TWI676123B - 觸控訊號之訊號處理方法及應用其之訊號處理系統 - Google Patents

Abstract

一種觸控訊號之訊號處理方法及應用其之訊號處理系統，首先提供一觸控面板及一檢測電路，觸控面板包觸控點，用於產生觸控訊號，檢測電路包括一虛擬觸控元件。當檢測電路以不通過虛擬觸控元件之方式連接於觸控點時，由檢測電路取得一基準訊號，當檢測電路以通過虛擬觸控元件之方式連接於觸控點時，由檢測電路取得一反應訊號。依據反應訊號與基準訊號計算取得一反應區間，並根據反應區間補償觸控訊號。因製程因素導致觸控訊號偏移，或是因不同操作環境中導致觸控訊號偏移的狀況可以得到改善，提升觸控面板偵測觸控訊號的準確性。

Description

觸控訊號之訊號處理方法及應用其之訊號處理系統

本發明是有關於一種觸控訊號之訊號處理方法及應用其之訊號處理系統，且特別是有關於一種提高觸控面板觸控精確度之觸控訊號處理方法及應用其之訊號處理系統。

隨著觸控技術的發展，市場上對於觸控面板的品質有著極高的要求，無論是在外型、厚度、觸控靈敏度以及與顯示裝置的整合度等各層面，無不是相關業界努力發展的方向。也因為市場對於高品質觸控面板的期待，讓相關領域的製造商，從電路設計、製程改良、訊號處理等各個階段的技術能力，都備受考驗。

在觸控面板的生產過程中，即便是在相同的廠房、相同的產線中，同一批次的觸控面板之間，仍會無可避免的存在有差異，可能的原因包括材料性質變異、製程參數偏移、環境因素改變、設備誤差等等，會隨著時間的推移讓觸控面板之間發生差異。而這樣的差異會導致觸控面板在出廠後，具有特性不一致的問題。此外，當觸控面板在離開產線進入操 作環境後，會因為操作環境的溫度、濕度、潔淨度、多種環境雜訊等因素差異較大，原先在出廠時設定的觸控偵測設定值會發生不適用在操作環境的問題。例如偵測觸控訊號強度時會產生差異，從而影響到觸控面板偵測觸控訊號的精準度，嚴重時更會導致誤判的狀況，影響電子產品的觸控品質。

目前的作法是可以在一定的週期重設製程參數，或是定期將機台、製程設備重新設定以新的參數。以此方式，雖可將出廠觸控面板的特性差異維持在一定的程度以內，但是不時調整參數以及重設設備，除會造成品管上的難度，同時亦會增加人力工時成本。出廠的觸控面板之間，仍舊存在著一定的特性差異，同時面板對於不同的操作環境亦具有較低的適應性。

因此，目前仍存在一種如何克服觸控訊號失準的需求，讓觸控面板的觸控訊號輸出可以達到品質一致性。

有鑒於此，本發明之觸控訊號之訊號處理方法及應用其之訊號處理系統，利用虛擬觸控元件連接於觸控面板之觸控點，取得觸控點的反應訊號，進而利用此反應訊號來補償觸控點的觸控輸出訊號可以使觸控訊號偏移的狀況得到改善，提升觸控面板偵測觸控訊號的準確性，進而提昇觸控產品的品質。

依據本發明之一方面，提出一種觸控訊號之訊號處理方法。首先提供一觸控面板及一檢測電路，觸控面板包括至少一觸控點，用於產 生觸控訊號，檢測電路包括一虛擬觸控元件。當檢測電路以不通過虛擬觸控元件之方式連接於觸控點時，由檢測電路取得一基準訊號。當檢測電路以通過虛擬觸控元件之方式連接於觸控點時，由檢測電路取得一反應訊號。接著，依據反應訊號與基準訊號計算取得一反應區間。

依據本發明之另一方面，提出一種訊號處理系統，用以處理一觸控訊號。訊號處理系統包括一觸控面板以及一檢測裝置。觸控面板包括至少一觸控點，用以產生觸控訊號。檢測裝置用於檢測觸控面板，並且包括一虛擬觸控元件、一檢測電路及一處理單元。虛擬觸控元件用於選擇性地連接於觸控點。當檢測電路以通過虛擬觸控元件之方式連接於觸控點時，檢測電路用以取得一反應訊號；當檢測電路以不通過虛擬觸控元件之方式連接於觸控點時，檢測電路用以取得一基準訊號。處理單元連接於檢測電路，取得基準訊號及反應訊號，並依據反應訊號與基準訊號計算取得一反應區間。

依據本發明之又一方面，提出一種觸控訊號之訊號處理方法，首先提供一觸控面板及一檢測電路，觸控面板包括多個觸控點，用於產生觸控訊號，檢測電路包括一虛擬觸控元件。在一控制環境中設定檢測電路於多個量測模式。當檢測電路連接於各觸控點時，由檢測電路依序取得各觸控點對應於量測模式時之多個反應訊號，其中虛擬觸控元件於接地電壓時的訊號係設定為一參考訊號。其次形成一數據表，數據表包含反應訊號及各反應訊號之一可調整範圍。接著在一操作環境中，讀取一現場量測值，利用現場量測值與參考訊號的關係從量測模式中選出一選定模式，並且從數據表中決定出對應選定模式之反應訊號之可調整範圍。

依據本發明之再一方面，提出一種訊號處理系統，用以處理一觸控訊號。訊號處理系統包括一觸控面板以及一檢測裝置。觸控面板包括多個觸控點，觸控點用以產生觸控訊號。檢測裝置用於檢測觸控面板，並包括一虛擬觸控元件、一檢測電路及一處理單元。虛擬觸控元件於接地電壓時的訊號係設定為一參考訊號。檢測電路用以在一控制環境中，依序被設定於多個量測模式。當檢測電路連接於觸控點時，檢測電路用以依序取得各觸控點對應於量測模式之多個反應訊號。處理單元連接於檢測電路，用以根據反應訊號形成一數據表。處理單元用以在一操作環境中，讀取一現場量測值，利用現場量測值與參考訊號的關係從量測模式中選出一選定模式，並且從數據表中決定出對應選定模式之多個反應訊號之多個可調整範圍。

依據本發明之另一方面，提出一種觸控訊號之訊號處理方法，首先提供一觸控面板及一檢測電路，觸控面板包括至少一觸控點，用於產生觸控訊號，檢測電路包括一虛擬觸控元件。當檢測電路以不通過虛擬觸控元件之方式連接於觸控點時，由檢測電路取得一基準訊號。當檢測電路以通過虛擬觸控元件之方式連接於觸控點時，由檢測電路取得一反應訊號。然後，依據該基準訊號及該反應訊號補償該觸控訊號。

依據本發明之又一方面，提出一種訊號處理系統，用以處理一觸控訊號。訊號處理系統包括一觸控面板以及一檢測裝置。觸控面板包括至少一觸控點，用以產生觸控訊號。檢測裝置用於檢測觸控面板，並且包括一虛擬觸控元件、一檢測電路及一處理單元。虛擬觸控元件用於選擇性地連接於觸控點。當檢測電路以通過虛擬觸控元件之方式連接於觸控點 時，檢測電路用以取得一反應訊號。當以不通過虛擬觸控元件之方式連接於觸控點時，檢測電路用以取得一基準訊號。處理單元連接於檢測電路，用以取得基準訊號及反應訊號，並依據反應訊號與基準訊號補償觸控訊號。

本發明之觸控訊號之訊號處理方法及應用其之訊號處理系統，利用檢測裝置之虛擬觸控元件選擇性地連接於觸控面板之觸控點，從而取得觸控點的反應訊號，並且據此反應訊號來補償觸控點的觸控輸出訊號。以此方式可以改善觸控訊號偏移的狀況，提升偵測觸控訊號的準確性，進而提昇觸控產品品質。

100‧‧‧訊號處理系統

110‧‧‧觸控面板

150‧‧‧檢測裝置

151‧‧‧虛擬觸控元件

153‧‧‧檢測電路

155‧‧‧處理單元

D1~Dn‧‧‧驅動線

S1~Sm‧‧‧感測線

S11~S15‧‧‧步驟

S101~S105‧‧‧步驟

S201~S209‧‧‧步驟

S301~S311‧‧‧步驟

T‧‧‧觸控點

Vb‧‧‧基準訊號

Vr‧‧‧反應訊號

為讓本發明之上述以及其他特徵、優點與實施例能更明顯易懂，所附圖式之說明如下：第1圖繪示依照本發明一實施例之觸控訊號之訊號處理方法之流程圖；第2圖繪示依照本發明另一實施例之觸控訊號之訊號處理方法之流程圖；第3圖繪示依照本發明又一實施例之觸控訊號之訊號處理方法之流程圖；第4圖繪示第3圖中步驟S205之詳細流程圖；第5圖繪示依照本發明又一實施例之訊號處理系統之示意圖；第6圖繪示第5圖中虛擬觸控元件連接於觸控點時之示意圖；以及第7圖繪示依照本發明再一實施例之觸控訊號之訊號處理方法之流程圖。

本發明之觸控訊號之訊號處理方法及應用其之訊號處理系統，利用檢測電路中的虛擬觸控元件連接於觸控面板之觸控點之方式，取得觸控點的反應訊號，並且依據反應訊號進一步取得反應區間。根據反應區間可以進行多種觸控訊號的處理。例如判斷觸控點是否不良，或根據此反應區間來補償觸控點的觸控輸出訊號。以此方式，不論是因為製程因素導致觸控訊號偏移，或是在不同操作環境中導致觸控訊號偏移的狀況，均可以得到改善，進而提升觸控面板偵測觸控訊號的準確性，提昇產品品質。

請參照第1圖，其繪示依照本發明一實施例之觸控訊號之訊號處理方法之流程圖。首先執行步驟S11，提供一觸控面板及一檢測電路。觸控面板包括一或多個觸控點，用於產生觸控訊號。檢測電路包括一虛擬觸控元件。接著進行步驟S13，當檢測電路以通過虛擬觸控元件之方式連接於各觸控點時，由檢測電路依序取得各觸控點之反應訊號。當檢測電路以不通過虛擬觸控元件之方式連接於觸控點時，由檢測電路取得一基準訊號。然後在步驟S15中，依據反應訊號與基準訊號計算取得一反應區間。根據取得的反應區間，可以進行多種觸控訊號的不同處理，舉例來說，可以利用反應區間判斷觸控點是否不良，或者依據反應區間來進行觸控訊號補償。

於一實施例中，觸控面板上包括多個觸控點，觸控訊號之訊號處理方法更可以包括一決定補償係數之步驟。經由比較多個觸控點的多個基準訊號，藉以決定多個觸控點的多個補償係數，並將補償係數依各個感測點在觸控面板上的相對位置矩陣排列。此外，本實施例中係可選擇地 先將各個觸控點的基準訊號進行補償後，再進行各觸控點的反應訊號量測(步驟S13)。

在另一實施例中，係可經由比較多個觸控點的多個反應訊號，藉以決定多個觸控點的多個補償係數，並將補償係數依各個感測點在觸控面板上的相對位置矩陣排列。

請參照第2圖，其繪示依照本發明另一實施例之觸控訊號之訊號處理方法之流程圖。首先執行步驟S101，提供一觸控面板及一檢測電路。觸控面板包括一或多個觸控點，用於產生觸控訊號。檢測電路包括一虛擬觸控元件。接著進行步驟S103，當檢測電路以通過虛擬觸控元件之方式連接於各觸控點時，由檢測電路依序取得各觸控點之反應訊號。然後，本實施例之訊號處理方法執行步驟S105，以反應訊號為基礎，補償觸控點之觸控訊號。本實施例之觸控訊號處理方法，利用虛擬觸控元件來取得觸控面板上一或多個觸控點的反應訊號，並且據以補償觸控點的觸控輸出訊號，不需人工逐點進行檢測，可以提升效率及便利性，同時藉由補償觸控訊號來提升觸控面板的觸控準確度。

請參照第3圖，其繪示依照本發明又一實施例之觸控訊號之訊號處理方法之流程圖。首先如步驟S201所示，提供一觸控面板及一檢測電路。觸控面板包括至少一觸控點。實際應用上，觸控面板中包含以矩陣方式排列的多個觸控點，觸控點是由平行的多條驅動線及平行的多條感測線相互交錯而形成，用來產生觸控訊號。檢測電路包括一虛擬觸控元件，用以選擇性地連接於觸控點。於一實施例中，虛擬觸控元件為一個電容可調整之觸控電路。

接著，本實施例之訊號處理方法執行步驟S203，當檢測電路以不通過虛擬觸控元件之方式連接於一個觸控點時，由檢測電路取得一基準訊號。於此步驟中，虛擬觸控元件並不存在於檢測電路連結到觸控點之線路當中，因此可以由檢測電路取得所述觸控點在沒有被觸摸(此處係指為沒有連接到虛擬觸控元件的情況)時的基準訊號。

當取得多個觸控點的基準訊號後，可以計算觸控點不通過虛擬觸控元件時的基準訊號(相當於觸控點的背景感測值)之間的差異，並且可以得到一背景補償係數，可以據以補償觸控點的觸控訊號。另可將多個觸控點的基準訊號或者多個前述之背景補償係數，依照其在觸控面板上的位置做成矩陣排列，抑或做成表格，方便後續取得、計算及進一步應用。

其次，本實施例之訊號處理方法進入步驟S205，當檢測電路以通過虛擬觸控元件之方式連接於觸控點時，由檢測電路取得一反應訊號。此處的觸控點與前述步驟S203中所述之觸控點為同一點。於此步驟中，虛擬觸控元件存在於檢測電路連結到觸控點之線路當中，因此可以由檢測電路取得所述觸控點在被觸摸(此處係指為連接到虛擬觸控元件的情況)時的反應訊號。

當取得多個觸控點的反應訊號後，可以計算觸控點通過虛擬觸控元件時的反應訊號(相當於觸控點的模擬觸碰值)之間的差異，並且可以得到一模擬觸碰補償係數，可以據以補償觸控點的觸控訊號。另可將多個觸控點的反應訊號或者多個前述之模擬觸碰補償係數，依其在觸控面板上的位置做成矩陣排列，抑或做成表格，方便後續取得、計算及進一步應用。

請參照第4圖，其繪示第3圖中步驟S205之詳細流程圖。本實施例中，步驟S205可以例如是包括步驟S202及步驟S204。首先如步驟S202所示，依序設定虛擬觸控元件於不同之多個電容值；接著於步驟S204中，由檢測電路分別取得對應各電容值的反應訊號。以此方式，檢測電路可以利用改變虛擬觸控元件的電容值，取得觸控點在對應不同電容值時的反應訊號。電容值可為正值或負值，用以代表觸控點在不同狀態下(例如有水存在、油存在、手指處碰或手掌處碰)的反應訊號。

請繼續參照第3圖，在取得了對應前述觸控點的基準訊號及反應訊號之後，本實施例之訊號處理方法接著可以進行補償觸控訊號的動作，如本實施例之步驟S207及步驟S209所示。

於步驟S207中，依據反應訊號與基準訊號計算取得對應所述觸控點之一反應區間。然後在步驟S209中，根據反應區間補償觸控訊號。實際應用上，反應區間對應於各種物質對觸控面板引起之訊號的辨識範圍。當有多個觸控點時，可以依據對應這些觸控點之多個電容值之多個反應訊號與這些觸控點之多個基準訊號，計算取得多個反應區間。

於一實施例中，可以直接將反應區間與一個預設值進行比對，取得觸控點觸控訊號的偏移量，據以進行觸控點觸控訊號的補償。前述預設值可以根據面板製程的偏移量來設定，例如製造一定數量的觸控面板後，因製程差異導致的觸控訊號偏移量為X，可以將X作為前述之預設值。在不同的實施例中，也可以在取得觸控面板所有觸控點的反應訊號後，利用所有反應訊號的平均值或標準差來作為預設值，作為補償觸控訊號的計算基礎。

本實施例之訊號處理方法更包括步驟S206，當反應訊號與電容值之變化不相關時，設定觸控點為不良。當使用不同電容值之虛擬觸控元件檢測觸控點，發現觸控點的訊號變化與虛擬觸控元件不相關時，表示無法利用由虛擬觸控元件量測得到的反應訊號來補償校正該觸控點。因此，設定該觸控點為不良觸控點。

此外，本實施例之訊號處理方法更包括步驟S208，當反應區間超過一可補償範圍時，設定觸控點為不良。本步驟中，可補償範圍同樣可由因製程差異導致的觸控訊號偏移量來設定，或是取得觸控面板所有觸控點的反應訊號後，利用所有反應訊號的平均值或標準差來設定。當某一個觸控點的反應區間超過可補償範圍時，表示該觸控點的觸控訊號變異過大，將其設定為不良的觸控點。

前述本實施例之觸控訊號之訊號處理方法，是以檢測一個觸控點的基準訊號與反應訊號為例進行說明。在一實施方式中，訊號處理方法可以用來檢測觸控面板上所有觸控點的基準訊號與反應訊號。虛擬觸控元件可以例如是依序連接於各個觸控點，以取得所有觸控點的基準訊號與反應訊號，進而得知整個觸控面板的基準訊號分布狀況，並據以作為補償觸控訊號的計算基礎。並根據所有觸控點的反應訊號，利用所有反應訊號的平均值或標準差來作為預設值，作為補償觸控訊號的計算基礎。

請參照第5圖，其繪示依照本發明又一實施例之訊號處理系統之示意圖。本實施例之訊號處理系統100例如可應用前述實施例之觸控訊號之訊號處理方法，以對於觸控訊號進行補償的動作。訊號處理系統100用以處理一觸控訊號，並且包括一觸控面板110以及一檢測裝置150。觸控面板 110包括至少一觸控點T，用於產生觸控訊號。實際應用上，觸控面板110中包含以矩陣方式排列的多個觸控點T，觸控點T是由平行的多條驅動線D1~Dn及平行的多條感測線S1~Sm相互交錯而形成，用來產生觸控訊號。

檢測裝置150用以檢測觸控面板110，並且包括一虛擬觸控元件151、一檢測電路153及一處理單元155。虛擬觸控元件151用以選擇性地連接於觸控點T。本實施例中以驅動第一條驅動線D1，以及經由第一條感測線S1進行感測取得一個觸控點T之觸控訊號為例進行說明。於一實施例中，虛擬觸控元件151為一個電容可調整之觸控電路。當檢測電路153以不通過虛擬觸控元件151之方式連接於觸控點T時，檢測電路153用以取得一基準訊號Vb。

請同時參照第5圖及第6圖，第6圖繪示第5圖中虛擬觸控元件151連接於觸控點T時之示意圖。當檢測電路153以通過虛擬觸控元件151之方式連接於觸控點T時，檢測電路153用以取得一反應訊號Vr。

處理單元155連接於檢測電路153，用以取得基準訊號Vb及反應訊號Vr，並依據反應訊號Vr與基準訊號Vb計算取得一反應區間。處理單元155用以根據前述計算取得之反應區間補償觸控點T之觸控訊號。於一實施例中，可以將反應區間與一預設值進行比對。預設值可以根據面板製程的偏移量來設定。在不同的實施例中，也可以在取得觸控面板110所有觸控點T的反應訊號Vr後，利用其平均值或標準差來作為補償觸控訊號的計算基礎。

在實際應用上，訊號處理系統100並不以取得單一觸控點T為限制，虛擬觸控元件151可依序連接於觸控面板110之所有觸控點T，從而讓 檢測電路可以依序取得所有觸控點T的基準訊號Vb及反應訊號Vr。虛擬觸控元件151可為一個電容可調整之觸控電路，因此虛擬觸控元件151可以分別依序設定於不同的電容值，從而使檢測電路153可以取得對應各電容值之反應訊號Vr。

本實施例中，檢測裝置150之處理單元155可於反應區間超過一可補償範圍時，將觸控點T設定為不良。檢測裝置150之處理單元155更可以於一或多個觸控點T之反應訊號Vr與虛擬觸控元件151之電容值變化不相關時，設定前述一或多個觸控點T為不良。

請參照第7圖，其繪示依照本發明再一實施例之觸控訊號之訊號處理方法之流程圖。首先如步驟S301所示，提供一觸控面板及一檢測電路，觸控面板包括多個觸控點，用於產生觸控訊號。檢測電路包括一虛擬觸控元件。

於步驟S303中，在一控制環境中，設定檢測電路於多個不同之量測模式。

其次，如步驟S305所示，當檢測電路連接於各觸控點時，由檢測電路依序取得各觸控點對應於前述多個量測模式時之多個反應訊號。本實施例中，前述之多個量測模式例如為在多個不同的量測頻率下，進行觸控點的觸控訊號量測。舉例來說，在10k至1000k之量測頻率範圍中，以每隔一固定頻率之方式進行量測，藉以取得在各量測頻率時，觸控點所對應的反應訊號。例如以50K的固定頻率，在50K、100K、150K...等等的頻率時各完成一次量測模式的量測。此外，以通過虛擬觸控元件之方式連接於各觸控點時，檢測電路可以將虛擬觸控元件於接地電壓時的訊號，設定一 參考訊號。

再來，如步驟S307所示，形成一數據表，數據表包含前述之多個反應訊號。換句話說，數據表中儲存有各觸控點在各量測模式中所取得的反應訊號。此外，數據表中亦包括各反應訊號之一可調整範圍，例如+2或-2等。

接著，如步驟S309所示，在一操作環境中，讀取一現場量測值，利用現場量測值與參考訊號的關係，從前述多個量測模式中選出一選定模式，並且從數據表中決定出對應此選定模式之多個反應訊號的可調整範圍。本實施例中，控制環境與操作環境不同之處，在於控制環境之一環境潔淨度高於操作環境。

選定模式係有多種可應用之選取方法。本實施例中，量測模式例如是以不同的量測頻率下進行觸控訊號的量測，因此選定模式可應用一跳頻量測方法，從量測模式中決定出較不受雜訊干擾者，作為選定模式。接著從數據表中選出各觸控點在對應此選定模式時的反應訊號。

然後，如步驟S311所示，以反應訊號為基礎補償觸控訊號。於一實施方式中，可以利用所有觸控點為基礎，進行觸控訊號的補償。然而本實施例之技術並不限制於此，訊號處理方法亦可選擇性地以一部分觸控點為基礎，進行觸控訊號的補償，係可節省時間、提升補償觸控訊號的效率。

本實施例之訊號處理方法更選擇性地包括步驟S302、步驟S304及步驟S306，步驟S302例如在步驟S301後執行，步驟S304及步驟S06例如在步驟S309之後執行。

在步驟S302中，設定對應各觸控點之一觸控訊號預存值。可以利用已知的製程差異參數或其他已知的量測方式，在控制環境中量測取得與觸控點相關之特性值。數據表中更包含此觸控訊號預存值。在步驟S304中，選擇一部分之觸控點為多個參考點。在步驟S306中，當各參考點之各反應訊號(因為參考點為觸控點，在數據表中會包含有對應參考點之反應訊號)與各觸控訊號預存值之差異小於一門檻值時，取得一校正區間。在步驟S311中，係以反應訊號為基礎，根據校正區間補償觸控訊號。

參考點為觸控面板中訊號穩定之點，或不易受到環境因素影響之點。於一實施例中，步驟S304係以一向量內積相似度判別方法定義出參考點。某一觸控點之現場量測值相對一預設向量參考點在各量測模式時具有一第一向量值，所述觸控點之觸控訊號預存值相對預設向量參考點具有一第二向量值。預設向量參考點可以根據實際製程或產品需求進行設定，其可以基於在控制環境中量測取得與觸控點相關之特性值來設定。根據第一向量值及第二向量值之內積餘弦值，判斷反應訊號與觸控訊號預存值之差異。餘弦值愈接近1表示兩者愈接近，亦表示該觸控點愈適合用來作為參考點。據此，對應選擇距離最小者作為實際量測使用之選定量測模式。

本實施例之觸控訊號之訊號處理方法，係可應用於一訊號處理系統。訊號處理系統用以處理一觸控訊號，並且包括一觸控面板以及一檢測裝置。觸控面板包括多個觸控點，用以產生觸控訊號。檢測裝置用於檢測觸控面板，並且包括一虛擬觸控元件、一檢測電路及一處理單元。虛擬觸控元件用以選擇性地連接於觸控點。

與前述根據第5圖及第6圖之訊號處理系統100不同之處，在於 本實施例之訊號處理系統中，檢測電路用以在一控制環境中依序被設定於不同之多個量測模式。當檢測電路連接於各觸控點時，檢測電路依序取得各觸控點對應於量測模式時之多個反應訊號。本實施例中處理單元儲存有包含反應訊號之一數據表。處理單元用以在一操作環境中，讀取一現場量測值，並且利用現場量測值與參考訊號的關係，從量測模式中選出一選定模式，並且從數據表中決定出對應選定模式之反應訊號之可調整範圍，並且以反應訊號為基礎補償觸控訊號。

根據本發明前述實施例之觸控訊號之訊號處理方法及應用其之訊號處理系統，利用虛擬觸控元件連接於觸控點以取得反應訊號，進而以反應訊號為計算基礎，據以補償觸控點的觸控輸出訊號。以此方式，不論是因為製程因素導致觸控訊號偏移，或是在不同操作環境中導致觸控訊號偏移的狀況，均可以得到補償。如此係可提升觸控面板偵測觸控訊號的準確性，同時提昇了產品品質。

雖然本發明已以多個實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明。任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附申請專利範圍所界定者為準。

Claims (14)

1. 一種觸控訊號之訊號處理方法，包括：提供一觸控面板及一檢測電路，該觸控面板包括至少一觸控點，用於產生該觸控訊號，該檢測電路包括一虛擬觸控元件；當該檢測電路以不通過該虛擬觸控元件之方式連接於該觸控點時，由該檢測電路取得一基準訊號；當該檢測電路以通過該虛擬觸控元件之方式連接於該觸控點時，由該檢測電路取得一反應訊號；以及依據該基準訊號及該反應訊號補償該觸控訊號。
2. 如申請專利範圍第1項所述之訊號處理方法，更包括：依據該反應訊號與該基準訊號計算取得一反應區間，根據該反應區間補償該觸控訊號。
3. 如申請專利範圍第2項所述之訊號處理方法，更包括：當該反應區間超過一可補償範圍時，設定該觸控點為不良。
4. 如申請專利範圍第1項所述之訊號處理方法，其中由該檢測電路取得該反應訊號之該步驟包括：依序設定該虛擬觸控元件於不同之複數個電容值；及由該檢測電路分別取得對應各該電容值之該反應訊號。
5. 如申請專利範圍第1或4項所述之訊號處理方法，其中該觸控面板包括複數個該觸控點，該方法更包括：比較該些觸控點的該些基準訊號，以決定該些觸控點之複數個補償係數，並將該些補償係數依各該觸控點在該觸控面板上的相對位置矩陣排列。
6. 如申請專利範圍第5項所述之訊號處理方法，更包括：先將各該觸控點的該基準訊號進行補償後，再進行各該觸控點的該反應訊號量測。
7. 如申請專利範圍第1或4項所述之訊號處理方法，其中該觸控面板包括複數個該觸控點，該方法更包括：比較該些觸控點的該些反應訊號，以決定該些觸控點之複數個補償係數，並將該些補償係數依各該觸控點在該觸控面板上的相對位置矩陣排列。
8. 如申請專利範圍第4項所述之訊號處理方法，更包括：當該反應訊號與該些電容值之變化不相關時，設定該觸控點為不良。
9. 一種訊號處理系統，用以處理一觸控訊號，包括：一觸控面板，包括至少一觸控點，用以產生該觸控訊號；以及一檢測裝置，用於檢測該觸控面板，該檢測裝置包括：一虛擬觸控元件，用於選擇性地連接於該觸控點；一檢測電路，當以通過該虛擬觸控元件之方式連接於該觸控點時，該檢測電路用以取得一反應訊號，當以不通過該虛擬觸控元件之方式連接於該觸控點時，該檢測電路用以取得一基準訊號；及一處理單元，連接於該檢測電路，用以取得該基準訊號及該反應訊號，並依據該反應訊號與該基準訊號補償該觸控訊號。
10. 如申請專利範圍第9項所述之訊號處理系統，其中該處理單元更用於依據該反應訊號與該基準訊號計算取得一反應區間，並根據該反應區間補償該觸控訊號。
11. 如申請專利範圍第10項所述之訊號處理系統，其中該處理單元更用以於該反應區間超過一可補償範圍時，設定該觸控點為不良。
12. 如申請專利範圍第9項所述之訊號處理系統，其中該虛擬觸控元件分別依序設定於不同之複數個電容值，該檢測電路用以分別取得對應各該電容值之該反應訊號。
13. 如申請專利範圍第12項所述之訊號處理系統，其中該處理單元更用以於該反應訊號與該些電容值之變化不相關時，設定該觸控點為不良。
14. 如申請專利範圍第9項所述之訊號處理系統，其中該觸控面板包括複數個該觸控點，該處理單元更用以比較該些觸控點的該些基準訊號或該些反應訊號，以決定該些觸控點之複數個補償係數，並將該些補償係數依各該觸控點在該觸控面板上的相對位置矩陣排列。