TWI727631B - 用於片狀樣品側面之觀察的治具、及使用其協助片狀樣品側面之觀察的方法 - Google Patents

Abstract

一種用於片狀樣品側面之觀察的治具，包括一基座。該基座包括至少一定位部，各該定位部係供放置欲觀察之一片狀樣品，其中該基座包括一上表面，該至少一定位部橫跨該基座並自該上表面向下延伸，及用以固定對應之該片狀樣品之一側面位置。

Description

用於片狀樣品側面之觀察的治具、及使用其協助 片狀樣品側面之觀察的方法

本發明是關於一種治具、及使用其協助觀察的方法。本發明特別是關於一用於片狀樣品側面之觀察的治具、及使用其協助片狀樣品側面之觀察的方法。

隨著科技的進步，對於液晶顯示裝置所運用的各種片狀製品的要求亦高。然而，於片狀製品的生產過程中，卻容易因各種因素而產生瑕疵，進而降低顯示品質。因此，在片狀製品的生產中需進行缺陷檢測，以及早排除具有缺陷的片狀製品。

本發明提供一種治具、及使用其協助觀察的方法，特別適用於片狀製品的樣品檢驗。

在本發明的一方面，提供一種用於片狀樣品側面之觀察的治具，該治具包括一基座。該基座包括至少一定位部，各 該定位部係供放置欲觀察之一片狀樣品，其中該基座包括一上表面，該至少一定位部橫跨該基座並自該上表面向下延伸，及用以固定對應之該片狀樣品之一側面位置。此至少一定位部具有一延伸尺寸大於欲觀察之片狀樣品的一寬度。

在本發明的另一方面，提供一種使用治具協助片狀樣品側面之觀察的方法。該方法包括下列步驟。首先，提供根據本發明任何實施例之一治具。將欲觀察之至少一片狀樣品分別放置至治具之該至少一定位部中，及用以固定對應之該片狀樣品之一側面位置。然後，以一光學觀察裝置觀察放置在治具上之各該片狀樣品之該側面。

為了對本發明之上述及其他方面有更佳的瞭解，下文特舉實施方案和實施例，並配合所附圖式詳細說明如下：

10、20、30、40、50、60:治具

51:片狀樣品

52:側面

62:環型光源

64:固定件

66:長型光源

68、74:外延元件

72:電源組

82:放大鏡

84:顯微鏡

100、200、300、600:基座

102、302、602:上表面

104、304、604:定位部

106:定位部定義部分

108:第一側面

110:第二側面

112、126:穿孔

120:支撐單元

122:垂直件

124:水平件

440:深度定義元件

442:移動件

603:第二上表面

605:固定元件

A1、A2:箭頭

D、D’、D”:延伸尺寸

D₀:深度

H:高度

l、L:長度

S1:內部容置空間

S2:開放容置空間

S3:半開放容置空間

t:厚度

w、W:寬度

θ:傾斜角度

第1A~1F圖繪示根據本發明實施例之一例示性治具。

第2圖繪示根據本發明實施例之另一例示性治具。

第3圖繪示根據本發明實施例之又一例示性治具。

第4A~4B圖繪示根據本發明實施例之再一例示性治具。

第5圖繪示根據本發明實施例之再另一例示性治具。

第6圖繪示根據本發明實施例之治具的一例示性應用情況。

第7圖繪示根據本發明實施例之治具的另一例示性應用情況。

第8圖繪示根據本發明實施例之治具的又一例示性應用情況。

第9圖繪示根據本發明實施例之再又一例示性治具。

第10圖繪示根據本發明實施例之治具的再另一例示性應用情況。

第11圖繪示根據本發明實施例之治具的再又一例示性應用情況。

以下將配合所附圖式對於本發明進行詳細說明。可以明白的是，以下的說明及所附圖式只是作為列舉解釋用途，並非用於限制本發明。舉例來說，圖式中的元件可能並未依照實際比例加以繪製，且/或省略元件的部分細節。再舉例來說，方法中的步驟順序可能能夠互換。此外可以預期的是，一實施例中的元件、條件和特徵，能夠被有利地納入於另一實施例中，然而並未對此作進一步的列舉。

在一些情況下，對於片狀製品的檢驗包括觀察其側面，其中側面在本發明中意指片狀製品的切割端面。然而，片狀製品的厚度極薄，因此其側面實務上較難觀察。此外，還有在觀察時難以將欲觀察之片狀製品的側面保持在一固定位置的問題。當需要快速地檢驗片狀製品的側面，及/或需要檢驗大量的片狀製品的側面時，這些困難處會使得檢驗更難以進行，而降低生產效率。

為了解決上述問題，本發明的其中一方面是關於用於片狀樣品側面之觀察的治具。請參照第1A~1F圖，其繪示一例 示性之治具10，其中第1A圖為治具10在一角度的立體圖，第1B圖為治具10的俯視圖，第1C圖為治具10在一角度的側視圖，第1D圖為治具10在另一角度的側視圖，第1E圖為治具10的仰視圖，而第1F圖為治具10在另一角度的立體圖。

治具10包括一基座100。基座100包括一上表面102及至少一定位部104，各個定位部104係供放置欲觀察之一片狀樣品51(示於第1C、1D圖)。治具10的定位部104為縫隙。定位部104橫跨基座100並自上表面102向下延伸，及用以固定對應之該片狀樣品51之一側面52位置。

治具10包括垂直配置的複數縫隙作為定位部104，然而定位部104的數目與型態並不受限於此，可根據需求進行調整。舉例來說，請參照第2圖，另一例示性之治具20的基座200只具有一定位部104。再請參照第3圖，又一例示性之治具30的基座300的定位部304係為以一傾斜角度θ自上表面302向下延伸的縫隙。傾斜角度θ大於0°並小於90°，例如為45°。斜向配置的定位部304有利於斜向觀察片狀樣品51之側面52結構。可以理解的是，在存在複數定位部的情況下，可如圖式所示使得該些定位部具有統一的尺寸及方向，以利於統一觀察複數片狀樣品的情況，但在一些實施例中，單一治具中也可以同時包含不同尺寸，及/或方向的定位部。

請再次參照第1A~1F圖，根據一些實施例，如第1C圖所示，定位部104可具有一延伸尺寸D，在本實施例中係為縫隙 的深度，延伸尺寸D大於或等於欲觀察之片狀樣品51的一寬度w。在這種情況下，使用放大鏡之類的光學觀察裝置輔助觀察時，即使將光學觀察裝置直接放置在基座100上，也能夠避免光學觀察裝置碰觸到片狀樣品51。舉例來說，定位部104的延伸尺寸D和欲觀察之片狀樣品51的寬度w的差距可介於1毫米和2毫米之間，此一差距可基於光學觀察裝置的焦距來決定及調整。在此，延伸尺寸指的是定位部從上表面往正下方(在定位部垂直配置的情況)或斜下方(在定位部斜向配置的情況)延伸的長度，例如定位部104的延伸尺寸D為縫隙在垂直方向延伸的深度，第3圖敘及之實施例中的定位部304的延伸尺寸D’為縫隙在斜向方向延伸的深度，將在後續參照第9圖敘及之實施例中的定位部604的延伸尺寸D”為斜面在斜向方向延伸的深度。

另外，根據一些實施例，如第1D圖所示，定位部104可具有一長度L小於欲觀察之片狀樣品51的一長度l。這有利於在觀察前和觀察時調整片狀樣品51的位置，及在觀察後移出放置在定位部104中的片狀樣品51。根據一些實施例，定位部104可具有一寬度W介於10微米和1000微米之間，較佳為100微米和400微米之間。如第1C圖所示，定位部104的寬度W可實質上等於或略大於片狀樣品51的厚度t。

在一些實施例中，儘管作為定位部104的縫隙的延伸尺寸固定，但可藉由在治具配置額外的元件而調整片狀樣品51放置的深度。請參照第4A~4B圖，與治具10相比，再一例示性之 治具40更包括至少一深度定義元件440及一移動件442，例如一齒輪組(在第4B圖中為求圖面清楚省略齒輪結構)。深度定義元件440在垂直於定位部104之延伸方向上橫跨定位部104。移動件442連接深度定義元件440以允許控制深度定義元件440的上下移動及定位。具體來說，移動件442可有部分位於治具40之外界環境，而可藉由如箭頭A1所示旋轉移動件442曝露於外的部分，帶動深度定義元件440如箭頭A2所示上下移動。

請再次參照第1A~1F圖，根據一些實施例，基座100具有一定位部定義部分106、二第一側面108及二第二側面110。該二第一側面108彼此相對。該二第二側面110彼此相對並連接該二第一側面108。定位部定義部分106自上表面102向下延伸。如第1D圖所示，定位部定義部分106的一深度D₀可小於第一側面108及第二側面110的一高度H，且定位部定義部分106和第二側面110分離，以使得基座100形成如第1E、1F圖所示之一內部容置空間S1。如第4B圖所示，前述深度定義元件440即可位於內部容置空間S1中，而移動件442可至少部分地位於內部容置空間S1中。如第1F圖所示，在一些實施例中，該二第二側面110分別具有一穿孔112，穿孔112連通內部容置空間S1與治具40之外界環境。

根據一些實施例，治具10可更包括兩支撐單元120，兩支撐單元120連接基座100之上表面102並相對配置在基座100之定位部104的二側，以用於固定光源。各個支撐單元120 分別包括二垂直件122及一水平件124，該二垂直件122連接基座100之上表面102，該水平件124在基座100之上表面102上方懸空地連接該二垂直件122。但可以理解的是，本發明並不受限於此，例如第5圖所示之治具50即為一不包括支撐單元120的治具。

在一些實施例中，基座100的二個第一側面108分別鄰近各該支撐單元120之二垂直件122。在一些實施例中，基座100和二支撐單元120係一體成型。這有利於簡化製程及節省成本。在一體成型的情況下，如第1A圖所示，支撐單元120的垂直件122向外的表面可與基座100的第一側面108共平面，而垂直件122的側面可與基座100的第二側面110共平面。然而，支撐單元120與基座100的成形及連接方式並不受限於此。舉例來說，可形成「ㄇ」字形或「口」字形的支撐單元120，再將其接合至基座100。

如第1A~1F圖所示，治具10的該二支撐單元120之間形成一開放容置空間S2。此外，各該支撐單元120分別由二垂直件122及水平件124形成一半開放容置空間S3。在一些實施例中，各該垂直件122分別具有一穿孔126，穿孔126連通半開放容置空間S3與治具10之外界環境。

以下提供前述容置空間之應用情況的細節。請參照第6圖，在一些實施例中，治具10可更包括一環型光源62及至少一固定件64，環型光源62設置在開放容置空間S2，固定件64用以將環型光源62之二端分別固定至各該支撐單元120的水平件 124。固定件64例如可為第6圖所示之帶子，但不受限於此。舉例來說，環型光源62亦能透過卡合或黏貼的方式可拆地固定於該二支撐單元120上。在一些替代性或附加性的實施例中，開放容置空間S2用於容納一放大鏡，具體情況將在後續對於使用治具的方法的敘述中參照第10圖進行說明。

請參照第7圖，在一些實施例中，治具10可更包括二長型光源66，分別設置在各該支撐單元120形成的半開放容置空間S3，各該長型光源66分別具有二外延元件68，分別通過對應的各該穿孔126。外延元件68例如為第6圖所示之外延管或導線等等，但不受限於此。根據一些實施例，可藉由通過穿孔126之外延元件68旋轉長型光源66。

請參照第8圖，在一些實施例中，基座100形成的內部容置空間S1除了可容納前述的深度定義元件440及移動件442之外，也可用於容納一電源組72。電源組72具有二外延元件74，且基座100之穿孔112允許對應之外延元件74通過。電源組72可為提供環型光源62或長型光源66電力的電源。舉例來說，電源組72可為一行動電源或一電池盒，有利於在無法插電的地方作業。外延元件74例如為導線，但不受限於此。請再次參照第7圖，其示意性地繪示外延元件74為導線的情況下連接長型光源66的導線，以提供長型光源66電力的例子。

請參照第9圖，其示出另一種類型的治具60。治具60的定位部604為斜面。作為定位部604的斜面在垂直紙面的方向 橫跨基座600並自基座600的上表面602向下延伸。具體來說，治具60的基座600可包括一第二上表面603，其高度低於上表面602，而定位部604斜向連接上表面602和第二上表面603。定位部604用以固定片狀樣品(未繪示)之一側面位置。在一些實施例中，治具60可更包括一固定元件605，用以確保片狀樣品被保持在定位部604上。

以下敘述本發明的另一方面，是關於使用治具協助片狀樣品側面之觀察的方法。所觀察的片狀樣品可為片狀製品的半成品或最終產品的樣品，舉例來說，所觀察的片狀樣品包括單層或多層之光學膜片，例如為偏光片，但不受限於此。

本發明方法包括下列步驟。首先，提供一治具，該治具可為根據本發明任何實施例的治具。請再參照第1A~1F圖，在此以前述治具10為例，其包括一基座100及二支撐單元120，基座100具有一上表面102及至少一定位部104，定位部104橫跨基座100並自上表面102向下延伸，支撐單元120連接基座100之上表面102並相對配置在基座100之定位部104的二側，該二支撐單元120分別包括二垂直件122及一水平件124，該二垂直件122連接基座100之上表面102，水平件124在基座100之上表面102上方懸空地連接該二垂直件122。將欲觀察之至少一片狀樣品51分別放置至治具10之定位部104中，各該片狀樣品51之一側面52位置可被定位部104固定，然後，以一光學觀察裝置觀察放置在治具 10上之各該片狀樣品51之側面52。值得注意的是，上述及以下提供的步驟的順序可依照實際需求調換、反覆進行或作其他調整。

在一些實施例中，可將光源固定至治具10之該二支撐單元120，藉此以在光源照射片狀樣品51的情況下使用光學觀察裝置觀察片狀樣品51之側面52。舉例來說，請參照第6圖，所述方法可包括：使用一固定件(例如但不限於帶子64)將一環型光源62之二端分別固定至治具10之二支撐單元120。再舉例來說，請參照第7圖，所述方法可包括：將二長型光源66分別固定至治具10之二支撐單元120，以及使得長型光源66之複數外延元件68分別通過對應的穿孔126。此外，使用治具協助片狀樣品側面之觀察的方法還可包括藉由通過穿孔126之外延元件68旋轉二長型光源66。根據一些實施例，可分別旋轉二長型光源66，使其朝上、朝內、朝下或朝各種適合的角度。這有利於觀察片狀樣品51之側面52的細節。無論是使用環型光源62、長型光源66或其他適合的光源，可使得照度提高到至少為自然光的80倍~120倍，例如100倍，而有利於觀察片狀樣品51的側面52。在一些實施例中，光源可為LED光源，並在一些實施例中額外附加柔光罩，但不受限於此。

在一些實施例中，如第10圖所示，使用的光學觀察裝置為一放大鏡82。放大鏡82例如可為10倍的放大鏡或其他任何倍率適合的放大鏡。在這種情況下，以光學觀察裝置觀察放置在治具上之各該片狀樣品之側面的步驟包括：將放大鏡82放置至基座100之上表面102上並接觸上表面102，藉此進行觀察。在一些 實施例中，放大鏡82可搭配環型光源62使用，使環型光源62圍繞放大鏡82，如此一來，照度將提高到至少為自然光的100倍，而有利於觀察片狀樣品51的側面52。在另一些實施例中，如第11圖所示，使用的光學觀察裝置為一顯微鏡84。在這種情況下，以光學觀察裝置觀察放置在治具上之每一片狀樣品之側面的步驟包括：將放置有片狀樣品51之治具10置於顯微鏡84之物鏡下方，藉此進行觀察。

再請參照第4A~4B圖，在一些實施例中，提供的治具為前述治具40，其更包括至少一深度定義元件440及一移動件442，深度定義元件440在垂直於定位部104之延伸方向上橫跨定位部104，移動件442連接深度定義元件440以允許控制深度定義元件440的上下移動及定位。在這種情況下，使用治具協助片狀樣品側面之觀察的方法還可包括上下移動該至少一深度定義元件440、以及將深度定義元件440定位在使得欲觀察之片狀樣品51的側面52位於如第10及第11圖所示之光學觀察裝置82、84之焦點處。

綜上所述，使用本發明之治具，可在觀察片狀樣品時，輕易地將片狀樣品保持在所需位置，且片狀樣品可輕易地置入或移出治具。此外，可輔助使用光學觀察裝置並輕易地對焦觀察。在一些實施例中，也可輔助使用光源，而使用本發明之治具可輕易地將光源配置在適當的位置(如容納於所述開放容置空間或半開放容置空間)，甚至能控制光源照光的方向。根據一些實施 例，本發明之治具也提供容納電源組的空間，利於在無法插電的地方作業。

雖然本發明已以實施方案和實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動和潤飾。因此，本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

10:治具

100:基座

102:上表面

104:縫隙

108:第一側面

110:第二側面

112:穿孔

120:支撐單元

122:垂直件

124:水平件

126:穿孔

S2:開放容置空間

S3:半開放容置空間

Claims (13)

1. 一種用於片狀樣品側面之觀察的治具，包括：一基座，包括至少一定位部，各該定位部係供放置欲觀察之一片狀樣品，其中該基座包括一上表面，該至少一定位部橫跨該基座並自該上表面向下延伸，及用以固定對應之該片狀樣品之一側面位置；其中，該至少一定位部具有一延伸尺寸大於欲觀察之該片狀樣品的一寬度；其中，該治具更包括：二支撐單元，相對配置在該基座之該至少一定位部的二側，其中各該支撐單元包括二垂直件與一水平件，且由該二垂直件及該水平件形成一半開放容置空間；以及一光源，部分設置在各該支撐單元的該半開放容置空間。
2. 如申請專利範圍第1項所述之治具，其中該至少一定位部滿足至少一項選自下列(1)~(3)之結構特徵：(1)該至少一定位部具有一長度小於欲觀察之該片狀樣品的一長度；(2)該至少一定位部之該延伸尺寸和欲觀察之該片狀樣品的該寬度的差距介於1毫米和2毫米之間；及(3)該至少一定位部具有一寬度介於10微米和1000微米之間。
3. 如申請專利範圍第1項所述之治具，其中該至少一定位部係為斜面或縫隙。
4. 如申請專利範圍第1項所述之治具，其中該至少一定位部係為以一傾斜角度自該上表面向下延伸的縫隙。
5. 如申請專利範圍第1項所述之治具，其中該二支撐單元連接該基座之該上表面。
6. 如申請專利範圍第5項所述之治具，其中各該支撐單元的該二垂直件連接該基座之該上表面，且各該支撐單元的該水平件在該基座之該上表面上方懸空地連接該二垂直件。
7. 如申請專利範圍第6項所述之治具，其中該二支撐單元之間形成一開放容置空間；或各該垂直件分別具有一穿孔。
8. 如申請專利範圍第7項所述之治具，其中該光源為一環型光源，設置在該開放容置空間，且該治具更包括至少一固定件，用以將該環型光源之二端分別固定至各該支撐單元的該水平件。
9. 如申請專利範圍第7項所述之治具，其中該光源為二長型光源，分別設置在各該支撐單元形成的該半開放容置空間，各該長型光源分別具有二外延元件，分別通過對應的各該穿孔。
10. 如申請專利範圍第6項所述之治具，其中該至少一定位部係為縫隙，該基座具有一定位部定義部分、二第一側面及二第二側面，該二第一側面彼此相對並分別鄰近各該支撐單元之 該二垂直件，該二第二側面彼此相對並連接該二第一側面，該定位部定義部分自該上表面向下延伸，該定位部定義部分的一深度小於該二第一側面及該二第二側面的一高度且該定位部定義部分和該二第二側面分離，以使得該基座形成一內部容置空間。
11. 如申請專利範圍第10項所述之治具，更包括：至少一深度定義元件，位於該內部容置空間中並在垂直於該至少一定位部之延伸方向上橫跨該至少一定位部；以及一移動件，至少部分地位於該內部容置空間中，該移動件連接該至少一深度定義元件以允許控制該至少一深度定義元件的上下移動及定位。
12. 一種使用治具協助片狀樣品側面之觀察的方法，包括：提供如申請專利範圍第1~11項中任一項所述之治具；將欲觀察之至少一該片狀樣品分別放置至該治具之該至少一定位部中，使該片狀樣品之該側面被該定位部固定；以及以一光學觀察裝置觀察放置在該治具上之各該片狀樣品之該側面。
13. 如申請專利範圍第12項所述之方法，其中該光學觀察裝置為一放大鏡，且以該光學觀察裝置觀察放置在該治具上之各該片狀樣品之該側面包括將該放大鏡放置至該基座之該上表面上並接觸該上表面；或 其中該光學觀察裝置為一顯微鏡，且以該光學觀察裝置觀察放置在該治具上之各該片狀樣品之該側面包括將放置有各該片狀樣品之該治具置於該顯微鏡之物鏡下方。

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