TWI768848B - 可撓式光感測面板及其製造方法 - Google Patents
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Abstract
一種可撓式光感測面板包括可撓性基板、波長轉換層、光電轉換層、中介層以及黏著層。波長轉換層設置於可撓性基板上。光電轉換層重疊設置於波長轉換層，且位於可撓性基板與波長轉換層之間。中介層設置於光電轉換層與可撓性基板之間。黏著層設置於中介層與可撓性基板之間。可撓性基板與中介層的其中至少一者的玻璃轉移溫度大於150℃。一種可撓式光感測面板的製造方法亦被提出。
Description
本發明是有關於一種光感測面板及其製造方法，且特別是有關於一種可撓式光感測面板及其製造方法。
光感測器的應用非常廣泛。較常見的有數位相機或攝影機所使用的影像感測器，例如互補式金屬氧化物半導體（Complementary Metal-Oxide-Semiconductor，CMOS）影像感測器或電荷耦合元件（Charge-coupled Device，CCD）。除此之外，用於安檢、工業檢測或醫療診察的非可見光（例如X射線）感測器，因其高附加價值而成為相關製造商的重點開發項目。其中一種適於安裝在彎曲表面上的X射線感測器，更能滿足不同應用情境下的使用需求。
由於這類X射線感測器需具有可撓性，因此其基板一般是使用高分子基板，例如聚乙烯對苯二甲酸酯（Polyethylene Terephthalate，PET）。然而，在這類X射線感測器的製造過程中，上述的高分子基板並無法承受波長轉換層的熱蒸鍍製程的高溫，因此容易在基板與功能性膜層之間形成皺褶，導致整體的生產良率無法提升。
本發明提供一種可撓式光感測面板，其具有較佳的製程彈性。
本發明提供一種可撓式光感測面板的製造方法，其生產良率較佳。
本發明的可撓式光感測面板，包括可撓性基板、波長轉換層、光電轉換層、中介層以及黏著層。波長轉換層設置於可撓性基板上。光電轉換層重疊設置於波長轉換層，且位於可撓性基板與波長轉換層之間。中介層設置於光電轉換層與可撓性基板之間。黏著層設置於中介層與可撓性基板之間。可撓性基板與中介層的其中至少一者的玻璃轉移溫度大於150℃。
本發明的可撓式光感測面板的製造方法，包括於暫時基板上依序形成中介層與光電轉換層、進行熱蒸鍍製程，以形成波長轉換層於光電轉換層上、移除暫時基板，並暴露出中介層以及將可撓性基板貼附於中介層。中介層位於暫時基板與光電轉換層之間。可撓性基板、中介層與暫時基板的其中至少一者的玻璃轉移溫度大於150℃。
基於上述，在本發明的一實施例的可撓式光感測面板的製造方法中，透過可撓式基板與暫時基板的至少一者的玻璃轉移溫度大於150℃，能避免可撓性基板與各膜層之間發生皺褶的現象，有助於提升可撓式感測面板的生產良率。另一方面，藉由中介層的設置，可增加各膜層於不同基板之間的轉移成功率。換句話說，本發明的一實施例的可撓式光感測面板可具有較佳的製程彈性。
本文使用的「約」、「近似」、「本質上」、或「實質上」包括所述值和在本領域普通技術人員確定的特定值的可接受的偏差範圍內的平均值，考慮到所討論的測量和與測量相關的誤差的特定數量（即，測量系統的限制）。例如，「約」可以表示在所述值的一個或多個標準偏差內，或例如±30%、±20%、±15%、±10%、±5%內。再者，本文使用的「約」、「近似」、「本質上」、或「實質上」可依量測性質、切割性質或其它性質，來選擇較可接受的偏差範圍或標準偏差，而可不用一個標準偏差適用全部性質。
在附圖中，為了清楚起見，放大了層、膜、面板、區域等的厚度。應當理解，當諸如層、膜、區域或基板的元件被稱為在另一元件「上」或「連接到」另一元件時，其可以直接在另一元件上或與另一元件連接，或者中間元件可以也存在。相反，當元件被稱為「直接在另一元件上」或「直接連接到」另一元件時，不存在中間元件。如本文所使用的，「連接」可以指物理及/或電性連接。再者，「電性連接」可為二元件間存在其它元件。
現將詳細地參考本發明的示範性實施方式，示範性實施方式的實例說明於所附圖式中。只要有可能，相同元件符號在圖式和描述中用來表示相同或相似部分。
圖1是本發明的一實施例的可撓式光感測面板的剖視示意圖。圖2A至圖2G是圖1的可撓式光感測面板的製造方法的流程剖視圖。特別說明的是，為清楚呈現與說明起見，圖2A至圖2G省略了圖1的感測像素陣列層200的細部結構的繪示。
請參照圖1，可撓式光感測面板10包括可撓性基板100、中介層110、黏著層120、感測像素陣列層200以及波長轉換層300。黏著層120連接於可撓性基板100與中介層110之間。中介層110設置於感測像素陣列層200與黏著層120之間。波長轉換層300設置於感測像素陣列層200遠離中介層110的一側。
可撓式光感測面板10用於接收來自圖1上側的光線並依據此光線的強度輸出相對應的電訊號。舉例來說，上述光線可以是X射線（x-ray），且在入射波長轉換層300後被吸收並轉換成可見光。部分的可見光在傳遞至感測像素陣列層200後被吸收並產生對應的電訊號。更具體地說，可撓式光感測面板10適用於感測X射線影像。也因此，波長轉換層300的材料可以是碘化銫（Cesium Iodide，CsI）。
在本實施例中，感測像素陣列層200為主動元件層210、光電轉換層220與訊號走線層230的疊層架構。舉例來說，主動元件層210包括多個主動元件T，且這些主動元件T是以陣列的方式排列（未繪示）。形成主動元件T的方法可包括以下步驟：於中介層110上依序形成阻障層211、閘極GE、閘絕緣層212、半導體圖案SC、源極SE與汲極DE，其中源極SE與汲極DE直接接觸半導體圖案SC的不同兩區（例如源極區與汲極區）。
在本實施例中，主動元件T的閘極GE可選擇性地配置在半導體圖案SC的下方，以形成底部閘極型薄膜電晶體（bottom-gate TFT），但本發明不以此為限。根據其他的實施例，主動元件的閘極GE也可配置在半導體圖案SC的上方，以形成頂部閘極型薄膜電晶體（top-gate TFT）。另一方面，半導體圖案SC的材質例如是非晶矽材料。也就是說，主動元件T可以是非晶矽薄膜電晶體（Amorphous Silicon TFT，a-Si TFT）。然而，本發明不限於此，在其他實施例中，主動元件也可以是低溫多晶矽薄膜電晶體（LTPS TFT）、微晶矽薄膜電晶體（micro-Si TFT）或金屬氧化物電晶體（Metal Oxide Transistor）。
需說明的是，閘極GE、源極SE、汲極DE、阻障層211及閘絕緣層212分別可由任何所屬技術領域中具有通常知識者所周知的用於顯示面板的任一閘極、任一源極、任一汲極、任一阻障層及任一閘絕緣層來實現，且閘極GE、源極SE、汲極DE、阻障層211及閘絕緣層212分別可藉由任何所屬技術領域中具有通常知識者所周知的任一方法來形成，故於此不加以贅述。此外，本發明並不加以侷限感測像素陣列層200的驅動方式，在其他實施例中，感測像素陣列層也可不具有主動元件層210。亦即，感測像素陣列層的驅動方式也可以是被動式。
感測像素陣列層200更包括絕緣層213，設置於主動元件層210與光電轉換層220之間。絕緣層213覆蓋主動元件層210的多個主動元件T，且具有多個開口213a。絕緣層213的材料可選自無機材料（例如氧化矽、氮化矽、氮氧化矽、其它合適的材料或上述至少二種材料的堆疊層）。在本實施例中，光電轉換層220具有結構上彼此分離的多個光電轉換圖案220P，且這些光電轉換圖案220P分別重疊於絕緣層213的多個開口213a。光電轉換圖案220P具有相對的第一表面220s1與第二表面220s2，且光電轉換圖案220P的第一表面220s1與第二表面220s2上分別設有第一電極E1與第二電極E2。
在本實施例中，光電轉換圖案220P例如是由P型摻雜層、本質層及N型摻雜層堆疊形成的PIN接面結構，但本發明不以此為限。在其他實施例中，光電轉換圖案220P也可以是由P型摻雜層及N型摻雜層堆疊形成的PN接面結構，或者是，由PN接面結構與PIN接面結構重複排列的串疊結構。
另一方面，第二電極E2、主動元件T的源極SE與汲極DE可選擇性地屬於同一膜層（例如：金屬導電層），且第二電極E2經由絕緣層213的開口213a與光電轉換圖案220P的第二表面220s2電性連接，但不以此為限。由於來自波長轉換層300的可見光是從第一表面220s1入射光電轉換層220，因此第一電極E1為光穿透式電極，而光穿透式電極的材質包括金屬氧化物，例如：銦錫氧化物、銦鋅氧化物、鋁錫氧化物、鋁鋅氧化物、或其它合適的氧化物、或者是上述至少兩者之堆疊層。
進一步而言，感測像素陣列層200更包括絕緣層231、絕緣層232與絕緣層240。絕緣層231覆蓋主動元件層210、光電轉換層220與第一電極E1。訊號走線層230的多條訊號線SL設置於絕緣層231與絕緣層232之間。這些訊號線SL分別經由絕緣層231的多個開口231a與多個第一電極E1電性連接。在本實施例中，基於導電性的考量，訊號線SL是使用金屬材料。也就是說，本實施例的訊號走線層230可以是金屬導電層。絕緣層240設置在光電轉換層220與波長轉換層300之間。
在本實施例中，絕緣層240可以是有機材料層241、無機材料層242與有機材料層243的堆疊結構，但不以此為限。在其他實施例中，絕緣層240的有機材料層數量與無機材料層數量也可根據不同的設計需求或製程考量而調整。
無機材料層、絕緣層231與絕緣層232的材料可選自氧化矽、氮化矽、氧化鋁、氮氧化矽、其它合適的材料。有機材料層的材料可選自聚乙烯＝咯烷酮（poly(vinyl pyrrolidone)，PVP）、聚乙烯醇（polyvinyl alcohol，PVA）、聚甲基丙烯酸甲酯（poly(methyl methacrylate)，PMMA）、乙烯四氟乙烯共聚物（ethylene-tetrafluoroethylene，ETFE）、氟化乙烯丙烯共聚物（fluorinated ethylene propylene，FEP）、聚偏二氟乙烯共聚物（poly(vinylidene fluoride)，PVDF）、聚氟乙烯共聚物（polyvinyl fluoride，PVF）、乙烯-氯代三氟乙烯共聚物（ethylene chlorotrifluoroethylene，ECTFE）、聚四氟乙烯（polytetrafluoroethylene，PTFE）、過氟烷氧基化物（PFA，perfluoro(alkoxy alkane)）或其他氟系材料。
應可理解的是，感測像素陣列層200還可選擇性地包括多個電容器（未繪示）與多個電阻器（未繪示），且這些電容器與電阻器分別電性連接前述多個主動元件T與訊號走線層230的訊號線SL，但不以此為限。
由於波長轉換層300在吸收X射線後所產生的部分可見光會朝向遠離光電轉換層220的方向傳遞，因此可撓式光感測面板10還可包括基材350以及設置於基材350上的金屬反射層400，以將上述的部分可見光反射回光電轉換層220。在本實施例中，金屬反射層400位於基材350背離波長轉換層300的一側表面上，但本發明不以此為限。舉例來說，金屬反射層400的材質例如是鋁或其他於可見光波段具有高反射率的金屬材料，基材350的材質例如是聚乙烯對苯二甲酸酯（Polyethylene Terephthalate，PET）或其他適合的高分子基板，但不以此為限。
另一方面，為了降低驅動電路因靜電炸傷而毀損，且避免可撓性基板100藉由黏著層120來實現與中介層110的連接過程中產生靜電吸附而使良率下降，可撓式光感測面板10還可選擇性地包括抗靜電層80，設置在可撓性基板100背離感測像素陣列層200的一側表面上。
以下將針對可撓式光感測面板10的製造方法進行示例性的說明。請參照圖2A，首先，於暫時基板TS上形成離型層DBL、中介層110與感測像素陣列層200，其中中介層110位於暫時基板TS與感測像素陣列層200之間。舉例來說，中介層110的材質例如是聚醯亞胺，且中介層110的塗佈方法可包括輥式塗佈（roll coat）、旋轉塗佈（spin coat）、棒式塗佈（bar coat）、網版塗佈（screen coat）、刮刀塗佈（blade coat）等。在本實施例中，中介層110的膜厚介於10微米至30微米之間，且其玻璃轉移溫度大於150℃。
接著，如圖2B所示，進行熱蒸鍍製程，以形成波長轉換層300於感測像素陣列層200上。特別一提的是，在本實施例中，熱蒸鍍製程的反應溫度是介於150℃至200℃的範圍內，且暫時基板TS的材質例如是玻璃、或玻璃轉移溫度大於上述反應溫度的基板材料。據此，可避免暫時基板TS與感測像素陣列層200之間發生皺褶的現象，有助於提升可撓式光感測面板10的生產良率。
請參照圖2C，接著，於波長轉換層300上形成金屬反射層400。舉例而言，在本實施例中，金屬反射層400可先行製作在一基材350上，再連同基材350一起貼附於波長轉換層300上。請參照圖2D至圖2F，在完成金屬反射層400的貼附步驟後，進行暫時基板TS的移除步驟。在本實施例中，暫時基板TS的移除步驟可包括於金屬反射層400上貼附保護膜PF（如圖2D所示），並沿著一預定切割線CL1進行切割，使暫時基板TS上的疊層結構產生一切口OP（如圖2D及圖2E所示）。
特別說明的是，中介層110的塗佈區域會大於離型層DBL的分布區域。因此，中介層110於暫時基板TS的周邊區域會直接接觸暫時基板TS。據此，可增加前述膜層與暫時基板TS之間的附著力。當暫時基板TS上的疊層結構被切割出切口OP時，中介層110與離型層DBL的交界面會被所述切口OP暴露出。此時，在暫時基板TS的切割面的一側施以向上（例如方向Z）的外力，便可破壞中介層110與離型層DBL的連接關係（如圖2E所示）。值得一提的是，藉由中介層110的設置，可增加多層膜堆疊結構（即感測像素陣列層200、波長轉換層300、基材350、金屬反射層400以及保護膜PF）於不同基板之間的轉移成功率，有助於提升整體的製程彈性。
承接上述，暫時基板TS的移除步驟還可包括利用滾輪裝置50將前述的多層膜堆疊結構自暫時基板TS上移除，並暴露出中介層110。特別一提的是，此處的滾輪裝置50可沿著轉動方向RD將前述的多層膜堆疊結構捲收起來（如圖2F所示）。
請參照圖2G，可撓式光感測面板10的製造方法更包括將可撓性基板100貼附於中介層110，以形成可撓式光感測母板10M。舉例來說，可撓性基板100可藉由黏著層120來實現與中介層110的連接關係，且抗靜電層80可先行製作在可撓性基板100背離黏著層120的一側表面上。值得一提的是，由於前述多層膜堆疊結構可以捲收的方式自暫時基板TS移除（如圖2F所示），且可撓性基板100的貼附步驟可採用片對片（Sheet to Sheet）的製程手段來進行，但不以此為限。在本實施例中，可撓性基板100的膜厚可介於50微米至1000微米之間，黏著層120的膜厚可介於5微米至500微米，但不以此為限。
進一步而言，在可撓性基板100的貼附步驟完成後，針對可撓式光感測母板10M進行一切割步驟，以形成多個可撓式光感測面板10。舉例來說，將可撓式光感測母板10M沿著預定的多條切割線CL2進行切割，且這些切割線CL2可形成圍繞多個可撓式光感測面板10的多個切割路徑。然而，本發明不限於此，在其他實施例中，此處的切割步驟也可在波長轉換層300的熱蒸鍍製程之前來進行。
另一方面，在可撓性基板100的貼附步驟完成後，還可將保護膜PF自金屬反射層400的表面移除，但本發明不以此為限。在其他實施例中，保護膜PF也可以保留至對可撓式光感測母板10M的切割步驟完成後，以保護所切割出的這些可撓式光感測面板10。於此，便完成可撓式光感測面板10的製造流程。
值得一提的是，在本實施例中，可撓性基板100的玻璃轉移溫度可選擇性地小於150℃。由於波長轉換層300的形成步驟在可撓性基板100的貼附步驟之前，因此可避免可撓性基板100與各膜層之間發生皺褶的現象，有助於提升可撓式光感測面板10的生產良率。
圖3A至圖3D是圖1的可撓式光感測面板10的另一種製造方法的流程剖視圖。請參照圖3A至圖3D，本實施例的製造方法與圖2A至圖2G的製造方法的差異在於：切割出與可撓式光感測面板10的尺寸大小相當的基板切割步驟、暫時基板TS的移除步驟以及可撓性基板100的貼附步驟都是在波長轉換層300的熱蒸鍍製程之前來進行。
詳細而言，在離型層DBL、中介層110與感測像素陣列層200的形成步驟完成之後，進行一切割步驟，使暫時基板TS分割為彼此獨立的多個部分，且暫時基板TS的這些部分各自的尺寸大小與圖1的可撓式光感測面板10的尺寸大小相當。舉例來說，將暫時基板TS沿著預定的多條切割線CL2’進行切割（如圖3A所示），且這些切割線CL2’可形成圍繞暫時基板TS的前述多個部分的多個切割路徑。
在本實施例的製造方法中，暫時基板TS的移除步驟相似於圖2D至圖2F的製造流程，因此，詳細的說明請參考前述實施例的相關段落，於此便不再重述。在暫時基板TS的移除步驟完成之後，進行可撓性基板100的貼附步驟（如圖3C所示）。接著，進行熱蒸鍍製程，以形成波長轉換層300於感測像素陣列層200上（如圖3D所示）。值得一提的是，在本實施例的製造方法中，可撓性基板100的玻璃轉移溫度需大於200℃，以避免可撓性基板100與各膜層之間發生皺褶的現象，有助於提升可撓式光感測面板10的生產良率。
圖4是本發明的另一實施例的可撓式光感測面板的剖視示意圖。請參照圖4，本實施例的可撓式光感測面板11與圖1的可撓式光感測面板10的主要差異在於：感測像素陣列層的組成與配置方式不同以及金屬反射層400A的配置方式不同。
在本實施例中，可撓式光感測面板11的感測像素陣列層200A的訊號走線層230A包括多個金屬導電層。舉例來說，訊號走線層230A可包含多條訊號線SL1與多條訊號線SL2，且訊號線SL1與訊號線SL2分別屬於不同的金屬導電層。也因此，訊號走線層230A更包括絕緣層233，設置在多條訊號線SL1所屬的金屬導電層與多條訊號線SL2所屬的另一金屬導電層之間。在本實施例中，訊號線SL1可用於傳輸光電轉換圖案220P所產生的電訊號，而訊號線SL2可用於傳輸光電轉換圖案220P所需的偏壓訊號，但不以此為限。
需說明的是，本發明並不加以侷限訊號走線層230A的金屬導電層與絕緣層的數量。在其他實施例中，訊號走線層的金屬導電層與絕緣層數量可根據實際的電路設計需求而調整。
另一方面，感測像素陣列層200A更包括平坦層PL，設置於絕緣層231A與絕緣層232A之間。詳細而言，平坦層PL具有重疊於主動元件T的汲極DE的開口PLa以及重疊於光電轉換圖案220P的開口PLb。絕緣層232A填入平坦層PL的開口PLa與開口PLb，並且分別覆蓋主動元件T的汲極DE的部分表面與絕緣層231A的部分表面。訊號線SL1設置於絕緣層232A上，並且延伸至平坦層PL的開口PLa內，以電性連接主動元件T的汲極DE。絕緣層233覆蓋訊號線SL1，並且填入平坦層PL的開口PLb內以覆蓋第一電極E1的部分表面。訊號線SL2設置於絕緣層233上，並且延伸至平坦層PL的開口PLb內，以電性連接第一電極E1。
特別說明的是，本實施例的金屬反射層400A可以濺鍍的方式直接形成在波長轉換層300上。也因此，可撓式光感測面板11不具有圖1的基材350。另一方面，在本實施例中，設置於波長轉換層300與光電轉換層220之間的絕緣層240A的有機材料層與無機材料層的數量分別為一個，例如有機材料層241A與無機材料層242A，且無機材料層242A設置於有機材料層241A與訊號走線層230A之間。
圖5是本發明的又一實施例的可撓式光感測面板的剖視示意圖。請參照圖5，本實施例的可撓式光感測面板12A與圖1的可撓式光感測面板10的主要差異在於：可撓性基板的組成結構不同。
為了滿足蒸鍍製程時的基板挺性（stiffness）的需求，本實施例的可撓式光感測面板12A的可撓性基板100A為第一板材101和第二板材102的堆疊結構。其中，第一板材101位於第二板材102和光電轉換層220之間。舉例來說，在本實施例中，第一板材101的材質可選用金屬材料（例如：不鏽鋼或鋁板），而第二板材102的材質可選用高分子基材（例如：聚乙烯對苯二甲酸酯、聚醯亞胺或聚碳酸酯），但不以此為限，或是玻璃材料。在其他實施例中，第一板材101可選用高分子基材，而第二板材102可選用金屬材料或是玻璃材料。也就是說，第一板材101的楊氏模量（Young’s modulus）可不同於第二板材102的楊氏模量。
特別說明的是，為了避免可撓性基板100A與其他膜層間因高溫形變而產生皺褶現象，第一板材101和第二板材102的其中至少一者的玻璃轉移溫度可大於150℃。舉例來說，在本實施例中，可撓性基板100A的第一板材101的玻璃轉移溫度大於150℃，而其第二板材102的玻璃轉移溫度小於150℃，但不以此為限。在其他實施例中，可撓性基板的第一板材101和第二板材102各自的玻璃轉移溫度也可都大於150℃。
另一方面，本實施例的可撓式光感測面板12A的可撓性基板100A背離感測像素陣列層200的一側表面上並未設有圖1的抗靜電層80。
圖6是本發明的再一實施例的可撓式光感測面板的剖視示意圖。圖7A至圖7C是圖6的可撓式光感測面板的製造方法的流程剖視圖。請參照圖6，本實施例的可撓式光感測面板12B與圖5的可撓式光感測面板12A的差異在於：可撓式光感測面板12B的可撓性基板100B僅具有第一板材101。也因此，在本實施例中，可撓式光感測面板12B的製造方法還可選擇性地包括第二板材102的移除步驟。由於可撓式光感測面板12B的其他步驟相似於前述實施例的可撓式光感測面板10的製造方法，因此，詳細的說明請參見前述實施例的相關段落。
以下僅針對可撓式光感測面板12B的第二板材102的移除步驟進行示範性地說明。請參照圖7A，在暫時基板TS（如圖3B所示）的移除步驟完成之後，進行可撓性基板100TP的貼附步驟，其中可撓性基板100TP包括第一板材101、第二板材102和可解黏膠層105。可解黏膠層105連接於第一板材101和第二板材102之間。在本實施例中，可解黏膠層105例如是UV解黏膠膜。
在光電轉換層220的蒸鍍製程完成之後，進行一照光步驟以移除第二板材102，如圖7B所示。在本實施例中，照光步驟所採用的光源例如是紫外光（ultraviolet，UV）源。因此，第二板材102對於波長介於300nm至400nm的光線的穿透率大於60%。可解黏膠層105在紫外光UV的照射下，其黏著性下降致使第二板材102在外力的作用下與第一板材101分離開來，如圖7C所示。於此，便形成可撓式光感測面板12B的可撓性基板100B。
值得一提的是，在光電轉換層220的蒸鍍製程中，由於可撓性基板100TP為材料特性（例如：楊氏模量或玻璃轉移溫度）可彼此不同的兩種板材所構成，因此可增加可撓性基板為了滿足蒸鍍時的挺性需求的材料選用彈性。另一方面，在蒸鍍製程完成後，透過UV解黏的方式移除其中一部分的板材（例如第二板材102），可滿足最終產品（即可撓式光感測面板12B）的輕量化需求。
綜上所述，在本發明的一實施例的可撓式光感測面板的製造方法中，透過可撓式基板與暫時基板的至少一者的玻璃轉移溫度大於150℃，能避免可撓性基板與各膜層之間發生皺褶的現象，有助於提升可撓式感測面板的生產良率。另一方面，藉由中介層的設置，可增加各膜層於不同基板之間的轉移成功率。換句話說，本發明的一實施例的可撓式光感測面板可具有較佳的製程彈性。
10、11、12A、12B:可撓式光感測面板
10M:可撓式光感測母板
50:滾輪裝置
80:抗靜電層
100、100A、100B、100TP:可撓性基板
101:第一板材
102:第二板材
105:可解黏膠層
110:中介層
120:黏著層
200、200A:感測像素陣列層
210:主動元件層
211:阻障層
212:閘絕緣層
213、231、231A、232、232A、233、240、240A:絕緣層
213a、231a、PLa、PLb:開口
220:光電轉換層
220s1:第一表面
220s2:第二表面
220P:光電轉換圖案
230、230A:訊號走線層
241、241A、243:有機材料層
242、242A:無機材料層
300:波長轉換層
350:基材
400、400A:金屬反射層
CL1、CL2、CL2’:切割線
DBL:離型層
DE:汲極
E1:第一電極
E2:第二電極
GE:閘極
OP:切口
PF:保護膜
PL:平坦層
RD:轉動方向
SC:半導體圖案
SE:源極
SL、SL1、SL2:訊號線
T:主動元件
TS:暫時基板
UV:紫外光
Z:方向
圖1是本發明的一實施例的可撓式光感測面板的剖視示意圖。
圖2A至圖2G是圖1的可撓式光感測面板的製造方法的流程剖視圖。
圖3A至圖3D是圖1的可撓式光感測面板的另一種製造方法的流程剖視圖。
圖4是本發明的另一實施例的可撓式光感測面板的剖視示意圖。
圖5是本發明的又一實施例的可撓式光感測面板的剖視示意圖。
圖6是本發明的再一實施例的可撓式光感測面板的剖視示意圖。
圖7A至圖7C是圖6的可撓式光感測面板的製造方法的流程剖視圖。
10:可撓式光感測面板
80:抗靜電層
100:可撓性基板
110:中介層
120:黏著層
200:感測像素陣列層
210:主動元件層
211:阻障層
212:閘絕緣層
213、231、232、240:絕緣層
213a、231a:開口
220:光電轉換層
220s1:第一表面
220s2:第二表面
220P:光電轉換圖案
230:訊號走線層
241、243:有機材料層
242:無機材料層
300:波長轉換層
350:基材
400:金屬反射層
DE:汲極
E1:第一電極
E2:第二電極
GE:閘極
SC:半導體圖案
SE:源極
SL:訊號線
T:主動元件
Claims (21)
- 一種可撓式光感測面板，包括：一可撓性基板；一波長轉換層，設置於該可撓性基板上；一光電轉換層，重疊設置於該波長轉換層，且位於該可撓性基板與該波長轉換層之間；一中介層，設置於該光電轉換層與該可撓性基板之間，該中介層的材質包括聚醯亞胺；以及一黏著層，設置於該中介層與該可撓性基板之間，其中該可撓性基板與該中介層的其中至少一者的玻璃轉移溫度大於150℃。
- 如請求項1所述的可撓式光感測面板，其中該可撓性基板的玻璃轉移溫度小於150℃。
- 如請求項1所述的可撓式光感測面板，更包括：一金屬反射層，設置於該波長轉換層背離該光電轉換層的一側。
- 如請求項1所述的可撓式光感測面板，其中該波長轉換層的材質包括碘化絕。
- 如請求項1所述的可撓式光感測面板，更包括：一絕緣層，設置於該光電轉換層與該波長轉換層之間，該絕緣層為至少一有機材料層與至少一無機材料層的堆疊結構。
- 如請求項1所述的可撓式光感測面板，更包括： 一主動元件，設置於該可撓性基板上；以及一第一絕緣層，設置於該主動元件與該光電轉換層之間，該第一絕緣層具有一開口，該光電轉換層經由該開口與該主動元件電性連接。
- 如請求項6所述的可撓式光感測面板，更包括：一第一電極，設置於該光電轉換層的一第一表面上；一第二電極，設置於該光電轉換層的一第二表面上，該第二表面與該第一表面相對，其中該第二電極、該主動元件的一源極與一汲極屬於同一膜層；一第二絕緣層，覆蓋該主動元件、該光電轉換層與該第一電極；以及一第一金屬導電層，設置於該第二絕緣層上，且電性連接該第一電極。
- 如請求項7所述的可撓式光感測面板，更包括：一第二金屬導電層，設置於該第二絕緣層上，且電性連接該主動元件的該汲極；以及一第三絕緣層，設置於該第一金屬導電層與該第二金屬導電層之間。
- 如請求項1所述的可撓式光感測面板，其中該可撓性基板包括彼此重疊設置的一第一板材和一第二板材，且該第一板材的楊氏模量不同於該第二板材的楊氏模量。
- 如請求項9所述的可撓式光感測面板，其中該第一板材和該第二板材的其中至少一者的玻璃轉移溫度大於150℃。
- 如請求項9所述的可撓式光感測面板，其中該第一板材位於該光電轉換層與該第二板材之間，且該第二板材對於波長介於300nm至400nm的光線的穿透率大於60%。
- 一種可撓式光感測面板的製造方法，包括：於一暫時基板上形成一中介層與一光電轉換層，該中介層位於該暫時基板與該光電轉換層之間；進行一熱蒸鍍製程，以形成一波長轉換層於該光電轉換層上；移除該暫時基板，並暴露出該中介層；以及將一可撓性基板貼附於該中介層，其中該可撓性基板、該中介層與該暫時基板的其中至少一者的玻璃轉移溫度大於150℃。
- 如請求項12所述的可撓式光感測面板的製造方法，其中該熱蒸鍍製程的反應溫度介於150℃至200℃的範圍內。
- 如請求項12所述的可撓式光感測面板的製造方法，其中在進行該熱蒸鍍製程之前，進行一切割步驟，使該暫時基板分割為彼此獨立的多個部分，且該暫時基板的該些部分各自的尺寸大小相當於該可撓式光感測面板的尺寸大小。
- 如請求項12所述的可撓式光感測面板的製造方法，其中在該可撓性基板的貼附步驟完成後，進行一切割步驟，以形成該可撓式光感測面板。
- 如請求項12所述的可撓式光感測面板的製造方法，其中在該熱蒸鍍製程完成後，進行該暫時基板的移除步驟。
- 如請求項12所述的可撓式光感測面板的製造方法，其中在進行該熱蒸鍍製程之前，完成該暫時基板的移除步驟以及該可撓性基板的貼附步驟，且該可撓性基板的玻璃轉移溫度大於150℃。
- 如請求項12所述的可撓式光感測面板的製造方法，其中該可撓性基板包括彼此重疊設置的一第一板材和一第二板材，且該第一板材的楊氏模量不同於該第二板材的楊氏模量。
- 如請求項18所述的可撓式光感測面板的製造方法，其中該第一板材和該第二板材的其中至少一者的玻璃轉移溫度大於150℃。
- 如請求項18所述的可撓式光感測面板的製造方法，其中該第一板材位於該光電轉換層與該第二板材之間，且該第一板材和該第二板材之間設有一可解黏膠層。
- 如請求項20所述的可撓式光感測面板的製造方法，更包括：在該熱蒸鍍製程完成後，進行一照光步驟以移除該第二板材。
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TW382820B (en) * | 1997-07-03 | 2000-02-21 | Seiko Epson Corp | Transfer method of thin film device, thin film device, thin film integrated circuit device, active matrix substrate, liquid crystal display and electronic equipment |
| US20050130391A1 (en) * | 2003-12-12 | 2005-06-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing semiconductor device |
| US20130181202A1 (en) * | 2010-09-08 | 2013-07-18 | Fujifilm Corporation | Photoelectric conversion material, film containing the material, photoelectric conversion device, method for preparing photoelectric conversion device, method for using photoelectric conversion device, photosensor and imaging device |
| TW201902313A (zh) * | 2017-05-19 | 2019-01-01 | 啟耀光電股份有限公司 | 電子裝置與其製造方法 |
| US20200270516A1 (en) * | 2017-11-28 | 2020-08-27 | Lg Chem, Ltd. | Color changing film, and backlight unit and display device which comprise same |
-
2021
- 2021-02-02 CN CN202110142146.XA patent/CN112928133A/zh not_active Withdrawn
- 2021-04-27 TW TW110115102A patent/TWI768848B/zh active
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TW382820B (en) * | 1997-07-03 | 2000-02-21 | Seiko Epson Corp | Transfer method of thin film device, thin film device, thin film integrated circuit device, active matrix substrate, liquid crystal display and electronic equipment |
| US20050130391A1 (en) * | 2003-12-12 | 2005-06-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing semiconductor device |
| US20130181202A1 (en) * | 2010-09-08 | 2013-07-18 | Fujifilm Corporation | Photoelectric conversion material, film containing the material, photoelectric conversion device, method for preparing photoelectric conversion device, method for using photoelectric conversion device, photosensor and imaging device |
| TW201902313A (zh) * | 2017-05-19 | 2019-01-01 | 啟耀光電股份有限公司 | 電子裝置與其製造方法 |
| US20200270516A1 (en) * | 2017-11-28 | 2020-08-27 | Lg Chem, Ltd. | Color changing film, and backlight unit and display device which comprise same |
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| Publication number | Publication date |
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