CN103186756A - 读卡器的测试装置和测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种非接触式读卡器测试装置及测试方法，通过本发明的控制模块对测试模块测试的数据处理，解决了目前非接触式读卡器需要人为判断是否合格，对不合格产品无法进行修正的问题，从而提高生产测试后的产品收发功率的一致性，同时本发明技术方案操作简单，而且适用于量产，可以提高工作效率。

Description

读卡器的测试装置和测试方法

技术领域

本发明涉及射频通讯领域，具体涉及一种非接触式读卡器的测试装置及测试方法。

背景技术

RFID技术已经广泛的应用于移动支付中，并且在越来越多的工商业应用中使用。例如，RFID技术现在被广泛用于仓库、商店中的物品、ID卡或门卡中。此外，RFID技术以RFID标签的非接触式支付或信用卡的形式引入到了支付卡中，射频技术的广泛应用使得消费者在商店、超市中支付变的更加简单、快速和便捷。

伴随着RFID技术在人们生活中的普及，这就提高了对应用了RFID技术的非接触式读卡器的质量要求。在生产阶段，需测试非接触式读卡器的RF收发功率。当前业界通用的测试方法是使用频谱仪加信号源直接测试读卡器的RF收发功率，需要人为判断是否合格，并且对于发射功率偏低或者偏高的产品没有办法进行微量修正，使其达到合格产品的功率。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是，提供一种非接触式读卡器测试装置及测试方法，解决了在对非接触式读卡器进行测试时，无法同时做出修正的问题，保证产品收发功率具有较好的一致性。

本发明提供一种非接触式读卡器测试装置，包括测试模块，控制模块，所述测试模块和待测读卡器均与所述控制模块相连，所述测试模块包括射频单元，所述测试模块通过射频单元与待测读卡器进行数据通信，将接收到的数据输出至控制模块；所述控制模块用于采集接收待测读卡器与所述测试模块的数据信息，并对所述数据信息进行处理。

进一步地，本发明装置的测试模块还包括了修正单元，测试模块通过修正单元修正待测读卡器的参数误差。

进一步地，本发明装置还包括测试架，所述测试架上设置有定位板，所述控制模块和所述测试模块固定在所述定位板上，所述测试装置可调节所述测试模块和所述的待测读卡器之间的通信距离。

更进一步地，本发明装置还包括屏蔽盒，所述屏蔽盒用于收容所述测试模块和所述的待测读卡器，所述屏蔽盒能够屏蔽影响到测试的干扰信号。

本发明还提供了一种非接触式读卡器的测试方法，包括以下步骤：

测试模块与待测读卡器进行通信，获取待测读卡器的性能参数；

控制模块获取测试模块和待测读卡器的数据信息；

控制模块将其内存储的合格读卡器的性能参数与待测读卡器的性能参数进

行比较，判断待测读卡器是否合格。

进一步地，对待测读卡器进行测试的方法包括了：待测读卡器发送至少一个单频点载波；测试模块对个单频点载波进行N次接收，并获取各次发射功率RSSI；计算接收的各单频点载波的发射功率RSSI的平均值，将所述平均值发送至控制模块。

进一步地，根据检测结果判定所述待测读卡器是否合格的方法具体为：对比所述待测读卡器的发射功率平均值和设定的门限值；若所述对比结果在设定范围内，待测读卡器合格；若所述对比结果超过设定范围，待测读卡器不合格。

更进一步地，对待测读卡器的修正方法包括：通过标准的接收功率RSSI与待测读卡器的接收功率RSSI之差计算出功率的偏移量；测试模块根据所述偏移量对所述待测读卡器进行修正。

对待测读卡器进行测试的方法还包括：测试模块通过射频通道向待测读卡器发送数据包；待测读卡器接收所述数据包，以固定功率将所述数据包发送回测试模块；测试模块将发送的数据包和接收到的数据包发送至控制模块进行处理。

进一步地，控制模块对两组数据包处理、分析的方法具体为：对两组数据包进行对比；若两组数据包一致，待测读卡器合格；若两组数据包不一致，待测读卡器不合格。

通过本发明的技术方案，当进行非接触式读卡器测试时，通过测试模块对非接触式读卡器进行测试，并根据测试结果对非接触式读卡器进行修正，提高生产测试后的产品收发功率的一致性，同时本发明技术方案操作简单，而且适用于量产，可以提高工作效率。

附图说明

图1为本发明测试装置一种实施例的结构示意图；

图2为本发明测试方法中一种实施例的流程图；

图3为本发明测试方法中另一种实施例的流程图。

具体实施方式

下面通过具体实施方式结合附图对本发明作进一步详细说明。

请参考图1，显示了一种实施例中的测试装置，该测试装置至少包括了以下模块：控制模块、测试模块。其中，测试模块和待测读卡器均与控制模块相连，测试模块包括射频单元。在测试中，测试模块通过射频单元和待测读卡器进行数据通信，并且将待测读卡器发送来的数据传输给控制模块。控制模块装有测试软件，可以通过该测试软件预设合格读卡器的性能参数，如RF收发功率门限范围和门限次数。控制模块用于根据待测读卡器发送来的数据对接收到的数据进行分析处理，例如可为，对比测试到的数据和预先设定在软件中的门限范围，以此来对判断待测读卡器是否合格。控制模块还可以用作对待测读卡器和测试模块电源的提供。当测试模块和待测读卡器进行通信时，控制模块通过自身安装的测试程序，获得待测读卡器的发送功率和接收功率，并且，接收测试模块和待测读卡器发送来的数据信息，控制测试模块的测试工作。在实际应用中，控制模块可为装有测试软件的计算机，测试模块可为Golden TB板。

在本发明的测试装置中，其中测试模块还可以包括修正单元，当待测读卡器的发送功率超过预先设置在控制模块中的门限范围，控制模块会计算出待测读卡器发射功率的偏移量，并控制测试模块中的修正单元对待测读卡器功率值进行微量修正，使待测读卡器的RF收发功率符合合格产品门限范围。

本发明的测试装置还包括了测试架，在测试架上设置了定位板，待测读卡器和测试模块固定在定位板上。在具体实施中，控制模块控制探测针采集待测读卡器的数据信息，此时，与待测读卡器相连的一端固定在待测读卡器所放置的定位板上，在放置读卡器时，将读卡器所需的测试点与固定在定位板上的探测针针头接触连接，保证在整个测试的过程中，待测读卡器和探测针充分保持良好的连接状态，放置探测针与待测读卡器断开连接而影响到测试过程。测试架还可以调节待测读卡器和测试模块之间的距离，根据不同的情况调节两者之间的距离，使测试模块与待测读卡器之间保证了正常通信的最佳距离。

在本发明的另外一种实施方式中，可以增加一个屏蔽盒，将测试模块和待测读卡器放置于屏蔽盒中进行测试，保证在测试过程中，测试模块和待测读卡器之间的测试良好的通信环境，屏蔽会对测试产生影响的干扰信号，使得测试结果更具准确性。

根据上述的发明装置，本发明还公开了一种测试方法，包括：

测试模块与待测读卡器进行通信；

控制模块获取测试模块和待测读卡器的数据信息；

控制模块根据所述数据信息判断待测读卡器是否合格。

在本发明测试方法的一种实施方式中，读卡器上的射频芯片通过固定某一个天线发射单频点载波，一共发射X个信道的载波，测试模块的射频芯片接收到读卡器上发射出来的RSSI值，对每个信道所发射出来的载波接收N次，并计算出平均值，并且将每次接收到的RSSI值和所得到的RSSI的平均值通过串口发送至控制模块。

对待测读卡器是否合格的判断，可以通过对比待测读卡器的发射功率RSSI平均值和控制模块内预设的门限范围，若待测读卡器的发射功率RSSI的平均值在设定的门限范围内，则判定待测读卡器合格，若待测读卡器的发射功率RSSI的平均值超出了设定的门限范围，则判定待测读卡器不合格。

进一步地，当判定出待测读卡器不合格时，可采用测试模块内的修正单元对不合格读卡器进行功率微量修正，具体为：控制模块通过计算待测读卡器的功率偏移量，具体的将标准RSSI值减去本次测量所得到的RSSI的平均值得出待测读卡器应修正的偏移量，所述标准RSSI值是指测试模块采集的合格读卡器的RSSI值；控制模块发送修正信号给测试模块，测试模块根据所需修正的偏移量对待测读卡器进行修正。

在本发明方法的另一种实施方式中，判断待测读卡器是否合格是通过测试待测读卡器的接收灵敏度来体现的。具体测试过程可为：在控制模块所装的测试软件内预设合格读卡器的门限次数；测试模块使用射频芯片通过射频通道以固定功率发送数据包向待测读卡器发送数据包，测试模块的发射功率可设定为-12dBm；待测读卡器使用射频芯片接收所述数据包，并将接收到的此数据包再用射频芯片以固定功率回传给测试模块；待测读卡器的发射功率可设定为0dBm；测试模块将发送的数据包和接收到的数据包发送至控制模块进行比较，判断是否正确。如此连续测量数次，当正确的次数大于在控制模块中预先设定的门限次数才能判定待测读卡器合格。

对待测读卡器是否合格的判断，还可以通过比较测试模块发送给待测读卡器的发送端数据包和测试模块接收到的从待测读卡器将原数据包发送回的数据包。若比较得两组数据包一致，则判断待测读卡器合格；如果比较得两组数据包不一致，则判断待测读卡器不合格。

以上内容是结合具体的实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明；因此，对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种非接触式读卡器的测试装置，其特征在于，所述装置包括测试模块，控制模块，所述测试模块用于分别与待测读卡器和所述控制模块相连，所述测试模块包括射频单元，所述测试模块通过所述射频单元与待测读卡器进行数据通信，并将自待测读卡器处接收到的数据输出至控制模块；所述控制模块内存储有合格读卡器的性能参数，其用于接收待测读卡器与所述测试模块的数据信息，判断出待测读卡器是否合格。

2.如权利要求1所述的非接触式读卡器的装置，其特征在于，所述测试模块还包括了修正单元，所述测试模块通过所述修正单元修正待测读卡器的参数，使其合格。

3.如权利要求1或2所述的非接触式读卡器的装置，其特征在于，所述装置还包括测试架，所述测试架上设置有定位板，所述待测读卡器和所述测试模块固定在不同的定位板上，所述测试装置可调节所述测试模块和所述的待测读卡器之间的通信距离。

4.如权利要求1或2所述的非接触式读卡器的装置，其特征在于，所述装置还包括屏蔽盒，所述屏蔽盒用于收容所述测试模块和所述的待测读卡器，以屏蔽影响测试的干扰信号。

5.一种非接触式读卡器测试方法，其特征在于，

测试模块与待测读卡器进行通信，获取待测读卡器的性能参数；

控制模块获取测试模块和待测读卡器的数据信息；

控制模块将其内存储的合格读卡器的性能参数与待测读卡器的性能参数进行比较，判断待测读卡器是否合格。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，对待测读卡器进行测试的方法包括：

待测读卡器发送至少一个单频点载波；

测试模块对各单频点载波进行N次接收，并获取各次发射功率RSSI；

计算接收各单频点载波的发射功率RSSI的平均值，将所述平均值发送至控制模块。

7.如权利要求6所述方法，其特征在于，控制模块根据检测结果判定所述待测读卡器是否合格的方法包括为：对比所述待测读卡器的发射功率RSSI平均值和其内预设的门限范围

若所述对比结果在设定范围内，被测读卡器合格；

若所述对比结果超过设定范围，被测读卡器不合格。

8.如权利要求7所述方法，其特征在于，对待测读卡器的修正方法包括：

控制模块计算待测读卡器的功率偏移量；

测试模块根据所述偏移量对所述待测读卡器进行修正。

9.如权利要求5所述方法，其特征在于，对待测读卡器进行测试的方法还包括：

测试模块通过射频通道向待测读卡器发送数据包；

待测读卡器接收所述数据包，以固定功率将所述数据包发送回测试模块；

测试模块将发送的数据包和接收到的数据包发送至控制模块供其判断。

10.如权利要求9所述方法，其特征在于，对待测读卡器合格的判断方法还包括为：

对两组数据包进行对比；

若两组数据包一致，待测读卡器合格；

若两组数据包不一致，待测读卡器不合格。

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