TWI760934B - 顯示面板Mura補償方法、系統、電子裝置及存儲介質 - Google Patents

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Abstract

本發明提供一種顯示面板Mura補償方法，所述方法包括：採集所述顯示面板的顯示圖像，根據所述顯示圖像得到顯示面板的面板參數；去除所述顯示圖像中的異物區域並填補去除的區域；根據所述面板參數計算所述顯示面板的Gamma值，並確定所述顯示面板的Gamma曲線；根據所述Gamma曲線得到所述顯示面板各區域的亮度值；根據所述顯示面板各區域的亮度值得到面板顯示的理想二次區域；根據所述二次曲面計算補償參數，並基於所述補償參數對所述顯示面板進行補償。本發明還提供顯示面板Mura補償系統、電子裝置和存儲介質。本發明可以提高並改善顯示面板的顯示效果。

Description

顯示面板Mura補償方法、系統、電子裝置及存儲介質
本發明涉及一種顯示技術領域，尤其涉及一種顯示面板Mura補償方法、系統、電子裝置及存儲介質。
目前在平面顯示面板生產過程中，由於製造工藝或元器件電氣特性等原因經常會在顯示時會出現畫面顯示不均勻(Mura)的現象。為了彌補這種不足，提升畫面品質，在製程中通常對面板進行參數補償，這就是De-Mura。De-Mura技術的基本原理是，讓面板顯示灰階畫面，用電容耦合器件拍攝螢幕，獲取面板中各圖元點的亮度值，然後調整Mura區域的圖元點的灰度值或電壓，使過暗的區域變亮、過亮的區域變暗，達到均勻的顯示效果。
鑒於以上內容，有必要提供一種顯示面板Mura補償方法、系統、電子裝置及存儲介質，可以提高並改善顯示面板的顯示效果。
本申請的第一方面提供一種顯示面板Mura補償方法，所述顯示面板Mura補償方法包括：採集所述顯示面板的顯示圖像，根據所述顯示圖像得到顯示面板的面板參數，其中，所述面板參數包括顯示圖像中各圖元點的灰度值和亮度值；去除所述顯示圖像中的異物區域並填補去除的區域；根據所述面板 參數計算所述顯示面板的Gamma值，並確定所述顯示面板的Gamma曲線；根據所述Gamma曲線得到所述顯示面板各區域的亮度值；根據所述顯示面板各區域的亮度值得到面板顯示的理想二次曲面；根據所述二次曲面計算補償參數，並基於所述補償參數對所述顯示面板進行補償。
本申請的第二方面提供一種顯示面板Mura補償系統，所述顯示面板Mura補償系統包括：採集模組，用於採集所述顯示面板的顯示圖像，根據所述顯示圖像得到顯示面板的面板參數，其中，所述面板參數包括顯示圖像中各圖元點的灰度值和亮度值；處理模組，用於去除所述顯示圖像中的異物區域並填補去除的區域；計算模組，用於根據所述面板參數計算所述顯示面板的Gamma值，並確定所述顯示面板的Gamma曲線；所述處理模組，還用於根據所述Gamma曲線得到所述顯示面板各區域的亮度值；所述處理模組，還用於根據所述顯示面板各區域的亮度值得到面板顯示的理想二次曲面；所述計算模組，還用於根據所述二次曲面計算補償參數，並基於所述補償參數對所述顯示面板進行補償。
本申請的第三方面提供一種電腦可讀存儲介質，所述電腦可讀存儲介質存儲有至少一個指令，所述至少一個指令被處理器執行時實現所述顯示面板Mura補償方法。
本申請的第四方面提供一種電子裝置，所述電子裝置包括記憶體和至少一個處理器，所述記憶體中存儲有至少一個指令，所述至少一個指令被所述至少一個處理器執行時實現所述顯示面板Mura補償方法。
相較於習知技術，所述顯示面板Mura補償方法、系統、電子裝置及存儲介質，可以根據採集的面板參數資料，求出完美二次曲面作為理想目標曲面；藉由亮度補償的方式去矯正平面/曲面顯示面板的整體顯示亮度，提高並改善顯示面板的顯示效果。
1:電子裝置
10:顯示面板
11:記憶體
12:處理器
100:補償系統
101:採集模組
102:處理模組
103:計算模組
圖1是本發明較佳實施例的電子裝置的架構圖。
圖2是本發明較佳實施例的顯示面板Mura補償系統的功能模組圖。
圖3是本發明較佳實施例的顯示面板Mura補償方法的流程圖。
為了能夠更清楚地理解本發明的上述目的、特徵和優點，下面結合附圖和具體實施例對本發明進行詳細描述。需要說明的是，在不衝突的情況下，本發明的實施例及實施例中的特徵可以相互組合。
在下面的描述中闡述了很多具體細節以便於充分理解本發明，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基於本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬於本發明保護的範圍。
除非另有定義，本文所使用的所有的技術和科學術語與屬於本發明的技術領域的技術人員通常理解的含義相同。本文中在本發明的說明書中所使用的術語只是為了描述具體的實施例的目的，不是旨在於限制本發明。
參閱圖1所示，為本發明較佳實施例提供的電子裝置的架構圖。
本實施例中，電子裝置1包括互相之間電氣連接的顯示面板10、記憶體11、至少一個處理器12。
本領域技術人員應該瞭解，圖1示出的電子裝置1的結構並不構成本發明實施例的限定，所述電子裝置1還可以包括比圖1更多或更少的其他硬體或者軟體，或者不同的部件佈置。
需要說明的是，所述電子裝置1僅為舉例，其他習知的或今後可能 出現的電子裝置如可適應於本發明，也應包含在本發明的保護範圍以內，並以引用方式包含於此。
在本實施例中，所述顯示面板10可以為有機發光二極體(Organic Light Emitting Display，OLED)顯示面板或者量子點發光二極體(Quantum Dot Light Emitting Diodes，QLED)。
在一些實施例中，所述記憶體11可以用於存儲電腦程式的程式碼和各種資料。例如，所述記憶體11可以用於存儲安裝在所述電子裝置1中的顯示面板Mura補償系統100(便於說明，下文中簡寫為“補償系統100”)，並在電子裝置1的運行過程中實現高速、自動地完成程式或資料的存取。所述記憶體11可以是包括唯讀記憶體(Read-Only Memory，ROM)、可程式設計唯讀記憶體(Programmable Read-Only Memory，PROM)、可擦除可程式設計唯讀記憶體(Erasable Programmable Read-Only Memory，EPROM)、一次可程式設計唯讀記憶體(One-time Programmable Read-Only Memory，OTPROM)、電子擦除式可複寫唯讀記憶體(Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory，EEPROM)、唯讀光碟(Compact Disc Read-Only Memory，CD-ROM)或其他光碟記憶體、磁碟記憶體、磁帶記憶體、或者任何其他能夠用於攜帶或存儲資料的非易失性的電腦可讀的存儲介質。
在一些實施例中，所述至少一個處理器12可以由積體電路組成。例如，可以由單個封裝的積體電路所組成，也可以是由多個相同功能或不同功能封裝的積體電路所組成，包括一個或者多個中央處理器(Central Processing unit，CPU)、微處理器、數文書處理晶片、圖形處理器及各種控制晶片的組合等。所述至少一個處理器12是所述電子裝置1的控制核心(Control Unit)，利用各種介面和線路連接整個電子裝置1的各個部件，藉由執行存儲在所述記憶體11內的程式或者模組或者指令，以及調用存儲在所述記憶體11內的資料，以執行電子 裝置1的各種功能和處理資料，例如，顯示面板Mura補償功能(具體細節參後面對圖3的介紹)。
在本實施例中，所述補償系統100可以包括一個或多個模組，所述一個或多個模組存儲在所述記憶體11中，並由至少一個或多個處理器(本實施例為處理器12)執行，以實現顯示面板Mura補償功能(具體細節參後面對圖3的介紹)。
在本實施例中，所述補償系統100根據其所執行的功能，可以被劃分為多個模組。參閱圖2所示，所述多個模組包括採集模組101、處理模組102、和計算模組103。本發明所稱的模組是指一種能夠被至少一個處理器(例如處理器12)所執行並且能夠完成固定功能的一系列電腦可讀的指令段，其存儲在記憶體(例如電子裝置1的記憶體11)中。所述採集模組101用於採集所述顯示面板的顯示圖像，根據所述顯示圖像得到顯示面板的面板參數，其中，所述面板參數包括顯示圖像中各圖元點的灰度值和亮度值；所述處理模組102用於去除所述顯示圖像中的異物區域並填補去除的區域；所述計算模組103用於根據所述面板參數計算所述顯示面板的Gamma值，並確定所述顯示面板的Gamma曲線；所述處理模組102還用於根據所述Gamma曲線得到所述顯示面板各區域的亮度值；所述處理模組102還用於根據所述顯示面板各區域的亮度值得到面板顯示的理想二次曲面；所述計算模組103還用於根據所述二次曲面計算補償參數，並基於所述補償參數對所述顯示面板進行補償。
本實施例中，以軟體功能模組的形式實現的集成的單元，可以存儲在一個非易失性可讀取存儲介質中。上述軟體功能模組包括一個或多個電腦可讀指令，所述電子裝置1或所述至少一個處理器12(processor)藉由執行所述一個或多個電腦可讀指令實現本發明各個實施例的方法的部分，例如圖3所示的顯示面板Mura補償方法。
在進一步的實施例中，結合圖2，所述至少一個處理器12可執行所述電子裝置1中所安裝的各類應用程式(如所述補償系統100)、程式碼等。
在進一步的實施例中，所述記憶體11中存儲有電腦程式的程式碼，且所述至少一個處理器12可調用所述記憶體11中存儲的程式碼以執行相關的功能。例如，圖2中所述補償系統100的各個模組是存儲在所述記憶體11中的程式碼，並由所述至少一個處理器12所執行，從而實現所述各個模組的功能以達到顯示面板Mura補償功能的目的(詳見下文中對圖3的描述)。
在本發明的一個實施例中，所述記憶體11存儲一個或多個電腦可讀指令，所述一個或多個電腦可讀指令被所述至少一個處理器12所執行以實現顯示面板Mura補償功能的目的。具體地，所述至少一個處理器12對上述電腦可讀指令的具體實現方法詳見下文中對圖3的描述。
圖3是本發明較佳實施例提供的顯示面板Mura補償方法的流程圖。
在本實施例中，所述顯示面板Mura補償方法可以應用於電子裝置1中，對於需要進行Mura補償的顯示面板的電子裝置1，可以直接在該電子裝置1上集成本發明的方法所提供的用於Mura補償的功能，或者以軟體開發套件(Software Development Kit，SDK)的形式運行在所述電子裝置1上。
如圖3所示，所述顯示面板Mura補償方法具體包括以下步驟，根據不同的需求，該流程圖中步驟的順序可以改變，某些步驟可以省略。
步驟S1、採集所述顯示面板10的顯示圖像，根據所述顯示圖像得到顯示面板的面板參數，其中，所述面板參數包括顯示圖像中各圖元點的灰度值和亮度值。
在一個實施例中，可以藉由高清度相機(如CCD)拍攝所述顯示面板10在顯示過程中的顯示圖像，根據所述顯示圖像得到所述顯示面板的面板參數，為De-Mura處理提供資料。在本實施方式中，所述面板參數包括面板的灰 階和顯示圖像中各圖元點的灰度值和亮度值。其中，所述亮度值包括所述顯示面板的最大亮度值和所述顯示面板的最小亮度值。
步驟S2、去除所述顯示圖像中的異物區域並填補去除的區域。
由於在顯示面板的生產過程中，容易受外在環境影響造成所述顯示面板上附有異物。這種情況下如果直接根據包括異物的顯示圖像進行De-Mura處理，在De-Mura處理後再除去異物區域，那麼除去異物區域後的顯示圖像會存在亮斑，造成產品視效差或出現不良產品。
在本實施方式中，當顯示面板上存在異物時，需要先對包含所述異物的顯示圖像進行處理。例如，先識別所述異物再將所述異物挖除，然後對挖除區域進行修補。這樣在後續進行De-Mura調整時，可以避免所述顯示面板中出現白斑的現象。
需要說明的是，在所述去除所述顯示圖像中的異物區域並填補去除的區域之前，所述方法還包括：藉由所述面板參數確認所述顯示面板上是否存在異物的步驟。若確認所述顯示面板上存在異物；去除所述顯示圖像中的異物區域並填補去除的區域。
具體地，確認所述顯示面板上是否存在異物的方法包括：偵測所述顯示圖像中的每一子圖元的灰度值；比較每一子圖元的灰度值與該子圖元相鄰的至少兩個子圖元的灰度值；判定該子圖元與其相鄰的至少兩個子圖元之間的灰度值的差異是否達到預設閾值；若該子圖元與其相鄰的至少兩個子圖元之間的灰度值的差異達到所述預設閾值，則判斷所述顯示面板上存在異物；若該子圖元與其相鄰的至少兩個子圖元之間的灰度值的差異沒有達到所述預設閾值，則判斷所述顯示面板上不存在異物。
具體地，所述去除所述顯示圖像中的異物區域並填補去除的區域包括：使用邊緣檢測演算法得到所述異物圖像的圖像邊緣；藉由最小外接矩形 演算法對所述異物圖像進行掃描，獲得異物矩形圖；去除所述異物矩形圖中的圖元點，得到空白區域；藉由線性內插法對所述空白區域進行補償。
在一實施例中，在所述去除所述顯示圖像中的異物區域並填補去除的區域之前，所述方法還包括：利用影像處理技術對圖像進行濾波，以去除所述圖像中的噪點。濾波的方法可以是，但不限於，中值濾波、均值濾波、高斯濾波、雙邊濾波中的任意一種。藉由對圖像進行濾波處理，能夠消除雜訊影響。在一個優選實施例中，採用中值濾波或均值濾波技術對圖像進行濾波處理。
上述步驟S2考慮到了位於顯示面板上的異物對面板顯示的影響。藉由去除異物區域並對去除異物區域後的空白區域進行補償，能夠避免異常區域對顯示面板亮度均勻性調整造成影響，避免了異物對採集到的圖像造成的干擾，保證了De-Mura技術的效果。
步驟S3、根據所述面板參數計算所述顯示面板的Gamma值，並確定所述顯示面板的Gamma曲線。
在本實施例中，藉由以下Gamma曲線的公式(1)計算所述顯示面板的Gamma值。
L=(L max -L min )×(GL) Gamma +L min (1)
其中，L表示顯示面板在灰階為GL時的亮度，L max 為所述顯示面板的最大亮度值，L min 為所述顯示面板的最小亮度值。面板能從暗到亮顯示不同程度的亮度，為顯示從暗到亮，需要輸入不同資料，將這些資料從小到大等分成N段，每一段就是一階，第i段就叫做第i階，可以寫成GL i 。從灰階GL i 中選取不同的三點(例如P1、P2和P3)代入上述公式(1)，可以得到Gamma值。
步驟S4、根據所述Gamma曲線得到所述顯示面板各區域的亮度值。
在本實施方式中，不同灰階對應不同的亮度，將灰階和亮度放到二維座標內，可以繪製成一條曲線，這條曲線就稱為Gamma曲線，如上述公式 (1)描述的曲線方程。所述曲線方程的指數就是Gamma值。當確定了Gamma值，可以推算出某一灰階的亮度，從而得到所述顯示面板各區域的亮度值。需要說明的是，根據Gamma曲線確定的亮度值為所述顯示面板中各個區域的亮度，也就是將面板分成很多不同的區域，每個區域的亮度可能是不同的。
在其他實施方式中，可藉由亮度獲取裝置獲取在所述面板的灰階下各子圖元的亮度值。所述亮度獲取裝置包括，但不限於電荷耦合器件(charge coupled device，CCD)相機。所述CCD相機拍攝所述顯示面板在所述灰階下的圖像資訊，然後根據所述圖像資訊得到所述亮度值。
步驟S5、根據所述顯示面板各區域的亮度值得到面板顯示的理想二次曲面。
在本實施方式中，根據所述顯示面板各區域的亮度值得到面板顯示的理想二次曲面，將所述理想二次曲面作為理想目標曲面。其中，所述二次曲面的方程如下公式(2)所示：L=(C 1 X 2+C 2 Y 2)+C 3 (2)
其中，L為所述顯示面板的亮度值，C 1、C 2和C 3為可變係數，可以根據面板狀況進行調整。X和Y為所述二次曲面方程的兩個變數，可以理解為所述顯示面板10的長和寬。
步驟S6、根據所述二次曲面計算補償參數，並基於所述補償參數對所述顯示面板進行補償。
在本實施方式中，根據二次曲面計算出目標曲面L(x,y)和面板原始資料S(x,y)可以計算補償參數P(x,y)。例如，藉由以下公式計算所述補償參數：P(x,y)=C1×(T(x,y)-S(x,y))+C2
其中，所述T(x,y)為根據所述二次曲面得到的目標資料，可以理解為灰階，S(x,y)為根據去除異物區域後的顯示圖像轉換得到的灰階參數，C1 和C2為係數。具體地，藉由將所述補償參數輸入至所述顯示面板10進行顯示可以對所述顯示面板10進行補償。此時，有缺陷的顯示面板10疊加補償參數後，得到最終顯示面板10顯示的灰階。
在本實施方式中，還可以在計算得到補償參數後，藉由公式(3)將所述補償參數轉換成De-Mura表，並將所述De-Mura表寫入Flash內，再輸入至所述顯示面板10進行顯示。
Figure 109141031-A0305-02-0012-1
本申請可以根據採集的亮度資料，求出完美二次曲面作為理想目標曲面；藉由亮度補償的方式去矯正平面/曲面顯示面板的整體顯示亮度。提高並改善顯示面板的顯示效果，例如提升畫面亮度的均勻性、優化中間至四周亮度的過渡、增強人眼舒適感、減少因亮暗對比明顯造成的視覺突兀現象等。
本申請還可以在進行De-Mura補償前增加提前識別異物的功能，避免出現因異物導致的錯誤De-Mura視效矯正副作用。
在本發明所提供的幾個實施例中，應該理解到，所揭露的裝置和方法，可以藉由其它的方式實現。例如，以上所描述的裝置實施例僅僅是示意性的，例如，所述模組的劃分，僅僅為一種邏輯功能劃分，實際實現時可以有另外的劃分方式。
所述作為分離部件說明的模組可以是或者也可以不是物理上分開的，作為模組顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位於一個地方，或者也可以分佈到多個網路單元上。可以根據實際的需要選擇其中的部分或者全部模組來實現本實施例方案的目的。
另外，在本發明各個實施例中的各功能模組可以集成在一個處理單元中，也可以是各個單元單獨物理存在，也可以兩個或兩個以上單元集成在 一個單元中。上述集成的單元既可以採用硬體的形式實現，也可以採用硬體加軟體功能模組的形式實現。
對於本領域技術人員而言，顯然本發明不限於上述示範性實施例的細節，而且在不背離本發明的精神或基本特徵的情況下，能夠以其他的具體形式實現本發明。因此，無論從哪一點來看，均應將實施例看作是示範性的，而且是非限制性的，本發明的範圍由所附請求項而不是上述說明限定，因此旨在將落在請求項的等同要件的含義和範圍內的所有變化涵括在本發明內。不應將請求項中的任何附圖標記視為限制所涉及的請求項。此外，顯然“包括”一詞不排除其他單元或，單數不排除複數。裝置請求項中陳述的多個單元或裝置也可以由一個單元或裝置藉由軟體或者硬體來實現。第一，第二等詞語用來表示名稱，而並不表示任何特定的順序。
最後所應說明的是，以上實施例僅用以說明本發明的技術方案而非限制，儘管參照以上較佳實施例對本發明進行了詳細說明，本領域的普通技術人員應當理解，可以對本發明的技術方案進行修改或等同替換，而不脫離本發明技術方案的精神和範圍。

Claims (8)

  1. 一種顯示面板Mura補償方法，其中，該方法包括：採集所述顯示面板的顯示圖像，根據所述顯示圖像得到顯示面板的面板參數，其中，所述面板參數包括顯示圖像中各圖元點的灰度值和亮度值；基於邊緣檢測演算法得到所述顯示圖像中異物的邊緣，得到異物圖像，藉由最小外接矩形演算法對所述異物圖像進行掃描，獲得異物矩形圖，去除所述異物矩形圖中的圖元點，得到空白區域，藉由線性內插法對所述空白區域進行補償；根據所述面板參數計算所述顯示面板的Gamma值，並確定所述顯示面板的Gamma曲線；根據所述Gamma曲線得到所述顯示面板各區域的亮度值；根據所述顯示面板各區域的亮度值得到面板顯示的理想二次曲面；根據所述二次曲面計算補償參數，並基於所述補償參數對所述顯示面板進行補償。
  2. 如請求項1所述的顯示面板Mura補償方法，其中，所述方法還包括：藉由所述面板參數確認所述顯示面板上是否存在異物。
  3. 如請求項2所述的顯示面板Mura補償方法，其中，確認所述顯示面板上是否存在異物的方法包括：偵測所述顯示圖像中的每一子圖元的灰度值；比較每一子圖元的灰度值與該子圖元相鄰的至少兩個子圖元的灰度值；判斷該子圖元與其相鄰的至少兩個子圖元之間的灰度值的差異是否達到預設閾值；若該子圖元與其相鄰的至少兩個子圖元之間的灰度值的差異達到所述預設 閾值，確定所述顯示面板上存在異物；或若該子圖元與其相鄰的至少兩個子圖元之間的灰度值的差異沒有達到所述預設閾值，確定所述顯示面板上不存在異物。
  4. 如請求項1所述的顯示面板Mura補償方法，其中，在所述去除所述顯示圖像中的異物區域並填補去除的區域之前，所述方法還包括：利用影像處理技術對所述顯示圖像進行濾波，其中對所述顯示圖像進行濾波的方法包括中值濾波、均值濾波、高斯濾波、雙邊濾波中的任意一種。
  5. 如請求項1所述的顯示面板Mura補償方法，其中，藉由以下公式計算所述顯示面板的Gamma曲線：L=(L max -L min )×(GL) Gamma +L min 其中，L表示所述顯示面板在灰階為GL時的亮度，L max 為所述顯示面板的最大亮度值，L min 為所述顯示面板的最小亮度值。
  6. 一種顯示面板Mura補償系統，其中，所述系統包括：採集模組，用於採集所述顯示面板的顯示圖像，根據所述顯示圖像得到顯示面板的面板參數，其中，所述面板參數包括顯示圖像中各圖元點的灰度值和亮度值；處理模組，用於基於邊緣檢測演算法得到所述顯示圖像中異物的邊緣，得到異物圖像；藉由最小外接矩形演算法對所述異物圖像進行掃描，獲得異物矩形圖；去除所述異物矩形圖中的圖元點，得到空白區域；及藉由線性內插法對所述空白區域進行補償；計算模組，用於根據所述面板參數計算所述顯示面板的Gamma值，並確定所述顯示面板的Gamma曲線；所述處理模組，還用於根據所述Gamma曲線得到所述顯示面板各區域的亮度值； 所述處理模組，還用於根據所述顯示面板各區域的亮度值得到面板顯示的理想二次曲面；所述計算模組，還用於根據所述二次曲面計算補償參數，並基於所述補償參數對所述顯示面板進行補償。
  7. 一種電腦可讀存儲介質，其中，所述電腦可讀存儲介質存儲有至少一個指令，所述至少一個指令被處理器執行時實現如請求項1至5中任意一項的所述顯示面板Mura補償方法。
  8. 一種電子裝置，其中，該電子裝置包括記憶體和至少一個處理器，所述記憶體中存儲有多個模組，所述多個模組被所述至少一個處理器執行時實現如請求項1至5中任意一項的所述顯示面板Mura補償方法。
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