TWM416073U - Device for inspecting memory card size - Google Patents

Description

M416073 / ’ 五、新型說明： 【新型所屬之技術領域】 本創作係有關一種檢驗物體尺 彳 < 我置，爭拉 別有關一種檢驗記憶卡尺寸之裝置。 ’ 【先前技術】 ' 記憶卡是一種小型的記憶裳置，能夠儲存大旦 的資料。在使用時，係將記憶卡插入帝班里 • 梓內，m I工驻要& & + 拖入^•子裳置的插 曰内彳邊電子裝置月匕夠存取其中的資料。， 當記憶卡的寬度過大時’在插入插槽 ： 順利插入或插人後卡住而無法順利拔出來。^法 為確保記針的尺寸合乎規定，目前是以游標 卡尺（vernier caliper)來檢驗記憶卡。然而，以、 驗=的量測誤差、工具本身的： 鲁 又。吳差，述會有檢驗時動作及工時的浪費。 • 有鐘於此，便有需要提出一猶方宏 Λ 述問題。 心出種方案’以解決上 【新型内容】 本=作之目的在於提供一種檢驗物體尺寸之裝 雕納人貝僅而將物體置於檢驗槽内，即可檢驗出物 肢的尺寸是否合乎規定。 ι為達上述目的，本創作一實施例之檢驗物 ，之裝置係在檢驗平台上形成一檢驗槽，由該檢驗 平台的一側邊延伸至另一側邊，該檢驗槽係由一第 一側壁、一第二側壁以及一底壁所界定出，其中該 第一側壁具有一前段以及與該前段相連的一後段， 兩者相交於一相接處，該第二側壁則具有一前段、 一後段以及與該前段及該後段相連的一中段，其中 "玄第側壁如段與該第二側壁前段之間的距離，係 ^於該第一側壁後段與該第二側壁後段之間的距 離，而小於該相接處至該第二側壁中段的距離，且 該第一側壁的前段與後段之間的夾角係大於9〇度 並小於180度。 本創作另一實施例之檢驗物體尺寸之裝置係在 才《驗平σ上形成一檢驗槽，由該檢驗平台的一側邊 延伸至另一側邊，該檢驗槽係由一第一側壁、一第 一側壁以及一1壁所界定出，該檢驗槽具有一前 段、一後投以及與該前段及該後段相連的一中段， δ亥岫段之寬度係大於該後段之寬度，而小於該中段 之寬度，該檢驗槽之中段具有一讓位空間，該檢驗 槽中段處的第二侧壁係設置成使該待檢驗物體轉動 並推向该讓位空間内，其中該檢驗槽之後段係相對 於該前段偏轉一角度，該角度係大於90度並小於 180 度。 為了 5襄本創作之上述和其他目的、特徵和優點 月b更明顯’下文將配合所附圖示，作詳細說明如下。 M416073 此外，於本創作之說明中 苻號表示，於此合先述明。 【實施方式】 尺+參考第1圖，本創作第-實施例之檢驗記” 裂f 100包含有-底座η。，其上延伸=

撐，120的另-端則與-檢驗平 ° 連接。私憨平台13〇係傾斜地設置，其表面 上形成有内壁光滑的—檢驗槽140。 ’、义

♦ 、 相同之構件係 以相同之 檢驗槽140係從檢驗平自130的一側邊132開 始，向下延伸至另-㈣m，其係由兩相對之側 壁150、160與一底壁17〇所界定出。侧壁15〇包含 有一前段U2以及與前段152相連的—後段154。 側壁前段152與側壁後段154纽上呈直線延伸， 兩者相交於一相接處158，且之間夾有一個㊀角度， 其中:係大於90度且小於18〇度。側壁16〇則包含 有一前段162、一後段164以及與前段162及後段 164相連的一中段166’其中側壁前段162的長度係 小於側壁蚰段152的長度，而側壁後段164的長度 係小於側壁後段154的長度。側壁前段162及側壁 後段164大致上呈直線延伸·，其大致上分別與側壁 剷#又]5 2及側壁後段1 5 4相平行，且側壁前段15 2、 162之間的距離係大於側壁後段154、】64之間的距 離。而侧壁中段160係呈一弧形，其凹部係面對側 M416073 / ::二側壁中段严各處至對面相接處i58的 ;離’仏大於側壁前段152、162之間的距離。根據 本貫細例之裝置丨〇〇,檢驗槽14〇的前段142之* 度係大於後段i44的寬度，但小於申段的寬度146二 參考第2U2d®，其顯示利用本實施例之裝 置1〇〇來檢驗-記憶卡的尺寸之枝，並、 欲檢測之記針係大致上為矩形，具有一 打的長側邊2H)與-對平行的麵侧邊22()，以及盘 其中一個長側邊210及其中—個短側邊220相連的 一切邊230。 、在利用裝置100來檢測記憶卡200的尺寸時， 係以切邊230朝上以及相對之長側邊21〇朝下的方 式置入檢驗槽前段142(見第2a圖）。由於重力的作 用:記憶卡2 〇 〇會在傾斜的檢驗槽14 0内巧下滑動。 田5己k卡200的一角落’在本實施例中係右下角24〇 碰到鄰近相接處158的側壁後段154時，由於慣性 作用。己憶卡會逆時針轉動（見第25圖）。若 L卡200的見度小於檢驗槽後段1的寬度時， 記憶卡200便會以短側邊22〇朝下的方式滑入檢驗 槽後段144内（見第2c圖）。最後，記憶卡200會 /月出禚驗槽140掉落在底座11〇上（見第川圖）。 根據本實施例之裝置100,當記憶卡200可以長 側邊210朝下的方式置入撿驗槽前段M2内時，： 6 M416073 / 表示記憶卡200的長度小於檢驗槽前段〗42的寬 度，而當可滑入檢驗槽後段144時，則表示記慎卡 200的寬度小於檢驗槽後段144的寬度。因此，根 據本實施例之裝置100，檢驗槽前段丨42係用來檢 驗記憶卡200的長度，檢驗槽後段144是用來檢驗 - 記憶卡200的寬度，而檢驗槽中段146則是使記憶 - 卡200轉向。是以，當記憶卡200可順利滑出檢驗 • 槽140時，則表示記憶卡2〇〇的尺寸合乎規定。除 此之外，熟習本發明之技術者應瞭解，為了要能夠 精確地檢驗記憶卡200的尺寸，檢驗槽前段142的 寬度要僅略大於記憶卡200的標準長度，而檢驗槽 後段144的寬度則要僅略大於記憶卡200的標準寬 度。為了要避免因大氣壓力而使記憶卡2〇〇吸附在 檢驗槽140内，可在檢驗槽14〇底壁17〇上設置複 數條沿著-檢驗槽14〇延伸方向的突起148，如此1 • 將可減少記憶卡2〇〇與檢驗槽140接觸的面積，有 助於讓記憶卡200順利滑動。 參考第3 ® ’本料第二實施例之檢驗記憶卡 尺寸之裝置300亦包含有底座11〇、 檢驗平台13。。展置3。〇還具有—檢驗槽3:。，其： 壁光滑，形成在傾斜設置地檢驗平台13〇上。 檢驗槽340係從檢驗平台13〇的侧邊132開始， 向下延伸至侧邊134,其係由兩相對之側壁35〇、36〇 7 與一底壁370所界定出。側壁350包含有一前段 352、一後段354以及與前段352及後段3 54相連的 一中段356。側壁350的前段352、中段356與後段 354大致上皆呈直線延伸，其中側壁前段352與側 壁中段356相交於一相接處358，而側壁中段356 與側壁後段354則相交於一相接處359。側壁360 則包含有一前段362、一後段364以及與前段362 及後段364相連的一中段366，其中側壁前段362 的長度係小於側壁前段352的長度，而側壁後段364 的長度係小於側’壁後段354的長度。側壁前段362 及侧壁後段364大致上呈直線延伸，其大致上分別 與側壁前段352及側壁後段354相平行，且側壁前 段352、362之間的距離係大於側壁释段354、364 之間的距離。側壁中段356係從相接處358朝向遠 離側壁中_段364的方向延伸出，側璧中段356與側 壁後段354之間的夾角α則係大於90度且小於180 度。側壁中段366係呈一弧形，其凹部係面對側壁 350，且側壁中段366各處至對面相接處358的距 離，係大於側壁前段352、362之間的距離。此外， 沿著侧壁前段362延伸出的一虛擬延伸面368係與 弧形的側壁中段366相交。根據本實施例之裝置 300，檢驗槽340的前段342之寬度係大於後段344 的寬度，但小於中段的寬度346。 參考第4a至4d圊，其顯示利用本實施例之裝 置3 Ο 0來檢驗記憶卡2 Ο 0的尺寸之太、土 <万法。在利用裝 置300來檢測記憶卡200的尺寸時，係以切邊23〇 朝上以及相對之長側邊210朝下的方式置入檢驗押 前段342 (見第4a圖）。由於重力的作.用，記憶 200會在傾斜的檢驗槽34〇内向下滑動。當記情卡 2〇〇接觸到弧形的侧壁中段366時，側壁;段;％ 會施力使記憶卡200轉動並推向侧壁中段與側 壁後段354所夾的預先讓位之空間内（見第仆圖）。 接著’若記憶卡200的寬度小於檢驗槽34〇後段3料 的寬度時，記憶卡200便會因重力的作用轉向♦以短 側邊220朝下的方式滑入檢驗槽後段3料内（見第 4c圖）。最後，記憶卡200會滑出檢驗槽34〇掉落在 底座110上（見第4d圖）。 •根據本實施例之裝置300,當記憶卡2〇〇可以使 1長側邊—210朝下的方式置入檢驗槽前段342内 時丄則表示記憶卡200的長度小於檢驗槽前段3芯 的寬度；而當可轉向滑入經過檢驗槽後段344時， 則表示記憶卡200的寬度小於檢驗槽後段344的寬 度。因此，根據本實施例之裝£ 3〇〇，檢驗槽前段 3h42係用來檢驗記憶卡_的長度，檢驗槽後段344 疋，來檢驗讀卡2GG的寬度’而檢驗槽中段346 則疋使㈣卡2QQ轉向。是以，當記憶卡2⑻可順 利滑出撿驗槽34Q時，則表示記憶卡2⑽的尺寸合 乎規疋。除此之外，熟習本發明之技術者應瞭解， 為了要能夠精確地檢驗記憶卡200的尺寸，檢驗槽 月(J段342的寬度要僅略大於記憶卡2〇〇的標準長 度，而檢驗槽後段344的寬度則要僅略大於記憶卡 2〇〇的標準寬度。為了要避免因大氣壓力而使記憶 卡200吸附在檢驗槽34〇内，同樣地，可在檢驗槽 340底壁170上設置複數條沿著檢驗槽34〇延伸方 向的突起348 ’如此，將可減少記憶卡2〇〇與檢驗 槽340接觸的面積，有助於讓記憶卡2〇〇順利滑動。 根气本創作之裝置1〇〇、3〇〇，檢驗平台13〇係 可相對於支撐架12〇轉動，以調整檢驗槽14〇、 :傾斜方向。底座110上還可鋪上一層靜電消散材 ；：12而铋知平台130的表面係採用金屬硬化處 理的材料，以達到靜電消散的特性。 需將驗記憶卡尺寸之裝置，人員僅 卡置於檢驗槽内’即可檢驗出記憶卡的尺 廊：：合tr定。除此之外，熟習本發明之技術者 本創作之檢驗褒置並不限於檢驗記憶卡， 寸來檢驗大致上呈長方形或正方形之物體的尺 以限作已以前述實施例揭示，然其並非用 常知；者在任何本創作所屬技術領域中具有通 二：：二脫離本創作之精神和範圍内，當可 ' 湖多改。因此本創作之保護範圍當視 M416073 / 後附之申請專利範圍所界定者為準。 【圖式簡單說明】 第1圖.為本創作第一實施例之檢驗記憶卡尺寸之 裝置。 第2a至2d圖：顯示利用第i圖之裝置來檢驗記憶 卡尺寸之方法。 弟3圖·為本創作弟二實施例之檢驗記憶卡尺寸之 裝置。 第4a至4d圖：顯示利用第3圖之裝置來檢驗記憶 卡尺寸之方法。 【主要元件符號說明】 100 裝置 110 底座 112 靜電消散材料 120 支撐架 130 檢驗平台 132 侧邊 134 側邊 140 檢驗槽 142 檢驗槽前段 144 檢驗槽後段 146 檢驗槽中段 148 突起 150 側壁 .152 侧壁前段 154 側壁後段 158 相接處 160 側壁 162 側壁前段 1 64 侧壁後段 166 側壁中段 M416073 170 底壁 200 記憶卡 210 側邊 220 側邊 230 切邊 240 角落 250 虛線 300 裝置 340 檢驗槽 342 檢驗槽前段 344 檢驗槽後段 346 檢驗槽中段 348 突起 350 側壁 - 352 側壁前段 354 側壁後段 3 5*6 側壁中段 358 相接處 359 相接處 360 側壁 362 側壁前段 364 側壁後段 366 側壁中段 368 虛擬延伸面 370 底壁 • a 角度

Claims (1)

1. M416073 六、申請專利範圍： 1. 一種檢驗物體尺寸之裝^，包含有一檢驗平台， 其具有至少兩侧邊，其特徵在於： 該檢驗平台上形成有一檢驗槽，由其中一側邊 延伸至另一側邊，該檢驗槽係由一第一側壁、一 第二側壁以及一底壁所界定出，其中該第一側壁 具有一前段以及與該前段相連的一後段，兩者相 交於一相接處，該第二侧壁則具有一前段、一後 段以及與該前段及該後段相連的了中段，其中該 第一側壁4段與該第二侧壁前段之間的距離，係 大於該第-側壁後段與肖第二㈣後段之間的距 離’而小於該相接處至該第二侧壁中段的距離， 且該第-側壁的前段與後段之間的夾肖係大於9〇 度並小於180度。 項所述之裝置，其中該第二 ，且該弧形的凹部係面對該 2.如申請專_利範圍第1 側壁的中段係呈弧形 第一側壁。 3. 如申請專利範圍第1項所述之裝置，其中該第〆 側壁的前段及後段長度传八 ^ 前段及後段的長度。刀別大於該第二侧壁的 4. 如申請專利範圍第！項所述之 甘 槽的底壁上設置有複數 ：，、中§亥檢驗 的突起。 俅/σ者政檢驗槽延伸方向 13