TWI789669B

TWI789669B - 電子裝置及其影像處理方法

Info

Publication number: TWI789669B
Application number: TW109147217A
Authority: TW
Inventors: 林勝雄; 蔡欣洋; 羅文期
Original assignee: 致茂電子股份有限公司
Priority date: 2020-12-31
Filing date: 2020-12-31
Publication date: 2023-01-11
Also published as: TW202227956A

Abstract

一種電子裝置及其影像處理方法。電子裝置儲存第一影像及複數演算法。各演算法包含複數演算法流程及對應各演算法流程之複數參數。電子裝置讀取第一影像，並透過顯示器，於操作介面之第一區域顯示第一影像。當該等演算法中之第一演算法所包含之第一演算法流程對應之第一參數由第一數值變更為第二數值時，因應第二數值，將第一影像變更為第二影像。

Description

電子裝置及其影像處理方法

本發明係關於一種電子裝置及其影像處理方法。具體而言，電子裝置所顯示之影像可隨著演算法流程對應之參數改變而變化為與參數對應之影像。

現有的影像處理流程中，檢測演算法的操作介面都需要先將所有演算法對應的全部參數設定完成，並按下測試按鈕後，顯示介面才會顯示最後的結果。然而，演算法中包含多個演算法流程，且每個演算法流程對應的參數可能不只一個。因此，演算法的過程無法被檢查，使得工程人員或售服人員在操作上不容易理解。

有鑑於此，本領域亟需一種影像處理機制，其可在選擇演算法後，於調整參數的同時，立即顯示測試過程的影像變化。

本發明之目的在於提供一種影像處理機制，其藉由在操作介面同時顯示影像以及對影像進行處理須用到的演算法、演算法流程及參數，並使操作介面所顯示的影像可隨著參數的調整而即時的變更。據此，本發明之影像處理機制不僅可使影像即時變更，亦可追蹤影像處理過程中的各個流程，並進一步縮短對影像偵錯的時間。

為達上述目的，本發明揭露一種電子裝置，其包含一儲存器、一顯示器以及一處理器。該儲存器用以儲存一第一影像及複數演算法。各該演算法包含複數演算法流程及對應各該演算法流程之複數參數。該顯示器用以顯示一操作介面。該處理器電性連接至該儲存器及該顯示器，且用以執行至少下列操作：自該儲存器讀取該第一影像，並透過該顯示器，於該操作介面之一第一區域顯示該第一影像；以及當該等演算法中之一第一演算法所包含之一第一演算法流程對應之一第一參數由一第一數值變更為一第二數值時，因應該第二數值，將該第一影像變更為一第二影像。

此外，本發明更揭露一種用於一電子裝置之影像處理方法。該電子裝置包含一儲存器、一顯示器及一處理器。該儲存器儲存一第一影像、一目標影像及複數演算法。各該演算法包含複數演算法流程及對應各該演算法流程之複數參數。該顯示器顯示一操作介面。該影像處理方法由該處理器執行且包含下列步驟：執行該等演算法中之一第一演算法所包含之一第一演算法流程；當該第一演算法流程所對應之一第一參數由一第一數值變更為一第二數值時，因應該第二數值，將該操作介面之一第一區域所顯示之一第一影像切換為一第二影像；以及根據該第二影像之一第一影像特徵與該目標影像之一比對結果，調整該第一參數。

在參閱圖式及隨後描述之實施方式後，此技術領域具有通常知識者便可瞭解本發明之其他目的，以及本發明之技術手段及實施態樣。

以下將透過實施例來解釋本發明內容，本發明的實施例並非用以限制本發明須在如實施例所述之任何特定的環境、應用或特殊方式方能實施。因此，關於實施例之說明僅為闡釋本發明之目的，而非用以限制本發明。需說明者，以下實施例及圖式中，與本發明非直接相關之元件已省略而未繪示，且圖式中各元件間之尺寸關係僅為求容易瞭解，並非用以限制實際比例。

本發明第一實施例如圖1-6所示。圖1係本發明電子裝置之示意圖。電子裝置1包含儲存器11、顯示器13以及處理器15。電子裝置1可為一桌上型電腦電腦、一筆記型電腦及一量測機台，但不限於此。儲存器11用以儲存第一影像IM1及複數演算法A1-An。各演算法A1-An包含複數演算法流程P1-Pm及對應各演算法流程之複數參數V1-Vj。

請參考圖2，其描繪本發明顯示介面之示意圖。顯示器13用以顯示操作介面131。顯示介面131至少包含第一區域R1、第二區域R2、第三區域R3、第四區域R4及第五區域R5。

處理器15電性連接至儲存器11及顯示器13，用以自儲存器11讀取第一影像IM1，並透過顯示器13，於操作介面131之第一區域R1顯示第一影像IM1，於操作介面131之第二區域R2顯示演算法列表L1，於操作介面131之第三區域R3顯示演算法流程列表L2，於操作介面131之第四區域R4顯示參數列表L3，以及於操作介面131之第五區域R5顯示按鈕L4。

演算法列表L1包含演算法A1-An。演算法流程列表L2包含各演算法A1-An之該等演算法流程P1-Pm。參數列表L3包含對應各演算法流程P1-Pm之該等參數V1-Vj。

當該等演算法A1-An中之第一演算法所包含之第一演算法流程對應之第一參數由第一數值變更為第二數值時，處理器15因應第二數值，將第一影像IM1變更為第二影像IM2。簡言之，第一區域R1所顯示之影像可隨著參數的調整而即時改變。

舉例而言，請參考圖3至圖6。若處理器15要對第一影像IM1進行瑕疵檢測，以找到第一影像IM1中的瑕疵區域，處理器15於讀取到第一影像IM1並將其顯示於第一區域R1後，於演算法列表L1中顯示可用來對第一影像IM1進行檢測的多個演算法選項「RX Lens+InnerCircleDetection+VarThreshold#1」、「RX Barrel+ OuterCircleLocation+DynThreshold#1」、「RX Lens+InnerCircleDetection+ Threshold#2」、「RX Barrel+ OuterCircleLocation+TextureModel+Chipping#1」、「RX Lens+InnerCircleDetection+VarThreshold#2」、「RX Barrel+TextureModel+ Threshold#1」。

請參考圖3，假設目前要調整之演算法為「RX Lens+InnerCircleDetection+VarThreshold#1」，處理器15再進一步從演算法流程列表L2中選擇要檢測的演算法流程「RXDetectionROI」，進行初步定位檢測，ROI為感興趣的區域（Region of interest；ROI），透過此演算法流程在第一影像IM1中可定位出要檢測的區域（即瑕疵區域）。此時，參數列表L3中則顯示對應演算法流程「RXDetectionROI」之參數「InputRegion」、「Find ROI Image」、「Max Lens Threshold」及「Max Barrel Threshold」。

接著，請參考圖4，於調整完演算法流程「RXDetectionROI」之相關操作後，處理器15再從演算法流程列表L2中選擇另一個演算法流程「ReduceDomain」，此演算法流程是剔除ROI以外的影像（全為黑色），並保留了ROI內的原始影像。參數列表L3中顯示對應演算法流程「ReduceDomain」之參數包含「SelectImage」、「DetectRegion」、「ReduceSelectImage」。

透過前述演算法流程完成定位ROI定位後，處理器15選擇演算法流程「VarThreshold」開始調整檢測參數。演算法流程「VarThreshold」對應之參數包含「VarMaskHeight」、「VarStdDevScale」、「VarAbsThreshold」及「VarThresholdMode」。

圖5係顯示參數「VarMaskHeight」為255畫素（pixel）、參數「VarStdDevScale」為0.8百分比（percentage）及參數「VarAbsThreshold」為200 GV時之影像。若使用者判斷圖5所顯示之影像是不完整的瑕疵區域，則需再調整參數直到所顯示的影像包含完整的瑕疵區域。圖6係顯示參數「VarAbsThreshold」由200 GV調整為20 GV後的影像，此影像中已包含完整的瑕疵區域。

於其他實施例中，儲存器11更儲存目標影像（圖未繪示），目標影像係對應第一演算法流程應有的影像特徵，處理器15根據目前顯示的第二影像IM2之影像特徵與目標影像IMT比對後之比對結果，調整第一參數。

本發明第二實施例如圖7所示。第二實施例為第一實施例之延伸。第一影像IM1除了可隨著參數的調整即時變更為對應目前參數的第二影像IM2以外，當第五區域R5顯示之按鈕L5被點選時，處理器15因應按鈕之操作，基於各演算法流程之各參數之目前參數值，將第二影像IM2變更為第三影像IM3。換言之，第三影像IM3為第二影像IM2經過被選擇之所有演算法處理後所產生的影像。

儲存器11除了儲存與各演算法流程對影之目標影像外，亦可儲存與最終影像（即第三影像IM3）對應之目標影像，並將第三影像IM3之影像特徵與目標影像IMT進行比對，以產生比對結果。若第三影像IM3之影像特徵與目標影像之比對結果差異過大，則處理器15根據比對結果執行追蹤流程，以及基於追蹤流程之追蹤結果，調整該等演算法流程中之第二演算法流程對應之第二參數。

於本發明中，追蹤流程可以倒序方式檢測各演算法流程。具體而言，儲存器11儲存對應各演算法流程之流程影像及流程參考影像，處理器15針對該等演算法流程，以倒序方式逐一檢測處理第一影像IM1時被選取的所有演算法之各演算法流程列表中各演算法流程對應之流程影像與流程參考影像是否實質上相同。

換言之，若以倒序方式檢測，處理器15最先從演算法流程中最後一個被執行的演算法流程開始檢測，再檢測倒數第二個被執行的演算法流程，依此類推，檢測到第一個被執行的演算法流程，以判斷要針對哪一個演算法流程對應之參數做調整，才能夠使第三影像IM3呈現出包含完整瑕疵區域的影像，或者使調整後之流程影像與流程參考影像實質上相同。

除了以倒序方式檢測以外，於其他實施例中，處理器15亦可直接在所有演算法流程中，針對與流程參考影像實質上不同之流程影像，檢測對應之演算法流程。詳言之，處理器15可先計算各演算法流程之流程影像之影像特徵與流程參考影像間之特徵相似度。若特徵相似度低於臨界值，代表各流程影像與其對應之流程參考影像差異過大（即實質上不同），則處理器15可直接針對差異過大之演算法流程調整對應之參數。

本發明第三實施例係描述一影像處理方法，其流程圖如圖8所示。影像處理方法適用於一電子裝置（例如：前述實施例之電子裝置1）。電子裝置包含一儲存器、一顯示器及一處理器。儲存器儲存一第一影像、一目標影像及複數演算法。各演算法包含複數演算法流程及對應各演算法流程之複數參數。顯示器顯示一操作介面。影像處理方法由處理器執行，其所包含之步驟說明如下。

首先，於步驟S802中，執行該等演算法中之一第一演算法所包含之一第一演算法流程。於步驟S804中，當第一演算法流程所對應之一第一參數由一第一數值變更為一第二數值時，因應該第二數值，將操作介面之一第一區域所顯示之一第一影像切換為一第二影像。於步驟S806中，根據第二影像之一第一影像特徵與目標影像之一比對結果，調整第一參數。

於其他實施例中，影像處理方法更包含執行該等演算法流程，並基於各演算法流程之各參數之一目前參數值，將第二影像變更為一第三影像。

於其他實施例中，影像處理方法更包含根據第三影像之一第二影像特徵與目標影像之一比對結果，執行一追蹤流程，以及基於追蹤流程之一追蹤結果調整該等演算法流程中之一第二演算法流程對應之一第二參數。

於其他實施例中，儲存器更儲存對應各演算法流程之一流程影像及一流程參考影像。影像處理方法更包含針對該等演算法流程，以一倒序方式檢測演算法流程列表中各演算法流程對應之流程影像與流程參考影像是否實質上相同。

於其他實施例中，儲存器更儲存對應各演算法流程之一流程影像及一流程參考影像。影像處理方法更包含在該等演算法流程中，針對與流程參考影像實質上不同之流程影像，檢測對應之演算法流程。

除了上述步驟，本發明之影像處理方法亦能執行在所有前述實施例中所闡述之所有操作並具有所有對應之功能，所屬技術領域具有通常知識者可直接瞭解此實施例如何基於所有前述實施例執行此等操作及具有該等功能，故不贅述。

綜上所述，本發明之影像處理機制藉由在操作介面顯示處理影像時所需之影像、演算法列表、演算法流程列表及參數列表，使參數在調整的過程中，影像可因應參數的變化而即時改變，且本發明可在處理影像的過程中可直接調整任一演算法流程對應之參數，因此可進一步達到即時反饋演算法流程的正確性與結果。

上述之實施例僅用來例舉本發明之實施態樣，以及闡釋本發明之技術特徵，並非用來限制本發明之保護範疇。任何熟悉此技術者可輕易完成之改變或均等性之安排均屬於本發明所主張之範圍，本發明之權利保護範圍應以申請專利範圍為準。

1:電子裝置 11:儲存器 13:顯示器 15:處理器 A1-An:演算法 P1-Pm:演算法流程 V1-Vj:參數 R1:第一區域 R2:第二區域 R3:第三區域 R4:第四區域 R5:第五區域 L1:演算法列表 L2:演算法流程列表 L3:參數列表 L4:按鈕 S802-S806:步驟

圖1係本發明電子裝置之示意圖；圖2描繪本發明顯示介面之示意圖；圖3描繪本發明影像處理之實施情境；圖4描繪本發明影像處理之實施情境；圖5描繪本發明影像處理之實施情境；圖6描繪本發明影像處理之實施情境；圖7描繪本發明影像處理之實施情境；以及圖8係本發明影像處理方法之流程圖。

無

S802-S806:步驟

Claims

一種電子裝置，包含：一儲存器，用以儲存一第一影像、複數演算法及一目標影像，各該演算法包含複數演算法流程及對應各該演算法流程之複數參數；一顯示器，用以顯示一操作介面；以及一處理器，電性連接至該儲存器及該顯示器，用以執行至少下列操作：自該儲存器讀取該第一影像，並透過該顯示器，於該操作介面之一第一區域顯示該第一影像；當該等演算法中之一第一演算法所包含之一第一演算法流程對應之一第一參數由一第一數值變更為一第二數值時，因應該第一參數的變更，將該第一區域所顯示的該第一影像即時變更為對應該第二數值的一第二影像；以及比對該第二影像之一第一影像特徵和該目標影像間之一特徵相似度，其中當該特徵相似度低於一臨界值，直接調整該第一參數使該第二影像和該目標影像實質相同。
如請求項1所述之電子裝置，其中該處理器更用以執行下列操作：透過該顯示器，於該操作介面之一第二區域顯示一演算法列表，該演算法列表包含該等演算法；透過該顯示器，於該操作介面之一第三區域顯示一演算法流程列表，該演算法流程列表包含各該演算法之該等演算法流程；透過該顯示器，於該操作介面之一第四區域顯示一參數列表，該參數列表包含對應各該演算法流程之該等參數；透過該顯示器，於該操作介面之一第五區域顯示一按鈕；以及因應該按鈕之一操作，基於各該演算法流程之各該參數之一目前參數值，將該第二影像變更為一第三影像。
如請求項2所述之電子裝置，該處理器更用以執行下列操作：根據該第三影像之一第二影像特徵與該目標影像之一比對結果，執行一追蹤流程；以及基於該追蹤流程之一追蹤結果，調整該等演算法流程中之一第二演算法流程對應之一第二參數。
如請求項3所述之電子裝置，其中該儲存器更用以儲存對應各該演算法流程之一流程影像及一流程參考影像，該處理器更用以執行下列操作：針對該等演算法流程，以一倒序方式檢測該演算法流程列表中各該演算法流程對應之該流程影像與該流程參考影像是否實質上相同。
如請求項3所述之電子裝置，其中該儲存器更用以儲存對應各該演算法流程之一流程影像以及一流程參考影像，該處理器更用以執行下列操作：在該等演算法流程中，針對與該流程參考影像實質上不同之該流程影像，檢測對應之該演算法流程。
一種用於一電子裝置之影像處理方法，該電子裝置包含一儲存器、一顯示器及一處理器，該儲存器儲存一第一影像、一目標影像及複數演算法，各該演算法包含複數演算法流程及對應各該演算法流程之複數參數，該顯示器顯示一操作介面，該影像處理方法由該處理器執行且包含下列步驟：執行該等演算法中之一第一演算法所包含之一第一演算法流程；當該第一演算法流程所對應之一第一參數由一第一數值變更為一第二數值時，因應該第一參數的變更，將該操作介面之一第一區域所顯示之一第一影像即時切換為對應該第二數值的一第二影像；以及比對該第二影像之一第一影像特徵與該目標影像間之一特徵相似度，其中當該特徵相似度低於一臨界值，直接調整該第一參數使該該第二影像和該目標影像實質相同。
如請求項6所述之影像處理方法，更包含下列步驟：執行該等演算法流程，並基於各該演算法流程之各該參數之一目前參數值，將該第二影像變更為一第三影像。
如請求項7所述之影像處理方法，更包含下列步驟：根據該第三影像之一第二影像特徵與該目標影像之一比對結果，執行一追蹤流程；以及基於該追蹤流程之一追蹤結果調整該等演算法流程中之一第二演算法流程對應之一第二參數。
如請求項8所述之影像處理方法，其中該儲存器更儲存對應各該演算法流程之一流程影像及一流程參考影像，該影像處理方法更包含下列步驟：針對該等演算法流程，以一倒序方式檢測該演算法流程列表中各該演算法流程對應之該流程影像與該流程參考影像是否實質上相同。
如請求項8所述之影像處理方法，其中該儲存器更儲存對應各該演算法流程之一流程影像及一流程參考影像，該影像處理方法更包含下列步驟：在該等演算法流程中，針對與該流程參考影像實質上不同之該流程影像，檢測對應之該演算法流程。