TWI696580B - 微機電泵浦的製造方法 - Google Patents

Abstract

一種微機電泵浦的製造方法，包含以下步驟：提供第一基板，第一基板具有第一表面及第二表面；於第一基板上形成第一氧化層，並形成流入孔；對第一氧化層進行蝕刻，形成匯流腔室及匯流通道；提供第二基板，第二基板具有第三表面及第四表面；對第二基板的第三表面進行蝕刻，以形成穿孔；通過第二基板的穿孔進行蝕刻，以於第二基板內形成振動腔室；將第二基板結合至第一基板，第二基板的第三表面與第一氧化層貼合；並對第二基板的第四表面進行薄化，形成與第三表面相對之薄化表面；於薄化表面疊置壓電組件。

Description

微機電泵浦的製造方法

本案係關於一種微機電泵浦的製造方法，尤指一種透過半導體製程來製作微機電泵浦的製造方法。

目前於各領域中無論是醫藥、電腦科技、列印、能源等工業，產品均朝精緻化及微小化方向發展，其中微幫浦、噴霧器、噴墨頭、工業列印裝置等產品所包含之用以輸送流體的泵浦構為其關鍵元件，是以，如何藉創新結構突破其技術瓶頸，為發展之重要內容。

隨著科技的日新月異，流體輸送裝置的應用上亦愈來愈多元化，舉凡工業應用、生醫應用、醫療保健、電子散熱等等，甚至近來熱門的穿戴式裝置皆可見它的踨影，可見傳統的泵浦已漸漸有朝向裝置微小化、流量極大化的趨勢。

然而，目前微型化之泵浦雖然持續地改良使其微小化，但仍舊無法突破毫米等級進而將泵浦縮小到微米等級，因此如何將泵浦縮小到微米等級並且將其完成為本案所欲發明的主要課題。

本案之主要目的在於提供一種微機電泵浦的製造方法，用以製造一微米等級的微機電泵浦，來減少體積對於泵浦的限制。

為達上述目的，本案之較廣義實施態樣為提供一種微機電泵浦的製造方法，包含以下步驟： 步驟(S101)提供一第一基板，該第一基板具有相對之一第一表面及一第二表面； 步驟(S102)於該第一基板的該第一表面上形成一第一氧化層，以及形成自該第二表面至該第一表面呈漸縮之複數個流入孔； 步驟(S103)對該第一氧化層進行蝕刻，以形成一匯流腔室及複數個匯流通道，且該些匯流通道分別對應於該第一基板的該些流入孔； 步驟(S104)提供一第二基板，該第二基板具有相對之一第三表面及一第四表面； 步驟(S105)對該第二基板的該第三表面進行蝕刻，以於其中心形成一穿孔； 步驟(S106)通過該第二基板的該穿孔進行蝕刻，以於第二基板內形成一振動腔室； 步驟(S107)將該第二基板結合至該第一基板，該第二基板的第三表面與該第一氧化層貼合； 步驟(S108)並對該第二基板的該第四表面進行薄化，形成與該第三表面相對之一薄化表面；以及 步驟(S109)於該薄化表面疊置一壓電組件。

體現本案特徵與優點的實施例將在後段的說明中詳細敘述。應理解的是本案能夠在不同的態樣上具有各種的變化，其皆不脫離本案的範圍，且其中的說明及圖示在本質上當作說明之用，而非用以限制本案。

本案之微機電泵浦之製造方法其所製成之微機電泵浦100能夠應用於醫藥生技、能源、電腦科技或是列印等領域，用於導送流體並且增加或是控制流體的流速。請同時參閱第1A圖、第1B圖、第2A圖及第2B圖，第1A圖、第1B圖為本案之微機電泵浦100之製造方法的流程示意圖，第2A圖為微機電泵浦100的剖面示意圖，第2B圖為利用本案微機電泵浦100之製造方法所製造的微機電泵浦100的分解示意圖，本案之微機電泵浦100為透過微機電製程所完成，理應無法分解，為明確說明其結構，特意使用分解圖說明；本案之微機電泵浦100的製造方法包含以下步驟：步驟(S101) 提供一第一基板1，第一基板1具有相對之一第一表面11及一第二表面12；步驟(S102) 於第一基板1的第一表面11上形成一第一氧化層2，以及形成自第二表面12至第一表面11呈漸縮之複數個流入孔13；步驟(S103) 對第一氧化層2進行蝕刻，以形成一匯流腔室21及複數個匯流通道22，該些匯流通道22分別對應於第一基板1的該些流入孔13；步驟(S104) 提供一第二基板3，第二基板3具有一第三表面31與一第四表面32；步驟(S105) 對第二基板3的第三表面31進行蝕刻，以於其中心形成一穿孔33；步驟(S106) 通過該第二基板3的該穿孔33進行蝕刻，以於第二基板3內形成一振動腔室34；步驟(S107) 將第二基板3結合至第一基板1，第二基板3的第三表面31與第一氧化層2貼合；步驟(S108) 並對第二基板3的第四表面32進行薄化，形成與第三表面31相對之一薄化表面35；以及步驟(S109) 於薄化表面35疊置一壓電組件4。

首先如步驟(S101)所示，先提供第一基板1，將第一基板1透過如研磨、蝕刻、切割等方式將第一基板1具有第一表面11及第二表面12。

繼續執行步驟(S102)，於第一基板1的第一表面11上形成第一氧化層2，再對第二表面12進行蝕刻，來形成自第二表面12至第一表面11呈漸縮之該些流入孔13。

如步驟(S103)所示，對第一氧化層2進行蝕刻，並於第一氧化層2內形成一匯流腔室21及該些匯流通道22，匯流腔室21位於第一氧化層2的中央，該些匯流通道22的一端分別對應於第一基板1的該些流入孔13，並分別與該些流入孔13相連通，該些匯流通道22的另一端則連通至匯流腔室21。

如步驟(S104)所示，提供一第二基板3，第二基板3具有一第三表面31及第四表面32；再如步驟(S105)所示，對第二基板3的第三表面31進行蝕刻，於其中心形成一穿孔33；又如步驟(S106)，利用第二基板3的穿孔33於對第二基板3內部再次進行蝕刻，例如由穿孔33注入蝕刻液，利用蝕刻液對第二基板3內進行蝕刻製程，於第二基板3內部形成一振動腔室34，振動腔室34與穿孔33相連通。

請參考步驟(S107)，將第二基板3結合至第一基板1，且第二基板3的第三表面31與第一氧化層2貼合，此時，第二基板3的穿孔將會與第一氧化層2的匯流腔室21垂直對應；再如步驟(S108)並對第二基板3的第四表面32進行薄化，例如對第四表面32研磨，降低第二基板3的厚度來進行薄化動作，並形成與第三表面31相對之薄化表面35；又步驟(S109)，於薄化表面35疊置一壓電組件4。

最後於步驟(S110)對第二基板3的薄化表面35進行蝕刻，形成複數個流體通道36，該些流體通道36與振動腔室34相連通，即可完成微機電泵浦100。

請參考第4圖所示，本案微機電泵浦其製造方法的另一實施例示意圖，其差異在於步驟(S108)具有步驟(S108a)對該第二基板3的薄化表面35進行蝕刻，於形成該些流體通道36，該些流體通道36與振動腔室34相連通，即可完成微機電泵浦100。

此外，請參考第5A圖及第5B圖所示，步驟(S104)準備第二基板3，本案之第二基板3係一絕緣層上覆矽之矽晶片(SOI wafer)，包含有一矽材層3A、一第二氧化層3B、一矽晶片層3C，第二氧化層3B疊設矽晶片層3C上，矽材層3A疊設於第二氧化層3B上，其中，第二基板3的第三表面31為矽材層3A的表面，而上述之步驟(S105)對第二基板3的第三表面31進行蝕刻，即是對矽材層3A的表面(同第三表面31)對矽材料進行蝕刻，並於矽材層3A形成穿孔33，並於步驟(S106)通過第二基板3的穿孔33進行蝕刻，即為將會蝕刻氧化層但不會蝕刻矽材料的蝕刻液通過矽材層3A的穿孔33，對在矽材層3A與矽晶片層3C之間的第二氧化層3B進行蝕刻，以至於在第二氧化層3B形成振動腔室34，以及步驟(S108)為對矽晶片層3C進行如研磨的薄化作業，來形成薄化表面35，最後如步驟(S108a)或步驟(S110)對第二基板3的薄化表面35進行蝕刻，即對矽晶片層3C的薄化表面35進行蝕刻，來形成該些流體通道36。

呈上所述，請同時參考第3A圖及第3B圖，矽材層3A的穿孔33的周緣且對應到振動腔室34的垂直投影區域的為振動部31a，其他對應到第二氧化層3B的部分為固定部32a；以及矽晶片層3C通過蝕刻流體通道36後，將會定義出一致動部31c、複數個連接部32c及外周部33c，被流體通道36包圍的是致動部31c，位於流體通道36外圍的是外周部33c，位於流體通道36之間並且連接於致動部31c與外周部33c的係連接部32c。

請參考同時參考第3A圖及第6圖，前述步驟(S109)包含以下步驟：步驟(S109a)沉積一下電極層41；步驟(S109b)於下電極層41上沉積一壓電層42；步驟(S109c)於壓電層42之部分區域與下電極層41之部分區域沉積一絕緣層43；步驟(S109d)於絕緣層43上沉積一上電極層44，上電極層44之部分與壓電層42電性連接。

承上所述，請先參考步驟(S109a)，於第二基板3的第三表面31上利用濺鍍、蒸鍍等物理或化學氣相沉積來下電極層41，再如步驟(S109b)，於下電極層41上同樣利用蒸鍍或濺鍍等方式來將壓電層42沉積在其之上，且兩者透過接觸的區域做電性連接，此外壓電層42的寬度小於下電極層41的寬度，使得壓電層42無法完全遮蔽下電極層41；再進行步驟(S109c)，於壓電層42的部分區域以及下電極層41未被壓電層42遮蔽的區域來沉積絕緣層43；最後再進行步驟(S109d)，於壓電層42未沉積絕緣層43的區域及部分的絕緣層43上沉積一上電極層44，使上電極層44與該壓電層42電性連接外，透過絕緣層43阻隔於上電極層44與下電極層41之間，避免兩者電性連接而產生短路，其中，下電極層41與上電極層44可透過細間距銲線封裝技術來向外延伸導電接腳(未圖示)，用以接收外接驅動訊號及驅動電壓。

請繼續參閱第3A圖及第3B圖所示，經由本案的製造方法所製造出的微機電泵浦100的剖面示意圖，微機電泵浦100由設有第一氧化層2的第一基板1與具有矽材層3A、第二氧化層3B及矽晶片層3C的SOI wafer 第二基板3以層疊方式結合，於本實施例中，第一基板1上的流入孔13的數量為4個，但不以為限，4個流入孔13皆為呈現漸縮的圓錐形，當與第二基板3結合後，第一氧化層2與第二基板3相連，第一氧化層2的匯流通道22的位置及數量皆與第一基板1的流入孔13相互對應，因此於本實施例中，匯流通道22同樣也為4個，4個匯流通道22的一端分別連接4個流入孔13，而4個匯流通道22的另一端則連通於匯流腔室21，讓氣體分別由4個流入孔13進入後，得以通過其對應之匯流通道22並於匯流腔室21聚集，而第二基板3的穿孔33與匯流腔室21相通，供氣體通行，第二氧化層3B的振動腔室則分別與矽材層3A的穿孔33及第二基板3的流體通道36相通，致使流體得以由穿孔33進入振動腔室34後再由流體通道36排出。

請參考第3A圖及第7A圖至第7C圖，第7A圖至第7C圖為經由本案的製造方法所製造出的微機電泵浦其作動示意圖；請先參考第7A圖，當壓電組件4的下電極層41及上電極層44接收外部所傳遞之驅動電壓及驅動訊號(未圖示)後，將其傳導至壓電層42，壓電層42接受到驅動電壓及驅動訊號後因壓電效應的影響開始產生形變，其形變的變化量及頻率受控於驅動電壓及驅動訊號，當壓電層42開始受驅動電壓及驅動訊號開始產生形變後，會帶動第二基板3的矽晶片層3C之致動部31c開始位移，當壓電組件4帶動致動部31c向上位移拉開與第二氧化層3B之間的距離，此時，第二氧化層3B的振動腔室34的容積將提升，讓振動腔室34內形成負壓，用於將第一氧化層2的匯流腔室21內的氣體吸入其中；請繼續參閱第7B圖，當致動部31c受到壓電組件4的牽引向上位移時，第二基板3中矽材層3A的振動部31a會因共振原理的影響向上位移，當振動部31a向上位移時，會壓縮振動腔室34的空間並且推動振動腔室34內的流體往第流體通道36移動，讓流體能夠通過流體通道36向上排出，在振動部31a向上位移來壓縮振動腔室34的同時，匯流腔室21的容積因振動部31a位移而提升，使其內部形成負壓，將吸取微機電泵浦100外的流體由流入孔13進入其中，最後如第7C圖所示，壓電組件4帶動第二基板3中矽晶片層3C的致動部31c向下位移時，將振動腔室34的氣體推往流體通道36內，向外排出，而第二基板3的振動部31a亦受致動部31c的帶動向下位移，同步壓縮匯流腔室21的氣體通過穿孔33向振動腔室34移動，後續再將壓電組件4帶動致動部31c向上位移時，其振動腔室34的容積會大幅提升，進而有較高的汲取力將氣體吸入振動腔室34，再重複以上的動作，以至於透過壓電組件4持續帶動致動部31c上下位移且來連動振動部31a上下位移，來改變微機電泵浦100的內部壓力，使其不斷地汲取、排出氣體來完成泵浦的動作。

綜上所述，本案提供一微機電泵浦的製作方法，主要以半導體製程來完成微機電泵浦的結構，以進一步縮小泵浦得體積，使其更加地輕薄短小，達到奈米等級的大小，減少過往泵浦體積過大，無法達到微米等級尺寸的限制的問題，極具產業之利用價值，爰依法提出申請。

本案得由熟習此技術之人士任施匠思而為諸般修飾，然皆不脫如附申請專利範圍所欲保護者。

100:微機電泵浦 1:第一基板 11:第一表面 12:第二表面 13:流入孔 2:第一氧化層 21:匯流腔室 22:匯流通道 3:第二基板 31:第三表面 32:第四表面 33:穿孔 34:振動腔室 35:薄化表面 36:流體通道 3A:矽材層 31a:振動部 32a:固定部 3B:第二氧化層 3C:矽晶片層 31c:致動部 32c:連接部 33c:外周部 4:壓電組件 41:下電極層 42:壓電層 43:絕緣層 44:上電極層 S101~S109:微機電泵浦的製造方法步驟

第1A圖、第1B圖為本案之微機電泵浦之製造方法的流程示意圖。 第2A圖、第2B圖為本案之微機電泵浦之製造方法的剖面示意圖。 第3A圖為微機電泵浦之剖面示意圖。 第3B圖為微機電泵浦之分解示意圖。 第4圖為本案之微機電泵浦之另一製造方法的流程示意圖。 第5A圖、第5B圖為本案之微機電泵浦之第二基板的剖面示意圖。 第6圖為本案微機電泵浦之壓電組件的製造流程圖。 第7A圖至第7C圖為微機電泵浦之作動示意圖。

100:微機電泵浦

1:第一基板

11:第一表面

12:第二表面

13:流入孔

2:第一氧化層

21:匯流腔室

22:匯流通道

3:第二基板

31:第三表面

32:第四表面

33:穿孔

34:振動腔室

35:薄化表面

36:流體通道

4:壓電組件

Claims (9)

1. 一種微機電泵浦的製造方法，包含以下步驟：步驟(S101)提供一第一基板，該第一基板具有相對之一第一表面及一第二表面；步驟(S102)於該第一基板的該第一表面上形成一第一氧化層，以及形成自該第二表面至該第一表面呈漸縮之複數個流入孔；步驟(S103)對該第一氧化層進行蝕刻，以形成一匯流腔室及複數個匯流通道，該些匯流通道分別對應於該第一基板的該些流入孔；步驟(S104)提供一第二基板，該第二基板具有相對之一第三表面及一第四表面，且該第二基板包含一矽材層、一第二氧化層及一矽晶片層，該第二氧化層疊設於該矽晶片層，該矽材層疊設於該第二氧化層；步驟(S105)對該第二基板的該第三表面進行蝕刻，其中該第三表面為該矽材層之一表面，以於其中心形成一穿孔；步驟(S106)通過該矽材層的該穿孔對該第二氧化層蝕刻以形成一振動腔室；步驟(S107)將該第二基板結合至該第一基板，該第二基板的該第三表面與該第一氧化層貼合；步驟(S108)對該第二基板的該第四表面進行薄化，其中該第四表面為該矽晶片層之一表面，形成與該第三表面相對之一薄化表面；以及步驟(S109)於該薄化表面疊置一壓電組件。
2. 如申請專利範圍第1項所述之微機電泵浦的製造方法，步驟(S109)包含有以下步驟： 步驟(S109a)沉積一下電極層；步驟(S109b)於該下電極層上沉積一壓電層；步驟(S109c)於該壓電層之部分與該下電極之部分沉積一絕緣層；及步驟(S109d)於該壓電層未沉積該絕緣層的區域及部分的絕緣層上沉積一上電極層，該上電極層之部分與該壓電層電性連接。
3. 如申請專利範圍第1項所示之微機電泵浦的製造方法，其中該第二基板透過研磨製程進行薄化。
4. 如申請專利範圍第1項所述之微機電泵浦的製造方法，其中該第一基板係一矽晶片。
5. 如申請專利範圍第4項所述之微機電泵浦的製造方法，其中該第二基板係一絕緣層上覆矽之矽晶片(SOI wafer)。
6. 如申請專利範圍第1項所述之微機電泵浦的製造方法，包含以下步驟：步驟(S110)對該矽晶片層的該薄化表面進行蝕刻，於該矽晶片層形成複數個流體通道，該些流體通道與該振動腔室相連通。
7. 如申請專利範圍第1項所述之微機電泵浦的製造方法，其中該步驟(S108)包含步驟(S108a)對該矽晶片層的該薄化表面進行蝕刻，於該矽晶片層形成複數個流體通道，該些流體通道與該振動腔室相連通。
8. 如申請專利範圍第1項所述之微機電泵浦的製造方法，包含以下步驟：步驟(S110)對該第二基板的該薄化表面進行蝕刻，以形成複數個流體通道，該些流體通道與該振動腔室相連通。
9. 如申請專利範圍第1項所述之微機電泵浦的製造方法，其中該步驟(S108)包含步驟(S108a)對該第二基板的該薄化表面進行蝕刻，以形成複數個流體通道，該些流體通道與該振動腔室相連通。

Images