TWI835381B

TWI835381B - 資料加密的錯誤偵測裝置

Info

Publication number: TWI835381B
Application number: TW111141711A
Authority: TW
Inventors: 吳溫哲; 陳柏宏; 鄭巧雯; 余俊宏; 劉志尉
Original assignee: 慧榮科技股份有限公司
Priority date: 2022-11-02
Filing date: 2022-11-02
Publication date: 2024-03-11
Also published as: TW202420088A

Abstract

本發明涉及一種資料加密的錯誤偵測裝置及方法，該裝置包含：搜索電路；和替代校驗電路。搜索電路設置以依據8轉K位元查找表，將輸入的相應於明文、中間加密結果或者回合密鑰的1個位元組的第一值轉換為K位元的第二值。替代校驗電路設置以使用相應於8轉K位元查找表的公式，判斷第一值轉換為第二值的過程中是否發生錯誤，以及當發現錯誤時，發出錯誤訊號。通過以上所述索電路和替代校驗電路的設置，可利用比編碼電路較少面積的電路來完成錯誤偵測。

Description

資料加密的錯誤偵測裝置

本發明涉及資料加密，尤指一種資料加密的錯誤偵測裝置及方法。

由於現在的儲存裝置(例如，NAND閃存)常用來儲存系統程式碼、應用程式碼、驅動程式和使用者的隱私資料等，因此資料安全性是重要議題。高級加密標準(Advanced Encryption Standard，AES)是目前由美國聯邦政府採用的一種區塊加密標準，並且已經被多方驗證且廣為採用。然而，AES運作的過程中可能遭到惡意的攻擊，而讓AES編碼器錯誤的產生運算結果。或者是，晶片製作過程中有些暇疵，使得AES編碼器在運行一段時間後會產生不預期的運算結果。或者是，儲存裝置處在惡劣的環境下，讓AES編碼器中的部分元件失能而產生不預期的運算結果。錯誤的加密過程將使原始的使用者資料無法回復，造成巨大的損失。因此，本發明提出一種資料加密的錯誤偵測裝置及方法，避免寫入錯誤的加密後資料到儲存裝置。

有鑑於此，如何減輕或消除上述相關領域的缺失，實為有待解決的問題。

本說明書涉及一種資料加密的錯誤偵測裝置，包含：搜索電路；和替代校驗電路。搜索電路設置以依據8轉K位元查找表，將輸入的相應於明文、中間加密結果或者回合密鑰的1個位元組的第一值轉換為K位元的第二值。替代校驗電路設置以使用相應於8轉K位元查找表的公式，判斷第一值轉換為第二值的過程中是否發生錯誤，以及當發現錯誤時，發出錯誤訊號。

K為10到15之間的正整數，第二值包含K-8個位元的漢明奇偶校驗碼，以及公式的數目為K-8。

上述實施例的優點之一，通過以上所述搜索電路和替代校驗電路的設置，可利用比編碼電路較少面積的電路來完成錯誤偵測。

本發明的其他優點將搭配以下的說明和圖式進行更詳細的解說。

10:電子裝置

110:主機端

130:閃存控制器

131:主機介面

132:匯流排

134:處理單元

136:隨機存取記憶體

137:高級加密標準編碼器

138:直接記憶體存取控制器

139:閃存介面

150:閃存模組

151:介面

153#0~153#15:NAND閃存單元

CH#0~CH#3:通道

CE#0~CE#3:致能訊號

R#0:初始回合

R#1~R#9:中間回合

R#10:最終回合

S310#1~S310#10:替代位元組步驟

S320#1~S320#10:位移列步驟

S330#1~S330#9:混合行步驟

S340#1~S340#10:加上回合密鑰步驟

S350:擴展密鑰步驟

w[0,3]:基礎密鑰

w[4,7],w[36,39],w[40,43]:擴展後的密鑰

400:AES編碼器

410,430:AES編碼電路

450:比較器

500:AES編碼器

510:AES編碼電路

530:錯誤偵測電路

550:冗餘資料產生電路

570:冗餘密鑰產生電路

S₀~S₁₅:體

P₀~P₁₅:體內奇偶校驗位元

Q₀~Q₃:跨體奇偶校驗9位元

k₀~k₃₁:小鑰

R₀~R₃₁:小鑰內奇偶校驗位元

V₀~V₇:跨小鑰奇偶校驗9位元

810:AES資料處理電路

813:編碼電路

815:編碼錯誤檢查電路

830:AES密鑰排程電路

833:密鑰產生電路

835:密鑰錯誤檢查電路

850:或閘

870:控制器

912:資料寄存器

914:奇偶校驗碼寄存器

920:增強型替代位元組電路

930:位移列電路

940:混合行電路

950:加上回合密鑰電路

960:奇偶校驗檢查電路

970:奇偶校驗預測電路

980:多工器

1010:體內奇偶校驗位元預測電路

1030:跨體奇偶校驗9位元預測電路

1110:體內奇偶校驗位元產生電路

1120:位移列預測電路

1130:混合行預測電路

1140:多工器

1150:加上回合密鑰預測電路

1160:位移列電路

1210:多工器

1230:體內互斥或閘

1310:跨體奇偶校驗位元組產生電路

1330:跨小鑰奇偶校驗位元組分割電路

1350:跨體奇偶校驗位元組預測電路

1370:跨體奇偶校驗1位元預測電路

1390:跨體奇偶校驗9位元合併電路

1410:跨體奇偶校驗位元組分割電路

1430#0~1430#15,1430#i:增強型查表電路

1450:跨體奇偶校驗位元組合併電路

1510,2210:搜索電路

1530,2230:替代校驗電路

1610:計算電路

1630:乘法器

1650:比較器

1710,1750:密鑰分割電路

1712,1714:寄存器

1720,1730:鑰字處理電路

1725,1727,1729:互斥或閘

1742,1744:密鑰奇偶校驗碼產生電路

1752,1754,1782,1784:寄存器

1762,1764:密鑰奇偶校驗檢查電路

1772,1774:密鑰奇偶校驗預測電路

1810:鑰字分割電路

1820:旋轉鑰字電路

1830:替代鑰字電路

1840:捨去常數電路

1850:鑰字合併電路

1860:鑰字奇偶校驗產生電路

1870:鑰字奇偶校驗預測電路

1880:鑰字跨奇偶校驗預測電路

1890:鑰字奇偶校驗9位元合併電路

1930#0~1930#3:增強型查表電路

2010:互斥或閘

2110:鑰字分割電路

2130:替代鑰字電路

2150:鑰字合併電路

2160:鑰字奇偶校驗產生電路

2180:鑰字跨奇偶校驗預測電路

2190:鑰字奇偶校驗9位元合併電路

2300,2400:8轉14位元查找表

圖1為依據本發明實施例的電子裝置的系統架構圖。

圖2為依據本發明實施例的閃存模組的示意圖。

圖3為以128位元密鑰使用10個回合的演算法的高階示意圖。

圖4為依據一些實施方式的高級加密標準(Advanced Encryption Standard，AES)編碼器的方塊圖。

圖5為依據本發明實施例的AES編碼器的方塊圖。

圖6為依據本發明實施例的體、體內奇偶校驗位元和跨體奇偶校驗9位元的示意圖。

圖7為依據本發明實施例的小鑰、小鑰內奇偶校驗位元和跨小鑰奇偶校驗9位元的示意圖。

圖8為依據本發明實施例的AES編碼器的方塊圖。

圖9為依據本發明實施例的AES資料處理電路的方塊圖。

圖10為依據本發明實施例的奇偶校驗預測電路的方塊圖。

圖11為依據本發明實施例的體內奇偶校驗位元預測電路的方塊圖。

圖12為依據本發明實施例的體內奇偶校驗位元產生電路的方塊圖。

圖13為依據本發明實施例的跨體奇偶校驗9位元預測電路的方塊圖。

圖14為依據本發明實施例的增強型替代位元組電路的方塊圖。

圖15為依據本發明實施例的增強型查表電路的方塊圖。

圖16為依據本發明實施例的替代校驗電路的方塊圖。

圖17為依據本發明實施例的AES密鑰排程電路的方塊圖。

圖18為依據本發明實施例的鑰字處理電路的方塊圖。

圖19為依據本發明實施例的替代鑰字電路的方塊圖。

圖20為依據本發明實施例的捨去常數電路的示意圖。

圖21為依據本發明實施例的鑰字處理電路的方塊圖。

圖22為依據本發明實施例的增強型查表電路的方塊圖。

圖23和圖24為依據本發明實施例的8轉14位元查找表的示意圖。

以下說明為完成發明的較佳實現方式，其目的在於描述本發明的基本精神，但並不用以限定本發明。實際的發明內容必須參考之後的權利要求範圍。

必須了解的是，使用於本說明書中的「包含」、「包括」等詞，用以表示存在特定的技術特徵、數值、方法步驟、作業處理、元件以及/或組件，但並不排除可加上更多的技術特徵、數值、方法步驟、作業處理、元件、組件，或以上的任意組合。

於權利要求中使用如「第一」、「第二」、「第三」等詞是用來修飾權利要求中的元件，並非用來表示之間具有優先順序，前置關係，或者是一個元件先於另一個元件，或者是執行方法步驟時的時間先後順序，僅用來區別具有相同名字的元件。

必須了解的是，當元件描述為「連接」或「耦接」至另一元件時，可以是直接連結、或耦接至其他元件，可能出現中間元件。相反地，當元件描述為「直接連接」或「直接耦接」至另一元件時，其中不存在任何中間元件。使用來描述元件之間關係的其他語詞也可類似方式解讀，例如「介於」相對於「直接介於」，或者是「鄰接」相對於「直接鄰接」等等。

參考圖1。電子裝置10包含主機端(Host Side)110、閃存控制器130及閃存模組150，並且閃存控制器130及閃存模組150可合稱為裝置端(Device Side)。電子裝置10可實施於個人電腦、筆記型電腦 (Laptop PC)、平板電腦、手機、數位相機、數位攝影機、智慧型電視、智慧型電冰箱、車用電子系統(Automotive Electronics System)等電子產品之中。主機端110與閃存控制器130的主機介面(Host Interface)137可以通用序列匯流排(Universal Serial Bus，USB)、先進技術附著(advanced technology attachment，ATA)、序列先進技術附著(serial advanced technology attachment，SATA)、快速周邊元件互聯(peripheral component interconnect express，PCI-E)、通用快閃記憶儲存(Universal Flash Storage UFS)、嵌入式多媒體卡(Embedded Multi-Media Card eMMC)等通訊協定彼此溝通。閃存控制器130的閃存介面(Flash Interface)139與閃存模組150可以雙倍資料率(Double Data Rate DDR)通訊協定彼此溝通，例如，開放NAND快閃(Open NAND Flash Interface ONFI)、雙倍資料率開關(DDR Toggle)或其他通訊協定。閃存控制器130包含處理單元134，可使用多種方式實施，如使用通用硬體(例如，單一處理器、具平行處理能力的多處理器、圖形處理器或其他具運算能力的處理器)，並且在執行軟體以及/或韌體指令時，提供之後描述的功能。處理單元134通過主機介面131接收主機命令，例如讀取命令(Read Command)、寫入命令(Write Command)、抹除命令(Erase Command)等，排程並執行這些命令。閃存控制器130另包含隨機存取記憶體(Random Access Memory，RAM)136，可實施為動態隨機存取記憶體(Dynamic Random Access Memory，DRAM)、靜態隨機存取記憶體(Static Random Access Memory，SRAM)或上述兩者的結合，用於配置空間作為資料緩衝區，儲存從主機端110讀取並即將寫入閃存模組150的主機資料，以及從閃存模組150讀取並即將輸出給主機端110的主機資料。隨機存取記憶體136另可儲存執行過程中需要的資料，例如，變數、資料表、主機-閃存對照表(Host-to-Flash H2F Table)、閃存-主機對照表(Flash- to-Host F2H Table)等。閃存介面139包含NAND閃存控制器(NAND Flash Controller NFC)，提供存取閃存模組150時需要的功能，例如命令序列器(Command Sequencer)、低密度奇偶校驗(Low Density Parity Check LDPC)等。

閃存控制器130中可配置匯流排架構(Bus Architecture)132，用於讓元件之間彼此耦接以傳遞資料、位址、控制訊號等，這些元件包含主機介面131、處理單元134、RAM 136、高級加密標準(Advanced Encryption Standard，AES)編碼器137、直接記憶體存取(Direct Memory Access，DMA)控制器138、閃存介面139等。DMA控制器138可依據處理單元134的指令，通過匯流排架構132在元件間遷移資料，例如，將RAM 136的特定資料緩存器中的資料搬到AES編碼器137的特定寄存器(Register)，將AES編碼器137的特定寄存器中的資料搬到RAM 136的特定資料緩存器等。

閃存模組150提供大量的儲存空間，通常是數百個千兆位元組(Gigabytes，GB)，甚至是數個萬億位元組(Terabytes，TB)，用於儲存大量的主機資料，例如高解析度圖片、影片等。閃存模組150中包含控制電路以及記憶體陣列，記憶體陣列中的記憶單元可在抹除後組態為單層式單元(Single Level Cells，SLCs)、多層式單元(Multiple Level Cells，MLCs)三層式單元(Triple Level Cells，TLCs)、四層式單元(Quad-Level Cells，QLCs)或上述的任意組合。處理單元134通過閃存介面139寫入主機資料到閃存模組150中的指定位址(目的位址)，以及從閃存模組150中的指定位址(來源位址)讀取主機資料。閃存介面139使用數個電子訊號來協調閃存控制器130與閃存模組150間的資料與命令傳遞，包含資料線(Data Line)、時脈訊號(Clock Signal)與控制訊號(Control Signal)。資料線可用於傳遞命令、位址、讀出及寫入的資料；控制訊號線可用於傳遞晶片致能(Chip Enable，CE)、位址提取致能 (Address Latch Enable，ALE)、命令提取致能(Command Latch Enable，CLE)、寫入致能(Write Enable，WE)等控制訊號。

參考圖2，閃存模組150中的介面151可包含四個輸出入通道(I/O channels，以下簡稱通道)CH#0至CH#3，每個通道連接四個NAND閃存單元，例如，通道CH#0連接NAND閃存單元153#0、153#4、153#8及153#12。每個NAND閃存單元可封裝為獨立的芯片(Die)。閃存介面139可通過介面151發出致能訊號CE#0至CE#3中的一個來致能NAND閃存單元153#0至153#3、153#4至153#7、153#8至153#11、或153#12至153#15，接著以並行的方式從致能的NAND閃存單元讀取主機資料，或者寫入主機資料至致能的NAND閃存單元。

AES編碼器137實施一種Rijndael的變形演算法，其中使用固定的128位元大小的塊和128、192或256位元大小的基礎密鑰。AES編碼器137針對4x4以行為主的有序陣列(4x4 Column-major Order Array)的位元組進行操作，每個位元組稱為體(State)。大部分的AES計算都是在特定有限域(Finite Field)中完成的。例如，16個體S₀、S₁到S₁₅可用以下二維陣列(Two-dimensional Array)表示：

AES加密中使用的密鑰大小決定了轉換回合的數目，此加密用以將輸入訊息(稱為明文)轉換成為最後輸出(稱為密文)。例如，128位元密鑰使用10個回合(n=10)加密，192位元密鑰使用12個回合(n=12)加密，256位元密鑰使用14個回合(n=14)加密。每個回合包含數個處理步驟(或者稱為操作)，其中包含一個取決於加密密鑰本身的步驟。參考圖3所示的以128位元密鑰使用10個回合的演算法的高階示意圖。演算法使用擴展密鑰的步驟S350(也稱為 AES密鑰排程)，根據128位元基礎密鑰(Root Key)w[0,3]來擴展出多個回合所需要的密鑰。初始回合包含加上回合密鑰(Add-Round-Key)的步驟S340#0，用於加上回合密鑰，每個體使用逐位元的XOR運算合併上基礎密鑰w[0,3]中的相應位元組。接下來的9個回合，每個回合包含替代位元組(Substitute-Bytes)的步驟S310#i、位移列(Shift-Rows)的步驟S320#i、混合行(Mix-Columns)的步驟S330#i、加上回合密鑰的步驟S340#i，其中i為1到9之間的任意正整數。步驟S310#i是一個非線性替代的步驟，根據查找表(又可稱為Rijndael S-box)將每個體的值替換為另一個值，其中的查找表使用以下公式建立：SB_i=Affine((i)^-1)SB_i代表i的輸出結果，Affine()代表Affine轉換函數，i為從0到127的正整數。步驟S320#i是一個調換位置的步驟，將下面三列的每一者向左或向右循環位移指定步數。步驟S330#i執行線性混合操作，作用於行，用於將每一行的四個體進行合併。步驟S340#i用於加上回合密鑰，每個體使用逐位元的XOR運算合併上基礎密鑰w[i*4,i*4+3]中的相應位元組。最後回合(也就是第10回合)包含步驟S310#10、S320#10、S340#10，其功能分別類似於步驟S310#i、S320#i、S340#i。雖然圖3只介紹了128位元密鑰使用10個回合的演算法，所屬技術領域人員理解192位元密鑰使用12個回合及256位元密鑰使用14個回合的演算法的技術細節，可從美國國家標準與技術研究院(National Institute of Standard and Technology，NIST)發表的標準文件中獲取。

由於在遭遇惡意攻擊、晶片瑕疵、惡劣環境等情況時，AES加密的過程中會發生錯誤而造成使用者資料無法回復的重大傷害。參考圖4，在一些實施方式的AES編碼器400中，包含兩套相同的用於實現如上所示演算法的AES編碼電路410和430。AES編碼器400另設置比較器450，用於從AES編碼電路410接收每個體的密文C#1，從AES編碼電路430接收每個體的密文C#2，並且比較兩者是否相同。如果相同，則比較器450輸出密文C#1和加密成功的訊息。如果不同，則比較器450輸出加密失敗的訊息，用於通知處理單元中運行的韌體，需要執行錯誤管理程序。然而，以上實施方式的AES編碼器400的面積大於兩套AES編碼電路的面積，造成製造成本上升。

為了讓AES編碼器的面積小於兩套AES編碼電路的面積，從一個方面來說，參考圖5，本發明實施例提出在AES編碼器500中除了設置用於實現如上所示演算法的AES編碼電路510之外，還設置面積較一套完整的AES編碼電路510更小的錯誤偵測電路530來完成加密過程是否發生錯誤的偵測。在每個體的加密過程中，錯誤偵測電路530使用比16個體及其所屬的回合密鑰更少的資訊來判斷整個加密過程中是否發生錯誤。如果判定沒有任何錯誤，則錯誤偵測電路530可輸出加密成功訊息。如果判定發生錯誤，則錯誤偵測電路530輸出加密失敗的訊息，用於通知處理單元中運行的韌體，需要執行錯誤管理程序。

冗餘資料產生電路550可在16個體附加上用於讓錯誤偵測電路530判斷加密過程中是否發生錯誤的冗餘資料，而冗餘資料是一種根據16個體中的值或者中間加密結果和AES加密演算法的預測結果。參考圖6，在一些實施例中，冗餘資料產生電路(Redundant-data Generation Circuitry)550可預測一個體內奇偶校驗位元(In-state Parity Bit)，並且將體內奇偶校驗位元(當作第8個位元)附加在體(第0~7個位元)之後。需要注意的是，所屬技術領域人員不應依據上述的附加操作解讀為8位元的體和1位元的體內奇偶校驗位元實際儲存於9位元的連續空間，不同但等同的資料結構都是允許的。例如，冗餘資料產生電路550可預測體S₀的體內奇偶校驗位元P₀，預測體S₁的體內奇偶校驗位元P₁，依此類推。體和相應體內奇偶校驗位元之間的匹配可使用以下範例公式表示：

P_i代表第i個體的體內奇偶校驗位元的值，S_i,j代表第i個體中的第j個位元的值，i為從0到15的正整數。當公式的兩邊相等時，代表第i個體和第i個體內奇偶校驗位元是匹配的。否則，代表兩者間不匹配。冗餘資料產生電路550可預測相應於每行的體的值及其體內奇偶校驗位元的一個跨體奇偶校驗9位元(Across-state Parity 9-bit)。例如，冗餘資料產生電路550可預測相應於體S₀及其體內奇偶校驗位元P₀、體S₁及其體內奇偶校驗位元P₁、體S₂及其體內奇偶校驗位元P₂和體S₃及其體內奇偶校驗位元P₃的跨體奇偶校驗9位元Q₀，依此類推。每個行的多個體及其體內奇偶校驗位元和相應跨體奇偶校驗9位元之間的匹配可使用以下範例公式表示：

Q_0,j代表第0個跨體奇偶校驗9位元的第j個位元的值，Q_1,j代表第1個跨體奇偶校驗9位元的第j個位元的值，Q_2,j代表第2個跨體奇偶校驗9位元的第j個位元的值，Q_3,j代表第3個跨體奇偶校驗9位元的第j個位元的值，S_i,j代表第i個體中的第j個位元的值，j為從0至8的任意整數。當第i個跨體奇偶校驗9位元中的每個位元等於第i行中的相應位元的加總(或者互斥或運算的結果)時，代表第i行的體及體內奇偶校驗位元和第i個跨體奇偶校驗9位元之間是匹配的。否則，代表兩者間不匹配。

從一個方面來說，AES編碼電路510和冗餘資料產生電路550是獨立且並行運行的，兩者之間不會進行資料和訊息交換。冗餘資料產生電路550使用冗餘資料更新演算法來產生預測冗餘資料，而冗餘資料更新演算法是從AES加密演算法推導出來的，使得AES編碼電路510產生的中間加密結果和冗餘資料產生電路550預測的冗餘資料能夠在加密明文過程中的每個特定中間點，在沒有發生錯誤的情況下，都能維持指定的數學關係。

冗餘密鑰產生電路(Redundant-key Generation Circuitry)570在每個基礎密鑰或者回合密鑰附加上用於讓錯誤偵測電路530判斷密鑰產生過程中是否發生錯誤的冗餘資料，而冗餘資料是一種根據基礎密鑰或者回合密鑰中的值和AES密鑰排程演算法的預測結果。參考圖7，以256位元基礎密鑰為例，冗餘密鑰產生電路570可先將基礎密鑰依序切分為32個位元組(每個位元組可稱為小鑰，Subkey)，並組織為8行4列的矩陣。冗餘密鑰產生電路570可預測一個小鑰內奇偶校驗位元(In-subkey Parity Bit)，並且將小鑰內奇偶校驗位元(當作第8個位元)附加在小鑰(第0~7個位元)之後。需要注意的是，所屬技術領域人員不能夠依據上述的附加操作解讀為8位元的小鑰和1位元的小鑰內奇偶校驗位元實際儲存於9位元的連續空間，不同但等同的資料結構都是允許的。例如，冗餘密鑰產生電路570可預測小鑰k₀的小鑰內奇偶校驗位元R₀，預測小鑰k₁的小鑰內奇偶校驗位元R₁，依此類推。小鑰和小鑰內奇偶校驗位元之間的匹配可使用以下範例公式表示：

R_i代表第i個小鑰的小鑰內奇偶校驗位元的值，k_i,j代表第i個小鑰中的第j個位元的值，i為從0到15的正整數。當公式的兩邊相等時，代表第i個小鑰和第i個小鑰內奇偶校驗位元是匹配的。否則，代表兩者間不匹配。冗餘密鑰產生電路570可預測相應於每行的小鑰的值及其小鑰內奇偶校驗位元的一個跨小鑰奇偶校驗9位元(Across-subkey Parity 9-bit)。例如，冗餘密鑰產生電路570可預測相應於小鑰k₀及其小鑰內奇偶校驗位元R₀、小鑰k₁及其體內奇偶校驗位元R₁、小鑰k₂及其小鑰內奇偶校驗位元R₂和小鑰k₃及其小鑰內奇偶校驗位元R₃的跨小鑰奇偶校驗9位元V₀，依此類推。每個行的多個小鑰及其小鑰內奇偶校驗位元和相應跨小鑰奇偶校驗9位元之間的匹配可使用以下範例公式表示：

V_0,j代表第0個跨小鑰奇偶校驗9位元的第j個位元的值，V_1,j代表第1個跨小鑰奇偶校驗9位元的第j個位元的值，V_2,j代表第2個跨小鑰奇偶校驗9位元的第j個位元的值，V_3,j代表第3個跨小鑰奇偶校驗9位元的第j個位元的值，V_4,j代表第4個跨小鑰奇偶校驗9位元的第j個位元的值，V_5,j代表第5個跨小鑰奇偶校驗9位元的第j個位元的值，V_6,j代表第6個跨小鑰奇偶校驗9位元的第j個位元的值，V_7,j代表第7個跨小鑰奇偶校驗9位元的第j個位元的值，k_i,j代表第i個小鑰中的第j個位元的值，j為從0至8的任意整數。當第i個跨小鑰奇偶校驗9位元中的每個位元等於第i行中的相應位元的加總(或者互斥或運算的結果)時，代表第i行的小鑰及小鑰內奇偶校驗位元和第i個跨小鑰奇偶校驗9位元之間是匹配的。否則，代表兩者間不匹配。

從一個方面來說，AES編碼電路510和冗餘密鑰產生電路570是獨立且並行運行的，兩者之間不會進行資料和訊息交換。冗餘密鑰產生電路570使用冗餘密鑰更新演算法來產生預測冗餘資料，而冗餘密鑰更新演算法是從AES加密演算法中的AES密鑰排程推導出來的，使得AES編碼電路510產生的回合密鑰和冗餘密鑰產生電路570預測的冗餘資料能夠在產生回合密鑰過程中的每個特定中間點，在沒有發生錯誤的情況下，都能維持指定的數學關係。

雖然圖5將AES編碼電路510、錯誤偵測電路530、冗餘資料產生電路550和冗餘密鑰產生電路570以不同方塊表示，但這只是為了讓讀者容易理解，所屬技術領域人員可在實際實現時，將AES編碼電路510、錯誤偵測電路530、冗餘資料產生電路550和冗餘密鑰產生電路570以適當的方式整合在一起，本發明並不因此局限。

從另一個方面來說，參考圖8，本發明實施例提出在AES編碼器137中設置AES資料處理電路(AES Data Processing Circuitry)810和AES密鑰排程電路(AES Key Schedule Circuitry)830。AES密鑰排程電路830包含密鑰產生電路833，用於完成如圖3所示的擴展密鑰步驟S350。控制器870發出控制訊號給AES密鑰排程電路830，用於驅動AES密鑰排程電路830根據基礎密鑰K₀或者之前的回合密鑰K_i-2產生新的回合密鑰，並且輸出指定回合的回合密鑰K_i及其相應的冗餘資料(例如，小鑰內奇偶校驗位元R和跨小鑰奇偶校驗9位元V)給AES資料處理電路810。AES密鑰排程電路830包含密鑰錯誤檢查電路835，設置以計算出相應於每個回合密鑰的冗餘資料；並且在擴展密鑰過程中的指定中間點發現任何回合密鑰和相應冗餘資料不匹配時，發出錯誤訊號ERR_KEY=1。回合密鑰可切分為16個小鑰且組織為4x4位元組陣列，每個小鑰為1位元組；冗餘資料包含相應於每個小鑰的小鑰內奇偶校驗位元，和相應於每個行的跨小鑰奇偶校驗9位元。密鑰錯誤檢查電路835在擴展密鑰過程中的指定中間點發現任何小鑰不匹配於相應小鑰內奇偶校驗位元時，或者發現相應於任何行的小鑰加上4個相應小鑰內奇偶校驗位元，不匹配於相應跨小鑰奇偶校驗9位元時，發出錯誤訊號ERR_KEY=1。

AES資料處理電路810包含編碼電路813，設置以實現如圖3所示的AES演算法中的替代位元組步驟S310、位移列步驟S320、混合行步驟S330和加上回合密鑰步驟S340。AES演算法包含多個回合，並且在每個回合中用於使用回合密鑰對明文或者中間加密結果進行編碼。控制器870發出控制訊號給AES資料處理電路810，用於驅動AES資料處理電路810來安排上述步驟的執行順序，以符合AES演算法的回合設置。AES資料處理電路810包含編碼錯誤檢查電路815，設置以計算出相應於明文或者中間加密結果的冗餘資料；在加密過程中的指定中間點發現中間加密結果和冗餘資料之間不匹配時，發出編碼錯誤訊號ERR_ENC=1。明文可切分為16個體且組織為4x4陣列，每個體為1位元組，冗餘資料包含相應於每個體的體內奇偶校驗位元，和相應於明文中的每個行的跨體奇偶校驗9位元。編碼錯誤檢查電路815在加密過程中的指定時間點發現任何所述體的中間加密結果不匹配於相應體內奇偶校驗位元時，或者發現相應於明文中的任何行的中間加密結果加上4個相應體內奇偶校驗位元，不匹配於相應跨體奇偶校驗9位元時，發出編碼錯誤訊號ERR_ENC=1。

或閘850耦接編碼錯誤檢查電路815和密鑰錯誤檢查電路835的輸出端。當編碼錯誤檢查電路815輸出編碼錯誤訊號ERR_ENC=1和/或密鑰錯誤檢查電路835輸出密鑰錯誤訊號ERR_KEY=1時，或閘850輸出AES錯誤訊號ERR_AES=1給處理單元134。

參考圖9所示的AES資料處理電路810的方塊圖。資料寄存器912用於儲存在AES加密過程中產生的16位元組(也就是128比特)的中間或者最終結果，而奇偶校驗碼寄存器(Parity Registers)914用於儲存在AES加密過程中產生的相應於16位元組的中間或者最終結果的體內奇偶校驗位元和跨體奇偶校驗9位元。位移列電路(Shift-row Circuitry)930用於執行如如圖3所示的位移列的步驟S320，並且其結構為所屬技術領域人員所公知，為求簡明不再贅述。混合行電路 (Mix-column Circuitry)940用於執行如如圖3所示的混合行的步驟S330，並且其結構為所屬技術領域人員所公知，為求簡明不再贅述。加上回合密鑰電路(Add-round-key Circuitry)950用於執行如如圖3所示的加上回合密鑰的步驟S340，並且其結構為所屬技術領域人員所公知，為求簡明不再贅述。

控制器870可在每個回合發出選擇訊號R_sel給多工器980和奇偶校驗預測電路(Parity Prediction Circuitry)970，用於控制流經指定電路的資料流。多工器980包含三個輸入端I₀、I₁及I₂和一個輸出端O。輸入端I₀耦接AES編碼器137的輸入腳位以接收16位元組的明文，輸入端I₁耦接混合行電路940的輸出以接收16位元組的運算結果，輸入端I₂耦接位移列電路930的輸出以接收16位元組的運算結果，輸出端O耦接加上回合密鑰電路950的輸入。詳細來說，在初始回合，控制器870可使用控制訊號R_sel控制多工器980將輸入端I₀連接上輸出端O，使得從AES編碼器137的輸入腳位接收到的16位元組的明文S能夠饋入加上回合密鑰電路950。在中間回合(例如使用256位元密鑰的第1至第13回合)，控制器870可使用控制訊號R_sel控制多工器980將輸入端I₁連接上輸出端O，使得混合行電路940的輸出能夠饋入加上回合密鑰電路950。在最終回合(例如使用256位元密鑰的第14回合)，控制器870可使用控制訊號R_sel控制多工器980將輸入端I₂連接上輸出端O，使得位移列電路930的輸出能夠饋入加上回合密鑰電路950。此外，在初始回合，控制器870可使用控制訊號R_sel控制奇偶校驗預測電路970，讓從AES編碼器137的輸入腳位接收到的16位元組的明文S能夠饋入奇偶校驗預測電路970，用於產生相應於明文的體內奇偶校驗位元P和跨體奇偶校驗9位元Q。在中間和最終回合，控制器870可使用控制訊號R_sel控制奇偶校驗預測電路970，讓增強型替代位元組電路920的輸出能夠饋入奇偶校驗預測電路970，用於產生相應於中間加密結果的體內奇偶校驗位元P和跨體奇偶校驗9位元Q。

參考圖10所示的奇偶校驗預測電路970的方塊圖。奇偶校驗預測電路970包含體內奇偶校驗位元預測電路(In-state Parity-bit Prediction Circuitry)1010和跨體奇偶校驗9位元預測電路(Across-state Parity-9-bit Prediction Circuitry)1030。體內奇偶校驗位元預測電路1010依據控制訊號R_sel選擇輸入明文S(相應於初始回合)或者中間加密結果S’(相應於中間或者最終回合)，並且根據明文S/中間加密結果S’和小鑰內奇偶校驗位元R產生體內奇偶校驗位元P。跨體奇偶校驗9位元預測電路1030依據控制訊號R_sel選擇輸入明文S(相應於初始回合)或者中間加密結果S’(相應於中間或者最終回合)，並且根據明文S/中間加密結果S’和跨小鑰奇偶校驗9位元V產生跨體奇偶校驗9位元Q。

參考圖11所示的體內奇偶校驗位元預測電路1010的方塊圖。控制器870可在每個回合發出選擇訊號R_sel給多工器1140和體內奇偶校驗位元產生電路1110，用於控制流經指定電路的資料流。多工器1140包含三個輸入端I₀、I₁及I₂和一個輸出端O。輸入端I₀耦接體內奇偶校驗位元產生電路1110的輸出以接收相應於明文的16位元的體內奇偶校驗碼，輸入端I₁耦接混合行預測電路1130的輸出以接收16位元的運算結果，輸入端I₂耦接位移列預測電路1120的輸出以接收16位元的運算結果，輸出端O耦接加上回合密鑰預測電路1150的輸入。詳細來說，在初始回合，控制器870可使用控制訊號R_sel驅動體內奇偶校驗位元產生電路1110從AES編碼器137的輸入腳位接收16位元組的明文，並且控制多工器1140將輸入端I₀連接上輸出端O，使得從體內奇偶校驗位元產生電路1110的輸出所接收到的相應於明文S的16位元的體內奇偶校驗碼能夠饋入加上回合密鑰預測電路1150。在中間回合(例如使用256位元密鑰的第1至第13回合)，控制器870可使用控制訊號R_sel驅動體內奇偶校驗位元產生電路1110從資料寄存器912獲取16位元組的中間加密結果S’，並且控制多工器1140將輸入端I₁連接上輸出端O，使得從混合行預測電路1130的輸出所接收到的相應於中間加密結果S’的16位元的體內奇偶校驗碼能夠饋入加上回合密鑰預測電路1150。在最終回合(例如使用256位元密鑰的第14回合)，控制器870可使用控制訊號R_sel驅動體內奇偶校驗位元產生電路1110從資料寄存器912獲取16位元組的中間加密結果S’，並且控制多工器1140將輸入端I₂連接上輸出端O，使得從位移列預測電路1120的輸出所接收到的相應於中間加密結果S’的16位元的體內奇偶校驗碼能夠饋入加上回合密鑰預測電路1150。

參考圖12所示的體內奇偶校驗位元產生電路1110的方塊圖。控制器870可在每個回合發出選擇訊號R_sel給多工器1210，用於控制流經指定電路的資料流。多工器1210包含兩個輸入端I₀及I₁和一個輸出端O。詳細來說，在初始回合，控制器870可使用控制訊號R_sel控制多工器1210將輸入端I₀連接上輸出端O，使得從AES編碼器137的輸入腳位所接收到的16位元組的明文S能夠饋入體內互斥或閘1230。在中間和最終回合(例如使用256位元密鑰的第1至第14回合)，控制器870可使用控制訊號R_sel控制多工器1210將輸入端I₁連接上輸出端O，使得從資料寄存器912獲取16位元組的中間加密結果S’能夠饋入體內互斥或閘1230。體內互斥或閘1230包含多個互斥或閘，安排以依據接收到的16位元組的明文S或者中間加密結果S’，產生如圖6所示的體內奇偶校驗位元P₀至P₁₅。

參考回圖11，明文S或中間加密結果S’組織為4x4個體的陣列。位移列電路1160用於將下面三列的每一者向左循環位移指定步數。舉例來說，明文S表示如下：

位移列電路1160用於將第一列向左循環位移一個體，將第二列向左循環位移兩個體，以及將第三列向左循環位移三個體。位移結果如下所示：

相應於明文S或中間加密結果S’的體內奇偶校驗位元組織為4x4個位元的陣列。位移列預測電路1120用於將下面三列的每一者向左循環位移指定步數。舉例來說，相應於明文S的體內奇偶校驗位元表示如下：

位移列預測電路1120用於將第一列向左循環位移一個位元，將第二列向左循環位移兩個位元，以及將第三列向左循環位移三個位元。位移結果如下所示：

混合行預測電路1130耦接位移列預測電路1120和位移列電路1160的輸出，使用所屬技術領域人員所習知的16個公式，每個公式加總位移後的明文S或中間加密結果S’的4x4位元組陣列以及位移後的體內奇偶校驗位元的4x4位元陣列中指定部分的值，產生混合後的體內奇偶校驗位元的矩陣中的指定的值。

加上回合密鑰預測電路1150使用以下公式計算體內奇偶校驗位元的加密後結果：P^(out) _i=P⁽ⁱⁿ⁾ _i+R_i P^(out) _i代表輸出的第i個體的體內奇偶校驗位元，P⁽ⁱⁿ⁾ _i代表輸入的第i個體的體內奇偶校驗位元，R_i代表第i個小鑰內奇偶校驗位元，i為從0至15的任意整數。需要注意的是，此時P⁽ⁱⁿ⁾ _i和P^(out) _i所對應到的矩陣中的位置指的是混合行預測電路1130所輸出矩陣中的位置，不是對應到體內奇偶校驗位元產生電路1110所輸出矩陣中的位置。

參考圖13所示的跨體奇偶校驗9位元預測電路1030的方塊圖。控制器870可在每個回合發出選擇訊號R_sel給跨體奇偶校驗位元組產生電路1310，用於控制跨體奇偶校驗位元組產生電路1310輸入的資料流。詳細來說，在初始回合，控制器870可使用控制訊號R_sel驅動跨體奇偶校驗位元組產生電路1310從AES編碼器137的輸入腳位接收16位元組的明文，使得跨體奇偶校驗位元組產生電路1310依據明文S的16位元組產生跨體奇偶校驗位元組。在中間回合(例如使用256位元密鑰的第1至第13回合)或者最終回合(例如使用256位元密鑰的第14回合)，控制器870可使用控制訊號R_sel驅動跨體奇偶校驗位元組產生電路1310從資料寄存器912獲取16位元組的中間加密結果S’，使得跨體奇偶校驗位元組產生電路1310依據中間加密結果S’的16位元組產生跨體奇偶校驗位元組。

跨體奇偶校驗位元組產生電路1310包含多個互斥或閘，在初始回合安排以依據接收到的16位元組的明文S，完成如圖6所示的跨體奇偶校驗位元組(不包含相應於體內奇偶校驗位元的第8位元)Q_0,0..7至Q_3,0..7。在中間回合或者最終回合安排以依據接收到的16位元組的中間加密結果S’，並且使用以下公式計算跨體奇偶校驗位元組(不包含相應於體內奇偶校驗位元的第8位元)Q_0,0..7至Q_3,0..7：Q _0,j=S' _0,j+S' _5,j+S' _10,j+S' _15,j ,for j=0~7

Q _1,j=S' _4,j+S' _9,j+S' _14,j+S' _3,j ,for j=0~7

Q _2,j=S' _8,j+S' _13,j+S' _2,j+S' _7,j ,for j=0~7

Q _3,j=S' _12,j+S' _1,j+S' _6,j+S' _11,j ,for j=0~7 Q_0,j到Q_3,j分別代表第0個到第3個跨體奇偶校驗位元組的第j個位元的值，S’_0,j到S’_15,j分別代表相應於第0個到第15個中間加密結果中的第j個位元的值。

跨小鑰奇偶校驗位元組分割電路(Across-subkey Parity-byte Split Circuitry)1330移除每個跨小鑰奇偶校驗9位元的第8個位元，成為跨小鑰奇偶校驗位元組，並且將跨小鑰奇偶校驗位元組饋入跨體奇偶校驗位元組預測電路1350。

跨體奇偶校驗位元組預測電路1350使用以下公式計算每個跨體奇偶校驗位元組的預測結果：

Q^(out) _0,j代表輸出的第0個跨體奇偶校驗位元組的第j個位元的值，Q^(out) _1,j代表輸出的第1個跨體奇偶校驗位元組的第j個位元的值，Q^(out) _2,j代表輸出的第2個跨體奇偶校驗位元組的第j個位元的值，Q^(out) _3,j代表輸出的第3個跨體奇偶校驗位元組的第j個位元的值，Q⁽ⁱⁿ⁾ _i,j代表輸入的第i個跨體奇偶校驗位元組的第j個位元的值，V_i,j代表第i個跨小鑰奇偶校驗位元組中的第j個位元的值。

跨體奇偶校驗1位元預測電路1370使用以下公式計算每個跨體奇偶校驗9位元的第8個位元的預測結果：

Q_0,8代表第0個行的跨體奇偶校驗9位元的第8個位元的值，Q_1,8代表第1個行的跨體奇偶校驗9位元的第8個位元的值，Q_2,8代表第2個行的跨體奇偶校驗9位元的第8個位元的值，Q_3,8代表第3個行的跨體奇偶校驗9位元的第8個位元的值，P_i,8代表相應於第i個體的體內奇偶校驗位元(也就是第8個位元)的值。

跨體奇偶校驗9位元合併電路(Across-state Parity-9-bit Concatenation Circuitry)1390將每個從跨體奇偶校驗位元組預測電路1350輸出的跨體奇偶校驗位元組，附加上從跨體奇偶校驗1位元預測電路1370輸出的相應第8個位元，成為完整的跨體奇偶校驗9位元。

參考回圖9，奇偶校驗檢查電路(Parity Check Circuitry)960檢查上一回合的執行結果是否發生錯誤。奇偶校驗檢查電路960從資料寄存器912獲取中間加密結果S’，以及從奇偶校驗碼寄存器914獲取相應於中間加密結果S’的體內奇偶校驗位元P和跨體奇偶校驗9位元Q。奇偶校驗檢查電路960判斷中間的加密結果S’和體內奇偶校驗位元P之間是否匹配，如果不匹配，則發出線性錯誤訊號err_L=1給處理單元134，使得處理單元134執行任何因應AES加密錯誤的管理程序。奇偶校驗檢查電路960還判斷中間的加密結果S’、中間的體內奇偶校驗位元P和跨體奇偶校驗9位元Q之間是否匹配，如果不匹配，則發出線性錯誤訊號err_L=1給處理單元134。

增強型替代位元組電路(Enhanced Substitute-byte Circuitry)920除了完成演算法中的替代位元組步驟S310之外，也要檢查此步驟的執行結果是否正確。參考圖14所示的增強型替代位元組電路920的方塊圖。跨體奇偶校驗位元組分割電路1410從資料寄存器912獲取128位元的中間結果S’，切分為16個位元組，並且將這16個位元組分別饋入增強型查表電路1430#0至1430#15。增強型查表電路1430#0至 1430#15中的每一個完成替代位元組步驟S310，並且判斷此操作是否正確。如果增強型查表電路1430#0至1430#15中的任何一個發現此操作錯誤，則輸出非線性錯誤訊號err_nl_i=1，i為0到15的正整數。只要任何一個增強型查表電路輸出非線性錯誤訊號err_nl_i，則增強型替代位元組電路920輸出非線性錯誤訊號err_nL=1給處理單元134，使得處理單元134執行任何因應AES加密錯誤的管理程序。跨體奇偶校驗位元組合併電路1450搜集增強型查表電路1430#0至1430#15的查表結果，並且將轉換後的128位元輸出到位移列電路930。

在一些實施例中，參考圖15所示的增強型查表電路1430#i的方塊圖，i為0到15的正整數。搜索電路1510依據如上所述的查找表將輸入的1個位元組S’⁽ⁱⁿ⁾轉換出1個位元組S’^(out)。替代校驗電路(Substitution Check Circuitry)1530從搜索電路1510接收轉換後的1個位元組S’^(out)，並且使用相應於查找表的公式判斷S’⁽ⁱⁿ⁾轉換到S’^(out)的過程中是否發生錯誤。如果發現錯誤，則替代校驗電路1530輸出非線性錯誤訊號err_nl_i=1。

參考圖16所示的替代校驗電路1530的方塊圖。計算電路1610從搜索電路1510獲取轉換後的位元組S’^(out) _i，計算Affine(S’^(out) _i)^-1，Affine()^-1代表Affine轉換的反函數，並且將計算結果輸出到乘法器1630和比較器1650。乘法器1630將S’⁽ⁱⁿ⁾ _i乘上Affine(S’^(out) _i)^-1以產生S’^(mul) _i。比較器1650實施以下邏輯運算式來產生判斷結果：err_nl_i=0,if(S’^(mul) _i==1)&&(S’⁽ⁿ⁾ _i！=0)&&(Affine(S’^(out) _i)^-1！=0)

err_nl_i=0,if(S’^(mul) _i==0)&&(S’⁽ⁱⁿ⁾ _i==0)&&(Affine(S’^(out) _i)^-1==0)

err_nl_i=1,otherwise當err_nl_i等於1時，代表發生非線性錯誤訊號。

在另一些實施例中，步驟S310可以使用8轉K位元查找表(8-to-K S-box)，將每個體的值替換為另一個值，其中，K為10到15之間的正整數。查找表中的每個單元格(Cell)的最高8位元使用以下公式建立：SB_i=Affine((i)^-1)SB_i代表i的輸出結果，Affine()代表Affine轉換函數，i為從0到127的正整數。查找表中的每個單元格的其他位元為漢明奇偶校驗碼(Hamming Parity)，這K-8個位元依據相應最高8位元分別使用K-8個不同的公式來產生。參考圖22所示的增強型查表電路1430#i的方塊圖，i為0到15的正整數。舉例來說，搜索電路2210依據8轉14位元查找表將輸入的1個位元組S’⁽ⁱⁿ⁾轉換出1個位元組S’^(out)和6個位元的漢明奇偶校驗碼Hm。替代校驗電路2230從搜索電路2210接收轉換後的1個位元組S’^(out)和6個位元的漢明奇偶校驗碼Hm，並且使用相應於查找表的6個公式判斷S’⁽ⁱⁿ⁾轉換到S’^(out)的過程中是否發生錯誤。如果發現錯誤，則替代校驗電路1530輸出非線性錯誤訊號err_nl_i=1。

以下舉兩個範例來說明替代校驗電路2230的運行。在第一個範例中，參考圖23所示的8轉14位元查找表2300。為了方便說明，8轉14位元查找表2300中的每個單元格包含4個16進位數字，但是第1至第0位元為虛假值，永遠為“0b00”。實際運行時，搜索電路2210只會轉出14位元的結果。舉例來說，理論上，搜索電路2210根據8轉14位元查找表2300，會將位元組S’⁽ⁱⁿ⁾“0b00000000”轉換為14位元“0b01100011010111”(圖23中的16進位表示為“0x635C”)，將位元組S’⁽ⁱⁿ⁾“0b00000001”轉換為14位元“0b01111100110001”(圖23中的16進位表示為“0x7CC8”)，依此類推，其中，轉換後的第13至第6位元為最高位元組，相符於如上所述的公式，轉換後的第5至第0位元為漢明奇偶校驗碼。如果轉換的過程中發生錯誤，替代校驗電路2230發現轉換後的最高位元組(也就是第13至第6位元)S’^(out)和轉換後的第5至第0位元的漢明奇偶校驗碼Hm之間不匹配。

因應圖23的8轉14位元查找表2300，替代校驗電路2230可依據轉換後的最高位元組S’^(out)，使用以下6個公式分別對漢明奇偶校驗碼Hm 中的6個位元進行檢查：Hm₅==S’^(out) ₇+S’^(out) ₆+S’^(out) ₅+S’^(out) ₄+S’^(out) ₃+S’^(out) ₂+S’^(out) ₁+S’^(out) ₀

Hm₄==S’^(out) ₇+S’^(out) ₄+S’^(out) ₀

Hm₃==S’^(out) ₆+S’^(out) ₅+S’^(out) ₁+S’^(out) ₀

Hm₂==S’^(out) ₄+S’^(out) ₂+S’^(out) ₁

Hm₁==S’^(out) ₅+S’^(out) ₃+S’^(out) ₂

Hm₀==S’^(out) ₇+S’^(out) ₆+S’^(out) ₃其中，Hm₅至Hm₀分別代表漢明奇偶校驗碼中的第5至第0個位元，S’^(out) ₇至S’^(out) ₀分別代表轉換後的最高位元組的第7至第0個位元。當替代校驗電路2230偵測到任何一個或以上的公式不成立時，判定轉換後的最高位元組S’^(out)和轉換後的漢明奇偶校驗碼Hm之間不匹配，發現錯誤。

在第二個範例中，參考圖24所示的8轉14位元查找表2400。為了方便說明，8轉14位元查找表2400中的每個單元格包含4個16進位數字，但是第1至第0位元為虛假值，永遠為“0b00”。同樣的，實際運行時，搜索電路2210只會轉出14位元的結果。舉例來說，理論上，搜索電路2210根據8轉14位元查找表2400，會將位元組S’⁽ⁱⁿ⁾“0b00000000”轉換為14位元“0b01100011011000”(圖24中的16進位表示為“0x6360”)，將位元組S’⁽ⁱⁿ⁾“0b00000001”轉換為14位元“0b01111100110001”(圖24中的16進位表示為“0x7CC8”)，依此類推，其中，轉換後的第13至第6位元同樣相符於如上所述的公式，轉換後的第5至第0位元為漢明奇偶校驗碼。如果轉換的過程中發生錯誤，替代校驗電路2230發現轉換後的最高位元組(也就是第13至第6位元)S’^(out)和轉換後的第5至第0位元的漢明奇偶校驗碼Hm之間不匹配。

因應圖24的8轉14位元查找表2400，替代校驗電路2230可依據轉換後的最高位元組S’^(out)，使用以下6個公式分別對漢明奇偶校驗碼Hm 中的6個位元進行檢查：Hm₅==S’^(out) ₇+S’^(out) ₆+S’^(out) ₅+S’^(out) ₄+S’^(out) ₃+S’^(out) ₂+S’^(out) ₁+S’^(out) ₀

Hm₄==S’^(out) ₇+S’^(out) ₄+S’^(out) ₀

Hm₃==S’^(out) ₅+S’^(out) ₂+S’^(out) ₁+S’^(out) ₀

Hm₂==S’^(out) ₆+S’^(out) ₄+S’^(out) ₁

Hm₁==S’^(out) ₆+S’^(out) ₅+S’^(out) ₃

Hm₀==S’^(out) ₇+S’^(out) ₃+S’^(out) ₂其中，Hm₅至Hm₀分別代表漢明奇偶校驗碼中的第5至第0個位元，S’^(out) ₇至S’^(out) ₀分別代表轉換後的最高位元組的第7至第0個位元。當替代校驗電路2230偵測到任何一個或以上的公式不成立時，判定轉換後的最高位元組S’^(out)和轉換後的漢明奇偶校驗碼Hm之間不匹配，發現錯誤。

資料寄存器912、搜索電路1510、位移列電路930、混合行電路940、多工器980和加上回合密鑰電路950可視為AES編碼電路。奇偶校驗碼寄存器914、替代校驗電路1530、奇偶校驗檢查電路960和奇偶校驗預測電路970可視為錯誤檢查電路。

參考圖17所示的AES密鑰排程電路830的方塊圖。密鑰分割電路1750將256位元的基礎密鑰K₀切分為2個密鑰K#0和K#1，每個鑰字的長度為128位元，相同於一個體的長度。密鑰奇偶校驗碼產生電路(Key Parity Generation Circuitry)1742包含多個互斥或閘，安排以依據接收到的密鑰K#0，產生如圖7所示的小鑰內奇偶校驗位元R₀至R₁₅(可統稱為R#0)，以及跨小鑰奇偶校驗9位元V₀至V₃(可統稱為V#0)，並且將小鑰內奇偶校驗位元R#0和跨小鑰奇偶校驗9位元V#0儲存到寄存器1752。密鑰奇偶校驗碼產生電路1744包含多個互斥或閘，安排以依據接收到的密鑰K#1，產生如圖7所示的小鑰內奇偶校驗位元R₁₆至R₃₁(可統稱為R#1)，以及跨小鑰奇偶校驗9位元V₄至V₇(可統稱為V#1)，並且將小鑰內奇偶校驗位元R#1和跨小鑰奇偶校驗9位元V#1儲存到寄存器1754。寄存器1752和1754又可稱為目前周期奇偶校驗寄存器(Current Cycle Parity Registers)。

密鑰奇偶校驗檢查電路(Key Parity Check Circuitry)1762和1764分別檢查密鑰K#0和K#1的產生是否發生錯誤。密鑰奇偶校驗檢查電路1762從密鑰分割電路1750獲取密鑰K#0，以及從寄存器1752獲取相應於密鑰K#0的小鑰內奇偶校驗位元R#0和跨小鑰奇偶校驗9位元V#0。密鑰奇偶校驗檢查電路1762判斷密鑰K#0和小鑰內奇偶校驗位元R#0之間是否匹配，如果不匹配，則發出密鑰錯誤訊號err_kc=1。密鑰奇偶校驗檢查電路1762還判斷密鑰K#0、小鑰內奇偶校驗位元R#0和跨小鑰奇偶校驗9位元V#0之間是否匹配，如果不匹配，則發出密鑰錯誤訊號err_kc=1。密鑰奇偶校驗檢查電路1764從密鑰分割電路1750獲取密鑰K#1，以及從寄存器1754獲取相應於密鑰K#1的小鑰內奇偶校驗位元R#1和跨小鑰奇偶校驗9位元V#1。密鑰奇偶校驗檢查電路1764判斷密鑰K#1和小鑰內奇偶校驗位元R#1之間是否匹配，如果不匹配，則發出密鑰錯誤訊號err_kd=1。密鑰奇偶校驗檢查電路1764還判斷密鑰K#1、小鑰內奇偶校驗位元R#1和跨小鑰奇偶校驗9位元V#1之間是否匹配，如果不匹配，則發出密鑰錯誤訊號err_kd=1。密鑰錯誤訊號err_kc=1或者err_kd=1可觸發處理單元134執行任何因應AES密鑰錯誤的管理程序。

密鑰分割電路1710將256位元的基礎密鑰K₀切分為8個鑰字(Word)W_0,0至W_0,3和W_1,0至W_1,3，每個鑰字的長度為4個位元組，並且將8個鑰字儲存在寄存器1712。鑰字處理電路1720根據最後一個鑰字W_1,3產生一個鑰字的中間運算結果，此運算結果被用來和第一個鑰字W_0,0進行逐位元邏輯互斥或運算(Bitwise Logical XOR Operation)，以產生密鑰K#2的第一個鑰字W_2,0。除了產生中間運算結果以外，鑰字處理電路1720還可以檢查中間運算結果的產生過程是否發生錯誤。如果是，則鑰字處理電路1720輸出密鑰錯誤訊號err_ka=1。密鑰錯誤訊號err_ka=1可觸發處理單元134執行任何因應AES密鑰錯誤的管理程序。

參考圖18所示的鑰字處理電路1720的方塊圖。鑰字分割電路1810從寄存器1712讀取最後一個鑰字W_1,3，並且切分為4個小鑰，每個小鑰為1位元組。旋轉鑰字電路(Rotate-Word Circuitry)1820將這4個小鑰向左循環位移1個小鑰。替代鑰字電路(Substitute-Word Circuitry)1830根據查找表(又可稱為Rijndael S-box)將每個位移後小鑰的值替換為另一個值，其中的查找表使用以下公式建立：SB_i=Affine((i)^-1),for i=0~127 SB_i代表i的輸出結果，Affine()代表Affine轉換函數，i為從0到127的正整數。替代鑰字電路1830除了完成每個輸入位元組的值的轉換之外，也要檢查轉換的執行結果是否正確。

參考圖19所示的替代鑰字電路1830的方塊圖。增強型查表電路1930#0至1930#3中的每一個完成相應位元組的值的替換操作，並且判斷此操作是否正確。如果增強型查表電路1930#0至1930#3中的任何一個發現此操作錯誤，則輸出查表錯誤訊號err_w_i=1，i為0到3的正整數。只要任何一個增強型查表電路輸出查表錯誤訊號err_w_i，則替代鑰字電路1830輸出密鑰錯誤訊號err_ka=1給處理單元134，使得處理單元134執行任何因應AES加密錯誤的管理程序。由於增強型查表電路1930#0至1930#3中的任一個的電路結構、功能和操作細節類似於增強型查表電路1430#i，所以讀者可參考圖15、圖16、圖22至圖24的描述，為求簡明不再贅述。

參考回圖18，捨去常數電路(Round-Constant Circuitry)1840將鑰字w#0⁽ⁱⁿ⁾和常數C執行逐位元互斥或(XOR)操作。參考圖20所示的捨去常數電路1840的示意圖。XOR閘2010設置將鑰字w#0⁽ⁱⁿ⁾的每個位元和常數C的相應位元執行邏輯互斥或操作。

鑰字合併電路(Word Concatenation Circuitry)1850從捨去常數電路 1840獲取4個小鑰w#0至w#3，合併小鑰w#0至w#3為完整的鑰字W^(out)，並且輸出鑰字W^(out)至互斥或閘1725。

鑰字奇偶校驗產生電路(Word Parity Generation Circuitry)1860包含小鑰內奇偶校驗產生電路和跨小鑰奇偶校驗產生電路。小鑰內奇偶校驗產生電路包含多個互斥或閘，安排以依據從替代鑰字電路1830接收到的小鑰w#0至w#3，產生4個小鑰內奇偶校驗位元rt1₀至rt1₃。跨小鑰奇偶校驗產生電路包含多個互斥或閘，安排以依據從替代鑰字電路1830接收到的小鑰w#0至w#3，產生1個跨小鑰奇偶校驗位元組vt1_0..7。

鑰字奇偶校驗預測電路(Word Parity Prediction Circuitry)1870包含小鑰內奇偶校驗預測電路和跨小鑰奇偶校驗預測電路。小鑰內奇偶校驗預測電路使用以下公式預測小鑰內奇偶校驗位元rt1₀ ^(out)，並且輸出到鑰字跨奇偶校驗預測電路(Word Cross-parity Prediction Circuit)1880和密鑰奇偶校驗預測電路(Key Parity Prediction Circuit)1772：

rt1₀ ^(out)代表計算後的第0個小鑰內奇偶校驗位元，rt1₀ ⁽ⁱⁿ⁾代表從鑰字奇偶校驗產生電路1860接收到的第0個小鑰內奇偶校驗位元，C_i代表捨去常數電路1840中使用的常數C中的第i個位元。此外，小鑰內奇偶校驗預測電路直接輸出從鑰字奇偶校驗產生電路1860接收到的小鑰內奇偶校驗位元rt1₁至rt1₃到鑰字跨奇偶校驗預測電路1880和密鑰奇偶校驗預測電路1772。跨小鑰奇偶校驗預測電路使用以下公式預測跨小鑰奇偶校驗位元組，並且輸出到鑰字奇偶校驗9位元合併電路(Word Parity 9-bit Concatenation Circuit)1890：vt1_0..7 ^(out)=vt1_0..7 ⁽ⁱⁿ⁾+C vt1_0..7 ^(out)代表輸出的跨小鑰奇偶校驗位元組，vt1_0..7 ⁽ⁱⁿ⁾代表從鑰字奇偶校驗產生電路1860接收到的跨小鑰奇偶校驗位元組，C代表捨去常數電路1840中使用的常數。

鑰字跨奇偶校驗預測電路1880使用以下公式計算跨小鑰奇偶校驗9位元vt的最後一個位元：

vt1₈代表跨小鑰奇偶校驗9位元vt的最後一個位元，rt1_i代表第i個小鑰內奇偶校驗位元。

鑰字奇偶校驗9位元合併電路1890將鑰字奇偶校驗預測電路1870的計算結果vt1_0..7合併上鑰字跨奇偶校驗預測電路1880的計算結果vt1₈，成為跨鑰字奇偶校驗9位元vt1_0..8，並且輸出到密鑰奇偶校驗電路1772。

參考回圖17，鑰字處理電路1730根據互斥或閘1727的運算結果(也就是鑰字W_2,3)產生一個鑰字的中間運算結果，此運算結果被用來和鑰字W_1,0進行逐位元邏輯互斥或運算，以產生密鑰K#3的第一個鑰字W_3,0。除了產生中間運算結果以外，鑰字處理電路1730還可以檢查中間運算結果的產生過程是否發生錯誤。如果是，則鑰字處理電路1730輸出密鑰錯誤訊號err_kb=1。密鑰錯誤訊號err_kb=1可觸發處理單元134執行任何因應AES密鑰錯誤的管理程序。

參考圖21所示的鑰字處理電路1730的方塊圖。鑰字分割電路2110從互斥或閘1727讀取運算結果(也就是鑰字W_2,3)，並且切分為4個位元組。替代鑰字電路2130根據查找表將每個位元組的值替換為另一個值，其中的查找表使用以下公式建立：SB_i=Affine((i)^-1),for i=0~127 SB_i代表i的輸出結果，Affine()代表Affine轉換函數，i為從0到127的正整數。替代鑰字電路2130除了完成每個輸入位元組的值的轉換之外，也要檢查轉換的執行結果是否正確。由於替代鑰字電路2130的電路結構、功能和運算結果類似於替代鑰字電路1830，所以讀者可參考圖15、圖16、圖19和圖22的描述，為求簡明不再贅述。只要替代鑰字電路2130中的任何一個增強型查表電路輸出查表錯誤訊號err_w_i，則替代鑰字電路2130輸出密鑰錯誤訊號err_kb=1給處理單元134，使得處理單元134執行任何因應AES加密錯誤的管理程序。

鑰字合併電路2150從替代鑰字電路2130獲取替代後的4個小鑰w#0至w#3，合併小鑰w#0至w#3為完整的鑰字W^(out)，並且輸出鑰字W^(out)至互斥或閘1729。

鑰字奇偶校驗產生電路2160包含小鑰內奇偶校驗產生電路和跨小鑰奇偶校驗產生電路。小鑰內奇偶校驗產生電路包含多個互斥或閘，安排以依據從替代鑰字電路2130接收到的小鑰w#0至w#3，產生相應於小鑰w#0至w#3的四個小鑰內奇偶校驗位元rt2₀至rt2₃。這四個小鑰內奇偶校驗位元rt2₀至rt2₃輸出至鑰字跨奇偶校驗預測電路2180和密鑰奇偶校驗預測電路1774。跨小鑰奇偶校驗產生電路包含多個互斥或閘，安排以依據從替代鑰字電路2130接收到的小鑰w#0至w#3，產生相應於小鑰w#0至w#3的一個跨小鑰奇偶校驗位元組vt2_0..7(也就是缺少跨小鑰奇偶校驗9位元vt2中的第8個位元)。這個跨小鑰奇偶校驗位元組vt2_0..7輸出至鑰字奇偶校驗9位元合併電路2190。

鑰字跨奇偶校驗預測電路2180使用以下公式計算相應於小鑰w#0至w#3的跨小鑰奇偶校驗9位元的最後一個位元：

vt2₈代表相應於小鑰w#0至w#3的一個跨小鑰奇偶校驗9位元的最後一個位元，rt2_i代表相應於小鑰w#i的小鑰內奇偶校驗位元。

鑰字奇偶校驗9位元合併電路2190將鑰字奇偶校驗產生電路2160的計算結果vt2_0..7合併上鑰字跨奇偶校驗預測電路2180的計算結果vt2₈，作為跨鑰字奇偶校驗9位元vt2_0..8，並且輸出到密鑰奇偶校驗預測電路1774。

參考回圖17，密鑰奇偶校驗預測電路(Key Parity Prediction Circuitry)1772包含多個加法器，安排以使用以下公式計算出相應於密鑰K#2 的小鑰內奇偶校驗位元R#2₀至R#2₁₅：R#2_i=rt1_i+R#0_i,for i=0~3

R#2_i=R#2_i-4+R#0_i,for i=4~15 R#2_i代表相應於密鑰K#2的第i個小鑰內奇偶校驗位元，rt1_i代表從鑰字處理電路1720獲取的第i個小鑰內奇偶校驗位元，R#0_i代表從寄存器1752讀取的相應於密鑰K#0的第i個小鑰內奇偶校驗位元，R#2_i-4代表從寄存器1752讀取的相應於密鑰K#2的第i-4個小鑰內奇偶校驗位元。密鑰奇偶校驗預測電路1772另包含多個加法器，安排以使用以下公式計算出相應於密鑰K#2的跨小鑰奇偶校驗9位元V#2₀至V#2₃：V#2_i=vt1+V#0_i,for i=0

V#2_i=V#2_i-1+V#0_i,for i=1~3 V#2_i代表相應於密鑰K#2的第i個跨小鑰奇偶校驗9位元，vt1代表從鑰字處理電路1720獲取的跨小鑰奇偶校驗9位元，V#0_i代表從寄存器1752讀取的相應於密鑰K#0的第i個跨小鑰奇偶校驗9位元，V#2_i-1代表從寄存器1752讀取的相應於密鑰K#2的第i-1個跨小鑰奇偶校驗9位元。密鑰奇偶校驗預測電路1772將預測結果R#2、V#2儲存到寄存器1782，用於在下一個迭代中讓密鑰奇偶校驗檢查電路1762進行檢查。

密鑰奇偶校驗預測電路1774包含多個加法器，安排以使用以下公式計算出相應於密鑰K#3的小鑰內奇偶校驗位元R#3₀至R#3₁₅：R#3_i=rt2_i+R#1_i,for i=0~3

R#3_i=R#3_i-4+R#1_i,for i=4~15 R#3_i代表相應於密鑰K#3的第i個小鑰內奇偶校驗位元，rt2_i代表從鑰字處理電路1730獲取的第i個小鑰內奇偶校驗位元，R#1_i代表從寄存器1754讀取的相應於密鑰K#1的第i個小鑰內奇偶校驗位元，R#3_i-4代表從寄存器1754讀取的相應於密鑰K#3的第i-4個小鑰內奇偶校驗位元。密鑰奇偶校驗預測電路1774另包含多個加法器，安排以使用以下公式計算出相應於密鑰K#3的跨小鑰奇偶校驗9位元V#3₀至V#3₃：V#3_i=vt2+V#1_i,for i=0

V#3_i=V#3_i-1+V#1_i,for i=1~3 V#3_i代表相應於密鑰K#3的第i個跨小鑰奇偶校驗9位元，vt2代表從鑰字處理電路1730獲取的跨小鑰奇偶校驗9位元，V#1_i代表從寄存器1754讀取的相應於密鑰K#1的第i個跨小鑰奇偶校驗9位元，V#3_i-1代表從寄存器1754讀取的相應於密鑰K#3的第i-1個跨小鑰奇偶校驗9位元。密鑰奇偶校驗預測電路1774將預測結果R#3、V#3儲存到寄存器1784，用於在下一個迭代中讓密鑰奇偶校驗檢查電路1764進行檢查。

雖然圖17只描述了密鑰K#2和K#3的產生及其產生過程的錯誤偵測，但是因為密鑰K#2和K#3就是產生密鑰K#4和K#5時所使用的密鑰(也就是下一個迭代所使用的密鑰)，依此類推，所屬技術領域人員可參考以上的技術內容推導出其他回合密鑰的產生及其產生過程的錯誤偵測。

在一些實施例中，寄存器1712和1714可為實體上不同的寄存器。在另一些實施例中，寄存器1712和1714可指相同寄存器，但在指定的時間順序上依序儲存基礎密鑰和後續產生的回合密鑰。

在一些實施例中，寄存器1752和1782可為實體上不同的寄存器。在另一些實施例中，寄存器1752和1782可指相同寄存器，但在指定的時間順序上依序儲存第一個小鑰內奇偶校驗位元R#0和跨小鑰奇偶校驗9位元V#0，以及後續產生的小鑰內奇偶校驗位元和跨小鑰奇偶校驗9位元。

在一些實施例中，寄存器1754和1784可為實體上不同的寄存器。在另一些實施例中，寄存器1754和1784可指相同寄存器，但在指定的時間順序上依序儲存第二個小鑰內奇偶校驗位元R#1和跨小鑰奇偶校驗9位元V#1，以及後續產生的小鑰內奇偶校驗位元和跨小鑰奇偶校驗9位元。

雖然圖1至圖2、圖5、圖8至圖22中包含了以上描述的元件，但不排除在不違反發明的精神下，使用更多其他的附加元件，以達成更佳的技術效果。

雖然本發明使用以上實施例進行說明，但需要注意的是，這些描述並非用以限縮本發明。相反地，此發明涵蓋了熟習此技藝人士顯而易見的修改與相似設置。所以，申請權利要求範圍須以最寬廣的方式解釋來包含所有顯而易見的修改與相似設置。

1430#i:增強型查表電路

2210:搜索電路

2230:替代校驗電路

Claims

一種資料加密的錯誤偵測裝置，包含：搜索電路，設置以依據8轉K位元查找表將輸入的相應於明文或者中間加密結果的1個位元組的第一值轉換為K位元的第二值，其中，K為10到15之間的正整數，以及所述第二值包含K-8個位元的漢明奇偶校驗碼；以及替代校驗電路，耦接所述搜索電路，設置以使用相應於所述8轉K位元查找表的公式，判斷所述第一值轉換為所述第二值的過程中是否發生錯誤，以及當發現錯誤時，發出錯誤訊號，其中，所述公式的數目為K-8。
如請求項1所述的資料加密的錯誤偵測裝置，其中，所述8轉K位元查找表中的每個單元格中的最高8位元使用以下公式建立：SB_i=Affine((i)^-1)SB_i代表i的輸出結果，Affine()代表Affine轉換函數，i為從0到127的正整數。
如請求項1所述的資料加密的錯誤偵測裝置，其中，K為14。
如請求項3所述的資料加密的錯誤偵測裝置，其中，所述替代校驗電路，設置以依據所述第二值中的最高位元組使用以下6個公式對所述第二值中的所述漢明奇偶校驗碼進行檢查：Hm₅==S’^(out) ₇+S’^(out) ₆+S’^(out) ₅+S’^(out) ₄+S’^(out) ₃+S’^(out) ₂+S’^(out) ₁+S’^(out) ₀ Hm₄==S’^(out) ₇+S’^(out) ₄+S’^(out) ₀ Hm₃==S’^(out) ₆+S’^(out) ₅+S’^(out) ₁+S’^(out) ₀ Hm₂==S’^(out) ₄+S’^(out) ₂+S’^(out) ₁ Hm₁==S’^(out) ₅+S’^(out) ₃+S’^(out) ₂ Hm₀==S’^(out) ₇+S’^(out) ₆+S’^(out) ₃其中，Hm₅至Hm₀分別代表所述漢明奇偶校驗碼中的第5至第0個位元，S’^(out) ₇至S’^(out) ₀分別代表所述第二值中的所述最高位元組的第7至第0個位元；以及當偵測到任何一個或以上的所述公式不成立時，發出所述錯誤訊號。
如請求項3所述的資料加密的錯誤偵測裝置，其中，所述替代校驗電路，設置以依據所述第二值中的最高位元組使用以下6個公式對所述第二值中的所述漢明奇偶校驗碼進行檢查：Hm₅==S’^(out) ₇+S’^(out) ₆+S’^(out) ₅+S’^(out) ₄+S’^(out) ₃+S’^(out) ₂+S’^(out) ₁+S’^(out) ₀ Hm₄==S’^(out) ₇+S’^(out) ₄+S’^(out) ₀ Hm₃==S’^(out) ₅+S’^(out) ₂+S’^(out) ₁+S’^(out) ₀ Hm₂==S’^(out) ₆+S’^(out) ₄+S’^(out) ₁ Hm₁==S’^(out) ₆+S’^(out) ₅+S’^(out) ₃ Hm₀==S’^(out) ₇+S’^(out) ₃+S’^(out) ₂其中，Hm₅至Hm₀分別代表所述漢明奇偶校驗碼中的第5至第0個位元，S’^(out) ₇至S’^(out) ₀分別代表所述第二值中的所述最高位元組的第7至第0個位元；以及當偵測到任何一個或以上的所述公式不成立時，發出所述錯誤訊號。
如請求項1所述的資料加密的錯誤偵測裝置，其中，所述搜索電路設置以完成高級加密標準演算法中的替代位元組操作。
一種資料加密的錯誤偵測裝置，包含：搜索電路，設置以依據8轉K位元查找表將輸入的相應於回合密鑰的1個位元組的第一值轉換為K位元的第二值，其中，K為10到15之間的正整數，以及所述第二值包含K-8個位元的漢明奇偶校驗碼；以及替代校驗電路，耦接所述搜索電路，設置以使用相應於所述8轉K位元查找表的公式，判斷所述第一值轉換為所述第二值的過程中是否發生錯誤，以及當發現錯誤時，發出錯誤訊號，其中，所述公式的數目為K-8。
如請求項7所述的資料加密的錯誤偵測裝置，其中，所述8轉K位元查找表中的每個單元格中的最高8位元使用以下公式建立：SB_i=Affine((i)^-1)SB_i代表i的輸出結果，Affine()代表Affine轉換函數，i為從0到127的正整數。
如請求項7所述的資料加密的錯誤偵測裝置，其中，K為14。
如請求項9所述的資料加密的錯誤偵測裝置，其中，所述替代校驗電路，設置以依據所述第二值中的最高位元組使用以下6個公式對所述第二值中的所述漢明奇偶校驗碼進行檢查：Hm₅==S’^(out) ₇+S’^(out) ₆+S’^(out) ₅+S’^(out) ₄+S’^(out) ₃+S’^(out) ₂+S’^(out) ₁+S’^(out) ₀ Hm₄==S’^(out) ₇+S’^(out) ₄+S’^(out) ₀ Hm₃==S’^(out) ₆+S’^(out) ₅+S’^(out) ₁+S’^(out) ₀ Hm₂==S’^(out) ₄+S’^(out) ₂+S’^(out) ₁ Hm₁==S’^(out) ₅+S’^(out) ₃+S’^(out) ₂ Hm₀==S’^(out) ₇+S’^(out) ₆+S’^(out) ₃其中，Hm₅至Hm₀分別代表所述漢明奇偶校驗碼中的第5至第0個位元，S’^(out) ₇至S’^(out) ₀分別代表所述第二值中的所述最高位元組的第7至第0個位元；以及當偵測到任何一個或以上的所述公式不成立時，發出所述錯誤訊號。
如請求項9所述的資料加密的錯誤偵測裝置，其中，所述替代校驗電路，設置以依據所述第二值中的最高位元組使用以下6個公式對所述第二值中的所述漢明奇偶校驗碼進行檢查：Hm₅==S’^(out) ₇+S’^(out) ₆+S’^(out) ₅+S’^(out) ₄+S’^(out) ₃+S’^(out) ₂+S’^(out) ₁+S’^(out) ₀ Hm₄==S’^(out) ₇+S’^(out) ₄+S’^(out) ₀ Hm₃==S’^(out) ₅+S’^(out) ₂+S’^(out) ₁+S’^(out) ₀ Hm₂==S’^(out) ₆+S’^(out) ₄+S’^(out) ₁ Hm₁==S’^(out) ₆+S’^(out) ₅+S’^(out) ₃ Hm₀==S’^(out) ₇+S’^(out) ₃+S’^(out) ₂其中，Hm₅至Hm₀分別代表所述漢明奇偶校驗碼中的第5至第0個位元，S’^(out) ₇至S’^(out) ₀分別代表所述第二值中的所述最高位元組的第7至第0個位元；以及當偵測到任何一個或以上的所述公式不成立時，發出所述錯誤訊號。
如請求項7所述的資料加密的錯誤偵測裝置，其中，所述搜索電路設置以完成高級加密標準演算法中的替代鑰字操作。