TWI690746B

TWI690746B - 顯示裝置及其操作方法

Info

Publication number: TWI690746B
Application number: TW107144886A
Authority: TW
Inventors: 徐明震; 謝祥圓; 盧敏曜; 莊錦棠
Original assignee: 友達光電股份有限公司
Priority date: 2018-12-12
Filing date: 2018-12-12
Publication date: 2020-04-11
Also published as: US11138933B2; US20200193902A1; CN110288940B; US20210383757A1; TW202022440A; CN110288940A; US11482172B2

Abstract

顯示裝置及其操作方法。顯示裝置包括第一發光二極體、第一開關、第二開關、第二發光二極體、第三開關以及第一控制器。第一開關的第一端接收第一電氣信號。第二開關的第一端接收第二電氣信號。第三開關的第一端接收第三電氣信號，其中第一開關、第二開關以及第三開關的導通或斷開，依據第一發光二極體以及第二發光二極體有無發生損壞來決定。第一控制器用以偵測第一發光二極體以及第二發光二極體有無發生損壞，產生第二電氣信號以及第三電氣信號，並產生控制第一開關至第三開關的多個控制信號。

Description

顯示裝置及其操作方法

本發明是有關於一種顯示裝置及其操作方法，且特別是有關於一種可自動檢測補償畫素暗點以使顯示影像亮度均勻的顯示裝置及其操作方法。

現今以微型積體電路驅動微型發光二極體（light emitting diode, LED）顯示裝置的架構，在單一時間內只能驅動單一畫素，限制了單一畫素可發光的時間，並可能產生亮度或是灰階階數不足的狀況，且微型LED的可驅動數目會受限於微型積體電路的尺寸而需增加微型積體電路顆數。除此之外，現今常用的微型積體電路驅動微型LED顯示裝置的走線方式複雜，會造成接腳數量上的限制，並且是將閘極與源極驅動電路均設置在外部，進而導致應用在面板拼接的效果較差。

因此，現今顯示裝置的技術在顯示影像品質提升上會針對均勻度與畫素暗點的判斷及修復補償來做相關的應用與研究，而如何能夠兼顧顯示影像亮度均勻度以及畫素暗點偵測修復補償則成為一個重要的課題。

本發明提供一種顯示裝置及其操作方法，其可自動檢測補償畫素暗點以使顯示影像亮度均勻。

本發明的顯示裝置包括第一發光二極體、第一開關、第二開關、第二發光二極體、第三開關以及第一控制器。第一開關的第一端接收第一電氣信號，其第二端耦接至第一發光二極體的陽極。第二開關的第一端接收第二電氣信號，其第二端耦接至第一發光二極體的陰極。第二發光二極體的陽極耦接至第一發光二極體的陰極。第三開關的第一端接收第三電氣信號，其第二端耦接至第二發光二極體的陰極，其中第一開關、第二開關以及第三開關的導通或斷開，依據第一發光二極體以及第二發光二極體有無發生損壞來決定。第一控制器用以偵測第一發光二極體以及第二發光二極體有無發生損壞，產生第二電氣信號以及第三電氣信號，並產生控制第一開關至第三開關的多個控制信號。

本發明的顯示裝置包括第一發光二極體、第一開關、第二開關、第二發光二極體、第三開關、第四開關以及第一控制器。第一開關的第一端接收第一電氣信號，其第二端耦接至第一發光二極體的陽極。第二開關的第一端接收第二電氣信號，其第二端耦接至第一發光二極體的陽極。第二發光二極體的陽極耦接至第一發光二極體的陽極。第三開關的第一端接收第三電氣信號，其第二端耦接至第一發光二極體的陰極。第四開關的第一端接收第三電氣信號，其第二端耦接至第二發光二極體的陰極，其中第一開關、第二開關、第三開關以及第四開關的導通或斷開，依據第一發光二極體以及第二發光二極體有無發生損壞來決定。第一控制器用以偵測第一發光二極體以及第二發光二極體有無發生損壞，產生第二電氣信號以及第三電氣信號，並產生控制第一開關至第四開關的多個控制信號。

本發明的顯示裝置的操作方法包括：在一檢測時間區間，提供一檢測信號至相互耦接的一第一發光二極體以及一第二發光二極體，並依據偵測第一發光二極體與第二發光二極體相互耦接點上的電壓，以判斷第一發光二極體以及第二發光二極體的一損壞狀態；依據判斷損壞狀態以設定一第一電氣信號、一第二電氣信號以及一第三電氣信號其中之二選中電氣信號，並使二選中電氣信號以分別被施加於未損壞的發光二極體的兩端；以及依據損壞狀態以調整二選中電氣信號的其中之一的信號強度。

基於上述，本發明的顯示裝置透過第一控制器來控制多個開關，以偵測第一發光二極體及第二發光二極體有無發生損壞（即偵測有無因發光二極體損壞而產生畫素暗點），並依據第一發光二極體及第二發光二極體的損壞狀態提供多個控制信號、第二電氣信號以及第三電氣信號至多個開關，以對畫素暗點進行補償，藉此達到自動檢測及補償畫素暗點之目的，並能使顯示影像亮度均勻。

為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

在附圖中，為了清楚起見，放大了層、膜、面板、區域等的厚度。在整個說明書中，相同的附圖標記表示相同的元件。應當理解，當諸如層、膜、區域或基板的元件被稱為在另一元件”上”或”連接到”另一元件時，其可以直接在另一元件上或與另一元件連接，或者中間元件可以也存在。相反，當元件被稱為”直接在另一元件上”或”直接連接到”另一元件時，不存在中間元件。如本文所使用的，”連接”可以指物理及/或電性連接。再者，”電性連接”或”耦合”係可為二元件間存在其它元件。

請參照圖1，圖1繪示本發明一實施例的顯示裝置的電路方塊示意圖。顯示裝置100包括發光二極體LED1~LED2、開關S1~S3以及控制器110。開關S1的第一端接收電氣信號ECP1，開關S1的第二端耦接至發光二極體LED1的陽極。開關S2的第一端接收電氣信號ECP2，開關S2的第二端耦接至發光二極體LED1的陰極。發光二極體LED2的陽極耦接至發光二極體LED1的陰極。開關S3的第一端接收電氣信號ECP3，開關S3的第二端耦接至發光二極體LED2的陰極，其中開關S1~S3的導通或斷開會依據發光二極體LED1及發光二極體LED2有無發生損壞來決定。

另一方面，控制器110用以偵測發光二極體LED1及發光二極體LED2有無發生損壞，並會產生電氣信號ECP2以及電氣信號ECP3，以及產生控制開關S1~S3的多個控制信號（例如是控制信號U1~U3）。詳細來說明，本實施例的顯示裝置100中的控制器110可提供為致能電壓準位的控制信號U1~U3，使開關S1~S3被導通，以依據發光二極體LED1的陰極上的電壓，偵測發光二極體LED1及發光二極體LED2的損壞狀態，並依據發光二極體LED1、LED2的損壞狀態來分別提供控制信號U1~U3至開關S1~S3，以對應發光二極體LED1、LED2不同的損壞狀態將開關S1~S3導通或斷開來執行畫素暗點的補償操作。換句話說，本發明可將發光二極體LED1~LED2、開關S1~S3視為一組畫素電路，並以控制器110來偵測畫素電路，藉此來判斷畫素電路是否因發光二極體LED1及發光二極體LED2發生損壞產生畫素暗點，需要執行畫素的補償操作。

進一步來說明，請同步參照圖1及圖2A~2D，圖2A~2D繪示本發明圖1實施例的顯示裝置在發光二極體不同損壞狀態時的電路動作示意圖。在本實施例中，顯示裝置100的開關S1~S3可例如是採用P型電晶體或N型電晶體來實施，本發明在此以P型電晶體來實施（即電晶體T1~T3）以作為示範性實施例，然本發明並不以此為限。另一方面，在本實施例中，電氣信號ECP1可例如是系統電壓OVDD，然本發明同樣並不以此為限。首先，在一檢測時間區間中，控制器110會提供為致能電壓準位的控制信號U1~U3來使開關S1~S3被導通，並依據發光二極體LED1的陰極上的電壓來判斷發光二極體LED1及發光二極體LED2有無發生損壞。

舉例來說，當控制器110偵測到發光二極體LED1的陰極上的電壓為系統電壓OVDD減去發光二極體LED1的導通電壓時，則表示此時發光二極體LED1、LED2均為正常狀態（即並未發生損壞的狀態）；當控制器110偵測到發光二極體LED1的陰極上的電壓為系統電壓OVDD時，則表示此時發光二極體LED1可能為損壞狀態、而發光二極體LED2則為正常狀態；而當控制器110偵測到發光二極體LED1的陰極上的電壓為零時，則表示此時發光二極體LED2可能為損壞狀態、而發光二極體LED1則為正常狀態，其中損壞狀態可例如是發光二極體因損壞而變成開路（或短路）的狀態。據此，本發明可透過控制器110來自動對發光二極體LED1的陰極上的電壓進行即時偵測，以在發光二極體LED1及發光二極體LED2發生損壞時能達到自動檢測之目的，並執行畫素暗點補償操作。

接著，詳細來說明顯示裝置100在發光二極體不同損壞狀態時的電路動作。請先同步參照圖1及圖2A，圖2A繪示本發明圖1實施例的顯示裝置在發光二極體LED1及發光二極體LED2均無損壞時的電路動作。當控制器110判斷此時發光二極體LED1、LED2均為正常狀態時，電晶體T1會依據為致能電壓準位的控制信號U1而被導通，並且電晶體T3依據為致能電壓準位的控制信號U3被導通，而電晶體T2則依據為禁能電壓準位的控制信號U2被斷開。與此同時，控制器110會提供電氣信號ECP3至電晶體T3的第一端，以產生驅動電流Idr1來驅動發光二極體LED1、LED2，其中電氣信號ECP3為汲電流SOU1，且汲電流SOU1的一端耦接至電晶體T3的第一端，另一端則耦接至參考接地電壓GND。換句話說，此時控制器110會藉由提供汲電流SOU1來產生驅動電流Idr1，以使驅動電流Idr1同時導通發光二極體LED1、LED2，以驅動發光二極體LED1、LED2，使發光二極體LED1、LED2具有實質上相同的亮度，藉此來達到使顯示影像亮度均勻之功效。

另一方面，請同步參照圖1及圖2B，圖2B繪示本發明圖1實施例的顯示裝置在發光二極體LED1為損壞狀態時的電路動作。當控制器110判斷發光二極體LED1為損壞狀態，而發光二極體LED2為正常狀態時，電晶體T1會依據為禁能電壓準位的控制信號U1而被斷開，而電晶體T3依據為致能電壓準位的控制信號U3被導通，電晶體T2依據為致能電壓準位的控制信號U2被導通。與此同時，控制器110會提供電氣信號ECP3至電晶體T3的第一端，並且提供電氣信號ECP2至電晶體T2的第一端，以產生驅動電流Idr2來驅動發光二極體LED2。而此時的電氣信號ECP2為系統電壓OVDD，並且電氣信號ECP3為汲電流SOU2，汲電流SOU2的一端耦接至電晶體T3的第一端，另一端耦接至參考接地電壓GND。

也就是說，此時控制器110會藉由提供系統電壓OVDD與汲電流SOU2的方式來產生驅動電流Idr2，以使驅動電流Idr2導通發光二極體LED2，便能使電晶體T2、發光二極體LED2、電晶體T3來與控制器110來形成迴路，以使發光二極體LED2執行畫素暗點補償操作。值得注意的是，驅動電流Idr2會大於驅動電流Idr1（即發光二極體LED1、LED2均無損壞時的驅動電流），藉此使發光二極體LED2具有原先N倍的亮度，其中N為一實數。

亦即在本實施例中，當控制器110判斷發光二極體LED1損壞時，會藉由提供一相對較大的驅動電流Idr2來驅動發光二極體LED2，以使發光二極體LED2的亮度相較於發光二極體LED1、LED2均無損壞時來的大，例如，當發光二極體LED1、LED2均無損壞時，可藉由驅動電流Idr1來驅動發光二極體LED1、LED2，以使發光二極體LED1、LED2的亮度分別是第一亮度（例如是單一畫素50%的亮度）及第二亮度（例如是單一畫素50%的亮度），則由發光二極體LED1、LED2所形成的畫素亮度則會是單一畫素100%的亮度。而當控制器110判斷發光二極體LED1為損壞狀態，則會透過電流值較大的驅動電流Idr2來驅動發光二極體LED2，以使發光二極體LED2具有較高的發光亮度（例如是單一畫素100%的亮度）。如此一來，當發光二極體LED1損壞時（亦即此時發光二極體LED1為一畫素暗點），本發明便可藉由使發光二極體LED2具有較高發光亮度的方式，來補償畫素暗點的亮度，藉此使顯示裝置100能維持原先的亮度（即單一畫素100%的亮度），進而達到自動檢測畫素暗點並進行亮度補償，以使顯示影像亮度均勻之目的。

值得一提的是，當控制器110判斷發光二極體LED1為損壞狀態時，本發明另有提到以源電流來驅動發光二極體LED2的畫素補償方式。詳細來說明，在此請同步參照圖1及圖2C，圖2C繪示本發明圖1實施例的顯示裝置在發光二極體LED1為損壞狀態時的另一實施方式的電路動作。當控制器110判斷發光二極體LED1為損壞狀態，而發光二極體LED2為正常狀態時，電晶體T1會依據為禁能電壓準位的控制信號U1而被斷開，而電晶體T3依據為致能電壓準位的控制信號U3被導通，電晶體T2依據為致能電壓準位的控制信號U2被導通。在此同時，控制器110會提供電氣信號ECP3至電晶體T3的第一端，並且提供電氣信號ECP2至電晶體T2的第一端，以產生驅動電流Idr3來驅動發光二極體LED2。值得注意的是，此時的電氣信號ECP3為參考接地電壓GND，而電氣信號ECP2則為一源電流SOU3，源電流SOU3的一端耦接至電晶體T2的第一端，另一端則耦接至系統電壓OVDD。

亦即此時控制器110會藉由提供系統電壓OVDD與源電流SOU3來產生驅動電流Idr3，並使驅動電流Idr3導通發光二極體LED2，以經由電晶體T2、發光二極體LED2、電晶體T3來與控制器110來形成迴路。值得注意的是，驅動電流Idr3同樣會大於驅動電流Idr1，藉此使發光二極體LED2具有原先N倍的亮度，執行畫素暗點補償操作。

接著，請同步參照圖1及圖2D，圖2D繪示本發明圖1實施例的顯示裝置在發光二極體LED2為損壞狀態時的電路動作。當控制器110判斷發光二極體LED2為損壞狀態，而發光二極體LED1為正常狀態時，電晶體T3依據為禁能電壓準位的控制信號U3而被斷開，而電晶體T1依據為致能電壓準位的控制信號U1被導通，電晶體T2依據為致能電壓準位的控制信號U2被導通。此時，控制器110會提供電氣信號ECP2至電晶體T2的第一端，以產生驅動電流Idr4來驅動發光二極體LED1。值得一提的是，此時的電氣信號ECP2為汲電流SOU4，汲電流SOU4的一端耦接至電晶體T2的第一端，另一端耦接至參考接地電壓GND。

也就是說，此時控制器110會提供汲電流SOU2，以與電氣信號ECP1（即系統電壓OVDD）產生驅動電流Idr4，並藉由驅動電流Idr4來導通發光二極體LED1，以經由電晶體T1、發光二極體LED1、電晶體T2來與控制器110來形成電流路徑，以使發光二極體LED1執行畫素暗點補償操作。值得注意的是，驅動電流Idr4同樣會大於驅動電流Idr1，藉此使發光二極體LED1具有原先N倍的亮度，其中N為一實數。

請參照圖3A，圖3A繪示本發明另一實施例的顯示裝置的電路方塊示意圖。本實施例的顯示裝置300包括發光二極體LED31~LED36、電晶體T31~T40以及控制器310，與前述圖1實施例不同的地方在於，顯示裝置300可分別對多組的畫素電路（例如是畫素電路PC1、PC2、PC3）進行自動檢測及畫素暗點補償操作。換句話說，本實施例的控制器310可分別耦接多組由發光二極體及開關組成的畫素電路（即畫素電路PC1、PC2、PC3），需要注意的是，為簡化說明，本發明在此僅繪示三組畫素電路PC1~PC3，以作為示範性實施例，然本發明實際上並不限制本發明畫素電路的數量。

詳細來說明，電晶體T31的第一端經由電晶體T40接收是系統電壓OVDD（例如是圖1實施例的電氣信號ECP1），電晶體T31的第二端耦接至發光二極體LED31的陽極。電晶體T32的第一端接收電氣信號ECP21，電晶體T32的第二端耦接至發光二極體LED31的陰極。發光二極體LED32的陽極耦接至發光二極體LED31的陰極。電晶體T33的第一端接收電氣信號ECP31，電晶體T33的第二端耦接至發光二極體LED32的陰極，其中電晶體T31~T33的導通或斷開會依據發光二極體LED31及發光二極體LED32有無發生損壞來決定。

電晶體T34的第一端經由電晶體T40接收系統電壓OVDD，電晶體T34的第二端耦接至發光二極體LED33的陽極。電晶體T35的第一端接收電氣信號ECP22，電晶體T35的第二端耦接至發光二極體LED33的陰極。發光二極體LED34的陽極耦接至發光二極體LED33的陰極。電晶體T36的第一端接收電氣信號ECP32，電晶體T36的第二端耦接至發光二極體LED34的陰極，其中電晶體T34~T36的導通或斷開會依據發光二極體LED33及發光二極體LED34有無發生損壞來決定。電晶體T37的第一端經由電晶體T40來接收系統電壓OVDD，電晶體T37的第二端耦接至發光二極體LED35的陽極。電晶體T38的第一端接收電氣信號ECP23，電晶體T38的第二端耦接至發光二極體LED35的陰極。發光二極體LED36的陽極耦接至發光二極體LED35的陰極。電晶體T39的第一端接收電氣信號ECP33，電晶體T39的第二端耦接至發光二極體LED36的陰極，其中電晶體T37~T39的導通或斷開會依據發光二極體LED35及發光二極體LED36有無發生損壞來決定。電晶體T40的第一端接收系統電壓OVDD，電晶體T40的第二端耦接至電晶體T31、T34、T37，電晶體T40的控制端則接收控制器110所提供的控制信號GP_U，其中電晶體T40依據控制信號GP_U被導通，以傳輸系統電壓OVDD。附帶一提的，控制信號U31~U39以及控制信號GP_U可例如是脈波寬度調變（PWM）信號，然本發明並不加以限制。

接著，請同步參照圖3A及圖3B，圖3B繪示本發明圖3A實施例的顯示裝置的控制信號波形示意圖。在本實施例中，控制器310同樣會對多組畫素電路中的發光二極體（即發光二極體LED31~ LED36）進行自動偵測操作，以判斷各發光二極體是否發生損壞。詳細來說明，在檢測時間區間TA中，系統電壓OVDD為高電壓準位，而控制信號GP_U則為致能電壓準位，以使電晶體T40被導通來傳輸系統電壓OVDD。首先，控制器310會對畫素電路PC1中的發光二極體LED31、LED32進行偵測，控制器310分別提供為致能電壓準位的控制信號U31~U33至電晶體T31~T33，以使電晶體T31~T33被導通，以依據發光二極體LED31的陰極上的電壓來判斷發光二極體LED3、LED32有無發生損壞。

接著，在檢測完發光二極體LED31以及發光二極體LED32之後，控制器310對畫素電路PC2中的發光二極體LED33、LED34進行偵測，控制器310分別提供為致能電壓準位的控制信號U34~U36至電晶體T34~T36，以使電晶體T34~T36被導通，以依據發光二極體LED33的陰極上的電壓來判斷發光二極體LED33、LED34有無發生損壞。而在檢測完發光二極體LED33以及發光二極體LED34之後，控制器310接著對畫素電路PC3中的發光二極體LED35、LED36進行偵測，分別提供為致能電壓準位的控制信號U37~U39至電晶體T37~T39，以使電晶體T37~T39被導通，以依據發光二極體LED35的陰極上的電壓來判斷發光二極體LED35以及發光二極體LED36有無發生損壞。

需要注意的是，為簡化說明，本實施例在檢測時間區間TA中是依序對畫素電路PC1的發光二極體LED31、LED32、畫素電路PC2的發光二極體LED33、LED34以及畫素電路PC3的發光二極體LED35、LED36進行檢測，然實際上本發明並未對各畫素電路中發光二極體的檢測順序有加以限制，亦即本發明也可以先檢測畫素電路PC2的發光二極體LED33、LED34或畫素電路PC3的發光二極體LED35、LED36，在本發明的其他實施例也可以同時對畫素電路PC1~PC3的發光二極體進行偵測，故本領域具通常知識者可依據實際應用情況對各畫素電路中發光二極體的偵測順序進行調整，圖3B的繪示並不用以限制本發明。

接著，當控制器310判斷各畫素電路PC1~PC3中的發光二極體並未發生損壞時，則進入顯示時間區間TB，並且在顯示時間區間TB中，控制器310會分別提供為致能電壓準位的控制信號U31、U33、U34、U36、U37、U39至對應的電晶體，以使電晶體T31、T33、T34、T36、T37、T39被導通，進而產生驅動電流Idr31來驅動發光二極體LED31、LED32，產生驅動電流Idr32來驅動發光二極體LED33、LED34，以及產生驅動電流Idr33來驅動發光二極體LED35、LED36，以使顯示裝置300進行正常的顯示動作。

值得注意的是，在本實施例中，發光二極體LED31、LED32的發光波長相同，且發光二極體LED31、LED32可例如是紅光發光二極體。發光二極體LED33、LED34的發光波長相同，且發光二極體LED33、LED34可例如是綠光發光二極體。發光二極體LED35、LED36的發光波長相同，且發光二極體LED35、LED36可例如是藍光發光二極體。也就是說，發光二極體LED31、LED32的發光波長可以與發光二極體LED33、LED34的發光波長不同，並且發光二極體LED31、LED32的發光波長可以與發光二極體LED35、LED36的發光波長不同。值得注意的是，在本發明其他實施例中，發光二極體LED31、LED32的發光波長也可以是與發光二極體LED33~LED36相同的，本發明對此並不加以限制，本領域具通常知識者可依據實際應用情況對發光二極體LED31~LED36的發光波長進行調整。

如此一來，當控制器310偵測到各畫素電路PC1~PC3中的發光二極體發生損壞時，各畫素電路便可利用相同發光波長的發光二極體相互進行補償操作。進一步來說明，請同步參照圖3A及圖3C，圖3C繪示本發明圖3A實施例的發光二極體補償方式的示意圖。在本實施例中，發光二極體LED31、LED32的發光波長相等，發光二極體LED33、LED34的發光波長相等，並且發光二極體LED35、LED36的發光波長相等，故當各畫素電路PC1~PC3中兩個發光二極體的其中之一損壞時，例如，畫素電路PC2中的發光二極體LED34為損壞狀態時（亦即發光二極體LED34此時為畫素暗點），則可藉由較大的驅動電流來驅動畫素電路PC1中兩個發光二極體的其中另一（即發光二極體LED33），以使同樣發光波長的發光二極體LED33具有較高的亮度，藉此執行畫素暗點補償操作。

此外，在本發明其他實施例中，當各畫素電路中發光二極體的發光波長為全部相同時（例如，各畫素電路的發光二極體均為紅光發光二極體、各畫素電路的發光二極體均為綠光發光二極體或各畫素電路的發光二極體均為藍光發光二極體），在其中一個畫素電路的兩個發光二極體至少其中之一損壞時，控制器310便會以較大的驅動電流來驅動相鄰畫素電路中的發光二極體，以提高相鄰畫素電路中發光二極體的亮度來進行補償，舉例來說，當畫素電路PC2中發光二極體LED33、LED34的至少其中之一為損壞狀態時，控制器310會以較大的驅動電流驅動相鄰畫素電路中的發光二極體（即畫素電路PC1中的發光二極體LED31、LED32或畫素電路PC3中的發光二極體LED35、LED36），以補償因畫素電路PC2中發光二極體損壞而產生的畫素暗點，藉此達到自動檢測畫素暗點並進行亮度補償，以使顯示影像亮度均勻之目的。

另一方面，請同步參照圖3A及圖3D，圖3D繪示本發明圖3A實施例的控制器的電路方塊示意圖。在本實施例中，控制器310包括閘極脈衝選擇器311、資料接收器312、電流選擇器313、狀態多工器314以及移位暫存器315。資料接收器312用以接收影像資料信號Inf。閘極脈衝選擇器311耦接至資料接收器312，用以依據影像資料信號Inf提供控制信號GP_U至電晶體T40，以控制電晶體T40是否傳輸系統電壓OVDD至各畫素電路PC1~PC3。值得一提的是，在本發明圖3A中，顯示裝置300的下方可以更包括多個畫素電路，並同樣具有控制是否傳輸系統電壓OVDD至各畫素電路的電晶體，且該電晶體的導通或斷開由控制信號GP_D所控制。換句話說，本實施例的閘極脈衝選擇器311也可提供控制信號GP_D至顯示裝置300下方的該電晶體的控制端，以控制該電晶體是否傳輸系統電壓OVDD至顯示裝置300下方的各畫素電路。需要注意的是，顯示裝置300下方的各畫素電路的電路結構及電路動作，與畫素電路PC1~PC3相類似，在此不重複贅述。附帶一提的，控制信號GP_D同樣可例如是脈波寬度調變（PWM）信號，然本發明並不以此為限。

狀態多工器314耦接至資料接收器312，當顯示裝置300進入檢測時間區間TA時，狀態多工器314會偵測各畫素電路中的第一發光二極體（例如是發光二極體LED31、LED33、LED35）的陰極上的電壓，以判斷各發光二極體LED31~LED36的損壞狀態，並對應各發光二極體LED31~LED36的損壞狀態調整控制信號U31~U39為致能電壓準位或為禁能電壓準位，同時產生檢測結果DER至電流選擇器313。電流選擇器313耦接至資料接收器312，會依據來自狀態多工器314的檢測結果DER，選擇以汲電流、源電流或參考接地電壓作為電氣信號ECP21~ECP33。

舉例而言，當狀態多工器314依據畫素電路PC1中的發光二極體LED31的陰極上的電壓，判斷發光二極體LED31及發光二極體LED32均為正常狀態時，則電流選擇器313依據檢測結果DER提供汲電流SOU1以作為電氣信號ECP31。而當狀態多工器314依據畫素電路PC1中的發光二極體LED31的陰極上的電壓，判斷發光二極體LED32為損壞狀態，且發光二極體LED31為正常狀態時，則電流選擇器313依據檢測結果DER以提供汲電流SOU4作為電氣信號ECP21。

當狀態多工器314依據畫素電路PC1中的發光二極體LED31的陰極上的電壓，判斷發光二極體LED31為損壞狀態，且發光二極體LED32為正常狀態時，則電流選擇器313依據檢測結果DER以提供汲電流SOU2作為電氣信號ECP31，並提供系統電壓OVDD作為電氣信號ECP21。值得一提的是，當狀態多工器314依據畫素電路PC1中的發光二極體LED31的陰極上的電壓，判斷發光二極體LED31為損壞狀態，且發光二極體LED32為正常狀態時，電流選擇器313依據檢測結果DER也可提供源電流SOU3作為電氣信號ECP21，並提供參考接地電壓GND作為電氣信號ECP31。需要注意的是，電流選擇器313提供汲電流或源電流的選擇可以由使用者進行設定，也可以由電流選擇器313自動設定，本發明在此並不加以限制。此外，本實施例的控制器310所包括的移位暫存器315用以產生多個閘極驅動信號，以驅動多個薄膜電晶體。如此一來，本發明可藉由將移位暫存器設置在控制器中，以使本發明的顯示裝置在應用於顯示裝置面板拼接時具有較佳的效果。

需要注意的是，控制器310判斷各畫素電路中發光二極體有無發生損壞的偵測方式、各畫素電路中發光二極體執行畫素暗點補償操作的電路動作及信號波形與前述圖1實施例相類似，在此不重複贅述。另一方面，本發明圖1實施例的控制器110、圖4實施例的控制器410、圖5實施例的控制器511~518以及圖6實施例的控制器610的電路架構及實施方式皆與控制器310相類似，本領域具通常知識者可依據前述圖3A實施例的描述來實現本實施例的控制器110、410、511~518、610，以下不再重複贅述。

請參照圖4，圖4繪示本發明另一實施例的顯示裝置的電路方塊示意圖。與前述圖3A實施例不同的地方在於，本實施例的顯示裝置400的控制器410除了包括畫素電路PC41~PC43，更包括畫素電路PC44~PC46，並且畫素電路PC41~PC43與畫素電路PC44~PC46是耦接在控制器410的相對側。換句話說，控制器410具有第一側Sid1以及第二側Sid2，畫素電路PC41~PC43位於控制器410的第一側Sid1，而畫素電路PC44~PC46則位於控制器410的第二側Sid2。也就是說，本實施例的控制器410在不同側均可耦接多個畫素電路，其中各畫素電路的結構與圖1及圖3A實施例相類似，本領域具通常知識者可依據前述實施例的描述來實現本實施例的顯示裝置400，在此不重複贅述。此外，控制器410判斷各畫素電路中發光二極體有無發生損壞的偵測方式、各畫素電路中發光二極體執行畫素暗點補償操作的電路動作及信號波形與前述圖1及圖3A實施例相類似，在此同樣不重複贅述。

由上述的說明不難得知，在本實施例的顯示裝置400中，當控制器410偵測到各畫素電路PC41~PC46中的發光二極體發生損壞時，各畫素電路便可利用相同發光波長的發光二極體相互進行補償操作。舉例而言，當畫素電路PC42中兩個發光二極體的至少其中之一發生損壞時，控制器410可以較大的驅動電流驅動相鄰的畫素電路（即畫素電路PC41、PC43）中的發光二極體，以對因畫素電路PC42中的發光二極體損壞所產生的畫素暗點進行補償。此外，本實施例的控制器410在畫素電路PC42中兩個發光二極體的至少其中之一發生損壞時，也可以較大的驅動電流驅動相對側的畫素電路（即畫素電路PC44~PC46）中的發光二極體，以對因畫素電路PC42中的發光二極體損壞所產生的畫素暗點進行補償。換言之，本實施例的顯示裝置400除了可以相鄰的畫素電路進行畫素暗點補償操作，也可使第一側Sid1的畫素電路PC41~PC43與第二側Sid2的畫素電路PC44~PC46相互補償。

需要注意的是，為簡化說明，本發明在控制器410的第一側Sid1及第二側Sid2僅各繪示三個畫素電路，以作為示範性實施例，然本發明實際上並未對控制器410在不同側耦接的畫素電路的數量有加以限制，圖4的繪示並不用以限制本發明。

請參照圖5，圖5繪示本發明另一實施例的顯示裝置的發光二極體補償方式的示意圖。本實施例的顯示裝置500包括多個相互耦接的控制器511~518，並且控制器511~518分別在各自的兩側耦接多個畫素電路（例如是畫素電路PC51、PC52、PC61、PC62），以使各控制器511~518與各自的多個畫素電路形成與圖4實施例的顯示裝置400相類似的結構。與前述實施例不同的地方在於，在本實施例的顯示裝置500中，當各控制器511~518偵測到對應的各畫素電路中的發光二極體發生損壞時，各畫素電路可利用相鄰的控制器所對應的畫素電路中的發光二極體來執行畫素暗點補償操作。舉例來說，當在控制器511判斷對應的畫素電路中的兩個發光二極體的至少其中之一（例如是畫素電路PC62中的發光二極體LED61）為損毀狀態的情況下，控制器511會傳送補償信號至控制器515，控制器515便會依據補償信號，提供多個控制信號至畫素電路PC72中的多個開關，以產生驅動電流來驅動發光二極體LED71、LED72，以使畫素電路PC62的發光二極體LED62及畫素電路PC72的發光二極體LED72能同時對因發光二極體LED61損壞而產生的畫素暗點進行亮度補償。

另一方面，若是控制器512判斷對應的畫素電路中的兩個發光二極體（例如是畫素電路PC102中的發光二極體LED101及發光二極體LED102）均為損毀狀態的情況下，控制器512會產生較高的驅動電流來驅動發光二極體LED91、LED92，並傳送補償信號至控制器516，使控制器516依據補償信號，提供多個控制信號至畫素電路PC112中的多個開關，以產生較高的驅動電流來驅動發光二極體LED111、LED112，以使畫素電路PC92的發光二極體LED92及畫素電路PC112的發光二極體LED111能同時對因發光二極體LED101、LED102損壞而產生的畫素暗點進行亮度補償。

此外，若是在控制器513判斷對應的畫素電路中的兩個發光二極體的其中之一（例如是畫素電路PC142中的發光二極體LED142）為損毀狀態，並且相鄰的控制器517判斷對應的畫素電路中的兩個發光二極體的其中之一（例如是畫素電路PC152中的發光二極體LED151）為損毀狀態的情況下，控制器513會產生較高的驅動電流來驅動發光二極體LED141，並傳送補償信號至控制器517，控制器517則依據補償信號以及發光二極體LED151的損壞狀態，產生較高的驅動電流來驅動發光二極體LED152，以使畫素電路PC142的發光二極體LED141及畫素電路PC152的發光二極體LED152能同時對因發光二極體LED142、LED151損壞而產生的畫素暗點進行亮度補償。

另一方面，若是在控制器514判斷對應的畫素電路中的兩個發光二極體的其中之一（例如是畫素電路PC172中的發光二極體LED171）為損毀狀態，並且相鄰的控制器518判斷對應的畫素電路中的兩個發光二極體的其中之一（例如是畫素電路PC182中的發光二極體LED181）為損毀狀態的情況下，控制器514會產生較高的驅動電流來驅動發光二極體LED172，並傳送補償信號至控制器518，控制器518則依據補償信號以及發光二極體LED181的損壞狀態，產生較高的驅動電流來驅動發光二極體LED182，以使畫素電路PC172的發光二極體LED171及畫素電路PC182的發光二極體LED182能同時對因發光二極體LED171、LED181損壞而產生的畫素暗點進行亮度補償。

由上述的說明不難得知，在本實施例的顯示裝置500中，當控制器511~518偵測到對應的各畫素電路中的發光二極體發生損壞時，各控制器511~518便可利用相同發光波長的發光二極體相互對畫素電路中的發光二極體進行補償操作。需要注意的是，本實施例中各畫素電路的結構與圖1、圖3A及圖4實施例相類似，本領域具通常知識者可依據前述實施例的描述來實現本實施例的顯示裝置500，在此不重複贅述。此外，控制器511~518判斷各畫素電路中發光二極體有無發生損壞的偵測方式、各畫素電路中發光二極體執行畫素暗點補償操作的電路動作及信號波形與前述圖1、圖3A及圖4實施例相類似，在此同樣不重複贅述。

請參照圖6A，圖6A繪示本發明另一實施例的顯示裝置的電路方塊示意圖。顯示裝置600包括發光二極體LED61~LED62、開關S61~S64以及控制器610。需要注意的是，本實施例的開關S61~S64同樣可例如是採用P型電晶體或N型電晶體來實施，本發明在此以P型電晶體來實施（即電晶體T61~T63）以作為示範性實施例，然本發明並不以此為限。另一方面，在本實施例中，電氣信號ECP1可例如是系統電壓OVDD，然本發明同樣並不以此為限。電晶體T61的第一端接收電氣信號ECP1，電晶體T61的第二端耦接至發光二極體LED61的陽極。電晶體T62的第一端接收電氣信號ECP2，電晶體T62的第二端耦接至發光二極體LED61的陽極。發光二極體LED62的陽極耦接至發光二極體LED61的陽極。電晶體T63的第一端接收電氣信號ECP3，電晶體T63的第二端耦接至發光二極體LED61的陰極。電晶體T64的第一端同樣接收電氣信號ECP3，電晶體T63的第二端耦接至發光二極體LED62的陰極，其中開關S61~S64（即電晶體T61~T64）的導通或斷開會依據發光二極體LED61及發光二極體LED62有無發生損壞來決定。

另一方面，控制器610用以偵測發光二極體LED61及發光二極體LED62有無發生損壞，並會產生電氣信號ECP2以及電氣信號ECP3，以及產生控制電晶體T61~T64的多個控制信號（例如是控制信號U61~U64）。附帶一提的，控制信號U61~U64可例如是脈波寬度調變（PWM）信號，然本發明並不加以限制。詳細來說明，本實施例顯示裝置600中的控制器610可提供為致能電壓準位的控制信號U61~U64，使電晶體T61~T64被導通，以依據發光二極體LED61與LED62陽極上的電壓，偵測發光二極體LED61及發光二極體LED62的損壞狀態，並依據發光二極體LED61、LED62的損壞狀態來分別提供控制信號U61~U64至電晶體T61~T64，以對應發光二極體LED61、LED62不同的損壞狀態將電晶體T61~T64導通或斷開來執行畫素暗點補償操作。換句話說，本發明可將發光二極體LED61~LED62、電晶體T61~T64視為一組畫素電路，並以控制器610來偵測畫素電路，藉此來判斷畫素電路是否因發光二極體LED61及發光二極體LED62發生損壞產生畫素暗點，而需要執行畫素暗點的補償操作。

進一步來說明，請同步參照圖6A及圖6B，圖6B繪示本發明圖6A實施例的顯示裝置的控制信號波形示意圖。在本實施例中，控制器610可對發光二極體LED61~LED62進行自動偵測操作，以判斷各發光二極體是否發生損壞。詳細來說明，時間區間P1中，控制器610會分別提供為致能電壓準位的控制信號U61~U63至電晶體T61~T63，以使電晶體T61~T63被導通，進而依據發光二極體LED61的陽極上的電壓來判斷發光二極體LED61有無發生損壞。

接著，在檢測完發光二極體LED61之後，於時間區間P1之後的時間區間P2中，控制器610分別提供為致能電壓準位的控制信號U61、U62、U64至電晶體T61、T62、T64，以使電晶體T61、T62、T64被導通，以依據發光二極體LED62的陽極上的電壓來判斷發光二極體LED62有無發生損壞。其中在第一檢測時間區間P1以及第二檢測時間區間P2中，系統電壓OVDD為高電壓準位。

進一步來說明，在時間區間P1中，當控制器610偵測到發光二極體LED61的陽極上的電壓為系統電壓OVDD時，則表示此時發光二極體LED1為正常狀態；而當控制器110偵測到發光二極體LED61的陽極上的電壓為零時，則表示此時發光二極體LED1可能為損壞狀態。相似地，在時間區間P2中，當控制器610偵測到發光二極體LED62的陽極上的電壓為系統電壓OVDD時，則表示此時發光二極體LED2為正常狀態；而當控制器110偵測到發光二極體LED62的陽極上的電壓為零時，則表示此時發光二極體LED2可能為損壞狀態。據此，本發明可透過控制器610來自動對發光二極體LED61、LED62的陽極上的電壓進行偵測，以在發光二極體LED61及發光二極體LED62發生損壞時能達到自動檢測之目的，並執行畫素暗點補償操作。

需要注意的是，本實施例在時間區間P1中先對發光二極體LED61進行檢測，再於第二檢測時間區間P2中對發光二極體LED62進行檢測，然實際上本發明並未對各發光二極體的檢測順序有加以限制，在本發明的其他實施例中，也可先對發光二極體LED62進行檢測，再對對發光二極體LED61進行檢測，圖6B的繪示並不用以限制本發明。

接著，請同步參照圖6A及圖7A~7D，圖7A~7D繪示本發明圖6A實施例的顯示裝置在發光二極體多個狀態的電路動作示意圖。詳細來說明，請先同步參照圖6A及圖7A，圖7A繪示本發明圖6A實施例的顯示裝置在發光二極體LED61及發光二極體LED62均無損壞時的電路動作。當控制器610判斷此時發光二極體LED61、LED62均為正常狀態時，電晶體T61會依據為致能電壓準位的控制信號U61而被導通，電晶體T63會依據為致能電壓準位的控制信號U63而被導通，並且電晶體T64依據為致能電壓準位的控制信號U64被導通，而電晶體T62則依據為禁能電壓準位的控制信號U62被斷開。與此同時，控制器610會提供電氣信號ECP3至電晶體T63的第一端以及電晶體T64的第一端，以分別產生驅動電流Idr61及驅動電流Idr62來驅動發光二極體LED61、LED62，其中電氣信號ECP3為汲電流SOU61，且汲電流SOU61的一端耦接至電晶體T63的第一端以及電晶體T64的第一端，另一端則耦接至參考接地電壓GND。換句話說，此時控制器610會藉由提供汲電流SOU61來產生驅動電流Idr1及驅動電流Idr2，以使驅動電流Idr1導通發光二極體LED61，並使驅動電流Idr2導通發光二極體LED62，以驅動發光二極體LED61、LED62，其中驅動電流Idr1與驅動電流Idr2實質上相等，以使發光二極體LED61、LED62具有實質上相同的亮度，藉此來達到使顯示影像亮度均勻之功效。

另一方面，請同步參照圖6A及圖7B，圖7B繪示本發明圖6A實施例的顯示裝置在發光二極體LED61為損壞狀態時的電路動作。當控制器610判斷發光二極體LED61為損壞狀態，而發光二極體LED62為正常狀態時，電晶體T63依據為禁能電壓準位的控制信號U63而被斷開，而電晶體T61依據為致能電壓準位的控制信號U61被導通，電晶體T62依據為禁能電壓準位的控制信號U62被斷開。此時，控制器610會提供電氣信號ECP3至電晶體T64的第一端，以產生驅動電流Idr63來驅動發光二極體LED62。值得一提的是，此時的電氣信號ECP3為汲電流SOU62，汲電流SOU62的一端耦接至電晶體T64的第一端，另一端耦接至參考接地電壓GND。

也就是說，此時控制器610會提供汲電流SOU62，以與電氣信號ECP1（即系統電壓OVDD）產生驅動電流Idr62，並藉由驅動電流Idr62來導通發光二極體LED62，以經由電晶體T61、發光二極體LED62、電晶體T64來與控制器610來形成電流路徑，以使發光二極體LED62執行畫素暗點補償操作。值得注意的是，驅動電流Idr63會大於驅動電流Idr61、Idr62（即發光二極體LED61、LED62均無損壞時的驅動電流），藉此使發光二極體LED62具有原先N倍的亮度，其中N為一實數。

亦即在本實施例中，當控制器610判斷發光二極體LED61損壞時，會藉由提供一相對較大的驅動電流Idr63來驅動發光二極體LED62，以使發光二極體LED62的亮度相較於發光二極體LED61、LED62均無損壞時來的大。如此一來，當發光二極體LED61損壞時（亦即此時發光二極體LED61為一畫素暗點），本發明便可藉由使發光二極體LED62具有較高發光亮度的方式，來補償發光二極體LED61的亮度，藉此使顯示裝置600能維持原先的亮度，進而達到自動檢測畫素暗點並進行亮度補償，以使顯示裝置影像均勻之目的。

另一方面，當控制器610判斷發光二極體LED61為損壞狀態時，本發明另有提到以汲電流來驅動發光二極體LED62的畫素暗點補償方式的另一實施方式。請同步參照圖6A及圖7C，圖7C繪示本發明圖6A實施例的顯示裝置在發光二極體LED61為損壞狀態時的電路動作。當控制器610判斷發光二極體LED61為損壞狀態，而發光二極體LED62為正常狀態時，電晶體T61會依據為禁能電壓準位的控制信號U61而被斷開，而電晶體T63依據為禁能電壓準位的控制信號U63被斷開，電晶體T62依據為致能電壓準位的控制信號U62被導通，電晶體T64依據為致能電壓準位的控制信號U64被導通。此時，控制器610會提供電氣信號ECP3至電晶體T64的第一端，並且提供電氣信號ECP2至電晶體T62的第一端，以產生驅動電流Idr64來驅動發光二極體LED62。而此時的電氣信號ECP2為系統電壓OVDD，並且電氣信號ECP3為汲電流SOU63，汲電流SOU63的一端耦接至電晶體T64的第一端，另一端耦接至參考接地電壓GND。

亦即此時控制器610會藉由提供系統電壓OVDD與汲電流SOU63來產生驅動電流Idr64，並使驅動電流Idr64導通發光二極體LED62，以經由電晶體T62、發光二極體LED62、電晶體T64來與控制器610來形成迴路。值得注意的是，驅動電流Idr64同樣會大於驅動電流Idr61、Idr62，藉此使發光二極體LED62具有原先N倍的亮度，執行畫素暗點補償操作。

值得一提的是，當控制器610判斷發光二極體LED1為損壞狀態時，本發明另有提到以源電流來驅動發光二極體LED2的畫素暗點補償方式。詳細來說明，在此請同步參照圖6A及圖7D，圖7D繪示本發明圖6A實施例的顯示裝置在發光二極體LED1為損壞狀態時的另一實施方式的電路動作。當控制器610判斷發光二極體LED61為損壞狀態，而發光二極體LED62為正常狀態時，電晶體T61會依據為禁能電壓準位的控制信號U61而被斷開，而電晶體T63依據為禁能電壓準位的控制信號U63被導通，電晶體T62則依據為致能電壓準位的控制信號U62被導通，電晶體T64則依據為致能電壓準位的控制信號U64被導通。在此同時，控制器610會提供電氣信號ECP3至電晶體T64的第一端，並且提供電氣信號ECP2至電晶體T62的第一端，以產生驅動電流Idr65來驅動發光二極體LED62。值得注意的是，此時的電氣信號ECP3為參考接地電壓GND，而電氣信號ECP2則為一源電流SOU64，源電流SOU64的一端耦接至電晶體T62的第一端，另一端則耦接至系統電壓OVDD。

也就是說，此時控制器610會藉由提供系統電壓OVDD與源電流SOU64來產生驅動電流Idr65，並使驅動電流Idr65導通發光二極體LED62，以經由電晶體T62、發光二極體LED62、電晶體T64來與控制器610來形成迴路。值得注意的是，驅動電流Idr65同樣會大於驅動電流Idr61、Idr62，藉此以使發光二極體LED62具有原先N倍的亮度，執行畫素暗點補償操作。

需要注意的是，在本實施例中，當顯示裝置600中的發光二極體LED62為損壞狀態，而發光二極體LED61為正常狀態時的畫素暗點補償操作及電路動作與前述發光二極體LED61為損壞狀態且發光二極體LED62為正常狀態的實施例相類似，在此不重複贅述。此外，值得注意的是，本實施例的顯示裝置600也可形成如前述圖3A、圖4、圖5實施例所述的電路結構，故本領域具通常知識者可依據前述關於顯示裝置300、400、500實施方式的說明，以本實施例顯示裝置600的電路結構來實現圖3A、圖4、圖5實施例所述的電路結構、電路特性以及自動檢測畫素暗點補償方式，故在此不重複贅述。

請參照圖8，圖8繪示本發明一實施例的顯示裝置操作方法的流程圖。首先，在步驟S810中，會在檢測時間區間中，提供檢測信號至相互耦接的第一發光二極體以及第二發光二極體，並依據偵測第一發光二極體與第二發光二極體相互耦接點上的電壓，以判斷第一發光二極體以及第二發光二極體的損壞狀態，其中檢測信號例如是第一電氣信號。並在步驟S820中，依據判斷損壞狀態以設定第一電氣信號、第二電氣信號以及第三電氣信號其中之二選中電氣信號，並使該些選中電氣信號以分別被施加於未損壞的發光二極體的兩端。於步驟S830中，則會依據損壞狀態以調整該些選中電氣信號的其中之一的信號強度。

需要注意的是，關於步驟S810至步驟S830的實施細節在前述的實施例及實施方式都有詳盡的說明，在此不重複贅述。

綜上所述，本發明藉由顯示裝置的第一控制器來控制多個開關，以對第一發光二極體及第二發光二極體進行偵測，並判斷第一發光二極體及第二發光二極體有無發生損壞（即發光二極體有無發生損壞而產生畫素暗點），並依據第一發光二極體及第二發光二極體的損壞狀態來提供多個控制信號、第二電氣信號以及第三電氣信號至多個開關，以對發光二極體進行補償，進而達到自動檢測及補償畫素暗點之目的，以使顯示影像亮度均勻。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

100、300、400、500、600:顯示裝置 110、310、410、511~518、610:控制器 311:閘極脈衝選擇器 312:資料接收器 313:電流選擇器 314:狀態多工器 315:移位暫存器 DER:檢測結果 ECP1~ECP3、ECP31~ECP33、ECP21~ECP23:電氣信號 GND:參考接地電壓 Idr1、Idr2、Idr3、Idr4、Idr61~Idr65:驅動電流 Inf:影像資料信號 LED1、LED2、LED31~LED36、LED61~LED62、LED71~LED72、LED101~LED102、LED111~LED112、LED141~LED142、LED151~LED152、LED171~LED172、LED181~LED182、LED61~LED62:發光二極體 OVDD:系統電壓 P1、P2、TA、TB:時間區間 PC1~PC3、PC41~PC46、PC51~PC52、PC61~PC62、PC72、PC92、PC102、PC112、PC142、PC152、PC172、PC182:畫素電路 S1~S3、S61~S64:開關 S810~S830:顯示裝置操作方法的步驟流程 Sid1:第一側 Sid2:第二側 SOU1、SOU2、SOU4、SOU61、SOU62、SOU63:汲電流 SOU3、SOU64:源電流 T1~T3、T31~T40、T61~T64:電晶體 U1~U3、GP_U、GP_D、U31~U39、U61~U64:控制信號

圖1繪示本發明一實施例的顯示裝置的電路方塊示意圖。圖2A~2D繪示本發明圖1實施例的顯示裝置在發光二極體不同損壞狀態時的電路動作示意圖。圖3A繪示本發明另一實施例的顯示裝置的電路方塊示意圖。圖3B繪示本發明圖3A實施例的顯示裝置的控制信號波形示意圖。圖3C繪示本發明圖3A實施例的發光二極體補償方式的示意圖。圖3D繪示本發明圖3A實施例的控制器的電路方塊示意圖。圖4繪示本發明另一實施例的顯示裝置的電路方塊示意圖。圖5繪示本發明另一實施例的顯示裝置的發光二極體補償方式的示意圖。圖6A繪示本發明另一實施例的顯示裝置的電路方塊示意圖。圖6B繪示本發明圖6A實施例的顯示裝置的控制信號波形示意圖。圖7A~7D繪示本發明圖6A實施例的顯示裝置在發光二極體多個狀態的電路動作示意圖。圖8繪示本發明一實施例的顯示裝置操作方法的流程圖。

100:顯示裝置

110:控制器

LED1、LED2:發光二極體

S1~S3:開關

U1~U3:控制信號

ECP1~ECP 3:電氣信號

Claims

一種顯示裝置，包括：一第一發光二極體；一第一開關，其第一端接收一第一電氣信號，其第二端耦接至該第一發光二極體的陽極；一第二開關，其第一端接收一第二電氣信號，其第二端耦接至該第一發光二極體的陰極；一第二發光二極體，其陽極耦接至該第一發光二極體的陰極；一第三開關，其第一端接收一第三電氣信號，其第二端耦接至該第二發光二極體的陰極，其中，該第一開關、該第二開關以及該第三開關的導通或斷開，依據該第一發光二極體以及該第二發光二極體有無發生損壞來決定；以及一第一控制器，用以偵測該第一發光二極體以及該第二發光二極體有無發生損壞，產生該第二電氣信號以及該第三電氣信號，並產生控制該第一開關至該第三開關的多個控制信號。
如申請專利範圍第1項所述的顯示裝置，其中該第一控制器使該第一開關至該第三開關被導通，並依據該第一發光二極體的陰極上的電壓來判斷該第一發光二極體以及該第二發光二極體有無發生損壞。
如申請專利範圍第1項所述的顯示裝置，其中當該第一控制器判斷該第一發光二極體及該第二發光二極體均無損壞時，該第一開關以及該第三開關被導通，且該第二開關被斷開，該第一控制器提供該第三電氣信號至該第三開關的第一端，以產生一第一驅動電流來驅動該第一發光二極體及該第二發光二極體，其中該第三電氣信號為一汲電流。
如申請專利範圍第3項所述的顯示裝置，其中當該第一控制器判斷該第一發光二極體為損毀狀態時，該第二開關以及該第三開關被導通，且該第一開關被斷開，該第一控制器提供該第三電氣信號至該第三開關的第一端，以及提供該第二電氣信號至該第二開關的第一端，以產生一第二驅動電流來驅動該第二發光二極體，其中，該第三電氣信號為一汲電流，該第二電氣信號為一系統電壓，並且該第二驅動電流大於該第一驅動電流。
如申請專利範圍第3項所述的顯示裝置，其中當該第一控制器判斷該第一發光二極體為損毀狀態時，該第二開關以及該第三開關被導通，且該第一開關被斷開，該第一控制器提供該第三電氣信號至該第三開關的第一端，以及提供該第二電氣信號至該第二開關的第一端，以產生一第二驅動電流來驅動該第二發光二極體，其中，該第三電氣信號為一參考接地電壓，該第二電氣信號為一源電流，並且該第二驅動電流大於該第一驅動電流。
如申請專利範圍第3項所述的顯示裝置，其中當該第一控制器判斷該第二發光二極體為損毀狀態時，該第一開關以及該第二開關被導通，且該第三開關被斷開，該第一控制器提供該第二電氣信號至該第二開關的第一端，以產生一第二驅動電流來驅動該第一發光二極體，其中，該第二電氣信號為一汲電流，並且該第二驅動電流大於該第一驅動電流。
如申請專利範圍第3項所述的顯示裝置，其中該顯示裝置更包括：至少一第三發光二極體；至少一第四開關，其第一端接收該第一電氣信號，其第二端耦接至該至少一第三發光二極體的陽極；至少一第五開關，其第一端接收該第二電氣信號，其第二端耦接至該至少一第三發光二極體的陰極；至少一第四發光二極體，其陽極耦接至該至少一第三發光二極體的陰極；以及至少一第六開關，其第一端接收該第三電氣信號，其第二端耦接至該至少一第四發光二極體的陰極，其中，該至少一第四開關、該至少一第五開關以及該至少一第六開關的導通或斷開，依據該至少一第三發光二極體以及該至少一第四發光二極體有無發生損壞來決定。
如申請專利範圍第7項所述的顯示裝置，其中該第一控制器偵測該至少一第三發光二極體以及該至少一第四發光二極體有無發生損壞，產生該第二電氣信號以及該第三電氣信號，並產生控制該至少一第四開關至該至少一第六開關的多個控制信號，其中，該第一發光二極體的發光波長與該第二發光二極體的發光波長相同，該第一發光二極體的發光波長與該至少一第三發光二極體的發光波長不同，並且該第一發光二極體的發光波長與該至少一第四發光二極體的發光波長不同。
如申請專利範圍第7項所述的顯示裝置，其中該顯示裝置更包括：一第二控制器，用以偵測該至少一第三發光二極體以及該至少一第四發光二極體有無發生損壞，產生該第二電氣信號以及該第三電氣信號，並產生控制該至少一第四開關至該至少一第六開關的多個控制信號，其中，該第一控制器與該第二控制器相互耦接，並且該第一發光二極體、該第二發光二極體、該至少一第三發光二極體以及該至少一第四發光二極體的發光波長相同。
如申請專利範圍第9項所述的顯示裝置，其中當該第一控制器判斷該第一發光二極體以及該第二發光二極體的至少其中之一為損毀狀態時，該第一控制器傳送一補償信號至該第二控制器，該第二控制器依據該補償信號，提供該些控制信號到該至少一第四開關至該至少一第六開關，以產生一第二驅動電流來驅動該至少一第三發光二極體及該至少一第四發光二極體，其中，該第二驅動電流大於該第一驅動電流。
一種顯示裝置，包括：一第一發光二極體；一第一開關，其第一端接收一第一電氣信號，其第二端耦接至該第一發光二極體的陽極；一第二開關，其第一端接收一第二電氣信號，其第二端耦接至該第一發光二極體的陽極；一第二發光二極體，其陽極耦接至該第一發光二極體的陽極；一第三開關，其第一端接收一第三電氣信號，其第二端耦接至該第一發光二極體的陰極；一第四開關，其第一端接收該第三電氣信號，其第二端耦接至該第二發光二極體的陰極，其中，該第一開關、該第二開關、該第三開關以及該第四開關的導通或斷開，依據該第一發光二極體以及該第二發光二極體有無發生損壞來決定；以及一第一控制器，用以偵測該第一發光二極體以及該第二發光二極體有無發生損壞，產生該第二電氣信號以及該第三電氣信號，並產生控制該第一開關至該第四開關的多個控制信號。
如申請專利範圍第11項所述的顯示裝置，其中該第一控制器在一第一時間區間使該第一開關至該第三開關被導通，以及使該第四開關被關閉，並依據該第一發光二極體的陽極上的電壓來判斷該第一發光二極體有無發生損壞，該第一控制器在一第二時間區間使該第一開關、該第二開關以及該第四開關被導通，以及使該第三開關被關閉，並依據該第二發光二極體的陽極上的電壓來判斷該第二發光二極體有無發生損壞，其中，該第一時間區間早於該第二時間區間。
如申請專利範圍第12項所述的顯示裝置，其中當該第一控制器判斷該第一發光二極體及該第二發光二極體均無損壞時，該第一開關、該第三開關以及該第四開關被導通，且該第二開關被斷開，該第一控制器提供該第三電氣信號至該第三開關的第一端以及該第四開關的第一端，以分別產生一第一驅動電流及一第二驅動電流來驅動該第一發光二極體及該第二發光二極體，其中該第三電氣信號為一汲電流，並且該第一驅動電流與該第二驅動電流大小相同。
如申請專利範圍第13項所述的顯示裝置，其中當該第一控制器判斷該第一發光二極體為損毀狀態時，該第一開關以及該第四開關被導通，且該第二開關以及該第三開關被斷開，該第一控制器提供該第三電氣信號至該第四開關的第一端，以產生一第三驅動電流來驅動該第二發光二極體，其中，該第三電氣信號為一汲電流，並且該第三驅動電流大於該第二驅動電流。
如申請專利範圍第13項所述的顯示裝置，其中當該第一控制器判斷該第一發光二極體為損毀狀態時，該第一開關以及該第三開關被斷開，且該第二開關以及該第四開關被導通，該第一控制器提供該第三電氣信號至該第四開關的第一端，以及提供該第二電氣信號至該第二開關的第一端，以產生一第三驅動電流來驅動該第二發光二極體，其中，該第三電氣信號為一參考接地電壓，該第二電氣信號為一源電流，並且該第三驅動電流大於該第二驅動電流。
如申請專利範圍第13項所述的顯示裝置，其中當該第一控制器判斷該第一發光二極體為損毀狀態時，該第一開關以及該第三開關被斷開，且該第二開關以及該第四開關被導通，該第一控制器提供該第三電氣信號至該第四開關的第一端，以及提供該第二電氣信號至該第二開關的第一端，以產生一第三驅動電流來驅動該第二發光二極體，其中，該第三電氣信號為一汲電流，該第二電氣信號為一系統電壓，並且該第三驅動電流大於該第二驅動電流。
如申請專利範圍第13項所述的顯示裝置，其中該顯示裝置更包括：至少一第三發光二極體；至少一第五開關，其第一端接收該第一電氣信號，其第二端耦接至該至少一第三發光二極體的陽極；至少一第六開關，其第一端接收該第二電氣信號，其第二端耦接至該至少一第三發光二極體的陽極；至少一第四發光二極體，其陽極耦接至該至少一第三發光二極體的陽極；至少一第七開關，其第一端接收該第三電氣信號，其第二端耦接至該至少一第三發光二極體的陰極；以及至少一第八開關，其第一端接收該第三電氣信號，其第二端耦接至該至少一第四發光二極體的陰極，其中，該至少一第五開關、該至少一第六開關、該至少一第七開關以及該至少一第八開關的導通或斷開，依據該至少一第三發光二極體以及該至少一第四發光二極體有無發生損壞來決定。
如申請專利範圍第17項所述的顯示裝置，其中該第一控制器偵測該至少一第三發光二極體以及該至少一第四發光二極體有無發生損壞，產生該第二電氣信號以及該第三電氣信號，並產生控制該至少一第五開關至該至少一第八開關的多個控制信號，其中，該第一發光二極體的發光波長與該第二發光二極體的發光波長相同，該第一發光二極體的發光波長與該至少一第三發光二極體的發光波長不同，並且該第一發光二極體的發光波長與該至少一第四發光二極體的發光波長不同。。
如申請專利範圍第17項所述的顯示裝置，其中該顯示裝置更包括：一第二控制器，用以偵測該至少一第三發光二極體以及該至少一第四發光二極體有無發生損壞，產生該第二電氣信號以及該第三電氣信號，並產生控制該至少一第五開關至該至少一第八開關的多個控制信號，其中，該第一控制器與該第二控制器相互耦接，並且該第一發光二極體、該第二發光二極體、該至少一第三發光二極體以及該至少一第四發光二極體的發光波長相同。
如申請專利範圍第19項所述的顯示裝置，其中當該第一控制器判斷該第一發光二極體以及該第二發光二極體的至少其中之一為損毀狀態時，該第一控制器傳送一補償信號至該第二控制器，該第二控制器依據該補償信號，提供該些控制信號到該至少一第五開關至該至少一第八開關，以產生一第三驅動電流及一第四驅動電流來驅動該至少一第三發光二極體及該至少一第四發光二極體，其中，該第三驅動電流以及該第四驅動電流大小相同，該第三驅動電流大於該第一驅動電流。
一種顯示裝置的操作方法，包括：在一檢測時間區間，提供一檢測信號至相互耦接的一第一發光二極體以及一第二發光二極體，並依據偵測該第一發光二極體與該第二發光二極體相互耦接點上的電壓，以判斷該第一發光二極體以及該第二發光二極體的一損壞狀態；依據判斷該損壞狀態以設定一第一電氣信號、一第二電氣信號以及一第三電氣信號其中之二選中電氣信號，並使該些選中電氣信號以分別被施加於未損壞的發光二極體的兩端；以及依據該損壞狀態以調整該些選中電氣信號的其中之一的信號強度。
如申請專利範圍第21項所述的操作方法，其中該檢測信號為該第一電氣信號，並且該第一電氣信號為一系統電壓。
如申請專利範圍第21項所述的操作方法，其中該損壞狀態包括：一第一發光二極體損壞狀態、一第二發光二極體損壞狀態以及一無損壞狀態。
如申請專利範圍第23項所述的操作方法，其中當判斷該第一發光二極體以及該第二發光二極體的該損壞狀態為該無損壞狀態時，設定該第三電氣信號為一汲電流，並設定該第一電氣信號為一系統電壓，並使施加第一電氣信號至該第一發光二極體的陽極，以及施加該第三電氣信號至該第二發光二極體的陰極；以及調整該第三電氣信號的信號強度為一第一信號強度。
如申請專利範圍第24項所述的操作方法，其中當判斷該第一發光二極體以及該第二發光二極體的該損壞狀態為該第一發光二極體損壞狀態時，設定該第二電氣信號為一源電流，並設定該第三電氣信號為一參考接地電壓，並使該第二電氣信號以及該第三電氣信號分別被施加於該第二發光二極體的兩端；以及調整該第二電氣信號的信號強度為一第二信號強度，其中該第二信號強度大於該第一信號強度。
如申請專利範圍第24項所述的操作方法，其中當判斷該第一發光二極體以及該第二發光二極體的該損壞狀態為該第一發光二極體損壞狀態時，設定該第二電氣信號為該系統電壓，並設定該第三電氣信號為一汲電流，並使該第二電氣信號以及該第三電氣信號分別被施加於該第二發光二極體的兩端；以及調整該第三電氣信號的信號強度為一第二信號強度，其中該第二信號強度大於該第一信號強度。
如申請專利範圍第24項所述的操作方法，其中當判斷該第一發光二極體以及該第二發光二極體的該損壞狀態為該第二發光二極體損壞狀態時，設定該第二電氣信號或該第三電氣信號為一汲電流，並設定該第一電氣信號為一系統電壓，並施加該第一電氣信號至該第一發光二極體的陽極，以及施加該第二電氣信號或該第三電氣信號至該第一發光二極體的陰極；以及調整該第二電氣信號或該第三電氣信號的信號強度為一第二信號強度，其中該第二信號強度大於該第一信號強度。