TWI684760B - 利用量測裝置量測測試片之反應腔室中之樣本中分析物之濃度的方法及通用型測試片 - Google Patents

利用量測裝置量測測試片之反應腔室中之樣本中分析物之濃度的方法及通用型測試片 Download PDF

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Abstract

一種量測一測試片之一反應腔室中之一樣本中分析物之濃度的方法，其包含將該測試片之一第一電極設定為一輔助電極，於一第一期間施加一第一訊號於該測試片之一工作電極，將該測試片之一第二電極設定為該輔助電極，於一第二期間施加一第二訊號於該測試片之該工作電極，以及於該第二期間量測該樣本中分析物的濃度。

Description

利用量測裝置量測測試片之反應腔室中之樣本中分析物之濃 度的方法及通用型測試片
本發明係關於一種建構通用型的測試片結構，特別係關於一種建構通用型的測試片並可兼容於使用不同類型的電化學偵測，並具有識別機制之測試片。
電化學生物感測器係用來感測檢測樣本之各種分析物的濃度，這些分析物包含生物體液的葡萄糖、尿酸與膽固醇。當測試檢測樣本時，測試片會被插入一個量測裝置，該檢測樣本係滴在測試片之反應腔室上，以感測檢測樣本各種分析物的濃度。
在生物感測器的市場趨勢上，愈來愈朝向多功能生物感測器的方向發展。換句話說，愈來愈多的需求是在使用一個量測裝置，即可達成包含葡萄糖，尿酸和/或膽固醇在內的各種檢測。然而開發多功能生物感測器仍有幾個技術問題尚待解決，這些技術問題包括開發一種可置入一個量測裝置的通用測試片，其具有不同的設定來進行相異分析物的檢測。其他技術問題包括可在執行 檢測之前識別待檢測物的類別，開發一種通用測試片，其對於不同檢測項目的檢測電壓或檢測電流都在可承受範圍內，以及開發即使當檢測電壓或檢測電流超過可承受範圍時仍可產生正確檢測結果的小反應腔室空間的通用型測試片。
雖然藉由開發通用測試片可以有效地降低生產成本，然而通用測試片在進行檢測時，檢測電壓或檢測電流卻可能超過電極可承受的範圍，其原因包括檢測物的濃度過高，樣本體積不足以覆蓋反應腔室中電極的理想面積，輔助電極的面積降到過小導致反應區域不足，工作電極和參考電極之間的正電壓和負電壓不當的參雜，或者電化學過程引起的燃盡(Burn-off)。通常發生在輔助電極上之超過其可承受的範圍可能會損壞後續步驟的有效反應區域，這些損壞包括電極表面變質，沉積物落在反應區，樣本電解或電極表面上產生反應氣泡。如果有效反應區域受損，則後續檢測結果可能會不凖確，因此需要開發一種通用測試片，其可辨識所需測試片的類型並避免傷害電極而影響後續的檢測結果。
近年來，越來越多人成為糖尿病患者，糖尿病患者需要每天進行至少3-4次的血糖檢測，倘若血糖濃度過高，可以使用胰島素來降低血糖濃度，如此可減少醫療並發症的風險，如視力下降和腎功能衰竭，因此準確測量血糖濃度是對糖尿病患者是很重要的課題。
在先前技術中，量測裝置會使用具有輔助電極但沒有參考電極的測試片，與同時具有輔助電極和參考電極的測試片相比，當沒有參考電極時，測試片的穩定性和準確性會降低，因此先前量測裝置有時會使用具有分開的參考電極和輔助電極的測試片，電極可由在測試片的基底上形成的複數個導電材料層形成。當將樣本置於測試片時，在測試片的反應腔室上會進行化學反應，樣 本會與反應腔室之三個電極部分接觸，而流過工作電極和輔助電極的電流大小係根據分析物的濃度決定。若欲在測試片的反應腔室內增加一電極，則會增加反應腔室的面積，而量測裝置欲達成的目標就是期待能夠僅由少量樣本就能準確地量測分析物的濃度。
當增加另一電極時，不僅反應腔室的面積要增加，樣本的體積也要增加。因此，需要開發一種技術，其僅需要少量樣本就能精確測量分析物的濃度。當工作電極和輔助電極兩端間的電壓或電流密度過高時，輔助電極表面的特性或狀況可能會永久或暫時改變。例如，當電流太高時，輔助電極的表面積可能無法接收瞬時電流並形成過電流。在某些情況下，施加一第二組電壓並量測電流可能是需要的，這代表第二組電壓必須要施加到測試片上，由於在提供給測試片的第一組電壓期間輔助電極可能已經被損壞，所以測試片在施加第一組電壓期間讀數的準確性是難以確定的。因此，需要開發一種量測裝置的操作方法，其可凖確地讀出電流以測量樣本中分析物的濃度。
本發明之一實施例揭露一種利用一量測裝置量測一測試片之一反應腔室中之一樣本中分析物之濃度的方法，其包含將該樣本置於已連接該量測裝置之該測試片之該反應腔室中；將該測試片之一第一電極設定為一輔助電極；於一第一期間施加一第一訊號於該測試片之一工作電極；將該測試片之一第二電極設定為該輔助電極；於一第二期間施加一第二訊號於該測試片之該工作電極；以及於該第二期間量測該樣本中分析物的濃度。量測裝置的操作方法可以藉由量測裝置中的微處理控制單元(MCU)來控制和執行。該方法是為了確保當多於一次的電壓施加在測試片時，第二次以後施加電壓後所讀取的數值可以 使用未損壞的電極作為輔助電極，以提升讀取數值的準確度，因此該方法可以確保後續讀值的準確性。
本發明之另一實施例揭露一種通用型測試片，其包含一基板；一工作電極，形成於該基板上；一第一電極，形成於該基板上；以及一第二電極，形成於該基板上。該測試片之該工作電極具有複數個電阻區塊，該複數個電阻區塊分別被配置並且互相以串聯的方式電連接，該工作電極具有至少兩個電極襯墊，用以電連接至一量測裝置。
101至106‧‧‧步驟
200、400、500、800、900‧‧‧測試片
201、501、801‧‧‧工作電極
202、502‧‧‧第一電極
203、503‧‧‧第二電極
204‧‧‧基板
205、505‧‧‧間隔層
206‧‧‧覆蓋層
205a、505a‧‧‧凹口
210、806‧‧‧反應腔室
301至304‧‧‧電極襯墊
305‧‧‧複數個電阻區塊
401至403‧‧‧電傳導層
504‧‧‧第一基板
506‧‧‧第二基板
802‧‧‧參考電極
803‧‧‧第一輔助電極
804‧‧‧第二輔助電極
805‧‧‧基板
H‧‧‧高電阻區塊
L‧‧‧低電阻區塊
R1、R2‧‧‧電阻
第1圖為本發明實施例之操作方法之流程圖。
第2圖為本發明實施例通用型測試片之結構圖。
第3圖為第2圖測試片之基板的示意圖。
第4圖為本發明實施例另一測試片之基板的示意圖。
第5圖為本發明實施例之再另一測試片之結構圖。
第6圖為第3圖工作電極之複數個電阻區塊之示意圖。
第7圖為本發明另一實施例之複數個電阻區塊之示意圖。
第8圖為本發明實施例之再另一測試片之基板的示意圖。
第9圖為本發明實施例之再另一測試片之基板的示意圖。
第10圖為第6圖複數個電阻區塊之等效電路圖。
第1圖為本發明一操作方法之實施例之流程圖，第2圖為本發明實施 例之通用型測試片200之結構圖，該操作方法包含但不限定於以下的步驟：步驟101：將檢測樣本放置於測試片200之反應腔室210上；步驟102：將測試片200之第一電極202設定為輔助電極；步驟103：於第一期間施加第一訊號於測試片200之工作電極201；步驟104：將測試片200之第二電極203設定為輔助電極；步驟105：於第二期間施加第二訊號於測試片200之工作電極201；步驟106：於第二期間量測檢測樣本中分析物的濃度。
測試片200包含工作電極201、第一電極202及第二電極203，工作電極201、第一電極202及第二電極203係形成於基板204之上。間隔層205係配置在工作電極201、第一電極202及第二電極203之上方，以保護工作電極201、第一電極202及第二電極203，間隔層205具有凹口205a，用以暴露部分工作電極201、第一電極202及第二電極203。覆蓋層206係配置在間隔層205之上，並與間隔層205之凹口205a及基板204形成反應腔室210，反應腔室210可容納一試劑，用以與檢測樣本產生化學反應。
第3圖為至少具有三個電極的測試片200之基板204的示意圖，其中將第一電極202於第一時段設定為輔助電極(counter electrode,auxiliary electrode)，於第二時段設定為參考電極(reference electrode)，並將第二電極203於第二時段設定為輔助電極(counter electrode,auxiliary electrode)。輔助電極的功能是在電化學反應時用於平衡由工作電極所產生的電流(current)迴路，也就是輔助電極在理想狀態能在電化學反應時滿足電子預期的流動量。參考電極的功能則是一種具有一穩定且已知電位之電極，用以提供工作電極與參考電極之間穩定的電壓差。工作電極係電化學反應系統中發生反應之電極，在本實施例中僅包含一個工作 電極201，以降低反應腔室210的空間。在一些實施例中，測試片200包含一個以上的工作電極201，其中每個工作電極201可被不同酶所覆蓋(或是其中一個工作電極201未被酶所覆蓋)以用於測試不同的分析物。當測試片200之工作電極201僅用於測試一種分析物時，測試片200可以被製造成僅具有一個工作電極201，如此一來，便不需要額外的工作電極201，得以縮小反應腔室210。測試片的設計主要在於能夠將測試樣本完整覆蓋在工作電極上，然而測試樣本覆蓋在輔助電極上的設計是相對被忽略的，而工作電極的設計則是能夠在進行檢測時得以承受施加於其上的電壓或電流而不至於損傷或失去功能。工作電極201電連接至電極襯墊301、304，電極襯墊302與第一電極202電連接，電極襯墊303與第二電極203電連接。第一電極202可在第一時段作為輔助電極，並可在第二時段作為參考電極；第二電極203在第二時段作為輔助電極，並可選擇性的在第一時段作為參考電極，由於在第一時段作為參考電極期間並沒有電流流經第二電極203，因此不會因為過高的電流造成電極損壞，而輔助電極跟參考電極的切換可藉由量測裝置微控制器控制內部電路的切換。電極襯墊301、302、303、304用來將測試片200與一讀取電路電連接，此外，工作電極201更包含複數個相電耦合的電阻區塊305，工作電極201、第一電極202、第二電極203及電極襯墊301、302、303、304係利用第一傳導材料形成於基板204之上，在本實施例中，第一傳導材料係碳黑(carbon black)，但工作電極201、第一電極202與第二電極203不限定以碳黑形成，在一些其他的實施例中，工作電極201、第一電極202與第二電極203可利用其他電傳導材料所形成。
第4圖為本發明實施例另一測試片400之基板204的示意圖，工作電極201電連接至電極襯墊301、304，電極襯墊302電連接至第一電極202，電極襯墊303電連接至第二電極203，電極襯墊301、302、303、304係用以將測試片400與 讀取電路電連接，此外工作電極201更包含複數個電阻區塊305。
此外，於工作電極201與第二電極203形成之前，可先於基板204上利用第二傳導材料形成電傳導層，第二傳導材料比第一傳導材料具有較高的導電性。如第4圖所示，使用第二傳導材料形成之電傳導層401可形成於基板204上形成工作電極201之第一部分連結至電極襯墊301的位置，使用第二傳導材料形成之電傳導層402可形成於基板204上形成工作電極201之第二部分連結至電極襯墊304的位置，使用第二傳導材料形成之電傳導層403可形成於基板204上形成第二電極203連結至電極襯墊303的位置。在本實施例中，因為用來形成電傳導層401、402、403之第二傳導材料相較用於形成工作電極201、第一電極202與第二電極203之第一傳導材料具有較高之導電性，因此第二傳導材料可為銀、金及鉑。當第二傳導材料為銀時，由於銀容易氧化，因此第一傳導材料係覆蓋於第二傳導材料之上，以避免第二傳導材料氧化。在一些實施例中，可使用相異的第二傳導材料在基板204上形成位於電極襯墊301、電極襯墊302、電極襯墊303、電極襯墊304、工作電極201、第一電極202及/或第二電極203下方的電傳導層。
請參考第3圖與第4圖，當使用第3圖與第4圖中之測試片200、400時，第一電極202在第一期間的步驟中設定作為輔助電極，第二電極203在第一期間的步驟中設定作為參考電極，因為第二電極203係用以提供工作電極201與第二電極203間之一固定電壓差，所以於第一期間幾乎沒有電流流經第二電極203，於是第二電極203不會因為過高的電流而損壞，因此第一電極202初始第一期間設定作為輔助電極之後於第二期間之前，再設定作為參考電極，第二電極203初始第一期間時設定作為參考電極之後於第二期間之前，再設定作為輔助電極，並於第二期間進行樣本中分析物濃度的量測；在本實施例中，量測裝置之內部 電路包含至少一開關，用以切換測試片200、400之工作電極201、第一電極202、第二電極203與內部電路之電連接，其中切換可經由微控制器所控制，用於將第一電極202初始時設定作為輔助電極之後於第二期間之前，再設定作為參考電極，以及將第二電極203初始時設定作為參考電極之後於第二期間之前，再設定作為輔助電極用途。第5圖為本發明實施例之再另一測試片500之結構圖，工作電極501係形成於第一基板504，第一電極502與第二電極503係形成於第二基板506，間隔層505係配置於第一基板504與第二基板506之間，間隔層505具有凹口505a，用以暴露部分工作電極501、第一電極502與第二電極503。當工作電極501與第一電極502及第二電極503彼此為等距時，由第一電極502作為參考電極與第二電極503作為輔助電極讀取到的數據會與由第一電極502作為輔助電極與第二電極503作為參考電極讀取到的數據實質上會具有相同的準確度。
第6圖為第3圖工作電極201之複數個電阻區塊305之示意圖，複數個電阻區塊305可包含高電阻區塊H與低電阻區塊L，複數個電阻區塊305之總電阻值係用以提供測試片200之資料，測試片200之資料包含但不限制於，對應於每批貨之校準資訊、使用期限、銷售通路、指定的市場、量測模式、指定市場的語言以及對應的檢測種類，讀取測試片資料之機制可在執行檢測前即能識別不同種類的測試片，複數個電阻區塊305於初始時皆為低電阻區塊L的形式，每一個低電阻區塊L具有四邊形的形狀，根據不同的測試片種類，將特定數量的低電阻區塊L轉換成高電阻區塊H的形式，在本實施例中，藉由移除低電阻區塊之短路徑一邊的電連路徑可將低電阻區塊L轉換成高電阻區塊H。
請參考第3圖與第6圖，複數個電阻區塊305之電阻值係由電流流經複數個電阻區塊305之路徑之距離決定，為了形成高電阻區塊H，可移除低電阻區 塊L之部分結構，來移除流經工作電極201之短路徑一邊的電連路徑。此外，請參考第6圖與第7圖，相鄰的電阻區塊其四邊形的一角彼此間藉由電傳導材料層相電連接，電傳導材料層可與電阻區塊電傳導材料同層，電阻區塊其四邊形同邊的另一角再連接另一個電阻區塊，因此多個電阻區塊彼此串聯以耦接成一電導線路。
請參考第3圖、第4圖與第10圖，第10圖為第6圖複數個電阻區塊305之等效電路圖。在初始時，低電阻區塊L的兩個電阻R1、R2係以並聯方式電連接，當電阻R2經由雷射剝蝕處理移除後，低電阻區塊L變成高電阻區塊H，因此高電阻區塊H之電阻值較低電阻區塊L之電阻值為高，另外為了進一步降低由低電阻區塊L造成之電阻值，第4圖中的電傳導層402可增加電阻區塊305之導電性，使得低電阻區塊L之電阻值幾乎等於0。
複數個電阻區塊305之總電阻值係由以下方程式決定：RAB=(n)RH+[(N-n)RL]，RAB係複數個電阻區塊305之總電阻值，n係複數個電阻區塊305之高電阻區塊H之數量，RH係高電阻區塊H之電阻值，N係複數個電阻區塊305的數量，以及RL係低電阻區塊L之電阻值。
請參考第6圖與第7圖，第7圖為本發明另一實施例之複數個電阻區塊305之示意圖。第7圖中之複數個電阻區塊305更包含電傳導層402，電傳導層402係用以進一步降低低電阻區塊L之電阻值，使得低電阻區塊L與高電阻區塊H之間的電阻差異會更明顯。電阻區塊305並不限定配置於工作電極201，電阻區塊305可配置於形成量測裝置之迴圈的任何電傳導路徑，然而在本實施例中，只有 工作電極的電傳導路徑形成量測裝置的迴圈，其是因為工作電極具有二電極襯墊耦接到量測裝置以形成迴圈，而其他電極只有一電極襯墊耦接到量測裝置。為了降低測試片與量測裝置之間的連接點數量，個別的電極最好能夠兼具多種功能，如工作電極可有兩種使用目的，其一功能為工作電極是測試片中唯一具有兩電極襯墊耦接到量測裝置的電極，因此可藉由電阻區塊305跟兩電極襯墊形成迴路提供量測裝置測試片的資料，其二功能為若將反應區作為兩邊電極的分界，可於測量時將沒有電阻區塊一邊的電極作為電流的路徑，將有電阻區塊一邊的電極作為電壓的路徑，電流與電壓分離，在施加電壓的路徑不會有電流的情況下，所以電阻區塊的阻值不會影響電流量測並提供試片穩定偏壓；而沒有電阻區塊一邊的電極增加較高之導電性的傳導材料，例如銀層，可提供更為精準的電流量測。
第8圖為本發明實施例之再另一測試片800之示意圖，第9圖為本發明實施例之再另一測試片900之示意圖。測試片800、900包含工作電極801、參考電極802、第一輔助電極803與第二輔助電極804，工作電極801、參考電極802、第一輔助電極803與第二輔助電極804係利用第一傳導材料形成於基板805，第一傳導材料係碳黑。如同第2圖的測試片200，測試片800可另包含一間隔層，設置於至少三個電極以保護四個電極，間隔層上可放置一蓋層以與間隔層的凹口及基板形成一反應腔室，反應腔室可包含用以與樣本產生化學反應的試劑，第9圖顯示相異於測試片800之四個電極之布局排列的實施例。若在導電材料相同的情況下，第二輔助電極804的工作區域面積可大於等於第一輔助電極803的工作區域面積，另外第二輔助電極804的工作區域面積可大於等於工作電極801的工作區域面積。第8及9圖所述之電極的工作區域面積所指為電極暴露於間隔層之凹口放置樣本的反應腔室806中接觸樣本的表面積。
在本發明的一些實施例，第8及9圖之測試片800可如第2圖之測試片200另包含複數個相互耦接的電阻區塊，除此之外，第二傳導材料形成的電傳導層可形成於測試片800之工作電極801的第一部分、工作電極801的第二部分、第一輔助電極803與第二輔助電極804，第二傳導材料可比第一傳導材料具有較高的導電性。
在第一時段，第一輔助電極803係被損毀，第一輔助電極803之損毀可能是肇因於工作區域面積的不足限制，卻仍要在第一時段作為輔助電極，雖然第一輔助電極803的面積可能受限於反應腔室，但第二輔助電極804則設置為具有足以進行準確量測的面積。由於相異的電極可在相異時段作為輔助電極，第一輔助電極803與第二輔助電極804可具有各自獨立之電耦接量測裝置的路徑；當在兩時段供應電壓時，每一輔助電極的導電性或測試的分析物可為相異，第二輔助電極804的面積可大於或不大於第一輔助電極803的面積。
在第1圖的步驟103中，第一訊號於第一時段可施加於測試片之工作電極，第一訊號可為一負向訊號，在第一時段，分析物與試劑之間可產生化學反應，電子可藉由擴散效應傳輸到工作電極，一第一電流在第一時段有可能會被量測也有可能不會被量測，上述的第一電流可以是穿過工作電極和輔助電極的電流，第一電流可用於確定樣本中分析物的初始濃度，而且參考電極可以用於根據流過工作電極和輔助電極的電流來提供與工作電極之間的電位差。
由於樣本中分析物的濃度偏高，流過工作電極和輔助電極的電流密度可能太高。在上述情況下，輔助電極的特性可能暫時或永久改變。因此，在 步驟104中，至少三個電極中的第二電極可以被分配為輔助電極。
由於參考電極可在工作電極和參考電極之間提供固定的電位差，所以在第一時段幾乎沒有電流流過參考電極，參考電極不會因高電流密度造成損壞，因此對於第1圖方法的處理步驟，原來作為參考電極的電極可以被分配為新的輔助電極，並且原來作為輔助電極的電極可以被分配為新的參考電極。在一些其他的實施例，對於具有四個電極的測試片，第二輔助電極可以在步驟103之後的步驟中作為輔助電極。不管原始輔助電極的狀態如何，步驟103可被執行以確保量測裝置可正常的工作，並且能夠在施加第二訊號之後測量時準確地決定樣本中分析物的濃度。
當使用第3至5圖中所示的測試片時，第3至5圖所示的測試片之參考電極可以被指定為測試片之用以執行後續步驟的輔助電極。第3至5圖所示的測試片之輔助電極可以被指定為測試片之用以執行後續步驟的參考電極。當使用第8及9圖所示的測試片時，如果第8及9圖所示之測試片的第一輔助電極使用在步驟102，則第8及9圖所示之測試片的第二輔助電極使用在後續步驟104可以被分配為測試片的輔助電極。
在本發明的一些實施例中，量測裝置的內部電路可以包含至少一切換開關，用於將內部電路連接到測試片的至少三個電極相互切換，其中所述至少一切換開關是由微控制器控制或是一實體切換開關。至少一切換開關可以用於將在第一時段中使用的參考電極切換作為在第二時段中使用的輔助電極，並且將在第一時段中使用的輔助電極切換作為在第二時段中使用的參考電極。在一些其他實施例中，至少一個開關可將在第一時段使用的另一輔助電極切換為 在第二時段使用的輔助電極。
在步驟105，第二訊號可在第二時段施加正向訊號到測試片的工作電極。在步驟106，可以量測工作電極和輔助電極之間的第二電流以得知樣本中分析物的濃度。在一些實施例中，可以根據第二電流來計算擴散因子以確認樣本中分析物的濃度，擴散因子係用於校正根據第一電流產生的濃度的初始讀數。
此外，為了確保第二電極的讀數是正確的，當其他條件相同時，反應腔室中的輔助電極參與反應的面積必須大於反應腔室中的工作電極參與反應的面積，如果反應腔室中的輔助電極參與反應的面積小於反應腔室中的工作電極參與反應的面積，則當其他條件相同時，輔助電極的導電性必須優於工作電極的導電性。相較於第一輔助電極，第二輔助電極可以被設置為更靠近採樣端口，以確保樣本覆蓋第二輔助電極足夠的面積。
在第一時段和第二時段施加的訊號可以是固定電壓或固定電流，也可以是多個電壓或電流的組合，電壓或電流可能有正值或負值。
在第一時段和第二時段施加的訊號可以由正電壓脈衝，負電壓脈衝，零偏壓或其組合構成。在第一時段，第一輔助電極定義用於滿足反應中電子預期的流動，在第二時段，第二輔助電極定義用於滿足反應中電子預期的流動。在第二時段施加第二訊號的至少一脈衝之後，可以進行至少一次測量。
本發明提供了一種量測裝置的操作方法。為了在測試樣本期間為量測裝置提供可正常工作的測試片，測試片的第一電極可以在開始時被分配為輔 助電極，而第二電極可在之後的測試時間被分配為輔助電極，因此量測裝置便能確保在測試操作的後期是準確的。此外，為了讓量測裝置能夠識別測試片，可以在工作電極上形成多個電阻區塊，多個電阻區塊可以彼此串聯耦接，且多個電阻區塊的總阻值可以在執行測試之前/之後用於識別測試片。
另一個實施例提供利用測試片來檢測樣本中中間媒介物擴散因子的方法，其中測試片包含反應區域，並且反應區域包含工作電極，參考電極和輔助電極。該方法包含將樣本放置在反應區域中；在第一時段向工作電極施加第一直流電訊號，介質根據第一直流電訊號從工作電極接收或釋放電子以產生一中間媒介物；在第二時段測量通過工作電極的第一電流，其中第二直流電訊號在第二時段的極性與第一直流電訊號在第一時段的極性相反；以及根據第一電流計算樣本中中間媒介物的擴散因子。當將第一電極設為輔助電極，並在第一時段向工作電極施加第一直流電訊號時，第一輔助電極可能在第一時段被損壞。當將第二電極設為輔助電極，並在第二時段測量通過工作電極的第一電流時，如此，在第一電流的測量上將不會受到第一電極的損壞而影響量測的精準度。
以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。
201‧‧‧工作電極
202‧‧‧第一電極
203‧‧‧第二電極
204‧‧‧基板
210‧‧‧反應腔室
301至304‧‧‧電極襯墊
305‧‧‧複數個電阻區塊

Claims (9)

  1. 一種利用一量測裝置量測一測試片之一反應腔室中之一樣本中分析物之濃度的方法，該測試片包含至少四個電極，該方法包含：將該樣本置於已連接該量測裝置之該測試片之該反應腔室中；將該測試片之一第一電極設定為一輔助電極；於一第一期間施加一第一訊號於該測試片之一工作電極；將該測試片之一第二電極設定為該輔助電極；於一第二期間施加一第二訊號於該測試片之該工作電極；於該第一期間與該第二期間將該測試片之一第三電極設定為該參考電極；以及於該第二期間量測該樣本中分析物的濃度。
  2. 如請求項1所述之方法，其中將該測試片之該第一電極及該第二電極設定為該輔助電極係使用該量測裝置的至少一切換器切換。
  3. 如請求項1所述之方法，更包含在於該第二期間施加該第二訊號於該測試片之該工作電極之前，將該測試片之該第一電極設定為一參考電極。
  4. 如請求項1所述之方法，更包含在於該第一期間施加該第一訊號於該測試片之該工作電極之前，將該測試片之該第二電極設定為一參考電極。
  5. 如請求項1所述之方法，其中該樣本中分析物的濃度係依據流經該工作電極與該第二電極之一電流而確定的。
  6. 一種利用一量測裝置量測一測試片之一反應腔室中之一樣本中分析物之濃度的方法，包含：將該樣本置於已連接該量測裝置之該測試片之該反應腔室中；將該測試片之一第一電極設定為一輔助電極；於一第一期間施加一第一訊號於該測試片之一工作電極；將該測試片之一第二電極設定為該輔助電極；於一第二期間施加一第二訊號於該測試片之該工作電極；以及於該第二期間量測該樣本中分析物的濃度；其中該第一訊號係一負向電壓，該第二訊號係一正向電壓。
  7. 一種利用一量測裝置量測一測試片之一反應腔室中之一樣本中分析物之濃度的方法，包含：將該樣本置於已連接該量測裝置之該測試片之該反應腔室中；將該測試片之一第一電極設定為一輔助電極；於一第一期間施加一第一訊號於該測試片之一工作電極；將該測試片之一第二電極設定為該輔助電極；於一第二期間施加一第二訊號於該測試片之該工作電極；以及於該第二期間量測該樣本中分析物的濃度；於一基板上利用一第一傳導材料形成該測試片之該工作電極，該工作電極具有複數個電阻區塊，且該工作電極具有至少兩個電極襯墊用以連接該量測裝置；其中每一電阻區塊包含電連接至另一電阻區塊的一短路徑與一長路徑，該短路徑與該長路徑相並聯，以形成一低電阻區塊。
  8. 如請求項7所述之方法，更包含利用一第二傳導材料形成該測試片的一電傳導層，該第二傳導材料之導電率較該第一傳導材料之導電率為高，且該第二傳導材料電連接於該複數個電阻區塊之短路徑。
  9. 如請求項7所述之方法，更包含移除該複數個電阻區塊之至少一電阻區塊之短路徑，以形成該複數個電阻區塊之至少一高電阻區塊。
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