TWI799309B

TWI799309B - 通訊系統的接收器與眼圖量測方法

Info

Publication number: TWI799309B
Application number: TW111124389A
Authority: TW
Inventors: 陳世昌; 張志偉; 余俊錡
Original assignee: 瑞昱半導體股份有限公司
Priority date: 2022-06-29
Filing date: 2022-06-29
Publication date: 2023-04-11
Also published as: TW202402014A; US20240007208A1

Abstract

一種眼圖量測方法包含：依據參考電壓與參考時脈取樣補償後輸入訊號以獲得第一取樣結果；依據掃描電壓和掃描時脈取樣待補償輸入訊號以獲得第二取樣結果，包含：（b1）儲存使第一取樣結果相同於第二取樣結果的最小相位與電壓準位；（b2）提高電壓準位且重複步驟（b1）；（b3）降低電壓準位且重複步驟（b1）；（b4）儲存使第一取樣結果相同於第二取樣結果的最大相位與電壓準位；（b5）提高電壓準位且重複步驟（b4）；（b6）降低電壓準位且重複步驟（b4）。儲存的電壓準位以及最大與最小相位用於調整參考電壓與參考時脈。

Description

通訊系統的接收器與眼圖量測方法

本揭示文件有關眼圖量測技術，尤指一種眼圖量測方法以及相關的接收器。

高速資料傳輸為目前有線通訊技術的發展重點，但有限的通道頻寬會造成符際干擾效應。常見的解決方法為在接收器中使用等化器補償通道造成的影響，並在接收器中使用眼圖監視器（eye monitor）量測等化器之輸出訊號的眼圖以評估等化器的補償效果。舉例來說，眼圖監視器可以將128種電壓偏移搭配上128種相位偏移，以獲得128×128個取樣結果，並基於這些取樣結果繪製以電壓和相位分別為縱軸和橫軸的眼圖。然而，這種眼圖量測方法耗時且需要可觀的儲存空間。

本揭示文件提供一種眼圖量測方法，其包含以下步驟：（a）依據參考電壓與參考時脈取樣補償後輸入訊號，以獲得第一取樣結果；以及（b）依據掃描電壓和掃描時脈取樣待補償輸入訊號以獲得第二取樣結果。步驟（b）包含：（b1）儲存使第一取樣結果相同於第二取樣結果的掃描時脈的最小相位，且儲存最小相位對應的掃描電壓的電壓準位；（b2）提高電壓準位且重複步驟（b1）；（b3）降低電壓準位且重複步驟（b1）；（b4）儲存使第一取樣結果相同於第二取樣結果的掃描時脈的最大相位，且儲存最大相位對應的掃描電壓的電壓準位；（b5）提高電壓準位且重複步驟（b4）；以及（b6）降低電壓準位且重複步驟（b4）。儲存的多個電壓準位、多個最大相位以及多個最小相位用於調整參考電壓與參考時脈。

本揭示文件提供一種接收器。接收器包含決策回授等化器與眼圖監視器。決策回授等化器用於依據參考電壓與參考時脈取樣補償後輸入訊號，以獲得第一取樣結果。決策回授等化器還用於依據掃描電壓和掃描時脈取樣待補償輸入訊號以獲得第二取樣結果。眼圖監視器用於執行以下步驟：（b1）儲存使第一取樣結果相同於第二取樣結果的掃描時脈的最小相位，且儲存最小相位對應的掃描電壓的電壓準位；（b2）提高電壓準位且重複步驟（b1）；（b3）降低電壓準位且重複步驟（b1）；（b4）儲存使第一取樣結果相同於第二取樣結果的掃描時脈的最大相位，且儲存最大相位對應的掃描電壓的電壓準位；（b5）提高電壓準位且重複步驟（b4）；以及（b6）降低電壓準位且重複步驟（b4）。儲存的多個電壓準位、多個最大相位以及多個最小相位用於調整參考電壓與參考時脈。

上述的接收器與眼圖量測方法具有量測速度快且節省記憶空間的優點。

以下將配合相關圖式來說明本揭示文件的實施例。在圖式中，相同的標號表示相同或類似的元件或步驟。

第1圖為依據本揭示文件一實施例的接收器（receiver）100簡化後的功能方塊圖。接收器100包含可變增益放大器110、決策回授等化器120、解串列器130、眼圖監視器140（eye monitor）、時脈資料回復電路150以及電壓產生器160。在一些實施例中，接收器100可以是有線通訊系統的一部份，可變增益放大器110可以透過一或多個通道（channels）自有線通訊系統的發射器（transmitter）接收測試訊號Ts。可變增益放大器110用於放大測試訊號Ts以產生待補償輸入訊號InT，放大測試訊號Ts有助於將通道之特性（例如符間干擾效應）正確傳遞至決策回授等化器120。

決策回授等化器120耦接於可變增益放大器110，用於自可變增益放大器110接收待補償輸入訊號InT。決策回授等化器120包含加法器122、取樣電路124、取樣電路126以及數位訊號處理器128。加法器122用於自數位訊號處理器128接收一或多個補償電壓Vc，並用於加總待補償輸入訊號InT與該一或多個補償電壓Vc，以產生補償後輸入訊號InC。在一些實施例中，加法器122用於補償（亦即減輕）符間干擾效應。

取樣電路124耦接於加法器122，用於依據參考電壓Vg和參考時脈CKg取樣補償後輸入訊號InC。取樣電路126耦接於可變增益放大器110，用於依據掃描電壓Vs和掃描時脈CKs取樣待補償輸入訊號InT。在一些實施例中，取樣電路124和取樣電路126可以分別用資料切割器（data slicer）來實現。

數位訊號處理器128耦接於加法器122和取樣電路124，用於依據取樣電路124的輸出產生補償電壓Vc。在一些實施例中，數位訊號處理器128可以用M階有限脈衝響應濾波器實現，以依據M個抽頭係數產生M個補償電壓Vc，其中M為正整數。

時脈資料回復電路150可以依據測試訊號Ts產生參考時脈CKg和掃描時脈CKs。電壓產生器160用於產生參考電壓Vg和掃描電壓Vs。眼圖監視器140可以控制時脈資料回復電路150，以控制參考時脈CKg和掃描時脈CKs的相位偏移。眼圖監視器140還可以控制電壓產生器160，以控制參考電壓Vg和掃描電壓Vs的電壓偏移。

解串列器130耦接於取樣電路124，用於將取樣電路124輸出的串列資料轉換為平行資料(以下稱為「第一取樣結果GB」)。第一取樣結果GB會傳送至眼圖監視器140和其他的後端數位電路(未繪示)。眼圖監視器140可以依據第一取樣結果GB量測補償後輸入訊號InC的眼圖，其中眼圖可用於評估決策回授等化器120的補償效果。在一些實施例中，解串列器130可以用解多工器來實現。

請同時參考第1圖和第2圖，其中第2圖為依據本揭示文件一實施例的眼圖監視器140簡化後的功能方塊圖。眼圖監視器140包含比較電路210、數位訊號處理器220、儲存電路230以及控制電路240。眼圖監視器140可以將取樣電路126輸出的串列資料轉換為平行資料以產生第二取樣結果RB。在一些實施例中，如第2圖所示，眼圖監視器140還包含解串列器250(例如解多工器)，解串列器250用於將取樣電路126的串列輸出轉換為平行的第二取樣結果RB，但本揭示文件不限於此。比較電路210用於比較第一取樣結果GB和第二取樣結果RB以產生一比較輸出。

數位訊號處理器220可以控制時脈資料回復電路150與電壓產生器160，以調整掃描時脈CKs的相位與掃描電壓Vs的大小，進而控制取樣電路126產生不同取樣條件下的多個第二取樣結果RB。數位訊號處理器220還用於接收比較電路210的比較輸出。藉由處理比較輸出，數位訊號處理器220可以量測補償後輸入訊號InC的眼圖。數位訊號處理器220會將眼圖儲存於儲存電路230。

控制電路240可以依據儲存電路230中的眼圖自動控制時脈資料回復電路150與電壓產生器160，以調整參考電壓Vg與參考時脈CKg。例如，控制電路240可以將參考電壓Vg調整至眼高的中點，及/或將參考時脈CKg調整至眼寬的中點，以提升接收器100對於通道雜訊與符間干擾效應的承受能力。在一些實施例中，控制電路240可以用單晶片通用處理器、多晶片通用處理器、特殊應用積體電路(ASIC)、現場可程式化邏輯閘陣列(FPGA)、其他可程式化的邏輯裝置或以上的任意組合來實現。

以下將配合第1~3圖說明眼圖監視器140量測補償後輸入訊號InC的眼圖之運作，其中第3圖為眼圖監視器140之眼圖量測過程的示意圖。在以下的實施例中，電壓產生器160可以在0~1.5V的範圍中將電壓訊號(例如參考電壓Vg及/或掃描電壓Vs)設定為16階不同的電壓準位，時脈資料回復電路150可以在-157.5°~180°的範圍中將時脈訊號(例如參考時脈CKg及/或掃描時脈CKs)設定為16階不同的相位。參考電壓Vg的電壓準位被設定為0.8V，參考時脈CKg的相位被設定為0°。然而，本揭示文件中各個參數的設定不以上述為限，而是可以依據實際需求設計。例如，在一些實施例中電壓產生器160可以將電壓訊號設定為128階不同的電壓準位，在另一些實施例中時脈資料回復電路150可以將時脈訊號設定為128階不同的相位。

請參照第3圖，第3圖中央的實心圓點代表取樣電路124依據參考電壓Vg與參考時脈CKg取樣之結果，亦即第一取樣結果GB。水平的多個箭號用於說明取樣電路126依據可變的掃描電壓Vs與掃描時脈CKs多次取樣的過程，其中水平箭號與垂直虛線的多個交叉點(例如以中空圓點標示的七個交叉點)各自代表取樣電路126的一次取樣結果，亦即第二取樣結果RB。曲線所圍成之眼形圖案代表補償後輸入訊號InC所形成之眼310。

以下將先描述眼310的左上部分邊界的量測過程，此量測過程對應於第3圖中的多個實線箭號。請參考第2圖，在一些實施例中，透過控制電壓產生器160，數位訊號處理器220將掃描電壓Vs的初始電壓準位設定為最接近電壓產生器160之電壓範圍(例如0~1.5V)的中間值，例如0.8V。另外，透過控制時脈資料回復電路150，數位訊號處理器220將掃描時脈CKs的初始相位設定為時脈資料回復電路150的相位範圍(例如-157.5°~180°)的下限，例如-157.5°。

換言之，數位訊號處理器220控制取樣電路126以0.8V的掃描電壓Vs以及-157.5°的掃描時脈CKs取樣待補償輸入訊號InT，藉此獲得第3圖中的第二取樣結果RB(a)。根據比較電路210的比較輸出，數位訊號處理器220會判斷第一取樣結果GB不同於第二取樣結果RB(a)。在此情況下，數位訊號處理器220會維持掃描電壓Vs不變，且逐階增加掃描時脈CKs的相位，以獲得其他第二取樣結果RB(b)和RB(c)，其中第二取樣結果RB(c)位於眼310的內部，因而相同於第一取樣結果GB。

當判斷第一取樣結果GB與第二取樣結果RB(c)相同時，數位訊號處理器220會停止繼續增加掃描時脈CKs的相位，並於儲存電路230中儲存此時的參數設定。例如，儲存第二取樣結果RB(c)所對應的0.8V以及-112.5°。值得一提的是，被儲存的相位是當前電壓準位下能使第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB的最小相位。例如，在掃描電壓Vs為0.8V的情況下，雖然-112.5°與-90°的掃描時脈CKs皆能令第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB，但僅-112.5°會被儲存於儲存電路230。

換言之，在當前的電壓準位下，數位訊號處理器 220會自相位下限(-157.5°)逐階增加掃描時脈CKs的相位，直到第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB。當第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB時，數位訊號處理器220會儲存此情況下的電壓準位與相位。

接著，數位訊號處理器220可以將掃描電壓Vs增加一階至0.9V，並重複與前述相似的運作。在0.9V的掃描電壓Vs下，數位訊號處理器220會自相位下限(-157.5°)逐階增加掃描時脈CKs的相位，以依序獲得多個第二取樣結果RB(d)、RB(e)、RB(f)和RB(g)，直到其判斷第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB(g)。數位訊號處理器220會於儲存電路230中儲存第二取樣結果RB(g)所對應的0.9V以及-90°。數位訊號處理器220的接續運作可以依此類推，在此不重複贅述。

在一些實施例中，數位訊號處理器220會逐階增加掃描電壓Vs，直到在某一階電壓準位下，當數位訊號處理器220判斷掃描時脈CKs的每階相位皆無法令第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB時，數位訊號處理器220會停止增加掃描電壓Vs的電壓準位。例如，如第3圖所示，在1.4V的電壓準位下，數位訊號處理器220已將掃描時脈CKs自相位下限(-157.5°)切換至相位上限(180°)，但獲得的所有第二取樣結果RB皆位於眼310外部(亦即不同於第一取樣結果GB)，因而數位訊號處理器220不會進一步將掃描電壓Vs的電壓準位提升至1.5V。

以下將描述眼310的左下部分邊界的量測過程，此量測過程對應於第3圖中的多個一點鍊線箭號。數位訊號處理器220將掃描電壓Vs的初始電壓準位設定為最接近電壓產生器160之電壓範圍(例如0~1.5V)的中間值，例如0.7V。另外，數位訊號處理器220將掃描時脈CKs的初始相位設定為時脈資料回復電路150的相位範圍(例如-157.5°~180°)的下限，例如-157.5°。

換言之，數位訊號處理器220控制取樣電路126以0.7V的掃描電壓Vs以及-157.5°的掃描時脈CKs取樣待補償輸入訊號InT。在當前的電壓準位下，數位訊號處理器220會自相位下限(-157.5°)逐階增加掃描時脈CKs的相位，直到第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB。當第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB時，數位訊號處理器220會儲存此情況下的電壓準位與相位設定。接著，數位訊號處理器220可以將掃描電壓Vs減少一階至0.6V，並重複與前述相似的運作。數位訊號處理器220的接續運作可以依此類推，在此不重複贅述。

在一些實施例中，數位訊號處理器220會逐階減少掃描電壓Vs的電壓準位，直到在某一階電壓準位下，當數位訊號處理器220判斷掃描時脈CKs的每階相位皆無法令第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB時，數位訊號處理器220會停止減少掃描電壓Vs的電壓準位。例如，在0.1V的電壓準位下，數位訊號處理器220已將掃描時脈CKs自相位下限(-157.5°)切換至相位上限 (180°)，但獲得的所有第二取樣結果RB皆位於眼310外部(亦即不同於第一取樣結果GB)，因而數位訊號處理器220不會進一步將掃描電壓Vs的電壓準位減少至0V。

以下將描述眼310的右上部分邊界的量測過程，此量測過程對應於第3圖中的多個虛線箭號。數位訊號處理器220將掃描電壓Vs的初始電壓準位設定為最接近電壓產生器160之電壓範圍(例如0~1.5V)的中間值，例如0.8V。另外，數位訊號處理器220將掃描時脈CKs的初始相位設定為時脈資料回復電路150的相位範圍(例如-157.5°~180°)的上限，例如180°。

換言之，數位訊號處理器220控制取樣電路126以0.8V的掃描電壓Vs以及180°的掃描時脈CKs取樣待補償輸入訊號InT。在當前的電壓準位下，數位訊號處理器220會自相位上限(180°)逐階減少掃描時脈CKs的相位，直到第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB。當第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB時，數位訊號處理器220會儲存此情況下的電壓準位與相位設定。接著，數位訊號處理器220可以將掃描電壓Vs增加一階至0.9V，並重複與前述相似的運作。數位訊號處理器220的接續運作可以依此類推，在此不重複贅述。值得一提的是，被儲存的相位是當前電壓準位下能使第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB的最大相位。例如，在掃描電壓Vs為0.8V的情況下，雖然135°與112.5°的掃描時脈CKs皆能令第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB，但僅135°會被儲存於儲存電路230。

與量測左上部分邊界的運作相似，在一些實施例中，在量測右上部分邊界時，當數位訊號處理器220判斷掃描時脈CKs的每階相位皆無法令第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB時，數位訊號處理器220會停止增加掃描電壓Vs的電壓準位。

以下將描述眼310的右下部分邊界的量測過程，此量測過程對應於第3圖中的多個雙點鏈線箭號。數位訊號處理器220將掃描電壓Vs的初始電壓準位設定為最接近電壓產生器160之電壓範圍(例如0~1.5V)的中間值，例如0.7V。另外，數位訊號處理器220將掃描時脈CKs的初始相位設定為時脈資料回復電路150的相位範圍(例如-157.5°~180°)的上限，例如180°。

換言之，數位訊號處理器220控制取樣電路126以0.7V的掃描電壓Vs以及180°的掃描時脈CKs取樣待補償輸入訊號InT。在當前的電壓準位下，數位訊號處理器220會自相位上限(180°)逐階減少掃描時脈CKs的相位，直到第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB。當第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB時，數位訊號處理器220會儲存此情況下的電壓準位與相位設定。接著，數位訊號處理器220可以將掃描電壓Vs減少一階至0.6V，並重複與前述相似的運作。數位訊號處理器220的接續運作可以依此類推，在此不重複贅述。

與量測左下部分邊界的運作相似，在一些實施例中，在量測右下部分邊界時，當數位訊號處理器220判斷掃描時脈CKs的每階相位皆無法令第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB時，數位訊號處理器220會停止減少掃描電壓Vs的電壓準位。

第4圖用於說明本揭示文件一實施例的眼圖。在第4圖中，每個方格對應於一種掃描電壓Vs與掃描時脈CKs的電壓準位與相位之組合。多個「0」和多個「1」的每一者對應於取樣電路126的一次取樣。「0」代表第一取樣結果GB與第二取樣結果RB不同，且儲存電路230不需儲存「0」所對應的參數設定。「1」代表第一取樣結果GB與第二取樣結果RB相同，且「1」對應的參數設定已儲存於儲存電路230。第4圖的眼形圖案僅是為了方便對照第3圖而繪示，並非實際存在於眼圖監視器140量測得到的眼圖中。

由第4圖可知，第2圖的儲存電路230儲存了：(1)能令第一取樣結果GB與第二取樣結果RB相同的多個最小相位，以及這些最小相位對應的多個電壓準位(對應於以網底填充的多個「1」)；以及(2)能令第一取樣結果GB與第二取樣結果RB相同的多個最大相位，以及這些最大相位對應的多個電壓準位(對應於沒有以網底填充的多個「1」)。在本揭示文件中，眼圖監視器140量測到的「眼圖」可以是指第4圖中的多個「1」所形成之圖形。第2圖的控制電路240可以依據儲存電路230中的資料計算眼圖之眼寬和眼高，並依據眼寬和眼高自動調整參考電壓Vg與參考時脈CKg。

傳統的眼圖量測方法會使用每一種掃描電壓Vs與掃描時脈CKs的組合進行量測。因此，在16階的掃描電壓Vs與16階的掃描時脈CKs的設置下，傳統的眼圖量測方法共需量測256次(亦即16×16次)。相較之下，第4圖中的「0」和「1」僅有151個，亦即於相同條件下眼圖監視器140僅需量測151次，其中空白方格的總數即為眼圖監視器140相較傳統的眼圖量測方法可以節省的量測次數。另外，傳統的眼圖量測方法會儲存每一次量測結果，亦即儲存256種掃描電壓Vs與掃描時脈CKs的組合。相較之下，第4圖中的「1」僅有24個，亦即眼圖監視器140僅需儲存24種掃描電壓Vs與掃描時脈CKs的組合。總而言之，眼圖監視器140具有量測速度快且節省記憶空間的優點。

第5圖為依據本揭示文件一實施例的眼圖監視器140簡化後的功能方塊圖。第5圖的眼圖監視器140不包含控制電路240，且其儲存電路230耦接於串列器510(例如多工器)。眼圖監視器140用於將儲存電路230中的資料(亦即電壓準位、最大相位以及最小相位)透過串列器510輸出至外部計算裝置520，其中串列器510用於將平行資料轉換為串列資料。外部計算裝置520用於依據接收到的資料(亦即電壓準位、最大相位以及最小相位)控制外部顯示器530顯示眼圖，以作為使用者調整參考電壓Vg與參考時脈CKg的依據。在一些實施例中，外部計算裝置520可以由個人電腦、筆記型電腦、其他具有邏輯運算能力的電子裝置或以上的任意組合來實現。第5圖的眼圖監視器140的其餘元件、連接關係、運作與優點皆相似於第2圖的實施例，為簡潔起見，在此不重複贅述。

第6圖為依據本揭示文件一實施例的眼圖量測方法600的流程圖。眼圖量測方法600可以由第1圖的接收器100來執行。眼圖量測方法600包含步驟S61和S62。在步驟S61中，決策回授等化器120依據參考電壓Vg與參考時脈CKg取樣補償後輸入訊號InC，以獲得第一取樣結果GB。在步驟S62中，決策回授等化器120依據掃描電壓Vs與掃描時脈CKs取樣待補償輸入訊號InT，以獲得第二取樣結果RB。

第7圖用於進一步說明眼圖量測方法600的步驟S62，其中步驟S62包含步驟S601~S612。在步驟S601中，眼圖監視器140會儲存使第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB的掃描時脈CKs的最小相位，且儲存此最小相位對應的掃描電壓Vs的電壓準位。眼圖監視器140可以自相位下限逐階增加掃描時脈CKs的相位，直到第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB。接著，當第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB時，眼圖監視器140會儲存掃描時脈CKs的相位以作為最小相位。

於步驟S602中，眼圖監視器140判斷第二取樣結果RB在掃描時脈CKs的每階相位是否皆不同於第一取樣結果GB。若否，眼圖監視器140會接著執行步驟S603 以將掃描電壓Vs的電壓準位提高一階，其中在步驟S603完成後，眼圖監視器140會重複執行步驟S601。若步驟S602的判斷為是(亦即在掃描時脈CKs的每階相位，第二取樣結果RB皆不同於第一取樣結果GB)，眼圖監視器140會接著執行步驟S604。

步驟S604和S605分別相似於步驟S601和S602，為簡潔起見，在此不重複贅述。若S605的判斷為否，眼圖監視器140會接著執行步驟S606以將掃描電壓Vs的電壓準位降低一階，其中在步驟S606完成後，眼圖監視器140會重複執行步驟S604。若步驟S605的判斷為是，眼圖監視器140會接著執行步驟S607。

在步驟S607中，眼圖監視器140會儲存使第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB的掃描時脈CKs的最大相位，且儲存此最大相位對應的掃描電壓Vs的電壓準位。眼圖監視器140可以自相位上限逐階減少掃描時脈CKs的相位，直到第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB。接著，當第一取樣結果GB相同於第二取樣結果RB時，眼圖監視器140會儲存掃描時脈CKs的相位以作為最大相位。

於步驟S608中，眼圖監視器140判斷第二取樣結果RB在掃描時脈CKs的每階相位是否皆不同於第一取樣結果GB。若否，眼圖監視器140會接著執行步驟S609以將掃描電壓Vs的電壓準位提高一階，其中在步驟S609完成後，眼圖監視器140會重複執行步驟S607。若步驟 S608的判斷為是(亦即在掃描時脈CKs的每階相位，第二取樣結果RB皆不同於第一取樣結果GB)，眼圖監視器140會接著執行步驟S610。

步驟S610和S611分別相似於步驟S607和S608，為簡潔起見，在此不重複贅述。若S611的判斷為否，眼圖監視器140會接著執行步驟S612以將掃描電壓Vs的電壓準位降低一階，其中在步驟S612完成後，眼圖監視器140會重複執行步驟S610。若步驟S611的判斷為是，眼圖監視器140可以結束眼圖量測方法600。

眼圖量測方法600可包含相較於流程圖所示較多或較少的步驟，且眼圖量測方法600中的步驟可以任何合適的順序執行。在一些實施例中，步驟S601~S603、步驟S604~S606、步驟S607~S609以及步驟S610~S612這四組步驟的執行順序可以互相交換。在一些實施例中，前述四組步驟中的任意二組可以平行執行。在一些實施例中，前述四組步驟可以平行執行。

在說明書及申請專利範圍中使用了某些詞彙來指稱特定的元件。然而，所屬技術領域中具有通常知識者應可理解，同樣的元件可能會用不同的名詞來稱呼。說明書及申請專利範圍並不以名稱的差異做為區分元件的方式，而是以元件在功能上的差異來做為區分的基準。在說明書及申請專利範圍所提及的「包含」為開放式的用語，故應解釋成「包含但不限定於」。另外，「耦接」在此包含任何直接及間接的連接手段。因此，若文中描述第一元件耦接於第二元件，則代表第一元件可通過電性連接或無線傳輸、光學傳輸等訊號連接方式而直接地連接於第二元件，或者通過其他元件或連接手段間接地電性或訊號連接至該第二元件。

在此所使用的「及/或」的描述方式，包含所列舉的其中之一或多個項目的任意組合。另外，除非說明書中特別指明，否則任何單數格的用語都同時包含複數格的涵義。

以上僅為本揭示文件的較佳實施例，在不脫離本揭示文件的範圍或精神的情況下，可以對本揭示文件進行各種修飾和均等變化。綜上所述，凡在以下請求項的範圍內對於本揭示文件所做的修飾以及均等變化，皆為本揭示文件所涵蓋的範圍。

100:接收器

110:可變增益放大器

120:決策回授等化器

122:加法器

124:取樣電路

126:取樣電路

128:數位訊號處理器

130:解串列器

140:眼圖監視器

150:時脈資料回復電路

160:電壓產生器

210:比較電路

220:數位訊號處理器

230:儲存電路

240:控制電路

250:解串列器

510:串列器

520:外部計算裝置

530:外部顯示器

600:眼圖量測方法

S61~S62,S601~S612:步驟

CKg:參考時脈

CKs:掃描時脈

InT:待補償輸入訊號

InC:補償後輸入訊號

GB:第一取樣結果

RB,RB(a)~RB(g):第二取樣結果

Ts:測試訊號

Vg:參考電壓

Vs:掃描電壓

Vc:補償電壓

第1圖為依據本揭示文件一實施例的接收器簡化後的功能方塊圖。第2圖為依據本揭示文件一實施例的眼圖監視器簡化後的功能方塊圖。第3圖為眼圖監視器之眼圖量測過程的示意圖。第4圖用於說明本揭示文件一實施例的眼圖。第5圖為依據本揭示文件一實施例的眼圖監視器簡化後的功能方塊圖。第6圖為依據本揭示文件一實施例的眼圖量測方法的流程圖。第7圖用於進一步說明眼圖量測方法的步驟。