TWI761144B - 觸控處理裝置與觸控系統及其觸控處理方法 - Google Patents

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Abstract

一種觸控處理方法，用於減少像素更新時的干擾。該觸控處理方法包含：對一觸控螢幕上的多條橫向電極進行三次相隔一間隔時間的感測，以分別得到三次感測值；之後，分別加總為多個感測值總和；根據該多個感測值總和，判斷該多條橫向電極中的第N條橫向電極附近有一外部導電物件近接該觸控螢幕；自該第N條橫向電極發出驅動信號，以及自該觸控螢幕的多條縱向電極互電容感測該驅動信號以得到一條第N感測值陣列；以及根據該條第N感測值陣列與該第N條橫向電極的位置，計算一觸控事件的位置。

Description

觸控處理裝置與觸控系統及其觸控處理方法
本發明系關於觸控螢幕，特別系關於減少觸控螢幕在像素更新時對於觸控處理的干擾。
觸控螢幕是現代消費性電子系統的主要輸出入裝置。典型的觸控螢幕是在螢幕上方置放觸控面板的電路。也有所謂on-cell形式的觸控螢幕，或者是in-cell形式的觸控螢幕，這些可能適用於本申請的範圍。舉例而言，申請人於2013年十一月15日提交至美國專利商標局的14/081,018專利申請案之內容可以做為本案的參考範例。
每個螢幕都具有包含更新率與解析度在內的顯示特性。更新率(refresh rate)通常指的是更新螢幕的頻率，通常是以每秒更新幾次螢幕幀(Frame Per Second,FPS)或影格率作為單位。以美國國家電視系統委員會(National Television System Committee,NTSC)類比電視標準為例，其更新率為59.94Hz，其解析度為440x480。標準的Video Graph Array,VGA的解析度包含640x480、320x200像素(pixel)等，其更新率包含50、60、與70Hz等。而常用的高解析度規格1080P，其解析度為1920x1080，影格率為24、25、30、或60Hz等。
一般而言，現代的液晶螢幕的每個像素都有相應的像素電極用來扭轉液晶的極性，藉以改變該像素之液晶的透光率。據此，就能夠控制液晶下方的各色發光二極體發光的透光量，進一步控制每個像素的顏色。一般來說，螢幕控制器會使用方波進行脈衝寬度調變(PWM,Pulse Width Modulation)。利用脈衝寬度調變來控制像素之液晶的透光率。如美國專利US8421828所提及的，液晶層的極化程度與施加於液晶層之電壓的均方根(Root-Mean-Square)相關。可以在人眼的視覺暫留週期當中，利用脈衝寬度調變固定電壓的信號，施加於像素液晶層，進而控制像素之液晶的極化程度，亦即控制像素液晶的透光率。
在某個解析度時，如640x480，代表螢幕的每一條橫軸有640個像素，而每一條縱軸有480個像素。在更新螢幕時，通常是先對最上方的橫軸像素進行更新，由左至右，由上至下，直到完成所有橫軸像素的更新後，即完成一幀的更新。在更新率60Hz的顯示特性下，螢幕在一秒內需要完成60次螢幕幀的更新。在更新每條橫軸的第一個像素之前與最後一個像素之後，可能會有螢幕停止動作的空白期間，稱之為水平空白(horizontal blank)。在更換下一個螢幕幀時，可能會有螢幕停止動作的空白期間，稱之為垂直空白(vertical blank)。
舉例來說，1080P60規格的螢幕的垂直空白會每隔16.667ms出現一次，亦即1/60秒。而由於有1080條橫軸，因此每個水平空白約15.4us出現一次，亦即1/(60*1080)秒。
如圖1所示，一般的觸控電極通常也是沿著觸控螢幕110的橫軸與縱軸分布，假設沿著橫軸延伸的多條平行觸控電極稱之為第一電極 121，沿著縱軸延伸的多條平行觸控電極稱之為第二電極122。這些第一電極與第二電極通常會連接到觸控處理裝置130，由後者進行互電容與/或自電容的觸控偵測。
由於觸控處理裝置的設計與成本限制，無法接入太多觸控電極，因此第一電極與第二電極的數量通常都少於螢幕的解析度。以50吋左右的觸控螢幕為例，其橫軸長度約為1130mm，其縱軸長度約為670mm。若電極之間的間距設為8mm的話，則約有83條第一電極與141條第二電極。當該觸控螢幕的規格為1080P時，則每個像素的橫軸長度為0.59mm，每個像素的縱軸長度為為0.62mm。換言之，每條第一電極約覆蓋12條左右的像素橫軸。
如圖2所示，其為觸控螢幕的局部放大圖，上層的互聯菱形電路分別為橫向的第一電極121與縱向的第二電極122。下層包含由個別像素210所組成的像素陣列，由於像素眾多，所以並未全部示出。在更新畫面時，會以像素橫軸220為單位進行更新。可以見到，在圖2當中，每條第一電極121涵蓋六個像素橫軸220。其中，像素橫軸221位於兩個第一電極之間，像素橫軸222位於第一電極的覆蓋範圍內。
一般來說，連接同一個觸控螢幕110的觸控處理裝置130與螢幕控制器是分別獨立運作的。觸控處理裝置130通常不知道觸控螢幕110的顯示設定值，如解析度與更新率，自然也不知道螢幕控制器更新觸控螢幕110的那一條像素橫軸。而觸控處理裝置130可能進行互電容感測，亦即令某一條平行於像素橫軸的第一電極121發出多個方波作為驅動信號，而令所有條第二電極122接收驅動信號的感測信號。如果恰好觸控處理裝置130同時令被 該條第一電極121所覆蓋的像素橫軸進行更新時，由於觸控的驅動信號是方波，而像素更新也是利用方波的脈衝寬度調變，因此驅動信號將會嚴重干擾到像素液晶的極化程度，致使觸控螢幕的使用者可能看到該條第一電極121附近出現異常暗亮的情況。不過由於觸控控制器的偵測週期與螢幕更新的週期很快，兩者交會的時間小於人類視覺暫留的週期，所以使用者察覺互電容感測時所發生異常暗亮的機率不高。
在進行互電容式偵測時，觸控處理裝置130會輪流令觸控驅動電極發出驅動信號，而令觸控感測電極感測驅動信號。由於處理器的感測電路比驅動電路需要較大的成本，所以在上述的設計中，設計者可能會令數量較少的第一電極作為觸控感測電極，數量較多的第二電極作為觸控驅動電極。
當第二電極作為觸控驅動電極時，進行全螢幕的互電容式偵測，觸控處理裝置130會輪流令第二電極發出交流的脈衝信號，或為方波或為弦波。當交流脈衝信號的頻率為200KHz，且每個脈衝發出30個週期時，則每條第二電極發出信號的時間約為0.15ms或150us，亦即30/200,000秒。由於有141條第二電極，且更換第二電極需要處理時間，所以進行一次全螢幕的互電容偵測至少需要0.02115s或21.15ms或21150us左右，遠長於每條像素橫軸更新的時間15.4us。當交流脈衝信號的頻率為100KHz，且每個脈衝發出30個週期時，則每條第二電極發出信號的時間約為0.33ms，亦即30/100,000秒。由於有141條第二電極，且更換第二電極需要處理時間，所以進行一次全螢幕的互電容偵測需要0.04653s或46.53ms或46530us左右，遠長於每條像素橫軸更新的時間15.4ms。
在利用第一電極與第二電極進行自電容式偵測時，觸控處理裝置130會分別令所有的第一電極與所有的第二電極發出驅動信號，並且令所有的第一電極與所有的第二電極量測信號。若同樣使用200KHz的30個週期的交流脈衝信號，則所有第一電極耗用時間為0.15ms，所有第二電極耗用時間也為0.15ms，兩者合為0.3ms或300us，遠長於每條像素橫軸更新的時間15.4us。
在更新某一條像素橫軸時，新的像素資料會送到該橫軸中相應的像素電極。因此在該條橫軸附近的液晶螢幕，會比其他地方的液晶螢幕發出較大的電磁干擾，而此電磁干擾現象會對觸控電極造成影響。在上述的範例中，由於一條第一電極約覆蓋12條左右的像素橫軸，所以大多數的像素橫軸只會對單一條第一電極造成嚴重干擾，如圖2的像素橫軸222。少數的像素橫軸位於兩條第一電極之間，如圖2的像素橫軸221，會對這兩條第一電極造成干擾而不會對較遠的第一電極造成嚴重的干擾。
由於負責觸控感測的觸控處理裝置與負責顯示的顯示處理器並未連接在一起，所以觸控處理裝置並沒有辦法避免在某一條像素橫軸更新時，對覆蓋該條像素橫軸的第一電極進行觸控感測，以避免接收到該像素更新時所發出的電磁干擾。
因此，本申請所欲解決的問題在於，如何分辨哪些橫向電極的觸控感測與觸控相關，並且針對這些橫向電極進行更進一步的偵測，以便測得更準確的觸控位置。。
根據本申請的一面向，提供一種觸控處理方法，用於減少像 素更新時的干擾。該觸控處理方法包含：對一觸控螢幕上的多條橫向電極進行第一次感測，以得到多個第一感測值；於一間隔時間之後，對該多條橫向電極進行第二次感測，以得到多個第二感測值；於該間隔時間之後，對該多條橫向電極進行第三次感測，以得到多個第三感測值；將相應於該多條橫向電極的該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值分別加總為多個感測值總和；根據該多個感測值總和，判斷該多條橫向電極中的第N條橫向電極附近有一外部導電物件近接該觸控螢幕；自該第N條橫向電極發出驅動信號，以及自該觸控螢幕的多條縱向電極互電容感測該驅動信號以得到一條第N感測值陣列；以及根據該條第N感測值陣列與該第N條橫向電極的位置，計算一觸控事件的位置，其中，該多條橫向電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相平行，該多條縱向電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相垂直，且該多條縱向電極與該多條橫向電極互相交疊形成多個交疊區，N為大於1的自然數。
更進一步的，為了更精準地定位該觸控事件，該觸控處理方法更包含：分別自第N-1條與第N+1條橫向電極發出驅動信號，以及自該多條縱向電極互電容感測該驅動信號以分別得到一條第N-1感測值陣列與一條第N+1感測值陣列；以及根據該條第N-1感測值陣列、該條第N感測值陣列、該條第N+1感測值陣列與該第N-1條至該第N+1條橫向電極的位置，計算該觸控事件的位置。
根據本申請的一面向，提供一種觸控處理裝置，用於減少像素更新時的干擾，包含：一驅動電路模組；一感測電路模組；以及連接至該驅動電路模組與該感測電路模組的一處理器模組，用於執行非揮發性記 憶體當中的指令，以實現以下步驟：令該感測電路模組對一觸控螢幕上的多條橫向電極進行第一次感測，以得到多個第一感測值；於一間隔時間之後，令該感測電路模組對該多條橫向電極進行第二次感測，以得到多個第二感測值；於該間隔時間之後，令該感測電路模組對該多條橫向電極進行第三次感測，以得到多個第三感測值；將相應於該多條橫向電極的該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值分別加總為多個感測值總和；根據該多個感測值總和，判斷該多條橫向電極中的第N條橫向電極附近有一外部導電物件近接該觸控螢幕；令該驅動電路模組對該第N條橫向電極發出驅動信號，以及令該感測電路模組自該觸控螢幕的多條縱向電極互電容感測該驅動信號以得到一條第N感測值陣列；以及根據該條感測值陣列與該第N條橫向電極的位置，計算一觸控事件的位置，其中，該多條橫向電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相平行，該多條縱向電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相垂直，且該多條縱向電極與該多條橫向電極互相交疊形成多個交疊區，N為大於1的自然數。
更進一步的，為了更精準地定位該觸控事件，該處理器模組更用於：分別令該驅動電路模組自第N-1條與第N+1條橫向電極發出驅動信號，以及令該感測電路模組自多條縱向電極互電容感測該驅動信號以分別得到一條第N-1感測值陣列與一條第N+1感測值陣列；以及根據該條第N-1感測值陣列、該條第N感測值陣列、該條第N+1感測值陣列與該第N-1條至該第N+1條橫向電極的位置，計算該觸控事件的位置。
根據本申請的一面向，提供一種觸控處理方法，用於減少像素更新時的干擾，包含：對一觸控螢幕上的多條橫向電極進行第一次感測， 以得到多個第一感測值；於一間隔時間之後，對該多條橫向電極進行第二次感測，以得到多個第二感測值；於該間隔時間之後，對該多條橫向電極進行第三次感測，以得到多個第三感測值；將相應於該多條橫向電極的該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值分別加總為多個感測值總和；根據該多個感測值總和，判斷該多條橫向電極中的兩條相鄰的第N條與第N+1條橫向電極附近有一外部導電物件近接該觸控螢幕；以及分別自該第N條與該第N+1條橫向電極發出驅動信號，以及自該觸控螢幕的多條縱向電極互電容感測該驅動信號以得到一條第N感測值陣列與一條第N+1感測值陣列；以及根據該條第N感測值陣列、該條第N+1感測值陣列、該第N條橫向電極的位置與該第N+1條橫向電極的位置，計算一觸控事件的位置，其中，該多條橫向電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相平行，該多條縱向電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相垂直，且該多條縱向電極與該多條橫向電極互相交疊形成多個交疊區，N為大於1的自然數。
更進一步的，為了更精準地定位該觸控事件，該觸控處理方法更包含：分別自第N-1條與第N+2條橫向電極發出驅動信號，以及自該多條縱向電極互電容感測該驅動信號以分別得到一條第N-1感測值陣列與一條第N+2感測值陣列；以及根據該條第N-1感測值陣列、該條第N感測值陣列、該條第N+1感測值陣列、該條第N+2感測值陣列與該第N-1條至該第N+2條橫向電極的位置，計算該觸控事件的位置。
根據本申請的一面向，提供一種觸控處理裝置，用於減少像素更新時的干擾，包含：一驅動電路模組；一感測電路模組；以及連接至該驅動電路模組與該感測電路模組的一處理器模組，用於執行非揮發性記 憶體當中的指令，以實現以下步驟：令該感測電路模組對一觸控螢幕上的多條橫向電極進行第一次感測，以得到多個第一感測值；於一間隔時間之後，令該感測電路模組對該多條橫向電極進行第二次感測，以得到多個第二感測值；於該間隔時間之後，令該感測電路模組對該多條橫向電極進行第三次感測，以得到多個第三感測值；將相應於該多條橫向電極的該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值分別加總為多個感測值總和；根據該多個感測值總和，判斷該多條橫向電極中的兩條相鄰的第N條與第N+1條橫向電極附近有一外部導電物件近接該觸控螢幕；以及分別令該驅動電路模組自該第N條與該第N+1條橫向電極發出驅動信號，以及令該感測電路模組自該觸控螢幕的多條縱向電極互電容感測該驅動信號以得到一條第N感測值陣列與一條第N+1感測值陣列；以及根據該條第N感測值陣列、該條第N+1感測值陣列、該第N條橫向電極的位置與該第N+1條橫向電極的位置，計算一觸控事件的位置，其中，該多條橫向電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相平行，該多條縱向電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相垂直，且該多條縱向電極與該多條橫向電極互相交疊形成多個交疊區，N為大於1的自然數。
更進一步的，為了更精準地定位該觸控事件，該處理器模組更用於：分別令該驅動電路模組自第N-1條與第N+2條橫向電極發出驅動信號，以及令該感測電路模組自該多條縱向電極互電容感測該驅動信號以分別得到一條第N-1感測值陣列與一條第N+2感測值陣列；以及根據該條第N-1感測值陣列、該條第N感測值陣列、該條第N+1感測值陣列、該條第N+2感測值陣列與該第N-1條至該第N+2條橫向電極的位置，計算該觸控事件的位 置。
根據本申請的一面向，提供一種觸控系統，用於減少像素更新時的干擾，包含：如前所述的觸控處理裝置；以及該觸控處理裝置所連接的一觸控螢幕。
本申請提供了觸控處理裝置或觸控系統極其觸控處理方法，利用間隔適當時間進行的多次橫向電極的感測結果，判斷出哪一橫向電極的感測結果確實與觸控相關，或者判斷出哪一橫向電極的感測結果與觸控無關，並且將其感測結果排除在觸控計算之外，或是根據其感測結果另作一次以上的縱向電極感測，使得觸控計算能夠免於或至少減少受到像素橫軸更新的電磁干擾影響。
100:電子系統
110:觸控螢幕
121:第一電極
122:第二電極
130:觸控處理裝置
140:主機
141:輸出入介面模組
142:中央處理器模組
143:圖形處理器模組
144:記憶體模組
145:網路介面模組
146:存儲器模組
210:像素
220:像素橫軸
221:像素橫軸
222:像素橫軸
300:觸控系統
310:觸控處理裝置
311:連接網路模組
312:驅動電路模組
313:感測電路模組
314:處理器模組
315:介面模組
330:觸控筆
335:觸控板擦
400:觸控處理方法
410~469:步驟
500:觸控處理方法
550~560:步驟
600:觸控處理方法
610~670:步驟
700:觸控處理方法
710~775:步驟
圖1為傳統觸控電子系統的一示意圖。
圖2為圖1之觸控螢幕的一局部放大圖。
圖3為根據本發明一實施例的觸控系統300的一方塊示意圖。
圖4A為根據本申請一實施例的觸控處理方法400的一流程示意圖。
圖4B~4D分別為步驟460的一流程示意圖。
圖5A為根據本申請一實施例的觸控處理方法500的一流程示意圖。
圖5B~5D分別為步驟560的一流程示意圖。
圖6為根據本申請一實施例的觸控處理方法600的一流程示意圖。
圖7A為根據本申請一實施例的觸控處理方法700的一流程示意圖。
圖7B為根據本申請一實施例的觸控處理方法700的一流程示意圖。
圖7C為根據本申請一實施例的觸控處理方法700的一流程示意圖。
圖7D為根據本申請一實施例的觸控處理方法700的一流程示意圖。
本發明將詳細描述一些實施例如下。然而，除了所揭露的實施例外，本發明亦可以廣泛地運用在其他的實施例施行。本發明的範圍並不受該些實施例的限定，乃以其後的申請專利範圍為準。而為提供更清楚的描述及使熟悉該項技藝者能理解本發明的發明內容，圖示內各部分並沒有依照其相對的尺寸而繪圖，某些尺寸與其他相關尺度的比例會被突顯而顯得誇張，且不相關的細節部分亦未完全繪出，以求圖示的簡潔。
請參考圖3所示，其為根據本發明一實施例的觸控系統300的一方塊示意圖。該觸控系統300可以是常見的桌上型、膝上型、平板型個人電腦、工業用控制電腦、智慧型手機或其它形式具有觸控功能的計算機系統。
該觸控系統300可以包含一觸控處理裝置310、連接至該觸控處理裝置的一觸控面板或螢幕110、以及連接至該觸控處理裝置的一主機140。該觸控系統300可以更包含一或多個觸控筆330與/或觸控板擦335。以下在本申請當中，該觸控面板或螢幕120可以通稱為觸控螢幕120，但若是在缺乏顯示功能的實施例當中，本領域的普通技術人員能夠知道本申請所指的該觸控螢幕為觸控面板。
該觸控螢幕120包含平行於第一軸的多條第一電極121以及平行於第二軸的多條第二電極122。第一電極121可以與多條第二電極122交錯，以便形成多個感測點或感測區域。同樣地，第二電極122可以與多條第 一電極121交錯，以便形成多個感測點或感測區域。在某些實施例當中，本申請可以將第一電極121稱之為第一觸控電極121，也可以將第二電極122稱之為第二觸控電極122。本申請也統稱第一電極121與第二電極122為觸控電極。在某些觸控螢幕120的實施例當中，該第一電極121與該第二電極122以透明材料所構成。該第一電極121與該第二電極122可以在同一電極層，每一條第一電極121或第二電極122的多個導電片之間係使用跨橋的方式連接。該第一電極121與該第二電極122也可以在不同的上下相疊的電極層。除非特別說明以外，本申請通常可以適用於單一層或多個電極層的實施例當中。該第一軸與該第二軸通常是互相垂直，但本申請並不限定該第一軸必定垂直於該第二軸。在一實施例中，該第一軸可以是水平軸，或是觸控螢幕120的更新軸線。
該觸控處理裝置310可以包含以下的硬體電路模組：一連接網路(Interconnection Network)模組311、一驅動電路模組312、一感測電路模組313、一處理器模組314與一介面模組315。該觸控處理裝置310可以實作在單一顆積體電路之內，該積體電路內可以包含一或多個芯片。也可以使用多顆積體電路與承載該多顆積體電路的互聯電路板來實現該觸控處理裝置310。該觸控處理裝置310還可以與上述的主機140實作在同一顆積體電路當中，也可以與上述的主機140實作在同一芯片當中。換言之，本申請並不限定該觸控處理裝置310的實施方式。
該連接網路模組311用於分別連接上述觸控螢幕120的多條第一電極121與/或多條第二電極122。該連接網路模組311可以接受該處理器模組314的控制命令，用於連接該驅動電路模組112與任一或多條觸控電極， 也用於連接該感測電路模組313與任一或多條觸控電極。該連接網路模組311可以包含一或多個多工器(MUX)的組合來實施上述的功能。
該驅動電路模組312可以包含時脈產生器、分頻器、倍頻器、鎖相迴路、功率放大器、直流-直流電壓轉換器、整流器與/或濾波器等元器件，用於依據該處理器模組314的控制命令，透過上述的連接網路模組311提供驅動信號給任一或多條觸控電極。可以針對上述的驅動信號進行各式類比訊號或數位信號調變，以便傳送某些訊息。上述的調變方式包含但不限於調頻(FM)、調相(Phase Modulation)、調幅(AM)、雙邊帶調變(DSB)、單邊帶調變(SSB-AM)、殘邊帶調變(Vestigial Sideband Modulation)、振幅偏移調變(ASK)、相位偏移調變(PSK)、正交振幅調變(QAM)、頻率偏移調變(FSK)、連續相位調變(CPM)、分碼多重進接(CDMA)、分時多重進接(TDMA)、正交分頻多工(OFDM)、脈衝寬度調變(PWM)等技術。該驅動信號可以包含一或多個方波、弦波或任何調變後的波型。該驅動電路模組112可以包含一或多條頻道，每條頻道可以透過該連接網路模組111連接到任一或多條觸控電極。
該感測電路模組313可以包含積分器、取樣器、時脈產生器、分頻器、倍頻器、鎖相迴路、功率放大器、乘法器、直流-直流電壓轉換器、整流器與/或濾波器等元器件，用於依據該處理器模組314的控制命令，透過上述的連接網路模組311對任一或多條觸控電極進行感測。當該觸控信號透過上述的一條觸控電極發出時，另一條觸控電極可以感應到該觸控信號。而該感測電路模組313可以配合上述的驅動電路模組312所執行的調變方式，針對該另一條觸控電極所感應到該驅動信號進行相應的解調變，以便 還原該驅動信號所承載的訊息。該感測電路模組313可以包含一或多條頻道，每條頻道可以透過該連接網路模組311連接到任一或多條觸控電極。在同一時間，每條頻道都可以同時進行感測與解調變。
在一實施例當中，上述的驅動電路模組312與感測電路模組313可以包含類比前端(AFE,analog front-end)電路。在另一實施例當中，除了類比前端電路以外，上述的驅動電路模組312與感測電路模組313可以包含數位後端(DBE,digital back-end)電路。當上述的驅動電路模組312與感測電路模組313只包含類比前端電路時，數位後端電路可以實施於該處理器模組314之內。
該處理器模組314可以包含數位信號處理器，用於分別連接上述的驅動電路模組312與感測電路模組313的類比前端電路，也可以分別連接上述的驅動電路模組312與感測電路模組313的數位後端電路。該處理器模組314可以包含嵌入式處理器、非揮發性記憶體與揮發性記憶體。該非揮發性記憶體可以儲存普通的作業系統或即時(real-time)作業系統，以及在該作業系統下執行的應用程式。前述的作業系統與應用程式包含多個指令與資料，經由該處理器(包含嵌入式處理器與/或數位信號處理器)執行這些指令之後，可以用於控制該觸控處理裝置110的其他模組，包含該連接網路模組311、該驅動電路模組312、該感測電路模組313與該介面模組315。舉例來說，該處理器模組314可以包含業界常用的8051系列處理器、英代爾(Intel)的i960系列處理器、安謀(ARM)的Cortex-M系列處理器等。本申請並不限定該處理器模組314所包含的處理器種類與個數。
上述的多個指令與資料可以用於實施本申請所提到的各個 步驟，以及由這些步驟所組成的流程與方法。某些指令可以獨立在該處理器模組314內部運作，例如算術邏輯運算(arithmetic and logic operation)。其他指令可以用於控制該觸控處理裝置310的其他模組，這些指令可以包含該處理器模組314的輸出入介面對其他模組進行控制。其他模組也可以透過該處理器模組314的輸出入介面提供訊息給該處理器模組314所執行的作業系統與/或應用程式。本領域的普通技術人員應當具備有計算機結構與架構(computer organization and architecture)的通常知識，可以理解到本申請所提到的流程與方法能夠藉由上述的模組與指令加以實施。
上述的介面模組315可以包含各式串列或並列式的匯流排，例如通用序列匯流排(USB)、積體電路匯流排(I2C)、外設互聯標準(PCI)、快捷外設互聯標準(PCI-Express)、IEEE 1394等工業標準的輸出入介面。該觸控處理裝置310透過介面模組315連接到該主機140。
該觸控系統300可以包含一或多隻觸控筆330與/或觸控板擦335。上述的觸控筆330或觸控板擦335可以是會發出電信號的發信器，其可以包含主動發出電信號的主動式發信器，也可以是被動發出電信號的被動式發信器，或者稱為反應於外界電信號才發出電信號的反應式發信器。上述的觸控筆330或觸控板擦335可以包含一或多個電極，用於同步或非同步地接收來自於觸控螢幕120的電信號，或是以同步或非同步的方式向觸控螢幕120發出電信號。這些電信號可以採用如上所述的一或多種調變方式。
上述的觸控筆330或觸控板擦335可以是導體，用於透過使用者的手或身體來傳導驅動信號或接地。上述的觸控筆330或觸控板擦335可以有線或無線的方式連接於該主機140的輸出入介面模組141，或是該輸出入介 面模組141底下的其他模組。
該觸控處理裝置310可以藉由該觸控螢幕120來偵測一或多個外部導電物體，例如人體的手指、手掌或是被動的觸控筆330或觸控板擦335，也可以偵測會發出電信號的觸控筆130或觸控板擦135。該觸控處理裝置310可以使用互電容(mutual-capacitance)或自電容(self-capacitance)的方式來進行偵測外部導電物體。上述的觸控筆330或觸控板擦335以及觸控處理裝置310可以使用上述的信號調變與相應的信號解調變的方式，利用電信號來傳遞訊息。該觸控處理裝置310可以利用電信號來偵測該觸控筆330或觸控板擦335靠近或接觸該觸控螢幕120的一或多個近接位置、該觸控筆330或觸控板擦335上的感測器狀態(例如壓力感測器或按鈕)、該觸控筆330或觸控板擦335的指向、或該觸控筆330或觸控板擦335相應於該觸控螢幕120平面的傾斜角等訊息。
該主機140為控制該觸控系統300的主要設備，可以包含連接至該介面模組115的一輸出入介面模組141、一中央處理器模組142、一圖形處理器模組143、連接於該中央處理器模組142的一記憶體模組144、連接於該輸出入介面模組141的一網路介面模組145與一存儲器模組146。
該存儲器模組146包含非揮發性記憶體，常見的範例為硬碟、電子抹除式可複寫唯讀記憶體(EEPROM)、或快閃記憶體等。該存儲器模組146可以儲存普通的作業系統，以及在該作業系統下執行的應用程式。該網路介面模組145可以包含有線連接與/或無線連接的硬體網路連接介面。該網路介面模組145可以遵循常見的工業標準，例如IEEE 802.11無線區域網路標準、IEEE 802.3有線區域網路標準、3G、4G、與/或5G等無線通訊 網路標準、藍芽無線通訊網路標準等。
該中央處理器模組142可以直接或間接地連接到上述的輸出入介面模組141、圖形處理器模組143、記憶體模組144、網路介面模組145與一存儲器模組146。該中央處理器模組142可以包含一個或多個處理器或處理器核心。常見的處理器可以包含英代爾、超微、威盛電子的x86與x64指令集的處理器，或是蘋果、高通、聯發科的安謀ARM指令集的處理器，也可以包含其他形式的複雜電腦指令集(CISC)或精簡電腦指令集(RISC)的處理器。前述的作業系統與應用程式包含相應於上述指令集的多個指令與資料，經由該中央處理器模組142執行這些指令之後，可以用於控制該觸控系統300的其他模組。
可選的圖形處理器模組143通常是用於處理與圖形輸出相關的計算部分。該圖形處理器模組143可以連接到上述的觸控螢幕120，用於控制觸控螢幕120的輸出。在某些應用當中，該主機140可以不需要圖形處理器模組143的專門處理，可以直接令該中央處理器模組142執行圖形輸出相關的計算部分。
該主機140還可以包含其他圖1未示出的組件或元器件，例如音效輸出入介面、鍵盤輸入介面、滑鼠輸入介面、軌跡球輸入介面與/或其他硬體模組。本領域的普通技術人員應當具備有計算機結構與架構的通常知識，可以理解到本申請所提到的觸控系統300僅為示意般的說明，其餘與本申請所提供的發明技術特徵相關的部分，需要參照說明書與申請專利範圍。
請參考表一所示，其為根據本發明一實施例之觸控感測方法 的感測結果。該觸控感測方法可以由圖3的觸控處理裝置310實施。該觸控感測方法還可以是儲存在非揮發性記憶體模組當中的指令，由處理器模組314加以執行。在表一當中，相鄰的橫向電極或第一電極121進行三次感測，每次感測的時間均間隔某一適當時間。表一所指的橫向電極的感測，可以是上述互電容感測，也可以是上述自電容的感測，更可以是上述先進行互電容再進行自電容的感測，還可以是針對主動觸控筆的偵測。本發明並不限定是何種感測，只要是平行於像素橫軸更新的觸控電極的感測即可。
Figure 110110127-A0101-12-0018-1
在表一當中，第一次感測時，是第N-1條橫向電極受到像素橫軸的更新干擾，因此第N-1條橫向電極具有感測值，或是其感測值大於某一門檻值。此外，第N條橫向電極也有因為真正觸控所引發的觸控信號。如果單就第一次感測結果進行觸控計算，必然會將第N-1條橫向電極所受到的干擾計算在內。
在某適當間隔時間之後進行第二次感測時，由於螢幕更新的像素橫軸已經隨時間往下移動，所以換成是第N條橫向電極被干擾。在此同時，觸控信號仍然被第N條橫向電極所感應到，所以第N-1條與第N+1條橫向 電極均未感測到信號。
接著，在某適當間隔時間之後進行第三次感測時，由於螢幕更新的像素橫軸已經隨時間往下移動，所以換成是第N+1條橫向電極被干擾。在此同時，觸控信號仍然被第N條橫向電極所感應到，所以是第N條與第N+1條橫向電極有感測值。
在進行三次感測之後，執行該觸控處理方法之觸控處理裝置可以根據表一的結果發現，更新干擾的現象隨著時間分別影響第N-1條、第N條、與第N+1條橫向電極。然而，第N條橫向電極在三次感測中，均有感測值，所以可以判斷出第N條橫向電極在第一次與第三次感測的感測值是有效的，可以用來進行觸控計算。
在另一實施例中，執行該觸控處理方法之觸控處理裝置可以將這三次的感測值加總起來，由於第N條橫向電極的感測值最大，因此可以認為第N條橫向電極的感測值是真正的觸控信號。
由於第N條橫向電極的三次感測值當中，第二感測值最大，所以可以取第一次或第三次的感測結果進行計算。或者，可以取三次感測值中最小的感測結果進行計算。在計算時，可以把隔鄰橫向電極的感測值視為干擾而忽略不計。比方說，當取第一次或第三次感測結果進行計算時，可以把第N-1條與第N+1條橫向電極的感測結果忽略不計。
在一實施例當中，可以在得知第N條橫向電極附近發生觸控事件之後，透過第N條橫向電極發出驅動信號，利用所有的縱向電極或第二電極122進行互電容感測該驅動信號，以得到一條感測值的陣列，其中每一個陣列的元素是相對於第N條橫向電極與該多條縱向電極其中一條縱向電 極的相疊區。再根據這一條感測值的陣列與第N條橫向電極的位置，計算該觸控事件的位置。由於螢幕更新的像素橫軸已經隨時間往下移動，更新干擾現象已經不在第N條橫向電極附近，因此縱向電極所得到的互電容感測結果應當可以比具有更新干擾現象的第一次或第三次感測結果更準確。而且所有的縱向電極或第二電極122都有會有橫向的更新干擾現象是，它對於所有的縱向電極或第二電極122應當是均值的。所以在計算橫軸位置的方面，並不會受到不平均的影響。
在另一實施例當中，可以在得知第N條橫向電極是觸控事件相關位置之後，分時對第N-1條、第N條與第N+1條橫向電極發出驅動信號，並且利用所有的縱向電極或第二電極122進行互電容感測該驅動信號，以便得到三條感測值的陣列。再根據這三條感測值的陣列與第N-1條、第N條與第N+1條橫向電極的位置，計算出該觸控事件的位置。由於螢幕更新的像素橫軸已經隨時間往下移動，更新干擾現象已經不在第N-1條至第N+1條橫向電極附近，因此縱向電極所得到的互電容感測結果應當可以比具有更新干擾現象的第一次或第三次感測結果更準確。
在表一的實施例當中，每次感測的間隔時間可以為事先儲存的數值。比方說在消費性電子產品當中，使用者並無法更動觸控螢幕的解析度，因此觸控處理器可以依照預定儲存的間隔時間進行多次感測。
在另外的實施例當中，觸控處理裝置310或是其驅動程式，可以向觸控系統300的作業系統索得觸控螢幕120的解析度、更新率與尺寸，進而計算像素橫軸更新的時間。並且根據每條橫向電極所覆蓋的像素橫軸數量，將間隔時間設定為大於或等於兩者的乘積，亦即令兩次橫向電極感 測的間隔時間，會令不同條橫向電極受到像素橫軸更新的最大干擾。比方在上述的範例當中，當每條第一電極121涵蓋12條像素橫軸，每個像素橫軸更新的時間為15.4us，則可以將兩次掃描的間隔時間大於184.8us。
在某些實施例當中，若觸控處理裝置310無法取得上述的觸控螢幕120的解析度、更新率與尺寸時，則可以動態的調整間隔時間。比方說，當觸控處理裝置310並未偵測到任何物體時，就可以對間隔時間進行修正，直到出現如表二的結果為止。
Figure 110110127-A0101-12-0021-2
由於這三條橫向電極的感測值經過三次感測的加總以後，大致相等，而且其感測值依序移動，所以觸控處理裝置310可以理解到此時所設定的感測間隔時間是適當的。以後可以使用此間隔時間作為偵測參數。
請參考表三所示，其為根據本發明另一實施例的感測結果。當一條橫向電極涵蓋多條像素橫軸時，大多數感測的結果會如表一所示。然而，在少數的情況下，當橫向電極感測時，是由橫向電極之間的像素橫軸進行更新，就會出現如表三的結果。
Figure 110110127-A0101-12-0021-3
Figure 110110127-A0101-12-0022-4
在表三的實施例當中，當第一次感測時，剛好遇上第N-1條與第N條橫向電極之間的像素橫軸更新，因此這兩條橫向電極都感測到部分更新干擾。當第二次感測時，遇上第N條與第N+1條橫向電極之間的像素橫軸更新，因此這兩條橫向電極都感測到部分更新干擾。當最後一次感測時，會遇上第N+1條與第N+2條橫向電極之間的像素橫軸更新，因此這兩條橫向電極感測到部分更新干擾。
在表三的實施例當中，當第一次感測時，剛好遇上第N-1條與第N條橫向電極之間的像素橫軸更新，因此這兩條橫向電極都感測到部分更新干擾。當第二次感測時，遇上第N條與第N+1條橫向電極之間的像素橫軸更新，因此這兩條橫向電極都感測到部分更新干擾。當最後一次感測時，會遇上第N+1條與第N+2條橫向電極之間的像素橫軸更新，因此這兩條橫向電極感測到部分更新干擾。
當把這三次感測結果的感測值相加之後，第N條橫向電極的 感測值總和仍然會高於其他三條橫向電極，因此觸控處理裝置會把第N條橫向電極當作是收到觸控信號的橫向電極。
同樣地，由於第N條橫向電極的三次感測值當中，第三感測值最小，所以可以取三次感測值中最小的感測結果進行計算，或者是將兩次較接近之感測值忽略不計。在計算時，可以把隔鄰兩條橫向電極的感測值視為干擾而忽略不計。比方說，當取第三次感測結果進行計算時，可以把第N-2、N-1、N+1、N+2條橫向電極的感測結果忽略不計。
在一實施例當中，可以如同表一所述的實施例一樣，在得知觸控事件發生在第N條橫向電極附近時，透過第N條橫向電極發出驅動信號，利用所有的縱向電極或第二電極122進行互電容感測該驅動信號，以得到一條感測值的陣列，其中每一個陣列的元素是相對於第N條橫向電極與該多條縱向電極其中一條縱向電極的相疊區。再根據這一條感測值的陣列與第N條橫向電極的位置，計算該觸控事件的位置。
在另一實施例當中，可以在得知第N條橫向電極是觸控事件相關位置之後，分時對第N-1條、第N條與第N+1條橫向電極發出驅動信號，並且利用所有的縱向電極或第二電極122進行互電容感測該驅動信號，以便得到三條感測值的陣列。再根據這三條感測值的陣列與第N-1條、第N條與第N+1條橫向電極的位置，計算出該觸控事件的位置。由於螢幕更新的像素橫軸已經隨時間往下移動，更新干擾現象已經不在第N-1條至第N+1條橫向電極附近，因此縱向電極所得到的互電容感測結果應當可以比具有更新干擾現象的第一次到第三次感測結果更準確。
請參考表四與表五所示，其為根據本發明另一實施例的感測 結果。由於外部導電物件的尺寸可能較大，也可能橫跨兩條以上的橫向電極，因此可能會出現表四或表五的結果。
Figure 110110127-A0101-12-0024-5
在表四的實施例中，第N-1條與第N條橫向電極感測到觸控信號。類似地，在表五的實施例中，第N條與第N+1條橫向電極感測到觸控信號。
Figure 110110127-A0101-12-0024-6
觸控處理裝置可以根據三次感測的加總結果，判斷出有兩條相鄰的橫向電極收到觸控信號。在表四的實施例當中，第N-1條與第N條橫向電極的感測值總和要大於第N+1條橫向電極的感測值總和，所以判斷第 N-1條與第N條橫向電極收到觸控信號，第N+1條橫向電極未收到觸控信號。在表五的實施例當中，第N條與第N+1條橫向電極的感測值總和要大於第N-1條橫向電極的感測值總和，所以判斷第N條與第N+1條橫向電極收到觸控信號，第N-1條橫向電極未收到觸控信號。
在某實施例中，可以採取未收到觸控信號的橫向電極被干擾的那一次感測結果，來計算觸控。比方說，在表四的實施例，第N+1條橫向電極未收到觸控信號，它在第三次感測時被干擾而有了感測值，因此採用第三次感測結果來計算觸控，但要將第N+1條橫向電極的感測值略去不計。又比方說，在表五的實施例，第N-1條橫向電極未收到觸控信號，它在第一次感測時被干擾而有了感測值，因此採用第一次感測結果來計算觸控，但要將第N-1條橫向電極的感測值略去不計。
在另一實施例中，可以採取收到觸控信號的橫向電極相似的感測值進行計算。比方說，在表四的實施例中，第N-1條橫向電極的後兩次感測結果類似，第N條橫向電極的第一次與第三次感測結果類似，所以採用第三次感測結果來計算。在表五的實施例中，第N條橫向電極的第一次與第三次感測結果類似，第N+1條橫向電極的第一次與第二次感測結果類似，所以採用第一次感測結果來計算。
在更一實施例中，可以採取收到觸控信號的橫向電極相似的感測值的平均進行計算。比方說，在表四的實施例中，第N-1條橫向電極的後兩次感測結果類似，第N條橫向電極的第一次與第三次感測結果類似，所以採用第N-1條橫向電極的後兩次感測結果的平均，以及第N條橫向電極的第一次與第三次感測結果的來計算。在表五的實施例中，第N條橫向電極的 第一次與第三次感測結果類似，第N+1條橫向電極的第一次與第二次感測結果類似，所以採用第N條橫向電極的第一次與第三次感測結果的平均，以及第N+1條橫向電極的第一次與第二次感測結果的平均進行計算。
在一實施例當中，在得知觸控事件發生在第N條與第N+1條橫向電極附近時，透過第N條與第N+1條橫向電極發出驅動信號，利用所有的縱向電極或第二電極122進行互電容感測該驅動信號，以得到兩條感測值的陣列。再根據這兩條感測值的陣列與第N條及第N+1條橫向電極的位置，計算該觸控事件的位置。
在另一實施例當中，可以在得知觸控事件發生在第N條與第N+1條橫向電極之後，分時對第N-1條、第N條、第N+1條與第N+2條橫向電極發出驅動信號，並且利用所有的縱向電極或第二電極122進行互電容感測該驅動信號，以便得到四條感測值的陣列。再根據這三條感測值的陣列與第N-1條、第N條、第N+1條與第N+2條橫向電極的位置，計算出該觸控事件的位置。由於螢幕更新的像素橫軸已經隨時間往下移動，更新干擾現象已經不在第N-1條至第N+2條橫向電極附近，因此縱向電極所得到的互電容感測結果應當可以比具有更新干擾現象的第一次到第三次感測結果更準確。
本領域的普通技術人員可以理解到，雖然在表一到表五的實施例當中，僅使用三次感測作為實施範例，但本發明的範圍並不限於三次感測，可以推廣到三次以上感測的範例。本領域的普通技術人員應該可以依據本發明的內容自行推廣。
總上所述，本申請提供了觸控處理器的觸控方法，利用間隔適當時間進行的多次橫向電極的感測結果，判斷出哪一橫向電極的感測結 果確實與觸控相關，或者判斷出哪一橫向電極的感測結果與觸控無關，並且將其感測結果排除在觸控計算之外，或是根據其感測結果另作一次以上的縱向電極感測，使得觸控計算能夠免於或至少減少受到像素橫軸更新的電磁干擾影響。
請參考圖4A所示，其為根據本發明一實施例的一觸控處理方法400之一流程示意圖，其可以適用於表一與表三的實施例當中。該觸控處理方法400可以由圖3的觸控處理裝置310實施。該觸控處理方法400還可以是儲存在非揮發性記憶體模組當中的指令，由處理器模組314加以執行。該觸控處理方法400包含但不限於以下的步驟。步驟410：對一觸控螢幕上的多條感測電極進行第一次感測，以得到多個第一感測值；步驟420：於一間隔時間之後，對該多條感測電極進行第二次感測，以得到多個第二感測值；步驟430：於該間隔時間之後，對該多條感測電極進行第三次感測，以得到多個第三感測值；步驟440：將相應於該多條感測電極的該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值分別加總為多個感測值總和；步驟450：根據該多個感測值總和，判斷該多條感測電極中的第N條感測電極附近有一外部導電物件近接該觸控螢幕；步驟460：根據該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值的其中之一來判斷該外部導電物件相對於該多條感測電極的一位置。其中，該多條感測電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相平行。
步驟460可以包含三種不同的實施例。請參考圖4B所示，其為觸控處理方法400之步驟460第一個實施例的一流程示意圖。在第一個實施例當中，步驟461：忽略該多個第一感測值當中相應於第N-1條感測電極的該 第一感測值；以及步驟462：根據該多個第一感測值來判斷該外部導電物件相對於該多條感測電極的該位置。請參考圖4C所示，其為觸控處理方法400之步驟460第二個實施例的一流程示意圖。在第二個實施例當中，步驟463：忽略該多個第三感測值當中相應於第N+1條感測電極的該第三感測值；以及步驟464：根據該多個第三感測值來判斷該外部導電物件相對於該多條感測電極的該位置。請參考圖4D所示，其為觸控處理方法400之步驟460第三個實施例的一流程示意圖。在第三個實施例當中，步驟465：找出相應於第N條感測電極的該第一感測值、該第二感測值與該第三感測值當中的最小者；步驟466：找出該最小者所對應之該多個第一感測值、該多個第二感測值或該多個第三感測值的其中之一；步驟467：忽略該最小者所對應之該多個第一感測值、該多個第二感測值或該多個第三感測值的其中之一當中，相應於第N-1條感測電極與第N+1條感測電極的感測值；可選而未必要執行的步驟468：忽略該最小者所對應之該多個第一感測值、該多個第二感測值或該多個第三感測值的其中之一當中，相應於第N-2條感測電極與第N+2條感測電極的感測值；步驟469：根據該最小者所對應之該多個第一感測值、該多個第二感測值或該多個第三感測值的其中之一，來判斷該外部導電物件相對於該多條感測電極的該位置。
根據本發明一實施例，該觸控處理方法400可由圖3的觸控處理裝置310執行。該感測電路模組313，用於連接該多個感測電極或第一電極121，負責執行步驟410、420與430。該處理器模組314，用於連接到該感測電路模組313，負責執行步驟340、350與360，以及步驟360所包含的三種實施例內的步驟361~369。該處理器模組314可以是嵌入式處理器，也可以是獨 立的處理器，利用所執行的軟體或指令來實施上述的步驟。
換言之，根據該實施例，本發明提供一種觸控處理裝置，用於減少像素更新時的干擾，包含一感測電路與連接至該感測電路的一處理器。該感測電路用於：對一觸控螢幕上的多條感測電極進行第一次感測，以得到多個第一感測值；於一間隔時間之後，對該多條感測電極進行第二次感測，以得到多個第二感測值；以及於該間隔時間之後，對該多條感測電極進行第三次感測，以得到多個第三感測值。該處理器用於：將相應於該多條感測電極的該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值分別加總為多個感測值總和；根據該多個感測值總和，判斷該多條感測電極中的第N條感測電極附近有一外部導電物件近接該觸控螢幕；根據該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值的其中之一來判斷該外部導電物件相對於該多條感測電極的一位置。其中，該多條感測電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相平行。
在一實施例中，上述的處理器更用於：忽略該多個第一感測值當中相應於第N-1條感測電極的該第一感測值；以及根據該多個第一感測值來判斷該外部導電物件相對於該多條感測電極的該位置。在另一實施例中，上述的處理器更用於：忽略該多個第三感測值當中相應於第N+1條感測電極的該第三感測值；以及根據該多個第三感測值來判斷該外部導電物件相對於該多條感測電極的該位置。在更一實施例中，上述的處理器更用於：找出相應於第N條感測電極的該第一感測值、該第二感測值與該第三感測值當中的最小者；找出該最小者所對應之該多個第一感測值、該多個第二感測值或該多個第三感測值的其中之一；忽略該最小者所對應之該多個第一 感測值、該多個第二感測值或該多個第三感測值的其中之一當中，相應於第N-1條感測電極與第N+1條感測電極的感測值；以及根據該最小者所對應之該多個第一感測值、該多個第二感測值或該多個第三感測值的其中之一，來判斷該外部導電物件相對於該多條感測電極的該位置。在一變化中，該處理器更用於：忽略該最小者所對應之該多個第一感測值、該多個第二感測值或該多個第三感測值的其中之一當中，相應於第N-2條感測電極與第N+2條感測電極的感測值。
根據本發明一實施例，本發明提供一種電子系統，用於減少像素更新時的干擾，包含：一觸控螢幕與連接該觸控螢幕的一觸控處理裝置。該觸控處理裝置包含一感測電路與連接至該感測電路的一處理器。該感測電路用於：對該觸控螢幕上的多條感測電極進行第一次感測，以得到多個第一感測值；於一間隔時間之後，對該多條感測電極進行第二次感測，以得到多個第二感測值；以及於該間隔時間之後，對該多條感測電極進行第三次感測，以得到多個第三感測值。該處理器用於：將相應於該多條感測電極的該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值分別加總為多個感測值總和；根據該多個感測值總和，判斷該多條感測電極中的第N條感測電極附近有一外部導電物件近接該觸控螢幕；根據該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值的其中之一來判斷該外部導電物件相對於該多條感測電極的一位置。其中，該多條感測電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相平行。
請參考圖5A所示，其為根據本發明一實施例的一觸控處理方法500之一流程示意圖，其可以適用於表四與表五的實施例當中。該觸控 處理方法500可以由圖3的觸控處理裝置310實施。該觸控處理方法500還可以是儲存在非揮發性記憶體模組當中的指令，由處理器模組314加以執行。該觸控處理方法500包含但不限於以下的步驟，其中步驟410、420、430與440和圖4A所示步驟相同，在此不再詳述。步驟550：根據該多個感測值總和，判斷該多條感測電極中的至少兩條相鄰的感測電極附近有一外部導電物件近接該觸控螢幕。比方說，當有至少兩個相鄰的感測值大於一門檻值時，可以判斷該相鄰的感測值相應的至少兩條感測電極附近有一外部導電物件近接該觸控螢幕。又或者是，當有至少兩個相鄰的感測值大於其隔鄰的感測值時，亦即其差大於另一門檻值時，可以判斷該相鄰的感測值相應的至少兩條感測電極附近有一外部導電物件近接該觸控螢幕。接著執行步驟560，根據該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值的其中之一來判斷該外部導電物件相對於該多個感測電極的一位置。例如在表四的實施例當中，步驟550可以判斷出第N-1條與第N條感測電極為該至少兩條感測電極，在表五的實施例當中，步驟550可以判斷出第N條與第N+1條感測電極為該至少兩條感測電極。
請參考圖5B，其為步驟560的一實施例之流程示意圖。步驟561：根據該至少兩條感測電極之一隔鄰感測電極所對應的該第一感測值、該第二感測值與該第三感測值當中的最大者，判斷該最大者對應至該第一次感測、該第二次感測或該第三次感測的何者。步驟562：忽略該最大者所對應之該第一次感測、該第二次感測或該第三次感測其中之一當中，相應於該隔鄰感測電極的感測值。步驟563：根據該最大者所對應之該第一次感測、該第二次感測或該第三次感測其中之一，來判斷該外部導電物件相對 於該多條感測電極的該位置。例如在表四的實施例當中，步驟561的隔鄰感測電極可以是第N+1條，其該第一感測值、該第二感測值與該第三感測值當中的最大者為第三感測值，因此對應到第三次感測。於步驟462當中，忽略掉該第三次感測中，相應於第N+1條感測電極的感測值(更新干擾值)，接著於步驟562當中，根據該多個第三感測值，來判斷該外部導電物件相對於該多條感測電極的該位置。例如在表四的實施例當中，步驟561的隔鄰感測電極可以是第N-1條，其該第一感測值、該第二感測值與該第三感測值當中的最大者為第一感測值，因此對應到第一次感測。於步驟562當中，忽略掉該第一次感測中，相應於第N-1條感測電極的感測值(更新干擾值)，接著於步驟563當中，根據該多個第一感測值，來判斷該外部導電物件相對於該多條感測電極的該位置。
請參考圖5C，其為步驟560的另一實施例之流程示意圖。步驟464：根據該至少兩條感測電極之每一條，其該第一感測值、該第二感測值與該第三感測值三者當中與其他兩者之差異最大者，忽略該最大者所對應之該多個第一感測值、該多個第二感測值或該多個第三感測值。步驟565：根據未被忽略的該多個第一感測值、該多個第二感測值或該多個第三感測值的其中之一，忽略該至少兩條感測電極之一隔鄰感測電極之感測值。步驟566，根據未被忽略的該多個第一感測值、該多個第二感測值或該多個第三感測值的其中之一，判斷該外部導電物件相對於該多條感測電極的該位置。例如在表四的實施例之步驟564當中，第N-1條感測電極的第一感測值與其他兩者之差異最大，故忽略掉該多個第一感測值，第N條感測電極的第二感測值與其他兩者之差異最大，故忽略掉該多個第二感測值。步驟 465當中，將未被忽略的該多個第三感測值當中，忽略相應於隔鄰感測電極(第N+1條)的感測值。步驟566當中，根據該多個第三感測值判斷該外部導電物件相對於該多條感測電極的該位置。例如在表五的實施例之步驟564當中，第N條感測電極的第二感測值與其他兩者之差異最大，故忽略掉該多個第二感測值，第N+1條感測電極的第三感測值與其他兩者之差異最大，故忽略掉該多個第三感測值。步驟565當中，將未被忽略的該多個第一感測值當中，忽略相應於隔鄰感測電極(第N-1條)的感測值。步驟566當中，根據該多個第一感測值，判斷該外部導電物件相對於該多條感測電極的該位置。
請參考圖5D，其為步驟560的另一實施例之流程示意圖。步驟567：根據該至少兩條感測電極之每一條，找出其該第一感測值、該第二感測值與該第三感測值三者當中與其他兩者之差異最大者，並且取其他兩者之平均感測值。步驟568：根據該至少兩條感測電極之每一條感測電極所對應之平均感測值，判斷該外部導電物件相對於該多條感測電極的該位置。比方說，在表四的實施例中，第N-1條橫向電極的後兩次感測結果類似，第N條橫向電極的第一次與第三次感測結果類似，所以在步驟567當中，採用第N-1條橫向電極的後兩次感測結果的平均，以及第N條橫向電極的第一次與第三次感測結果的來計算。在表五的實施例中，第N條橫向電極的第一次與第三次感測結果類似，第N+1條橫向電極的第一次與第二次感測結果類似，所以在步驟567當中，採用第N條橫向電極的第一次與第三次感測結果的平均，以及第N+1條橫向電極的第一次與第二次感測結果的平均進行計算。
在一實施例中，本申請提供一種觸控處理裝置，用於減少像 素更新時的干擾，包含：一感測電路以及連接至該感測電路的一處理器。該感測電路用於：對一觸控螢幕上的多條感測電極進行第一次感測，以得到多個第一感測值；於一間隔時間之後，對該多條感測電極進行第二次感測，以得到多個第二感測值；以及於該間隔時間之後，對該多條感測電極進行第三次感測，以得到多個第三感測值。該處理器用於：將相應於該多條感測電極的該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值分別加總為多個感測值總和；根據該多個感測值總和，判斷該多條感測電極中的至少兩條相鄰的感測電極附近有一外部導電物件近接該觸控螢幕；以及根據該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值的其中之一來判斷該外部導電物件相對於該多個感測電極的一位置，其中，該多條感測電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相平行。
在一範例中，該處理器更用於：根據該至少兩條感測電極之一隔鄰感測電極所對應的該第一感測值、該第二感測值與該第三感測值當中的最大者，判斷該最大者對應至該第一次感測、該第二次感測或該第三次感測的何者；忽略該最大者所對應之該第一次感測、該第二次感測或該第三次感測其中之一當中，相應於該隔鄰感測電極的感測值；以及根據該最大者所對應之該第一次感測、該第二次感測或該第三次感測其中之一，來判斷該外部導電物件相對於該多條感測電極的該位置。
在另一範例中，該處理器更用於：根據該至少兩條感測電極之每一條，其該第一感測值、該第二感測值與該第三感測值三者當中與其他兩者之差異最大者，忽略該最大者所對應之該多個第一感測值、該多個第二感測值或該多個第三感測值；根據未被忽略的該多個第一感測值、該 多個第二感測值或該多個第三感測值的其中之一，忽略該至少兩條感測電極之一隔鄰感測電極之感測值；以及根據未被忽略的該多個第一感測值、該多個第二感測值或該多個第三感測值的其中之一，判斷該外部導電物件相對於該多條感測電極的該位置。
在更一範例中，該處理器更用於：根據該至少兩條感測電極之每一條，找出其該第一感測值、該第二感測值與該第三感測值三者當中與其他兩者之差異最大者，並且取其他兩者之平均感測值；以及根據該至少兩條感測電極之每一條感測電極所對應之平均感測值，判斷該外部導電物件相對於該多條感測電極的該位置。
在一實施例中，本申請提供一種電子系統，用於減少像素更新時的干擾，包含：一觸控螢幕與連接到該觸控螢幕的一觸控處理裝置。該觸控處理裝置包含：一感測電路；以及連接至該感測電路的一處理器。該感測電路用於：對該觸控螢幕上的多條感測電極進行第一次感測，以得到多個第一感測值；於一間隔時間之後，對該多條感測電極進行第二次感測，以得到多個第二感測值；以及於該間隔時間之後，對該多條感測電極進行第三次感測，以得到多個第三感測值。該處理器，用於：將相應於該多條感測電極的該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值分別加總為多個感測值總和；根據該多個感測值總和，判斷該多條感測電極中的至少兩條相鄰的感測電極附近有一外部導電物件近接該觸控螢幕；以及根據該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值的其中之一來判斷該外部導電物件相對於該多個感測電極的一位置，其中，該多條感測電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相平行。
請參考圖6所示，其為根據本發明一實施例的一觸控處理方法600之一流程示意圖，其可以適用於表二的實施例當中，其所得的間隔時間，可以使用於圖4A-D與圖5A-D的實施例當中。該觸控處理方法600可以由圖3的觸控處理裝置310實施。該觸控處理方法600還可以是儲存在非揮發性記憶體模組當中的指令，由處理器模組314加以執行。步驟610：設定一間隔時間，例如給定一初始值。步驟620：確定觸控螢幕沒有任何近接的外部導電物件。步驟630：對觸控螢幕上的多條感測電極進行三次感測以分別獲得多個第一感測值、多個第二感測值與多個第三感測值，每次感測都相隔該間隔時間。此步驟530與步驟310~330是相同的。步驟640：判斷該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值當中，是否都只有單一個最大值？若是的話，接著進行步驟650，否則進行步驟670。步驟650：判斷三個最大值是否相應於相鄰的三條感測電極？若是的話，接著進行步驟660，否則進行步驟670。步驟660：儲存該間隔時間。步驟670：調整該間隔時間。例如，當三個最大值相應於同一條或兩條相鄰感測電極時，則增加該間隔時間。例如三個最大值相應於三條不相鄰感測電極時，則減少該間隔時間。
在一實施例中，本申請提供一種觸控處理裝置，用於獲得一間隔時間，以利用該間隔時間執行一觸控處理方法用於減少像素更新時的干擾，包含：一感測電路以及連接至該感測電路的一處理器。該感測電路用於：對一觸控螢幕上的多條感測電極進行第一次感測，以得到多個第一感測值；於一間隔時間之後，對該多條感測電極進行第二次感測，以得到多個第二感測值；以及於該間隔時間之後，對該多條感測電極進行第三次 感測，以得到多個第三感測值。該處理器用於：判斷該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值當中，是否都只有單一個最大值；當該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值當中，都只有單一個最大值時，判斷三個最大值是否相應於相鄰的三條感測電極；若三個最大值相應於相鄰的三條感測電極，儲存該間隔時間，其中，該多條感測電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相平行。
在一實施例中，本申請提供一種電子系統，用於獲得一間隔時間，以利用該間隔時間執行一觸控處理方法用於減少像素更新時的干擾，包含：一觸控螢幕；一感測電路；以及連接至該感測電路的一處理器。該感測電路用於：對一觸控螢幕上的多條感測電極進行第一次感測，以得到多個第一感測值；於一間隔時間之後，對該多條感測電極進行第二次感測，以得到多個第二感測值；以及於該間隔時間之後，對該多條感測電極進行第三次感測，以得到多個第三感測值。該處理器用於：判斷該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值當中，是否都只有單一個最大值；當該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值當中，都只有單一個最大值時，判斷三個最大值是否相應於相鄰的三條感測電極；若三個最大值相應於相鄰的三條感測電極，儲存該間隔時間，其中，該多條感測電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相平行。
請參考圖7A所示，其為根據本發明一實施例的一觸控處理方法700之一流程示意圖，其可以適用於表一和表三的實施例當中。該觸控處理方法700可以由圖3的觸控處理裝置310實施。該觸控處理方法700還可以是儲存在非揮發性記憶體模組當中的指令，由處理器模組314加以執行。
步驟710：對一觸控螢幕上的多條橫向電極或第一電極進行第一次感測，以得到多個第一感測值。
步驟720：於一間隔時間之後，對該多條橫向電極進行第二次感測，以得到多個第二感測值。該間隔時間可以是圖6所示實施例所找出來的間隔時間。
步驟730：於該間隔時間之後，對該多條橫向電極進行第三次感測，以得到多個第三感測值。
步驟740：將相應於該多條橫向電極的該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值分別加總為多個感測值總和。
步驟750：根據該多個感測值總和，判斷該多條橫向電極中的第N條橫向電極附近有一外部導電物件近接該觸控螢幕。
步驟760：自該第N條橫向電極發出驅動信號，以及自多條縱向電極互電容感測該驅動信號以得到一條感測值陣列。
步驟770：根據該條感測值陣列與該第N條橫向電極的位置，計算觸控事件的位置。
請參考圖7B所示，其為根據本發明一實施例的一觸控處理方法700之一流程示意圖，其可以適用於表一和表三的實施例當中。圖7B所示的該觸控處理方法700是圖7A所示的實施例的變形。在執行完步驟750之後，圖7B所示的該觸控處理方法700繼續執行步驟765。
步驟765：分別自該第N-1條、第N條與第N+1條橫向電極發出驅動信號，以及自多條縱向電極互電容感測該驅動信號以得到三條感測值陣列。接著，流程執行步驟775。
步驟775：根據該三條感測值陣列與該第N-1條至第N+1條橫向電極的位置，計算觸控事件的位置。
請參考圖7C所示，其為根據本發明一實施例的一觸控處理方法700之一流程示意圖，其可以適用於表四和表五的實施例當中。圖7C所示的該觸控處理方法700是圖7A所示的實施例的變形。在執行完步驟740之後，圖7C所示的該觸控處理方法700繼續執行步驟752。
步驟752：根據該多個感測值總和，判斷該多條橫向電極中的第N條與第N+1條橫向電極附近有一外部導電物件近接該觸控螢幕。
步驟762：分別自該第N條與第N+1條橫向電極發出驅動信號，以及多條縱向電極互電容感測該驅動信號以得到兩條感測值陣列。
步驟764：根據該兩條感測值陣列與該第N條與第N+1條橫向電極的位置，計算觸控事件的位置。
請參考圖7D所示，其為根據本發明一實施例的一觸控處理方法700之一流程示意圖，其可以適用於表四和表五的實施例當中。圖7D所示的該觸控處理方法700是圖7C所示的實施例的變形。在執行完步驟752之後，圖7B所示的該觸控處理方法700繼續執行步驟764。
步驟764：分別自該第N-1條至第N+2條橫向電極發出驅動信號，以及多條縱向電極互電容感測該驅動信號以得到四條感測值陣列。
步驟774：根據該四條感測值陣列與該第N-1條至第N+2條橫向電極的位置，計算觸控事件的位置。
根據本申請的一面向，提供一種觸控處理方法，用於減少像素更新時的干擾。該觸控處理方法包含：對一觸控螢幕上的多條橫向電極 進行第一次感測，以得到多個第一感測值；於一間隔時間之後，對該多條橫向電極進行第二次感測，以得到多個第二感測值；於該間隔時間之後，對該多條橫向電極進行第三次感測，以得到多個第三感測值；將相應於該多條橫向電極的該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值分別加總為多個感測值總和；根據該多個感測值總和，判斷該多條橫向電極中的第N條橫向電極附近有一外部導電物件近接該觸控螢幕；自該第N條橫向電極發出驅動信號，以及自該觸控螢幕的多條縱向電極互電容感測該驅動信號以得到一條第N感測值陣列；以及根據該條第N感測值陣列與該第N條橫向電極的位置，計算一觸控事件的位置，其中，該多條橫向電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相平行，該多條縱向電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相垂直，且該多條縱向電極與該多條橫向電極互相交疊形成多個交疊區，N為大於1的自然數。
更進一步的，為了更精準地定位該觸控事件，該觸控處理方法更包含：分別自第N-1條與第N+1條橫向電極發出驅動信號，以及自該多條縱向電極互電容感測該驅動信號以分別得到一條第N-1感測值陣列與一條第N+1感測值陣列；以及根據該條第N-1感測值陣列、該條第N感測值陣列、該條第N+1感測值陣列與該第N-1條至該第N+1條橫向電極的位置，計算該觸控事件的位置。
根據本申請的一面向，提供一種觸控處理裝置，用於減少像素更新時的干擾，包含：一驅動電路模組；一感測電路模組；以及連接至該驅動電路模組與該感測電路模組的一處理器模組，用於執行非揮發性記憶體當中的指令，以實現以下步驟：令該感測電路模組對一觸控螢幕上的 多條橫向電極進行第一次感測，以得到多個第一感測值；於一間隔時間之後，令該感測電路模組對該多條橫向電極進行第二次感測，以得到多個第二感測值；於該間隔時間之後，令該感測電路模組對該多條橫向電極進行第三次感測，以得到多個第三感測值；將相應於該多條橫向電極的該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值分別加總為多個感測值總和；根據該多個感測值總和，判斷該多條橫向電極中的第N條橫向電極附近有一外部導電物件近接該觸控螢幕；令該驅動電路模組對該第N條橫向電極發出驅動信號，以及令該感測電路模組自該觸控螢幕的多條縱向電極互電容感測該驅動信號以得到一條第N感測值陣列；以及根據該條感測值陣列與該第N條橫向電極的位置，計算一觸控事件的位置，其中，該多條橫向電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相平行，該多條縱向電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相垂直，且該多條縱向電極與該多條橫向電極互相交疊形成多個交疊區，N為大於1的自然數。
更進一步的，為了更精準地定位該觸控事件，該處理器模組更用於：分別令該驅動電路模組自第N-1條與第N+1條橫向電極發出驅動信號，以及令該感測電路模組自多條縱向電極互電容感測該驅動信號以分別得到一條第N-1感測值陣列與一條第N+1感測值陣列；以及根據該條第N-1感測值陣列、該條第N感測值陣列、該條第N+1感測值陣列與該第N-1條至該第N+1條橫向電極的位置，計算該觸控事件的位置。
根據本申請的一面向，提供一種觸控處理方法，用於減少像素更新時的干擾，包含：對一觸控螢幕上的多條橫向電極進行第一次感測，以得到多個第一感測值；於一間隔時間之後，對該多條橫向電極進行第二 次感測，以得到多個第二感測值；於該間隔時間之後，對該多條橫向電極進行第三次感測，以得到多個第三感測值；將相應於該多條橫向電極的該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值分別加總為多個感測值總和；根據該多個感測值總和，判斷該多條橫向電極中的兩條相鄰的第N條與第N+1條橫向電極附近有一外部導電物件近接該觸控螢幕；以及分別自該第N條與該第N+1條橫向電極發出驅動信號，以及自該觸控螢幕的多條縱向電極互電容感測該驅動信號以得到一條第N感測值陣列與一條第N+1感測值陣列；以及根據該條第N感測值陣列、該條第N+1感測值陣列、該第N條橫向電極的位置與該第N+1條橫向電極的位置，計算一觸控事件的位置，其中，該多條橫向電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相平行，該多條縱向電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相垂直，且該多條縱向電極與該多條橫向電極互相交疊形成多個交疊區，N為大於1的自然數。
更進一步的，為了更精準地定位該觸控事件，該觸控處理方法更包含：分別自第N-1條與第N+2條橫向電極發出驅動信號，以及自該多條縱向電極互電容感測該驅動信號以分別得到一條第N-1感測值陣列與一條第N+2感測值陣列；以及根據該條第N-1感測值陣列、該條第N感測值陣列、該條第N+1感測值陣列、該條第N+2感測值陣列與該第N-1條至該第N+2條橫向電極的位置，計算該觸控事件的位置。
根據本申請的一面向，提供一種觸控處理裝置，用於減少像素更新時的干擾，包含：一驅動電路模組；一感測電路模組；以及連接至該驅動電路模組與該感測電路模組的一處理器模組，用於執行非揮發性記憶體當中的指令，以實現以下步驟：令該感測電路模組對一觸控螢幕上的 多條橫向電極進行第一次感測，以得到多個第一感測值；於一間隔時間之後，令該感測電路模組對該多條橫向電極進行第二次感測，以得到多個第二感測值；於該間隔時間之後，令該感測電路模組對該多條橫向電極進行第三次感測，以得到多個第三感測值；將相應於該多條橫向電極的該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值分別加總為多個感測值總和；根據該多個感測值總和，判斷該多條橫向電極中的兩條相鄰的第N條與第N+1條橫向電極附近有一外部導電物件近接該觸控螢幕；以及分別令該驅動電路模組自該第N條與該第N+1條橫向電極發出驅動信號，以及令該感測電路模組自該觸控螢幕的多條縱向電極互電容感測該驅動信號以得到一條第N感測值陣列與一條第N+1感測值陣列；以及根據該條第N感測值陣列、該條第N+1感測值陣列、該第N條橫向電極的位置與該第N+1條橫向電極的位置，計算一觸控事件的位置，其中，該多條橫向電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相平行，該多條縱向電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相垂直，且該多條縱向電極與該多條橫向電極互相交疊形成多個交疊區，N為大於1的自然數。
更進一步的，為了更精準地定位該觸控事件，該處理器模組更用於：分別令該驅動電路模組自第N-1條與第N+2條橫向電極發出驅動信號，以及令該感測電路模組自該多條縱向電極互電容感測該驅動信號以分別得到一條第N-1感測值陣列與一條第N+2感測值陣列；以及根據該條第N-1感測值陣列、該條第N感測值陣列、該條第N+1感測值陣列、該條第N+2感測值陣列與該第N-1條至該第N+2條橫向電極的位置，計算該觸控事件的位置。
根據本申請的一面向，提供一種觸控系統，用於減少像素更新時的干擾，包含：如前所述的觸控處理裝置；以及該觸控處理裝置所連接的一觸控螢幕。
本申請提供了觸控處理裝置或觸控系統極其觸控處理方法，利用間隔適當時間進行的多次橫向電極的感測結果，判斷出哪一橫向電極的感測結果確實與觸控相關，或者判斷出哪一橫向電極的感測結果與觸控無關，並且將其感測結果排除在觸控計算之外，或是根據其感測結果另作一次以上的縱向電極感測，使得觸控計算能夠免於或至少減少受到像素橫軸更新的電磁干擾影響。
700:觸控處理方法
710~775:步驟

Claims (5)

  1. 一種觸控處理方法，用於減少像素更新時的干擾，包含：對一觸控螢幕上的多條橫向電極進行第一次感測，以得到多個第一感測值；於一間隔時間之後，對該多條橫向電極進行第二次感測，以得到多個第二感測值；於該間隔時間之後，對該多條橫向電極進行第三次感測，以得到多個第三感測值；將相應於該多條橫向電極的該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值分別加總為多個感測值總和；根據該多個感測值總和，判斷該多條橫向電極中的兩條相鄰的第N條與第N+1條橫向電極附近有一外部導電物件近接該觸控螢幕；以及分別自該第N條與該第N+1條橫向電極發出驅動信號，以及自該觸控螢幕的多條縱向電極互電容感測該驅動信號以得到一條第N感測值陣列與一條第N+1感測值陣列；以及根據該條第N感測值陣列、該條第N+1感測值陣列、該第N條橫向電極的位置與該第N+1條橫向電極的位置，計算一觸控事件的位置，其中，該多條橫向電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相平行，該多條縱向電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相垂直，且該多條縱向電極與該多條橫向電極互相交疊形成多個交疊區，N為大於1的自然數。
  2. 如申請專利範圍第1項的觸控處理方法，更包含：分別自第N-1條與第N+2條橫向電極發出驅動信號，以及自該多條縱向電極互電容感測該驅動信號以分別得到一條第N-1感測值陣列與一條第N+2感測值陣列；以及根據該條第N-1感測值陣列、該條第N感測值陣列、該條第N+1感測值陣列、該條第N+2感測值陣列與該第N-1條至該第N+2條橫向電極的位置，計算該觸控事件的位置。
  3. 一種觸控處理裝置，用於減少像素更新時的干擾，包含：一驅動電路模組；一感測電路模組；以及連接至該驅動電路模組與該感測電路模組的一處理器模組，用於執行非揮發性記憶體當中的指令，以實現以下步驟：令該感測電路模組對一觸控螢幕上的多條橫向電極進行第一次感測，以得到多個第一感測值；於一間隔時間之後，令該感測電路模組對該多條橫向電極進行第二次感測，以得到多個第二感測值；於該間隔時間之後，令該感測電路模組對該多條橫向電極進行第三次感測，以得到多個第三感測值；將相應於該多條橫向電極的該多個第一感測值、該多個第二感測值與該多個第三感測值分別加總為多個感測值總和；根據該多個感測值總和，判斷該多條橫向電極中的兩條相鄰的第N 條與第N+1條橫向電極附近有一外部導電物件近接該觸控螢幕；以及分別令該驅動電路模組自該第N條與該第N+1條橫向電極發出驅動信號，以及令該感測電路模組自該觸控螢幕的多條縱向電極互電容感測該驅動信號以得到一條第N感測值陣列與一條第N+1感測值陣列；以及根據該條第N感測值陣列、該條第N+1感測值陣列、該第N條橫向電極的位置與該第N+1條橫向電極的位置，計算一觸控事件的位置，其中，該多條橫向電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相平行，該多條縱向電極與該觸控螢幕的像素橫軸互相垂直，且該多條縱向電極與該多條橫向電極互相交疊形成多個交疊區，N為大於1的自然數。
  4. 如申請專利範圍第3項的觸控處理裝置，其中該處理器模組更用於：分別令該驅動電路模組自第N-1條與第N+2條橫向電極發出驅動信號，以及令該感測電路模組自該多條縱向電極互電容感測該驅動信號以分別得到一條第N-1感測值陣列與一條第N+2感測值陣列；以及根據該條第N-1感測值陣列、該條第N感測值陣列、該條第N+1感測值陣列、該條第N+2感測值陣列與該第N-1條至該第N+2條橫向電極的位置，計算該觸控事件的位置。
  5. 一種觸控系統，用於減少像素更新時的干擾，包含：如申請專利範圍第3、4項其中之一的觸控處理裝置；以及該觸控處理裝置所連接的一觸控螢幕。
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