TWM503569U - 積層膜片檢測系統 - Google Patents

Description

積層膜片檢測系統

本新型是有關於一種積層膜片檢測系統，以檢測疊合一保護膜與一偏光板之積層膜片，可在避免保護膜之相位差影響下，檢測積層膜片之缺陷。

偏光板為液晶顯示器之關鍵零組件，其設置於液晶盒之兩側，且因為其中一側更直接面向使用者，其外觀若具有明顯瑕疵，將不易被使用者所接受，故在偏光板生產時與顯示器之組裝過程中，皆需要增加一保護膜於偏光板表面，防止偏光板損傷；然而，在偏光板生產過程，亦需要針對偏光板之各式外觀缺陷、軸向、光學性質等進行檢測，例如採用一做為基準之檢測用偏光板與待測之偏光板疊加後，即可在吸收軸相互直交下，檢測出破損、異物、氣泡與刮傷等外觀缺陷所造成之漏光，以及量測其吸收軸角度與偏光度等性質，但一般做為保護膜之基材，例如PET等，普遍具有不規則相位差分布區域，因此會造成檢測過程光學影像之干擾，且為了提高視角、對比等光學表現，現行偏光板普遍包含一補償膜，雖一般補償膜通常具有固定之相位差值，因此可以藉由疊合另一相位差膜將具有單一相位差值之補償膜之影響排除，但對於保護膜的影響，則僅可在未貼附保護膜前先對偏光板進行檢測，而無法在同時排除補償膜與保護膜所有區域 的不同相位差影響下，對貼附保護膜後之偏光板進行檢測，然而，在貼附保護膜後或過程中，偏光板仍可能產生缺陷，而造成偏光板最終產品不良；因此，需要一種可檢測疊合保護膜與偏光板之積層膜片檢測系統，以在避免保護膜之不規則相位差影響下，檢測積層膜片之缺陷。

有鑑於上述習知技藝之問題，本新型之目的在於提供一種具備新穎性、進步性及產業利用性等專利要件之積層膜片檢測系統，以期克服現有產品之難點。

為達到上述目的，本新型提供一種積層膜片檢測系統，其中積層膜片包含一保護膜與一偏光板，系統包含：一光源，用以照射積層膜片之偏光板側，其中積層膜片之保護膜寬度方向之一端具有記錄保護膜各區域之光學性質之圖案標記；一可調相位差裝置，其設置於積層膜片之保護膜側，且包含複數區可獨立調整補償值之相位差陣列；一檢測用偏光板，其設置於光源通過可調相位差裝置後之光路上；一標記讀取裝置，用以讀取保護膜之圖案標記，並解讀其所記錄之光學性質；一控制單元，其係電連接於標記讀取裝置與可調相位差裝置，並依照圖案標記所記錄之光學性質調整可調相位差裝置之各區的相位差陣列之補償值，以與保護膜的各相應區域之相位差抵消；一影像擷取裝置，設置於光源通過檢測用偏光板後之光路上，用以擷取抵消保護膜相位差後之積層膜片之透光影像；以及一檢測元件，其電連接於影像擷取裝置，並基於所擷取之透光影像，對積層膜片進行缺陷檢測。

在一實施例之積層膜片檢測系統中，可調相位差裝置包含單層或多層之液晶盒，以改變補償值之可調整範圍。

在又一實施例之積層膜片檢測系統中，液晶盒係為電控或磁控以改變液晶方向。

在另一實施例之積層膜片檢測系統中，液晶盒之補償值R0為0nm至180nm。

在另一實施例之積層膜片檢測系統中，液晶盒之液晶為圓盤狀液晶或桿狀液晶。

在另一實施例之積層膜片檢測系統中，更包含一轉動裝置，以改變檢測用偏光板與積層膜片之偏光板之吸收軸相對角度。

在另一實施例之積層膜片檢測系統中，更包含一缺陷標記裝置，其電連接於檢測元件，並依據檢測結果，將缺陷標記於積層膜片之保護膜。

1‧‧‧積層膜片檢測系統

2‧‧‧積層膜片

21‧‧‧保護膜

21a‧‧‧圖案標記

22‧‧‧偏光板

3‧‧‧光源

4‧‧‧可調相位差裝置

4a‧‧‧相位差陣列

5‧‧‧檢測用偏光板

6‧‧‧標記讀取裝置

7‧‧‧控制單元

8‧‧‧影像擷取裝置

9‧‧‧檢測元件

10‧‧‧缺陷標記裝置

第1圖：係為本新型之調光裝置一實施例之示意圖。

第2圖：係為本新型之調光裝置之可調相位差裝置與所對應具有圖案標記之保護膜之示意圖。

第3圖：係為本新型之調光裝置另一實施例之示意圖。

為使本新型之新型特徵、內容與優點及其所能達成之功效更易瞭解，茲將本新型配合附圖，並以實施例之表達形式詳細說明如下，而其中所使用之圖式，其主旨僅為示意及輔助說明書之用，未必為本新型實施後之真實比例與精準配置，故不應就所附之圖式的比例與配置關係解讀、侷限本新型於實際實施上的權利範圍，合先敘明。

以下將參照相關圖式，說明依本新型之積層膜片檢測系統之實施例，為使便於理解，下述實施例中之相同元件係以相同之符號標示來說明。

請一併參考第1圖與第2圖，在一較佳實施態樣中，本新型提供一種積層膜片檢測系統1，其中積層膜片2包含一保護膜21與一偏光板22，且積層膜片2係為捲料或片料，系統包含：一光源3，用以照射積層膜片2之偏光板22側，其中積層膜片2之保護膜21寬度方向之一端具有記錄保護膜21各區域之光學性質之圖案標記21a，記錄之方式例如預先針對層合前的單一保護膜21，偵測其各區域之相位差值，再採用噴墨等方式，以一維條碼或二維條碼之型式將保護膜21各區域所具有之相位差值記錄於保護膜21之一端；一可調相位差裝置4，其設置於積層膜片2之保護膜21側，且包含複數區可獨立調整補償值之相位差陣列4a；一檢測用偏光板5，其設置於光源3通過可調相位差裝置4後之光路上；一標記讀取裝置6，用以讀取保護膜21之圖案標記21a，並解讀其所記錄之光學性質；一控制單元7，其係電連接於標記讀取裝置6與可調相位差裝置4，並依照圖案標記21a所記錄之光學性質調整可調相位差裝置4之各區的相位差陣列4a 之補償值，以與保護膜21的各相應區域之相位差抵消；一影像擷取裝置8，設置於光源3通過檢測用偏光板5後之光路上，用以擷取抵消保護膜21相位差後之積層膜片2之透光影像；以及一檢測元件9，其電連接於影像擷取裝置8，並基於所擷取之透光影像，對積層膜片2進行缺陷檢測。

在一實施例之積層膜片檢測系統中，可調相位差裝置包含單層或多層之液晶盒，以改變其補償值之可調整範圍，並藉由採用電極陣列，使得每一些相位差陣列之補償值可依據所獲得之保護膜的各相應區域之相位差獨立調整，達到將保護膜整體之相位差對偏光板影響抵消之效果。

在另一實施例之積層膜片檢測系統中，液晶盒係為電控或磁控以改變液晶方向，而調控補償值。

在另一實施例之積層膜片檢測系統中，液晶盒之補償值R0為0nm至180nm，當疊合多層，例如2層液晶盒時，則可以使補償值R0為0nm至360nm，以符合各式保護膜之相位差值範圍。

在另一實施例之積層膜片檢測系統中，液晶盒之液晶為圓盤狀液晶或桿狀液晶。

在另一實施例之積層膜片檢測系統中，更包含一轉動裝置，以改變檢測用偏光板與積層膜片之偏光板之吸收軸相對角度；使得調整檢測用偏光板與積層膜片之偏光板之吸收軸直交時，可獲得暗態，而可偵測到偏光板上或偏光板與保護膜間的異物與缺陷所造成之亮點；或將檢測用偏光板之吸收軸做為參考軸向，測得積層膜片之偏光板之吸收軸變化。

請參考第3圖，在另一實施態樣之積層膜片檢測系統中，更包含一缺陷標記裝置10，其電連接於檢測元件9，並依據檢測結果，將缺陷標記於積層膜片2之保護膜21，可提供後續人員複檢，或提供後續積層膜片之裁切與加工時，用以排除標記缺陷處，避免不良品流出至客戶端。

以上所述之實施例僅係為說明本新型之技術思想及特點，其目的在使熟習此項技藝之人士能夠瞭解本新型之內容並據以實施，當不能以之限定本新型之專利範圍，即大凡依本新型所揭示之精神所作之均等變化或修飾，仍應涵蓋在本新型之專利範圍內。

1‧‧‧積層膜片檢測系統

2‧‧‧積層膜片

21‧‧‧保護膜

22‧‧‧偏光板

3‧‧‧光源

4‧‧‧可調相位差裝置

5‧‧‧檢測用偏光板

6‧‧‧標記讀取裝置

7‧‧‧控制單元

8‧‧‧影像擷取裝置

9‧‧‧檢測元件

Claims (7)

1. 一種積層膜片檢測系統，其中該積層膜片包含一保護膜與一偏光板，該系統包含：一光源，用以照射該積層膜片之該偏光板之一側，其中該積層膜片之該保護膜的寬度方向之一端具有記錄該保護膜各區域之光學性質之圖案標記；一可調相位差裝置，其設置於該積層膜片之該保護膜之一側，且包含複數區可獨立調整補償值之相位差陣列；一檢測用偏光板，其設置於該光源通過該可調相位差裝置後之光路上；一標記讀取裝置，用以讀取該保護膜之圖案標記，並解讀其所記錄之光學性質；一控制單元，其係電連接於該標記讀取裝置與該可調相位差裝置，並依照圖案標記所記錄之光學性質調整該可調相位差裝置之各區的相位差陣列之補償值，以與該保護膜的各相應區域之相位差抵消；一影像擷取裝置，設置於該光源通過該檢測用偏光板後之光路上，用以擷取抵消保護膜相位差後之該積層膜片之透光影像；以及一檢測元件，其電連接於該影像擷取裝置，並基於所擷取之透光影像，對該積層膜片進行缺陷檢測。
2. 如申請專利範圍第1項所述之積層膜片檢測系統，其中該可調相位差裝置包含單層或多層之液晶盒，以改變補償值之可 調整範圍。
3. 如申請專利範圍第2項所述之積層膜片檢測系統，其中該液晶盒係為電控或磁控以改變液晶方向。
4. 如申請專利範圍第2項所述之積層膜片檢測系統，其中該液晶盒之補償值R₀ 為0nm至180nm。
5. 如申請專利範圍第2項所述之積層膜片檢測系統，其中該液晶盒之液晶為圓盤狀液晶或桿狀液晶。
6. 如申請專利範圍第1項所述之積層膜片檢測系統，更包含一轉動裝置，以改變該檢測用偏光板與該積層膜片之該偏光板之吸收軸相對角度。
7. 如申請專利範圍第1項所述之積層膜片檢測系統，更包含一缺陷標記裝置，其電連接於該檢測元件，並依據檢測結果，將缺陷標記於該積層膜片之該保護膜。