TWI817372B - 讀卡機的認證系統及方法 - Google Patents
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Abstract
本發明提供一種讀卡機的認證系統及方法，所述系統包括電子裝置、讀卡機、移動機構。其中讀卡機以主動式感應對待測卡片進行測試時，讀卡機將感應的測試結果及感應測試時待測卡片於讀卡機上的測試點位的一或多個磁耦合強度參數資料回傳到電子裝置，電子裝置分析一或多個磁耦合強度參數資料產生校正參數傳輸至讀卡機，以對讀卡機進行校正。因此本發明可藉軟體設定方式修改天線參數設定，避免更改讀卡機的天線相關硬體，以有效降低認證所需要的時間與成本。
Description
本發明涉及一種讀卡機的驗證，特別是涉及一種讀卡機的認證系統及方法。
讀卡機(Payment Card Reader)的非接觸式支付，主要以近場通信（Near Field Communication）技術進行讀卡機與卡片的溝通，因此讀卡機的天線藉以感應卡片達到資料傳輸。
進行電子支付的讀卡機要結合於銷售的機器時，讀卡機必須先針對支付的卡片經過一連串驗證才能讓讀卡機支援各發卡單位的卡片，例如信用卡中的VISA Cards、Master Cards、JCB Cards等等或其他感應式的卡片。
因此現有驗證讀卡機的方式中，如果要適用於信用卡種類的感應卡片，除了進行讀卡機之機械測試及電子測試的EMV Level 1相關認證以外，還進行讀卡機根據電子設備所下達的指令及讀卡機測試反應是否正確的EMV Level 2的相關認證，其測試的過程都相當繁瑣。而且當讀卡機的天線感應出現相關問題時，必須更換天線相關硬體以改善讀卡機的讀取性能，不僅更換硬體耗時且耗工，也難以找到能夠符合大量及各型式卡片的天線硬體的匹配參數。
有鑑於先前技術所提出的問題，本發明提供一種讀卡機的認證系統及方法，予以解決讀卡機認證程序複雜以及修改讀卡機天線的硬體改善匹配參數困難的問題。
根據本發明的一實施例，提出了一種讀卡機的認證系統，其包括：一電子裝置；一讀卡機，與該電子裝置連接，該電子裝置控制該讀卡機以進行測試，該讀卡機接收該電子裝置所發出的測試指令以對一待測卡片進行測試；以及一移動機構，與該電子裝置連接，該電子裝置控制該移動機構移動該待測卡片，使得該待測卡片移動到達該讀卡機上的一相對位置的一測試點位。
其中該讀卡機以主動式感應對該待測卡片進行測試時，該讀卡機將感應的測試結果及感應測試時該待測卡片於該讀卡機上的該測試點位的一或多個磁耦合強度參數資料回傳到該電子裝置，該電子裝置分析該一或多個磁耦合強度參數資料後相對提供一校正參數至該讀卡機，以供該讀卡機根據該校正參數進行更新，其中該校正參數為關聯於該讀卡機使用的天線參數。
根據本發明的另一實施例，提出了一種讀卡機的認證方法，其步驟包括：以一電子裝置控制一讀卡機以進行測試，該讀卡機接收該電子裝置所發出的測試指令以對複數待測卡片進行測試；以該電子裝置控制一移動機構移動其中一張該待測卡片，使得該待測卡片移動到達該讀卡機上的多個相對位置的多個測試點位而依序在多個測試點位上以對該待測卡片進行測試，以測試每一張該待測卡片；該讀卡機對各該待測卡片進行測試時產生具有失敗的感應測試結果的該待測卡片進行再測試，該電子裝置控制該移動機構移動具有失敗的感應測試結果的該待測卡片到達該讀卡機上的多個相對位置的多個測試點位進行測試，其中具有失敗的感應測試結果的該待測卡片於每個該測試點位上進行多次測試，該電子裝置透過該讀卡機以取得經過再測試的具有失敗的感應測試結果的該待測卡片於每個該測試點位上進行多次測試的測試結果以及對應的多個磁耦合強度參數資料；以及該電子裝置根據再測試的具有失敗的感應測試結果的每一張該待測卡片於每個該測試點位上進行多次測試的測試結果以及對應的多個磁耦合強度參數資料以校正該磁耦合強度參數資料，並找出至少一校正參數傳輸至該讀卡機進行更新。
本發明的可能技術效果在於可藉軟體設定方式修改天線參數設定，避免更改讀卡機的天線相關硬體，以有效降低認證所需要的時間與成本。
為了能更進一步瞭解本發明為達成既定目的所採取之技術、方法及功效，請參閱以下有關本發明之詳細說明、圖式，相信本發明之目的、特徵與特點，當可由此得以深入且具體之瞭解，然而所附圖式僅提供參考與說明用，並非用來對本發明加以限制者。
以下是透過特定的具體實施例來說明本發明所公開有關“讀卡機的認證系統及方法”的實施方式，本領域技術人員可由本說明書所公開的內容瞭解本發明的優點與效果。本發明可透過其它不同的具體實施例加以施行或應用，本說明書中的各項細節也可基於不同觀點與應用，在不悖離本發明的構思下進行各種修改與變更。另外，本發明的附圖僅為簡單示意說明，並非依實際尺寸的描繪，事先聲明。以下的實施方式將進一步詳細說明本發明的相關技術內容，但所公開的內容並非用以限制本發明的保護範圍。
爲了更清楚的說明本發明實施例中的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單的介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對於本領域通常知識及普通技能技術人員來說，在不付出過多努力的前提下，還可以根據這些附圖獲得其它的附圖。
本發明公開一種讀卡機的認證系統及方法，可透過讀卡機測試卡片，例如具有磁感應功能的晶片卡片。而且讀卡機所測試的卡片也可為符合ISO/IEC 14443的識別卡(稱非接觸式集成電路卡)的卡片，根據國際標準的規定可測試不同編號的卡片類型。
而且本發明也可對每一類型的讀卡機進行驗證，無需更換讀卡機的硬體來改善讀卡機的讀取性能。此外本發明對讀卡機的驗證也不需被環境所限制，可隨時隨地的對讀卡機進行測試與校驗，保持讀卡機的讀取性能。因此不需要拿到認證實驗室進行流程複雜的測試。
因此本發明驗證讀卡機的機器可以是安裝有測試軟體的電子裝置，例如桌上電腦或可攜式電子裝置。電子裝置只要連接讀卡機並發送測試指令後即能進行對讀卡機的驗證及校正參數。
根據本發明的一實施例，請參閱圖1，圖1呈現本發明一實施例所繪示讀卡機的認證系統的方塊圖。本發明提供一種讀卡機的認證系統1，其包括但不限於： 一電子裝置11、一讀卡機12、一傳輸介面13和一移動機構14。其中傳輸介面13可為有線傳輸的傳輸線或是有線通信設備及對應的傳輸線，而且傳輸介面13也例如是符合電子裝置11以及讀卡機12電子規範的傳輸線，傳輸介面13也不排除可為無線傳輸的介面，例如透過無線網路或無線網路設備。
讀卡機12透過有線傳輸的傳輸介面13與電子裝置11電性連接時，電子裝置11通過傳輸介面13控制讀卡機12以進行測試。讀卡機12接收電子裝置11所發出的測試指令以對至少一待測卡片15進行測試。在一實施例中，待測卡片15為晶片式或非晶片式的信用卡或任何具有感應功能的卡片，例如晶片金融卡、會員卡或儲值卡等等。
在進行測試時，移動機構14與電子裝置11電性連接，電子裝置11透過控制移動機構14以移動待測卡片15。在一實施例中，移動機構14可以是機械手臂及對應的夾具或是馬達、軌道、夾具等設置而成，使得待測卡片15可被夾持移動到達讀卡機12上的一相對位置的一測試點位。而且待測卡片15移動到達讀卡機12上的一相對位置的一測試點位時，原則上與讀卡機12保持一特定距離未接觸並且平行置放於讀卡機12之上，但也不排除以接觸方式設置，且本發明不以前述為限。
因此配合參閱圖2以及圖3，圖2呈現本發明一實施例所繪示移動機構移動待測卡片進行測試的動作前示意圖。圖3呈現本發明一實施例所繪示移動機構移動待測卡片進行測試的動作後示意圖，圖3之中標示了一個放大區域IV。
其中當移動機構14移動待測卡片15到達讀卡機12之上時，讀卡機12受到電子裝置11的控制而以主動式感應對待測卡片15進行測試，讀卡機12可將感應的測試結果及感應測試時待測卡片15於讀卡機12上的測試點位的一或多個磁耦合強度參數資料回傳到電子裝置11，電子裝置11分析一或多個磁耦合強度參數資料後相對提供至少一校正參數傳輸至讀卡機12，以對讀卡機12進行校正，即供讀卡機12根據校正參數進行更新，其中校正參數為關聯於讀卡機12使用的天線參數。
在一實施例中，上述將分析後調整的磁耦合強度參數資料產生的校正參數傳輸至讀卡機12以對讀卡機12進行校正以更新天線參數，是當電子裝置11控制讀卡機12測試相同卡片類型且多張的待測卡片15時，可通過卡片種類進行(資料)分類，例如分類為國際標準ISO 14443 Type A或Type B的卡片測試資料。
將卡片分類後，可個別針對不同種類的卡片成功或失敗的測試點位進行分析，其中待測卡片15例如是Type A類型的卡片並通過電子裝置11控制讀卡機12測試每一張待測卡片15得出一個或多個測試點位上的一或多個磁耦合強度參數資料，此時可配合感應測試結果的測試失敗種類的情況(例如讀卡機12的天線無法在一定時間內正確感應到待測卡片15(No card)、讀卡機12的天線匹配問題導致一張待測卡片15被讀卡機12認為是多張卡片而產生多卡檢測碰撞(Multiple cards collision fail)、讀卡機12讀取到待測卡片15後無法正確判斷卡片種類導致無法繼續完成支付，或是讀卡機12感測到待測卡片15後無法在一定時間內完成相關設定動作(Card active))，以進行資料統計。
根據上述，且其中例如統計多張待測卡片15為Type A的卡片種類時，可將Type A的多張待測卡片15進行平均分佈的磁耦合強度參數資料統計而以圖表或表格呈現。藉此，能得知多張待測卡片15為Type A的卡片種類時的個別測試點位上的參數數值區間或強度區間，通過電子裝置11以調整測試點位上具有適當的磁耦合強度參數資料並提供校正參數，電子裝置11就能將校正參數傳送到讀卡機12以對讀卡機12進行天線資料的校正。
根據上述，其中校正參數的資料中可以包含移除測試點位上不適當或無效的其中一個或多個磁耦合強度參數資料以改善測試點位上的參數數值區間或強度區間或進行參數數值的增減，可讓多張待測卡片15為Type A的卡片在各個測試點位上的感測效果提升，減少卡片支付失敗的機率。根據上述所進行的資料統計方式及天線資料校正與更新，可讓電子裝置11分析每一測試點位的一或多個磁耦合強度參數資料後並將每一測試點位的一或多個磁耦合強度參數資料的校正參數傳輸至讀卡機12，以對讀卡機12進行天線資料校正，且本發明均不以前述為限。
在一實施例中，例如校正參數可根據各個測試點位上的磁耦合強度參數資料的其中一個或多個參數做平均分佈的統計，調整出適當的射頻驅動(RF driver)強度區間。其中可移除無效的磁耦合強度參數資料的區間或調整區間範圍，以及增強較弱的區間或降低較強的區間，以調整出適當的射頻驅動強度或範圍，可減少支付失敗的機率。其中，校正參數包括在一個測試點位上移除不適當或無效的其中一個或多個磁耦合強度參數資料、在一個測試點位上調整多個磁耦合強度參數資料的範圍或者在一個測試點位上增加或減少多個磁耦合強度參數資料範圍的數值。
在一實施例中，電子裝置11可以是實驗室中的測試主機(Host PC)，以負責下達開始進行卡片支付測試的指令，例如透過測試主機的軟體測試界面的操作以下達讀卡機12執行測試時所需的相關動作，測試時所需的相關動作例如是測試流程及對應的控制。接著測試主機所下達開始進行待測卡片15支付測試的指令傳遞至一個軟體適配器(software adapter)，軟體適配器負責橋接測試主機的軟體測試界面與讀卡機12內部的韌體(Firmware)，以進行指令與資料的傳輸。
在一實施例中，測試主機的軟體測試界面可以是軟體工具構成，而且軟體工具與軟體適配器可以由具有操作指令集的軟體構成，且本發明不以前述為限。因此，讀卡機12接收電子裝置11所發出的測試指令以對待測卡片15進行測試時，電子裝置11透過軟體測試介面執行卡片支付測試指令以對待測卡片15進行測試。讀卡機12執行卡片支付測試指令的測試相關動作並與電子裝置11進行資料傳輸。
在一實施例中，當移動機構14移動待測卡片15到達讀卡機12上的任何一相對位置的測試點位時，讀卡機12通過測試指令將感應的測試結果及感應測試時讀卡機12對應待測卡片15的一或多個磁耦合強度參數資料回傳到電子裝置11。其中當待測卡片15測試一次或一次以上時，電子裝置11可以得知待測卡片15在讀卡機12上的任一相對位置的測試點位的複數個磁耦合強度參數資料。
因此電子裝置11透過整理、分析或比對複數個磁耦合強度參數資料後，可以得出對應的一個或多個校正參數。最後電子裝置11將一相對位置的測試點位的一個或多個校正參數傳輸到讀卡機12，以對讀卡機12內部的韌體進行天線資料校正及更新。
在一實施例中， 透過待測卡片15在讀卡機12上任一相對位置的測試點位的單點測試及參數校正，可以改善讀卡機12某個方位讀取待測卡片15的性能。因此就能直接透過修改讀卡機12的天線參數，電子裝置11將每個讀卡機12上任一相對位置的測試點位其磁耦合強度參數資料記錄後產生對應的校正參數，可對多台相同機台型式的讀卡機12進行天線參數校正。
所以本發明不需要修改(各)讀卡機12天線硬體(例如匹配電阻阻抗值)，且每台讀卡機12雖然實際所產生的天線場型及數值均不一樣，但本發明可以提供對於數量龐大的測試卡片進行測試後，找出最大的相容性匹配參數來校正各台(相同型號的)讀卡機12的天線參數，而且也可以強化讀卡機12特定方位的讀取性能。
在一實施例中，電子裝置11所取得待測卡片15在讀卡機12上的相對位置的測試點位的磁耦合強度參數資料可包含對應的待測卡片15的卡片資料(例如卡號、識別資料及卡片種類等)及測試指令與讀卡機12的反應資料，但本發明不以前述為限。
在一實施例中，電子裝置11的開始測試指令下達至讀卡機12後，讀卡機12啟動感應天線與其相關的通訊設定，並等待待測卡片15在可感應的測試點位上。接著電子裝置11會控制移動機構14例如機械手臂夾取待測卡片15，在規定的時間內抵達定位(測試點位)進行非接觸式支付測試，讀卡機12依照支付成功與否回傳測試結果給電子裝置11。
其中待測卡片15的測試結果包含卡片正確感應、讀取並完成相關資料設定及支付的情況，但本發明不以前述為限。
在下列表一中示出的是磁耦合強度參數資料中可包含的天線參數，例如可偵測的耦合強度門檻(值)、接收的卡片種類、天線功率增益值以及天線驅動的耦合最大值與最小值的其中之一個或任意組合的參數訊息，且本發明不以前述為限。
亦即，磁耦合強度參數資料也可以指天線本身及所匹配的電路的參數資料，或是僅只為單一關於天線磁場耦合的參數。其中表一中對應的項目(Item)與參數(Parameters)所形成的表格資料可內建儲存於電子裝置11中，表格資料為常態化且可供資料比對的讀卡機12的天線參數相關資料，且本發明也不以前述為限。
〔表一〕
| Item | Parameters |
| 1. | Detect_fd_thresholds |
| 2. | NFC_accept_level_a |
| 3. | NFC_accept_level_b |
| 4. | NFC_power_gain_level |
| 5. | NFC_driver_level_max |
| 6. | NFC_driver_level_min |
請繼續參閱圖1至圖3，並配合圖4及圖5，圖4呈現本發明一實施例所繪示移動機構移動待測卡片到達讀卡機上的相對位置進行測試的側視示意圖，圖4是圖3中放大區域IV的圖。圖5呈現本發明一實施例所繪示移動機構移動待測卡片到達讀卡機上的相對位置進行測試的俯視示意圖。
其中，除了上述待測卡片15移動到讀卡機12上的一相對位置的測試點位進行的測試以外，本發明也可以進行單一待測卡片15於讀卡機12上的多個相對位置進行多個測試點位的測試。
其中，電子裝置11控制移動機構14移動待測卡片15，使得待測卡片15移動到達讀卡機12上不同的相對位置的多個測試點位，亦即針對單一待測卡片15進行多個測試點位的測試，讀卡機12以對待測卡片15進行測試。讀卡機12將感應的測試結果及感應測試時待測卡片15於讀卡機12上不同的相對位置的每一測試點位的一或多個磁耦合強度參數資料回傳到電子裝置11，電子裝置11分析每一測試點位的一或多個磁耦合強度參數資料並產生校正參數傳輸至讀卡機12，以對讀卡機12進行校正。
在一實施例中，如圖4及圖5，移動機構14移動待測卡片15到達讀卡機12的上方時，可使待測卡片15相對於讀卡機12間隔一距離D1。而且也可使得待測卡片15於讀卡機12上的不同方位進行測試，在測試的過程中，依序取得每一測試點位的一或多個磁耦合強度參數資料。
在一實施例中，待測卡片15進行支付測試時，進行驗證的讀卡機12固定放置並啟動後，待測卡片15透過移動機構14例如機器手臂夾取至各個測試點位，待測卡片15的測試點位依照距離D1不同的高度(0cm,1cm, 2cm, 3cm, 4cm等等)以及讀卡機12與待測卡片15對應的方位(即待測卡片15相對於讀卡機12的方位例如中心點與東、西、南、北方向的位移)，可使得待測卡片15到達每個測試點位。測試時(每張)待測卡片15停留在各個測試點位的時間約1秒後立即移開，而各個測試點位的測試順序可以是固定或具有順序或經過設計。因此本發明可以達到針對單一待測卡片15在讀卡機12上的多個相對位置的多個測試點位進行測試，電子裝置11以獲得單一張卡片於不同測試點位的一或多個磁耦合強度參數資料，經過分析處理後可產生對應的校正參數傳輸至讀卡機12，以對讀卡機12進行校正。故本發明可不需要測試大量的待測卡片15，便能驗證讀卡機12並進行校正天線參數。
在一實施例中，所以根據上述本發明便能透過快速循環測試每一張待測卡片15，以迅速得知各張待測卡片15於讀卡機12上的多個相對位置的多個測試點位的感應結果以及對應的磁耦合強度參數資料。以迅速統整大量待測卡片15的參數資訊，經過分析及調整後產生校正參數，再傳輸給讀卡機12進行參數更新。
其中，電子裝置11控制移動機構14移動待測卡片15，使得待測卡片15移動依序到達讀卡機12上不同的相對位置的每一測試點位以對待測卡片15進行測試。讀卡機12將待測卡片15依序於讀卡機12上不同的相對位置的每一測試點位的測試結果及感應測試時的一或多個磁耦合強度參數資料回傳到電子裝置11。
其中，待測卡片15具有多張時，每測試一張待測卡片15即安裝一張於移動機構14上。電子裝置11控制移動機構14移動每一張待測卡片15進行測試時，使得測試時每一張待測卡片15移動到達讀卡機12上相同的相對位置的同一測試點位以對每一張待測卡片15進行測試或是每一張待測卡片15移動到達讀卡機12上的不同測試點位測試後再改以其他張待測卡片15進行重新測試。
讀卡機12將每一張待測卡片15感應的測試結果及每一張待測卡片15於讀卡機12上相同的相對位置的同一測試點位或不同相對位置的不同測試點位的一或多個磁耦合強度參數資料回傳到電子裝置11。電子裝置11分析每一張待測卡片15的磁耦合強度參數資料產生對應的校正參數，以對讀卡機12進行校正並更新參數。
根據上述的待測卡片15的各種測試方法，本發明可以解決一般讀卡機的天線讀取不良而必須要透過讀卡機的樣品篩選找出樣本機器進行測試或是修改讀卡機天線相關匹配的電阻值的問題。本發明可透過少量的卡片測試及讀卡機的校正，即可提高讀卡機12對於幾百張卡片的耦合相容性。
接著在一實施例中，也可透過讀卡機12感應測試待測卡片15時的失敗感測結果及對應的磁耦合強度參數資料來校正讀卡機12的天線參數。
其中，讀卡機12對待測卡片15進行測試產生失敗的感應測試結果時，其包含了讀卡機12的天線無法在一定時間內正確感應到待測卡片15(No card presented)，或者是讀卡機12的天線匹配問題導致待測卡片15為一張卡片時被讀卡機12判斷為多張卡片(Card detect collision)，以及讀卡機12讀取到待測卡片15後無法正確判斷卡片種類導致無法繼續完成支付(Can’t identify card type)與讀卡機12感測到待測卡片15後無法在一定時間內完成卡片啟動的相關設定動作(Card active fail)。
因此根據上述，讀卡機12將失敗的感應測試結果的測試點位的一或多個磁耦合強度參數資料回傳到電子裝置11，電子裝置11比對一或多個磁耦合強度參數資料與一基準磁耦合強度參數資料以判斷測試點位的一或多個磁耦合強度參數資料是否正確。電子裝置11分析一或多個磁耦合強度參數資料以找出校正參數並傳輸至讀卡機12，以對讀卡機12進行校正。故本發明就能將讀卡機12與待測卡片15實際感應通訊時的磁耦合強度資料，搭配讀卡機12的失敗感應測試結果(Test failed type)來判斷失敗的測試點位的磁耦合強度是否太強或是強度不足再加以調整，可收集大量資料分析後並設定找出校正參數(校正參數的種類例如前述表一的參數內容)再更新至讀卡機12的韌體中。
所以本發明可以找出讀卡機12根據卡片的每個測試點位相關的參數，可以設定每個測試點位一組優化的值進行微調。而且也可以同步優化到所有相同型號的讀卡機12，迅速找出相容性最高的參數適用於每個讀卡機12，透過軟體資訊收集數據及設定調整來達到讀卡機12的性能最佳化。
在一實施例中，前述讀卡機12所測試的待測卡片15的測試點位的測試結果與感測到的磁耦合強度參數資料可利用讀卡機12的控制器(MCU，Micro Control Unit)進行紀錄後，即時輸出到電子裝置11進行批次紀錄(產生測試結果或測試報表)。其中電子裝置11經過分析初步剔除掉硬體不良的讀卡機12的樣品，接著再以修改對應的天線參數，調整出校正參數更新至讀卡機12的韌體中，不僅可縮減修改天線的硬體匹配電阻的次數，而且可以有效減少認證所需的時間與成本。
請繼續配合圖6，圖6呈現本發明一實施例所繪示讀卡機的認證方法的步驟流程。
其中以電子裝置控制讀卡機以進行測試，讀卡機接收電子裝置所發出的測試指令以對複數待測卡片進行測試。以電子裝置控制移動機構移動其中一張待測卡片，使得待測卡片移動到達讀卡機上的多個相對位置的多個測試點位而依序在多個測試點位上以對待測卡片進行測試，以測試每一張待測卡片。
在一實施例中，首先執行步驟S100開始，再執行步驟S101，即初步過濾卡片。其中初步過濾卡片是以讀卡機將所有待測卡片進行初步測試，且每一張待測卡片的每個測試點位只測試1次支付，利用最少時間及最低成本找出具有測試失敗結果的卡片，此步驟S101的階段並不收集卡片參數資料。
進而，執行步驟S103，針對測試多次且失敗率高的卡片收集資訊。其中讀卡機對各個待測卡片進行測試時產生具有失敗的感應測試結果(1次)的待測卡片進行再測試。電子裝置控制移動機構移動具有失敗的感應測試結果的待測卡片到達讀卡機上的多個相對位置的多個測試點位依序進行測試。具有失敗的感應測試結果的待測卡片於每個測試點位上進行多次測試，如果電子裝置透過讀卡機以取得經過再測試的具有失敗的感應測試結果的待測卡片於每個測試點位上進行多次測試的測試結果仍然為失敗，電子裝置則透過讀卡機取得對應的多個磁耦合強度參數資料。
根據上述篩選出失敗率高的各待測卡片後，執行步驟S105，根據再測試的具有失敗感應測試結果的卡片所取得的磁耦合強度參數資料進行校正。其中，電子裝置根據再測試的具有失敗的感應測試結果的每一張待測卡片於每個測試點位上進行多次測試的測試結果以及對應的多個磁耦合強度參數資料以校正磁耦合強度參數資料，並找出至少一校正參數傳輸至讀卡機進行更新。
在一實施例中，收集大量且失敗率高的卡片資訊後，電子裝置可依照卡片的種類進行資料分類，例如type A 與type B。再分別對不同種類卡片的失敗感應結果的測試點位做分析。其中依據前述失敗感應測試結果(Test failed type)的種類，搭配感應獲取的卡片磁耦合強度參數資料，統計磁耦合強度參數資料以做平均分佈的統計，以調整出適當的天線驅動強度的區間，移除無效的磁耦合強度參數資料，將卡片的每個測試點位進行參數微調，例如加強或降低天線的耦合強度，以減少讀卡機的支付失敗機率，且本發明也不以前述為限。
最後，執行步驟S107，更新讀卡機的磁耦合強度參數資料，即更新天線參數。其中電子裝置根據校正參數以對讀卡機進行更新韌體。
因此本發明可以免除一般電子支付讀卡機進行卡片認證的過程，而且不需要針對讀卡機進行樣機篩選，也不需要調整與更換天線硬體匹配的電阻，不僅節省測試成本，在測試工序上也大幅減少複雜的流程。
另外，還可以執行步驟S109，複驗多次測試失敗的卡片是否改善。其中電子裝置以對讀卡機進行更新天線參數後，電子裝置透過讀卡機重複測試具有失敗的感應測試結果的各待測卡片，以判斷每一張待測卡片於每個測試點位上進行多次測試的測試結果。在一實施例中，如果複驗的卡片均能測試成功，則執行步驟S111，否則再執行步驟S103以重新驗證。
而且，如果複驗的卡片均能測試成功後，執行步驟S111，對原本已通過測試的卡片複驗。其中當電子裝置判斷讀卡機重複測試具有失敗的感應測試結果的每一張待測卡片於每個測試點位上進行多次測試的測試結果為正常時，電子裝置再透過讀卡機重複測試通過測試的具有失敗的感應測試結果的各待測卡片之外而通過測試的待測卡片。亦即，除了執行步驟S109複驗原先多次測試失敗的卡片以外，也將其餘所有正常的卡片進行再測試，以確認所有的卡片都能正常運作及感應。因此，再執行步驟S113，判斷正確率是否大於95%。其中電子裝置以判斷通過測試的待測卡片的測試結果正確率。在一實施例中，如果判斷通過測試的待測卡片的測試結果正確率大於95%，即執行步驟S115予以結束。另外判斷通過測試的待測卡片的測試結果正確率沒有大於95%時，則再執行步驟S105，對磁耦合強度參數資料進行校正產生新的校正參數，重複進行驗證步驟，直到正確率大於95%。
〔本發明的可能技術效果〕
本發明的可能技術效果在於可藉軟體設定方式修改天線參數設定，避免更改讀卡機的天線相關硬體，以有效降低認證所需要的時間與成本。
最後需要說明的是，於前述說明中，儘管已將本發明技術的概念以多個示例性實施例具體地示出與闡述，然而在此項技術之領域中具有通常知識者將理解，在不背離由以下申請專利範圍所界定的本發明技術的概念之範圍的條件下，可對其作出形式及細節上的各種變化。
1:讀卡機的認證系統
11:電子裝置
12:讀卡機
13:傳輸介面
14:移動機構
15:待測卡片
IV:放大區域
D1: 距離
S100~S115:步驟
圖1呈現本發明一實施例所繪示讀卡機的認證系統的方塊圖。
圖2呈現本發明一實施例所繪示移動機構移動待測卡片進行測試的動作前示意圖。
圖3呈現本發明一實施例所繪示移動機構移動待測卡片進行測試的動作後示意圖。
圖4呈現本發明一實施例所繪示移動機構移動待測卡片到達讀卡機上的相對位置進行測試的側視示意圖。
圖5呈現本發明一實施例所繪示移動機構移動待測卡片到達讀卡機上的相對位置進行測試的俯視示意圖。
圖6呈現本發明一實施例所繪示讀卡機的認證方法的步驟流程。
1:讀卡機的認證系統
11:電子裝置
12:讀卡機
13:傳輸介面
14:移動機構
15:待測卡片
Claims (10)
- 一種讀卡機的認證系統，其包括：一電子裝置；一讀卡機，與該電子裝置連接，該電子裝置控制該讀卡機以進行測試，該讀卡機接收該電子裝置所發出的測試指令以分別對具有失敗感應測試結果的複數張待測卡片進行測試；以及一移動機構，與該電子裝置連接，該電子裝置控制該移動機構移動具有失敗感應測試結果的每一該待測卡片，使得具有失敗感應測試結果的每一該待測卡片移動到達該讀卡機上的多個測試點位；其中該讀卡機以主動式感應分別對具有失敗感應測試結果的每一該待測卡片進行測試時，該讀卡機分別將具有失敗感應測試結果的每一該待測卡片於該讀卡機上的多個測試點位的多個磁耦合強度參數資料回傳到該電子裝置，該電子裝置根據取得具有失敗感應測試結果的複數張待測卡片的多個磁耦合強度參數資料進行分析後相對提供該讀卡機上每一測試點位的一校正參數至該讀卡機，以供該讀卡機的韌體根據該些校正參數進行更新，其中該校正參數為關聯於該讀卡機使用的天線參數。
- 如請求項1所述的讀卡機的認證系統，其中該電子裝置控制該移動機構移動具有失敗感應測試結果的該待測卡片，使得具有失敗感應測試結果的該待測卡片移動到達該讀卡機上不同的相對位置的多個測試點位，其中該校正參數包括在一個該測試點位上移除不適當或無效的其中一個或多個磁耦合強度參數資料、在一個該測試點位上調整多個磁耦合強度參數資料的範圍或者在一個該測試點位上增加或減少多個磁耦合 強度參數資料範圍的數值。
- 如請求項2所述的讀卡機的認證系統，其中該電子裝置控制該移動機構移動具有失敗感應測試結果的該待測卡片，使得具有失敗感應測試結果的該待測卡片移動依序到達該讀卡機上不同的相對位置的每一該測試點位以對具有失敗感應測試結果的該待測卡片進行測試，該讀卡機將具有失敗感應測試結果的該待測卡片依序於該讀卡機上不同的相對位置的每一該測試點位的測試結果及感應測試時的多個磁耦合強度參數資料回傳到該電子裝置。
- 如請求項3所述的讀卡機的認證系統，其中該讀卡機將具有失敗感應測試結果的每一張該待測卡片感應的測試結果及每一張具有失敗感應測試結果的該待測卡片於該讀卡機上相同的相對位置的同一測試點位的多個磁耦合強度參數資料回傳到該電子裝置，該電子裝置分析具有失敗感應測試結果的每一張該待測卡片於該讀卡機上相同的相對位置的同一測試點位的多個磁耦合強度參數資料產生該校正參數，以對該讀卡機進行校正。
- 如請求項1所述的讀卡機的認證系統，其中該電子裝置為一測試主機，該測試主機下達開始進行具有失敗感應測試結果的該待測卡片支付測試的指令傳遞至一軟體適配器，該軟體適配器連接該測試主機的一軟體測試界面與該讀卡機內部的韌體，以進行指令與資料的傳輸。
- 如請求項1所述的讀卡機的認證系統，其中該讀卡機將失敗的感應測試結果的該測試點位的多個磁耦合強度參數資料回傳到該電子裝置，該電子裝置比對多個磁耦合強度參數資料與一基準磁耦合強度參數資料以判斷該測試點位的多個磁耦合強度參數資料是否正確，該電子裝置分析多個磁耦合強度 參數資料以找出該校正參數並傳輸至該讀卡機，以對該讀卡機進行校正。
- 如請求項1所述的讀卡機的認證系統，其中該讀卡機接收該電子裝置所發出的測試指令以對具有失敗感應測試結果的該待測卡片進行測試時，該電子裝置透過一軟體測試介面執行卡片支付測試指令以對具有失敗感應測試結果的該待測卡片進行測試，該讀卡機執行卡片支付測試指令的測試相關動作並與該電子裝置進行資料傳輸。
- 一種讀卡機的認證方法，其步驟包括：以一電子裝置控制一讀卡機以進行測試，該讀卡機接收該電子裝置所發出的測試指令以對複數待測卡片進行測試；以該電子裝置控制一移動機構移動其中一張該待測卡片，使得該待測卡片移動到達該讀卡機上的多個相對位置的多個測試點位而依序在多個測試點位上以對該待測卡片進行測試，以測試每一張該待測卡片；該讀卡機對各該待測卡片進行測試時產生具有失敗感應測試結果的該待測卡片進行再測試，該電子裝置控制該移動機構移動具有失敗感應測試結果的該待測卡片到達該讀卡機上的多個相對位置的多個測試點位進行測試，其中具有失敗感應測試結果的該待測卡片於每個該測試點位上進行多次測試，該電子裝置透過該讀卡機以取得經過再測試的具有失敗感應測試結果的該待測卡片於每個該測試點位上進行多次測試的測試結果以及對應的多個磁耦合強度參數資料；以及該電子裝置根據再測試的具有失敗感應測試結果的每一張該待測卡片於每個該測試點位上進行多次測試的測試結果以及對應的多個磁耦合強度參數資料以校正該磁耦合強度參數資料，並分析找出相對應該讀卡機上每一測試點位的一校正參 數傳輸至該讀卡機的韌體進行更新，其中該校正參數為關聯於該讀卡機使用的天線參數。
- 如請求項8所述的讀卡機的認證方法，其中該電子裝置以對該讀卡機進行更新後，該電子裝置透過該讀卡機重複測試具有失敗感應測試結果的各該待測卡片，以判斷具有失敗感應測試結果的每一張該待測卡片於每個該測試點位上進行多次測試的測試結果。
- 如請求項9所述的讀卡機的認證方法，其中當該電子裝置判斷該讀卡機重複測試具有失敗感應測試結果的每一張該待測卡片於每個該測試點位上進行多次測試的測試結果為正常時，該電子裝置再透過該讀卡機重複測試通過測試的具有失敗感應測試結果的各該待測卡片之外而通過測試的該待測卡片，該電子裝置以判斷通過測試的該待測卡片的測試結果正確率。
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