TWI833466B - 觸控裝置的觸控感測訊號的調整方法 - Google Patents

Abstract

本發明提供一種觸控裝置的觸控感測訊號的調整方法。調整方法包括：依據觸控裝置的設計來確定觸控感測訊號的基頻以及多個諧波，並確定觸控感測訊號的脈波的平坦區的時間長度；設定脈波的上升斜波以及下降斜波，並將上升斜波、平坦區以及下降斜波組合成觸控感測訊號；測量觸控感測訊號在觸控裝置的電磁干擾結果；以及當電磁干擾結果不符合觸控裝置的預設電磁干擾規範時，調整脈波的上升斜波以及下降斜波。

Description

觸控裝置的觸控感測訊號的調整方法

本發明是有關於一種觸控裝置的技術領域，且特別是有關於一種觸控裝置的觸控感測訊號的調整方法。

觸控裝置會利用觸控感測訊號來進行觸控裝置上的觸控點或觸控軌跡的感測操作。現行的觸控感測訊號例如包括方波、三角波或梯形脈波等固定波形。觸控感測訊號的甩動（swing）會產生電磁干擾（Electromagnetic Interference，EMI）。基於不同的應用，觸控裝置可能有特定的EMI規範。然而，基於觸控裝置的設計，觸控感測訊號會使觸控裝置產生不同頻率的諧波干擾。這樣的諧波干擾可能會干擾觸控裝置內的元件（如顯示模組）或周邊裝置。因此，如何提供一種觸控感測訊號的調整方法以降低觸控裝置的諧波干擾，以符合不同觸控裝置的EMI規範，是本領域技術人員的研究重點之一。

本發明提供一種觸控裝置的觸控感測訊號的調整方法，能夠降低觸控裝置的諧波干擾。

本發明的觸控裝置的觸控感測訊號的調整方法包括：依據觸控裝置的設計來確定觸控感測訊號的基頻以及多個諧波，並確定觸控感測訊號的脈波的平坦區的時間長度；依據所述多個諧波來設定脈波的上升斜波以及下降斜波，並將上升斜波、平坦區以及下降斜波組合成觸控感測訊號；測量觸控感測訊號在觸控裝置的電磁干擾結果；以及當電磁干擾結果不符合觸控裝置的預設電磁干擾規範時，調整脈波的上升斜波以及下降斜波。

基於上述，本發明的調整方法依據所述多個諧波來設定脈波的上升斜波以及下降斜波並產生觸控感測訊號。此外，當電磁干擾結果不符合觸控裝置的預設電磁干擾規範時，脈波的上升斜波以及下降斜波被調整。調整方法是基於基頻、所述多個諧波以及預設電磁干擾規範來設定或調整觸控感測訊號的波形。如此一來，基於觸控裝置的需求，觸控感測訊號所造成的諧波干擾能夠被抑制。

為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

本發明的部份實施例接下來將會配合附圖來詳細描述，以下的描述所引用的元件符號，當不同附圖出現相同的元件符號將視為相同或相似的元件。這些實施例只是本發明的一部份，並未揭示所有本發明的可實施方式。更確切的說，這些實施例只是本發明的專利申請範圍中的範例。

請同時參考圖1以及圖2，圖1是依據本發明一實施例所繪示的調整系統的示意圖。圖2是依據本發明第一實施例所繪示的調整方法的流程圖。在本實施例中，調整方法S100例如適用於調整系統100。調整系統100用於調整出觸控裝置TD所適用的觸控感測訊號ST。在本實施例中，調整方法S100包括步驟S110~S150。在步驟S110中，調整系統100依據觸控裝置TD的設計來確定觸控感測訊號ST的基頻BF以及諧波HW1~HWn，並確定觸控感測訊號ST的脈波PW的平坦區PL的時間長度。在本實施例中，調整系統100包括控制器110以及感測器120。控制器110會依據觸控裝置TD的設計獲得觸控感測訊號。因此，控制器110例如獲知觸控裝置TD所需的觸控感測訊號ST的基頻BF。在獲知基頻BF的情況下，諧波HW1~HWn也會被獲知。諧波HW1~HWn的頻率分別等於所述基頻的不同整數倍。舉例來說，觸控裝置TD是車用觸控顯示面板。觸控感測訊號ST的基頻BF是25kHz。諧波HW1是基頻BF的三次諧波。諧波HW2是基頻BF的五次諧波，依此類推。因此，諧波HW1的頻率是75kHz。諧波HW2的頻率是125kHz。此外，控制器110例如獲知觸控裝置TD的觸控面板的電路阻抗、電容以及電路響應速度來確定出脈波PW的平坦區PL的時間長度。電路阻抗以及電容會影響到觸控裝置TD的觸控面板的電路響應速度。因此，脈波PW的平坦區PL的時間長度會負相關於觸控裝置TD的觸控面板的電路響應速度。基於電路響應速度，實際平坦區PL的時間長度可以是大於或等於0。

在步驟S120中，調整系統100依據諧波HW1~HWn來設定脈波PW的上升斜波RS以及下降斜波DS。調整系統100將上升斜波RS、平坦區PL以及下降斜波DS組合成觸控感測訊號ST。在本實施例中，上升斜波RS以及下降斜波DS的不同斜率會抑制諧波HW1~HWn的對應一者的強度。因此，當諧波HW1~HWn的頻率被確定，控制器110會設定用於抑制諧波HW1~HWn的至少其中之一強度的上升斜波RS的至少一上升斜率以及下降斜波DS的至少一下降斜率。此外，在上升斜波RS的至少一上升斜率以及下降斜波DS的至少一下降斜率被設定完成後，控制器110會將上升斜波RS、平坦區PL以及下降斜波DS組合成觸控感測訊號ST。在本實施例中，平坦區PL緊接於上升斜波RS之後。下降斜波DS緊接於平坦區PL之後。

在步驟S130中，調整系統100測量觸控感測訊號ST在觸控裝置TD的電磁干擾結果REMI。在本實施例中，控制器110將觸控感測訊號ST提供至觸控裝置TD。感測器120接收觸控裝置TD反應於觸控感測訊號ST而產生的電磁干擾結果REMI。此外，感測器120將電磁干擾結果REMI提供至控制器110。

在步驟S140中，控制器110會判斷電磁干擾結果REMI是否符合觸控裝置TD的預設電磁干擾規範DE。當電磁干擾結果REMI不符合預設電磁干擾規範DE時，這表示諧波HW1~HWn的至少其中之一的強度大於預設電磁干擾規範DE所制定的強度。因此，控制器110會在步驟S150中調整脈波PW的上升斜波RS以及下降斜波DS。

在另一方面，當電磁干擾結果REMI符合預設電磁干擾規範DE時，這表示諧波HW1~HWn的強度都小於預設電磁干擾規範DE所制定的強度。因此，調整方法S100結束。

在此值得一提的是，調整方法S100依據諧波HW1~HWn來設定脈波PW的上升斜波RS以及下降斜波DS並產生觸控感測訊號ST。當電磁干擾結果REMI不符合觸控裝置TD的預設電磁干擾規範DE時，脈波PW的上升斜波RS以及下降斜波DS被調整。調整方法S100是基於基頻BF、諧波HW1~HWn及預設電磁干擾規範DE來設定或調整觸控感測訊號ST的波形。如此一來，基於觸控裝置TD的需求，觸控感測訊號ST所造成的諧波干擾能夠被抑制。

在本實施例中，觸控裝置TD可以是應用於各種不同系統或電子裝置的觸控顯示裝置或觸控板、觸控筆、指紋辨識。基於不同的應用，預設電磁干擾規範DE也會不同。因此，需要被抑制的諧波HW1~HWn也會不同。

在一些實施例中，控制器110以及感測器120的至少其中之一可內建於觸控裝置TD中。舉例來說，控制器110可以被設置在觸控顯示（Touch and Display Driver Integration，TDDI）晶片或觸控驅動單元中，感測器120可以被設置於在觸控顯示晶片或觸控驅動單元外。

請同時參考圖1以及圖3，圖3是依據本發明第二實施例所繪示的調整方法的流程圖。在本實施例中，調整方法S200包括步驟S210~S260。本實施例的觸控裝置TD是觸控顯示裝置。步驟S210、S220的實施細節已經在圖1以及圖2的實施例中清楚說明，故不在此重述。在步驟S230中，感測器120測量觸控裝置TD的觸控顯示晶片在觸控感應期間的電磁干擾結果REMI。

在步驟S240中，控制器110會判斷電磁干擾結果REMI是否符合觸控裝置TD的預設電磁干擾規範DE。當電磁干擾結果REMI不符合預設電磁干擾規範DE時，控制器110會在步驟S250中調整脈波PW的上升斜波RS以及下降斜波DS。

在另一方面，當電磁干擾結果REMI符合預設電磁干擾規範DE時，感測器120會在步驟S260中進一步測量觸控裝置TD在整機環境下的電磁干擾結果。步驟S260的操作以及後續的上升斜波RS以及下降斜波DS的調整的實施方式相似於調整方法S100的步驟S140、S150的操作，故不在此重述。

下文將進一步說明觸控感測訊號ST的不同態樣。

請參考圖4A，圖4A是依據本發明一實施例所繪示的具有第一脈波的觸控感測訊號的波形示意圖。在本實施例中，觸控感測訊號ST1在觸控感應期間TT1、TT2具有第一脈波PW1。第一脈波PW1包括上升斜波RS、平坦區PL以及下降斜波DS。第一脈波PW1的上升斜波RS是第一弦波。第一脈波PW1的下降斜波DS是第二弦波。以本實施例為例，第一正脈波PW1的上升斜波RS是第一正弦波。第一正脈波PW1的下降斜波DS是第二正弦波。進一步來說，第一正弦波的角度範圍A1大於 -90°並且小於90°。第二正弦波的角度範圍A2大於90°並且小於270°。舉例來說，第一脈波PW1會從角度-80°開始，第一脈波PW1例如到達80°時並進入平坦區PL。上升斜波RS會例如從角度100°開始，並且例如到達260°時結束。也就是說，第一脈波PW1在大於80°並且小於100°的角度範圍被箝制為平坦區PL。

在本實施例中，時間區間TB位於觸控感應期間TT1、TT2之間。時間區間TB是觸控感測訊號ST1不被提供的期間。時間區間TB例如是顯示期間。在一些實施例中，時間區間TB可以被忽略。

請參考圖4B，圖4B是依據本發明一實施例所繪示的具有第一脈波的觸控感測訊號的另一波形示意圖。在本實施例中，觸控感測訊號ST1在觸控感應期間TT1、TT2具有第一脈波PW1。第一脈波PW1包括上升斜波RS、平坦區PL以及下降斜波DS。以本實施例為例，第一脈波PW1的上升斜波RS是第一餘弦波。第一脈波PW1的下降斜波DS是第二餘弦波。進一步來說，第一餘弦波的角度範圍A3大於等於-180°並且小於等於0°。第二餘弦波的角度範圍A4大於等於0°並且小於等於180°。舉例來說，第一脈波PW1會從角度-180°開始，第一脈波PW1例如到達0°時並進入平坦區PL。下降斜波DS會例如從角度0°開始，並且例如到達180°時進入另一平坦區。

請參考圖5A，圖5A是依據本發明一實施例所繪示的具有第二脈波的觸控感測訊號的波形示意圖。在本實施例中，觸控感測訊號ST2在觸控感應期間TT1、TT2具有第二脈波PW2。第二脈波PW2包括上升斜波RS、平坦區PL以及下降斜波DS。第二脈波PW2的上升斜波RS具有第一斜率S1~S3。第一斜率S1被稱為第一段斜率。第一斜率S2被稱為第二段斜率。第一斜率S3被稱為第三段斜率。在時序上，第一斜率S2位於第一斜率S1、S3之間。第二脈波PW2的下降斜波DS具有第二斜率S4~S6。第二斜率S4被稱為第四段斜率。第二斜率S5被稱為第五段斜率。第二斜率S6被稱為第六段斜率。在時序上，第二斜率S5位於第二斜率S4、S6之間。第一斜率S1~S3分別是大於0的斜率。第一斜率S1~S3不完全相同。在本實施例中，第一斜率S2不同於第一斜率S1、S3。第二斜率S4~S6分別是小於0的斜率。第二斜率S4~S6不完全相同。在本實施例中，第二斜率S5不同於第二斜率S4、S6。舉例來說，第一斜率S2大於第一斜率S1、S3。第二斜率S5的絕對值大於第二斜率S4、S6的絕對值。此外，第一斜率S1大致上等於第二斜率S4的絕對值。第一斜率S2大致上等於第二斜率S5的絕對值。第一斜率S3大致上等於第二斜率S6的絕對值。

為了便於說明，本實施例以三個第一斜率S1~S3以及三個第二斜率S4~S6來示例。然本發明並不以第一斜率的數量以及第二斜率的數量為限。本發明的第一斜率的數量以及第二斜率的數量可以是多個。

請參考圖5B，圖5B是依據本發明一實施例所繪示的具有第二脈波的觸控感測訊號的另一波形示意圖。在本實施例中，觸控感測訊號ST2在觸控感應期間TT1、TT2具有第二脈波PW2。第二脈波PW2包括上升斜波RS、平坦區PL以及下降斜波DS。第二脈波PW2的上升斜波RS具有第一斜率S1~S3。第二脈波PW2的下降斜波DS具有第二斜率S4~S6。第一斜率S1~S3分別是大於0的斜率。第一斜率S1~S3不完全相同。第二斜率S4~S6分別是小於0的斜率。第二斜率S4~S6不完全相同。舉例來說，在本實施例中，第一斜率S2小於第一斜率S1、S3。第二斜率S5的絕對值小於第二斜率S4、S6的絕對值。

請同時參考圖1以及圖6。在本實施例中，圖6是依據本發明一實施例所繪示的梯形脈波、第一脈波以及第二脈波的響應比較圖。圖6示出了梯形脈波PWT、第一脈波PW1、第二脈波PW2的波形圖以及梯形脈波PWT、第一脈波PW1、第二脈波PW2的響應結果。梯形脈波PWT、第一脈波PW1、第二脈波PW2的波形圖的縱軸是電壓值。電壓值的單位是伏特（volt）。波形圖的橫軸是時間t。時間t的單位是秒。梯形脈波PWT、第一脈波PW1、第二脈波PW2的響應結果的縱軸是強度I。強度I的單位是分貝（dB）。響應結果的橫軸是頻率f。頻率f的單位是kHz。

第一脈波PW1以及第二脈波PW2的波形已經在圖4A、4B、5A、5B詳細說明，故不在此重述。在本實施例中，圖6示出了基頻BF以及多個諧波。所述多個諧波至少包括基頻BF的三次諧波HW1以及基頻BF的五次諧波HW2。在本實施例中，基頻BF例如是25kHz。三次諧波HW1是75kHz。五次諧波HW2是125kHz。觸控裝置TD基於具有第一脈波PW1的觸控感測訊號ST的電磁干擾產生三次諧波HW1的第一三次諧波強度（約-34.11dB）以及五次諧波HW2的第一五次諧波強度（約-35.57dB）。觸控裝置TD基於具有梯形脈波PWT的觸控感測訊號ST的電磁干擾產生三次諧波HW1的第三三次諧波強度（約-17.19dB）以及五次諧波HW2的第三五次諧波強度（約-28.07dB）。第一三次諧波強度小於第三三次諧波強度。第一五次諧波強度小於第三五次諧波強度。換言之，具有第一脈波PW1的觸控感測訊號ST能夠抑制三次諧波HW1以及五次諧波HW2。

觸控裝置TD基於具有第二脈波PW2的觸控感測訊號ST的電磁干擾產生三次諧波HW1的第二三次諧波強度（約-47.20dB）以及五次諧波HW2的第二五次諧波強度（約-34.75dB）。第二三次諧波強度小於第三三次諧波強度。第二五次諧波強度小於第三五次諧波強度。換言之，具有第二脈波PW2的觸控感測訊號ST也能夠抑制三次諧波HW1以及五次諧波HW2。

此外，基於不同的預設電磁干擾規範DE，第一脈波PW1以及第二脈波PW2的其中之一能夠被選用。舉例來說，預設電磁干擾規範DE指示出三次諧波強度小於-20dB。因此，第一脈波PW1以及第二脈波PW2的其中之一都可以被選用。另舉例來說，預設電磁干擾規範DE指示出三次諧波強度小於-40dB。因此，第二脈波PW2可以被選用。

請同時參考圖1、圖2以及圖6。在本實施例中，控制器110在步驟S120中將脈波PW設定為第一脈波PW1以及第二脈波PW2的其中之一。控制器110在步驟S150中調整在步驟S120中所設定的脈波PW的上升斜波RS以及下降斜波DS，或將脈波PW設定為第一脈波PW1以及第二脈波PW2的其中另一。

請同時參考圖1、圖6以及圖7，圖7是依據本發明第三實施例所繪示的調整方法的流程圖。在本實施例中，調整方法S300包括步驟S310~S350。相似於步驟S110，調整系統100在步驟S310中依據觸控裝置TD的設計來確定觸控感測訊號ST的基頻BF以及諧波HW1~HWn並確定觸控感測訊號ST的脈波PW的平坦區PL的時間長度。進一步來說，步驟S310包括步驟S311、S312。控制器110在步驟S311中依據預設電磁干擾規範來確定觸控感測訊號ST的基頻BF以及諧波HW1~HWn。控制器110在步驟S312中依據觸控裝置TD的反應速度來確定觸控感測訊號ST的脈波PW的平坦區PL的時間長度。

在本實施例中，控制器110在步驟S320中優先選用第一脈波PW1。第一脈波PW1的平坦區PL的時間長度是在步驟S312中被確定出的時間長度。在本實施例中，由於第二脈波PW2的波形相較於第一脈波PW1的波形會有較明顯的電壓轉折。較明顯的電壓轉折會在高頻帶中產生會有較大的諧波強度。因此，在調整的初期，控制器110會優先選用第一脈波PW1。

在步驟S330中，感測器120測量觸控感測訊號ST在觸控裝置TD的電磁干擾結果REMI。感測器120還將電磁干擾結果REMI提供至控制器110。

在步驟S340中，控制器110會判斷電磁干擾結果REMI是否符合觸控裝置TD的預設電磁干擾規範DE。當電磁干擾結果REMI不符合預設電磁干擾規範DE時，這表示諧波HW1~HWn的至少其中之一的強度大於預設電磁干擾規範DE所制定的強度。因此，控制器110會在步驟S350中調整第一脈波PW1的波形。

步驟S350包括步驟S351、S352。在步驟S351中，控制器110分析並模擬觸控感測訊號的頻率響應來取得最佳化的多個第一斜率（如圖5A、5B所示的第一斜率S1~S3）以及多個第二斜率（如圖5A、5B所示的第二斜率S4~S6）。在步驟S352中，控制器110選用最佳化的多個第一斜率以及多個第二斜率以產生第二脈波PW2。換言之，控制器110在步驟S350中會將脈波PW設定為第二脈波PW2。

進一步來說明步驟S351的實施方式。請參考圖8，圖8是依據本發明一實施例所繪示的不同脈波的示意圖。在本實施例中，圖8示出具有不同上升斜波以及下降斜波的脈波PWA~PWH。脈波PWA~PWH的上升斜波以及下降斜波彼此不同。

脈波PWA的上升斜波以及下降斜波具有最小的斜率的絕對值。脈波PWA例如是三角波。脈波PWB的上升斜波以及下降斜波的斜率的絕對值大於脈波PWA的上升斜波以及下降斜波的斜率的絕對值。脈波PWB例如是梯形波。脈波PWC的上升斜波以及下降斜波的斜率的絕對值大於脈波PWB的上升斜波以及下降斜波的斜率的絕對值。依此類推。脈波PWH的上升斜波以及下降斜波具有最大的斜率。脈波PWH例如是方波。

應注意的是，具有不同斜率的脈波能夠抑制特定的諧波。請同時參考圖8以及表1。表1示出脈波PWA~PWH對諧波進行抑制的結果。在表1中的數值分別以“dB”為單位。基頻BF是25KHz。三次諧波的頻率是75KHz。五次諧波的頻率是125KHz。五次諧波的頻率是175KHz。

表1：

頻率	PWA	PWB	PWC	PWD	PWE	PWF	PWG	PWH
基頻	2.01	2.5	3.48	3.79	4.26	4.99	5.68	5.69
三次諧波	-17.08	-16.92	-19.78	-22.95	-59.75	-14.92	-5.75	-3.64
五次諧波	-25.95	-26.51	-124.6	-31.82	-23.65	-22.97	-14.62	-8.07
七次諧波	-31.80	-33.50	-34.50	-30.01	-29.59	-28.81	-28.12	-11.0

在表1中，脈波PWE具有最佳的三次諧波的抑制效果。脈波PWC具有最佳的五次諧波的抑制效果。不同斜率能夠有效抑制不同倍數的諧波，因此，具有多段斜率的脈波能夠更有彈性地分配各諧波的抑制效果，並能依需求符合不同電磁干擾規範要求。

綜上所述，本發明的調整方法依據所述多個諧波來設定脈波的上升斜波以及下降斜波並產生觸控感測訊號。此外，當電磁干擾結果不符合觸控裝置的預設電磁干擾規範時，脈波的上升斜波以及下降斜波被調整。本發明的調整方法是基於基頻、所述多個諧波以及預設電磁干擾規範來設定或調整觸控感測訊號的波形。基於觸控裝置的設計與需求，觸控感測訊號所造成的諧波干擾能夠被抑制。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

100:調整系統

110:控制器

120:感測器

A1~A4:角度範圍

BF:基頻

DE:預設電磁干擾規範

DS:下降斜波

HW1~HWn:諧波

I:強度

PL:平坦區

PW1:第一脈波

PW2:第二脈波

PWA~PWH:脈波

PWT:梯形脈波

REMI:電磁干擾結果

RS:上升斜波

S1~S3:第一斜率

S100、S200、S300:調整方法

S110~S150:步驟

S210~S260:步驟

S310、S311、S312、S320、S330、S340、S350、S351、S352:步驟

S4~S6:第二斜率

ST:觸控感測訊號

t:時間

TB:時間區間

TD:觸控裝置

TT1、TT2:觸控感應期間

V:電壓

圖1是依據本發明一實施例所繪示的調整系統的示意圖。 圖2是依據本發明第一實施例所繪示的調整方法的流程圖。 圖3是依據本發明第二實施例所繪示的調整方法的流程圖。 圖4A是依據本發明一實施例所繪示的具有第一脈波的觸控感測訊號的波形示意圖。 圖4B是依據本發明一實施例所繪示的具有第一脈波的觸控感測訊號的另一波形示意圖。 圖5A是依據本發明一實施例所繪示的具有第二脈波的觸控感測訊號的波形示意圖。 圖5B是依據本發明一實施例所繪示的具有第二脈波的觸控感測訊號的另一波形示意圖。 圖6是依據本發明一實施例所繪示的梯形脈波、第一脈波以及第二脈波的響應比較圖。 圖7是依據本發明第三實施例所繪示的調整方法的流程圖。 圖8是依據本發明一實施例所繪示的不同脈波的示意圖。

S100:調整方法

S110~S150:步驟

Claims (18)

1. 一種觸控裝置的觸控感測訊號的調整方法，包括：依據所述觸控裝置的設計來確定所述觸控感測訊號的基頻以及多個諧波，並依據所述觸控裝置的反應速度來確定所述觸控感測訊號的脈波的平坦區的時間長度；依據所述多個諧波來設定所述脈波的上升斜波以及下降斜波，並將所述上升斜波、所述平坦區以及所述下降斜波組合成所述觸控感測訊號；測量所述觸控感測訊號在所述觸控裝置的電磁干擾結果；以及當所述電磁干擾結果不符合所述觸控裝置的預設電磁干擾規範時，調整所述脈波的所述上升斜波以及所述下降斜波。
2. 如請求項1所述的調整方法，其中依據所述觸控裝置的設計來確定所述觸控感測訊號的基頻以及多個諧波，並確定所述觸控感測訊號的所述脈波的所述平坦區的所述時間長度的步驟包括：依據所述預設電磁干擾規範來確定所述觸控感測訊號的基頻以及所述多個諧波。
3. 如請求項1所述的調整方法，其中所述多個諧波的頻率分別等於所述基頻的不同整數倍。
4. 如請求項1所述的調整方法，其中： 所述平坦區緊接於所述上升斜波之後，並且所述下降斜波緊接於所述平坦區之後。
5. 如請求項1所述的調整方法，其中依據所述基頻以及所述多個諧波來設定所述脈波的所述上升斜波以及所述下降斜波，並將所述上升斜波、所述平坦區以及所述下降斜波組合成所述觸控感測訊號的步驟包括：將所述脈波設定為第一脈波以及第二脈波的其中之一，其中所述第一脈波的上升斜波是第一弦波，其中所述第一脈波的下降斜波是第二弦波，其中所述第二脈波的上升斜波具有多個第一斜率，並且其中所述第二脈波的下降斜波具有多個第二斜率。
6. 如請求項5所述的調整方法，其中所述多個第一斜率以及所述多個第二斜率不完全相同。
7. 如請求項5所述的調整方法，其中：所述多個第一斜率包括第一段斜率、第二段斜率以及第三段斜率，所述多個第二斜率包括第四段斜率、第五段斜率以及第六段斜率，所述第二段斜率位於所述第一段斜率與所述第三段斜率之間，並且不同於所述第一段斜率以及所述第三段斜率，並且所述第五段斜率位於所述第四段斜率與所述第六段斜率之間，並且不同於所述第四段斜率以及所述第六段斜率。
8. 如請求項5所述的調整方法，其中：所述上升斜波是第一正弦波，所述下降斜波是第二正弦波，所述第一正弦波的角度範圍大於-90°並且小於90°，並且所述第二正弦波的角度範圍大於90°並且小於270°。
9. 如請求項5所述的調整方法，其中：所述上升斜波是第一餘弦波，所述上升斜波是第二餘弦波，所述第一餘弦波的角度範圍大於等於-180°並且小於等於0°，並且所述第二餘弦波的角度範圍大於等於0°並且小於等於180°。
10. 如請求項9所述的調整方法，其中當到達0°時，所述第一脈波進入所述平坦區。
11. 如請求項5所述的調整方法，其中將所述脈波設定為所述第一脈波以及所述第二脈波的其中之一的步驟包括：將所述脈波優先設定為所述第一脈波，其中所述多個諧波至少包括所述基頻的三次諧波以及所述基頻的五次諧波，並且其中所述觸控裝置基於具有所述第一脈波的所述觸控感測訊號的電磁干擾產生所述三次諧波的第一三次諧波強度以及所述五次諧波的第一五次諧波強度。
12. 如請求項11所述的調整方法，其中所述第一三次諧波強度小於-30dB。
13. 如請求項11所述的調整方法，其中所述第一五次諧波強度小於-30dB。
14. 如請求項11所述的調整方法，其中當所述電磁干擾結果不符合所述觸控裝置的預設電磁干擾規範時，調整所述脈波的所述上升斜波以及所述下降斜波的步驟包括：將所述脈波設定為所述第二脈波。
15. 如請求項14所述的調整方法，其中：所述觸控裝置基於具有所述第二脈波的所述觸控感測訊號的電磁干擾產生所述三次諧波的第二三次諧波強度以及所述五次諧波的第二五次諧波強度，並且其中所述所述第二三次諧波強度小於第一三次諧波強度。
16. 如請求項14所述的調整方法，還包括：分析並模擬所述觸控感測訊號的頻率響應來取得最佳化的所述多個第一斜率以及所述多個第二斜率。
17. 如請求項14所述的調整方法，其中將所述脈波設定為所述第二脈波的步驟包括：選用最佳化的所述多個第一斜率以及所述多個第二斜率以產生所述第二脈波。
18. 如請求項1所述的調整方法，其中所述平坦區的時間長度大於或等於0。

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