TWI705292B - 判斷相機模組之組裝品質的方法 - Google Patents

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Abstract

本發明係提供一種判斷相機模組之組裝品質的方法，其係依據參考圖形之被攝特徵點的世界座標與受測相機模組之成像平面上相對應之圖像特徵點的圖像座標的相對關係而判斷受測相機模組是否處於正確拍攝位置以及正確拍攝姿態，再利用受測相機模組於正確拍攝位置以及正確拍攝姿態下對參考圖形拍攝而擷取的圖像獲得受測相機模組的組裝資訊。

Description

判斷相機模組之組裝品質的方法
本發明係涉及光學領域，尤其係關於一種判斷相機模組之組裝品質的方法。
近年來，隨著電子工業的演進以及工業技術的蓬勃發展，各種電子裝置設計及開發的走向逐漸朝輕便、易於攜帶的方向開發，以利使用者隨時隨地應用於行動商務、娛樂或休閒等用途。舉例來說，各式各樣的相機模組正廣泛應用於各種領域，例如智慧型手機、穿戴式電子裝置等可攜式電子裝置，其具有體積小且方便攜帶的優點，人們得以於有使用需求時隨時取出進行影像擷取並儲存，或進一步透過行動網路上傳至網際網路之中，不僅具有重要的商業價值，更讓一般大眾的日常生活增添色彩。
值得注意的是，相機模組的組裝品質是影響相機模組之成像好壞的重要因素，因此生產線上的產線人員於相機模組 出產前會對相機模組進行檢測動作，亦即使受測的相機模組對具有特定圖案的參考圖形(chart)進行拍攝，再對拍攝後所獲得的影像進行相關的影像分析而判斷相機模組的組裝品質，例如判斷相機模組的感測元件與鏡頭之間是否存在傾斜角(tilt)。
其中，受測的相機模組在對參考圖形進行拍攝前，要先確保相機模組是否處於正確的拍攝位置以及正確的拍攝姿態，例如確保相機模組與參考圖形之間是否具有正確的距離、相機模組是否平行於參考圖形。一般來說，現有的技術大都是經由跨焦量測法(through focus)、ISO12233解析度測試及/或計算空間頻率響應(Spatial Frequency Response,SFR)來進行。惟，在上述的作法中，每一個受測的相機模組皆可能要對參考圖形進行多次地拍攝才得以完成調校程序，顯然過於繁雜與冗長而亟待改善。
本發明之主要目的在提供一種判斷相機模組之組裝品質的方法，其係依據參考圖形之被攝特徵點的世界座標與受測相機模組之成像平面上相應之圖像特徵點的圖像座標的相對關係而判斷受測相機模組是否處於正確拍攝位置以及正確拍攝姿態，再利用受測相機模組處於正確拍攝位置以及正確拍攝姿態下對參考圖形拍攝而擷取的圖像獲得受測相機模組的組裝資訊。
於一較佳實施例中，本發明提供一種判斷相機模組之組裝品質的方法，包括：
提供一參考圖形；其中，該參考圖形具有複數被攝特徵點， 且每一該被攝特徵點具有以一世界座標系標示之一世界座標；
使一受測相機模組於一拍攝位置並以一拍攝姿態對該參考圖形進行拍攝而於該受測相機模組之一成像平面上形成一第一圖像；其中，該第一圖像中具有分別相應於該複數被攝特徵點之複數圖像特徵點，且每一該圖像特徵點具有以一成像平面座標系標示之一圖像座標；
依據至少一該被攝特徵點之該世界座標與其相對應之該圖像特徵點之該圖像座標的一相對關係是否符合一標準對應關係而判斷該受測相機模組之該拍攝位置以及該拍攝姿態是否分別為一正確拍攝位置以及一正確拍攝姿態；以及
使該受測相機模組於該正確拍攝位置並以該正確拍攝姿態對該參考圖形進行拍攝而獲得一第二圖像；其中，該第二圖像於經由一影像處理後被用來獲得該受測相機模組之一組裝資訊。
於一較佳實施例中，該標準對應關係滿足下列關係式：
q=K[R|T]Q；其中，q為以該成像平面座標系表示之該圖像座標，K為該受測相機模組之一內部參數矩陣，[R|T]為該受測相機模組之一外部參數矩陣，Q為以該世界座標系表示之該世界座標。
於一較佳實施例中，該內部參數矩陣K表示如下：
Figure 109104761-A0101-12-0003-1
 其中，f為該受測相機模組之焦距，u0與v0為以該成像平面座標系 標示之一圖像中心座標。
於一較佳實施例中，該外部參數矩陣[R|T]表示如下：
Figure 109104761-A0101-12-0004-2
 其中，R為一旋轉矩陣，T為平移矩陣。
於一較佳實施例中，該內部參數矩陣以及該外部參數矩陣係經由組裝品質合格之一標準相機模組分別於不同位置以及不同角度對該參考圖形進行拍攝後而獲得。
於一較佳實施例中，該參考圖形為一棋盤格圖形，且該複數被攝特徵點分別為棋盤格圖形中之複數角點。
於一較佳實施例中，該第二圖像經由該影像處理後被補償為未畸變之該第二圖像，且該未畸變之該第二圖像被用來與該參考圖形進形圖像差異分析以獲得該受測相機模組之該組裝資訊。
於一較佳實施例中，該第二圖像係經由一畸變係數組而被補償為未畸變之該第二圖像。
於一較佳實施例中，該畸變係數組包括一切向畸變係數組以及一徑向畸變係數組。該受測相機模組之一鏡頭以及一感測元件係經由一主動對準機台而相對準，且該組裝資訊被用來調整該主動對準機台。
1:參考圖形
2:受測相機模組
3:第一圖像
11:被攝特徵點
20:成像平面
21:感測元件
22:鏡頭
31:圖像特徵點
Q:世界座標
q:圖像座標
S1:步驟
S2:步驟
S3:步驟
S4:步驟
u:成像平面座標系的座標軸
v:成像平面座標系的座標軸
X:世界座標系的座標軸
Y:世界座標系的座標軸
Z:世界座標系的座標軸
圖1：係為本發明判斷相機模組之組裝品質的方法的一較佳流程方塊示意圖。
圖2：係為執行圖1所示方法的一較佳場景概念示意圖。
圖3：係為圖1所示方法中所採用之參考圖形的一較佳概念示意圖。
圖4：係為圖1所示方法中之世界座標投影轉換為圖像座標的一較佳概念示意圖。
本發明之實施例將藉由下文配合相關圖式進一步加以解說。盡可能的，於圖式與說明書中，相同標號係代表相同或相似構件。於圖式中，基於簡化與方便標示，形狀與厚度可能經過誇大表示。可以理解的是，未特別顯示於圖式中或描述於說明書中之元件，為所屬技術領域中具有通常技術者所知之形態。本領域之通常技術者可依據本發明之內容而進行多種之改變與修改。
請參閱圖1~圖4，圖1為本發明判斷相機模組之組裝品質的方法的一較佳流程方塊示意圖，圖2為執行圖1所示方法的一較佳場景概念示意圖，圖3為圖1所示方法中所採用之參考圖形的一較佳概念示意圖。圖4為圖1所示方法中之世界座標投影轉換為圖像座標的一較佳概念示意圖。首先，執行步驟S1，提供一參考圖形1，其中，參考圖形1具有複數被攝特徵點11(參 見圖3)。於本較佳實施例中，參考圖形1為棋盤格圖形，其如圖3所示，且該些被攝特徵點11分別為棋盤格圖形中的複數角點(為了清楚示意，圖3中僅標示其中兩個被攝特徵點)，亦即任二相鄰黑色方格的交叉點或任二相鄰白色方格的交叉點。此外，每一被攝特徵點11具有以一世界座標系(參見圖4，座標軸分別為X、Y、Z的座標系)標示的世界座標。
接著，執行步驟S2，使受測相機模組2於一拍攝位置並以一拍攝姿態對參考圖形1進行拍攝而於受測相機模組2的成像平面20上形成第一圖像3(參見圖4)。其中，第一圖像3中具有分別相應於參考圖形1之複數被攝特徵點11的複數圖像特徵點31(為了清楚示意，圖4中僅標示一個被攝特徵點11及與其相對應的圖像特徵點31)，且每一圖像特徵點31具有以一成像平面座標系(座標軸分別為u、v的座標系)標示的圖像座標。
又，執行步驟S3，依據至少一被攝特徵點11之世界座標與其相對應之圖像特徵點31的圖像座標的相對關係是否符合一標準對應關係而判斷受測相機模組2的拍攝位置以及拍攝姿態是否分別為正確拍攝位置以及正確拍攝姿態。換言之，當被攝特徵點11之世界座標與其相對應之圖像特徵點31的圖像座標的相對關係符合上述標準對應關係時，受測相機模組2的拍攝位置以及拍攝姿態分別被視為正確拍攝位置以及正確拍攝姿態。
進一步而言，以圖4所示為例，當受測相機模組2的拍攝位置以及拍攝姿態分別為正確拍攝位置以及正確拍攝姿態時，可確保受測相機模組2與參考圖形1之間具有正確的距離且受測相機模組2平行於參考圖形1。於一較佳實施例中，上述所提 的標準對應關係應滿足下列關係式：
q=K[R|T]Q；其中，q為以成像平面座標系表示之圖像特徵點31的圖像座標，K為受測相機模組2的內部參數矩陣，[R|T]為受測相機模組2的外部參數矩陣，Q為以世界座標系表示之被攝特徵點11的世界座標。
較佳者，內部參數矩陣K以及外部參數矩陣[R|T]可分別被表示如下：
Figure 109104761-A0101-12-0007-3
 其中，f為受測相機模組2的焦距，u0與v0為以成像平面座標系標示的圖像中心座標，而R與T分別為旋轉矩陣以及平移矩陣。於一較佳實施例中，內部參數矩陣K以及外部參數矩陣[R|T]係經由組裝品質合格的標準相機模組分別於不同位置以及不同角度對參考圖形進行數次拍攝並透過最大概似法(maximum likelihood estimation,MLE)估算後而獲得，而上述內部參數矩陣K以及外部參數矩陣[R|T]的獲得方式係為熟知本技藝人士所知悉，故在此即不再予以贅述。
最後，執行步驟S4，使受測相機模組2於正確拍攝位置並以正確拍攝姿態對參考圖形1進行拍攝而獲得第二圖像，其中，第二圖像於經由一影像處理後被用來獲得受測相機模組2的組裝資訊。於一較佳實施例中，上述所提影像處理係指利用一畸變係數組將畸變的第二圖像補償為未畸變的第二圖像的過程， 接著，未畸變的第二圖像再被用來與參考圖形1進形圖像差異分析，例如計算二相應特徵點之間的像素差異，進而獲得受測相機模組2的組裝資訊，例如獲得相機模組2的感測元件21與鏡頭22之間是否存在傾斜角(tilt)，而若判斷二者之間存在傾斜角，則可據以對用來使鏡頭22以及感測元件21相對準的主動對準(Active Alignment,AA)機台進行相應的調整。此外，上述提到的畸變係數組可包括切向畸變係數組以及徑向畸變係數組，而有關畸變係數組的獲得方式亦為熟知本技藝人士所知悉，故在此即不再予以贅述。
以上所述僅為本發明之較佳實施例，並非用以限定本發明之申請專利範圍，因此凡其它未脫離本發明所揭示之精神下所完成之等效改變或修飾，均應包含於本案之申請專利範圍內。
S1:步驟
S2:步驟
S3:步驟
S4:步驟

Claims (9)

  1. 一種判斷相機模組之組裝品質的方法，包括：提供一參考圖形；其中，該參考圖形具有複數被攝特徵點，且每一該被攝特徵點具有以一世界座標系標示之一世界座標；使一受測相機模組於一拍攝位置並以一拍攝姿態對該參考圖形進行拍攝而於該受測相機模組之一成像平面上形成一第一圖像；其中，該第一圖像中具有分別相應於該複數被攝特徵點之複數圖像特徵點，且每一該圖像特徵點具有以一成像平面座標系標示之一圖像座標；依據至少一該被攝特徵點之該世界座標與其相對應之該圖像特徵點之該圖像座標的一相對關係是否符合一標準對應關係而判斷該受測相機模組之該拍攝位置以及該拍攝姿態是否分別為一正確拍攝位置以及一正確拍攝姿態；以及使該受測相機模組於該正確拍攝位置並以該正確拍攝姿態對該參考圖形進行拍攝而獲得一第二圖像；其中，該第二圖像於經由一影像處理後被用來獲得該受測相機模組之一組裝資訊；其中該標準對應關係滿足下列關係式：q=K[R|T]Q；其中，q為以該成像平面座標系表示之該圖像座標，K為該受測相機模組之一內部參數矩陣，[R|T]為該受測相機模組之一外部參數矩陣，Q為以該世界座標系表示之該世界座標。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之判斷相機模組之組裝品質的方法，其中該內部參數矩陣K表示如下：
    Figure 109104761-A0305-02-0013-1
     其中，f為該受測相機模組之焦距，u0與v0為以該成像平面座標系標示之一圖像中心座標。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之判斷相機模組之組裝品質的方法，其中該外部參數矩陣[R|T]表示如下：
    Figure 109104761-A0305-02-0013-2
     其中，R為一旋轉矩陣，T為平移矩陣。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之判斷相機模組之組裝品質的方法，其中該內部參數矩陣以及該外部參數矩陣係經由組裝品質合格之一標準相機模組分別於不同位置以及不同角度對該參考圖形進行拍攝後而獲得。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之判斷相機模組之組裝品質的方法，其中該參考圖形為一棋盤格圖形，且該複數被攝特徵點分別為棋盤格圖形中之複數角點。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之判斷相機模組之組裝品質的方法，其中該第二圖像經由該影像處理後被補償為未畸變之該第二圖像，且該未畸變之該第二圖像被用來與該參考圖形進形圖像差異分析以獲得該受測相機模組之該組裝資訊。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之判斷相機模組之組裝品質的方法，其中該第二圖像係經由一畸變係數組而被補償為未畸變之該第二圖像。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之判斷相機模組之組裝品質的方法，其中該畸變係數組包括一切向畸變係數組以及一徑向畸變係數組。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之判斷相機模組之組裝品質的方法，其中該受測相機模組之一鏡頭以及一感測元件係經由一主動對準機台而相對準，且該組裝資訊被用來調整該主動對準機台。
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