TWI757829B - 使來自替換自供電中子偵測器之訊號被使用以產生輸入至遺留軟體之系統及方法 - Google Patents
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Abstract
本發明係關於一種方法,藉此由替換SPND輸出之訊號經轉換成等效訊號,該等等效訊號將由遺留SPND偵測用於輸入至該遺留軟體中。該等替換SPND具有不同於該等遺留SPND之一幾何形狀且亦具有不同於該等遺留SPND之一中子靈敏度。該等替換SPND在一反應器之一核心中經受一中子通量且回應地輸出一組訊號。利用該組訊號及該等替換SPND之幾何形狀以呈表示通量之一曲線之形式創建該中子通量之一特性作為沿該反應器之核心之位置之一函數。接著,利用該等遺留SPND之遺留幾何形狀以在曲線上找到與該等遺留SPND所處位置相對應之值以創建遺留軟體之輸入。
Description
所揭示及所主張概念大體上係關於核反應器,且更特定言之係關於一種系統及方法,其使得由數個替換自供電中子偵測器(SPND)產生之訊號能夠用於產生意欲與數個遺留SPND一起使用之遺留軟體之輸入。
在相關領域中已知多種類型之核反應器。亦已知提供位於一核反應器之核心之燃料總成內之儀表套管中之自供電中子偵測器(SPND),以便提供代表核反應器之核心內中子通量之訊號。然而,亦已知由銠製成之SPND會迅速退化且需要替換。然而,若用新銠SPND替換銠SPND,則新銠SPND將同樣依相同方式退化且因此最終同樣需要替換。
此等SPND具有以安培/nv為單位之一中子靈敏度,其係每中子通量之安培數。因此,在存在一定中子通量之情況下,SPND將輸出一定電流(如以安培量測且其用作一遺留軟體封包之一輸入),該軟體封包利用此等電流值及SPND之已知中子靈敏度來判定核反應器之核心內各個位置處之中子通量值。此等遺留軟體通常亦包含考慮遺留SPND之已知退化之指令,以便基於遺留SPND之已知中子靈敏度及遺留SPND之已知退化來適當地調整用作遺留軟體之輸入之當前值,用於遺留軟體準確判定核心中之中子通量。然而,此等遺留軟體阻礙用其他東西替換遺留銠SPND,因為為核反應器頒發之許可證通常至少部分基於希望自銠SPND接收訊號之遺留軟體。因此,需要改良。
所揭示及所主張概念係關於一種經改良系統及方法,藉此將由替換SPND輸出之訊號轉換成由遺留SPND可能偵測之類型之等效訊號,以輸入至遺留軟體。該等替換SPND具有不同於該等遺留SPND之一幾何形狀且亦具有不同於該等遺留SPND之一中子靈敏度。該等替換SPND在一反應器之一核心中經受一中子通量並回應地輸出一組訊號。利用該組訊號及該等替換SPND之幾何形狀以一曲線形式創建該中子通量之一特性,該曲線代表通量係沿該反應器核心之位置之一函數。接著,利用該等遺留SPND之遺留幾何形狀在該曲線上找到對應於沿其中該等遺留SPND所處之核心之值。因而,沿該曲線之此等值代表該等遺留SPND在其等替換之前在其中該等遺留SPND已經放置之複數個對應遺留位置所經歷之通量。接著,此等經識別通量值經受一耗盡輸出演算法以產生一組代表性通量值,該等值代表回應於該等對應遺留位置處之中子通量的處於一至少部分耗盡狀態之複數個遺留SPND將輸出什麼。接著,將該等耗盡代表性通量值乘以該等遺留SPND之平均中子靈敏度,以便產生輸入至該遺留軟體之一組電流訊號,以使該遺留軟體能夠基於來自該等替換SPND之訊號判定該反應器核心之一組中子通量值。
據此,所揭示及所主張概念之一態樣在於提供一種經改進系統及方法,該系統及方法使得能夠實現替換SPND,該等替換SPND由不同於數個遺留SPND之一材料形成及/或具有不同於數個SPND之一中子靈敏度及/或具有不同於待用於代替數個遺留SPND之數個遺留SPND之一幾何形狀。
所揭示及所主張概念之另一態樣係使得能夠實現現有遺留軟體,其等經設計以自一組遺留SPND (諸如由銠形成之SPND)接收一訊號、用於基於自數個替換SPND (諸如由釩形成之SPND)獲得之訊號判定一核反應器之一核心之數個中子通量值。因此,如本文中所利用,表達「數個」及其變體應廣義地指任何非零數量,包含一個數量。
所揭示及所主張概念之另一態樣係使得能夠將數個遺留SPND (諸如可能已由銠形成)替換為數個替換SPND (諸如可能已由釩形成),及使得來自替換SPND之訊號能夠用於產生遺留軟體之輸入,該軟體用於判定該核反應器之該核心內之一中子通量分佈。
據此,所揭示及所主張概念之一態樣提供一種使複數個替換自供電中子偵測器(SPND)代替先前位於沿一核反應器之一核心之複數個對應遺留位置處且先前向一處理器裝置提供代表如在該複數個對應遺留位置處偵測之該核心中之一中子通量的一組輸入之複數個遺留SPND而使用的經改良方法。該方法可一般而言包含:使該複數個替換SPND經受該中子通量,且回應於該中子通量,自該複數個替換SPND接收一組訊號;利用該組訊號在沿該核心之複數個對應替換位置處產生複數個經量測通量值;使該複數個經量測通量值經受一擬合工具以產生該中子通量之一特性作為沿該核心之位置之一函數;利用該特性及該複數個對應遺留位置來產生一組代表性通量值,其代表該複數個遺留SPND在該複數個對應遺留位置處將經歷之該中子通量;及將至少部分基於該組代表性通量值之數個訊號作為該組輸入輸入至該處理器裝置。
所揭示及所主張概念之另一態樣係提供一種經改良系統,該系統之一般性質可一般而言包含:一核反應器,其具有一核心;一處理器裝置;複數個替換自供電中子偵測器(SPND),其等代替先前位於沿該核心之複數個對應遺留位置處且先前向該處理器裝置提供代表如在該複數個對應遺留位置處偵測之該核心中之一中子通量的一組輸入之複數個遺留SPND而定位於該核心中;該處理器裝置包括一組指令,該組指令在該處理器裝置上執行時致使該處理器裝置執行可一般而言包含以下之操作:自該複數個替換SPND接收回應於該複數個替換SPND經受該中子通量之一組訊號;利用該組訊號以在沿該核心之複數個對應替換位置處產生複數個經量測通量值;使該複數個經量測通量值經受一擬合工具以產生該中子通量之一特性作為沿該核心位置之一函數;利用該特性及該複數個對應遺留位置來產生一組代表性通量值,其代表該複數個遺留SPND在該複數個對應遺留位置處將經歷之該中子通量;及利用至少部分基於該組代表性通量值之數個訊號作為該組輸入。
在圖1中大體上描繪根據所揭示及所主張概念之一經改良系統4。系統包含具有一核心8之一核反應器6,核心8包含以數字10示意性表示之燃料。系統12進一步包含一資料系統12,該資料系統12包含具有彼此通信之一處理器20及一儲存器24之一處理器裝置16。儲存器24在其中儲存有數個常式28,該等常式在處理器20上執行時致使資料系統12執行某些操作(諸如在本文其他地方所闡述)。資料系統12進一步包含一輸入裝置32,其向處理器20提供輸入訊號;且進一步包含一輸出裝置36,其自處理器20接收輸出訊號。在所描繪之例示性實施例中,輸入裝置32包含複數個替換SPND,其等在圖2中描繪並以數字40A、40B、40C、40D及40E指示,其等在本文中可共同或分別以數字40表示。替換SPND 40經由與處理器20連接之一資料鏈路44與處理器20連接,但替換SPND 40仍視作輸入裝置32之一部分。
替換SPND 40替換圖2中以數字48A、48B、48C及48D描繪且在本文中可將其等共同或分別以數字48表示之複數個遺留SPND。在圖2中展示遺留SPND以描繪其等幾何形狀,即描繪其等相對於燃料(且更特定言之相對於燃料頂部(以數字52指示))定位),然而,應理解,將遺留SPND 48自核心8移除並用替換SPND 40替換,且在圖2中描繪遺留SPND 48之原因僅僅係為了描繪其等相對於燃料10在核心8內之先前位置。
進一步關於燃料10,圖2用一水平線描繪燃料之頂部52之位置,且用另一水平線描繪燃料之底部56之位置。圖2亦以數字60描繪燃料10之一長度。在此方面,可見圖2描繪遺留SPND 48A、48B、48C及48D各位於一對應遺留位置64A、64B、64C、64D處,其等在本文中可共同或分別以數字64表示。在所描繪之例示性實施例中,遺留位置64經界定為沿各此遺留SPND 48之長度(即沿其長軸)之一中心點,且位於燃料之底部56上方之一對應遺留距離,其中該等遺留距離以數字66A、66B、66C及66D指示,其等在本文中可共同或分別以數字66表示。
可自圖2進一步理解,替換SPND 40各具有不同長度,其等以數字68A、68B、68C、68D及68E指示,其等在本文中可共同或分別以數字68表示。應注意,替換SPND 40被接納於一儀表套管中,該儀表套管被接納於核心8之一燃料總成中。在所描繪之例示性實施例中,核心8中大約百分之三十之燃料總成包含此一儀表套管,該儀表套管包含該組替換SPND 40之一例項,其中替換SPND經由資料鏈路44與處理器20連接。儘管圖2描繪替換SPND 40在圖2中之水平方向上彼此間隔開,但應理解,圖2中之此水平間隔僅旨在使得能夠實現描繪不同長度68、長度68彼此相關之方式及替換SPND 40相對於燃料之頂部52及燃料之底部56之定位。因此,應理解,替換SPND 40通常在儀表套管內彼此緊鄰。
來自替換SPND 40之輸出係一電流,即,以安培量測。一般而言,替換SPND 40之最長者(即替換SPND 40A)將具有最高電流位準作為其輸出,其中逐漸變短之替換SPND 40在相同通量環境下相應地具有較小電流輸出。替換SPND 40相對於遺留SPND 48之一優點係,替換SPND 40之長度比遺留SPND 48之長度相對更大,其使得替換SPND 40與遺留SPND 48相比具有一更大信雜比。
利用來自替換SPND 40之訊號以判定沿核心8之數個對應位置處之數個通量值。例如,替換SPND 40A比替換SPND 40B長,且更特定言之,替換SPND 40A之一部分80突出超過SPND 40B之端部。突出部分80之底端(在圖2中)在燃料之底部56上方之一距離72。此外,替換SPND 40自最長至最短在其等之間具有一對應長度差,其中長度差以數字76A、76B、76C、76D及76E指示,且其等在本文中可共同或分別以數字76表示。例如,長度差76A等於突出部分80之長度。由於替換SPND 40E係替換SPND 40之最短者,所以數字76係指替換SPND 40E之實際長度而非其比另一SPND 40長之一距離。
藉由將距離72與長度差76A之一半相加,可判定突出部分80之中心在燃料之底部56上方之距離且以數字82表示。燃料之底部56上方之此高度82在突出部分80上描述一替換位置84A,其係突出部分80沿突出部分80之縱向範圍之中心。
為判定來自替換SPND 40A之訊號之部分(該訊號代表自突出部分80獲得之訊號),自最大輸出訊號(其自替換SPND 40A獲得)減去第二最大輸出訊號(即自替換SPND 40B獲得)。據信此淨電流代表沿突出部分80產生之平均功率。應注意,除替換SPND 40A之突出部分80相對於替換SPND 40B外,替換SPND 40B、40C及40D各同樣具有突出超過下一個最短替換SPND 40之一突出部分,且此等突出部分之縱向中心視作額外替換位置,其等以數字84B、84C及84D指示。最短替換SPND 40E具有其自身替換位置84E,該替換位置在在燃料之頂部52下方突出之其長度之中心處。此等距離可基於替換SPND 40之長度、燃料之長度60、距離72判定,所有均係依一容易理解之方式。
依一相同方式,自由替換SPND 40B輸出之訊號減去來自替換SPND 40C之訊號,且其代表沿突出超過SPND 40C之端部的替換SPND 40B之部分之長度產生的平均功率。依一類似方式獲得與替換位置84C及84D相對應之訊號。用於替換位置84E之訊號僅僅係自替換SPND 40E輸出之訊號,而不自其減去另一電流值。接著,將淨電流輸出及來自替換SPND 40E之輸出之各者除以替換SPND 40之中子靈敏度,該中子靈敏度具有單位安培/nv (其係每中子通量之安培數),以便獲得據信在對應替換位置84A、84B、84C、84D及84E處存在之一組經量測中子通量值。
替換位置84A、84B、84C、84D及84E一起(其等在本文中可共同或分別以數字84表示)及來自前述訊號減法之對應訊號,除非在來自替換SPND 40E之訊號(其僅完全係來自其之訊號)及中子靈敏度之除法代表五對資料值。亦即,各資料值係沿核心8之一位置,亦即,燃料之底部56上方之一高度或一距離,及一對應中子通量。為完成資料組,將燃料之底部56及燃料之頂部52之各者處之中子通量之一零值添加至資料組。此等兩個額外零值可為一零量值,但在所描繪之例示性實施例中,其等反而賦予一非常小數字,即0.1 nv,藉由實例,沿核心8具有對應已知位置,在燃料之底部56處具有(藉由實例)在燃料56上方之零釐米之一高度零之一者,且燃料之頂部52處之零值使燃料之長度60作為在燃料之底部56上方之對應高度。
藉由進一步實例,來自前述七對資料值之七個中子通量值可期望經歸一化,諸如藉由將各中子通量值除以最高中子通量值或藉由將各中子通量值除以來自各種訊號之平均中子通量值。可利用任何類型之歸一化。此將導致七對資料值,各對資料值具有代表平均中子通量之一無單位值及一距離值,在所描繪之例示性實施例中,距離值以釐米為單位,經量測平均中子通量存在於其中。
接著,此等七對資料值(具有或不具有前述可選歸一化)經受一擬合工具86,該擬合工具將七對資料值擬合為一曲線。擬合工具86之一個例示性類型係使用七對資料值來創建具有七個標量係數之一六階多項式之擬合工具。例如,藉由實例,由擬合工具86輸出之多項式可能看起來像A+BX+CX2
+DX3
+EX4
+FX5
+GX6
=0,其中A至G係標量係數且其中X係在所描繪之例示性實施例中(藉由實例)以釐米為單位之燃料之底部56上方之高度。前述多項式導致中子通量之一特性,且其實例以數字88描繪為一曲線,如圖2中所展示。特性80係核心8內之中子通量之一特性作為沿核心8內之位置之一函數,且基於一組經量測通量值,該等值自具有對應替換位置84之替換SPND 40之電流輸出量測。
如在圖2中進一步可見,一虛線箭頭自替換位置84之各者向右延伸至特性88上之一對應點。此等箭頭指向特性88上之一組經量測通量值,該等值以數字92A、92B、92C、92D及92E (其等在本文中可共同或分別以數字92表示)指示。沿特性88之此等點在本文中指稱經量測通量值92,因為其等基於自替換SPND 40量測之電流輸出,儘管可選地歸一化,但仍呈通量值之量測形式。此等經量測通量值基於來自替換SPND 40之實際輸出且係用於建構形成特性88之曲線,連同燃料之底部56及燃料之頂部52處之幾乎零中子通量之前述兩個零值。各此經量測通量值92在垂直Y軸上包含燃料之底部56上方之一高度及沿水平X軸之一對應通量值。五個經量測通量值92A、92B、92C、92D及92E在燃料底部56上方之垂直距離等於替換位置84A、84B、84C、84D及84E在燃料之底部56上方之高度,且五個經量測通量值92A、92B、92C、92D及92E之各者之對應通量值係輸入至擬合工具86中之對應經量測通量值。因此可見,前述五組資料值存在於或幾乎存在於代表特性88之曲線上。
接著,特性88與遺留SPND 48之幾何形狀結合使用,更特定言之與遺留距離66結合使用,以創建一組代表性通量值,該等通量值以數字94A、94B、94C及94D (其等在本文中可共同或分別以數字94表示)指示。此等遺留距離66被饋入多項式(即特性88)以便為遺留距離66之各者判定在沿核心8之此等位置處何者將為通量值。即,遺留距離66 (其係燃料之底部56上方遺留位置64之各者之高度)接著饋入前述多項式中,以針對遺留位置64之各者獲得一對應Y,其係遺留位置64之各者處之代表性通量值,如由特性88基於經量測通量值所判定。代表性通量值本質上係代表性的,因為儘管係實際通量值且基於來自替換SPND 40之經量測通量值92,但代表性通量值代表若遺留SPND 48位於核心內其等遺留位置64處則遺留SPND 48將經歷之通量。因此,特性88使得能夠判定一組代表性通量值94,其代表遺留SPND 48將在遺留位置64處經歷之中子通量。
接著,代表性通量值94經受一耗盡演算法98,該演算法係常式28之一部分,以便將代表性通量值94之各者減小與遺留SPND 48將退化之程度相對應之一適當量。即,一組遺留軟體99位於在處理器20上可執行之常式28中。遺留軟體99經組態以接受並處理自遺留位置64偵測之通量值,且代表性通量值94基於特性88及遺留位置64產生。然而,應注意,遺留軟體99亦經組態以預期由於對遺留SPND 48之一充分理解退化而導致之退化輸入訊號,並基於自退化遺留SPND 48之預期退化輸出執行其操作。因而,未退化之代表性通量值94經受耗盡演算法98,以產生一組耗盡代表性通量值,接著將該等值輸入至遺留軟體99。此外,亦執行為準備該組耗盡代表性通量值用於輸入至遺留軟體99所必需之任何其他類型之格式化操作。
因此可見,替換SPND 40可用於偵測核心8內之中子通量值,接著將其用於創建特性88,該特性88係沿核心8之中子通量之一特性。接著,利用遺留SPND 48 (特別係遺留位置64)之幾何形狀來判定代表性通量值94,接著該等代表性通量值經受耗盡演算法98及其他必要格式化用於輸入至遺留軟體99。
圖3以一流程圖繪示根據所揭示及所主張概念之一經改良方法之某些態樣。如在205處般,可開始處理,其中在核反應器6之核心8內複數個替換SPND 40經受一中子通量,以便自替換SPND 40回應地接收一組輸出訊號。儘管在圖3中未明確描繪,但應注意,該方法實際上可以遺留SPND 48之移除及用替換SPND 40替換遺留SPND 48開始。接著,如在210處般,繼續處理,其中利用來自替換SPND 40之該組訊號以在沿核心8之複數個對應替換位置84處產生一組經量測通量值92。如所提及,此包含自其他電流訊號減去某些電流訊號以便產生淨電流訊號,且可另外包含基於替換SPND 40之平均中子靈敏度之此等淨值之歸一化及將經量測淨電流值轉換成中子通量值。
接著,如在215處般,處理繼續,其中該組經量測通量值及對應替換位置84經受一擬合工具86,以產生中子通量之特性88作為沿核心8之位置之一函數。儘管在所描繪之例示性實施例中,擬合工具86經描繪為在處理器20上執行,但應理解,擬合工具86可在任何類型之處理器上執行,無論該處理器是否係系統4之一部分。此係因為一旦創建多項式,即可能在系統4之繼續操作期間重新使用,而無需定期重新創建該多項式。
接著,如在220處般,處理繼續,其中特性88與遺留位置64結合使用,以便產生一組代表性通量值,該組代表性通量值代表遺留SPND 48將在遺留位置64處經歷之中子通量。此進一步處理可另外包含使代表性通量值經受耗盡演算法98且可另外包含使值能夠輸入至遺留軟體99中所必需之其他格式化。
接著,如在225處般,處理繼續,其中將至少部分基於該組代表性通量值94之數個訊號輸入至處理器裝置16用於由遺留軟體99執行。
因此可見,藉由將自替換SPND 40導出之訊號輸入至遺留軟體99,經改良方法及系統4使得遺留軟體99能夠在用替換SPND替換遺留SPND 48之後繼續操作。其他益處將顯而易見。
雖然已詳細描述本發明之特定實施例,但熟習此項技術者將瞭解,在本發明之總體教示之背景下可發展對此等細節之各種修改及其他選項。因此,所揭示之特定實施例意在僅為闡釋性的且不限於將被給予隨附申請專利範圍及其任何及所有等效物之整個寬度之本發明之範疇。
4:系統
6:核反應器
8:核心
10:燃料
12:資料系統
16:處理器裝置
20:處理器
24:儲存器
28:常式
32:輸入裝置
36:輸出裝置
40A,40B,40C,40D,40E:替換SPND
44:資料鏈路
48A,48B,48C,48D:遺留SPND
52:燃料之頂部
56:燃料之底部
60:燃料之長度
64A,64B,64C,64D:遺留位置
66A,66B,66C,66D:遺留距離
68A,68B,68C,68D,68E:長度
72:距離
76A,76B,76C,76D,76E:長度差
80:突出部分/特性
82:距離
84A,84B,84C,84D,84E:替換位置
86:擬合工具
88:特性
92A,92B,92C,92D,92E:經量測通量值
94A,94B,94C,94D,94E:代表性通量值
98:耗盡演算法
99:遺留軟體
當結合附圖閱讀時,可自以下描述獲得對本發明之一一步理解,其中:
圖1係根據所揭示及所主張概念之一經改良系統之一示意圖,在其上可執行根據所揭示及所主張概念之一經改良方法;
圖2係複數個替換SPND之幾何形狀可依其與來自替換SPND之訊號結合使用以創建一核反應器之一核心內一中子通量之一特性作為沿核心位置之一函數的方式之一描述,其中接著使用該特性來判定將由已位於核心內複數個對應遺留位置處之複數個遺留SPND所經歷之數個通量值,其經完成以產生用作輸入至現有遺留軟體之一組代表性通量值;且
圖3係描繪根據所揭示及所主張概念之經改良方法之某些態樣的一流程圖。
貫穿說明書,類似元件符號係指類似部分。
4:系統
6:核反應器
8:核心
10:燃料
12:資料系統
16:處理器裝置
20:處理器
24:儲存器
28:常式
32:輸入裝置
36:輸出裝置
44:資料鏈路
86:擬合工具
98:耗盡演算法
99:遺留軟體
Claims (17)
- 一種使複數個替換自供電中子偵測器(SPND)代替先前位於沿一核反應器之一核心之複數個對應遺留位置處且先前向一處理器裝置提供代表如在該複數個對應遺留位置處偵測之該核心中之一中子通量的一組輸入之複數個遺留SPND而使用的方法,該方法包括:使該複數個替換SPND經受該中子通量,且回應於該中子通量,自該複數個替換SPND接收一組訊號;利用該組訊號在沿該核心之複數個對應替換位置處產生複數個經量測通量值;使該複數個經量測通量值經受一擬合工具以產生該中子通量作為沿該核心之位置之一函數之一特性;利用該特性及該複數個對應遺留位置來產生一組代表性通量值,其代表該複數個遺留SPND在該複數個對應遺留位置處將經歷之該中子通量;及將至少部分基於該組代表性通量值之數個訊號作為該組輸入輸入至該處理器裝置。
- 如請求項1之方法,其進一步包括使該組代表性通量值經受一消耗演算法以產生一組耗盡代表性通量值,該組耗盡代表性通量值代表在一至少部分耗盡狀態中之該複數個遺留SPND將回應於在該複數個對應遺留位置處之該中子通量輸出什麼,訊號之數目係至少部分基於該組耗盡代表性通量值。
- 如請求項1之方法,其中該複數個替換SPND之至少一個替換SPND具有大於該複數個替換SPND之另一替換SPND之長度的一長度,該一個替換SPND之一部分突出超過該另一替換SPND,該至少一個替換SPND輸出該組訊號之一訊號,該另一替換SPND輸出該組訊號之另一訊號,且進一步包括:自該訊號及該另一訊號之一者減去該訊號及該另一訊號之另一者以產生一訊號差;及在該產生該複數個經量測通量值之一經量測通量值時利用該訊號差,該複數個經量測通量值之該複數個對應替換位置之對應替換位置係沿該一個替換SPND之該部分。
- 如請求項3之方法,其中該複數個替換SPND之一特定替換SPND具有小於該複數個替換SPND之其餘每一個替換SPND之長度之一長度且輸出該組訊號之一特定訊號,且進一步包括利用該特定訊號作為該複數個經量測通量值之一特定經量測通量值,該複數個經量測通量值之該複數個對應替換位置之對應替換位置係沿該特定替換SPND。
- 如請求項3之方法,其進一步包括:利用沿該一個替換SPND之該部分之一中心點作為沿該一個替換SPND之該部分之該對應替換位置。
- 如請求項1之方法,其中使該複數個經量測通量值經受一擬合工具包括:使該複數個經量測通量值連同一對零值一起經受該擬合工具,該對零 值代表在該核心之邊際處之零或接近零中子通量。
- 如請求項1之方法,其進一步包括:將該複數個遺留SPND之各遺留SPND上之一中心點用作該複數個對應遺留位置。
- 如請求項1之方法,其進一步包括:自該核心移除該複數個遺留SPND,且將該複數個替換SPND安裝至該核心中。
- 如請求項1之方法,其進一步包括在該組代表性通量值之該產生中利用該複數個遺留SPND之一平均中子靈敏度連同該特性及該複數個對應遺留位置。
- 一種使用來自替換自供電中子偵測器(SPND)訊號之系統,其包括:一核反應器,其具有一核心;一處理器裝置;複數個替換SPND,其等代替先前位於沿該核心之複數個對應遺留位置處且先前向該處理器裝置提供代表如在該複數個對應遺留位置處偵測之該核心中之一中子通量的一組輸入之複數個遺留SPND而定位於該核心中;該處理器裝置包括一組指令,該組指令在該處理器裝置上執行時致使該處理器裝置執行包括以下之操作:自該複數個替換SPND接收回應於該複數個替換SPND經受該中子通量之一組訊號; 利用該組訊號以在沿該核心之複數個對應替換位置處產生複數個經量測通量值;使該複數個經量測通量值經受一擬合工具以產生該中子通量作為沿該核心之位置之一函數之一特性;利用該特性及該複數個對應遺留位置來產生一組代表性通量值,其代表該複數個遺留SPND在該複數個對應遺留位置處將經歷之該中子通量;及利用至少部分基於該組代表性通量值之數個訊號作為該組輸入。
- 如請求項10之系統,其中該等操作進一步包括:使該組代表性通量值經受一消耗演算法以產生一組耗盡代表性通量值,該組耗盡代表性通量值代表處於一至少部分耗盡狀態之該複數個遺留SPND將回應於該複數個對應遺留位置處之該中子通量輸出什麼,訊號之數目係至少部分基於該組耗盡代表性通量值。
- 如請求項10之系統,其中該複數個替換SPND之至少一個替換SPND具有大於該複數個替換SPND之另一替換SPND之長度之一長度,該一個替換SPND之一部分突出超過該另一替換SPND,該至少一個替換SPND輸出該組訊號之一訊號,該另一替換SPND輸出該組訊號之另一訊號,且其中該等操作進一步包括:自該訊號及該另一訊號之一者減去該訊號及該另一訊號之另一者以產生一訊號差;及在該產生該複數個經量測通量值之一經量測通量值時利用該訊號 差,該複數個經量測通量值之該複數個對應替換位置之對應替換位置係沿該一個替換SPND之該部分。
- 如請求項12之系統,其中該複數個替換SPND之一特定替換SPND具有小於該複數個替換SPND之其餘每一個替換SPND之長度之一長度且輸出該組訊號之一特定訊號,且其中該等操作進一步包括利用該特定訊號作為該複數個經量測通量值之一特定經量測通量值,該複數個經量測通量值之該複數個對應替換位置之對應替換位置係沿該特定替換SPND。
- 如請求項12之系統,其中該等操作進一步包括:利用沿該一個替換SPND之該部分之一中心點作為沿該一個替換SPND之該部分之該對應替換位置。
- 如請求項10之系統,其中使該複數個經量測通量值經受一擬合工具包括:使該複數個經量測通量值連同一對零值一起經受該擬合工具,該對零值代表在該核心之邊際處之零或接近零中子通量。
- 如請求項10之系統,其中該等操作進一步包括:將該複數個遺留SPND之各遺留SPND上之一中心點用作該複數個對應遺留位置。
- 如請求項10之系統,其中該等操作進一步包括:在該組代表性通量值之該產生中利用該複數個遺留SPND之一平均中子靈敏度連同該特性及該複數個對應遺留位置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US16/539,282 | 2019-08-13 | ||
US16/539,282 US11361869B2 (en) | 2019-08-13 | 2019-08-13 | System and method enabling signals from replacement self-powered neutron detectors to be used to generate inputs to legacy software |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW202121437A TW202121437A (zh) | 2021-06-01 |
TWI757829B true TWI757829B (zh) | 2022-03-11 |
Family
ID=72266844
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW109127621A TWI757829B (zh) | 2019-08-13 | 2020-08-13 | 使來自替換自供電中子偵測器之訊號被使用以產生輸入至遺留軟體之系統及方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11361869B2 (zh) |
TW (1) | TWI757829B (zh) |
WO (1) | WO2021030603A1 (zh) |
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- 2019-08-13 US US16/539,282 patent/US11361869B2/en active Active
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- 2020-08-13 TW TW109127621A patent/TWI757829B/zh active
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---|---|
US20210050123A1 (en) | 2021-02-18 |
TW202121437A (zh) | 2021-06-01 |
US11361869B2 (en) | 2022-06-14 |
WO2021030603A1 (en) | 2021-02-18 |
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