TWI685654B - 具有補償功能的檢測方法及檢測裝置 - Google Patents
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Abstract
一種具有補償功能的檢測方法,包括下列步驟。加入樣本至第一卡匣後提供第一觸發命令以定義第一時間點。偵測第一卡匣之反應區之起始位置,當獲得大於或等於預設值之第一光感測信號,定義第二時間點。經過預定時間後自反應區之呈色帶獲得第二光感測信號。計算第一時間點與第二時間點的時間差作為第一滯留時間。依據第一滯留時間與第二光感測信號,於查詢表獲得補償值,並以補償值對第二光感測信號進行補償。
Description
本發明關於一種檢測方法及檢測裝置,特別是關於一種具有補償功能的檢測方法及檢測裝置。
側向流檢測(lateral flow assay)技術使用方便且製程技術成熟,廣泛被應用於快速檢測(rapid test)產品。側向流試紙主要由樣品墊、膠體金墊、硝化纖維膜與吸收墊交互貼合組成,且可與卡匣搭配設計,將上述各層材料固定並形成樣品口方便使用者添加檢體。當檢測樣本加入卡匣樣品口後,檢測樣本會在側向流試紙上流動並流動至硝化纖維膜,以與硝化纖維膜反應而產生不同的顏色變化,使得使用者可以透過顏色的變化得知樣本檢體的檢測狀態。
然而,測試樣本在測試卡匣內之流動速度會影響測試樣本與硝化纖維膜的反應結果,使得樣本檢體的檢測狀態也會受影響而造成誤判的情況發生。因此,如何有效提高測試的精確度將成為各家廠商之技術改善的重點。
本發明在於提供一種具有補償功能的檢測方法及檢測裝置,藉以提高測試的準確度,降低檢測誤判的機率。
本發明提供一種具有補償功能的檢測方法,包括下列步驟。加入樣本至第一卡匣後提供第一觸發命令以定義第一時間點。偵測第一卡匣之反應區之起始位置,當獲得大於或等於預設值之第一光感測信號,定義第二時間點。經過預定時間後自反應區之呈色帶獲得第二光感測信號。計算第一時間點與第二時間點的時間差作為第一滯留時間。依據第一滯留時間與第二光感測信號,於查詢表獲得補償值,並以補償值對第二光感測信號進行補償。
本發明另提供一種具有補償功能的檢測裝置,包括第一卡匣、觸發單元、光源單元、感測單元與處理單元。第一卡匣配置用於加入樣本,使樣本側向流動至第一卡匣之反應區。觸發單元配置用於當樣本加入第一卡匣後產生第一觸發命令。光源單元提供光束照射於反應區。感測單元對應反應區配置,當樣本流動至反應區之起始位置,感測單元偵測起始位置以產生第一光感測信號,當樣本自起始位置進入反應區預定時間後於反應區產生呈色帶,感測單元偵測呈色帶以產生第二光感測信號。處理單元耦接觸發單元、光源單元與感測單元。其中,處理單元接收觸發命令以定義第一時間點,處理單元接收第一光感測信號,且當第一光感測信號大於或等於預設值時定義第二時間點,並計算第一時間點與第二時間點的時間差作為第一滯留時間,處理單元接收第二光感測信號,且依據第一滯留時間與第二光感測信號,於查詢表獲得補償值,並以補償值對第二光感測信號進行補償。
本發明所揭露之具有補償功能的檢測方法及檢測裝置,透過樣本加入第一卡匣,並感測第一卡匣之反應區之起始位置與呈色帶,以產生第一光感測信號與第二光感測信號。接著,依據第一觸發命令以定義第一時間點以及當第一光感測信號大於或等於預設值時定義第二時間點,並計算第一時間點與第二時間點的時間差作為第一滯留時間。之後,依據第一滯留時間與第二光感測信號,於查詢表取得對應之補償值,以便對第二光感測信號進行補償。如此,可使得第一卡匣所產生的測試數據較為準確,以降低檢測誤判的機率。
在以下所列舉的各實施例中,將以相同的標號代表相同或相似的元件或組件。
第1A圖為依據本發明之一實施例之具有補償功能的檢測裝置的示意圖。第1B圖為依據本發明之另一實施例之具有補償功能的檢測裝置的示意圖。請合併參考第1A圖及第1B圖,具有補償功能的檢測裝置100包括第一卡匣110、觸發單元150、光源單元160、感測單元170與處理單元180。其中,處理單元180耦接觸發單元150、光源單元160及感測單元170。
第一卡匣110配置用於加入樣本。其中,樣本加入第一卡匣110中可側向流動至第一卡匣110之反應區111(如圖所示之斜線部分)。在本實施例中,第一卡匣110例如為側向流檢測(lateral flow assay)測試卡匣,且可為例如心肌鈣蛋白I(cardiac troponin-I)或促黃體激素(Luteinizing Hormone)等生理代謝物質或病原體等檢測應用。並且,樣本例如包括血液、尿液或其他液態檢體。
另外,反應區111包括例如硝化纖維膜,樣本中的待測物(抗原)會先與第一卡匣110中的膠體金墊中的膠體金-偵測抗體複合物(colloidal gold-detection antibody conjugation)結合,隨後沿著反應區111流動並與至少兩條的呈色帶113(例如測試帶114及質控帶115)上的捕捉抗體(capture antibody)聚集結合,進而顯現出顏色的變化,以便進行檢測。
觸發單元150配置用於當樣本加入第一卡匣110後產生第一觸發命令。在本實施例中,觸發單元150配置於檢測裝置100的機殼上,第一卡匣110插入檢測裝置100並加入樣本後,使用者可按壓觸發單元150如按鈕(未圖示),以產生第一觸發命令。
在一些實施例中,觸發單元150例如為物理感測器,且觸發單元150可配置於檢測裝置100的機殼內,當使用者將樣本加入第一卡匣110,並將第一卡匣110放於托盤固定,托盤沿滑軌(未圖示)進入檢測裝置100的機殼內之一特定位置以觸壓觸發單元150,則觸發單元150產生第一觸發命令。
在一些實施例中,觸發單元150例如為感測器,且觸發單元150可配置於第一卡匣110之樣本加入處(未圖示)。當第一卡匣110插入檢測裝置100並加入樣本後,觸發單元150可以感測到樣本以產生第一觸發命令。
光源單元160提供一光束,且光束至少照射第一卡匣110之反應區111的起始位置112及呈色帶113。在本實施例中,光源單元160例如為發光二極體或是其他可發光裝置。
感測單元170對應第一卡匣110之反應區111設置,感測起始位置112及呈色帶113的透光狀態或光反射狀態,以獲得第一光感測信號與第二光感測信號。在本實施例中,光源單元160與感測單元170可以穿透式設置,亦即感測單元170相對於光源單元160設置。換言之,光源單元160與感測單元170分別設置於第一卡匣110的正反兩側。當光源單元160提供的光束穿透反應區111,到達位於第一卡匣110反面之感測單元170以產生第一光感測信號與第二光感測信號。
在一些實施例中,光源單元160與感測單元170可以反射式設置,如第1C圖或第1D圖所示,亦即光源單元160與感測單元170可配置於第一卡匣110的同一側。當光源單元160提供的光束照射於反應區111且反射至感測單元170以產生第一光感測信號與第二光感測訊號。另外,感測單元170例如為光二極體或是其他可接收光裝置。
處理單元180耦接觸發單元150、光源單元160與感測單元170,接收第一觸發命令、第一光感測信號與第二光感測信號。處理單元180依據第一觸發命令,以定義第一時間點T1(如圖1E所示之時間點T1)。並且,當第一光感測信號大或等於預設值時,處理單元180定義第二時間點T2(如圖1E所示之時間點T2),並計算第一時間點T1與第二時間點T2的時間差作為第一滯留時間。也就是說,當處理單元180接收到第一光感測信號時,處理單元180會將第一光感測信號與預設值進行比對,以確認樣本是否流動至反應區111的起始位置112。於本實施例中,預設值的範圍例如為2500-2800mV,且預設值可因不同檢測裝置、卡匣或其他環境狀態而調整。
舉例來說,檢測裝置100開機後,光源單元160與感測單元170會與第一卡匣110起始位置112之預定位置相對準,待處理單元180收到第一觸發命令並定義第一時間點T1後,感測單元170會持續偵測起始位置112之第一光感測信號。於第一時間點T1與第二時間點T2之間,由於樣本尚未流至起始位置112,因此起始位置112的硝化纖維膜維持乾燥而透光度低,感測單元170感測到的第一光感測信號很低,例如大約1100-1200mV。據此,當第一光感測信號小於預設值時,表示第一光感測信號沒有大幅增加,即起始位置112之透光度沒有大幅增加,處理單元180會確認樣本尚未流動至起始位置112,且處理單元180不會定義第二時間點T2,並持續接收第一光感測信號。
當第一光感測信號等於或大於預設值時,表示第一光感測信號有大幅增加,即起始位置112之透光度有大幅增加,處理單元180會確認樣本已流動至起始位置112而定義第二時間點T2。
接著,處理單元180例如將第二時間點T2減去第一時間點T1(即T2-T1),以獲得第一滯留時間,其中第一滯留時間代表樣本加入第一卡匣110並流至反應區111之起始位置112的時間。
之後,處理單元180會依據第一滯留時間與第二光感測信號於查詢表取得補償值,並以補償值對第二光感測信號進行補償。如此一來,可以使得第一卡匣110所產生的測試數據較為準確,以降低檢測誤判的機率。
在本實施例中,第一卡匣110包括測試條120、上卡匣130與下卡匣140。測試條120具有反應區111,且反應區111具有呈色帶113,而呈色帶113包括測試帶114與質控帶115。其中,測試條120例如為側向流檢測測試條。
上卡匣130設置在測試條120的一側,具有加樣開口131、第一對位孔132與第一偵測視窗133。加樣開口131用於加入樣本。第一對位孔132暴露反應區111的起始位置112,使光束可自對位孔132照射至起始位置112。第一偵測視窗133至少暴露反應區111的呈色帶113。第一對位孔132位於加樣開口131與第一偵測視窗133之間。
下卡匣140設置在測試條120的另一側,於一些實施例中,若為穿透式檢測裝置,則下卡匣140具有第二對位孔141與第二偵測視窗142,其中第二對位孔141的位置與第一對位孔132的位置對應,第二偵測視窗142的位置與第一偵測視窗133的位置對應。據此,光束可自第一對位孔132照射穿過起始位置112,再通過第二對位孔141至感測單元170。
在一些實施例中,光源單元160與感測單元170設置於上卡匣130相對測試條120的一側,亦即光源單元160與感測單元170設置在同一側,如第1C圖所示。並且,在此實施例中,下卡匣140可以不具有第二對位孔141與第二偵測視窗142。
在一些實施例中,光源單元160與感測單元170設置於下卡匣140相對測試條120的一側,亦即光源單元160與感測單元170設置在同一側,如第1D圖所示。並且,在此實施例中,上卡匣130可以不具有第一對位孔132與第一偵測視窗133。
在一些實施例中,光源單元160設置於上卡匣130相對測試條120的一側,感測單元170設置於下卡匣140相對測試條120的一側,亦即光源單元160與感測單元170位於第一卡匣110的相對兩側,如第1A圖與第1B圖所示。
另外,具有補償功能的檢測裝置100更包括移動單元190,如第1A圖和第1B圖所示。移動單元190耦接光源單元160、感測單元170與處理單元180。於一些實施例中,於檢測裝置100開機時,於第一觸發命令產生之前,處理單元180控制移動單元190,移動光源單元160與感測單元170對應至起始位置112,使光源單元160之光束照射於起始位置112以及感測單元170可感測起始位置112的透光狀態,以產生第一光感測信號。
於本實施例中,自第二時間點T2後經過一預定時間後,處理單元180控制感測單元170自反應區111之呈色帶113產生第二光感測信號,此預定時間例如為5到20分鐘等,但本發明不限於此,使樣本的待測物進入反應區111內進行免疫反應進而產生呈色帶(color ban)。於穿透式檢測裝置中,自第二時間點T2後經過一預定時間後,處理單元180控制移動單元190,使光源單元160與感測單元170及第一卡匣110作相對移動掃描,使光源單元160之光束照射於包含呈色帶113之反應區111,以及控制感測單元170可感測呈色帶113的透光狀態,以產生第二光感測信號。
於一些實施例中,處理單元180會等待預定時間之後控制移動單元190,用以移動光源單元160與感測單元170至呈色帶113,以便取得第二光感測信號。
在本實施例中,於第二時間點T2後之預定時間內,感測單元170持續於反應區111之起始位置112偵測第一光感測信號,處理單元180於預定時間內不斷比對第一光感測信號與預設值,以監控第一卡匣110中之樣本是否有異常現象。樣本異常例如血液樣本產生溶血現象等會使檢測失準,如有溶血現象,於第二時間點T2後之起始位置112的透光度會下降,所得到的第一光感測信號會降低,其曲線如S12。若第一光感測信號小於預設值時,則處理單元180會發出異常訊息讓使用者知道,則可停止後續檢測裝置100動作或是不採用該次第一光感測信號對應的第二光感測信號。
於預定時間內,當第一光感測信號持續大於或等於預設值時,如第1E圖所示之曲線S11,表示樣本未有異常現象,則處理單元180採用第一光感測信號對應之後續的第二光感測信號。也就是說,當第一光感測信號呈現出樣本未有異常現象時,處理單元180會採用此第一光感測信號對應的第二光感測信號,並將第二光感測信號與對應的第一滯留時間,於查詢表中查找補償值,以利用補償值對第二光感測信號進行補償。
第1F圖為依據本發明之一實施例之具有補償功能的檢測裝置之操作時序圖。請參考第1F圖,在時間點T0,將第一卡匣110置入檢測裝置100開機。將樣本加入第一卡匣110後,觸發單元150產生第一觸發命令,使得處理單元180依據第一觸發命令的產生時間,定義第一時間點(即時間點T1)。
當感測單元170所產生之第一光感測信號大於預設值時,處理單元180依據第一光感測信號大於預設值的時間,定義第二時間點(即時間點T2)。並且,處理單元180將第一時間點(即時間點T1)與第二時間點(即時間點T2)之間的時間作為第一滯留時間T12。
在時間點T2經過一預定時間T23的時間點T3,感測單元170感測包含呈色帶113之反應區111,以產生第二光感測信號,並將第二光感測信號提供給處理單元180。其中,預定時間例如為樣本於包含呈色帶113之反應區111的反應時間,時間點T3為樣本的反應終止時間。
進一步來說,如何建立查詢表,可以透過樣本標準品來對多個卡匣進行檢測。具有補償功能的測試裝置100更包括多個第二卡匣210_1~210_N,其中N為大於1的正整數,如第2A圖所示。第二卡匣210_1~210_N配置用於加入樣本,且樣本於第二卡匣210_1~210_N中側向流動並流至第二卡匣210_1~210_N之反應區211_1~211_N。
其中,第二卡匣210_1~210_N與第一卡匣110為同種卡匣,如反應區211_1~211_N與反應區111相同,起始位置212_1~212_N與起始位置112相同,呈色帶213_1~213_N與呈色帶113相同。並且,第二卡匣210_1~210_N的結構與其內部元件及設置方式與第1A圖、第1B圖、第1C圖和第1D圖之第一卡匣110的結構與其內部元件及設置方式相同,可參考第1A圖、第1B圖、第1C圖和第1D圖之實施例的說明,故在此不再贅述。另外,第二卡匣210_1~210_N的操作時序亦可參考第1F圖之實施例的說明,故在此不再贅述。
此外,觸發單元150更當樣本加入至第二卡匣210_1~210_N的時間後產生多個第二觸發命令。光源單元160提供光束照射於第二卡匣210_1~210_N之反應區211_1~211_N的起始位置212_1~212_N及呈色帶213_1~213_N。
感測單元170更感測起始位置212_1~212_N及呈色帶213_1~213_N的透光狀態或光反射狀態,以產生多個第三光感測信號與多個第四光感測信號。例如,當樣本流動至起始位置212_1~212_N時,感測單元170更偵測起始位置212_1~212_N的透光狀態或光反射狀態,以產生多個第三光感測信號。當樣本自起始位置212_1~212_N進入反應區211_1~211_N一預定時間後,於反應區211_1~211_N產生呈色帶213_1~213_N,感測單元170更偵測呈色帶213_1~213_N,以產生多個第四光感測信號。
處理單元180更依據接收多個第二觸發命令以分別定義多個第三時間點。處理單元180更接收第三光感測信號,且當第三光感測信號大於或等於預設值時,定義多個第四時間點,並計算第三時間點與第四時間點的時間差作為多個第二滯留時間。也就是說,當處理單元180接收到第三光感測信號時,處理單元180會將第三光感測信號與預設值進行比對,以確認樣本是否流動至起始位置212_1~212_N。
舉例來說,當第三光感測信號小於預設值時,表示第三光感測信號沒有大幅增加,即起始位置212_1~212_N之透光度沒有大幅增加,處理單元180會確認樣本尚未流動至起始位置212_1~212_N,且處理單元180不會定義產生第四時間點,並持續接收起始位置212_1~212_N之第三光感測信號。
當第三光感測信號大於或等於預設值時,表示第三光感測信號有大幅增加,即起始位置212_1~212_N之透光度有大幅增加,處理單元180會確認樣本已流動至起始位置212_1~212_N而定義第四時間點。
接著,處理單元180例如分別將多個第四時間點減去多個第三時間點,以獲得多個第二滯留時間,其中第二滯留時間代表樣本加入第二卡匣210_1~210_N並流至反應區211_1~211_N之起始位置212_1~212_N的時間。
之後,處理單元180依據第二滯留時間與第四光感測信號之信號值,計算出多個補償曲線之斜率與截距,以建立查詢表。如此一來,處理單元180可於查詢表之補償曲線之斜率與截距,找到對應之補償值,以便利用補償值對第一卡匣110對應之第二光感測信號之信號值進行補償,使得第一卡匣110所產生的測試數據較為準確,以降低檢測誤判的機率。
另外,在處理單元180取得前述多個第四光感測信號之後,處理單元180會依據多個第四光感測信號,計算一平均值。例如,處理單元180將N個第四光感測信號之信號值相加,以取得一加總值,並且將加總值除以第四光感測信號的數量N,以計算出平均值。
之後,處理單元180會依據該些第四光感測信號與平均值,產生多個差異值。例如,處理單元180將第四光感測信號之信號值減去平均值,以產生上述差異值。接著,處理單元180會依據上述差異值與第二滯留時間的對應關係,產生補償曲線,如第2B圖所示。例如,處理單元180對上述差異值與第二滯留時間進行線性回歸的計算,以產生補償曲線y=ax+b。並且,處理單元180利用補償曲線之斜率與截距,以建立查詢表。於一些實施例中,處理單元180會將平均值分別與該些第四光感測信號相除,以產生多個差異係數。接著,處理單元180會依據上述差異係數與第二滯留時間的對應關係,產生另一補償曲線,亦可建立查詢表。
在一實施例中,於檢測裝置100開機時,於第二觸發命令產生之前,處理單元180更控制移動單元190,移動光源單元160與感測單元170至起始位置212_1~212_N,使光束照射於起始位置212_1~212_N及感測起始位置212_1~212_N的透光狀態,以產生第三光感測信號。
並且,自第四時間點後經過一預定時間後,處理單元180更控制移動單元190,移動光源單元160與感測單元170移動至呈色帶213_1~213_N,使光束照射於呈色帶213_1~213_N及感測呈色帶213_1~213_N的透光狀態,以產生第四光感測信號。其中,預定時間例如為5-20分鐘,但本發明不限於此。
也就是說,當處理單元180定義出第四時間點時,處理單元180會等待預定時間之後,控制移動單元190,移動光源單元160與感測單元170至呈色帶213_1~213_N,以便取得第四光感測信號。
此外,在本實施例中,於第四時間點後之預定時間內,處理單元180持續比對起始位置212_1~212_N之第三光感測信號與預設值,以確認第二卡匣210_1~210_N中之樣本是否有異常現象,例如樣本異常或被汙染等。當多個第三光感測信號之任一小於預設值時,處理單元180產生異常信息,表示樣本有異常現象產生,即代表呈色帶213_1~213_N之透光度也會異常。對此,將不採用該次對應第三光感測信號的第四光感測信號,以避免影響查詢表之補償曲線的建立。
於預定時間內,當第三光感測信號持續大於或等於預設值時,表示樣本未有異常現象,處理單元180採用此第三光感測信號對應之後續的第四光感測信號。之後,處理單元180會採用這些第四光感測信號作為產生補償曲線及建立查詢表的依據。對此,自起始位置獲得的第三光感測信號可做為背景信號,用以監控樣本的狀態。
表1為多個第二卡匣在同一濃度C1樣本下,第二滯留時間、第四光感測信號、平均值、差異值、差異係數的對應關係表。在表1中,可以看出使用同一濃度樣本對10個第二卡匣210_1~210_10進行檢測。其中,表1中並未出現第二卡匣210_7的測試結果,表示第二卡匣210_7之樣本有異常現象,所以第二卡匣210_7的測試數據不被處理單元180採用,以避免所產生的補償值不準確。
並且,將第二卡匣210_1~210_6及210_8~210_10對應之第四光感測信號之信號值相加後,再將加總值除以第二卡匣的數量(即9),以計算出平均值(即315)。接著,將第二卡匣210_1~210_6及210_8~210_10對應之第四光感測信號之信號值減去平均值,產生第二卡匣210_1~210_6及210_8~210_10對應之差異值。於一些實施例中,將平均值分別除以第二卡匣210_1~210_6及210_8~210_10對應之第四光感測信號之信號值,以產生第二卡匣210_1~210_6及210_8~210_10對應之差異係數。
之後,在將第二卡匣210_1~210_6及210_8~210_10對應之差異值與第二滯留時間進行線性回歸的計算(如第2B圖所示之補償曲線S21),據此獲得在信號區間1之一組補償曲線1之斜率a1與截距b1,如表2及第2C圖所示。於一些實施例中,亦可將第二卡匣210_1~210_6及210_8~210_10對應之差異係數與第二滯留時間進行線性回歸的計算而獲得信號區間1之另一組斜率與截距。 表1 第二卡匣、第二滯留時間、第四光感測信號、平均值、差異值、差異係數的對應關係表
在上述實施例中,加入至第二卡匣210_1~210_10的樣本為相同濃度的樣本,而取得信號區間1的斜率a1與截距b1。接著,對第二卡匣210_11~210_20分別加入另一濃度C2的樣本進行檢測,並且可參考上述實施例的說明進行操作,而取得信號區間2之一組補償曲線2的斜率a2與截距b2;換言之,將不同濃度C1~CM的樣本分別進行上述操作,而產生M組的補償曲線M之斜率aM與截距bM。據此,建立查詢表如表2,其為光感測信號區間之信號區間1~M和補償曲線之斜率與截距的對應關係表。
當未知濃度的樣本進行第一卡匣的檢測時,處理單元獲得一第一滯留時間與一第二光感測信號,於查詢表中確認其第二光感測信號屬於某一信號區間,依據其信號區間之斜率與截距,處理單元將其第一滯留時間帶入其斜率與截距的補償曲線進行計算,而獲得補償值,以對其第二光感測信號進行補償。 表2 光感測信號區間、補償曲線之斜率、補償曲線之截距的對應關係表
於本實施例中,查詢表是依據差異值與第二滯留時間進行線性回歸而建立,據此查詢表計算得出的補償值,將第二光感測信號減去其補償值,可獲得補償後的光感測信號,以更逼近真實的待測物濃度。於一些實施例中,查詢表是依據差異係數與第二滯留時間進行線性回歸而建立,據此查詢表計算得出的補償值,將第二光感測信號乘以其補償值,可獲得補償後的光感測信號,以更逼近真實的待測物濃度。
透過上述實施例的說明,可以歸納出一種具有補償功能的檢測方法。第3圖為依據本發明之一實施例之具有補償功能的檢測方法的流程圖。
在步驟S302中,加入樣本至第一卡匣後提供第一觸發命令以定義第一時間點。在步驟S304中,偵測第一卡匣之反應區之起始位置,當獲得大於或等於預設值之第一光感測信號,定義第二時間點。
在步驟S306中,經過一預定時間後自反應區之呈色帶獲得第二光感測信號。在步驟S308中,計算第一時間點與第二時間點的時間差作為第一滯留時間。在步驟S310中,依據第一滯留時間與第二光感測信號,於查詢表獲得補償值,並以補償值對第二光感測信號進行補償。
第4圖為依據本發明之另一實施例之具有補償功能的檢測方法的流程圖。在步驟S402中,加入樣本至第一卡匣後提供第一觸發命令以定義第一時間點。在步驟S404中,偵測第一卡匣之反應區之起始位置,當獲得大於或等於預設值之第一光感測信號,定義第二時間點。
在步驟S406中,持續取得第二時間點後之預定時間內之第一光感測信號。在步驟S408中,經過預定時間後自反應區之呈色帶獲得第二光感測信號。在步驟S410中,比對第二時間點後之預定時間內之第一光感測信號與預設值。在步驟S412中,當第二時間點後之預定時間內之第一光感測信號小於預設值時,產生異常信息,並刪除對應第一光感測信號的第二光感測信號。
在步驟S414中,當第二時間點後之預定時間內之第一光感測信號持續大於或等於預設值時,採用對應第一光感測信號的第二光感測信號。在步驟S416中,計算第一時間點與第二時間點的時間差作為第一滯留時間。
在步驟S418中,依據第一滯留時間與第二光感測信號,於查詢表獲得補償值,並以補償值對第二光感測信號進行補償。
第5圖為依據本發明之又一實施例之具有補償功能的檢測方法的流程圖。在步驟S502中,加入樣本至多個第二卡匣後,提供多個第二觸發命令以分別定義多個第三時間點。在步驟S504中,偵測第二卡匣之反應區之起始位置,當獲得大於或等於預設值之多個第三光感測信號,定義多個第四時間點。
在步驟S506中,分別經過預定時間後自第二卡匣之反應區之呈色帶獲得多個第四光感測信號。在步驟S508中,計算第三時間點與第四時間點的時間差作為多個第二滯留時間。
在步驟S510中,依據第二滯留時間與第四光感測信號,獲得多個補償曲線之斜率與截距,以建立查詢表。也就是說,第5圖可以是建立查詢表的流程。接著,在步驟S510執行後,可進入第3圖之步驟S302,並執行第3圖之流程。
第6圖為第5圖之步驟S510的詳細流程圖。在步驟S602中,依據第四光感測信號,計算平均值。在步驟S604中,依據第四光感測信號與平均值,產生多個差異值或多個差異係數。在步驟S606中,依據差異值或差異係數與第二滯留時間的補償曲線,建立具有多個信號區間與相對應之斜率與截距之查詢表。
第7圖為依據本發明之又一實施例之具有補償功能的檢測方法的流程圖。在步驟S702中,加入樣本至多個第二卡匣後,提供多個第二觸發命令以分別定義多個第三時間點。在步驟S704中,偵測第二卡匣之反應區之起始位置,當獲得大於預設值之多個第三光感測信號,定義多個第四時間點。
在步驟S706,持續取得第四時間後之預定時間內之第三光感測信號。在步驟S708中,分別經過預定時間後自第二卡匣之反應區之呈色帶獲得多個第四光感測信號。
在步驟S710中,比對第四時間點後之預定時間內之第三光感測信號與預設值。當第四時間點後之預定時間內之多個第三光感測信號之任一小於預設值時,進入步驟S712,產生異常信息,並刪除對應第三光感測信號之任一的該第四光感測信號。
在步驟714中,當第四時間點後之預定時間內之第三光感測信號持續大於或等於預設值時,採用對應第三光感測信號對應的第四光感測信號。在步驟S716中,計算第三時間點與第四時間點的時間差作為多個第二滯留時間。在步驟S718中,依據第二滯留時間與第四光感測信號,獲得多個補償曲線之斜率與截距,以建立查詢表。
綜上所述,本發明所揭露之具有補償功能的測試方法與測試裝置,透過樣本加入第一卡匣,並感測第一卡匣之反應區之起始位置與呈色帶,以產生第一光感測信號與第二光感測信號。接著,依據第一觸發命令以定義第一時間點以及當第一光感測信號大於預設值時定義第二時間點,並計算第一時間點與第二時間點的時間差作為第一滯留時間。之後,依據第一滯留時間與第二光感測信號,於查詢表取得對應之補償值,以便對第二光感測信號進行補償。另外,還可以對多個第二卡匣進行上述檢測,以產生多個補償曲線之斜率與截距,並利用這些補償曲線之斜率與截距建立上述查詢表。如此,可使得第一卡匣所產生的測試數據較為準確,以降低檢測誤判的機率。
本發明雖以實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明的範圍,任何所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可做些許的更動與潤飾,因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
100‧‧‧具有補償功能的測試裝置110‧‧‧第一卡匣111‧‧‧反應區112‧‧‧起始位置113‧‧‧呈色帶114‧‧‧測試帶115‧‧‧質控帶120‧‧‧測試條130‧‧‧上卡匣131‧‧‧加樣開口132‧‧‧第一對位孔133‧‧‧第一偵測視窗140‧‧‧下卡匣141‧‧‧第二對位孔142‧‧‧第二偵測視窗150‧‧‧觸發單元160‧‧‧光源單元170‧‧‧感測單元180‧‧‧處理單元190‧‧‧移動單元210_1~210_N‧‧‧第二卡匣211_1~211_N‧‧‧反應區212_1~212_N‧‧‧起始位置213_1~213_N‧‧‧呈色帶S11、S12、S21‧‧‧曲線T0、T1、T2、T3‧‧‧時間點T12‧‧‧第一滯留時間T23‧‧‧預定時間S302、S304、S306、S308、S310、S402、S404、S406、S408、S410、S412、S414、S416、S418、S502、S504、S506、S508、S510、S602、S604、S606、S702、S704、S706、S708、S710、S712、S714、S716、S718‧‧‧步驟
第1A圖為依據本發明之一實施例之具有補償功能的檢測裝置的示意圖。 第1B圖為依據本發明之另一實施例之具有補償功能的檢測裝置的示意圖。 第1C圖為依據本發明之又一實施例之具有補償功能的檢測裝置的示意圖。 第1D圖為依據本發明之又一實施例之具有補償功能的檢測裝置的示意圖。 第1E圖為依據本發明之一實施例之第一光感測信號的波形圖。 第1F圖為依據本發明之一實施例之具有補償功能的檢測裝置之操作時序圖。 第2A圖為依據本發明之又一實施例之具有補償功能的檢測裝置的示意圖。 第2B圖為依據本發明之一實施例之差異值與第二滯留時間的對應關係示意圖。 第2C圖為依據本發明之一實施例之光感測信號區間、補償曲線之斜率、補償曲線之截距的對應關係示意圖。 第3圖為依據本發明之一實施例之具有補償功能的檢測方法的流程圖。 第4圖為依據本發明之另一實施例之具有補償功能的檢測方法的流程圖。 第5圖為依據本發明之又一實施例之具有補償功能的檢測方法的流程圖。 第6圖為第5圖之步驟S510的詳細流程圖。 第7圖為依據本發明之又一實施例之具有補償功能的檢測方法的流程圖。
S302、S304、S306、S308、S310‧‧‧步驟
Claims (13)
- 一種具有補償功能的檢測方法,包括:(a)加入一樣本至一第一卡匣後提供一第一觸發命令以定義一第一時間點;(b)偵測該第一卡匣之一反應區之一起始位置,當獲得大於或等於一預設值之一第一光感測信號,定義一第二時間點;(c)經過一預定時間後自該反應區之一呈色帶獲得一第二光感測信號;(d)計算該第一時間點與該第二時間點的時間差作為一第一滯留時間;以及(e)依據該第一滯留時間與該第二光感測信號,於一查詢表獲得一補償值,並以該補償值對該第二光感測信號進行補償。
- 如申請專利範圍第1項所述之具有補償功能的檢測方法,其中步驟(b)與(c)之間更包括:持續取得該第二時間點後之該預定時間內之該第一光感測信號;以及其中,步驟(c)與(d)之間更包括:比對該第二時間點後之該預定時間內之該第一光感測信號與該預設值;當該第二時間點後之該預定時間內之該第一光感測信號小於該預設值時,產生一異常信息,並刪除對應該第一光感測信號的該第二光感測信號;以及 當該第二時間點後之該預定時間內之該第一光感測信號持續大於或等於該預設值時,採用對應該第一光感測信號的該第二光感測信號。
- 如申請專利範圍第1項所述之具有補償功能的檢測方法,更包括:(f)加入該樣本至多個第二卡匣後,提供多個第二觸發命令以分別定義多個第三時間點;(g)偵測該些第二卡匣之一反應區之一起始位置,當獲得大於或等於該預設值之多個第三光感測信號,定義多個第四時間點;(h)分別經過該預定時間後自該些第二卡匣之該反應區之一呈色帶獲得多個第四光感測信號;(i)計算該些第三時間點與該些第四時間點的時間差作為多個第二滯留時間;以及(j)依據該些第二滯留時間與該些第四光感測信號,獲得多個補償曲線之斜率與截距,以建立該查詢表。
- 如申請專利範圍第3項所述之具有補償功能的檢測方法,其中步驟(j)包括:依據該些第四光感測信號,計算一平均值;依據該些第四光感測信號與該平均值,產生多個差異值或多個差異係數;以及依據該些差異值或該些差異係數與該些第二滯留時間的該些補償曲線,建立具有多個信號區間與相對應之該些斜率與截距之該查詢表。
- 如申請專利範圍第4項所述之具有補償功能的檢測方法,其中步驟(g)與(h)之間更包括:持續取得該些第四時間點後之該預定時間內之該些第三光感測信號;以及其中,步驟(h)與(i)之間更包括:比對該些第四時間點後之該預定時間內之該些第三光感測信號與該預設值;當該些第四時間點後之該預定時間內之該些第三光感測信號之任一小於該預設值時,產生一異常信息,並刪除對應該第三光感測信號的該第四光感測信號;以及當該些第四時間點後之該預定時間內之該些第三光感測信號持續大於或等於該預設值時,採用對應該些第三光感測信號的該些第四光感測信號。
- 一種具有補償功能的檢測裝置,包括:一第一卡匣,配置用於加入一樣本,使該樣本側向流動至該第一卡匣之一反應區;一觸發單元,配置用於當該樣本加入該第一卡匣後產生一第一觸發命令;一光源單元,提供一光束照射於該反應區;一感測單元,對應該反應區配置,當該樣本流動至該反應區之一起始位置,該感測單元偵測該起始位置以產生一第一光感測信號,當 該樣本自該起始位置進入該反應區一預定時間後於該反應區產生一呈色帶,該感測單元偵測該呈色帶以產生一第二光感測信號;以及一處理單元,耦接該觸發單元、該光源單元與該感測單元,其中,該處理單元接收該第一觸發命令以定義一第一時間點,該處理單元接收該第一光感測信號,且當該第一光感測信號大於或等於一預設值時定義一第二時間點,並計算該第一時間點與該第二時間點的時間差作為一第一滯留時間,該處理單元接收該第二光感測信號,且依據該第一滯留時間與該第二光感測信號,於一查詢表獲得一補償值,並以該補償值對該第二光感測信號進行補償。
- 如申請專利範圍第6項所述之具有補償功能的檢測裝置,其中該處理單元更比對該第一光感測信號與該預設值,且當該第一光感測信號小於該預設值時,該處理單元產生一異常信息。
- 如申請專利範圍第6項所述之具有補償功能的檢測裝置,其中該第一卡匣包括:一測試條,具有該反應區,且該反應區具有該呈色帶;一上卡匣,設置在該測試條的一側,具有一加樣開口、一第一對位孔與一第一偵測視窗,其中該加樣開口用於加入該樣本,該第一對位孔暴露該反應區的該起始位置,該第一偵測視窗對應包含該呈色帶之該反應區,且該第一對位孔位於該加樣開口與該第一偵測視窗之間;以及 一下卡匣,設置在該測試條的另一側,具有一第二對位孔與一第二偵測視窗,其中該第二對位孔與該第一對位孔對應,該第二偵測視窗與該第一偵測視窗對應。
- 如申請專利範圍第8項所述之具有補償功能的檢測裝置,其中該光源單元與該感測單元設置於該上卡匣相對該測試條的一側,或設置於該下卡匣相對該測試條的一側。
- 如申請專利範圍第8項所述之具有補償功能的檢測裝置,其中該光源單元設置於該上卡匣相對該測試條的一側,及該感測單元設置於該下卡匣相對該測試條的一側。
- 如申請專利範圍第6項所述之具有補償功能的檢測裝置,更包括:一移動單元,耦接該光源單元、該感測單元與該處理單元;其中,於該第一觸發命令之前,該處理單元控制移動單元,移動該光源單元與該感測單元對應至該起始位置,使該光源單元之光束照射於該起始位置以及使該感測單元感測該起始位置,以產生該第一光感測信號;其中,於該第二時間點後之該預定時間,該處理單元控制該移動單元,使該光源單元與該感測單元移動至該呈色帶,使該光源單元之光束至少照射於該呈色帶以及使該感測單元感測該呈色帶,以產生該第二光感測信號。
- 如申請專利範圍第6項所述之具有補償功能的檢測裝置,更包括: 多個第二卡匣,配置用於分別加入該樣本,使該樣本側向流動至該些第二卡匣之一反應區;其中,該觸發單元更當該樣本加入該些第二卡匣後產生多個第二觸發命令;其中,該光源單元更提供該光束於照射於該些第二卡匣之該反應區;其中,當該樣本流動至該些第二卡匣之該反應區之一起始位置,該感測單元更偵測該些第二卡匣之該反應區之該起始位置以產生多個第三光感測信號,且當該樣本自該些第二卡匣之該反應區之該起始位置進入該些第二卡匣之反應區該預定時間後,於該些第二卡匣之該反應區產生一呈色帶,該感測單元更偵測該些反應區之該呈色帶以產生多個第四光感測信號;其中,該處理單元更接收該些第二觸發命令以定義多個第三時間點,該處理單元更接收該些第三光感測信號,且當該些第三光感測信號大於或等於該預設值時,定義多個第四時間點,並計算該些第三時間點與該些第四時間點的時間差作為多個第二滯留時間,該處理單元更接收該些第四光感測信號,依據該些第二滯留時間與該些第四光感測信號,計算出多個補償曲線之斜率與截距,以建立該查詢表。
- 如申請專利範圍第12項所述之具有補償功能的檢測裝置,其中該處理單元依據該些第四光感測信號,計算一平均值,且依據該些第四光感測信號與該平均值,產生多個差異值或多個差異係數,並依據該些差異值或該些差異係數與該些第二滯留時間的該些補 償曲線,以建立具有多個信號區間與相對應之該些斜率與截距之該查詢表。
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