TWI853512B - 自動調校方法及自動調校系統 - Google Patents

Abstract

本發明提供一種自動調校方法，其包含取得待測物於座標點之第一資料傳輸率與第一信號品質指標；依據第一資料傳輸率與第一信號品質指標控制衰減器而改變整體路徑損耗，以取得第二信號品質指標與第二資料傳輸率，並依據第二信號品質指標與第二資料傳輸率判斷是否更新信號品質參考值與座標參考值。若是則將信號品質參考值與座標參考值分別更新為第二信號品質指標與座標點；及確認信號品質參考值是否小於等於預設信號品質門檻值而決定是否輸出信號品質參考值與座標參考值。藉此，可自動找出最佳或符合規範的測試配置，並大幅提升調校速度。

Description

自動調校方法及自動調校系統

本發明是關於一種自動調校方法及自動調校系統，且特別是關於一種用以測試之自動調校方法及自動調校系統。

一般的WiFi覆蓋範圍(Rate vs. Range；RvR)測試係使用衰減器(Attenuator)衰減待測物的訊號強度，來模擬待測物及儀器之間的不同距離，並檢測在不同距離時WiFi傳輸的表現。而習知的WiFi RvR在測試前須耗費大量時間以人工方式執行調校的工作，因此無法全時段使用設備。此外，待測物於各座標點須依序檢驗測試，故需要花費冗長的調校時間。由此可知，目前市場上缺乏一種能夠全自動調校、提升調校速度及縮短整體調校時間之用以測試的自動調校方法及自動調校系統，故相關業者均在尋求其解決之道。

本發明之目的在於提供一種自動調校方法及自動調校系統，其搭配可程式控制的移動設備與衰減器，可透過全自動的方式(Auto-Tune)有效率地完成實際量測前之測試配置的調校工作。此外，透過跳躍的方式尋找拐點可直接跳到關鍵衰減點，並快速進行拐點判斷，不但能大幅提升判斷速度及縮短整體判斷時間，還能避免習知技術需要人力完成及耗費大量時間的問題。

根據本發明的方法態樣之一實施方式提供一種自動調校方法，其用以測試位於至少一座標點之一待測物。自動調校方法包含一參數取得步驟、一拐點尋找步驟以及一信號品質確認步驟。參數取得步驟包含驅動一處理器取得待測物於此至少一座標點之一者之一第一資料傳輸率與一第一信號品質指標。拐點尋找步驟包含驅動處理器依據第一資料傳輸率與第一信號品質指標控制一衰減器而改變待測物之一整體路徑損耗，以取得一至少一第二信號品質指標與一至少一第二資料傳輸率，並依據此至少一第二信號品質指標與此至少一第二資料傳輸率判斷是否更新一信號品質參考值與一座標參考值。若是則將信號品質參考值更新為此至少一第二信號品質指標之一者，並將座標參考值更新為此至少一座標點之此者。信號品質確認步驟包含驅動處理器確認信號品質參考值是否小於等於一預設信號品質門檻值而產生一信號品質確認結果，並依據信號品質確認結果決定是否輸出信號品質參考值與座標參考值。

根據本發明的結構態樣之一實施方式提供一種自動調校系統，其用以測試位於至少一座標點之一待測物。自動調校系統包含一衰減器與一處理裝置。衰減器用以改變待測物之一整體路徑損耗。處理裝置包含一記憶體與一處理器。記憶體儲存一預設信號品質門檻值。處理器訊號連接衰減器與記憶體。處理器取得待測物於此至少一座標點之一者之一第一資料傳輸率與一第一信號品質指標，處理器依據第一資料傳輸率與第一信號品質指標控制衰減器而改變待測物之整體路徑損耗，以取得一至少一第二信號品質指標與一至少一第二資料傳輸率，並依據此至少一第二信號品質指標與此至少一第二資料傳輸率判斷是否更新一信號品質參考值與一座標參考值。若是則將信號品質參考值更新為此至少一第二信號品質指標之一者，並將座標參考值更新為此至少一座標點之此者。處理器確認信號品質參考值是否小於等於預設信號品質門檻值而產生一信號品質確認結果，並依據信號品質確認結果決定是否輸出信號品質參考值與座標參考值。

藉此，本發明之自動調校方法及自動調校系統搭配可程式控制的移動設備與衰減器，既可透過全自動的方式完成調校工作，亦可透過跳躍的方式快速進行拐點判斷，以提升判斷效率。

請參閱第1圖，第1圖係繪示本發明之第一實施例之自動調校系統100之架構示意圖。自動調校系統100用以測試位於至少一座標點之一待測物110(Device Under Test；DUT)；換言之，此系統為用以測試之自動調校系統100。自動調校系統100包含一衰減器200、一處理裝置300、一移動設備400、一陪測物500及一天線600。

衰減器200用以改變待測物110之一整體路徑損耗(Total Path Loss)，整體路徑損耗代表待測物110與陪測物500之間的整體路徑損耗。處理裝置300包含一記憶體310與一處理器320。記憶體310可儲存一預設信號品質門檻值RSSI_Spec、一信號品質參考值RSSI_Ref、一座標參考值Coord_Ref及一預設傳輸率PDR。處理器320訊號連接衰減器200與記憶體310，處理器320取得待測物110於至少一座標點之一者之一第一資料傳輸率(Data Rate)與一第一信號品質指標。處理器320依據第一資料傳輸率與第一信號品質指標控制衰減器200而改變待測物110之整體路徑損耗，以取得至少一第二信號品質指標與至少一第二資料傳輸率，並依據此至少一第二信號品質指標與此至少一第二資料傳輸率判斷是否更新一信號品質參考值RSSI_Ref與一座標參考值Coord_Ref。若是則將信號品質參考值RSSI_Ref更新為此至少一第二信號品質指標之一者，並將座標參考值Coord_Ref更新為此至少一座標點之此者。接著，處理器320確認信號品質參考值RSSI_Ref是否小於等於預設信號品質門檻值RSSI_Spec而產生一信號品質確認結果，並依據信號品質確認結果決定是否輸出信號品質參考值RSSI_Ref與座標參考值Coord_Ref。

移動設備400訊號連接處理器320並受處理器320控制。前述之至少一座標點的數量為複數，移動設備400用以將待測物110從此些座標點之一者移動至另一者。陪測物500訊號連接處理器320與衰減器200。天線600訊號連接衰減器200並對應待測物110設置。待測物110、移動設備400及天線600均位於隔離箱102a中，陪測物500位於隔離箱102b中，以防止外界干擾。

在一實施例中，隔離箱102a、102b可為空口(Over The Air；OTA)測試的隔離室。待測物110可為無線存取點(Access Point；AP)或路由器(Router)。第一信號品質指標及第二信號品質指標之任一者可為一接收信號強度指標(Received Signal Strength Indicator；RSSI)。再者，記憶體310可為任一資料儲存元件，例如可為唯讀式記憶體(Read-Only Memory，ROM)、隨機存取記憶體(Random-Access Memory，RAM)、光碟唯讀記憶體(CD-ROMs)、磁帶(Magnetic Tapes)、軟碟(Floppy Disks)或光學資料儲存裝置(Optical Data Storage Devices)。而處理器320可為數位訊號處理器(Digital Signal Processor；DSP)、微處理器(Micro Processing Unit；MPU)、中央處理器(Central Processing Unit；CPU)或其他電子處理器。此外，移動設備400可為機器手臂或轉桌，其用以改變待測物110的座標點。陪測物500可為行動裝置、無線存取點或路由器，但本發明不以上述為限。

請一併參閱第1圖與第2圖，其中第2圖係繪示本發明之第二實施例之自動調校方法S0之流程圖。自動調校方法S0用以測試位於至少一座標點之待測物110；換言之，此方法為用以測試之自動調校方法S0。自動調校方法S0包含一參數取得步驟S02、一拐點尋找步驟S04以及一信號品質確認步驟S06。

參數取得步驟S02包含驅動處理器320取得待測物110於此至少一座標點之一者之一第一資料傳輸率與一第一信號品質指標。

拐點尋找步驟S04包含驅動處理器320依據第一資料傳輸率與第一信號品質指標控制衰減器200而改變待測物110之一整體路徑損耗，以取得一至少一第二信號品質指標與一至少一第二資料傳輸率，並依據此至少一第二信號品質指標與此至少一第二資料傳輸率判斷是否更新一信號品質參考值RSSI_Ref與一座標參考值Coord_Ref。若是則將信號品質參考值RSSI_Ref更新為此至少一第二信號品質指標之一者，並將座標參考值Coord_Ref更新為此至少一座標點之此者。上述拐點(Knee Point)代表隨著整體路徑損耗的增加，使得待測物110與陪測物500的理論傳輸速率發生改變後造成的轉折點。

信號品質確認步驟S06包含驅動處理器320確認信號品質參考值RSSI_Ref是否小於等於一預設信號品質門檻值RSSI_Spec而產生一信號品質確認結果，並依據信號品質確認結果決定是否輸出信號品質參考值RSSI_Ref與座標參考值Coord_Ref。

藉此，本發明之自動調校系統100及自動調校方法S0用以尋找實際測試前的理想測試配置，其可透過全自動的方式完成以往需要人力完成的調校工作。再者，本發明可以有效地在所有座標位置中自動找出最佳或是符合規範的測試配置，並改善以往須透過人工方式找尋及無法全時段使用設備的問題，故能大幅提升測試設備之使用率，進而縮短整體測試的時程。

請一併參閱第1圖、第2圖及第3圖，其中第3圖係繪示本發明之第三實施例之自動調校方法S2之流程圖。自動調校方法S2包含一參數取得步驟S22、一資料傳輸率確認步驟S23、一拐點尋找步驟S24、一信號品質確認步驟S26、一參考值輸出步驟S27以及一所有座標點測試步驟S28。

參數取得步驟S22包含驅動處理器320取得待測物110於此至少一座標點之一者之一第一資料傳輸率與一第一信號品質指標。詳細地說，參數取得步驟S22包含歸零衰減器200(「歸零」代表設為初始值)，然後檢驗位於第i個座標點的待測物110(i的初始值為1)，進而取得待測物110當下的第一資料傳輸率與第一信號品質指標。當參數取得步驟S22被重複執行時，i的數值會先改變(如遞增)；換言之，當參數取得步驟S22被重複執行時，移動設備400會先改變待測物110的座標點，使待測物110移動至下一個座標點。接著，處理器320歸零衰減器200，並檢驗位於第i個座標點(即下一個座標點)的待測物110，以取得對應第i個座標點之第一資料傳輸率與第一信號品質指標。

資料傳輸率確認步驟S23為驅動處理器320確認第一資料傳輸率是否為一預設傳輸率PDR而產生一資料傳輸率確認結果，並依據資料傳輸率確認結果決定控制衰減器200或移動設備400。當資料傳輸率確認結果為是時，執行拐點尋找步驟S24；反之，當資料傳輸率確認結果為否時，執行所有座標點測試步驟S28。預設傳輸率PDR儲存於記憶體310中。在一實施例中，預設傳輸率PDR可為理論最高傳輸率，但本發明不以此為限。

拐點尋找步驟S24包含一參考值判斷步驟S241、一順向拐點尋找步驟S242、一跳躍式拐點尋找步驟S243、另一資料傳輸率確認步驟S244、一順向拐點更新步驟S245、一信號品質比較步驟S246以及一逆向拐點更新步驟S247。

參考值判斷步驟S241為驅動處理器320判斷是否取得信號品質參考值RSSI_Ref與座標參考值Coord_Ref而產生一參考值判斷結果。當參考值判斷結果為否時，執行順向拐點尋找步驟S242；反之，當參考值判斷結果為是時，執行跳躍式拐點尋找步驟S243與另一資料傳輸率確認步驟S244。換言之，處理器320會依據參考值判斷結果決定控制衰減器200漸增或設為一起始值加上第一信號品質指標與信號品質參考值RSSI_Ref之一差值。

順向拐點尋找步驟S242包含驅動處理器320控制衰減器200漸增而增加待測物110之整體路徑損耗，以取得此至少一第二信號品質指標與此至少一第二資料傳輸率。此外，順向拐點尋找步驟S242更包含驅動處理器320從此至少一第二信號品質指標尋找出符合預設傳輸率PDR之至少一合格信號品質指標，並從此至少一合格信號品質指標尋找出一最佳信號品質指標，以更新信號品質參考值RSSI_Ref與座標參考值Coord_Ref。其中信號品質參考值RSSI_Ref更新為最佳信號品質指標，且座標參考值Coord_Ref更新為此至少一座標點之此者。

跳躍式拐點尋找步驟S243包含驅動處理器320控制衰減器200設為起始值加上第一信號品質指標與信號品質參考值RSSI_Ref之差值，並重新取得此至少一第二信號品質指標之一者與此至少一第二資料傳輸率之一者。

另一資料傳輸率確認步驟S244為驅動處理器320確認此至少一第二資料傳輸率之此者是否為預設傳輸率PDR而產生另一資料傳輸率確認結果。當另一資料傳輸率確認結果為是時，執行順向拐點更新步驟S245；反之，當另一資料傳輸率確認結果為否時，執行信號品質比較步驟S246。換言之，處理器320依據另一資料傳輸率確認結果決定控制衰減器200漸增或比較此至少一第二信號品質指標之此者是否小於信號品質參考值RSSI_Ref而產生一信號品質比較結果。

順向拐點更新步驟S245包含驅動處理器320控制衰減器200漸增而增加待測物110之整體路徑損耗，以取得此至少一第二信號品質指標之一剩餘部分與此至少一第二資料傳輸率之一剩餘部分。此外，順向拐點更新步驟S245更包含一比對更新步驟，比對更新步驟包含驅動處理器320從此至少一第二信號品質指標之剩餘部分尋找出符合預設傳輸率PDR之至少一合格信號品質指標，並從此至少一合格信號品質指標尋找出一最佳信號品質指標，並比對最佳信號品質指標是否較信號品質參考值RSSI_Ref更好而產生一比對結果。當比對結果為是時，更新信號品質參考值RSSI_Ref與座標參考值Coord_Ref。其中信號品質參考值RSSI_Ref更新為最佳信號品質指標，且座標參考值Coord_Ref更新為此至少一座標點之此者。當比對結果為否時，信號品質參考值RSSI_Ref與座標參考值Coord_Ref維持原本的數值。

信號品質比較步驟S246為驅動處理器320比較此至少一第二信號品質指標之此者(對應RSSI)是否小於信號品質參考值RSSI_Ref而產生一信號品質比較結果。當信號品質比較結果為是時，執行逆向拐點更新步驟S247；反之，當信號品質比較結果為否時，執行所有座標點測試步驟S28。

逆向拐點更新步驟S247包含驅動處理器320控制衰減器200漸減而減少待測物110之整體路徑損耗，以取得此至少一第二信號品質指標之一剩餘部分與此至少一第二資料傳輸率之一剩餘部分。此外，逆向拐點更新步驟S247更包含前述之比對更新步驟，其細節不再贅述。

信號品質確認步驟S26為驅動處理器320確認信號品質參考值RSSI_Ref是否小於等於一預設信號品質門檻值RSSI_Spec而產生一信號品質確認結果，並依據信號品質確認結果決定是否輸出信號品質參考值RSSI_Ref與座標參考值Coord_Ref。當信號品質確認結果為是時，執行參考值輸出步驟S27，並結束自動調校方法S2的流程；反之，當信號品質確認結果為否時，執行所有座標點測試步驟S28。

參考值輸出步驟S27包含驅動處理器320輸出信號品質參考值RSSI_Ref與座標參考值Coord_Ref，或者回傳信號品質參考值RSSI_Ref與座標參考值Coord_Ref至記憶體310，以供後續之實際測試使用。

所有座標點測試步驟S28為驅動處理器320確認是否測試完待測物110於所有座標點之檢驗而產生一所有座標點測試結果，並依據所有座標點測試結果決定是否輸出信號品質參考值RSSI_Ref與座標參考值Coord_Ref。當所有座標點測試結果為否時，重複執行參數取得步驟S22；反之，當所有座標點測試結果為是時，執行參考值輸出步驟S27，並結束自動調校方法S2的流程。上述所有的座標點之數量等於N，亦即所有的座標點為前述第i個座標點之集合，i=1~N，且N為正整數。

藉此，本發明之自動調校方法S2搭配可程式控制的移動設備400與衰減器200，可透過全自動的方式完成以往需要人力完成的調校工作，例如：能有效利用晚上及假日時間來自動執行調校工作。此外，透過跳躍式拐點尋找步驟S243可直接跳到關鍵衰減點，以快速進行拐點判斷，進而大幅提升判斷速度並縮短整體判斷時間。

請一併參閱第1圖、第3圖、第4圖及表一，其中第4圖係繪示本發明之拐點KP、吞吐量(Throughput；單位為Mbps)及整體路徑損耗(單位為dB)於一理想實施例之關係示意圖；及表一顯示轉桌的角度(Angle；單位為度)、預設信號品質門檻值RSSI_Spec以及拐點KP的信號品質指標(拐點RSSI；單位為dBm)於一實施例之相關參數。第4圖之拐點KP代表整體路徑損耗的臨界點；換言之，拐點KP代表理論傳輸速率由一最高傳輸率MCS11下降至一次高傳輸率MCS10的轉折點。「Tx (Downlink)」與「Rx (Uplink)」分別代表發送與接收的數據。在表一之實施例中，轉桌的角度從60度轉至75度，每次轉3度，以改變待測物110的座標點；換言之，所有座標點的數量(N)大於等於6；預設信號品質門檻值RSSI_Spec為-48dBm；預設傳輸率PDR為最高傳輸率MCS11。在其他實施例中，第4圖的橫軸可代表測試配置的接收信號強度指標(單位為dBm)。

一開始，自動調校系統100執行自動調校方法S2之第一輪流程步驟(轉桌的角度為60度)。處理器320取得待測物110於第1個座標點(i=1)之第一資料傳輸率與第一信號品質指標，其分別為MCS10與-40dBm(S22)。資料傳輸率確認結果為否(S23)，完成待測物110於第1個座標點之檢驗，此時表一的拐點RSSI記錄為「Skip」，其代表第1個座標點不屬於符合規範的配置。S28的所有標點測試結果為否。

然後，自動調校系統100執行自動調校方法S2之第二輪流程步驟(轉桌的角度為63度)。S22於第2個座標點(i=2)取得之第一資料傳輸率與第一信號品質指標分別為MCS11與-39dBm。S23的資料傳輸率確認結果為是，S241的參考值判斷結果為否(尚未取得參考值)。

在S242中，處理器320控制衰減器200漸增(從原本的0dB漸增至8dB)，以取得複數個第二信號品質指標(-40dBm、…、-45dBm、-48dBm)與複數個第二資料傳輸率(MCS11、…、MCS11、MCS10)。接著處理器320從第二信號品質指標尋找合格信號品質指標(-40dBm、…、-45dBm)，並從合格信號品質指標尋找出最佳信號品質指標(-45dBm)，使RSSI_Ref更新為最佳信號品質指標，且Coord_Ref更新為第2個座標點(轉桌的角度為63度)。S26的信號品質確認結果為否(RSSI_Ref(-45dBm)大於RSSI_Spec(-48dBm))，完成待測物110於第2個座標點之檢驗，此時表一的拐點RSSI記錄為「-45」，其代表第2個座標點屬於符合規範的配置，但不屬於最佳的配置。S28的所有標點測試結果為否。

然後，自動調校系統100執行自動調校方法S2之第三輪流程步驟(轉桌的角度為66度)。待測物110於第3個座標點(i=3)之第一資料傳輸率與第一信號品質指標分別為MCS10與-38dBm(S22)。資料傳輸率確認結果為否(S23)，完成待測物110於第3個座標點之檢驗，此時表一的拐點RSSI記錄為「Skip」，其代表第3個座標點不屬於符合規範的配置。S28的所有標點測試結果為否。

然後，自動調校系統100執行自動調校方法S2之第四輪流程步驟(轉桌的角度為69度)。待測物110於第4個座標點(i=4)之第一資料傳輸率與第一信號品質指標分別為MCS11與-37dBm(S22)。資料傳輸率確認結果為是(S23)，參考值判斷結果為是(S241)。在S243中，處理器320控制衰減器200設為起始值(0dB)加上第一信號品質指標(-37dBm)與RSSI_Ref(-45dBm)之差值(8dB)，並重新取得第二信號品質指標(-45dBm)與第二資料傳輸率(MCS10)。另一資料傳輸率確認結果為否(S244)，信號品質比較結果為否(S246)，完成待測物110於第4個座標點之檢驗，此時表一的拐點RSSI記錄為「Worse」，其代表第4個座標點不屬於符合規範的配置，且其拐點RSSI會比RSSI_Ref(-45dBm)還差，故無須再更新RSSI_Ref與Coord_Ref。S28的所有標點測試結果為否。

然後，自動調校系統100執行自動調校方法S2之第五輪流程步驟(轉桌的角度為72度)。待測物110於第5個座標點(i=5)之第一資料傳輸率與第一信號品質指標分別為MCS11與-39dBm(S22)。資料傳輸率確認結果為是(S23)，參考值判斷結果為是(S241)，執行S243後另一資料傳輸率確認結果為是(S244)。

在S245中，處理器320控制衰減器200漸增，以取得第二信號品質指標之剩餘部分(-46dBm、-47dBm、-50dBm)與第二資料傳輸率之剩餘部分(MCS11、MCS11、MCS10)。由其中找出最佳信號品質指標(-47dBm)，與RSSI_Ref(-45dBm)比對而產生的比對結果為是(最佳信號品質指標小於RSSI_Ref代表更好)，故RSSI_Ref與Coord_Ref分別被更新為最佳信號品質指標與第5個座標點(轉桌的角度為72度)。信號品質確認結果為否(S26，RSSI_Ref(-47dBm)大於RSSI_Spec(-48dBm))，完成待測物110於第5個座標點之檢驗，此時表一的拐點RSSI記錄為「-47」，其代表第5個座標點屬於符合規範的配置，但不屬於最佳的配置。S28的所有標點測試結果為否。

然後，自動調校系統100執行自動調校方法S2之第六輪流程步驟(轉桌的角度為75度)。待測物110於第6個座標點(i=6)之第一資料傳輸率與第一信號品質指標分別為MCS11與-39dBm(S22)。資料傳輸率確認結果為是(S23)，參考值判斷結果為是(S241)，執行S243後另一資料傳輸率確認結果為是(S244)，執行S245後S26的信號品質確認結果為是(RSSI_Ref(-48dBm)等於RSSI_Spec(-48dBm))，處理器320輸出RSSI_Ref與Coord_Ref(S27)，並結束自動調校方法S2的流程。上述完成待測物110於第6個座標點之檢驗，此時表一的拐點RSSI記錄為「-48」，其代表第6個座標點屬於符合規範的配置，且屬於最佳的配置。 表一

角度 (度)	衰減器 (dB)	拐點 RSSI (dBm)
0	2	…	6	8	10	12
60	MCS10 -40	N/A	N/A	N/A	N/A	N/A	N/A	Skip
63	MCS11 -39	MCS11 -40	…	MCS11 -45	MCS10 -48	N/A	N/A	-45
66	MCS10 -38	N/A	N/A	N/A	N/A	N/A	N/A	Skip
69	MCS11 -37	N/A	N/A	N/A	MCS10 -45	N/A	N/A	Worse
72	MCS11 -39	N/A	N/A	MCS11 -45	MCS11 -46	MCS11 -47	MCS10 -50	-47
75	MCS11 -39	N/A	N/A	N/A	MCS11 -47	MCS11 -48	MCS10 -51	-48

另外值得一提的是，本發明之自動調校方法S0、S2及自動調校系統100可搭配參考資料，例如:待測物110的天線配置與限制，來刪減需要測試驗證的座標點，藉以加快搜尋速度。舉例來說，假設移動設備400為轉桌，待測物110的天線只有在轉桌角度為0度至180度時(對應天線的正面)具有較好的信號品質，故轉桌角度為180度至360度時無須測試驗證(對應天線的背面)。藉此，可刪減需要測試驗證的座標點，藉以縮短搜尋時間。

由上述實施方式可知，本發明具有下列優點：其一，搭配可程式控制的移動設備與衰減器，可透過全自動的方式完成以往需要人力完成的調校工作。其二，透過跳躍式拐點尋找步驟可直接跳到關鍵衰減點，以快速進行拐點判斷，進而大幅提升判斷速度並縮短整體判斷時間。其三，可搭配參考資料(如待測物的天線配置與限制)來刪減需要測試驗證的座標點，藉以加快搜尋速度。其四，可以有效地在所有座標位置中自動找出最佳或是符合規範的測試配置，並改善以往須透過人工方式找尋及無法全時段使用設備的問題，故能大幅提升測試設備之使用率，進而縮短整體測試的時程。

雖然本發明已以實施方式揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，因此發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100:自動調校系統 102a,102b:隔離箱 110:待測物 200:衰減器 300:處理裝置 310:記憶體 320:處理器 400:移動設備 500:陪測物 600:天線 Coord_Ref:座標參考值 KP:拐點 PDR:預設傳輸率 RSSI_Ref:信號品質參考值 RSSI_Spec:預設信號品質門檻值 S0,S2:自動調校方法 S02,S22:參數取得步驟 S04,S24:拐點尋找步驟 S06,S26:信號品質確認步驟 S23,S244:資料傳輸率確認步驟 S241:參考值判斷步驟 S242:順向拐點尋找步驟 S243:跳躍式拐點尋找步驟 S245:順向拐點更新步驟 S246:信號品質比較步驟 S247:逆向拐點更新步驟 S27:參考值輸出步驟 S28:所有座標點測試步驟

第1圖係繪示本發明之第一實施例之自動調校系統之架構示意圖； 第2圖係繪示本發明之第二實施例之自動調校方法之流程圖； 第3圖係繪示本發明之第三實施例之自動調校方法之流程圖；以及 第4圖係繪示本發明之拐點、吞吐量及整體路徑損耗於一理想實施例之關係示意圖。

S2:自動調校方法

S22:參數取得步驟

S23,S244:資料傳輸率確認步驟

S24:拐點尋找步驟

S241:參考值判斷步驟

S242:順向拐點尋找步驟

S243:跳躍式拐點尋找步驟

S245:順向拐點更新步驟

S246:信號品質比較步驟

S247:逆向拐點更新步驟

S26:信號品質確認步驟

S27:參考值輸出步驟

S28:所有座標點測試步驟

Claims (17)

1. 一種自動調校方法，用以測試位於至少一座標點之一待測物，該自動調校方法包含：一參數取得步驟，包含驅動一處理器取得該待測物於該至少一座標點之一者之一第一資料傳輸率與一第一信號品質指標；一拐點尋找步驟，包含驅動該處理器依據該第一資料傳輸率與該第一信號品質指標控制一衰減器而改變該待測物之一整體路徑損耗，以取得一至少一第二信號品質指標與一至少一第二資料傳輸率，並依據該至少一第二信號品質指標與該至少一第二資料傳輸率判斷是否更新一信號品質參考值與一座標參考值，若是則將該信號品質參考值更新為該至少一第二信號品質指標之一者，並將該座標參考值更新為該至少一座標點之該者；以及一信號品質確認步驟，包含驅動該處理器確認該信號品質參考值是否小於等於一預設信號品質門檻值而產生一信號品質確認結果，並依據該信號品質確認結果決定是否輸出該信號品質參考值與該座標參考值；其中，該拐點尋找步驟更包含：一參考值判斷步驟，包含驅動該處理器判斷是否取得該信號品質參考值與該座標參考值而產生一參考值判斷結果，其中當該參考值判斷結果為否時，執行一順向拐點尋找步驟，當該參考值判斷結果為是時，執行一跳躍式拐點尋找步驟與另一資料傳輸率確認步驟； 其中，該跳躍式拐點尋找步驟包含驅動該處理器控制該衰減器設為一起始值加上該第一信號品質指標與該信號品質參考值之一差值，並重新取得該至少一第二信號品質指標之一者與該至少一第二資料傳輸率之一者。
2. 如請求項1所述之自動調校方法，更包含：一資料傳輸率確認步驟，包含驅動該處理器確認該第一資料傳輸率是否為一預設傳輸率而產生一資料傳輸率確認結果；其中，當該資料傳輸率確認結果為是時，執行該拐點尋找步驟；其中，當該資料傳輸率確認結果為否時，執行一所有座標點測試步驟。
3. 如請求項1所述之自動調校方法，其中該順向拐點尋找步驟包含：驅動該處理器控制該衰減器漸增而增加該待測物之該整體路徑損耗，以取得該至少一第二信號品質指標與該至少一第二資料傳輸率；及驅動該處理器從該至少一第二信號品質指標尋找出符合一預設傳輸率之至少一合格信號品質指標，並從該至少一合格信號品質指標尋找出一最佳信號品質指標，以更新該信號品質參考值與該座標參考值，其中該信號品質參考值更新為該最佳信號品質指標，且該座標參考值更新為該至 少一座標點之該者。
4. 如請求項1所述之自動調校方法，其中該另一資料傳輸率確認步驟包含驅動該處理器確認該至少一第二資料傳輸率之該者是否為一預設傳輸率而產生另一資料傳輸率確認結果；其中，當該另一資料傳輸率確認結果為是時，執行一順向拐點更新步驟；其中，當該另一資料傳輸率確認結果為否時，執行一信號品質比較步驟。
5. 如請求項4所述之自動調校方法，其中該順向拐點更新步驟包含：驅動該處理器控制該衰減器漸增而增加該待測物之該整體路徑損耗，以取得該至少一第二信號品質指標之一剩餘部分與該至少一第二資料傳輸率之一剩餘部分；及驅動該處理器從該至少一第二信號品質指標之該剩餘部分尋找出符合該預設傳輸率之至少一合格信號品質指標，並從該至少一合格信號品質指標尋找出一最佳信號品質指標，並比對該最佳信號品質指標是否較該信號品質參考值更好而產生一比對結果；其中，當該比對結果為是時，更新該信號品質參考值與該座標參考值，其中該信號品質參考值更新為該最佳信號品質指標，且該座標參考值更新為該至少一座標點之該者。
6. 如請求項4所述之自動調校方法，其中該信號品質比較步驟包含驅動該處理器比較該至少一第二信號品質指標之該者是否小於該信號品質參考值而產生一信號品質比較結果；其中，當該信號品質比較結果為是時，執行一逆向拐點更新步驟；其中，當該信號品質比較結果為否時，執行一所有座標點測試步驟。
7. 如請求項6所述之自動調校方法，其中該逆向拐點更新步驟包含：驅動該處理器控制該衰減器漸減而減少該待測物之該整體路徑損耗，以取得該至少一第二信號品質指標之一剩餘部分與該至少一第二資料傳輸率之一剩餘部分；及驅動該處理器從該至少一第二信號品質指標之該剩餘部分尋找出符合該預設傳輸率之至少一合格信號品質指標，並從該至少一合格信號品質指標尋找出一最佳信號品質指標，並比對該最佳信號品質指標是否較該信號品質參考值更好而產生一比對結果；其中，當該比對結果為是時，更新該信號品質參考值與該座標參考值，其中該信號品質參考值更新為該最佳信號品質指標，且該座標參考值更新為該至少一座標點之該者。
8. 如請求項1所述之自動調校方法，更包含： 一所有座標點測試步驟，包含驅動該處理器確認是否測試完該待測物於所有該至少一座標點之檢驗而產生一所有座標點測試結果，並依據該所有座標點測試結果決定是否輸出該信號品質參考值與該座標參考值。
9. 一種自動調校系統，用以測試位於至少一座標點之一待測物，該自動調校系統包含：一衰減器，用以改變該待測物之一整體路徑損耗；以及一處理裝置，包含：一記憶體，儲存一預設信號品質門檻值；及一處理器，訊號連接該衰減器與該記憶體，該處理器取得該待測物於該至少一座標點之一者之一第一資料傳輸率與一第一信號品質指標，該處理器依據該第一資料傳輸率與該第一信號品質指標控制該衰減器而改變該待測物之該整體路徑損耗，以取得一至少一第二信號品質指標與一至少一第二資料傳輸率，並依據該至少一第二信號品質指標與該至少一第二資料傳輸率判斷是否更新一信號品質參考值與一座標參考值，若是則將該信號品質參考值更新為該至少一第二信號品質指標之一者，並將該座標參考值更新為該至少一座標點之該者，該處理器確認該信號品質參考值是否小於等於該預設信號品質門檻值而產生一信號品質確認結果，並依據該信號品質確認結果決定是否輸出該信號品質參考值與該座標參考值； 其中，該衰減器設為一起始值，該處理器判斷是否取得該信號品質參考值與該座標參考值而產生一參考值判斷結果，並依據該參考值判斷結果決定控制該衰減器漸增或設為該起始值加上該第一信號品質指標與該信號品質參考值之一差值。
10. 如請求項9所述之自動調校系統，其中該第一信號品質指標及該至少一第二信號品質指標之任一者為一接收信號強度指標(Received Signal Strength Indicator；RSSI)。
11. 如請求項9所述之自動調校系統，更包含：一移動設備，訊號連接該處理器並受該處理器控制，該至少一座標點的數量為複數，該移動設備用以將該待測物從該些座標點之一者移動至另一者。
12. 如請求項11所述之自動調校系統，其中該記憶體儲存一預設傳輸率，該處理器確認該第一資料傳輸率是否為該預設傳輸率而產生一資料傳輸率確認結果，並依據該資料傳輸率確認結果決定控制該衰減器或該移動設備。
13. 如請求項9所述之自動調校系統，其中該記憶體儲存一預設傳輸率，當該參考值判斷結果為否時， 該處理器控制該衰減器漸增而增加該待測物之該整體路徑損耗，以取得該至少一第二信號品質指標與該至少一第二資料傳輸率；及該處理器從該至少一第二信號品質指標尋找出符合該預設傳輸率之至少一合格信號品質指標，並從該至少一合格信號品質指標尋找出一最佳信號品質指標，以更新該信號品質參考值與該座標參考值，其中該信號品質參考值更新為該最佳信號品質指標，且該座標參考值更新為該至少一座標點之該者。
14. 如請求項9所述之自動調校系統，其中當該參考值判斷結果為是時，該處理器控制該衰減器設為該起始值加上該第一信號品質指標與該信號品質參考值之該差值，並重新取得該至少一第二信號品質指標之一者與該至少一第二資料傳輸率之一者。
15. 如請求項14所述之自動調校系統，其中該記憶體儲存一預設傳輸率，該處理器確認該至少一第二資料傳輸率之該者是否為該預設傳輸率而產生另一資料傳輸率確認結果，並依據該另一資料傳輸率確認結果決定控制該衰減器漸增或比較該至少一第二信號品質指標之該者是否小於該信號品質參考值而產生一信號品質比較結果。
16. 如請求項15所述之自動調校系統，其中當 該另一資料傳輸率確認結果為是時，該處理器控制該衰減器漸增而增加該待測物之該整體路徑損耗，以取得該至少一第二信號品質指標之一剩餘部分與該至少一第二資料傳輸率之一剩餘部分；及該處理器從該至少一第二信號品質指標之該剩餘部分尋找出符合該預設傳輸率之至少一合格信號品質指標，並從該至少一合格信號品質指標尋找出一最佳信號品質指標，並比對該最佳信號品質指標是否較該信號品質參考值更好而產生一比對結果；其中，當該比對結果為是時，該處理器更新該信號品質參考值與該座標參考值，其中該信號品質參考值更新為該最佳信號品質指標，且該座標參考值更新為該至少一座標點之該者。
17. 如請求項15所述之自動調校系統，其中當該另一資料傳輸率確認結果為否，且信號品質比較結果為是時，該處理器控制該衰減器漸減而減少該待測物之該整體路徑損耗，以取得該至少一第二信號品質指標之一剩餘部分與該至少一第二資料傳輸率之一剩餘部分；及該處理器從該至少一第二信號品質指標之該剩餘部分尋找出符合該預設傳輸率之至少一合格信號品質指標，並從該至少一合格信號品質指標尋找出一最佳信號品質指標，並比對該最佳信號品質指標是否較該信號品質參考值更好 而產生一比對結果；其中，當該比對結果為是時，該處理器更新該信號品質參考值與該座標參考值，其中該信號品質參考值更新為該最佳信號品質指標，且該座標參考值更新為該至少一座標點之該者。

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