TWI829264B - 電子裝置 - Google Patents

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林小郎
蔡宗翰
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群創光電股份有限公司
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Abstract

本揭露提供一種電子裝置，包含第一基板、第二基板、第一導電元件、絕緣層、第一電子元件以及介質結構，第二基板與第一基板相對設置，第一導電元件設置於第一基板上，絕緣層設置於第一導電元件上且具有第一導通孔，第一電子元件設置於絕緣層上並藉由第一導通孔與第一導電元件電性連接，介質結構設置於第一基板與第二基板之間，且介質結構具有第一部分以及第二部分，第一部分與第一導通孔重疊，第二部分鄰近於第一部分，並且，第一部分的厚度大於第二部分的厚度。

Description

電子裝置
本揭露係有關於電子裝置，且特別係有關於具有可改善光學特性的介質結構的電子裝置。
包含顯示面板在內的電子產品，例如平板電腦、筆記型電腦、智慧型手機、顯示器及電視，已成為現代社會不可或缺的必需品。隨著這類便攜式電子產品的蓬勃發展，消費者對這些產品的品質、功能或價格抱有很高的期望。
因應生產成本以及應用產品轉變的需求，用於製造電子裝置(例如，顯示面板)的發光元件的製程技術不斷演進，近年來，由於適合大面積、客製化製造以及製程相對簡單等特性，印刷技術(例如，噴墨印刷(ink-jet printing，IJP))也開始應用於製造發光元件的製程技術。然而，使用印刷技術製造的發光元件有結構的厚度均勻性較差造成光學表現受到影響等問題。
承前述，現存包含顯示面板的電子裝置仍未在各個方面符合需求，因此，發展可進一步改善電子裝置的效能的結構設計仍為目前業界致力研究的課題之一。
根據本揭露一些實施例，提供一種電子裝置，包含第一基板、第二基板、第一導電元件、絕緣層、第一電子元件以及介質結構，第二基板與第一基板相對設置，第一導電元件設置於第一基板上，絕緣層設置於第一導電元件上且具有第一導通孔，第一電子元件設置於絕緣層上並藉由第一導通孔與第一導電元件電性連接，介質結構設置於第一基板與第二基板之間，且介質結構具有第一部分以及第二部分，第一部分與第一導通孔重疊，第二部分鄰近於第一部分，並且，第一部分的厚度大於第二部分的厚度。
為讓本揭露之特徵或優點能更明顯易懂，下文特舉出一些實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。
以下針對本揭露實施例的電子裝置作詳細說明。應了解的是，以下之敘述提供許多不同的實施例，用以實施本揭露一些實施例之不同態樣。以下所述特定的元件及排列方式僅為簡單清楚描述本揭露一些實施例。當然，這些僅用以舉例而非本揭露之限定。此外，在不同實施例中可能使用類似及/或對應的標號標示類似及/或對應的元件，以清楚描述本揭露。然而，這些類似及/或對應的標號的使用僅為了簡單清楚地敘述本揭露一些實施例，不代表所討論之不同實施例及/或結構之間具有任何關連性。
應理解的是，實施例中可能使用相對性用語，例如「較低」或「底部」或「較高」或「頂部」，以描述圖式的一個元件對於另一元件的相對關係。可理解的是，如果將圖式的裝置翻轉使其上下顛倒，則所敘述在「較低」側的元件將會成為在「較高」側的元件。本揭露實施例可配合圖式一併理解，本揭露之圖式亦被視為揭露說明之一部分。應理解的是，本揭露之圖式並未按照比例繪製，事實上，可能任意的放大或縮小元件的尺寸以便清楚表現出本揭露的特徵。
再者，當述及一第一材料層位於一第二材料層上或之上時，可能包含第一材料層與第二材料層直接接觸之情形或第一材料層與第二材料層之間可能不直接接觸，亦即第一材料層與第二材料層之間可能間隔有一或更多其它材料層之情形。但若第一材料層直接位於第二材料層上時，即表示第一材料層與第二材料層直接接觸之情形。
此外，應理解的是，說明書與申請專利範圍中所使用的序數例如「第一」、「第二」等之用詞用以修飾元件，其本身並不意涵及代表該(或該些)元件有任何之前的序數，也不代表某一元件與另一元件的順序、或是製造方法上的順序，該些序數的使用僅用來使具有某命名的元件得以和另一具有相同命名的元件能作出清楚區分。申請專利範圍與說明書中可不使用相同用詞，例如，說明書中的第一元件在申請專利範圍中可能為第二元件。
在本揭露一些實施例中，關於接合、連接之用語例如「連接」、「互連」等，除非特別定義，否則可指兩個結構係直接接觸，或者亦可指兩個結構並非直接接觸，其中有其它結構設於此兩個結構之間。且此關於接合、連接之用語亦可包含兩個結構都可移動，或者兩個結構都固定之情況。此外，用語「電性連接」或「電性耦接」包含任何直接及間接的電性連接手段。
於文中，「約」、「實質上」之用語通常表示在一給定值或範圍的10%內、或5%內、或3%之內、或2%之內、或1%之內、或0.5%之內。用語「範圍介於第一數值及第二數值之間」表示所述範圍包含第一數值、第二數值以及它們之間的其它數值。
應理解的是，以下所舉實施例可以在不脫離本揭露的精神下，可將數個不同實施例中的特徵進行替換、重組、結合以完成其它實施例。各實施例間特徵只要不違背發明精神或相衝突，均可任意混合搭配使用。
除非另外定義，在此使用的全部用語(包含技術及科學用語)具有與本揭露所屬技術領域中具有通常知識者通常理解的相同涵義。能理解的是，這些用語例如在通常使用的字典中定義用語，應被解讀成具有與相關技術及本揭露的背景或上下文一致的意思，而不應以一理想化或過度正式的方式解讀，除非在本揭露實施例有特別定義。
根據本揭露實施例，提供一種電子裝置，其具有特定結構設計的介質結構，可以改善電子裝置的光學表現(例如，提升發光強度)或是整體結構的強度或可靠度。
根據本揭露實施例，電子裝置可包括顯示裝置、背光裝置、感測裝置或拼接裝置，但不以此為限。電子裝置可為可彎折或可撓式電子裝置。顯示裝置可為非自發光型顯示裝置或自發光型顯示裝置。感測裝置可為感測電容、光線、熱能或超聲波的感測裝置，但不以此為限。電子元件可包括被動元件與主動元件，例如電容、電阻、電感、二極體、電晶體等。二極體可包括發光二極體或光電二極體。發光二極體可例如包括有機發光二極體(organic light emitting diode，OLED)、次毫米發光二極體(mini LED)、微發光二極體(micro LED)或量子點發光二極體(quantum dot LED)，但不以此為限。拼接裝置可例如為顯示器拼接裝置或天線拼接裝置，但不以此為限。需注意的是，電子裝置可為前述之任意排列組合，但不以此為限。下文將以顯示裝置作為電子裝置以說明本揭露內容，但本揭露不以此為限。
請參照第1圖，第1圖顯示根據本揭露一些實施例中，電子裝置10的剖面結構示意圖。應理解的是，為了清楚說明，本揭露的圖式中省略電子裝置10的部分元件，僅示意地繪示部分元件。根據一些實施例，可添加額外特徵於以下所述之電子裝置10。根據另一些實施例，以下所述電子裝置10的部分特徵可以被取代或省略。
電子裝置10可包含顯示基板100、彩色濾光基板200以及設置於顯示基板100與彩色濾光基板200之間的介質結構400。顯示基板100可包含第一基板102、電路層104以及電子元件300，電路層104可設置於第一基板102上，電子元件300可設置於電路層104上，並且電子元件300與電路層104電性連接。再者，彩色濾光基板200可包含第二基板202以及彩色濾光層204，第二基板202與第一基板102相對設置，彩色濾光層204設置於第二基板202與介質結構400之間。
第一基板102以及第二基板202可分別作為顯示基板100以及彩色濾光基板200的基底。第一基板102以及第二基板202可包含剛性基板或可撓式基板。根據一些實施例，第一基板102以及第二基板202的材料可包含玻璃、石英、藍寶石(sapphire)、聚醯亞胺(polyimide，PI)、聚碳酸酯(polycarbonate，PC)、聚對苯二甲酸乙二酯(polyethylene terephthalate，PET)、聚二甲基矽氧烷(polydimethylsiloxane，PDMS)其它合適的材料或前述材料之組合，但不限於此。再者，第一基板102的材料可與第二基板202的材料相同或不同。
電路層104可包含驅動電路，驅動電路可包含主動式驅動電路及/或被動式驅動電路。根據一些實施例，驅動電路可包含薄膜電晶體(thin-film transistor，TFT)(例如，開關電晶體、驅動電晶體、重置電晶體、或其它薄膜電晶體)、資料線、掃描線、導電墊、介電層、電容或其它線路等，但不限於此。此外，薄膜電晶體可為上閘極(top gate)薄膜電晶體、下閘極(bottom gate)薄膜電晶體、或雙閘極(dual gate或double gate)薄膜電晶體。薄膜電晶體包含至少一個半導體層，半導體層包含但不限於非晶矽(amorphous silicon)、低溫多晶矽(low-temp polysilicon，LTPS)、金屬氧化物、其它合適的材料、或前述之組合，但不限於此。金屬氧化物可包含銦鎵鋅氧化物(indium gallium zinc oxide，IGZO)、氧化銦鋅(indium zinc oxide，IZO)、銦鎵鋅錫氧化物(indium gallium zinc tin oxide，IGZTO)、其它合適的材料、或前述之組合，但不限於此。
詳細而言，根據一些實施例，電路層104可包含導電元件104a(如第6圖所示)以及絕緣層106(如第6圖所示)，導電元件104a以及絕緣層106可為驅動電路中的導電元件以及絕緣元件，導電元件104a可設置於第一基板102上，再者，絕緣層106可設置於導電元件104a上且具有導通孔V1(如第6圖所示)，電子元件300可設置於絕緣層106上，並且藉由導通孔V1與導電元件104a電性連接(第6圖中未繪示)。根據一些實施例，絕緣層的材料例如可包含氮化矽(SiNx)、氧化矽(SiOx)、氮氧化矽(SiOxNy)、環氧樹脂、壓克力、雙馬來醯亞胺(bismaleimide)、聚醯亞胺(polyimide)或前述之組合，但不以此為限。關於電路層104與電子元件300的詳細結構將於下文進一步說明。
在本揭露中，電子元件300可為發光元件。根據一些實施例，發光元件可包含發光二極體，發光二極體例如可包含有機發光二極體、次毫米發光二極體、微發光二極體或量子點發光二極體(例如可為QLED或QDLED)、其它合適的發光單元或前述之組合，但不以此為限。根據一些實施例，電子元件300可為有機發光二極體。
根據一些實施例，電子元件300例如可包含陽極302a、陰極302b以及發光層304，但本揭露不以此為限。陽極302a可設置於電路層104與發光層304之間，陽極302a可藉由前述導通孔V1與電路層104的導電元件104a電性連接。陰極302b可設置於發光層304與介質結構400之間，再者，發光層304可設置於陽極302a與陰極302b之間。根據另一些實施例，陰極302b可至少部分地設置於堤層110之上，但不以此為限。
根據一些實施例，陽極302a、陰極302b以及導電元件104a的材料可包含金屬導電材料、透明導電材料、其它合適的材料或前述之組合，但不限於此。金屬導電材料例如可包含銅(Cu)、鋁(Al)、銦(In)、釕(Ru)、錫(Sn)、金(Au)、鉑(Pt)、鉬(Mo)、鋅(Zn)、銀(Ag)、鈦(Ti)、鉛(Pb)、鎳(Ni)、釹(Nd)、銥(Ir)、鉻(Cr)、鎂(Mg)、鈀(Pd)、鋰(Li)、鈣(Ca)、前述金屬的合金、其它合適的金屬材料或前述之組合，但不限於此。透明導電材料例如可包含透明導電氧化物(transparent conductive oxide，TCO)，例如可包含氧化銦錫(indium tin oxide，ITO)、氧化銻鋅(antimony zinc oxide，AZO)、氧化錫(tin oxide，SnO)、氧化鋅(zinc oxide，ZnO)、氧化銦鋅(indium zinc oxide，IZO)、氧化銦鎵鋅(indium gallium zinc oxide，IGZO)、氧化銦錫鋅(indium tin zinc oxide，ITZO)、氧化銻錫(antimony tin oxide，ATO)、其它合適的透明導電材料、或前述之組合，但不限於此。此外，陽極302a以及陰極302b可具有單層或多層結構。
根據一些實施例，發光層304可包含電荷產生層(charge generation layer)(未繪示)、電洞傳輸層(未繪示)、電子傳輸層(未繪示)、設置於電洞傳輸層以及電洞注入層之間的有機發光層(未繪示)以及改善電子電洞傳輸的添加材料(未繪示)，但不限於此。根據一些實施例，可藉由噴墨印刷製程形成電子元件300的發光層304，但本揭露不以此為限。
應理解的是，根據不同的實施例，電子元件300可具有其它合適的結構，電子元件300的結構不限於前述之發光元件的結構。
此外，如第1圖所示，根據一些實施例，電子裝置10可包含堤層(bank layer)110，堤層110可設置於電路層104上，例如設置於電路層104的絕緣層106上。根據一些實施例，堤層110設置於電子元件300的陽極302a上，且陰極302b以及發光層304可設置於兩相鄰的堤層110之間。
根據一些實施例，堤層110可由吸光材料形成，例如由透光率小於30%的材料形成，可降低相鄰的電子元件300之間產生混光的情形。根據一些實施例，堤層110可由反射光材料形成，例如由反射率大於30%的材料形成，可提升電子元件300的出光量，改善光利用率。根據一些實施例，堤層110可由透明材料形成，可降低材料電阻值對電子元件300的影響。具體而言，根據一些實施例，堤層110的材料可包含有機材料、玻璃糊(glass paste)、其它合適的材料或前述之組合，但不限於此。有機材料例如可包含環氧樹脂、丙烯酸樹脂如聚甲基丙烯酸甲酯(polymethylmetacrylate，PMMA)、酚醛樹脂、聚醯胺樹脂、聚醯亞胺樹脂、不飽和聚酯樹脂、聚苯醚樹脂、聚苯硫醚樹脂、苯并環丁烯(benzocyclobutene，BCB)、其它合適的材料、或前述之組合，但不限於此。根據一些實施例，堤層110的材料可包含黑色光阻或白色光阻。
承前述，彩色濾光基板200可包含第二基板202以及彩色濾光層204，彩色濾光層204可設置於第二基板202與介質結構400之間。彩色濾光層204可過濾或調整穿透過它的光線的光學性質，例如，使特定波長範圍的光線通過。根據一些實施例，彩色濾光層204可包含紅色濾光單元、綠色濾光單元、藍色濾光單元、白色濾光單元或其它顏色的濾光單元，但不限於此。根據不同的實施例，彩色濾光層204可具有任意合適數量或顏色的彩色濾光單元。
根據一些實施例，彩色濾光層204的材料可包含彩色光阻，彩色光阻的材料例如可包含高分子材料以及分散於其中的顏料及感光材料。根據一些實施例，前述高分子材料可包含環氧樹脂、丙烯酸樹脂如聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)、苯并環丁烯(BCB)、其它合適的材料、或前述之組合，但不限於此。
根據一些實施例，彩色濾光基板200可進一步包含遮光層206，遮光層206可設置於第二基板202上，且位於第二基板202與彩色濾光層204之間。從電子裝置10的出光面(例如，圖式中的X-Y平面)觀看，遮光層206可具有多個開口，彩色濾光層204與遮光層206的開口重疊。再者，根據一些實施例，於第一基板102的法線方向(例如，圖式中的Z方向)上，遮光層206可與堤層110至少部分地重疊。
根據一些實施例，遮光層206的材料可包含黑色光阻、黑色印刷油墨、黑色樹脂、金屬、碳黑材料、樹脂材料、感光材料、其它合適的材料、或前述之組合，但不限於此。
承前述，介質結構400可設置於第一基板102與第二基板202之間。如第1圖所示，根據一些實施例，介質結構400可設置於彩色濾光層204與電子元件300之間，且介質結構400可抵靠於堤層110上。介質結構400可具有光學調整特性、保護作用(例如，防水防潮)或可作為卡合結構件。
詳細而言，請同時參照第1圖以及第2圖，第2圖顯示根據本揭露一些實施例中，電子裝置10的局部結構示意圖，應理解的是，為了清楚說明，第2圖中的顯示基板100是以上視圖的視角呈現，而彩色濾光基板200是以剖面圖的視角呈現，並且繪示顯示基板100與彩色濾光基板200卡合的狀態。並且，第2圖顯示對應於電子裝置10的兩個電子元件300(例如兩個像素)的區域。
如第2圖所示，介質結構400的厚度可為不一致的，例如，對應於顯示基板100的不同區域的介質結構400可具有不同的厚度。詳細而言，於一像素區域中，介質結構400可被區分成兩個部分，例如介質結構400可具有第一部分P1以及第二部分P2，於第一基板102的法線方向上，第一部分P1與導通孔V1重疊，第二部分P2鄰近於第一部分P1，且第一部分P1的厚度T1大於第二部分P2的厚度T2。亦即，介質結構400於與導通孔V1重疊的部分具有較大的厚度，承前述，導通孔V1可為可將電子元件300的陽極302a與電路層104的導電元件104a電性連接。再者，根據一些實施例，於第一基板102的法線方向上，第二部分P2與堤層110不重疊。根據一些實施例，介質結構400的第一部分P1具有曲面CS。此外，根據一些實施例，相較於第一部分P1，第二部分P2具有較平坦的型態。
根據一些實施例，第一部分P1的厚度T1可介於9μm與21μm之間(亦即，9μm ≤ 厚度T1 ≤21μm)，例如，12μm、13μm、14μm、15μm、16μm或18μm，但不限於此。第二部分P2的厚度T2可介於8μm與18μm之間(亦即，8μm ≤ 厚度T2 ≤ 18μm)，例如，10μm、11μm、12μm、13μm、14μm或18μm，但不限於此。
根據本揭露一些實施例，介質結構400的第一部分P1指的是，於一像素區域中，介質結構400的第一部分P1為以最大厚度為中心所定義出半徑為10微米(μm)的區域。此外，厚度T1指的是，於一像素區域中，於第一基板102的法線方向(例如，圖式中的Z方向)上，介質結構400的第一部分P1的最大厚度。厚度T2指的是，於一像素區域中，於第一基板102的法線方向(例如，圖示中的Z方向)上，介質結構400的第二部分P2的最大厚度。
應理解的是，根據本揭露實施例，可使用光學顯微鏡(optical microscope，OM)、掃描式電子顯微鏡(scanning electron microscope，SEM)、薄膜厚度輪廓測量儀(α-step)、橢圓測厚儀、聚焦離子束(focused ion beam，FIB)顯微鏡、穿透式顯微鏡(transmission electron microscope，TEM)或其它合適的方式量測各元件的厚度、寬度或高度、或元件之間的間距或距離。詳細而言，根據一些實施例，可使用掃描式電子顯微鏡取得包含欲量測的元件的剖面結構影像，並量測各元件的厚度、寬度或高度、或元件之間的間距或距離。
值得注意的是，根據一些實施例，由於電子元件300是藉由噴墨印刷製程形成，油墨具有流動性，因此在對應於導通孔V1處會累積較厚的油墨而影響電子元件300的發光效率，然而，藉由前述介質結構400於與導通孔V1重疊的部分具有較大厚度的結構設計，可改善聚集光線的效果，有效提升電子元件300的整體輸出光效率。
此外，如第2圖所示，根據一些實施例，介質結構400可為多層結構，例如，介質結構400可具有第一層402以及第二層404，第一層402可設置於第二基板202與第二層404之間。詳細而言，請同時參照第3A圖以及第3B圖，第3A圖顯示根據本揭露一些實施例中，電子裝置10的彩色濾光基板200的局部剖面結構示意圖，且第3B圖顯示第3A圖中的區域R的放大結構示意圖。
根據一些實施例，介質結構400的第一層402具有厚度T3，第二層404具有厚度T4，且第一層402的厚度T3大於第二層404的厚度T4。具體而言，根據一些實施例，第一層402的厚度T3可介於4μm與12μm之間(亦即，4μm ≤ 厚度T3 ≤12μm)，第二層404的厚度T4可介於5μm與9μm之間(亦即，5μm ≤ 厚度T4 ≤ 9μm)。
根據本揭露一些實施例，厚度T3指的是，於一像素區域中，於第一基板102的法線方向(例如，圖式中的Z方向)上，介質結構400的第一層402的最大厚度，而厚度T4指的是，在第一層402具有最大厚度的延伸線上，介質結構400的第二層404的厚度。根據一些實施例，介質結構400的厚度T1亦可以在第一層402具有最大厚度的延伸線上測量，但不以此為限。
再者，如第3B圖所示，根據一些實施例，介質結構400的第一層402可具有第一聚光表面S1，第二層404可具有第二聚光表面S2。值得注意的是，多層結構的介質結構400可具有多個聚光表面，藉此可進一步加強聚光效果，增加電子元件300的出光亮度。此外，第一層402可具有折射率n3，第二層404可具有折射率n2。根據一些實施例，第一層402的折射率n3以及第二層404的折射率n2大於陰極302b的折射率n1。根據一些實施例，第二層404的折射率n2可小於第一層402的折射率n3，但不限於此。此外，根據一些實施例，介質結構400的透光率可介於80%至99%之間。
本揭露所述之「透光率」，係指光源穿透一元件、結構或材料後量測到的穿透光的光強度除以光源未穿透一元件、結構或材料所量測到的光強度的百分比。本揭露所述之光強度係指光源(光源可例如包括顯示光或環境光)的頻譜積分值，光源可例如包括可見光(例如波長介於380nm至780nm之間)，但不限於此。舉例而言，當光源為可見光時，光強度為波長380nm至波長780nm範圍內的頻譜積分值，介質結構400的透光率為光源穿透介質結構400後量測到的可見光頻譜積分值除以光源未穿透介質結構400所量測到的可見光頻譜積分值的百分比。
根據一些實施例，介質結構400可包含有機材料層，有機材料例如可包含聚碳酸酯(polycarbonate，PC)、聚甲基丙烯酸甲酯(polymethylmethacrylate，PMMA)、聚對苯二甲酸乙二酯(polyethylene terephthalate，PET)、聚乙烯(polyethylene，PE)、聚醚碸(polyethersulfone，PES)、聚醯亞胺(polyimide，PI)、聚二甲基矽氧烷(polydimethylsioxane，PDMS)其它合適的有機材料、或前述之組合，但不限於此。根據一些實施例，介質結構400可包含黏著層，黏著層例如可包含光學透明膠(optical clear adhesive，OCA)、光學透明樹脂(optical clear resin，OCR)、感壓膠(pressure sensitive adhesive，PSA)、壓克力膠、壓克力樹脂、其它合適的材料、或前述之組合，但不以此為限。根據一些實施例，介質結構400的第一層402為有機材料層，第二層404為黏著層，但本揭露不以此為限。
應理解的是，雖然繪示的實施例顯示介質結構400為兩層結構，然而，根據不同的實施例，介質結構400可具有其它合適數量的層別，例如，3層、4層、5層、6層、7層、8層…等。並且，介質結構400中的有機材料層以及黏著層的堆疊順序亦可視需要進行調整。
接著，請參照第1圖以及第4圖，第4圖顯示據本揭露一些實施例中，電子裝置10的顯示基板100的局部結構示意圖。根據一些實施例，堤層110具有長條狀(strip)結構，且堤層110可具有凸狀輪廓110P，詳細而言，堤層110的頂部部分可具有凸狀輪廓110P。根據一些實施例，凸狀輪廓110P可抵靠於介質結構400中，介質結構400可部分包圍住凸狀輪廓110P。
特別地，凸狀輪廓110P具有卡榫的功能，可協助顯示基板100以及彩色濾光基板200對位，降低介質結構400位置偏移(例如，第一部分P1偏離而未與導通孔V1重疊，或是介質結構400的結構中心偏離電子元件300的結構中心)的風險，如此一來，亦可改善電子元件300的整體輸出光效率。
再者，如第1圖所示，根據一些實施例，介質結構400可具有凹槽400R，於第一基板102的法線方向(例如，圖式中的Z方向)上，凹槽400R可與堤層110重疊。詳細而言，凹槽400R可與堤層110的凸狀輪廓110P相互卡合，使介質結構400與堤層110更緊密地對準卡合，進一步改善電子裝置10的基板對位精確度。根據一些實施例，凹槽400R與凸狀輪廓110P的形狀為彼此互補的。
此外，請參照第1圖，根據一些實施例，彩色濾光層204具有凹陷結構(pitting structure)204R，且介質結構400的第三部分P3可設置於凹陷結構204R中。根據一些實施例，於第一基板102的法線方向(例如，圖式中的Z方向)上，彩色濾光層204的凹陷結構204R與遮光層206重疊，換言之，介質結構400的第三部分P3亦與遮光層206重疊。
根據一些實施例，介質結構400的第三部分P3可為一凸狀結構。詳細而言，凸狀的第三部分P3可與凹陷結構204R相互卡合，可協助介質結構400以及彩色濾光層204對位，降低介質結構400或彩色濾光層204位置偏移的風險。再者，根據一些實施例，介質結構400以及彩色濾光層204的形狀為彼此互補的。
接著，請參照第5圖以及第6圖，第5圖顯示據本揭露一些實施例中，電子裝置10的局部上視結構示意圖，第6圖顯示據本揭露一些實施例中，對應於第5圖的截線Q-Q’的電子裝置10的剖面結構示意圖。具體而言，第5圖顯示電路層104以及電子元件300的上視結構示意圖。
如第5圖所示，電子裝置10的電路層104可包含複數條掃描線SL以及複數條資料線DL。根據一些實施例，掃描線SL以及資料線DL彼此交錯定義出複數個像素區域，像素區域中可具有複數個薄膜電晶體以及電子元件300。根據一些實施例，電路層104可進一步包含系統電壓線Vcc、工作電壓線Vdd、初始化電壓線Vini、控制訊號線EM，但不限於此。電路層104中的訊號線、電壓線等可共同作用以對電子元件300進行控制及調整。
詳細而言，掃描線SL以及資料線DL提供一訊號將驅動薄膜電晶體的閘極開關打開後，使工作電壓線Vdd的電流流經電子元件300形成一電流迴路，電子元件300將電能轉換成光能，使發光層304輸出光源。再者，掃描線SL以及資料線DL可分別沿著X方向或Y方向延伸以交錯配置出電路層104。工作電壓線Vdd以及系統電壓線Vcc亦可分別沿著X方向或Y方向延伸以交錯配置出電路層104，工作電壓線Vdd的配置方向可以與掃描線SL的配置方向相同，系統電壓線Vcc的配置方向可以與資料線DL的配置方向相同，但本揭露不以此為限。再者，初始化電壓線Vini可沿著X方向或Y方向延伸以配置出電路層104，例如如第5圖所示，初始化電壓線Vini可沿著Y方向配置，但不限於此。初始化電壓線Vini的配置方向可以與資料線DL的配置方向或者與系統電壓線Vcc的配置方向相同，但不限於此。此外，半導體層104s亦配置於電路層104中。根據不同的實施例，電路層104可依照需求設計為4T2C(4個TFT、2個電容)、4T3C、5T2C、6T1C、7T2C、7T3C或9T1C等的配置方式，但不限於此。
應理解的是，為了清楚說明，以下敘述以符號300-1以及300-2標示不同的電子元件300，以符號302a-1以及302a-2標示不同的陽極302a，電子元件300-1以及電子元件300-2可為相鄰的兩個電子元件，而陽極302a-1以及陽極302a-2分別為電子元件300-1以及電子元件300-2的陽極。請參照第5圖以及第6圖，電子元件300-1包含陽極302a-1，陽極302a-1可藉由貫穿絕緣層106的導通孔V1與導電元件104a電性連接，導通孔V1具有第一面積A1，陽極302a-1具有第二面積A2。根據一些實施例，第一面積A1與第二面積A2的比例介於0.05至0.4之間(亦即，0.05 ≤ 第一面積A1與/第二面積A2 ≤ 0.4)，或介於0.15至0.3之間，例如，0.2或0.25，但不限於此。根據一些實施例，電子元件300-2的陽極302a-2以及導通孔V2亦具有相似的面積比例關係，於此便不再重複。
此外，雖然第6圖並未繪示出對應於電子元件300-2的剖面結構，但可理解的是，電子元件300-2可以與電子元件300-1相同的方式與電路層104電性連接。具體而言，電子元件300-2的陽極302a-2可藉由絕緣層106中的導通孔V2與電路層104中的導電元件電性連接，此導電元件與前述導電元件104a可為設置於同一層別的導電層。再者，根據一些實施例，電路層104可包含位於導電元件104a下層的導電元件104b，導電元件104b可作為共用電極。
根據一些實施例，電子元件300-1可發出紅光或綠光，電子元件300-2可發出藍光，但本揭露不以此為限。如第5圖所示，陽極302a-1與導通孔V1具有第一重疊區域OA(為了清楚呈現，以網點標示)，陽極302a-2與V2導通孔具有第二重疊區域OA2(為了清楚呈現，以網點標示)。根據一些實施例，第一重疊區域OA1的寬度W1大於第二重疊區域OA2的寬度W2。根據一些實施例，第一重疊區域OA1的面積大於第二重疊區域OA2的面積。再者，根據一些實施例，電子元件300-1的陽極302a-1的寬度W3大於電子元件300-2的陽極302a-2的寬度W4。
根據本揭露實施例，前述寬度W1以及寬度W2分別指的是，在與掃描線SL的延伸方向平行的方向(例如，圖式中的X方向)上，第一重疊區域OA1以及第二重疊區域OA2的最小寬度。再者，前述寬度W3以及寬度W4分別指的是，在與掃描線SL的延伸方向平行的方向(例如，圖式中的X方向)上，陽極302a-1以及陽極302a-2的最大寬度。
接著，請參照第7A圖以及第7B圖，第7A圖以及第7B圖顯示根據本揭露一些實施例中，對電子裝置進行光學模擬的結果示意圖。第7A圖為具有單層結構(第一層402)的介質結構400的光線反射路徑模擬結果示意圖，第7B圖為具有雙層結構(第一層402以及第二層404)的介質結構400的光線反射路徑模擬結果示意圖。
如第7A圖所示，從電子元件發出的光線原先向外發散，但在經過第一層402後向內聚集。如第7B圖所示，從電子元件發出的光線在經過第一層402後初步向內聚集，在經過第二層404後進一步地向內聚集，聚光的效果更加明顯。如同前述，多層結構的介質結構400具有多個聚光表面，可進一步加強聚光效果，增加電子元件的出光亮度。
綜上所述，根據本揭露實施例，提供的電子裝置包含特定結構設計的介質結構，其具有光學調整特性、保護作用或可作為卡合結構件，藉此可以改善電子裝置的發光強度或是整體結構的強度或可靠度。
雖然本揭露的實施例及其優點已揭露如上，但應該瞭解的是，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本揭露之精神和範圍內，當可作更動、替代與潤飾。本揭露實施例之間的特徵只要不違背發明精神或相衝突，均可任意混合搭配使用。此外，本揭露之保護範圍並未侷限於說明書內所述特定實施例中的製程、機器、製造、物質組成、裝置、方法及步驟，任何所屬技術領域中具有通常知識者可從本揭露揭示內容中理解現行或未來所發展出的製程、機器、製造、物質組成、裝置、方法及步驟，只要可以在此處所述實施例中實施大抵相同功能或獲得大抵相同結果皆可根據本揭露使用。因此，本揭露之保護範圍包含上述製程、機器、製造、物質組成、裝置、方法及步驟。本揭露之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。本揭露的任一實施例或請求項不須達成本揭露所公開的全部目的、優點、特點。
10:電子裝置 100:顯示基板 102:第一基板 104:電路層 104a、104b:導電元件 104s:半導體層 106:絕緣層 110:堤層 110P:凸狀輪廓 200:彩色濾光基板 202:第二基板 204:彩色濾光層 204R:凹陷結構 206:遮光層 300、300-1、300-2:電子元件 302a、302a-1、302a-2:陽極 304:發光層 302b:陰極 400:介質結構 400R:凹槽 402:第一層 404:第二層 A1:第一面積 A2:第二面積 A3:第三面積 A4:第四面積 CS:曲面 DL:資料線 EM:控制訊號線 n、n1、n2、n3:折射率 OA1:第一重疊區域 OA2:第二重疊區域 P1:第一部分 P2:第二部分 P3:第三部份 Q-Q’:截線 R:區域 S1:第一聚光表面 S2:第二聚光表面 SL:掃描線 T1、T2、T3、T4:厚度 V1、V2:導通孔 Vcc:系統電壓線 Vdd:工作電壓線 Vini:初始化電壓線 W1、W2、W3、W4:寬度
第1圖顯示根據本揭露一些實施例中，電子裝置的剖面結構示意圖； 第2圖顯示根據本揭露一些實施例中，電子裝置的局部結構示意圖； 第3A圖顯示根據本揭露一些實施例中，電子裝置的局部剖面結構示意圖； 第3B圖顯示據本揭露一些實施例中，第3A圖中的區域R的放大結構示意圖； 第4圖顯示據本揭露一些實施例中，電子裝置的局部結構示意圖； 第5圖顯示據本揭露一些實施例中，電子裝置的局部上視結構示意圖； 第6圖顯示據本揭露一些實施例中，對應於第5圖的截線Q-Q’的電子裝置的剖面結構示意圖； 第7A圖以及第7B圖顯示根據本揭露一些實施例中，對電子裝置進行光學模擬的結果示意圖。
10:電子裝置
100:顯示基板
102:第一基板
104:電路層
110:堤層
110P:凸狀輪廓
200:彩色濾光基板
202:第二基板
204:彩色濾光層
204R:凹陷結構
206:遮光層
300:電子元件
302a:陽極
302b:陰極
304:發光層
400:介質結構
400R:凹槽
P3:第三部份

Claims (14)

  1. 一種電子裝置，包括：一第一基板；一第二基板，與所述第一基板相對設置；一第一導電元件，設置於所述第一基板上；一絕緣層，設置於所述第一導電元件上且具有一第一導通孔；一第一電子元件，設置於所述絕緣層上並藉由所述第一導通孔與所述第一導電元件電性連接；以及一介質結構，設置於所述第一基板與所述第二基板之間，且具有一第一部分以及一第二部分，所述第一部分與所述第一導通孔重疊，所述第二部分鄰近於所述第一部分，其中所述第一部分的厚度大於所述第二部分的厚度，其中所述介質結構的所述第一部分具有一曲面。
  2. 如請求項1所述的電子裝置，其中所述介質結構為一多層結構。
  3. 如請求項1所述的電子裝置，其中所述介質結構的透光率介於80%至99%之間。
  4. 如請求項1所述的電子裝置，更包括一堤層，設置於所述絕緣層上，且所述介質結構具有一凹槽，所述凹槽與所述堤層重疊。
  5. 如請求項1所述的電子裝置，更包括一彩色濾光層，設置於所述第二基板與所述介質結構之間。
  6. 如請求項5所述的電子裝置，其中所述彩色濾光層具有一凹陷結構，所述介質結構的一第三部分設置於所述凹陷結構中。
  7. 如請求項1所述的電子裝置，所述第一電子元件包括一第一陽極，所述第一陽極藉由所述第一導通孔與所述第一導電元件電性連接，所述第一導通孔具有一第一面積，所述第一陽極具有一第二面積，且所述第一面積與所述第二面積的比例介於0.05至0.4之間。
  8. 如請求項7所述的電子裝置，其中所述第一面積與所述第二面積的比例介於0.15至0.3之間。
  9. 如請求項1所述的電子裝置，其中所述介質結構包括一第一層以及一第二層，所述第一層設置於所述第二基板與所述第二層之間，且所述第一層的厚度大於所述第二層的厚度。
  10. 一種電子裝置，包括：一第一基板；一第二基板，與所述第一基板相對設置；一第一導電元件，設置於所述第一基板上；一絕緣層，設置於所述第一導電元件上且具有一第一導通孔； 一第一電子元件，設置於所述絕緣層上並藉由所述第一導通孔與所述第一導電元件電性連接；以及一介質結構，設置於所述第一基板與所述第二基板之間，且具有一第一部分以及一第二部分，所述第一部分與所述第一導通孔重疊，所述第二部分鄰近於所述第一部分，其中所述第一部分的厚度大於所述第二部分的厚度，其中所述介質結構包括一第一層以及一第二層，所述第一層設置於所述第二基板與所述第二層之間，且所述第一層的厚度大於所述第二層的厚度。
  11. 如請求項1所述的電子裝置，更包括設置於所述第一基板上的一第二導電元件，以及設置於所述絕緣層上的一第二電子元件，其中所述第二電子元件藉由一第二導通孔與所述第二導電元件電性連接，且所述第一電子元件發出紅光或綠光，所述第二電子元件發出藍光。
  12. 如請求項11所述的電子裝置，其中所述第一電子元件包括一第一陽極，所述第一陽極藉由所述第一導通孔與所述第一導電元件電性連接，所述第二電子元件包括一第二陽極，所述第二陽極藉由所述第二導通孔與所述第二導電元件電性連接，所述第一陽極與所述第一導通孔具有第一重疊區域，所述第二陽極與所述第二導通孔具有一第二重疊區域，且所述第一重疊區域的寬度大於所述第二重疊區域的寬度。
  13. 如請求項11所述的電子裝置，其中所述第一電子元件包括一第一陽極，所述第一陽極藉由所述第一導通孔與所述第一導電元件電性連接，所述第二電子元件包括一第二陽極，所述第二陽極藉由所述第二導通孔與所述第二導電元件電性連接，所述第一陽極與所述第一導通孔具有第一重疊區域，所述第二陽極與所述第二導通孔具有一第二重疊區域，且所述第一重疊區域的面積大於所述第二重疊區域的面積。
  14. 如請求項11所述的電子裝置，其中所述第一電子元件包括一第一陽極，所述第一陽極與所述第一導電元件電性連接，所述第二電子元件包括一第二陽極，所述第二陽極與所述第二導電元件電性連接，且所述第一陽極的寬度大於所述第二陽極的寬度。
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