TWI762195B - 影像感測器的使用方法 - Google Patents

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TWI762195B TW110105261A TW110105261A TWI762195B TW I762195 B TWI762195 B TW I762195B TW 110105261 A TW110105261 A TW 110105261A TW 110105261 A TW110105261 A TW 110105261A TW I762195 B TWI762195 B TW I762195B
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Abstract

本發明公開了一種使用影像感測器的方法，所述影像感測器包括用於捕獲場景影像的N個感測區域，所述N個感測區域在物理上彼此分離，所述方法包括：對於i ＝ 1，…，P，和j ＝ 1，…，Q（i），將所述影像感測器放置在位置（i，j），並在所述影像感測器位於所述位置（i，j）時使用所述影像感測器捕獲所述場景的部分影像（i，j），從而捕獲總共R個部分影像，其中R是Q（i），i = 1，…，P，的和，其中P＞ 1，其中Q（i），i = 1，…，P，是正整數並且並非全部為1，其中對於i = 1，...，P，位置組（i）包括所述位置（i，j），j = 1，...，Q（i），並且其中在兩個不同位置組中的兩個位置之間的最小距離實質上大於在同一位置組中的兩個位置之間的最大距離；基於所述R個部分影像確定所述場景的組合影像。

Description

影像感測器的使用方法
本發明的公開涉及影像感測器的使用方法。
輻射檢測器是一種測量輻射的特性的裝置。所述特性的示例可包括輻射的強度、相位和偏振的空間分佈。所述輻射可以是與對象相互作用的輻射。例如，由輻射檢測器測量的輻射可以是已經從對象穿透或從對象反射的輻射。所述輻射可以是電磁輻射，比如紅外光、可見光、紫外光、X射線或γ射線。所述輻射可以是其他類型，比如α射線和β射線。一個影像感測器可以包括多個輻射檢測器。輻射可包括輻射粒子，例如光子（電磁波）和亞原子粒子。
本發明公開一種使用影像感測器的方法，所述影像感測器包括用於捕獲場景影像的N個感測區域，N為正整數，所述N個感測區域在物理上彼此分離，所述方法包括：對於i ＝ 1，…，P，和j ＝ 1，…，Q（i），將所述影像感測器放置在相對於所述場景的位置（i，j），並在所述影像感測器位於所述位置（i，j）時使用所述影像感測器捕獲所述場景的部分影像（i，j），從而捕獲總共R個部分影像，其中R是Q（i），i = 1，…，P，的和，其中P是大於1的整數，其中Q（i），i = 1，…，P，是正整數並且並非全部為1，其中對於i = 1，...，P，位置組（i）包括所述位置（i，j），j = 1，...，Q（i），並且其中在所述位置組（i），i = 1，…，P，中一個位置組中的一個位置與所述位置組（i），i = 1，…，P，中另一個位置組中的另一個位置之間的最小距離實質上大於在所述位置組（i），i = 1，…，P，中同一個位置組的兩個位置之間的最大距離；並且基於所述R個部分影像確定所述場景的組合影像。
根據實施例，N大於1。
根據實施例，所述的將所述影像感測器放置在對於i ＝ 1，…，P，和j ＝ 1，…，Q（i），的位置（i，j）是一個一個地執行的。
根據實施例，Q（i），i = 1，…，P，相同且大於1。
根據實施例，所述的最小距離接近並小於所述N個感測區域中的感測區域的大小。
根據實施例，所述的最小距離大於所述的最大距離的100倍。
根據實施例，所述的最大距離小於所述N個感測區域的感測元件的大小的10倍。
根據實施例，所述的將所述影像感測器放置在對於i ＝ 1，…，P，和j ＝ 1，…，Q（i），的所述的位置（i，j）包括將所述影像感測器從所述位置組（i），i = 1，...，P，中的一個位置組的一個位置直接移到所述位置組（i），i = 1，...，P，中的另一個位置組的另一個位置，並且不包括將所述影像感測器從所述位置組（i），i = 1，…，P，中的一個位置組的一個位置直接移到所述同一位置組的另一個位置。
根據實施例，所述的確定所述組合影像包括拼接所述部分影像（i，1），i ＝ 1，…，P，以形成所述場景的拼接影像。
根據實施例，所述的確定所述組合影像進一步包括對於i ＝ 1，…，P，基於所述部分影像（i，j），j ＝ 1，…，Q（i），確定增強部分影像（i）。
根據實施例，所述的確定所述組合影像進一步包括對於i ＝ 1，…，P，使用所述增強部分影像（i）來代替所述拼接影像的所述部分影像（i，1）。
根據實施例，所述的確定所述組合影像進一步包括在執行所述的使用之後，均衡所述拼接影像的不同區域的分辨率。
根據實施例，所述的確定所述組合影像進一步包括對於i ＝ 1，…，P，如果所述增強部分影像（i）的分辨率高於所述部分影像（i，1）的分辨率，則使用所述增強部分影像（i）代替所述拼接影像的所述部分影像（i，1）。
根據實施例，所述的確定所述增強部分影像（i）包括確定所述位置（i，j），j ＝ 1，...，Q（i），相對於彼此的位置。
根據實施例，所述的確定所述位置（i，j），j ＝ 1，…，Q（i），相對於彼此的所述位置包括使用相對於所述場景靜止的標記。
根據實施例，所述的確定所述位置（i，j），j ＝ 1，…，Q（i），相對於彼此的所述位置包括：對所述部分影像（i，j），j ＝ 1，…，Q（i），進行上採樣，從而分別對部分影像（i，j），j ＝ 1，…，Q（i），進行上採樣；並且將所述上採樣的部分影像（i，j），j ＝ 1，…，Q（i），相關聯，以確定所述位置（i，j），j ＝ 1，…，Q（i），相對於彼此的位置。
根據實施例，所述的確定所述組合影像包括：對於i ＝ 1，…，P，基於所述部分影像（i，j），j ＝ 1，…，Q（i），確定增強部分影像（i）。
根據實施例，所述的確定所述組合影像進一步包括拼接所述增強部分影像（i），i ＝ 1，…，P，以形成所述場景的拼接影像。
根據實施例，所述的確定所述組合影像進一步包括均衡所述拼接影像的不同區域的分辨率。
圖1示意示出作為示例的輻射檢測器100。所述輻射檢測器100可以包括感測元件150（也稱為像素150）的陣列。該陣列可以是矩形陣列（如圖1所示）、蜂窩陣列、六邊形陣列或任何其他合適的陣列。在圖1示例中的所述輻射檢測器100具有排列成4行7列的28個感測元件150。然而，通常所述輻射檢測器100可以具有以任意方式排列的任意數量的感測元件150。
每個感測元件150可以被配置為檢測來自輻射源（圖中未顯示）的入射在其上的輻射，並且可以被配置為測量所述輻射的特性（例如，粒子的能量、波長、輻射通量和頻率）。輻射可以包括諸如光子（電磁波）和亞原子粒子等粒子。每個感測元件150可以被配置為在一段時間內對入射在其上的其能量落入多個能量箱中的輻射粒子的數量進行計數。所有所述感測元件150均可以被配置為對在相同時間段內的多個能量箱內入射在其上的輻射粒子的數量進行計數。當所述入射輻射粒子具有相似的能量時，所述感測元件150可以簡單地被配置為對一段時間內入射在其上的輻射粒子的數量進行計數，而無需測量各個輻射粒子的能量。
每個感測元件150可以具有其自己的類比數位轉換器（ADC），該類比數位轉換器被配置為將表示入射輻射粒子能量的類比信號數位化為數位信號，或者將表示多個入射輻射粒子總能量的類比信號數位化為數位信號。所述感測元件150可以被配置為並行操作。例如，當一個感測元件150測量入射的輻射粒子時，另一個感測元件150可能正在等待輻射粒子到達。所述感測元件150可以不必是單獨可尋址的。
在此描述的輻射檢測器100可以具有諸如X射線望遠鏡、乳腺X射線照相、工業X射線缺陷檢測、X射線顯微鏡或顯微照相、X射線鑄件檢驗，X射線無損試驗、X射線焊接檢驗、X射線數位減影血管造影等應用。也可以將所述輻射檢測器100用於代替照相底片、照相膠片、光激發磷光板、X射線影像增強器、閃爍體或X射線檢測器。
圖2A示意示出根據實施例的圖1中沿2A-2A線的輻射檢測器100的簡化橫截面圖。更具體地講，所述輻射檢測器100可包括輻射吸收層110和電子層120（例如，專用集成電路），其用於處理或分析在所述輻射吸收層110中產生的入射輻射的電信號。所述輻射檢測器100可包括也可不包括閃爍體（圖中未顯示）。所述輻射吸收層110可包括半導體材料，諸如矽、鍺、砷化鎵、碲化鎘、鎘鋅碲或其組合。所述半導體材料對於感興趣的輻射可具有高的質量衰減係數。
圖2B示意示出作為示例的圖1中沿2A-2A線的輻射檢測器100的詳細橫截面圖。更具體地講，所述輻射吸收層110可包括由第一摻雜區111、第二摻雜區113的一個或多個離散區114 組成的一個或多個二極體（例如，p-i-n或p-n）。所述第二摻雜區113可通過可選的本徵區112而與所述第一摻雜區111分離。所述離散區114通過所述第一摻雜區111或所述本徵區112而彼此分離。所述第一摻雜區111和所述第二摻雜區113具有相反類型的摻雜（例如，區域111是p型並且區域113是n型，或者區域111是n型並且區域113是p型）。在圖2B中的示例中，所述第二摻雜區113的每個離散區114與所述第一摻雜區111和所述可選的本徵區112一起組成一個二極體。即，在圖2B的示例中，所述輻射吸收層110包括多個二極體（更具體地講，7個二極體對應於圖1的所述陣列中的一行的7個感測元件150）。所述多個二極體具有電觸點119A作為共享（共用）電極。所述第一摻雜區111還可具有離散部分。
所述電子層120可包括電子系統121，其適用於處理或解釋由入射在所述輻射吸收層110上的輻射所產生的信號。所述電子系統121可包括類比電路比如濾波器網絡、放大器、積分器、比較器，或數位電路比如微處理器和儲存器。所述電子系統121可包括一個或多個類比數位轉換器。所述電子系統121可包括由所述感測元件150共用的組件或專用於單個感測元件150的組件。例如，所述電子系統121可包括專用於每個感測元件150的放大器和在所有感測元件150間共用的微處理器。所述電子系統121可通過通孔131電連接到所述感測元件150。所述通孔之間的空間可用填充材料130填充，其可增加所述電子層120到所述輻射吸收層110連接的機械穩定性。其他鍵合技術有可能在不使用所述通孔131的情況下將所述電子系統121連接到所述感測元件150。
當來自所述輻射源（圖中未顯示）的輻射撞擊包括二極體的所述輻射吸收層110時，所述輻射粒子可被吸收並通過若干機制產生一個或多個載流子（例如，電子，空穴）。所述載流子可在電場下向其中一個所述二極體的電極漂移。所述電場可以是外部電場。所述電觸點119B可包括離散部分，其中的每個離散部分與所述離散區114電接觸。術語“電接觸”可與詞語“電極”互換使用。在實施例中，所述載流子可向不同方向漂移，使得由單個輻射粒子產生的所述載流子大致未被兩個不同的離散區114共用（“大致未被共用”在這裡意指這些載流子中的不到2%、不到0.5%、不到0.1%、或不到0.01%流向與餘下載流子不同的一個所述離散區114）。由入射在所述離散區114之一的足跡周圍的輻射粒子所產生的載流子大致未被另一所述離散區114共用。與一個離散區114相關聯的一個感測元件150可以是所述離散區114周圍的區，由入射在其中的一個輻射粒子所產生的載流子大致全部（超過98％、超過99.5％、超過99.9％或超過99.99％）流向其中。即，所述載流子中的不到2％、不到1％、不到0.1％、或不到0.01％流到所述感測元件150之外。
圖2C示意示出根據實施例的圖1沿2A-2A線的所述輻射檢測器100的替代詳細橫截面圖。更具體地講，所述輻射吸收層110可包括半導體材料，比如矽、鍺、砷化鎵、碲化鎘、鎘鋅碲或其組合，的電阻器，但不包括二極體。所述半導體材料對於感興趣的輻射可具有高的質量衰減係數。在實施例中，圖2C中的所述電子層120在結構和功能方面類似於圖2B中的所述電子層120。
當所述輻射撞擊包括所述電阻器但不包括二極體的所述輻射吸收層110時，該輻射可被吸收並通過若干機制產生一個或多個載流子。一個輻射粒子可產生10到100000個載流子。所述載流子可在電場下向電觸點119A和電觸點119B漂移。所述電場可以是外部電場。所述電觸點119B包括離散部分。在實施例中，所述載流子可向不同方向漂移，使得由單個輻射粒子產生的所述載流子大致未被所述電觸點119B兩個不同的離散部分共用（“大致未被共用”在這裡意指這些載流子中不到2%、不到0.5%、不到0.1%或不到0.01%流向與餘下載流子不同組的離散部分）。由入射在所述電觸點119B離散部分之一的足跡周圍的輻射粒子所產生的載流子大致未被另一所述電觸點119B離散部分共用。與所述電觸點119B離散部分之一相關聯的一個感測元件150可以是所述離散部分周圍的區，由入射在其中的輻射粒子所產生的載流子大致全部（超過98％、超過99.5％、超過99.9％或超過99.99％）流向其中。即，所述載流子中的不到2％、不到0.5％、不到0.1％、或不到0.01％流到與所述電觸點119B離散部分之一相關聯的所述感測元件之外。
圖3示意示出根據實施例的包括了所述輻射檢測器100和印刷電路板400的封裝200的俯視圖。本發明中所用術語“印刷電路板”不限於特定材料。例如，印刷電路板可包括半導體。所述輻射檢測器100被安裝到所述印刷電路板400。為了清楚起見，未示出所述輻射檢測器100和所述印刷電路板400之間的連線。所述印刷電路板400可以有一個或多個輻射檢測器100。所述印刷電路板400可具有未被所述輻射檢測器100覆蓋的區405（例如，用於容納鍵合線410的區）。所述輻射檢測器100可具有感測區域190，該感測區域190是所述感測元件150（如圖1）所在的位置。所述輻射檢測器100可在其邊緣附近具有周邊區域195。所述周邊區域195沒有感測元件，並且所述輻射檢測器100未檢測到入射在周邊區域195的輻射粒子。
圖4示意示出根據實施例的影像感測器490的截面圖。所述影像感測器490可包括安裝到系統印刷電路板450的圖3的多個封裝200。圖4示出所述影像感測器490可以包括兩個封裝200作為示例。所述印刷電路板 400和所述系統印刷電路板450之間的電連接可通過鍵合線410實現。為了將所述鍵合線410容納在所述印刷電路板400上，所述印刷電路板400具有未被所述輻射檢測器100覆蓋的區域405。為了在所述系統印刷電路板450上容納所述鍵合線410，所述封裝件200之間具有間隙。所述間隙可以是大約1mm或更大。入射在所述周邊區域195上、所述區域405上或所述間隙上的輻射粒子無法通過所述系統印刷電路板 450上的所述封裝200進行檢測。
輻射檢測器（例如，所述輻射檢測器100）的盲區是指入射的輻射粒子無法被所述輻射檢測器檢測到的所述輻射檢測器的輻射接收表面的區域。封裝（例如，所述封裝200）的盲區是指入射的輻射粒子無法被所述輻射檢測器或所述封裝中的輻射檢測器檢測到的所述封裝的所述輻射接收表面的區域。在圖3和圖4所示的示例中，所述封裝200的所述盲區包括所述周邊區域195和所述區域405。影像感測器（例如，影像感測器490）的盲區（例如，盲區488）具有一組封裝（例如，安裝在相同印刷電路板上的封裝，佈置在相同層中的封裝）包括該組中的所述封裝的所述盲區和所述封裝之間的間隙的組合。
在實施例中，包括所述輻射檢測器100的所述影像感測器490可具有不能檢測入射輻射的所述盲區488。然而，在實施例中，具有感測區域190的所述影像感測器490可捕獲對象或場景（圖中未示出）的部分影像，然後這些被捕獲的部分影像可被拼接以形成整個所述對象或場景的完整影像。
圖5A-圖5D示意示出根據實施例的處於操作中的所述影像感測器的俯視圖。為簡單起見，僅示出了所述影像感測器490的兩個感測區域190a和190b以及所述盲區488（即，所述影像感測器490的其他部分，例如周邊區域195（圖4），未示出）。在實施例中，包圍金屬劍512的紙板箱510可以位於所述影像感測器490和在頁面之前的輻射源（未示出）之間。所述紙板箱510在所述影像感測器490和觀察者的眼睛之間。在下文中，為了概括起見，包圍所述金屬劍512的所述紙板箱510可以被稱為對象/場景510 +512。
在實施例中，所述影像感測器490在捕獲所述對象/場景510 + 512的影像中的操作可以如下。首先，如圖5A所示，所述對象/場景510 + 512可以是靜止的，並且所述影像感測器490可以相對於所述對象/場景510 + 512移動到第一影像捕獲位置。然後，當所述影像感測器490處於所述第一影像捕獲位置時，所述影像感測器490可以用於捕獲所述對象/場景510 + 512的第一部分影像520.1。
接下來，在實施例中，如圖5B所示，所述影像感測器490可以相對於所述對象/場景510 + 512移動到第二影像捕獲位置。然後，當所述影像感測器490處於所述第二影像捕獲位置時，所述影像感測器490可以用於捕獲所述對象/場景510 + 512的第二部分影像520.2。
接下來，在實施例中，如圖5C所示，所述影像感測器490可以相對於所述對象/場景510 + 512移動到第三影像捕獲位置。然後，當所述影像感測器490處於所述第三影像捕獲位置時，所述影像感測器490可以用於捕獲所述對象/場景510 + 512的第三部分影像520.3。
在實施例中，所述感測區域190a和190b的大小和形狀以及所述第一影像捕獲位置、第二影像捕獲位置和第三影像捕獲位置的位置可以使得所述部分影像520.1、520.2和520.3的任何部分影像與所述部分影像520.1、520.2和520.3中的至少另一個部分影像重疊。例如，所述第一影像捕獲位置和所述第二影像捕獲位置之間的距離492可以接近並小於所述感測區域190a的寬度190w；因此，所述第一部分影像520.1與所述第二部分影像520.2重疊。
在實施例中，在所述部分影像520.1、520.2和520.3的任何部分影像與所述部分影像520.1、520.2和520.3中的至少另一個部分影像重疊的情況下，可以拼接所述部分影像520.1、520.2和520.3 從而形成所述對象/場景510 + 512的更完整的影像520（圖5D）。在實施例中，所述感測區域190a和190b的大小和形狀以及所述第一影像捕獲位置、第二影像捕獲位置和第三影像捕獲位置的位置可以使得所述拼接影像520覆蓋所述整個對象/場景510 + 512，如圖5D所示。
圖6A-圖6D示意示出根據替代實施例的處於操作中的所述影像感測器490的俯視圖。在實施例中，就所述部分影像520.1、520.2和520.3的所述捕獲而言，圖6A-圖6D中的所述影像感測器490的操作可類似於圖5A-圖5D中的所述影像感測器490的操作。在實施例中，除了如上所述部分影像520.1、520.2和520.3的所述捕獲之外，圖6A-圖6D中的所述影像感測器490的操作還可包括以下內容。
在實施例中，在捕獲所述第三部分影像520.3之後，所述影像感測器490可以被移動到所述第一影像捕獲位置（圖6A中的實線矩形影像感測器490）處或其附近的第四影像捕獲位置（圖6A中的虛線矩形影像感測器490）。然後，當所述影像感測器490在所述第四影像捕獲位置處時，所述影像感測器490可以用於捕獲所述對象/場景510 + 512的第四部分影像520.4。所述第一影像捕獲位置和所述第四影像捕獲位置可以被認為屬於第一位置組。所述第一部分影像和所述第四部分影像可以被認為屬於第一部分影像組。
在實施例中，在捕獲所述第四部分影像520.4之後，所述影像感測器490可以被移動到所述第二影像捕獲位置（圖6B中的實線矩形影像感測器490）處或其附近的第五影像捕獲位置（圖6B中的虛線矩形影像感測器490）。然後，當所述影像感測器490在所述第五影像捕獲位置處時，所述影像感測器490可以用於捕獲所述對象/場景510 + 512的第五部分影像520.5。所述第二影像捕獲位置和所述第五影像捕獲位置可以被認為屬於第二位置組。所述第二部分影像和所述第五部分影像可以被認為屬於第二部分影像組。
在實施例中，在捕獲所述第五部分影像520.5之後，所述影像感測器490可以被移動到所述第三影像捕獲位置（圖6C中的實線矩形影像感測器490）處或其附近的第六影像捕獲位置（圖6C中的虛線矩形影像感測器490）。然後，當所述影像感測器490在所述第六影像捕獲位置處時，所述影像感測器490可以用於捕獲所述對象/場景510 + 512的第六部分影像520.6。所述第三影像捕獲位置和所述第六影像捕獲位置可以被認為屬於第三位置組。所述第三部分影像和所述第六部分影像可以被認為屬於第三部分影像組。
在實施例中，所述六個影像捕獲位置的位置可以使得所述第一位置組、所述第二位置組和所述第三位置組的一個位置組的影像捕獲位置與所述第一位置組、所述第二位置組和所述第三位置組的另一個位置組的另一個影像捕獲位置的最大距離實質上大於（例如，大於10倍、大於20倍、大於50倍或大於100倍）所述第一位置組、所述第二位置組和所述第三位置組的一個位置組的兩個影像捕獲位置之間的最大距離。換句話說，兩個不同位置組的兩個影像捕獲位置之間的最小距離實質上大於相同組的兩個影像捕獲位置之間的最大距離。
在實施例中，所述最小距離可以接近並小於所述感測區域190a的寬度190w（圖5A）。例如，所述最小距離可以在寬度190w的80％至99.99％的範圍內。在實施例中，所述最小距離可以大於所述最大距離的100倍。在實施例中，所述最大距離可以小於感測元件150的大小的10倍。
在實施例中，所述影像感測器490可以僅從位置組的影像捕獲位置直接移動到另一位置組的另一影像捕獲位置。這意味著在該實施例中，所述影像感測器490可以不從位置組的影像捕獲位置直接移動到所述相同位置組的另一影像捕獲位置。例如，在該實施例中，所述影像感測器490可以從所述第三影像捕獲位置直接移動到所述第五影像捕獲位置，因為所述第三影像捕獲位置和所述第五影像捕獲位置屬於兩個不同的位置組（即，分別是第三位置組和第二位置組）。然而，在該實施例中，因為所述第三影像捕獲位置和所述第六影像捕獲位置屬於相同的位置組（即，所述第三位置組），所以所述影像感測器490可以不從所述第三影像捕獲位置直接移動到所述第六影像捕獲位置。
接下來，在實施例中，在捕獲了所述六個部分影像520.1-6之後，可以基於所述六個部分影像520.1-6確定所述對象/場景510 + 512的組合影像620（圖6D）如下。具體地講，在實施例中，可以拼接所述部分影像520.1、520.2和520.3，以形成所述對象/場景510 + 512的拼接影像。
接下來，在實施例中，可以基於所述第一部分影像組的所述部分影像520.1和所述部分影像520.4為所述第一部分影像組確定第一增強部分影像，然後將其用於代替所述拼接影像的所述部分影像520.1。換句話說，所述部分影像520.4用於增強所述拼接影像的所述部分影像520.1。更具體地講，在實施例中，可以如下確定所述第一增強部分影像。首先，可以通過（A）測量使用標記或（B）影像間相關估計來確定所述第一影像捕獲位置和所述第四影像捕獲位置相對於彼此的位置。
在方法（A）中，在實施例中，可以在相對於所述對象/場景510 + 512的固定位置添加標記，以使所述標記中的至少一個存在於所述第一部分影像組的每個所述部分影像520.1和520.4中。例如，標記630（圖6A）被示出用於說明（為了簡單起見，未示出其他標記），並且其影像在所述部分影像520.1和520.4中。在實施例中，所述標記可以具有十字形（例如標記630）的形狀。在實施例中，所述標記可以包括諸如鋁的金屬。在已知相對於所述對象/場景510 + 512的所述標記的位置的情況下，可以測量所述第一影像捕獲位置和所述第四影像捕獲位置相對於彼此的位置。
在實施例中，方法（B）可以涉及使兩個部分影像520.1和520.4相關聯，以確定第一影像捕獲位置和第四影像捕獲位置相對於彼此的位置。具體地講，在實施例中，可以將所述第一部分影像組的兩個部分影像520.1和520.4的兩個部分進行比較以確定相關係數。在實施例中，如果所述確定的相關係數超過預定閾值，則來自兩個部分影像520.1和520.4的所述兩個部分可以被認為是相同的，從而可以估計出所述第一影像捕獲位置和所述第四影像捕獲位置（分別為520.4和520.4）相對於彼此的位置。在實施例中，如果所述確定的相關係數不超過預定閾值，則來自所述兩個部分影像520.1和520.4的所述兩個部分可以被認為是不同的，並且所述第一部分影像組的所述兩個部分影像520.1和520.4的另外兩個部分可以被比較，依此類推。
在實施例中，在執行上述相關處理之前，所述第一部分影像組的兩個部分影像520.1和520.4的分辨率可以增加（上採樣）。在實施例中，可以使用插值來執行所述上採樣處理。
在實施例中，在如上所述確定了所述第一影像捕獲位置和所述第四影像捕獲位置相對於彼此的位置的情況下，可以將分辨率增強算法（也稱為超分辨率算法）應用於所述第一部分影像組的所述兩個部分影像520.1和520.4以形成所述第一增強部分影像。在實施例中，所述第一增強部分影像可以用於代替在所述拼接影像中的所述第一部分影像520.1。
在實施例中，以類似的方式，可以基於所述第二部分影像組的兩個部分影像520.2和520.5為該組確定第二增強部分影像，然後可以將其用於代替所述拼接影像中的所述部分影像520.2。類似地，可以基於所述第三部分影像組的兩個部分影像520.3和520.6為該組確定第三增強部分影像，然後可以將其用於代替所述拼接影像中的所述部分影像520.3。在實施例中，在如上所述的3次代替之後，如果所述拼接影像的不同區域具有不同的分辨率，則可以執行算法以使整個所述整個拼接影像具有相同的分辨率，從而產生所述組合影像620（圖6D）。
圖7示出了流程圖700，該流程圖總結了根據圖6A-圖6D的所述影像感測器490的操作。具體地講，在步驟710中，所述影像感測器490從不同的影像捕獲位置移動通過並且在處於這些影像捕獲位置時捕獲部分影像。在步驟720，拼接一部分所述的捕獲的部分影像（例如，來自每個部分影像組的一個部分影像）以形成所述場景的拼接影像。在步驟730中，對於每個部分影像組，基於所述部分影像組的所述部分影像來確定增強部分影像，並且所得的增強部分影像用於代替所述拼接影像的對應的部分影像（即，以增強所述拼接影像）。在步驟740，如果需要（即，如果拼接影像的不同區域具有不同的分辨率），則對所述拼接影像執行分辨率均衡，從而得到所述對象/場景510 + 512（圖6D）的所述組合影像620。
圖8示出根據實施例的總結和概括所述影像感測器490的操作的流程圖800。在步驟810中，所述影像感測器490可以被佈置在不同的位置，並且相同場景的不同的部分影像可以在這些不同的位置被所述影像感測器490捕獲，其中兩個不同位置組的兩個位置之間的最小距離基本上是大於同一位置組中兩個位置之間的最大距離。在實施例中，所述影像感測器490可以一個一個地佈置在這些不同的位置（即，一個位置接一個位置），以捕獲那些部分影像。在步驟820，可以基於所述捕獲的部分影像來確定所述場景的組合影像。
在上述實施例中，參考圖4和圖5A-圖5D，所述影像感測器490包括兩個感測區域190a和190b，它們通過所述盲區488彼此物理隔離，並且具有矩形的形狀。通常，所述影像感測器490可以包括N個感測區域190（N是正整數），其可以通過盲區（例如，盲區488）在物理上彼此分開，可以具有任何大小或形狀，並且可以以任何方式佈置。
在上述實施例中，包圍所述金屬劍512的所述紙板箱510用作被檢查的所述對象或場景的示例。通常，可以使用所述影像感測器490來檢查任何對象或場景。
在上述實施例中，所述影像感測器490包括兩個感測區域190，並且從兩個影像捕獲位置的三個位置組移動通過。通常，所述影像感測器490可以包括N個感測區域（N是正整數）並且從P個位置組（P是大於1的整數）移動通過，其中每個位置組可以具有任意數量的影像捕獲位置。因此，所述位置組的影像捕獲位置的所述數量不必相同。
在上述實施例中，所述影像感測器490在所述六個影像捕獲位置之間以第一、第二、第三、第四、第五、然後第六影像捕獲位置的順序移動。通常，所述影像感測器490可以以任何順序在所述六個影像捕獲位置（或任何數量的影像捕獲位置）之間移動。例如，所述影像感測器490可以按照第一、第二、第三、第五、第六，然後第四影像捕獲位置的順序在所述六個影像捕獲位置之間移動。
在上述實施例中，所述對象/場景510 + 512保持靜止，並且所述影像感測器490相對於所述對象/場景510 + 512移動。通常，只要所述影像感測器490相對於所述物體/場景510 + 512移動，任何移動的佈置都是可能的。例如，所述影像感測器490可以保持靜止，並且所述對象/場景510 + 512可以相對於所述影像感測器490移動。
在上述實施例中，所述部分影像520.1、520.2和520.3被拼接以形成所述對象/場景510 + 512的拼接影像。通常，部分影像與每個部分影像組的一個部分影像的組合可以被拼接以形成所述對象/場景510 + 512的拼接影像。例如，可以拼接所述部分影像520.1、520.5和520.6，以形成所述對象/場景510 + 512的拼接影像。
在上述實施例中，拼接被執行，然後增強部分影像被確定並且被用於增強所述拼接影像。或者，在拼接執行之前增強部分影像被確定。例如，所述第一、第二和第三增強部分影像可以如上所述被確定。然後，所述第一、第二和第三增強部分影像可以被拼接以形成所述對象/場景510 + 512的組合和完整影像（例如，圖6D的影像620）。許多其他可能的處理所述六個部分影像520.1-520.6的方式可以用於形成所述對象/場景510 + 512的組合的和完整的影像。
在上述實施例中，所述第一、第二和第三增強部分影像用於代替所述拼接影像中的對應的部分影像。在替代實施例中，如果增強部分影像的分辨率不高於在所述拼接影像中增強部分影像應該代替的部分影像的分辨率，則不使用所述部分影像組的增強部分影像進行這種代替。
例如，如果所述第一增強部分影像的分辨率不高於所述部分影像520.1的分辨率，則不使用所述第一部分影像組的所述第一增強部分影像來代替所述拼接影像的所述部分影像520.1 。當相對應的第一影像捕獲位置和第四影像捕獲位置之間的距離（或偏移）是所述感測元件150的大小的K倍時，這種情況會發生，其中K是非負整數。
儘管本發明已經公開了各個方面和實施例，但是其他方面和實施例對於本領域技術人員而言將是顯而易見的。本發明公開的各個方面和實施例是為了說明的目的而不是限制性的，其真正的範圍和精神應該以本發明中的申請專利範圍為准。
100:輻射檢測器 110:輻射吸收層 111:第一摻雜區 112:本徵區 113:第二摻雜區 114:離散區 119A、119B:電觸點 120:電子層 121:電子系統 130:填充材料 131:通孔 150:感測元件(像素) 190、190a、190b:感測區域 190w:寬度 195:周邊區域 200:封裝 400:印刷電路板 405:區 410:鍵合線 450:系統印刷電路板 488:盲區 490:影像感測器 492:距離 510:紙板箱 512:金屬劍 510+512:對象/場景 520.1、520.2、520.3、520.4、520.5、520.6、620:影像 630:標記 700、800:流程圖 710、720、730、740、810、820:步驟
圖1示意示出根據實施例的一種輻射檢測器。 圖2A示意示出根據實施例的所述輻射檢測器的簡化橫截面圖。 圖2B示意示出根據實施例的所述輻射檢測器的詳細橫截面圖。 圖2C示意示出根據實施例的所述輻射檢測器的替代詳細橫截面圖。 圖3示意示出根據實施例的包括了輻射檢測器和印刷電路板（PCB）的封裝的俯視圖。 圖4示意示出根據實施例的影像感測器的橫截面圖，其中圖3中的多個所述封裝被安裝到系統印刷電路板。 圖5A-圖5D示意示出根據實施例的處於操作中的所述影像感測器的俯視圖。 圖6A-圖6D示意示出根據替代實施例的處於操作中的所述影像感測器的俯視圖。 圖7示出根據實施例的概述所述影像感測器的操作的流程圖。 圖8示出根據實施例的總結和概括所述影像感測器的操作的另一流程圖。
700:流程圖
710、720、730、740:步驟

Claims (23)

  1. 一種使用影像感測器的方法，所述影像感測器包括用於捕獲場景影像的N個感測區域，N為正整數，所述N個感測區域在物理上彼此分離，所述方法包括：對於i=1，…，P，和j=1，…，Q(i)，將所述影像感測器放置在相對於所述場景的位置(i，j)，並在所述影像感測器位於所述位置(i，j)時使用所述影像感測器捕獲所述場景的部分影像(i，j)，從而捕獲總共R個部分影像，其中R是Q(i)，i=1，…，P，的和，其中P是大於1的整數，其中Q(i)，i=1，…，P，是正整數並且並非全部為1，其中對於i=1，...，P，位置組(i)包括所述位置(i，j)，j=1，...，Q(i)，並且其中在所述位置組(i)，i=1，…，P，中一個位置組中的一個位置與所述位置組(i)，i=1，…，P，中的另一個位置組中的另一個位置之間的最小距離實質上大於在所述位置組(i)，i=1，…，P，中同一個位置組的兩個位置之間的最大距離；並且基於所述R個部分影像確定所述場景的組合影像。
  2. 如請求項1所述的方法，其中N大於1。
  3. 如請求項1所述的方法，其中所述的將所述影像感測器放置在相對於i=1，…，P，和j=1，…，Q(i)，的位置(i，j)是一個一個地執行的。
  4. 如請求項1所述的方法，其中Q(i)，i=1，…，P，相同且大於1。
  5. 如請求項1所述的方法，其中所述的最小距離接近並小於所述N個感測區域中的感測區域的大小。
  6. 如請求項1所述的方法，其中所述的最小距離大於所述最大距離的100倍。
  7. 如請求項1所述的方法，其中所述最大距離小於所述N個感測區域的感測元件的大小的10倍。
  8. 如請求項1所述的方法，其中所述的將所述影像感測器放置在相對於i=1，…，P，和j=1，…，Q(i)，的所述位置(i，j)包括將所述影像感測器從所述位置組(i)，i=1，...，P，中的一個位置組的一個位置直接移到所述位置組(i)，i=1，...，P，中的另一個位置組的另一個位置，並且不包括將所述影像感測器從所述位置組(i)，i=1，…，P，中的一個位置組的一個位置直接移到同一位置組的另一個位置。
  9. 如請求項1所述的方法，其中所述的確定所述組合影像包括拼接所述部分影像(i，1)，i=1，…，P，以形成所述場景的拼接影像。
  10. 如請求項9所述的方法，其中所述的確定所述組合影像進一步包括對於i=1，…，P，基於所述部分影像(i，j)，j=1，…，Q(i)，確定增強部分影像(i)。
  11. 如請求項10所述的方法，其中所述的確定所述組合影像進一步包括對於i=1，…，P，使用所述增強部分影像(i)來代替所述拼接影像的所述部分影像(i，1)。
  12. 如請求項11所述的方法，其中所述的確定所述組合影像進一步包括在執行所述的使用所述增強部分影像(i)來代替所述拼接影像的所述部分影像(i，1)之後，均衡所述拼接影像的不同區域的分辨率。
  13. 如請求項10所述的方法，其中所述的確定所述組合影像進一步包括對於i=1，…，P，如果所述增強部分影像(i)的分辨率高於所述部分影像(i，1)的分辨率，則使用所述增強部分影像(i)代替所述拼接影像的所述部分影像(i，1)。
  14. 如請求項13所述的方法，其中所述的確定所述組合影像進一步包括在執行所述的使用之後，均衡所述拼接影像的不同區域的分辨率。
  15. 如請求項10所述的方法，其中所述的確定所述增強部分影像(i)包括確定所述位置(i，j)，j=1，...，Q(i)，相對於彼此的位置。
  16. 如請求項15所述的方法，其中所述的確定所述位置(i，j)，j=1，…，Q(i)，相對於彼此的所述位置包括使用相對於所述場景靜止的標記。
  17. 如請求項15所述的方法，其中所述的確定所述位置(i，j)，j=1，…，Q(i)，相對於彼此的所述位置包括： 對所述部分影像(i，j)，j=1，…，Q(i)，進行上採樣，從而分別對部分影像(i，j)，j=1，…，Q(i)，進行上採樣；並且將所述上採樣的部分影像(i，j)，j=1，…，Q(i)，相關聯，以確定所述位置(i，j)，j=1，…，Q(i)，相對於彼此的位置。
  18. 如請求項1所述的方法，其中所述的確定所述組合影像包括：對於i=1，…，P，基於所述部分影像(i，j)，j=1，…，Q(i)，確定增強部分影像(i)。
  19. 如請求項18所述的方法，其中所述的確定所述組合影像進一步包括拼接所述增強部分影像(i)，i=1，…，P，以形成所述場景的拼接影像。
  20. 如請求項19所述的方法，其中所述的確定所述組合影像進一步包括均衡所述拼接影像的不同區域的分辨率。
  21. 如請求項18所述的方法，其中所述的確定所述增強部分影像(i)包括確定所述位置(i，j)，j=1，...，Q(i)，相對於彼此的位置。
  22. 如請求項21所述的方法，其中所述的確定所述位置(i，j)，j=1，…，Q(i)，相對於彼此的所述位置包括使用相對於所述場景靜止的標記。
  23. 如請求項21所述的方法，其中所述的確定所述位置(i，j)，j=1，…，Q(i)，相對於彼此的所述位置包括： 對所述部分影像(i，j)，j=1，…，Q(i)，進行上採樣，從而分別對部分影像(i，j)，j=1，…，Q(i)，進行上採樣；並且將所述上採樣的部分影像(i，j)，j=1，…，Q(i)，相關聯，以確定所述位置(i，j)，j=1，…，Q(i)，相對於彼此的位置。
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