TWI707821B - 微型流體致動器 - Google Patents
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Abstract
一種微型流體致動器，包含基板、腔室層、承載層及壓電組件。基板，具有至少一進氣孔。腔室層形成於該基板上，並具有第一腔室、共振薄層及第二腔室。第一腔室連接至至少一進氣孔。共振薄層具有中心通孔，中心通孔連通於第一腔室與第二腔室之間。承載層形成於腔室層上，並具有固定區、振動區、至少一連接部及至少一通孔。固定區形成於腔室層上。振動區位於固定區中央，並與第二腔室對應。至少一連接部連接於固定區與振動區之間。至少一通孔形成於固定區、振動區及至少一連接部之間。壓電組件形成於振動區上。
Description
本案係關於一種微型流體致動器，尤指一種透過半導體製程製出的微型流體致動器。
目前於各領域中無論是醫藥、電腦科技、列印、能源等工業，產品均朝精緻化及微小化方向發展，其中微幫浦、噴霧器、噴墨頭、工業列印裝置等產品所包含之用以輸送流體的泵浦構為其關鍵元件，是以，如何藉創新結構突破其技術瓶頸，為發展之重要內容。
隨著科技的日新月異，流體輸送裝置的應用上亦愈來愈多元化，舉凡工業應用、生醫應用、醫療保健、電子散熱等等，甚至近來熱門的穿戴式裝置皆可見它的踨影，可見傳統的泵浦已漸漸有朝向裝置微小化、流量極大化的趨勢。
然而，目前微型流體致動器大多都使用多個晶片透過蝕刻製程後依序堆疊結合而成，但是微型泵體致動器其體積極小，其結合難度大、或是結合造成內部氣體流動的腔室位置錯位、深度產生誤差，都會使其功效大幅降低，甚至是被歸類為不良品，因此，如何產生一體成形的微型流體致動器，為本案所研發的主要課題。
本案之主要目的在於提供一種微型流體致動器，用以半導體製程所製造並輔以1P6M製程的微型流體致動器。
為達上述目的，本案之較廣義實施態樣為提供一種微型流體致動器，包含：一基板，具有至少一進氣孔；一腔室層，形成於該基板上，具有：一第一腔室，連接至該至少一進氣孔；一共振薄層，具有一中心通孔，該中心通孔連通於該第一腔室；以及一第二腔室，與該第一腔室對應，並通過該中心通孔與該第一腔室連通；一承載層，形成於該腔室層上，具有：一固定區，形成於該腔室層；一振動區，位於該固定區中央，並與該第二腔室對應；至少一連接部，連接於該固定區與該振動區之間；以及至少一通孔，位於該固定區、該振動區及該至少一連接部之間；以及一壓電組件，形成於該振動區。
100:微型流體致動器
1:基板
11:進氣孔
12:第一表面
13:第二表面
2:腔室層
21:第一腔室
22:共振薄層
221:中心通孔
23:第二腔室
24:絕緣層
25:多晶矽層
25a:第一多晶矽層
25b:第二多晶矽層
26:保護層結構
26a:第一保護層結構
26b:第二保護層結構
27:金屬層結構
3:乘載層
31:固定區
32:振動區
33:連接部
34:通孔
4:壓電組件
41:下電極層
42:壓電層
43:上電極層
5a:第一閥結構
5b:第二閥結構
51a:第一閥座
511a:第一閥孔
52a:第一閥片
521a:第一閥片體
522a:第一閥通孔
51b:第二閥座
511b:第二閥孔
52b:第二閥片
521b:第二閥片體
522b:第二閥通孔
61:第一乾膜
62:第二乾膜
第1圖為本案微型流體致動器之第一實施例示意圖。
第2圖為本案微型流體致動器之第二實施例示意圖。
第3圖為本案微型流體致動器之第三實施例示意圖。
第4圖為本案微型流體致動器之第四實施例示意圖。
第5圖為本案微型流體致動器結合閥結構示意圖。
第6A圖、第6B圖為本案微型流體致動器作動示意圖。
體現本案特徵與優點的一些典型實施例將在後段的說明中詳細敘述。應理解的是本案能夠在不同的態樣上具有各種的變化，其皆不脫離本案的範圍，且其中的說明及圖示在本質上當作說明之用，而非用以限制本案。
請參閱第1圖所示，本案之微型流體致動器100包含有一基板1、一腔室層2、一乘載層3及一壓電組件4，腔室層2形成於基板1上，乘載層3形成於腔室層2上，壓電組件4形成於乘載層3上。
基板1具有至少一進氣孔11、一第一表面12及一第二表面13，第一表面12與第二表面13為兩相對表面，進氣孔11自第一表面12貫穿至第二表面13。
腔室層2位於基板1的第一表面12，具有一第一腔室21、一共振薄層22及一第二腔室23。第一腔室21鄰接於基板1的第一表面12，並與基板1的進氣孔11相連通。共振薄層22位於第一腔室21與第二腔室之間，且具有一中心通孔221，中心通孔221與第一腔室21相連通。第二腔室23與第一腔室21相互對應，並透過共振薄層22的中心通孔221與第一腔室21連通。
乘載層3位於腔室層2上，具有一固定區31、振動區32、至少一連接部33及至少一通孔34。乘載層3透過固定區31固定於腔室層2上，振動區32位於固定區31的中央並與第二腔室23相互對應。連接部33連接於固定區31及振動區32之間，達到彈性支撐的效果。通孔34形成於固定區31、振動區32及連接部33之間，供流體通過。
壓電組件4形成於振動區32上，包含有一下電極層41、一壓電層42及一上電極層43，下電極層41形成於振動區32的表面上。壓電層42疊置於下電極層41的表面上。上電極層43疊置於壓電層42的表面上，以與壓電層42電性連接。
本案的微型流體致動器100之腔室層2內的第一腔室21及第二腔室23的容積將直接影響微型流體致動器100的效果，因此本案於製作腔室層2時，為了能夠精確的定義第一腔室21與第二腔室23的容積，除一般半
導體製程外，更透過其他結構與製程輔以完成。請繼續參閱第1圖所示，腔室層2具有一絕緣層24、一多晶矽層25、一保護層結構26及複數金屬層結構27，絕緣層24為形成於基板1的第一表面12，絕緣層24可為二氧化矽(SiO2)層，但不以此為限。多晶矽層25疊置絕緣層24上，保護層結構26與多個金屬層結構27形成於多晶矽層25上。本實施例輔以之製程如CMOS-MEMS之1P6M(One-Poly-Six-Metal)製程，透過1P6M製程將多個金屬層沉積於第一腔室21與第二腔室23的預設位置，以確立第一腔室21與第二腔室23的位置與大小，其餘地區皆用保護層結構26，之後再以蝕刻製程將位於第一腔室21與第二腔室23的金屬層移除，使第一腔室21與第二腔室23的位置及大小能夠精確定義，減少製程對於第一腔室21與第二腔室23所產生的誤差。
請繼續參閱第1圖，亦為本案之第一實施例，透過1P6M製程得以將第一腔室21與第二腔室23精確的形成於腔室層2內，其中共振薄層22可由保護層結構26所形成。
請參閱第2圖所示，本案之第二實施例，本實施例同樣輔以1P6M製程來製作腔室層2，與第一實施例的差異在於共振薄層22由保護層結構26包覆該些金屬層結構27之其中一層所形成。
請參閱第3圖所示，本案之第三實施例，同樣以1P6M製程來製作腔室層2，而本實施例為利用多晶矽層25來做為共振薄層22。
再如第4圖所示，本案之第四實施例，本實施例利用2P4M(two-Poly-four-Metal)製程來形成腔室層2，其中，該腔室層2包含一絕緣層24、一第一多晶矽層25a、一第一保護層結構26a、一第二多晶矽層25b、一第二保護層結構26b及複數金屬層結構27。絕緣層24形成於基板1上，第一多晶矽層25a形成於絕緣層24上，第一保護層結構
26a形成於該第一多晶矽層25a上，該第二多晶矽層25b形成於該第一保護層結構26a上，該第二保護層結構26b與該些金屬層結構27形成於該第二多晶矽層25b上，而共振薄層22由第一多晶矽層25a、第一保護層結構26a及該第二多晶矽層25b所形成。
上述之絕緣層24可為但不限為一二氧化矽層；保護層結構26、第一保護層結構26a及第二保護層結構26b可為但不限為一氧化層結構；乘載層3可為一二氧化矽層或一氮化矽層，但不以此為限。
請參閱第5圖所示，本案的微型流體致動器100更包含有一第一閥結構5a及一第二閥結構5b。第一閥結構5a通過一第一乾膜61固定於基板1的第二表面13。第二閥結構5b通過一第二乾膜62固定於乘載層3的固定區31。第一閥結構5a與包含有第一閥座51a及第一閥片52a，第二閥結構5b包含有第二閥座51b及第二閥片52b，第一閥座51a設有至少一第一閥孔511a，以及第二閥座51b設有至少一第二閥孔511b。其中第一閥結構5a之第一閥孔511a與基板1的進氣孔11對應設置，第二閥結構5b的第二閥孔511b與第二腔室23相連通。第一閥片52a、第二閥片52b分別設置於第一閥座51a、第二閥座51b上，且第一閥片52a具有第一閥片體521a及至少一第一閥通孔522a，第二閥片52b具有第二閥片體521b及至少一第二閥通孔522b。第一閥片體521a、第二閥片體521b分別對應封閉於第一閥孔511a、第二閥孔511b，第一閥通孔522a、第二閥通孔522b分別位於第一閥片體521a、第二閥片體521b周邊，並分別被第一閥座51a、第二閥座51b封閉。
上述之第一閥座51a及第二閥座51b可為矽基板、不鏽鋼或玻璃，第一閥片52a及第二閥片52b可為聚醯亞胺(PI，Polymide)膜。
請先參閱第6A圖，當上電極層43與下電極層41接收到驅動電壓後，將驅動電壓傳遞至壓電層42，壓電層42因壓電效應的影響產生形變，進而帶動振動區32上下移動，當壓電層42帶動振動區32向上移動時，會帶動共振薄板22向上移動，同時第一腔室21的容積提升，內部壓力下降，將由進氣孔11汲取氣體，而由進氣孔11吸取氣體時，由於進氣孔11的氣壓低於微型流體致動器100外的氣壓，故外部氣體會將第一閥結構5a的第一閥片體521a向上推動，使第一閥片體521a離開對應之第一閥孔511a，氣體開始由第一閥孔511a進入，並通過第一閥通孔522a流入進氣孔11。
請再參閱第6B圖所示，當壓電層42帶動振動區32向下移動時，同步帶動共振薄層22向下移動，此時，將推擠第二腔室23的氣體朝通孔34移動，此時，第二閥結構5b的第二閥片體521b將被向上推動，開啟第二閥結構5b的第二閥孔511b，氣體將通過第二閥結構5b的第二閥孔511b及第二閥通孔522b向外輸送。持續以上步驟，驅動壓電層42使振動區32上下移動，改變第一腔室21與第二腔室23的氣壓，來完成輸送氣體的動作。
綜上所述，本案提供一微型流體致動器，於半導體製程中輔以1P6M或2P4M等製程，精確形成第一腔室與第二腔室，可減少於製程中的第一腔室與第二腔室的位置、深度所產生的誤差，且能夠無須壓合等組結合製程，來避免因第一腔室與第二腔室因其深度誤差導致功效降低的問題，極具產業之利用價值，爰依法提出申請。
本案得由熟習此技術之人士任施匠思而為諸般修飾，然皆不脫如附申請專利範圍所欲保護者。
100:微型流體致動器
1:基板
11:進氣孔
12:第一表面
13:第二表面
2:腔室層
21:第一腔室
22:共振薄層
221:中心通孔
23:第二腔室
24:絕緣層
25:多晶矽層
26:保護層結構
27:金屬層結構
3:乘載層
31:固定區
32:振動區
33:連接部
34:通孔
4:壓電組件
41:下電極層
42:壓電層
43:上電極層
Claims (10)
- 一種微型流體致動器，包含：一基板，具有至少一進氣孔；一腔室層，形成於該基板上，其中該腔室層包含由至少一保護層結構及複數金屬層結構所形成，具有：一第一腔室，連接至該至少一進氣孔；一共振薄層，具有一中心通孔，該中心通孔連通於該第一腔室；以及一第二腔室，與該第一腔室對應，並通過該中心通孔與該第一腔室連通；一承載層，形成於該腔室層上，具有：一固定區，形成於該腔室層；一振動區，位於該固定區中央，並與該第二腔室對應；至少一連接部，連接於該固定區與該振動區之間；以及至少一通孔，形成於該固定區、該振動區及該至少一連接部之間；以及一壓電組件，形成於該振動區。
- 如申請專利範圍第1項所述之微型流體致動器，其中該腔室層包含一絕緣層、至少一多晶矽層，該絕緣層形成於該基板上，該至少一多晶矽層形成於該絕緣層上，該至少一保護層結構與該些金屬層結構形成於該至少一多晶矽層上。
- 如申請專利範圍第2項所述之微型流體致動器，其中該共振薄層由該至少一多晶矽層所形成。
- 如申請專利範圍第1或2項中任一項所述之微型流體致動器，其中該共振薄層由該至少一保護層結構形成。
- 如申請專利範圍第1或2項中任一項所述之微型流體致動器，其中該共振薄層由該至少一保護層結構與該些金屬層結構其中之一形成。
- 如申請專利範圍第1項所述之微型流體致動器，其中該至少一該保護層結構包含一第一保護層結構及一第二保護層結構，該至少一該多晶矽層包含一第一多晶矽層及一第二多晶矽層，該第一多晶矽層形成於該絕緣層上，該第一保護層結構形成於該第一多晶矽層上，該第二多晶矽層形成於該第一保護層結構上，該第二保護層結構與該些金屬層形成於該第二多晶矽層上。
- 如申請專利範圍第6項所述之微型流體致動器，其中該共振薄層由該第一多晶矽層、該第一保護層結構及該第二多晶矽層所形成。
- 如申請專利範圍第1項所述之微型流體致動器，其中該壓電組件更包含了：一下電極層；一壓電層，疊置於該下電極層；以及一上電極層，疊置於該壓電層，與該壓電層電性連接。
- 如申請專利範圍第1項所述之微型流體致動器，更包含一第一閥結構，該第一閥結構通過一第一乾膜固定於該基板。
- 如申請專利範圍第1項所述之微型流體致動器，更包含一第二閥結構，該第二閥結構通過一第二乾膜固定於該固定區。
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