TWI764161B - 光偵測裝置 - Google Patents

光偵測裝置

Info

Publication number
TWI764161B
TWI764161B TW109118369A TW109118369A TWI764161B TW I764161 B TWI764161 B TW I764161B TW 109118369 A TW109118369 A TW 109118369A TW 109118369 A TW109118369 A TW 109118369A TW I764161 B TWI764161 B TW I764161B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
switch
thin film
scan
conducting state
electrically connected
Prior art date
Application number
TW109118369A
Other languages
English (en)
Other versions
TW202118025A (zh
Inventor
黃建東
Original Assignee
大陸商上海耕岩智能科技有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 大陸商上海耕岩智能科技有限公司 filed Critical 大陸商上海耕岩智能科技有限公司
Publication of TW202118025A publication Critical patent/TW202118025A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI764161B publication Critical patent/TWI764161B/zh

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44—Electric circuits
    • G01J1/46—Electric circuits using a capacitor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02—Details
    • G01J1/0295—Constructional arrangements for removing other types of optical noise or for performing calibration
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44—Electric circuits
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44—Electric circuits
    • G01J2001/444—Compensating; Calibrating, e.g. dark current, temperature drift, noise reduction or baseline correction; Adjusting
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44—Electric circuits
    • G01J2001/4446—Type of detector
    • G01J2001/446—Photodiode

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Facsimile Heads (AREA)

Abstract

一種光偵測裝置，包含至少一光偵測薄膜單元，該至少一光偵測薄膜單元包括一光偵測薄膜電路及一資料讀取電路，該光偵測薄膜電路具有一接收一背景光與一信號光的一第一光電二極體、一接收該背景光的一第二光電二極體、一第一光電開關、一第一電容，及一掃描開關，該掃描開關關閉時，反應該背景光的一共模電流從該第一光電二極體的陰極流經陽極，再由該第二光電二極體的陰極流向陽極，反應該信號光的一差模電流，對該第一電容充電，該掃描開關導通時，該資料讀取電路讀取儲存在該第一電容的差模能量，藉此消除共模成分留下差模成分。

Description

光偵測裝置
本發明是有關於一種偵測裝置，特別是指一種光偵測裝置。
參閱圖1及圖2，為一習知光偵測裝置4，該習知光偵測裝置4包含一光偵測薄膜陣列41及一讀取晶片42，且該光偵測薄膜陣列41藉由多個訊號傳輸線43電連接該讀取晶片42。該光偵測薄膜陣列41中的每一光偵測薄膜電路411藉由每一訊號傳輸線43電連接該讀取晶片42中的每一資料讀取電路421，構成一偵測單一像素的光偵測薄膜單元44，其中，該光偵測薄膜電路通常具有一感光用的光電二極體(photodiode)412、一用來儲存該光電二極體產生之一光電流的電容413，及一用來作為開關的薄膜電晶體(thin film transistor,TFT)414，有一閘極掃描線45電連接該薄膜電晶體的閘極(gate)G。當該光電二極體412接收到一光照後產生該光電流，並將該光電流的電荷儲存在該電容413內，閘極掃描驅動線45會傳送一控制訊號以一定的週期打開或關閉該薄膜電晶體414 的閘極G。當該薄膜電晶體414在一導通(switch on)狀態時，該電容413將儲存的電荷以放電電流形式，自汲極(drain)到源極(source)進而輸出至該訊號傳輸線43。因此該閘極G的週期開關可對光照產生的該光電流作週期性的取樣，而該光電二極體414對不同強度的光照會產生一不同大小的光電流。該光電流經該電容413儲存與放電後，藉由該訊號傳輸線43傳輸到該資料讀取電路421，該資料讀取電路421具有一將電流轉換為一類比電壓的積分器422，及一類比至數位轉換器(Analog to Digital Converter,A/D Converter)423，該類比至數位轉換器423將該積分器422的該類比電壓轉換成用以表示不同光強度的一數位訊號。
然而上述的該習知光偵測裝置4所組成的一多像素光偵測設備，在現階段大部分都應用在不易有背景光干擾的暗室X光偵測，若想進一步應用到一般市售智慧型手持裝置面板的光偵測，則易受背景光干擾導致信噪比(signal to noise ratio,SNR)太低的缺點，故不易擴大整合光偵測功能或影像識別等技術在觸控顯示面板上，特別是接觸式生理特徵識別這類需要高偵測準確度要求的應用。
因此，本發明的目的，即在提供一種能最大可能地消除 背景光所造成的共模成分以留下且放大帶有物件特徵之信號光的光偵測裝置。
於是，本發明的一光偵測裝置，包含一光偵測元件。該光偵測元件包括M×N個光偵測薄膜電路，其中，M和N分別是一大於等於1的整數，每一光偵測薄膜電路具有一第一光電二極體、一第二光電二極體、一第一光電開關、一第一電容，及一掃描開關。
在該光偵測薄膜電路中，該第一光電二極體具有一陰極及一電連接一共同接點的陽極，且感應一信號光與一背景光而產生一第一光電流從其陰極流向其陽極。該第二光電二極體具有一電連接該共同接點的陰極及一陽極，且感應該背景光而產生一第二光電流從其陰極流向其陽極。該第一光電開關具有一電連接該共同接點的第一端及一第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換，當該第一光電開關在該導通狀態時，來自該共同接點的一第一特徵電流從其第一端流向其第二端。該第一電容具有一電連接該第一光電開關之第二端的第一端與一接地的第二端，且該第一光電開關在該導通狀態時，接收流經該第一光電開關的該第一特徵電流對其充電，該第一特徵電流正比於該第一光電流與第二光電流的差值。該掃描開關具有一電連接該第一光電開關之第二端的第一端，及一電連接一資料讀取電路的第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換，當該掃描開關在該導通狀態且該第一光電開關 在該不導通狀態時，來自該第一電容的一放電電流從其第一端流向其第二端，該放電電流的值正比該第一特徵電流。
再，本發明的另一光偵測裝置，包含一光偵測元件，該光偵測元件包括M×N個光偵測薄膜電路，其中，M和N分別是一大於等於1的整數，每一光偵測薄膜電路具有一第一光電二極體、一第二光電二極體、一第一光電開關、一第二光電開關、一第一電容、一第二電容、一第三電容、一第一掃描開關、一第二掃描開關，及一第三掃描開關。
在該光偵測薄膜電路中，該第一光電二極體具有一陰極及一陽極，且感應一信號光與一背景光而產生一第一光電流從其陰極流向其陽極。該第一光電開關具有一電連接該第一光電二極體之陽極的第一端，及一電連接一第一共同接點的第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換。該第二光電二極體具有一陰極及一陽極，且感應一背景光而產生一第二光電流從其陰極流向其陽極。該第二光電開關，具有一電連接該第二光電二極體之陽極的第一端，及一電連接一第二共同接點的第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換。該第一電容具有一電連接該第一共同接點的第一端與一接地的第二端。該第二電容具有一電連接該第二共同接點的第一端與一接地的第二端。該第三掃描開關具有一電連接該第一共同接點的第一端及一第二端。該第三電容具有一電連接該 第三掃描開關之第二端的第一端與一電連接該第二共同接點的第二端。一第一掃描開關具有一電連接該第一共同接點的第一端，及一電連接一資料讀取電路的第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換。該第二掃描開關具有一電連接該第二共同接點的第一端及一接地的第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換。
該光偵測薄膜電路依序工作在一電荷累積區間、一共模消除區間，及一差模讀取區間；在該電荷累積區間，該第一掃描開關與該第二掃描開關在該不導通狀態，該第三掃描開關、該第一光電開關，及該第二光電開關在該導通狀態。在該共模消除區間，該第一掃描開關與該第二掃描開關在該導通狀態，該第三掃描開關、該第一光電開關，及該第二光電開關在該不導通狀態。在該差模讀取區間，該第一光電開關及該第二光電開關在該不導通狀態，該第一掃描開關、該第二掃描開關，及該第三掃描開關皆在該導通狀態。
本發明的第三種光偵測裝置，包含一光偵測元件。該光偵測元件包括2(M×N)個光偵測薄膜電路，其中，M和N分別是一大於等於1的整數，每兩個該光偵測薄膜電路形成一配對的光偵測薄膜電路，每一配對的光偵測薄膜電路具有一第一光電二極體、一第一光電開關、一第一電容、一第一掃描開關、一第二光電二極 體、一第二光電開關、一第二電容，及一第二掃描開關。
在該配對的光偵測薄膜電路中，該第一光電二極體具有一陰極及一陽極，且感應一信號光與一背景光而產生一第一光電流從其陰極流向其陽極。該第一光電開關具有一電連接該第一光電二極體之陽極的第一端，及一電連接一第一共同接點的第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換。該第一電容具有一電連接該第一共同接點的第一端與一接地的第二端，且接收來自該第一共同接點的該第一光電流對其充電。該第一掃描開關具有一電連接該第一共同接點的第一端及一電連接一資料讀取電路的第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換。該第二光電二極體具有一陽極及一陰極，且感應該背景光而產生一第二光電流從其陰極流向其陽極。該第二光電開關具有一電連接該第二光電二極體之陽極的第一端，及一電連接一第二共同接點的第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換。該第二電容具有一電連接該第二共同接點的第一端與一接地的第二端，且接收來自該第二共同接點的該第二光電流對其充電。該第二掃描開關具有一電連接該第二共同接點的第一端及一電連接該資料讀取電路的第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換。
本發明的功效在於：透過該光偵測裝置之該光偵測薄膜電路中的兩反向相接或同向相接的該第一光電二極體及該第二光 電二極體接收相同或幾乎相同的背景光來盡量消除背景光所反應的共模成分，留下且放大該第一光電二極體及該第二光電二極體間具特徵差異之信號光所反應的差模成分，有效地提高每一像素的信噪比，增加在一般使用環境下之整體光偵測的精準度。
2:光偵測裝置
21:光偵測元件
211:光偵測薄膜電路
212:儲存傳輸電路
213:共模消除電路
22:資料讀取元件
221:資料讀取電路
23:光偵測薄膜單元
27:列閘極掃描線
28:光電二極體開關線
31:觸控面板蓋玻璃
32:顯示單元
33:低折射率膠
34:電路板
34:電路板
4:習知光偵測裝置
41:光偵測薄膜陣列
411:光偵測薄膜電路
412:光電二極體
413:電容
414:薄膜電晶體
42:讀取晶片
421:資料讀取電路
422:積分器
423:類比至數位轉換器
43:訊號傳輸線
44:光偵測薄膜單元
45:閘極掃描驅動線
PD1:第一光電二極體
PD2:第二光電二極體
C1:第一電容
PS2:第二薄膜電晶體開關
T4:第四薄膜電晶體
W:訊號傳輸線
W1:第一訊號傳輸線
W2:第二訊號傳輸線
I:積分器
I1:第一積分器
I2:第二積分器
M:差動放大器
A:類比至數位轉換器
L1:第一閘極掃描線
L2:第二閘極掃描線
CS:光電開關控制線
G1:第一薄膜電晶體的閘極點
D1:第一薄膜電晶體的汲極點
S1:第一薄膜電晶體的源極點
G2:第二薄膜電晶體的閘極點
D2:第二薄膜電晶體的汲極點
S2:第二薄膜電晶體的源極點
G3:第三薄膜電晶體的閘極點
D3:第三薄膜電晶體的汲極點
G4:第四薄膜電晶體的閘極點
S4:第四薄膜電晶體的源極點
V1:第一薄膜電晶體的汲極點電壓
V2:第一光電二極體的陰極電壓
V3:第二光電二極體的陽極電壓
V3’:第二光電二極體的陰極電壓
C2:第二電容
C3:第三電容
T1:第一薄膜電晶體
T2:第二薄膜電晶體
T3:第三薄膜電晶體
PS1:第一薄膜電晶體開關
V4:第二薄膜電晶體的汲極點電壓
V5:第三薄膜電晶體的汲極點電壓
V6:第四薄膜電晶體的汲極點電壓
本發明的其他的特徵及功效，將於參照圖式的實施方式中清楚地呈現，其中：圖1是一習知的光偵測薄膜裝置；圖2是一習知的光偵測薄膜單元；圖3是一本發明之光偵測裝置的方塊圖；圖4是一示意圖，說明本發明之一光偵測元件應用在一觸控面板；圖5是一示意圖，說明本發明之該光偵測元件所接收到的一入射光照；圖6是一電路圖，說明本發明之一光偵測薄膜單元的一第一實施例；圖7是一方塊電路圖，說明該第一實施例的該光偵測元件；圖8是一電路圖，說明該光偵測薄膜單元的一第二實施例； 圖9是一工作時序圖，說明該光偵測薄膜單元在該第二實施例中的工作流程；圖10是一方塊電路圖，說明該第二實施例的該光偵測元件；圖11是一電路圖，說明該光偵測薄膜單元的一第三實施例；圖12是一工作時序圖，說明該光偵測薄膜單元在該第三實施例中的工作流程；圖13是一方塊電路圖，說明該第三實施例的該光偵測元件；圖14是一方塊圖，說明該第二實施例及該第二實施例的該光偵測裝置；圖15是一電路圖，說明該光偵測薄膜單元的一第四實施例；圖16是一電路圖，說明該光偵測薄膜單元的一第五實施例；及圖17是一方塊圖，說明該第四實施例及該第五實施例的該光偵測裝置。
在本發明被詳細描述前，應當注意在以下的說明內容中，類似的元件是以相同的編號來表示。
參閱圖3，本發明之光偵測裝置2，其中，該光偵測裝置2包含一光偵測元件(光偵測薄膜陣列(thin film transistor photodiode array,TFT photodiode array))21、M個資料讀取 元件22，及M×N條訊號傳輸線W，該光偵測元件21包括一M×N個光偵測薄膜電路211的陣列，由M條列閘極掃描線27及M條光電二極體開關線28來控制該M×N個光偵測薄膜電路211，每一資料讀取元件22包括N個資料讀取電路221，該M個資料讀取元件22共具有M×N個資料讀取電路221分別透過該M×N條訊號傳輸線W電連接該M×N個光偵測薄膜電路211，以分別接收來自該光偵測元件21的M×N個輸出訊號，該光偵測元件21的光偵測像素解析度為M×N，其中，M及N分別是一大於等於1的整數。該資料讀取元件22可以是一資料讀取晶片(readout IC)或專用於資料讀取與轉換的一特定應用積體電路(application specific integrated circuit，ASIC)，但不以此為限。關於該資料讀取晶片的具體描述可參考下兩篇文獻：[1]M.J.Powell,I.D.French,J.R.Hughes,N.C.Bird,O.S.Davies,C.Glasse,and J.E.Curran,“Amorphous silicon image sensor arrays,”in Mater.Res.Soc.Symp.Proc.,vol.258,pp.1127-1137,1992，及[2]B.Razavi,“Design of Analog CMOS Integrated Circuits,”McGraw-Hill,2000。
參閱圖4，為一整合該光偵測裝置2的觸控面板，該觸控面板可應用在手機、平板電腦，或個人數位助理等類似之手持移動裝置，此外，也可以是具觸控操作面板的個人電腦或工業裝備用電腦等設備，但不以此為限。該觸控面板自上而下包含一觸控面板蓋 玻璃31、一顯示單元32、一低折射率膠33、該光偵測元件21，及一電路板34。該顯示單元32可以是使用有源陣列薄膜電晶體(active array thin film transistor)作為掃描驅動與傳輸資料，且搭配主動矩陣有機發光二極體(Active-matrix organic light emitting diode,AMOLED)或微發光二極體(Micro LED)來達到顯示功能，但不以此為限。
該電路板34上具有多個該資料讀取元件22用以與該光偵測元件21構成一本發明光偵測裝置2，以實現該觸控面板同時具有顯示及全螢幕下方之光偵測(生理辨識)功能。在使用該觸控面板實現光偵測功能過程中，該顯示單元32產生足夠大的光通量(光線)通過該觸控面板蓋玻璃31，照射到置於該觸控面板上的物件，使部分光線透過反射與折射而通過該觸控面板蓋玻璃31、該顯示單元32，及該低折射率膠33，進而被設置在該低折射率膠33下方的該光偵測元件21接收，達到對該物件的光偵測功能。其中，該顯示單元32的下表面藉由該低折射率膠33接合該光偵測元件21的上表面，且該低折射率膠33的折射率小於1.4，當光線透過該觸控面板蓋玻璃31及該顯示單元32照射入該光偵測元件21時，可以盡可能以垂直方向射入，以有效提高光電轉換率，其中，該低折射率膠33可以是具有碳-氟鍵的有機化合膠材，但不以此為限。
參閱圖5，光偵測時之一入射光照示意圖。尤其是在該光 偵測裝置2應用在光特徵識別時，需要擷取的光特徵資訊是來自於該入射光照中的具一差模(差異)成分的信號光，例如來自指紋的紋路或人臉五官的反射光，而不是具一共模(相同)成分的背景光。以下各實施例中，該光偵測裝置2為應用於一接觸式指紋識別，當要透過光偵測來辨識一指紋時，該指紋包含凸紋與凹紋，當該指紋按壓在該觸控面板上時，在該指紋之周邊，該光偵測裝置2會接收到的背景光基本上會大於來自該顯示單元32發出之光線經該指紋反射，及折射後的信號光，在此情況下，來自凸紋的光會包含信號光與背景光，來自凹紋的光則可視為大部分都是背景光，因此本發明之光偵測裝置2就是要盡可能將因背景光而產生的該共模成分消除，留下且放大來自該信號光的該差模成分。
參閱圖3及圖6，本發明光偵測裝置2的一第一實施例，該光偵測裝置2包含多個該光偵測薄膜單元23，每一光偵測薄膜單元23包括該光偵測薄膜電路211及該資料讀取電路221。該光偵測薄膜電路211具有一儲存傳輸電路212及一共模消除電路213。該儲存傳輸電路212具有一掃描開關、一第一閘極掃描線L1、及一第一電容C1。該共模消除電路213具有一第一光電二極體PD1、一第二光電二極體PD2、一第一光電開關，及一光電開關控制線CS。該資料讀取電路221具一積分器I及一類比至數位轉換器A。
該第一光電二極體PD1具有一陰極及一電連接一共同接 點的陽極，該第二光電二極體PD2具有一電連接該共同接點的陰極及一陽極，該第一光電開關具有一電連接該共同接點的第一端及一第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換，該第一電容C1具有一電連接該第一光電開關之第二端的第一端與一接地的第二端，且該第一光電開關在該導通狀態時，接收流經該第一光電開關的該第一特徵電流(差模電流)對其充電，該第一特徵電流正比於該第一光電流與第二光電流的差值，該掃描開關具有一電連接該第一光電開關之第二端的第一端及一第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換，當該掃描開關在該導通狀態且該第一光電開關在該不導通狀態時，來自該第一電容的一放電電流從其第一端流向其第二端，該放電電流的值正比該第一特徵電流。
在本實施例中，該掃描開關及該第一光電開關分別為該第一薄膜電晶體T1及該第一薄膜電晶體開關PS1。該第一薄膜電晶體開關PS1的第一端為汲極點，其第二端為源極點。該第一薄膜電晶體T1的第一端為汲極點，其第二端為源極點。關於較詳細的電路連接與作動方式在接下來的段落裡會再說明。
該第一薄膜電晶體的汲極點D1分別電連接該第一薄膜電晶體開關PS1的源極點及該第一電容C1的一端，該第一薄膜電晶體開關PS1的汲極點分別電連接該第一光電二極體PD1的陽極及該第二光電二極體PD2的陰極，該第一電容C1的另一端接地。換言 之，從該第一薄膜電晶體開關PS1的汲極點來看，該第一光電二極體PD1與該第二光電二極體PD2呈反向連接的結構。該第一閘極掃描線L1電連接該第一薄膜電晶體T1的閘極點G1，該光電開關控制線CS電連接該第一薄膜電晶體開關PS1的閘極點，該第一薄膜電晶體T1的源極點S1電連接該訊號傳輸線W的一端，該訊號傳輸線W的另一端電連接該積分器I的反相(負)輸入端，該積分器I的輸出端電連接該類比至數位轉換器A的輸入端，該類比至數位轉換器A輸出一數位訊號。
值得一提的是，該第一光電二極體PD1及該第二光電二極體PD2皆操作在一逆偏壓工作區(光電導模式)，以使該第一光電二極體PD1及該第二光電二極體PD2根據接收到的光照強度而產生的相對應的光電流。該第一光電二極體PD1的陽極電壓等於該第二光電二極體PD2陰極電壓等於該第一薄膜電晶體的汲極點電壓V1，該第一光電二極體PD1具有一第一光電二極體的陰極電壓V2，該第二光電二極體PD2具有一第二光電二極體的陽極電壓V3，因此，該第一光電二極體PD1操作在一逆偏跨壓Va(圖未示)(換言之，Va=V2-V1,V2>V1)，該第二光電二極體PD2操作在一逆偏跨壓Vb(圖未示)(換言之，Vb=V1-V3,V1>V3)。因為工作在該逆偏壓工作區(光電導模式)，根據光電二極體的電流電壓曲線(I/V curve)特性，光電二極體因一光照而產生的一光電流大 小，與該光照強度呈正相關且該光電流的斜率很小，使該第一光電二極體PD1的逆偏跨壓Va與該第二光電二極體PD2的逆偏跨壓Vb就算有一電壓差也不至於影響欲擷取之反應該信號光的該差模成分。
該第一閘極掃描線L1可以是該多個列閘極掃描線27的其中之一列閘極掃描線27，該光電開關控制線CS可以是該多個光電二極體開關線28的其中之一光電二極體開關線28。當該光偵測薄膜單元23的該光偵測薄膜電路211針對該指紋的周邊進行光偵測辨識時，來自該第一閘極掃描線L1上的控制訊號關閉(switch off)該第一薄膜電晶體T1(即切換該第一薄膜電晶體T1在一不導通狀態)，來自該光電開關控制線28上的該光電二極體開關控制訊號CS導通(switch on)該第一薄膜電晶體開關PS1，此時該第一光電二極體PD1接收來自該指紋凸紋反射的一照度較強的第一光照而產生一第一光電流，該第二光電二極體PD2接收來自該指紋凹紋反射的一照度較弱的第二光照而產生一第二光電流，根據克希荷夫電流定律(Kirchhoff current laws)，在該汲極點D1的電流將會是該第一光電流等於一共模電流加上一差模電流，而該共模電流等於或非常近似該第二光電流。其中，該共模電流為背景光所造成的電流，該差模電流即為含有該指紋之凹凸紋差異之信號光的電流，該差模電流對該第一電容C1充電，此階段為一共模成分消除階段。 在該共模電流消除階段後，來自該第一閘極掃描線L1上的控制訊號導通該第一薄膜電晶體T1，來自該光電開關控制線CS上的控制訊號關閉該第一薄膜電晶體開關PS1(即切換該第一薄膜電晶體開關PS1在一不導通狀態)，該資料讀取電路221開始對該第一電容C1儲存的電荷能量(差模成分)作讀出取樣，此時儲存在該第一電容C1的電荷以電流形式通過該第一薄膜電晶體T1且藉由該訊號傳輸線W輸出到該資料讀取電路221，並依序通過該資料讀取電路221的該積分器I將該差模電流轉換成一積分放大後的類比積分電壓，該類比至數位轉換器A將該類比積分電壓轉換成一K位元的數位電壓值，其中，K為一大於等於1的整數。此階段為一差模成分擷取階段。
參閱圖7，在本實施例中，該光偵測元件21(光偵測薄膜陣列)是由該M×N個光偵測薄膜電路211形成的一具有M×N個像素之光偵測薄膜陣列，每一光偵測薄膜電路211具有該儲存傳輸電路212及該共模消除電路213，其中，該共模消除電路213具有兩個反向相接的光電二極體構成。然而，在本實施例的一些不同實施態樣中，該共模消除電路213中的該第一光電二極體PD1與該第二光電二極體PD2的反向連接結構可以是由分別設置在相鄰的兩個光偵測薄膜電路211的其中之一光偵測薄膜電路211的該第一光電二極體PD1與另一光偵測薄膜電路211的該第二光電二極體PD2搭配而 成，或是分別設置在相間隔的兩個光偵測薄膜電路211，又或者是一列(M個光偵測薄膜電路211)對應一列(M個光偵測薄膜電路211)等多種不同之設置方式，簡而言之，只要是任兩個光偵測薄膜電路211內的二個反向配對之光電二極體，透過該兩個其中之一光偵測薄膜電路211內的該儲存傳輸電路212分別以上述的方式電連接在一起，即成為具有共模消除功能之單一像素的該光偵測薄膜電路211。
參閱圖3，本實施例的該光偵測裝置2包含一本實施例所述之該光偵測元件21(光偵測薄膜陣列)、該資料讀取元件22，及M×N條該訊號傳輸線W，其中，該資料讀取元件22為一資料讀取晶片。
參閱圖8及圖14，本發明之光偵測裝置2的一第二實施例，該光偵測裝置2包含多個該光偵測薄膜單元23，每一光偵測薄膜單元23包括該光偵測薄膜電路211及該資料讀取電路221。該光偵測薄膜電路211具有一儲存傳輸電路212及一共模消除電路213。該儲存傳輸電路212具有一第一掃描開關、一第一閘極掃描線L1、一第一電容C1、一第二掃描開關，及一第二電容C2。該共模消除電路213具有一第一光電二極體PD1、一第二光電二極體PD2、一第一光電開關、一第二光電開關、一光電開關控制線CS，及一設置於該第一光電開關與該第二光電開關間的第三掃描開 關，及一設置於該第三掃描開關與該第二光電開關間的一第三電容C3。該光偵測薄膜電路211的第一掃描開關的第二端電連接該訊號傳輸線W的一端，該訊號傳輸線W的另一端電連接該資料讀取電路221，該第二掃描開關的第二端接地。該資料讀取電路221具有一積分器I及一類比至數位轉換器A。
該第一光電二極體PD1具有一陰極及一陽極，該第一光電開關具有一電連接該第一光電二極體PD1之陽極的第一端，及一電連接一第一共同接點的第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換，該第二光電二極體PD2具有一陰極及一陽極，一第二光電開關具有一電連接該第二光電二極體之陽極的第一端，及一電連接一第二共同接點的第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換，該第一電容C1具有一電連接該第一共同接點的第一端與一接地的第二端，該第二電容C2具有一電連接該第二共同接點的第一端與一接地的第二端，該第三掃描開關具有一電連接該第一共同接點的第一端及一第二端，該第三電容C3具有一電連接該第三掃描開關之第二端的第一端與一電連接該第二共同接點的第二端，該第一掃描開關具有一電連接該第一共同接點的第一端及一第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換，該第二掃描開關具有一電連接該第二共同接點的第一端及一接地的第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換。
在本實施例中，該第一掃描開關、該第二掃描開關、該第三掃描開關、該第一光電開關，及該第二光電開關分別為該第一薄膜電晶體T1、該第二薄膜電晶體T2、該第三薄膜電晶體T3、該第一薄膜電晶體開關PS1，及該第二薄膜電晶體開關PS2。該第一薄膜電晶體開關PS1的第一端為汲極點，其第二端為源極點。該第二薄膜電晶體開關PS2的第一端為汲極點，其第二端為源極點。該第一薄膜電晶體T1的第一端為汲極點，其第二端為源極點。該第二薄膜電晶體T2的第一端為汲極點，其第二端為源極點。該第三薄膜電晶體T3的第一端為汲極點，其第二端為源極點。關於較詳細的電路連接與作動方式在接下來的段落裡會再說明。
該第一光電二極體PD1的陽極電連接該第一薄膜電晶體開關PS1的汲極點，該第二光電二極體PD2的陽極電連接該第二薄膜電晶體開關PS2的汲極點。該第一薄膜電晶體的汲極點D1分別電連接該第一薄膜電晶體開關PS1的源極點、該第一電容C1的一端，及該第三薄膜電晶體T3的源極點，該第一電容C1的另一端接地。該第三薄膜電晶體的汲極點D3電連接該第三電容C3的一端，該第三電容C3的另一端分別電連接該第二薄膜電晶體開關PS2的源極點、該第二電容C2的一端，及該第二薄膜電晶體T2的汲極點D2，該第二電容C2的另一端接地。該第一閘極掃描線L1分別電連接該第一薄膜電晶體的閘極點G1，及該第二薄膜電晶體的閘極點G2， 該第二閘極掃描線L2電連接該第三薄膜電晶體的閘極點G3。該光電開關控制線CS分別電連接該第一薄膜電晶體開關PS1的閘極點及該第二薄膜電晶體開關PS2的閘極點。該第一薄膜電晶體T1的源極點S1電連接該訊號傳輸線W的一端，該訊號傳輸線W的另一端電連接該積分器I的反相(負)輸入端，該積分器I的輸出端電連接該類比至數位轉換器A的輸入端，該類比至數位轉換器A輸出一數位訊號。該第二薄膜電晶體T2的源極點S2接地。
值得一提的是，該第一光電二極體PD1及該第二光電二極體PD2同樣皆操作在逆偏壓工作區(光電導模式)，以使該第一光電二極體PD1及該第二光電二極體PD2根據接收到的光照強度而產生的相對應的光電流。其中，該第一光電二極體PD1的陽極電壓等於該第一薄膜電晶體的汲極點電壓V1，該第一光電二極體PD1具有一第一光電二極體的陰極電壓V2，該第二光電二極體PD2具有一第二光電二極體的陰極電壓V3’，在該第三薄膜電晶體T3導通時，該第三電容C3的跨壓Vd(圖未示)等於該第三薄膜電晶體T3的汲極點D3電壓V5與該第二薄膜電晶體T2的汲極點D2的電壓V4的電壓差(換言之，Vd=V5-V4)。該第一光電二極體PD1的逆偏跨壓Va等於該第一光電二極體PD1的陰極電壓V2與該汲極點D1電壓V1的電壓差(換言之，Va=V2-V1,V2>V1)，該第二光電二極體PD2的逆偏跨壓Vb等於該第二光電二極體PD2的陰極電壓V3’與 該汲極點D2之電壓V4的電壓差(換言之，Vb=V3’-V4,V3’>V4)，根據光電二極體的電流電壓曲線(I/V curve)特性，光電二極體因一光照而產生的一光電流大小，與該光照強度呈正相關且該光電流的斜率很小，使該第一光電二極體PD1的逆偏跨壓Va與該第二光電二極體PD2的逆偏跨壓Vb就算有一電壓差也不至於影響欲擷取之反應該信號光的該差模成分。
該第一閘極掃描線L1可以是該多個列閘極掃描線27的其中之一列閘極掃描線27，該第二閘極掃描線L2可以是該多個列閘極掃描線27的其中之另一列閘極掃描線27。該光電開關控制線CS可以是該多個光電二極體開關線28的其中之一光電二極體開關線28。該第一閘極掃描線L1、該第二閘極掃描線L2，及該光電開關控制線CS的控制訊號可以由一數位的有限狀態機(finite state machine，FSM)控制電路(圖未示)搭配一數位脈衝寬度調變產生器(pulse width modulation generator,PWM generator)(圖未示)來達到分別控制該第一薄膜電晶體T1、該第二薄膜電晶體T2、該第三薄膜電晶體T3、該第一薄膜電晶體開關PS1，及該第二薄膜電晶體開關PS2的開關時間。
參閱圖9，本實施例之該光偵測薄膜電路211的一工作時序圖，該工作時序圖的每一個循環動作包含了一電荷累積區間、一共模消除區間，及一差模讀取區間。在本實施例中，一樣是以該指 紋辨識為例，該第一光電二極體PD1接收來自該指紋凸紋反射的一照度較強的第一光照而產生該第一光電流，在該第一薄膜電晶體T1之汲極點D1的該第一光電流等於該第一共模電流加上一差模電流。該第二光電二極體PD2接收來自該指紋凹紋反射的一照度較弱的第二光照而產生該第二光電流，該第二光電流即為第二共模電流。
當該指紋觸碰該觸控面板後，該觸控面板啟動該光偵測薄膜電路211，在啟動的一開始，來自該第一閘極掃描線L1及該第二閘極掃描線L2的控制訊號同時被設定在數位邏輯高位階(logic high level)將該第一薄膜電晶體T1、第二薄膜電晶體T2，及該第三薄膜電晶體T3導通，且來自該光電開關控制線CS的控制訊號被設定在數位邏輯低位階(logic low level)將該第一薄膜電晶體開關PS1及該第二薄膜電晶體開關PS2關閉(即切換該第二薄膜電晶體開關PS2在一不導通狀態)，以對該光偵測薄膜電路211中的該第一電容C1、該第二電容C2，及該第三電容C3進行放電至一能量基準零點，此階段為啟動重置區間(power on reset)。
在啟動重置區間之後，該第一閘極掃描線L1的控制訊號從數位邏輯高位階被切換到數位邏輯低位階，進而關閉該第一薄膜電晶體T1及該第二薄膜電晶體T2(即切換該第一薄膜電晶體T1及該第二薄膜電晶體T2在一不導通狀態)，同時，來自該光電開關控 制線CS的控制訊號被切換到數位邏輯高位階將該第一薄膜電晶體開關PS1及該第二薄膜電晶體開關PS2導通，分別使該第一光電二極體PD1產生的該第一光電流對該第一電容C1充電，該第二光電二極體PD2產生的該第二光電流對該第二電容C2充電。因為該第一光電流大於該第二光電流，且該第一光電二極體PD1的逆偏跨壓Va等於或非常近似該第二光電二極體PD2的逆偏跨壓Vb，於是根據光電二極體的電流電壓曲線(I/V curve)特性，該第一光電二極體PD1的等效電阻值小於該第二光電二極體PD2的等效電阻值，所以一開始該第一電容C1充電速度較該第二電容C2速度快，進而在該第一薄膜電晶體T1的汲極點D1電壓V1(V1
Figure 109118369-A0305-02-0024-1
V5)與該第二薄膜電晶體T2的汲極點D2電壓V4間會有一差模電壓Vd逐漸增加，換句話說，在該第一電容C1及該第二電容C2充電的過程中，因為充電電流大小不同，造成該第一電容C1及該第二電容C2間，以及在該第一電容C3產生一相同的差模電壓(Vd)。也就是說，從該第一薄膜電晶體T1的的汲極點D1來看，該第一光電流包含的該差模電流為一第一差模電流加上一第二差模電流，該第一差模電流對該第一電容C1充電，該第二差模電流對該第三電容C3充電，於是最後分別在該第一電容C1與該第二電容C2間產生該差模電壓Vd，此階段為一電荷累積區間。
在電荷累積區間之後，該第一閘極掃描線L1的控制訊號 從數位邏輯低位階被切換到數位邏輯高位階，該第二閘極掃描線L1的控制訊號從數位邏輯高位階被切換到數位邏輯低位階，進而導通該第一薄膜電晶體T1及該第二薄膜電晶體T2，且關閉該第三薄膜電晶體T3(即切換該第三薄膜電晶體T3在一不導通狀態)。同時，來自該光電開關控制線CS的控制訊號被切換到數位邏輯低位階將該第一薄膜電晶體開關PS1及該第二薄膜電晶體開關PS2關閉。此時，該第一電容C1及該第二電容C2被設計在此階段以相同或非常近似的速度放電，直到該第二電容C2放電至該能量基準零點，此階段為一共模消除區間。
在共模消除區間之後，該第二閘極掃描線L1的控制訊號從數位邏輯低位階被切換到數位邏輯高位階，進而再次導通該第三薄膜電晶體T3，同時，該第一薄膜電晶體開關PS1及該第二薄膜電晶體開關PS2依舊關閉。此時，該資料讀取電路221會將儲存在該第一電容C1與該第三電容C3的差模能量以一放電電流的形式透過該訊號傳輸線W讀出，此階段為一差模讀取區間。
該放電電流一樣依序通過該資料讀取電路221的該積分器I將該差模電流轉換成一積分放大後的該類比積分電壓，該類比至數位轉換器A將該類比積分電壓轉換成該K位元的數位電壓值，其中，K為一大於等於1的整數。
參閱圖10，在本實施例中，該光偵測元件21(光偵測薄 膜陣列)是由該M×N個光偵測薄膜電路211形成的一具有M×N個像素之光偵測薄膜陣列。該光偵測元件21與該第一實施例所述之該光偵測元件21不同的地方在於該光偵測薄膜電路211的電路架構，然而配對的方式與該第一實施例所提到的組合是一樣的。
參閱圖14，本實施例的該光偵測裝置2包含一本實施例所述之該光偵測元件21(光偵測薄膜陣列)、該資料讀取元件22，及M×N條該訊號傳輸線W，其中，該資料讀取元件22為一資料讀取晶片。
參閱圖11及圖14，本發明之該光偵測裝置2的一第三實施例，該第三實施例為該第二實施例的一修改態樣，該第三實施例與該第二實施例不同的地方在於該光偵測薄膜電路211多了一個設置在該第三電容C3與該第二光電二極體PD2間的一第四掃描開關，在本實施例中，該第四掃描開關為一第四薄膜電晶體T4，該第四薄膜電晶體T4的第一端為汲極點，其第二端為源極點。該第三薄膜電晶體T3的汲極點D3電連接該第三電容C3的一端，該第四薄膜電晶體T4的汲極點電連接該第三電容C3的另一端，該第四薄膜電晶體T4的源極點S4電連接該第二薄膜電晶體開關PS2的源極點，該第三薄膜電晶體T3的閘極點G3電連接該第四薄膜電晶體T4的閘極點G4，且該第二閘極掃描線L2電連接該閘極點G3及該閘極點G4，該光電開關控制線CS分別電連接該第一薄膜電晶體開關PS1 的閘極點及該第二薄膜電晶體開關PS2的閘極點。相同於該第二實施例，在該第三薄膜電晶體T3、該第四薄膜電晶體T4、該第一薄膜電晶體開關PS1，及該第二薄膜電晶體開關PS2導通時，該第三電容C3的跨壓Vd(圖未示)等於該第三薄膜電晶體T3的汲極點D3電壓V5與該第四薄膜電晶體T4的汲極點電壓V6的電壓差(換言之，Vd=V5-V6)。
參閱圖12，該第三實施例之該光偵測薄膜電路211的該工作時序圖，本實施例的該工作時序圖與該第二實施例的該工作時序圖不同的地方在於，在該啟動重置區間、該電荷累積區間、該共模消除區間，及該差模讀取區間，該第二閘極掃描線L2的控制訊號同時控制該第三薄膜電晶體T3及該第四薄膜電晶體T4在關閉(即切換該第四薄膜電晶體T4在一不導通狀態)或導通狀態，使該光偵測薄膜電路211能讓該第一光電二極體PD1、該第一電容C1、該第二光電二極體PD2，及該第二電容C2進行共模成分消除與差模成分讀取。
參閱圖13，在本實施例中，該光偵測元件21(光偵測薄膜陣列)是由該M×N個光偵測薄膜電路211形成的一具有M×N個像素之光偵測薄膜陣列。該光偵測元件21與該第一實施例及該第二實施例中所述之該光偵測元件21不同的地方在於該光偵測薄膜電路211的電路架構，然而配對的方式與該第一實施例及該第二實施 例所提到的組合是一樣的。
參閱圖14，本實施例的該光偵測裝置2包含一本實施例所述之該光偵測元件21(光偵測薄膜陣列)、該資料讀取元件22，及M×N條該訊號傳輸線W，其中，該資料讀取元件22為一資料讀取晶片。關於該資料讀取晶片的具體描述可參考下兩篇文獻：[1]M.J.Powell,I.D.French,J.R.Hughes,N.C.Bird,O.S.Davies,C.Glasse,and J.E.Curran,“Amorphous silicon image sensor arrays,”in Mater.Res.Soc.Symp.Proc.,vol.258,pp.1127-1137,1992，及[2]B.Razavi,“Design of Analog CMOS Integrated Circuits,”McGraw-Hill,2000。
該第一實施例到該第三實施例中所述的該光偵測裝置2共同的優點是在差模訊號的讀取可直接搭配使用現有市場上可取得的該資料讀取晶片，不需額外再針對該資料讀取電路221重新設計。
參閱圖15，本發明之該光偵測裝置2的一第四實施例。本實施例與該第一實施例到該第三實施例不同的地方在於，本實施例是基於習知之應用在X光偵測的一第一光偵測薄膜電路211(如圖2所示)及一第二光偵測薄膜電路211(如圖2所示)做修改並配成一對。該配對的光偵測薄膜電路具有一第一薄膜電晶體T1、一第一電容C1、一第一光電二極體PD1、一第一薄膜電晶體開關PS1、一第二薄膜電晶體T2、一第二電容C2、一第二光電二極體PD2，及 一第二薄膜電晶體開關PS2。其中，該配對的光偵測薄膜電路的每一光偵測薄膜電路211與習知光偵測薄膜電路不同之處在於該配對的光偵測薄膜電路加入該第一薄膜電晶體開關PS1在該第一光電二極體PD1與及該第一電容C1間，以及加入該第二薄膜電晶體開關PS2在該第二光電二極體PD2與及該第二電容C2間。
該第一光電二極體PD1具有一陰極及一陽極，該第一光電開關具有一電連接該第一光電二極體PD1之陽極的第一端，及一電連接一第一共同接點的第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換，該第一電容C1具有一電連接該第一共同接點的第一端與一接地的第二端，該第一掃描開關具有一電連接該第一共同接點的第一端及一第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換，該第二光電二極體PD2具有一陽極及一陰極，該第二光電開關具有一電連接該第二光電二極體之陽極的第一端，及一電連接一第二共同接點的第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換，該第二電容C2具有一電連接該第二共同接點的第一端與一接地的第二端，該第二掃描開關具有一電連接該第二共同接點的第一端及一第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換。
在本實施例中，該第一掃描開關、該第二掃描開關、該第一光電開關，及該第二光電開關分別為該第一薄膜電晶體T1、該 第二薄膜電晶體T2、該第一薄膜電晶體開關PS1，及該第二薄膜電晶體開關PS2。該第一薄膜電晶體開關PS1的第一端為汲極點，其第二端為源極點。該第二薄膜電晶體開關PS2的第一端為汲極點，其第二端為源極點。該第一薄膜電晶體T1的第一端為汲極點，其第二端為源極點。該第二薄膜電晶體T2的第一端為汲極點，其第二端為源極點。關於較詳細的電路連接與作動方式在接下來的段落裡會再說明。
該第一薄膜電晶體開關PS1的汲極點電連接該第一光電二極體PD1的陽極，該第一薄膜電晶體開關PS1的源極點電連接該第一電容C1的一端與該第一薄膜電晶體T1的汲極點D1，該第一電容C1的另一端接地。該第二薄膜電晶體開關PS2的汲極點電連接該第二光電二極體PD2的陽極，該第二薄膜電晶體開關PS2的源極點電連接該第二電容C2的一端與該第二薄膜電晶體T2的汲極點D2，該第二電容C2的另一端接地。一光電開關控制線CS分別電連接該第一薄膜電晶體開關PS1的閘極點與該第二薄膜電晶體開關PS2的閘極點，一第一閘極掃描線L1分別電連接該第一薄膜電晶體T1的閘極點與該第二薄膜電晶體T2的閘極點。
該配對的光偵測薄膜電路的該第一薄膜電晶體T1的源極點與該第二薄膜電晶體T2的源極點分別電連接一第一訊號傳輸線W1的一端與一第二訊號傳輸線W2的一端，且藉由該第一訊號傳 輸線W1的另一端與該第二訊號傳輸線W2的另一端電連接一資料讀取電路221，以成為具有共模消除功能的一光偵測薄膜單元23。該資料讀取電路221具一第一積分器I1、一第二積分器I2、一差動放大器M，及一類比至數位轉換器A。
該第一訊號傳輸線W1的輸出端電連接該第一積分器I1的反相(負)輸入端，該第一積分器I1的輸出端電連接該差動放大器M的兩輸入端之其中之一輸入端。同樣地，該第二訊號傳輸線W2的輸出端電連接該第二積分器I2的反相(負)輸入端，該第二積分器I2的輸出端電連接該差動放大器M的兩輸入端之其中之另一輸入端。在本實施例中，該第一積分器I1的輸出端電連接該差動放大器M的非反相(正)輸入端，該第二積分器I2的輸出端電連接該差動放大器M的反相(負)輸入端。該差動放大器M的輸出端電連接該類比至數位轉換器A。
該光偵測薄膜單元23在一電容充電階段與一資料讀取階段間切換。在該電容充電階段，該第一閘極掃描線L1的控制訊號關閉該第一薄膜電晶體T1及該第二薄膜電晶體T2，該光電開關控制線CS的控制訊號導通該第一薄膜電晶體開關PS1及該第二薄膜電晶體開關PS2。該第一光偵測薄膜電路211的該第一光電二極體PD1，及該第二光偵測薄膜電路211的該第二光電二極體PD2分別接收該第一光照及該第二光照，以分別產生相對應的該第一光電流 及該第二光電流，該第一光電流對該第一電容C1充電，該第二光電流對該第二電容C2充電。
在該資料讀取階段，該第一閘極掃描線L1的控制訊號導通該第一薄膜電晶體T1及該第二薄膜電晶體T2，同時，該光電開關控制線CS的控制訊號關閉該第一薄膜電晶體開關PS1及該第二薄膜電晶體開關PS2，使該第一積分器I1與該第二積分器I2分別接收來自該第一光偵測薄膜電路211的該第一電容C1放電產生的一第一電流，及該第二光偵測薄膜電路211的的該第二電容C2產生的一第二電流訊號。該第一積分器I1及該第二積分器I2分別將該第一電流及該第二電流轉換且放大，以分別輸出一第一類比積分電壓及一第二類比積分電壓，該差動放大器M的非反相(正)輸入端接收該第一類比積分電壓，該差動放大器M的反相(負)輸入端接收該第二類比積分電壓(在另一修改態樣中也可以是，該差動放大器M的反相(負)輸入端接收該第一類比積分電壓，該差動放大器M的非反相(正)輸入端接收該第二類比積分電壓)，以輸出一正比於該第一類比積分電壓與該第二類比積分電壓之壓差的類比差異電壓，該類比至數位轉換器A的輸入端接收該類比差異電壓，且將該類比差異電壓轉換成該K位元的數位電壓值，其中，K為一大於等於1的整數。
參閱圖17，在本實施例中，該光偵測元件21(光偵測薄膜陣列)是由2(M×N)個該光偵測薄膜電路211形成的一具有M×N 個像素之光偵測薄膜陣列。該光偵測元件21與該第一實施例至該第三實施例中所述之該光偵測元件21不同的地方在於該光偵測薄膜電路211的電路架構，然而配對的方式與該第一實施例至該第三實施例所提到的組合是一樣的。此外，本實施例與該第一實施例至該第三實施例最主要的差異在於，該共模成分消除與差模成分放大是藉由該資料讀取電路221中的該差動放大器M來達到。
本實施例的該光偵測裝置2包含一本實施例所述之該光偵測元件21(光偵測薄膜陣列)、該資料讀取元件22、M×N條該第一訊號傳輸線W1，及M×N條該第二訊號傳輸線W2。
參閱圖16，本發明之該光偵測裝置2的一第五實施例。本實施例為該第四實施例的一修改態樣，本實施例與該第四實施例不同的地方在於，該資料讀取電路221的電路組態不同。該第一訊號傳輸線W1的輸出端電連接該差動放大器M的非反相(正)輸入端，該第二訊號傳輸線W2的輸出端電連接該差動放大器M的反相(負)輸入端(在另一修改態樣中也可以是，該第一訊號傳輸線W1的輸出端電連接該差動放大器M的反相(負)輸入端，該第二訊號傳輸線W2的輸出端電連接該差動放大器M的非反相(正)輸入端)，以分別接收反應該第一電容C1的一第一電容電壓VS1，及反應該第二電容C2的一第二電容電壓VS2，以輸出一正比於該第一電容電壓VS1與該第二電容電壓VS2之壓差的類比差異電壓。該積分器I的反相 (負)輸入端電連接該差動放大器M的輸出端，以接收該類比差異電壓，且對該類比差異電壓做積分放大成為一類比差異電壓。該類比至數位轉換器A的輸入電連接該差動放大器M的輸出端以接收該類比差異電壓，且將該類比差異電壓轉換成該K位元的數位電壓值，其中，K為一大於等於1的整數。
參閱圖17，在本實施例中，該光偵測元件21(光偵測薄膜陣列)是由該2(M×N)個光偵測薄膜電路211形成的一具有M×N個像素之光偵測薄膜陣列。該光偵測元件21與該第四實施之該光偵測元件21的構造及配對方式一樣。
本實施例的該光偵測裝置2(如圖14所示)包含一本實施例所述之該光偵測元件21(光偵測薄膜陣列)、該資料讀取元件22、M×N條該訊號傳輸線W1，及M×N條該第二訊號傳輸線W2。
該第四實施例與該第五實施例中所述的該光偵測裝置2與該第一實施例至該第三實施例主要的差異在，該第四實施例與該第五實施例的該共模成分是在該資料讀取電路221中被消除，而不是在該光偵測薄膜電路211中被消除。
值得注意的是，本發明光偵測裝置2的該第一實施例到該第五實施例中所提到之該光偵測元件21的數量也可以是多個，該資料讀取元件22的數量也可以是一個，該資料讀取元件22中的該資料讀取電路221的數量也可以是一個。
綜上所述，上述實施例的優點是：透過該光偵測裝置2的該光偵測元件21中具有的兩反向相接或同向相接的該第一光電二極體及該第二光電二極體的該光偵測薄膜電路211，接收到相同或幾乎相同的背景光，且藉由該光偵測薄膜電路211的該共模消除電路213或該資料讀取電路221的該差動放大器M，盡量消除背景光所反應的共模成分，留下且放大該第一光電二極體及該第二光電二極體間具特徵差異之信號光所反應的差模成分，解決傳統以薄膜電晶體製作的光偵測裝置只能應用在不易有背景光干擾的暗室X光偵測，有效地提高每一像素的偵測信噪比，進而增加在一般環境下之整體光偵測的精準度。
惟以上所述者，僅為本發明的實施例而已，當不能以此限定本發明實施的範圍，凡是依本發明申請專利範圍及專利說明書內容所作的簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋的範圍內。
23:光偵測薄膜單元
211:光偵測薄膜電路
212:儲存傳輸電路
213:共模消除電路
221:資料讀取電路
PD1:第一光電二極體
PD2:第二光電二極體
C1:第一電容
T1:第一薄膜電晶體
PS1:第一薄膜電晶體開關
W:訊號傳輸線
I:積分器
A:類比至數位轉換器
L1:第一閘極掃描線
CS:光電開關控制線
G1:第一薄膜電晶體的閘極點
D1:第一薄膜電晶體的汲極點
S1:第一薄膜電晶體的源極點
V1:第一薄膜電晶體的汲極點電壓
V2:第一光電二極體的陰極電壓
V3:第二光電二極體的陽極電壓

Claims (12)

  1. 一種光偵測裝置，包含: 一光偵測元件，包括 M×N個光偵測薄膜電路，其中，M和N分別是一大於等於1的整數，每一光偵測薄膜電路具有 一第一光電二極體，具有一陰極及一陽極，且感應一信號光與一背景光而產生一第一光電流從其陰極流向其陽極； 一第一光電開關，具有一電連接該第一光電二極體之陽極的第一端，及一電連接一第一共同接點的第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換； 一第二光電二極體，具有一陰極及一陽極，且感應一背景光而產生一第二光電流從其陰極流向其陽極； 一第二光電開關，具有一電連接該第二光電二極體之陽極的第一端，及一電連接一第二共同接點的第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換； 一第一掃描開關，具有一電連接該第一共同接點的第一端及一第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換；及 一第二掃描開關，具有一電連接該第二共同接點的第一端及一接地的第二端，且受控制於一導通狀態與一不導通狀態間切換。
  2. 如請求項1所述的光偵測裝置，其中，每一光偵測薄膜電路，依序工作在一啟動重置區間、一電荷累積區間；在該啟動重置區間，該第一掃描開關、該第二掃描開關，及該第三掃描開關皆在該導通狀態，該第一光電開關及該第二光電開關在該不導通狀態；在該電荷累積區間，該第一掃描開關與該第二掃描開關在該不導通狀態，該第三掃描開關、該第一光電開關，及該第二光電開關在該導通狀態。
  3. 如請求項1所述的光偵測裝置，其中，每一光偵測薄膜電路，工作在一共模消除區間，及一差模讀取區間，在該共模消除區間，該第一掃描開關與該第二掃描開關在該導通狀態，該第三掃描開關、該第一光電開關，及該第二光電開關在該不導通狀態；在該差模讀取區間，該第一光電開關及該第二光電開關在該不導通狀態，該第一掃描開關、該第二掃描開關，及該第三掃描開關皆在該導通狀態。
  4. 如請求項3所述的光偵測裝置還包含至少一資料讀取元件，該至少一資料讀取元件包括多個資料讀取電路，使該至少一資料讀取元件包括M×N個資料讀取電路，該M×N個該資料讀取電路分別電連接該M×N個光偵測薄膜電路，以接收來自該M×N個光偵測薄膜電路的M×N個正比於該第一光電流與第二光電流之差值的放電電流，且將該M×N個放電電流轉換成M×N個K位元的數位電壓值，其中，K是一大於等於1的整數。
  5. 如請求項4所述的光偵測裝置其中，每一資料讀取電路具有 一積分器，電連接所對應的該第一掃描開關的第二端，以接收在該差模讀取區間來自該第一掃描開關的該放電電流，且產生一正比該放電電流的類比積分電壓；及 一類比至數位轉換器，電連接該積分器，以接收來自該積分器的該類比積分電壓，且將該類比積分電壓轉換成一K位元的數位電壓值，其中，K是一大於等於1的整數。
  6. 如請求項2所述的光偵測裝置，其中，該第一掃描開關、該第二掃描開關、該第三掃描開關、該第一光電開關，及該第二光電開關分別為一薄膜電晶體。
  7. 如請求項1所述的光偵測裝置，其中，該光偵測薄膜電路還具有一設置在該第二共同接點與該該第三掃描開關間的一第四掃描開關，該第四掃描開關的一第一端電連接該第三掃描開關的該第二端，該第四掃描開關的一第二端電連接該第二共同接點，該第三掃描開關與該第四掃描開關同時受控於一導通狀態與一不導通狀態間切換。
  8. 如請求項7所述的光偵測裝置，其中，每一光偵測薄膜電路，依序工作在一電荷累積區間、一共模消除區間，及一差模讀取區間；在該電荷累積區間，該第一掃描開關與該第二掃描開關在該不導通狀態，該第三掃描開關、該第四掃描開關、該第一光電開關，及該第二光電開關在該導通狀態；在該共模消除區間，該第一掃描開關與該第二掃描開關在該導通狀態，該第三掃描開關、該第四掃描開關、該第一光電開關，及該第二光電開關在該不導通狀態；在該差模讀取區間，該第一光電開關及該第二光電開關在該不導通狀態，該第一掃描開關、該第二掃描開關、該第三掃描開關，及該第四掃描開關皆在該導通狀態。
  9. 如請求項7所述的光偵測裝置，其中，每一光偵測薄膜電路在該光偵測裝置被啟動後，會先進入到一啟動重置區間，在該啟動重置區間，該第一掃描開關、該第二掃描開關、該第三掃描開關，及該第四掃描開關皆在該導通狀態，該第一光電開關及該第二光電開關在該不導通狀態。
  10. 如請求項9所述的光偵測裝置還包含至少一資料讀取元件，該至少一資料讀取元件包括多個資料讀取電路，使該至少一資料讀取元件包括M×N個資料讀取電路，該M×N個該資料讀取電路分別電連接該M×N個光偵測薄膜電路，以接收來自該M×N個光偵測薄膜電路的M×N個正比於該第一光電流與第二光電流之差值的放電電流，且將該M×N個放電電流轉換成M×N個K位元的數位電壓值，其中，K是一大於等於1的整數。
  11. 如請求項10所述的光偵測裝置其中，每一資料讀取電路具有 一積分器，電連接所對應的該第一掃描開關的第二端，以接收在該差模讀取區間來自該第一掃描開關的該放電電流，且產生一正比該放電電流的類比積分電壓；及 一類比至數位轉換器，電連接該積分器，以接收來自該積分器的該類比積分電壓，且將該類比積分電壓轉換成一K位元的數位電壓值。
  12. 如請求項7所述的光偵測裝置，其中，該第一掃描開關、該第二掃描開關、該第三掃描開關、該第四掃描開關、該第一光電開關，及該第二光電開關分別為一薄膜電晶體。
TW109118369A 2017-12-05 2018-09-04 光偵測裝置 TWI764161B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201711271086.1 2017-12-05
CN201711271086.1A CN109870233B (zh) 2017-12-05 2017-12-05 光侦测薄膜、光侦测器件、光侦测装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW202118025A TW202118025A (zh) 2021-05-01
TWI764161B true TWI764161B (zh) 2022-05-11

Family

ID=66751265

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW107131003A TWI698007B (zh) 2017-12-05 2018-09-04 光偵測裝置
TW109118369A TWI764161B (zh) 2017-12-05 2018-09-04 光偵測裝置

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW107131003A TWI698007B (zh) 2017-12-05 2018-09-04 光偵測裝置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US11280673B2 (zh)
CN (2) CN112362159B (zh)
TW (2) TWI698007B (zh)
WO (1) WO2019109896A1 (zh)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114241528A (zh) * 2021-02-08 2022-03-25 神盾股份有限公司 指纹感测装置及其操作方法
TWI781611B (zh) * 2021-05-10 2022-10-21 大陸商北京集創北方科技股份有限公司 指紋採集電路、指紋辨識裝置及資訊處理裝置
CN114566126B (zh) * 2022-03-10 2023-08-22 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5751005A (en) * 1996-12-20 1998-05-12 Raytheon Company Low-crosstalk column differencing circuit architecture for integrated two-color focal plane arrays
US20110260629A1 (en) * 2009-03-25 2011-10-27 Rohm Co., Ltd. Illuminance Sensor, and Electronic Equipment and Semiconductor Device Using the Same

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010070481A (ko) * 2000-01-11 2001-07-25 마리 오 휴버 능동 픽셀 센서 회로 및 ａｐｓ 회로 동작 방법
US6376826B1 (en) * 2000-03-24 2002-04-23 Agilent Technologies, Inc. Polarity-independent optical receiver and method for fabricating same
JP2001298663A (ja) * 2000-04-12 2001-10-26 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置およびその駆動方法
DE60134143D1 (de) * 2001-10-16 2008-07-03 Suisse Electronique Microtech Photodetektor mit grossem Dynamikbereich und erhöhtem Arbeitstemperaturbereich
JP4590974B2 (ja) * 2004-08-09 2010-12-01 住友電気工業株式会社 光受信回路
JP5305387B2 (ja) 2007-12-25 2013-10-02 セイコーインスツル株式会社 光検出装置、及び画像表示装置
JP4868425B2 (ja) * 2009-08-07 2012-02-01 奇美電子股▲ふん▼有限公司 ディスプレイ装置、これを有する電子機器及び光センサ装置
JP5695338B2 (ja) * 2010-04-22 2015-04-01 セイコーインスツル株式会社 照度センサ
FR2959320B1 (fr) 2010-04-26 2013-01-04 Trixell Detecteur de rayonnement electromagnetique a selection de gamme de gain
JP2013207095A (ja) * 2012-03-28 2013-10-07 Renesas Electronics Corp 光電変換装置
CN103033262B (zh) * 2012-12-14 2015-04-15 京东方科技集团股份有限公司 光传感器件、显示装置及亮度检测方法
KR102367450B1 (ko) * 2015-04-10 2022-02-28 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
JP6499031B2 (ja) 2015-06-30 2019-04-10 エイブリック株式会社 電子機器
EP3128342A1 (en) * 2015-08-07 2017-02-08 Canon Kabushiki Kaisha Photoelectric conversion device, ranging apparatus, and information processing system
CN205506211U (zh) * 2016-01-26 2016-08-24 广州华欣电子科技有限公司 光信号检测电路
CN106169484B (zh) * 2016-08-18 2019-04-26 上海箩箕技术有限公司 自发光显示阵列基板及其使用方法
CN109031393B (zh) * 2017-06-09 2020-07-28 京东方科技集团股份有限公司 光电探测电路以及光电探测器

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5751005A (en) * 1996-12-20 1998-05-12 Raytheon Company Low-crosstalk column differencing circuit architecture for integrated two-color focal plane arrays
US20110260629A1 (en) * 2009-03-25 2011-10-27 Rohm Co., Ltd. Illuminance Sensor, and Electronic Equipment and Semiconductor Device Using the Same

Also Published As

Publication number Publication date
CN112362159B (zh) 2024-01-19
US11280673B2 (en) 2022-03-22
TW201926657A (zh) 2019-07-01
US20200300696A1 (en) 2020-09-24
TWI698007B (zh) 2020-07-01
CN109870233A (zh) 2019-06-11
CN112362159A (zh) 2021-02-12
TW202118025A (zh) 2021-05-01
WO2019109896A1 (en) 2019-06-13
CN109870233B (zh) 2020-11-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7145201B2 (ja) フォトセンサーにおける高強度光を検出すること
KR101672344B1 (ko) 광센싱 회로, 상기 광센싱 회로의 구동 방법, 및 상기 광센싱 회로를 채용한 광센싱 장치
TWI467134B (zh) 感測裝置與感測方法
JP5323903B2 (ja) センサ回路および電子機器
CN107314813B (zh) 光强检测单元、光强检测方法和显示装置
TWI764161B (zh) 光偵測裝置
KR101022118B1 (ko) 광 감지회로 및 그 구동방법과 이를 구비한 터치 스크린 패널
KR101652786B1 (ko) 단순화된 광센싱 회로 및 상기 광센싱 회로를 채용한 리모트 광터치 패널 및 영상 획득 장치
US10622493B2 (en) Light detecting device, light detecting method and display device
US20210209326A1 (en) Detection circuit, skin print recognition device and driving method
CN113489923B (zh) 使用tft像素电路的光学有源像素传感器
CN105208300A (zh) 图像传感器、非晶硅tft像素单元的读取电路及方法
US10236400B2 (en) Quantum dot film based demodulation structures
CN106959384B (zh) 一种光电检测电路、显示面板及显示装置
WO2014205977A1 (zh) 触控驱动电路、光学式内嵌触摸屏及显示装置
US8835829B2 (en) Image sensor formed by silicon rich oxide material
US9978803B2 (en) Imaging apparatus and electronic apparatus
CN114220373B (zh) 光检测模组、光检测方法和显示装置
TWI360644B (en) Photo sensor for a display device
CN109979367B (zh) 光电检测电路及其驱动方法、感光装置及显示装置
WO2021163914A1 (zh) 光敏检测电路、光信号检测方法、装置及系统、显示装置
KR20090073562A (ko) 넓은 동적 범위을 갖는 씨모스 이미지 센서
CN114743226A (zh) 图像采集结构及其驱动方法、显示装置
EP3445040A1 (en) Detecting high intensity light in photo sensor