TWI683265B

TWI683265B - 測試流程管理方法與產線測試系統

Info

Publication number: TWI683265B
Application number: TW107131206A
Authority: TW
Inventors: 黃詠証
Original assignee: 宏碁股份有限公司
Priority date: 2018-09-05
Filing date: 2018-09-05
Publication date: 2020-01-21
Also published as: TW202011291A

Abstract

一種測試流程管理方法與產線測試系統，適用於包括多個測試站的產品生產線。在產品的量產階段，依據第一製令的第一測試配置方式設定這些測試站以分站測試模式或合併測試模式進行測試，以控制這些測試站於第一製造過程是否進行測試。從進行測試的測試站，收集於第一製造過程中對產品功能進行測試而產生的多筆測試結果資料。分析來自這些測試站的測試結果資料而產生第二製令的第二測試配置方式，以決定這些測試站於第二製造過程以分站測試模式或合併測試模式進行測試。

Description

測試流程管理方法與產線測試系統

本發明是有關於一種應用於產品生產線的測試流程，且特別是有關於一種測試流程管理方法與產線測試系統。

對於一個製造工廠而言，為了能正確預測已設定銷售和操作目標之產品的產出，生產線之控制及管理是非常重要。因此，在現代自動化的生產線上，一套有效率的管理系統是必備的，使得生產線能夠順利的運作。除了產品的製造與組裝過程之外，為了確保製造出來的產品沒有任何功能缺陷，產品生產現場都設置有相關的測試設備與測試流程，以對產品進行功能測試。

測試流程中需要對哪些測試項目進行測試直接影響了製造成本與出貨品質。可知的，若測試項目越多越仔細，則出貨品質越佳，但製造成本與製造時間必然提高。相反的，若減少測試項目，雖可降低製造成本與製造時間，但可能導致不良品未被檢測出而流出，從而影響出貨品質。因此，如何針對生產線現場設計出兼顧出貨品質與製造成本的測試流程實為本領域技術人員所關心的議題。

有鑑於此，本發明提供一種測試流程管理方法與產線測試系統，其依據製造過程中所收集到的測試結果來動態配置下一製造過程的測試站，而可在兼顧出貨品質與製造成本的情況下提升測試效率。

本發明的實施例提供一種測試流程管理方法，適用於包括多個測試站的產品生產線，所述方法包括下列步驟。在一產品的量產階段，依據第一製令的第一測試配置方式設定這些測試站以分站測試模式或合併測試模式進行測試，以控制這些測試站於第一製造過程是否進行測試。接著，從進行測試的測試站，收集於第一製造過程中對產品功能進行測試而產生的多筆測試結果資料。進行測試的測試站回報對應的測試結果資料。之後，分析來自這些測試站的測試結果資料而產生第二製令的第二測試配置方式，以決定這些測試站於第二製造過程以分站測試模式或合併測試模式進行測試。

從另一觀點來看，本發明的實施例提供一種產線測試系統，其包括多個測試站、一現場控制裝置，以及一分析決策裝置。這些測試站部署於產品生產線的測試現場。現場控制裝置耦接這些測試站，且分析決策裝置耦接現場控制裝置。在產品的量產階段，現場控制裝置依據第一製令的第一測試配置方式設定這些測試站以分站測試模式或合併測試模式進行測試，以控制這些測試站於第一製造過程是否進行測試。現場控制裝置從進行測試的測試站，收集於第一製造過程中對產品功能進行測試而產生的多筆測試結果資料，而進行測試的這些測試站回報對應的測試結果資料。分析決策裝置分析來自測試站的測試結果資料而產生第二製令的第二測試配置方式，以決定這些測試站於第二製造過程以分站測試模式或合併測試模式進行測試。

基於上述，於本發明的實施例中，第二製令中的第二測試配置方式是依據第一製造過程中基於第一製令而產生的測試結果而決定，因此可有彈性且適應性地決定第二製令中的第二測試配置方式，以控制這些測試站於第二製造過程中以分站測試模式或合併測試模式進行測試。據此，當產品的測試良率表現佳時，較少的測試站於下一個製造過程中被設定來進行測試。相反的，當發現產品的某一功能或性能發生問題時，可於下一個製造過程中針對發生問題的功能或性能設定測試站來進行測試。如此一來，生產線之測試流程的測試效率可在確保出貨品質的狀況下有效提昇。

為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

圖1是依照本發明實施例所繪示之產線測試系統的方塊圖，但此僅是為了方便說明，並不用以限制本發明。請參照圖1，產線測試系統10適用於製造一產品的產品生產線，用以對製造完畢或製造中的產品進行功能測試。舉例而言，測試項目可包括音頻功能測試、拍照功能測試、GPS功能測試、資料收發功能測試，以及其他特定硬體功能測試等等。產線測試系統10包括n個測試站110_1～110_n、現場控制裝置120，以及分析決策裝置130，其中n為大於1的整數。

測試站110_1～110_n佈署於產品生產線的測試現場，具有用以對產品進行各種不同測試項目的測試機台。不同的測試站負責不同的測試項目。值得一提的是，產品之某一特定功能正常作與否，往往取決於產品內部多種不同硬體元件。舉例而言，假設生產線的製造產品為手機，則手機的資料收發功能是否通過測試取決於手機內部之3G模組、4G模組或Wifi模組是否可正常操作。假設生產線的製造產品為筆記型電腦，則筆記型電腦之影音播放功能是否通過測試取決於筆記型電腦內部之喇叭、螢幕與圖像處理晶片（GPU）是否可正常操作。

於是，於本發明的實施例中，測試站110_1～110_n可分作多個不同的測試群組（像是測試群組G1、G2）。每一測試群組可用以對某一待測產品功能進行測試，且每一測試群組可包括用以測試上述待測產品功能的合併測試站以及用以測試與上述待測產品功能相關之特定硬體功能的其他測試站。舉例而言，測試群組G1可包括用以測試資料收發功能的合併測試站110_4以及分別用以對3G模組、4G模組或Wifi模組進行測試的測試站110_1、110_2、110_3。舉另一例而言，測試群組G2可包括用以測試影音播放功能的合併測試站110_8以及分別用以對喇叭、螢幕與圖像處理晶片進行測試的測試站110_5、110_6、110_7。換言之，合併測試站110_4與合併測試站110_8係負責概括性的測試項目，而測試站110_1～110_3、110_5～110_7則是負責較為目標性的測試項目。

於本發明的實施例中，基於測試群組所負責的測試項目，這些測試群組可區分為並聯測試系統與串聯測試系統。對於並聯測試系統而言，測試群組可包括合併測試站與分支測試站。圖2A是依照本發明實施例所繪示之並聯測試系統的示意圖。請參照圖2A，於此假設測試群組G1的測試站110_1～110_3為分支測試站。值得一提的是，只要分支測試站（即測試站110_1～110_3）其中之至少一所負責的測試項目F1、F2、F3通過測試，則合併測試站110_4所負責的測試項目也將通過測試。例如，合併測試站110_4用以測試資料收發功能，而測試站110_1、110_2、110_3用以對3G模組、4G模組或Wifi模組進行測試。基此，只要測試站110_1、110_2、110_3其中之至少一所負責的3G模組、4G模組或Wifi模組通過測試，則合併測試站110_4所負責的資料收發功能也將通過測試。

對於串聯測試系統而言，測試群組可包括合併測試站與分段測試站。圖2B是依照本發明實施例所繪示之串聯測試系統的示意圖。請參照圖2B，於此假設測試群組G2的測試站110_5～110_7為分段測試站。值得一提的是，當所有的分段測試站（即測試站110_5～110_7）所負責的測試項目FA、FB、FC皆通過測試，則合併測試站所負責的測試項目才會通過測試。例如，合併測試站110_8用以測試影音播放功能，而測試站110_5、110_6、110_7用以對喇叭、螢幕與圖像處理晶片進行測試。基此，當分段測試站（即測試站110_5～110_7）所負責的喇叭、螢幕與圖像處理晶片全部通過測試，則合併測試站所負責的影音播放功能才會通過測試。

於本發明的實施例中，「合併測試模式」代表僅有合併測試站被致能來對產品進行概括性的功能測試。「分站測試模式」代表有除了合併測試站被致能來對產品進行概括性的功能測試之外，分支測試站或分段測試站亦被致能來對產品進行目標性的功能測試。更詳細而言，因應串聯測試系統與並聯測試系統，分站測試模式可包括分段測試模式與分支測試模式。換言之，當測試站經配置而以分段測試模式進行測試時，合併測試站與至少一分段測試站皆被致能來對產品進行測試。當測試站經配置而以一分支測試模式進行測試時，合併測試站與至少一分支測試站皆被致能來對產品進行測試。

現場控制裝置120耦接這些測試站110_1～110_n。現場控制裝置120可依據製令內的測試配置方式來控制測試站110_1～110_n於產品的製造過程中進行測試與否。詳言之，當生產線欲生產某一批產品時，製令記錄有製造過程所需的原料、製造方式、製造流程、測試項目，以及測試流程等等製程資訊。現場控制裝置120可依據製令來設定用以測試產品的測試站110_1～110_n。亦即，現場控制裝置120可致能或禁能各測試站110_1～110_n對產品進行測試。此外，現場控制裝置120可經由有線或無線的資料傳輸方式而從測試站110_1～110_n收集各測試站110_1～110_n產生的測試結果資料。

分析決策裝置130耦接現場控制裝置120，可經由有線或無線的資料傳輸方式而從現場控制裝置120接收現場控制裝置120所收集的測試結果資料。當生產線在製造某一批產品並進行測試時，分析決策裝置130可分析與統計現場控制裝置120所收集的測試結果資料，從而規劃出用以生產下一批相同規格或類似規格的產品的測試配置方式。值得一提的是，於一實施例中，測試結果資料可更包括維修站所回報的維修記錄。藉由測試結果資料的分析與統計，可決定出貼近實際製造狀況又可提昇效率的測試流程。

為了詳細說明本發明，圖3是依照本發明實施例所繪示之測試流程管理方法的流程圖。本實施例的測試流程管理方法適用於圖1的產線測試系統10，以下即搭配產線測試系統10中的各項裝置說明測試流程管理方法的各個步驟。

於步驟301，在產品的量產階段，現場控制裝置120依據第一製令的第一測試配置方式設定測試站110_1～110_n以分站測試模式或合併測試模式進行測試，以控制測試站110_1～110_n於第一製造過程是否進行測試。具體而言，當生產線欲量產某一批產品時，現場控制裝置120可依據第一製令所規範的第一測試配置方式來致能或禁能測試站110_1～110_n，以控制測試站110_1～110_n中的合併測試站與分段/分支測試站於當前製造過程是否對產品進行測試動作。

於步驟302，現場控制裝置120從進行測試的測試站，收集於第一製造過程中對產品功能進行測試而產生的多筆測試結果資料。舉例而言，假設第一製令規範測試站110_1、110_4、110_5、110_8將於第一製造過程進行測試，代表現場控制裝置120系設定測試站110_1～110_8以分站測試模式（包括分段測試模式與分支測試模式）進行測試，並於第一製造過程中致能測試站110_1～110_8中的測試站110_1、110_4、110_5、110_8對產品進行測試。進行測試的測試站110_1、110_4、110_5、110_8將回報對應的測試結果資料，而現場控制裝置120可收集測試站110_1、110_4、110_5、110_8對產品功能進行測試而產生的多筆測試結果資料。

於步驟303，分析決策裝置130分析來自測試站的測試結果資料而產生第二製令的第二測試配置方式，以決定測試站110_1～110_n於第二製造過程以分站測試模式或合併測試模式進行測試。進一步而言，在第一製造過程中被製造出來的產品基於第一測試配置方式而逐一經過測試之後，分析決策裝置130將獲取第一製造過程中記錄有這些產品是否通過測試的測試結果資料。於此，測試結果資料可包括產品的良率資料或維修記錄等等。可知的，倘若某一測試站對產品的測試結果資料趨於正向，代表此批次產品之特定功能的良率表現佳，則分析決策裝置130可決定於下一次製造相似產品時省略此特定功能的測試動作。藉此，分析決策裝置130可依據收集到的測試結果資料來決定測試站110_1～110_n於第二製造過程以分站測試模式或合併測試模式進行測試，從而決定測試站110_1～110_n於第二製造過程是否進行測試動作。

以下將進一步詳細說明如何分析基於第一測試配置方式而產生的測試結果資料來決定第二測試配置方式。圖4是依照本發明實施例所繪示之測試流程管理方法的流程圖。本實施例的測試流程管理方法適用於圖1的產線測試系統10，以下即搭配產線測試系統10中的各項裝置說明測試流程管理方法的各個步驟。

首先，在產品的試產階段，於步驟S401，分析決策裝置130判斷是否首次生產屬於一特定類別的產品。若步驟S401判斷為是，於步驟S402，分析決策裝置130決定於試產階段採用全測試配置方式。若步驟S401判斷為否，於步驟S403，分析決策裝置130決定於試產階段採用資料庫所記錄之關聯於該特定類別的初始建議配置方式。於步驟S404，現場控制裝置120依據全測試配置方式或初始建議配置方式來設定各個測試站。具體而言，當依據全測試配置方式來設定各個測試站時，所有的測試站皆被致能來對產品進行測試。亦即，在產品的試產階段，現場控制裝置120可依據全測試配置方式設定所有的測試站進行測試。當依據初始建議配置方式來設定各個測試站時，部份測試站基於初始建議配置方式的規劃而被致能來對產品進行測試。

在試產過程中對產品逐一進行各項測試之後，於步驟S405，現場控制裝置120收集於試產階段對產品功能進行測試而產生之多筆試產測試資料。於步驟S406，分析決策裝置130分析現場控制裝置120所收集的試產測試結果資料。具體而言，分析決策裝置130可藉由分析試產測試結果資料而獲取被致能之測試站所對應的良率資料。於是，於步驟S407，分析決策裝置130判斷多個分段測試站或多個分支測試站的試產測試資料與合併測試站的試產測試資料是否相符。於本實施例中，若步驟S407判斷為是，代表概括性的測試結果與目標性的測試結果相似。因此，於步驟S408，分析決策裝置130決定量產階段可採用概括性的合併測試模式，從而依據試產測試資料來產生第一製令的第一測試配置方式。若步驟S407判斷為否，代表概括性的測試結果與目標性的測試結果有所差異。因此，於步驟S409，分析決策裝置130決定量產階段可採用目標性的分站測試模式，以及依據被致能之各測試站的測試結果資料決定下一製程中的測試項目，從而依據試產測試資料而產生用於量產階段之第一製令的第一測試配置方式。

接著，在產品的量產階段，於步驟S410，現場控制裝置120依據第一製令的第一測試配置方式設定測試站。於步驟S411，現場控制裝置120收集於第一製造過程中對產品功能進行測試而產生之多筆測試結果資料。於步驟S412，分析所收集的試產測試結果資料。具體而言，可藉由分析試產測試結果資料而獲取被致能之測試站所對應的良率資料。於步驟S413，分析決策裝置130判斷由測試台組成之測試群組屬於串聯測試系統或並聯測試系統。

當測試群組屬於串聯測試系統，於步驟S414，分析決策裝置130判斷測試站所獲取的良率資料是否大於目標值。當各測試站所獲取的良率資料大於目標值，於步驟S417，分析決策裝置130決定測試站於第二製造過程以合併測試模式進行測試。當測試站其中之至少一所獲取的良率資料不大於目標值，於步驟S416，分析決策裝置130決定測試站於第二製造過程以分段測試模式進行測試，並決定分段測試站其中之至少一於第二製造過程進行測試。

具體而言，假設合併測試站或/與分段測試站的良率資料皆大於目標值（例如合併測試站110_8的良率99%大於目標值98%），代表製程穩定且不易出錯，因此分析決策裝置130可決定於下次製造過程中僅致能合併測試站進行概括性的測試項目即可，從而提昇測試效率。假設合併測試站或/與分段測試站的良率資料不大於目標值（例如合併測試站110_8的良率97%不大於目標值98%），代表製程不穩定且易出錯，因此此分析決策裝置130可決定於下次製造過程中採用分段測試模式來針對易出錯的功能額外進行測試，從而確保測試品質。

當測試群組屬於並聯測試系統，於步驟S415，分析決策裝置130判斷關聯於分支測試站的維修記錄是否存在。當關聯於分支測試站的維修記錄存在，於步驟S418，分析決策裝置130決定測試站於第二製造過程以分支測試模式進行測試，並依據維修記錄決定分支測試站其中之至少一於第二製造過程進行測試。當關聯於分支測試站的維修記錄不存在，於步驟S419，分析決策裝置130決定於第二製造過程維持對測試站的當前設定。

具體而言，於第一製造過程中，當有產品因為未通過測試而被移動至維修站台進行維修時，維修記錄可據以產生。因此，當關聯於分支測試站所負責之測試項目的維修記錄存在時，分析決策裝置130可決定於下次製造過程中採用分支測試模式來針對易出錯的功能額外進行測試，而現場控制裝置120也將致能容易發生問題的分支測試站於下次製造過程中進行測試。

需說明的是，於其他實施例中，對於串聯測試系統而言，分析決策裝置130也可依據維修記錄來調整第二製令中的第二測試配置方式。對於並聯測試系統而言，分析決策裝置130也可依據良率資料來調整第二製令中的第二測試配置方式。此外，依據第二製造過程中的量產結果而產生的第二測試配置方式更可用以來修改資料庫中的初始建議配置方式，使得產線測試系統可於測試其他同類產品時採取貼近實際製造狀況的測試流程。

綜上所述，於本發明實施例中，可針對每一製造批次的產品進行測試結果資料的收集與分析，而據以決定下一次製造過程中被致能來進行測試的測試站。藉由重複進行測試流程，製程經驗與測試經驗可逐漸累積，產線測試系統便可自動決定用於下一製造過程中的測試配置方式。隨著製程中的易出錯的環節逐漸被改善，產線測試系統中進行測試動作的測試站也將隨之減少而逐漸簡化測試流程。藉此，本發明可在確保出貨品質的情況下提昇測試效率而降低製造成本。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

10‧‧‧產線測試系統

110_1～110_n‧‧‧測試站

120‧‧‧現場控制裝置

130‧‧‧分析決策裝置

F1、F2、F3、FA、FB、FC‧‧‧測試項目

G1、G2‧‧‧測試群組

S301～S303、S401～S419‧‧‧步驟

圖1是依照本發明實施例所繪示之產線測試系統的方塊圖。圖2A是依照本發明實施例所繪示之並聯測試系統的示意圖。圖2B是依照本發明實施例所繪示之串聯測試系統的示意圖。圖3是依照本發明實施例所繪示之測試流程管理方法的流程圖。圖4是依照本發明實施例所繪示之測試流程管理方法的流程圖。

S301~S303‧‧‧步驟

Claims

一種測試流程管理方法，適用於包括多個測試站的一產品生產線，包括：在一產品的量產階段，依據一第一製令的一第一測試配置方式設定該些測試站以一分站測試模式或一合併測試模式進行測試，以控制該些測試站於一第一製造過程是否進行測試；從進行測試的該些測試站，收集於該第一製造過程中對一產品功能進行測試而產生的多筆測試結果資料，其中進行測試的該些測試站回報對應的該些測試結果資料；以及分析來自該些測試站的該些測試結果資料而產生一第二製令的一第二測試配置方式，以決定該些測試站於一第二製造過程以該分站測試模式或該合併測試模式進行測試，其中該分站測試模式包括一分段測試模式與一分支測試模式，其中當該分站測試模式為該分段測試模式，該些測試站包括一合併測試站與多個分段測試站，且當該些測試站以該分段測試模式進行測試時，該合併測試站與該些分段測試站其中之至少一被致能來對該產品進行測試。
如申請專利範圍第1項所述的測試流程管理方法，其中分析來自該些測試站的該些測試結果資料而產生該第二製令的該第二測試配置方式，以決定該些測試站於該第二製造過程以該分站測試模式或該合併測試模式進行測試的步驟包括：判斷該些測試站所獲取的良率資料是否大於一目標值；當各該些測試站所獲取的該良率資料大於該目標值，決定該些測試站於該第二製造過程以該合併測試模式進行測試；以及當該些測試站其中之至少一所獲取的該良率資料不大於該目標值，決定該些測試站於該第二製造過程以該分段測試模式進行測試，並決定該些分段測試站其中之至少一於該第二製造過程進行測試。
如申請專利範圍第1項所述的測試流程管理方法，所述方法更包括：在該產品的試產階段，依據一全測試配置方式設定所有的該些測試站進行測試，並收集於該試產階段對該產品功能進行測試而產生之多筆試產測試資料；以及判斷該些分段測試站的試產測試資料與該合併測試站的試產測試資料是否相符，以依據該些試產測試資料而產生該第一製令的該第一測試配置方式。
一種產線測試系統，適用於一產品生產線，包括：多個測試站，部署於一產品生產線的一測試現場；一現場控制裝置，耦接該些測試站；以及一分析決策裝置，耦接該現場控制裝置，其中在一產品的量產階段，該現場控制裝置依據一第一製令的一第一測試配置方式設定該些測試站以一分站測試模式或一合併測試模式進行測試，以控制該些測試站於一第一製造過程是否進行測試，其中該現場控制裝置從進行測試的該些測試站，收集於該第一製造過程中對一產品功能進行測試而產生的多筆測試結果資料，而進行測試的該些測試站回報對應的該些測試結果資料，其中該分析決策裝置分析來自該些測試站的該些測試結果資料而產生一第二製令的一第二測試配置方式，以決定該些測試站於一第二製造過程以該分站測試模式或該合併測試模式進行測試，其中該分站測試模式包括一分段測試模式與一分支測試模式，其中當該分站測試模式為該分段測試模式，該些測試站包括一合併測試站與多個分段測試站，且當該些測試站以該分段測試模式進行測試時，該合併測試站與該些分段測試站其中之至少一被致能來對該產品進行測試。
如申請專利範圍第4項所述的產線測試系統，其中該分析決策裝置判斷該些測試站所獲取的良率資料是否大於一目標值；當各該些測試站所獲取的該良率資料大於該目標值，該分析決策裝置決定該些測試站於該第二製造過程以該合併測試模式進行測試；以及當該些測試站其中之至少一所獲取的該良率資料不大於該目標值，該分析決策裝置決定該些測試站於該第二製造過程以該分段測試模式進行測試，並決定該些分段測試站其中之至少一於該第二製造過程進行測試。
如申請專利範圍第4項所述的產線測試系統，其中在該產品的試產階段，該現場控制裝置依據一全測試配置方式設定所有的該些測試站進行測試，並收集於該試產階段對該產品功能進行測試而產生之多筆試產測試資料，其中該分析決策裝置判斷該些分段測試站的試產測試資料與該合併測試站的試產測試資料是否相符，以依據該些試產測試資料而產生該第一製令的該第一測試配置方式。
一種測試流程管理方法，適用於包括多個測試站的一產品生產線，包括：在一產品的量產階段，依據一第一製令的一第一測試配置方式設定該些測試站以一分站測試模式或一合併測試模式進行測試，以控制該些測試站於一第一製造過程是否進行測試；從進行測試的該些測試站，收集於該第一製造過程中對一產品功能進行測試而產生的多筆測試結果資料，其中進行測試的該些測試站回報對應的該些測試結果資料；以及分析來自該些測試站的該些測試結果資料而產生一第二製令的一第二測試配置方式，以決定該些測試站於一第二製造過程以該分站測試模式或該合併測試模式進行測試，其中該分站測試模式包括一分段測試模式與一分支測試模式，其中當該分站測試模式為該分支測試模式，該些測試站包括一合併測試站與多個分支測試站，且當該些測試站以該分支測試模式進行測試時，該合併測試站與該些分支測試站其中之至少一被致能來對該產品進行測試。
如申請專利範圍第7項所述的測試流程管理方法，所述方法更包括：在該產品的試產階段，依據一全測試配置方式設定所有的該些測試站進行測試，並收集於該試產階段對該產品功能進行測試而產生之多筆試產測試資料；以及判斷該些分支測試站的試產測試資料與該合併測試站的試產測試資料是否相符，以依據該些試產測試資料而產生該第一製令的該第一測試配置方式。
一種產線測試系統，適用於一產品生產線，包括：多個測試站，部署於一產品生產線的一測試現場；一現場控制裝置，耦接該些測試站；以及一分析決策裝置，耦接該現場控制裝置，其中在一產品的量產階段，該現場控制裝置依據一第一製令的一第一測試配置方式設定該些測試站以一分站測試模式或一合併測試模式進行測試，以控制該些測試站於一第一製造過程是否進行測試，其中該現場控制裝置從進行測試的該些測試站，收集於該第一製造過程中對一產品功能進行測試而產生的多筆測試結果資料，而進行測試的該些測試站回報對應的該些測試結果資料，其中該分析決策裝置分析來自該些測試站的該些測試結果資料而產生一第二製令的一第二測試配置方式，以決定該些測試站於一第二製造過程以該分站測試模式或該合併測試模式進行測試，其中該分站測試模式包括一分段測試模式與一分支測試模式，其中當該分站測試模式為該分支測試模式，該些測試站包括一合併測試站與多個分支測試站，且當該些測試站以該分支測試模式進行測試時，該合併測試站與該些分支測試站其中之至少一被致能來對該產品進行測試。
如申請專利範圍第9項所述的產線測試系統，其中在該產品的試產階段，該現場控制裝置依據一全測試配置方式設定所有的該些測試站進行測試，並收集於該試產階段對該產品功能進行測試而產生之多筆試產測試資料，其中該分析決策裝置判斷該些分支測試站的試產測試資料與該合併測試站的試產測試資料是否相符，以依據該些試產測試資料而產生該第一製令的該第一測試配置方式。