明中，將可清楚的明白。

參閱圖1、圖2，本新型之第一較佳實施例，可供複數樣品自動進樣之進樣機3包含有一殼體30，一設於該殼體30內之平台31，一設於該平台31上之移動座32，一相對該移動座32設置且可供該分析儀4固定之固定裝置33，以及一分別連接該移動座32、分析儀2之控制裝置34；其中，該移動座32上開設複數可供樣品放置之置放槽321，同時該固定裝置33相對該其一置放槽321位置設置，使該分析儀4固定於該固定裝置33後，該分析儀4所發出掃描射線與該其一置放槽321呈相對設置，而該移動座32於本實施例中一轉盤32為例說明；另，該殼體30上至少設有一可對外連通開口301，同時該殼體30上且位於開口301處樞設有一可開啟、關閉之檢測門302，以透過該平台31設於該殼體30內，可避免該分析儀4分析過程受到外部光線造成影響與保護操作人員的安全性，同時為避免該分析儀4與移動座32作動過程中，誤開該檢測門302而造成操作人員暴露於輻射的環境中，故可於該殼體30上且位於該檢測門302旁適時設有一連接該控制裝置34之偵測件35，且該偵測件35可偵測該檢測門302之啟閉狀態，且當該檢測門302開啟時該控制裝置34將控制該移動座、分析儀停止作動，而本實施例以下皆以設置有該偵測件35為例說明。

仍續前述，在本實施例中，該固定裝置33係設於該移動座32下方為例說明，且該固定裝置33於本實施例中係以一框架為表示，同時為使該框架可供該分析儀4穩固放置，因此該框架形狀可配合欲進行放置之分析儀4設置；另，於本實施例中，該分析儀4可為XRF(X-ray fluorescence spectroscopy, 簡稱XRF)射線螢光分析儀或其他各種分析儀等等，其功能以針對各種材料物質加以分析掃描，如純度分析、材料分析、礦石成分分析、土壤成分分析等等，而本實施例中，該分析儀4係以一手持式XRF射線螢光分析儀為例說明；此外，本實施例中，該控制裝置34可分別電性連接該移動座32與該分析儀4，以直接透過該控制裝置34進行控制紀錄外，或者更可經由一通訊介面電性連接一電腦裝置(圖中未示)，以進行分析數據之顯示或數據之運算分析等等功能。

參閱圖3，當操作人員欲進行複數樣品5檢測時，可先將該分析儀4固定於該固定裝置33上，而後可透過開啟該檢測門302後，且透過該置放槽321設計，使得該樣品5可直接以袋裝型態或直接放置於該等置放槽321上，並且關閉該檢測門302後，透過該控制裝置34控制該移動座32、固定裝置33動作，以使得該置放槽321轉動至該分析儀4上方位置，該可由該分析儀4由下方往上掃描該置放槽321內之樣品5，已進行該樣品5之成分分析，而後掃描完成後，該移動座32進行轉動，以便帶動該另一置放槽321移動至該分析儀4上方，以供該分析儀4再進行該置放槽321上樣品5的掃描分析動作，掃描分析完後，在經由該控制裝置34將數據傳送至該電腦裝置上，以供操作者得知各種分析掃描之相關資訊或數據；是以，透過該進樣機3整體設計，使得分析儀4得以輕易結合該進樣機3，並且該移動座32之設計，將使操作人員可直接將複數樣品5分別放置於該移動座32之置放槽321上，可避免如同習知一次僅能提供單一件樣品5進行分析檢測，促使操作人員操作之便利性與檢測效率外，也可以降低操作人員手持該分析儀5時之晃動或其他因素所造成的檢測誤差，因此，該進樣機3可達到輕易使用、操作方便、提高整體之檢測效率及保護操作人員的安全等功效。

參閱圖4，本新型可供複數樣品自動進樣之進樣機3的第二較佳實施例，其仍包含有一殼體30，一設於殼體30內之平台31，一設於該平台31上之移動座32，一相對該移動座32設置且可供該分析儀4固定之固定裝置33，一連接該移動座32、分析儀4之控制裝置34，以及一與該控制裝置連接之偵測件35，且前述之結構與欲達成之功效均與第一實施例相同，恕不詳述；特別是：本實施例中，該移動座32之置放槽321上可設有一可與該置放槽321分離之料盤322，是以，該料盤322可以配合該樣品5形狀進行設置，例如當需高檢測精度時，可先將該樣品5壓成圓餅狀，可使該分析儀4更能精準進行掃描分析，而該料盤322可製作成圓餅狀之形狀，故當操作人員欲進行該樣品5分析時，可分別先將該樣品5放置於該料盤上，再將該料盤322放置於該置放槽321上，除可提升使用之方便性外，更能有效提升檢測精度。

歸納前述，本新型可供複數樣品自動進樣之進樣機，其藉由該進樣機設計，使得該分析儀欲進行分析樣品時，即可先將該分析儀裝設於該固定裝置上，並且將複數樣品分別放置於該置放槽內，即可快速且一次性的完成所有樣品的上料作業，且該進樣機運行時，該移動座可經由該控制裝置控制而一一帶動該樣品旋轉至該分析儀位置處一一的進行檢測，有效增加分析、檢測效率與操作之便利性。

惟以上所述者，僅為說明本新型之較佳實施例而已，當不能以此限定本新型實施之範圍，即大凡依本新型申請專利範圍及新型說明書內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆應仍屬本新型專利涵蓋之範圍內。

(本創作)
3‧‧‧進樣機
30‧‧‧殼體
31‧‧‧平台
32‧‧‧移動座
33‧‧‧固定裝置
34‧‧‧控制裝置
35‧‧‧偵測件
30‧‧‧殼體
321‧‧‧置放槽
301‧‧‧開口
302‧‧‧檢測門
4‧‧‧分析儀
5‧‧‧樣品

圖1是本新型第一較佳實施例之示意圖。 圖2 是本新型第一較佳實施例之立體剖面示意圖。 圖3是本新型第一較佳實施例之動作示意圖。 圖4是本新型第二較佳實施例之示意圖。

3‧‧‧進樣機

30‧‧‧殼體

31‧‧‧平台

32‧‧‧移動座

33‧‧‧固定裝置

34‧‧‧控制裝置

35‧‧‧偵測器

321‧‧‧置放槽

4‧‧‧分析儀

301‧‧‧開口

302‧‧‧檢測門

5‧‧‧樣品

Claims (6)

1. 一種可供複數樣品自動進樣之進樣機，其係搭配一分析儀進行使用；該進樣機包含有一殼體，一設於該殼體內之平台，一設於該平台上之移動座，一相對該移動座設置且可供該分析儀固定之固定裝置，以及一分別連接該移動座、分析儀之控制裝置；其中，該殼體上至少設有一可對外連通開口，同時該殼體上且位於開口處樞設有一可開啟、關閉之檢測門；另，該移動座上開設複數可供樣品放置之置放槽，同時該固定裝置相對該其一置放槽位置設置，使該分析儀固定於該固定裝置後，該分析儀所發出之掃描射線與該其一置放槽呈相對設置。
2. 根據申請專利範圍第1項所述可供複數樣品自動進樣之進樣機，另，該檢測門旁設有一可偵測該檢測門之啟閉狀態且連接該控制裝置之偵測件，且當該檢測門開啟時該控制裝置將控制該移動座、分析儀停止作動。
3. 根據申請專利範圍第1項所述可供複數樣品自動進樣之進樣機，其中，該分析儀為手持式XRF射線螢光分析儀。
4. 根據申請專利範圍第1項所述可供複數樣品自動進樣之進樣機，其中，該固定裝置為一設置於該平台上之框架，且該框架恰可供該分析儀放置。
5. 根據申請專利範圍第1項所述可供複數樣品自動進樣之進樣機，另設有複數可分別供該樣品放置之料盤，且該料盤可分別放置於該置放槽上。
6. 根據申請專利範圍第1項所述可供複數樣品自動進樣之進樣機，另，該移動座為一轉盤。