TWM498865U - 量測機 - Google Patents

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TWM498865U
TWM498865U TW102213886U TW102213886U TWM498865U TW M498865 U TWM498865 U TW M498865U TW 102213886 U TW102213886 U TW 102213886U TW 102213886 U TW102213886 U TW 102213886U TW M498865 U TWM498865 U TW M498865U
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TW
Taiwan
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protective cover
opening
measuring machine
control box
plate
Prior art date
Application number
TW102213886U
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English (en)
Inventor
Chih-Kuang Chang
Zhong-Kui Yuan
Jun-Hua Li
Yu Jin
Hui Zhang
Original Assignee
Hon Hai Prec Ind Co Ltd
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    • F16—ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
    • F16P—SAFETY DEVICES IN GENERAL; SAFETY DEVICES FOR PRESSES
    • F16P1/00—Safety devices independent of the control and operation of any machine
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D11/00—Component parts of measuring arrangements not specially adapted for a specific variable
    • G01D11/24—Housings ; Casings for instruments
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K5/00—Casings, cabinets or drawers for electric apparatus
    • H05K5/02—Details
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K5/00—Casings, cabinets or drawers for electric apparatus
    • H05K5/02—Details
    • H05K5/03—Covers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness

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Description

量測機
本新型涉及一種量測機，尤其涉及一種具有保護罩之量測機。
影像量測機係目前精密量測領域中最廣泛使用之量測機體，其主要用於對零件或者部件之尺寸誤差、位置誤差以及形狀輪廓之誤差進行測量，對保證產品之品質起著重要之作用。
習知之量測機於工作時，其操作臺或影像系統等均處於一敞開之狀態，久而久之量測機之零部件（如鏡頭模組等）上很容易沉積灰塵，其組件承載板上亦易掉落雜物，從而影響了量測之品質。另，習知之量測機在工作時，需要複數光源（通常為LED燈）同時發出強光以照亮待量測之組件，上述強光會刺激操作者之眼睛，操作者長期操作該量測機會對操作者之眼睛造成傷害。
有鑒於此，有必要提供一種對量測機進行保護之同時，可有效防止漏光之量測機。
一種量測機，其包括一機台及一罩設於該機台外周之保護罩，該機台包括一控制箱以及一工件承載板，該保護罩由不透明材質製成，該保護罩之一側開設有一缺口以及沿與該缺口相垂直之方向延伸之第一貫通開口，該保護罩之另一側與該第一貫通開口相對應之位置開設有第二貫通開口；該控制箱之一側自該保護罩之缺口露出，該工件承載板之兩端分別搭載於該保護罩兩側之第一貫通開口及第二貫通開口上，並從該第一貫通開口及該第二貫通開口伸出。
相較於習知技術，本新型之量測機包括一保護罩，該保護罩罩設於該機台之外周，從而使該機台於一封閉之環境下作業。故，本新型之保護罩不僅具有防塵作用，還可有效防止機台發出之強光對工作人員之眼睛造成傷害。
100‧‧‧機體
101‧‧‧底板
102‧‧‧定位板
103‧‧‧操作平臺
104‧‧‧工件承載板
105‧‧‧環光圈
106‧‧‧控制箱
107‧‧‧支撐腳
108‧‧‧資料線
200‧‧‧保護罩
201‧‧‧側壁
202‧‧‧缺口
203‧‧‧第一貫通開口
204‧‧‧側壁
205‧‧‧第二貫通開口
206‧‧‧擋板
207‧‧‧窗口
208‧‧‧固定孔
300‧‧‧插頭
圖1係本新型之量測機之分解圖。
圖2係圖1所示之量測機之裝配示意圖。
圖3係圖2所示量測機之另一角度之裝配示意圖。
如圖1所示，本新型之量測機包括機體100及保護罩200。該機體100被預先調節好各項參數後，在一封閉之環境下運行。該保護罩200用於罩設於該機體100之外周，對該機體100進行保護，並防止該機體100之光源發出之強光外漏而損傷操作者之眼睛。
該機體100用於對工件之尺寸誤差、組裝位置誤差以及形狀輪廓誤差進行量測，以保證成形品之品質。本實施例中，該機體100主要用於量測電子產品之標籤（LOGO）之輪廓或形狀。
該機體100包括一底板101、一間隔設置於該底板101之上之定位板102、一平行設置於該定位板102之上之操作平臺103、一搭載於該操作平臺103上之工件承載板104、一固定於該工件承載板104之上之環光圈105以及一固定於該底板101一端之上表面之控制箱106。該工件承載板104可活動地承載於該操作平臺103上，且其兩端自該操作平臺103之兩側延伸出一定距離。該底板101之底面突設有四個支撐腳107，該四個支撐腳107兩兩對稱設置。該環光圈105內設置有複數光源，以照亮待量測之工件。該控制箱106內設置有光源控制器，該光源控制器用於控制該環光圈105內之光源之明滅及亮度。該控制箱106之其中一側壁開設有複數串口及一電源接口（圖未示）。該工件承載板104用於放置待量測之工件。該工件承載板104與該環光圈105上下間隔一定之距離，從而該工件承載板104可相對該環光圈105被自如地抽換。
該保護罩200由依次垂直相連之四個側壁圍成，且大致呈一立方體形狀。並且，該保護罩200由不透明材質製成，該不透明材質可為外層塗覆有烤漆之鐵皮等。本實施例中，該保護罩200之其中一側壁201上開設有一矩形之缺口202及一狹長之第一貫通開口203。該缺口202貫通該保護罩200之側壁201，且沿豎直方向開設於該側壁201上靠近左下角之位置。該第一貫通開口203沿與該缺口202垂直之方向延伸。該保護罩200與該側壁201相對設置之另一側壁204上對應該第一貫通開口203之位置，開設有第二貫通開口205（參圖3）。該保護罩200之側壁201上在該缺口202之下方進一步設有一擋板206，該擋板206中間位置開設有一半橢圓形之窗口207。該保護罩200之底部敞開，從而便於將該保護罩200自下而上套設於該機體100之外周。該保護罩200之側壁靠近其底邊之位置還開設有複數固定孔208，以用於將該保護罩200固定於該機體100。
組裝時，自該保護罩200之底部將該保護罩200罩設於該機體100之外周，之後將該保護罩200藉由其側壁之固定孔208鎖固於該機體100之定位板102上。
請一併參閱圖2及圖3，當該保護罩200被罩設於該機體100之外周後，該控制箱106設置有串口及電源接口（圖未示）之一面自該保護罩200之缺口202露出；該機體100之工件承載板104之兩端分別從該保護罩200兩側之第一貫通開口203及第二貫通開口205伸出一定距離，即該工件承載板104之兩端分別搭載於該保護罩200之兩側。如此，用戶可自該保護罩200之外部方便地抽換該工件承載板104，以取走完成量測之工件。該底板101底面之四個支撐腳107連同該底板101自該保護罩200之底部露出。
使用該量測機時，可將一電源線之插頭300插接於該控制箱106之電源接口內，以為給該機體100供電。另，該機體100之資料線108自該保護罩200之視窗207伸出後與一外部電腦相連接。如此，該機體100所拍攝到之影像訊號等藉由該資料線被傳輸給外部電腦，以供外部電腦中之量測組件分析、判斷。
可以理解，該保護罩200之形狀不限於立方體，其可根據與其搭配使用之機體之外形及尺寸等被成形為任意形狀之箱體。
可以理解，該缺口202之形狀及尺寸與該機體100之控制箱106之形狀與尺寸相一致。即，於實際應用當中，根據該控制箱106之形狀與尺寸，可對該缺口202之形狀及尺寸作相應調整。
可以理解，可根據該工件承載板104之寬度及厚度，對該第一貫通開口203及第二貫通開口205之長度及寬度做適當改變，只要保證該工件承載板104以及放置或固定於其上之工件可順利穿過該第一貫通開口203及第二貫通開口205即可。
可以理解，該機體100之底板101之面積可大於該保護罩200之底部開口之面積。如此，當該保護罩200被罩設於該機體100後，其四個側壁之底邊可承載於該底板101上，從而可省去用螺釘將該保護罩200固定於該機體100之工序。
本新型之量測機藉由於該機體100之外周罩設一保護罩200，可起到防塵作用，同時亦可防止該機體100之光圈發出之強光損傷操作者之眼睛。另，由於本新型之量測機之保護罩200為不透明材質，故該保護罩200可有效防止機體100之環光圈105發出之強光外漏，具有較佳之封閉效果。
綜上所述，本新型符合新型專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本新型之較佳實施例，本新型之範圍並不以上述實施例為限，舉凡熟習本案技藝之人士援依本新型之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
100‧‧‧機體
101‧‧‧底板
102‧‧‧定位板
103‧‧‧操作平臺
104‧‧‧工件承載板
105‧‧‧環光圈
106‧‧‧控制箱
107‧‧‧支撐腳
108‧‧‧資料線
200‧‧‧保護罩
201‧‧‧側壁
202‧‧‧缺口
203‧‧‧第一貫通開口
206‧‧‧擋板
207‧‧‧窗口
208‧‧‧固定孔

Claims (10)

  1. 一種量測機，其包括一機體及一罩設於該機體外周之保護罩，該機體包括一控制箱以及一工件承載板，其改良在於：該保護罩由不透明材質製成，該保護罩之一側開設有一缺口以及沿垂直於該缺口之方向延伸之第一貫通開口，該保護罩之另一側與該第一貫通開口相對應之位置開設有第二貫通開口；該控制箱之一側自該保護罩之缺口露出，該工件承載板之兩端分別搭載於該保護罩之兩側之該第一貫通開口及該第二貫通開口上，並從該第一貫通開口及該第二貫通開口伸出。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之量測機，其中該保護罩於該缺口之下方進一步設有一擋板，該擋板上設置有一供該機體之資料線穿出之窗口。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之量測機，其中該控制箱之自該缺口露出之所述一側設置有一電源接口，該電源接口用於插接一電源插頭。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之量測機，其中該保護罩之底部為敞開狀態，該機體還包括一底板，該底板之底面設置有四個支撐腳，該四個支撐腳連同該底板自該保護罩之底部露出。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之量測機，其中該缺口之形狀及尺寸與該控制箱之形狀及尺寸保持一致，該貫通開口之長度及寬度根據該工件承載板之長度及厚度被相應改變。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之量測機，其中該機體還包括一定位板以及一設置於該定位板之上之操作平臺，該工件承載板可活動地承載於該操作平臺上。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之量測機，其中該操作平臺之相對兩側分別形成有一矩形框架，該工件承載板之兩端穿過該操作平臺之二矩形框架，並分別自該保護罩之第一貫通開口及第二貫通開口伸出。
  8. 如申請專利範圍第6項所述之量測機，其中該操作平臺於該工件承載板之上進一步固定有一環光圈，該環光圈內沿圓周方向設置有複數光源，該環光圈與該工件承載板間隔設置，該控制箱用於控制該環光圈內之光源之明滅及亮度。
  9. 如申請專利範圍第6項所述之量測機，其中該保護罩由依次連接之四個側壁圍成，該側壁靠近底邊之位置還開設有複數固定孔；該保護罩藉由該固定孔被鎖固於該定位板之側面。
  10. 如申請專利範圍第1項所述之量測機，其中該機體還包括一底板，該定位板間隔設置於該底板之上，該控制箱固定於該底板之一端之上表面。
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