TWI661209B

TWI661209B - 電力電子元件之電壓響應測試方法

Info

Publication number: TWI661209B
Application number: TW107121936A
Authority: TW
Inventors: 林逢傑; 李冠翰
Original assignee: 東元電機股份有限公司
Priority date: 2018-06-26
Filing date: 2018-06-26
Publication date: 2019-06-01
Also published as: TW202001269A

Abstract

一種電力電子元件之電壓響應測試方法，包含以下步驟：利用一脈衝命令產生模組計算並輸出一調變脈衝信號；利用一濾波器，接收調變脈衝信號，據以產生一調變輸出波；利用一輸出電壓量測模組，量測一待測驅動電路之一電壓過衝峰值；利用脈衝命令產生模組判斷電壓過衝峰值是否大於一最佳化電壓值，若判斷結果為否，係利用脈衝命令產生模組修改調變脈衝信號，直到電壓過衝峰值首次大於一最佳化電壓值。

Description

電力電子元件之電壓響應測試方法

本發明係有關於一種測試方法，尤其是指一種電力電子元件之電壓響應測試方法。

目前全球將近40%的初始能源以轉換成電力的方式在使用，而最主要的發電方式仍以火力發電為主。隨著燃料逐漸枯竭，能源價格日漸高漲，開發新能源，例如前陣子政府力推的離岸風力發電，或是提高電能的傳輸率與有效使用率成為各國重要的發展方向。

電能的傳輸率與有效使用率取決於半導體功率開關元件(電力電子元件)的性能，因此，學術界或是產業界都投入了大量資源致力於電力電子元件的開發與改良。而眾多電力電子元件中，又以金屬氧化半導體場效電晶體(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor；MOSFET)與絕緣柵雙極電晶體(Insulated Gate Bipolar Transistor；IGBT)為最重要且最廣泛應用的電力電子元件。

而使用者在使用電力電子元件時，會輸入一方波以驅動電力電子元件，請參閱第一圖，第一圖係顯示先前技術之電力電子元件進行測試之方塊圖。如圖所示，一測試者(圖未繪示)係利用一方波產生器PA1與一示波器PA4對一待測驅動電路PA2進行測試，待測驅動電路PA2係電性連接一負載PA3。待測驅動電路PA2包含一閘極驅動電路PA21與一電力電子元件PA22，但不以此為限，電力電子元件PA22也可為複數個。待測驅動電路PA2係電性連接於方波產生器PA1與負載PA3，示波器PA4係用以擷取待測驅動電路PA2輸出的電壓電流波形，係電性連接於待測驅動電路PA2，實際節點係落在電力電子元件PA22與負載PA3之間。

測試者係利用方波產生器PA1產生一方波，可以手動方式調整輸出頻率，但是方波的波形無法調整。當方波輸入至閘極驅動電路PA21後，係驅動電力電子元件PA22輸出一電壓與一電流至負載PA3。並利用示波器PA4擷取電力電子元件PA22輸出的電壓電流波形，以供測試者觀看，當測試者發現電壓波形中的電壓過衝(overshoot)峰值遠高於一電壓限制值或是遠低於電壓限制值時，便需要調整更換閘極驅動電路PA21上的閘極電阻，通常閘極電阻係利用焊接的方式連結於閘極驅動電路PA21上。

因此，若要調整閘極電阻則需要解焊再重新焊接一個新的閘極電阻，若重新焊接後量測出的新的輸出電壓電流波形中，新的電壓過衝峰值仍是遠高於或遠低於電壓過衝峰值，則需要再一次更換閘極電阻。普遍來說，若輸出的電壓過衝峰值過高，有可能燒壞電力電子元件PA22，因此，一般測試者都會優先使用電阻值較大的閘極電阻，以減緩電壓的上升斜率，延長電壓的上升時間，進而輸出較低的電壓過衝峰值。確認電壓過衝峰值並未超過電壓限制值後，再逐步換上電阻值較小的閘極電阻，以提升電壓的上升斜率，減少電壓的上升時間，進而提升輸出的電壓過衝峰值，直到電壓過衝峰值甫超過電壓限制值，並紀錄當時的閘極電阻。

然而，先前技術的方法測試者需要一直觀察示波器PA4上的電壓波形，並且一直更換閘極電阻，直到電壓波形中的電壓過衝峰值超過電壓限制值時才停止，相當耗費人力精神、且解焊重焊閘極電阻的過程也可能誤觸閘極驅動電路PA21上的其他電子元件造成短路等問題。此外，電阻值較大的閘極電阻就會限制住電壓的上升時間，進而限制住電力電子元件PA22的切換頻率，電阻值較小的閘極電阻抑或是不使用閘極電阻，雖可減少電壓的上升時間，提升電力電子元件PA22的切換頻率，卻也可能使得電壓過衝峰值過大，導致電力電子元件PA22的損毀。

有鑒於在先前技術中，人力觀察電壓過衝峰值與手動更換閘極電阻所造成的問題。本發明之一主要目的係提供一種電力電子元件之電壓響應測試方法，利用一脈衝命令產生模組、一濾波器與一輸出電壓量測模組，達到自動化測試的功效。

本發明為解決先前技術之問題，所採用之必要技術手段為提供一種電力電子元件之電壓響應測試方法，係利用一脈衝命令產生模組、一濾波器與一輸出電壓量測模組對一待測驅動電路進行測試，並包含以下步驟：(a)利用該脈衝命令產生模組，依據一內建最長上升時間與一脈衝輸出週期，計算出預定在一基準狀態下輸出之一基準脈衝信號之脈衝數量，藉以使該基準脈衝信號包含第1至第M個輸出脈衝；(b)利用該脈衝命令產生模組，定義一消除基準值N，並消除該第1至第M個輸出脈衝中之第N、第2N至第KN個輸出脈衝以形成預定在一調變狀態下輸出之一調變脈衝信號，其中，KN係小於或等於M之最大整數；(c)利用該脈衝命令產生模組，輸出該調變脈衝信號；(d)利用該濾波器，接收該調變脈衝信號，加以濾波以產生一調變輸出波，並將該調變輸出波輸出至該待測驅動電路；(e)利用該輸出電壓量測模組，量測該待測驅動電路之一電壓過衝峰值；(f)利用該脈衝命令產生模組，接收該電壓過衝峰值，並判斷該電壓過衝峰值是否大於一最佳化電壓值；(g)在步驟(f)中的判斷結果為否時，利用該脈衝命令產生模組在第KN、(K-1)N、(K-2)N、…、2N個被消除的輸出脈衝中，每逐次疊加回一者至該調變脈衝信號而修改該調變脈衝信號後，在重複執行步驟(c)至(g)，直到其中一次疊加回輸出脈衝修改而獲得之該調變脈衝信號致使該電壓過衝峰值首次大於該最佳化電壓值時，將該次修改而獲得之該調變脈衝信號定義為一最佳化調變脈衝信號；以及，(h)使該脈衝命令產生模組由該基準脈衝信號修改為以該最佳化調變脈衝信號輸出。

在上述必要技術手段的基礎下，本發明所衍生之一附屬技術手段為使電力電子元件之電壓響應測試方法中之步驟(a)、(b)、(c)、(f)、(g)、(h)中，脈衝命令產生模組包含一脈衝命令計算單元與一脈衝命令產生單元。脈衝命令計算單元，係用以計算出基準脈衝信號與消除之第N、第2N至第KN個輸出脈衝。脈衝命令產生單元，係電性連接脈衝命令計算單元，用以接收基準脈衝信號與消除之第N、第2N至第KN個輸出脈衝，以形成調變脈衝信號。

在上述必要技術手段的基礎下，本發明所衍生之一附屬技術手段為使電力電子元件之電壓響應測試方法中之步驟(a)、(b)、(c)、(f)、(g)、(h)中，脈衝命令產生模組係一現場可程式化邏輯閘陣列(Field Programmable Gate Array；FPGA)。

在上述必要技術手段的基礎下，本發明所衍生之一附屬技術手段為使電力電子元件之電壓響應測試方法中之步驟(d)、(e)中，該待測驅動電路包含：一閘極驅動電路與一電力電子元件。閘極驅動電路係電性連接濾波器，用以接收該調變輸出波，並具有一閘極電阻。電力電子元件係電性連接閘極驅動電路與負載。

在上述必要技術手段的基礎下，本發明所衍生之一附屬技術手段為使電力電子元件之電壓響應測試方法中之步驟(e)中，輸出電壓量測模組係一伏特計。

承上所述，本發明所提供之電力電子元件之電壓響應測試方法，係利用脈衝命令產生模組、濾波器與輸出電壓量測模組，逐次疊加回消除的輸出脈衝，以達到自動化測試的功效。

PA1‧‧‧方波產生器

PA2‧‧‧待測驅動電路

PA21‧‧‧閘極驅動電路

PA22‧‧‧電力電子元件

PA3‧‧‧負載

PA4‧‧‧示波器

1‧‧‧脈衝命令產生模組

11‧‧‧脈衝命令計算單元

12‧‧‧脈衝命令產生單元

2‧‧‧濾波器

3‧‧‧輸出電壓量測模組

4‧‧‧待測驅動電路

41‧‧‧閘極驅動電路

42‧‧‧電力電子元件

5‧‧‧負載

P3、P6、P9、P12、P15、P18、P21、P24、P27、P30‧‧‧輸出脈衝

第一圖係顯示先前技術之電力電子元件進行測試之方塊圖；第二圖係顯示本發明較佳實施例所提供之電力電子元件之電壓響應測試方法之流程圖；第三圖係顯示實施本發明較佳實施例之測試系統之方塊圖；第四圖係顯示本發明較佳實施例中脈衝命令產生模組計算消除輸出脈衝之示意圖；第五圖係顯示本發明較佳實施例中脈衝命令產生模組輸出之調變脈衝信號之示意圖；第六圖係顯示本發明較佳實施例中濾波器濾波產生調變輸出波之波形示意圖；第七圖係顯示本發明較佳實施例中輸出電壓量測模組量測之輸出電壓波形圖；第八圖係顯示本發明較佳實施例中脈衝命令產生模組計算消除輸出脈衝之另一示意圖；第九圖係顯示本發明較佳實施例中脈衝命令產生模組輸出之調變脈衝信號之另一示意圖；第十圖係顯示本發明較佳實施例中濾波器濾波產生調變輸出波之另一波形示意圖；以及第十一圖係顯示本發明較佳實施例中輸出電壓量測模組量測之另一輸出電壓波形圖。

請參閱第二圖與第三圖，其中，第二圖係顯示本發明較佳實施例所提供之電力電子元件之電壓響應測試方法之流程圖；以及，第三圖係顯示實施本發明較佳實施例之測試系統之方塊圖。如圖所示，一種電力電子元件之電壓響應測試方法，係利用一脈衝命令產生模組1、一濾波器2與一輸出電壓量測模組3加以實施，用以對一待測驅動電路4進行測試，其中，脈衝命令產生模組1包含一脈衝命令計算單元11與一脈衝命令產生單元12，待測驅動電路4包含一閘極驅動電路41與一電力電子元件42，並電性連接一負載5。在本實施例中，脈衝命令產生模組1係一現場可程式化邏輯閘陣列(Field Programmable Gate Array；FPGA)，輸出電壓量測模組3係一伏特計。

電力電子元件之電壓響應測試方法包含以下步驟S101至S108：

步驟S101：利用該脈衝命令產生模組1，計算出預定在一基準狀態下輸出之一基準脈衝信號之脈衝數量，該基準脈衝信號包含第1至第M個輸出脈衝。

步驟S102：利用該脈衝命令產生模組1，定義一消除基準值N，並消除該基準脈衝信號中之第N、第2N至第KN個輸出脈衝，以形成在一調變脈衝信號。

步驟S103：利用該脈衝命令產生模組1，輸出該調變脈衝信號。

步驟S104：利用該濾波器2，接收該調變脈衝信號，加以濾波以產生一輸出至該待測驅動電路4之調變輸出波。

步驟S105：利用該輸出電壓量測模組3，量測該待測驅動電路4之一電壓過衝峰值。

步驟S106：利用該脈衝命令產生模組1，判斷該電壓過衝峰值是否大於一最佳化電壓值。

步驟S107：利用該脈衝命令產生模組1，在第KN、(K-1)N、(K-2)N、…、2N個被消除的輸出脈衝中，每逐次疊加回一者至該調變脈衝信號而修改該調變脈衝信號。

步驟S108：利用該脈衝命令產生模組1，係將該次修改而獲得之該調變脈衝信號定義為一最佳化調變脈衝信號，並改以該最佳化調變脈衝信號輸出。

請一併參閱第二圖至第七圖，其中，第四圖係顯示本發明較佳實施例中脈衝命令產生模組計算消除輸出脈衝之示意圖；第五圖係顯示本發明較佳實施例中脈衝命令產生模組輸出之調變脈衝信號之示意圖；第六圖係顯示本發明較佳實施例中濾波器濾波產生調變輸出波之波形示意圖；以及，第七圖係顯示本發明較佳實施例中輸出電壓量測模組量測之輸出電壓波形圖。

步驟S101中，利用脈衝命令產生模組1，依據一內建最長上升時間與一脈衝輸出週期，並將兩者相除以計算出預定在一基準狀態下輸出之一基準脈衝信號之脈衝數量，藉以使基準脈衝信號包含第1個至第M個輸出脈衝。更詳細的說明，是利用脈衝命令產生模組1中之脈衝命令計算單元11計算。

在本實施例中，待測驅動電路4中之電力電子元件42之內建最長上升時間以0.45毫秒為例，而脈衝命令產生模組1的脈衝輸出週期係0.015毫秒，脈衝命令產生模組1中之一脈衝命令計算單元11係計算出基準脈衝信號之脈衝數量為30個。在此需說明的是，為了使圖式更佳清楚明瞭，時間第0到0.09毫秒並未輸出脈衝，故0.09毫秒才開始產生輸出脈衝，而內建最長上升時間區間落在0.09毫秒至0.54毫秒，總共0.45毫秒，但不以此為限，實際上也可能直接從0秒就開始產生輸出脈衝。

步驟S102中，利用脈衝命令產生模組1，定義出消除基準值N為3，並消除基準脈衝信號中之第N、第2N至第KN個輸出脈衝，其中KN係小於或等於M之最大正整數。更詳細的說明，是利用脈衝命令產生模組1中之脈衝命令計算單元11計算。在本實施例中，脈衝命令產生模組1係應消除第3、6、9、12、15、…、30個輸出脈衝，即圖式標示輸出脈衝P3、P6、P9、…、P30，以形成調變脈衝信號，並藉由脈衝命令產生模組1中之脈衝命令產生單元12輸出調變脈衝信號(步驟S103)。但在本實施例中，直接從消除到第3、6、9、12、15個脈衝說明，如第三圖與第四圖所示，即圖式標示之輸出脈衝P3、P6、P9、P12與P15，並利用虛線表示被消除。該調變脈衝信號與基準脈衝信號的差別在於，在調變脈衝信號中，第3、6、9、12、15個輸出脈衝係被消除而沒有輸出，因此，調變脈衝信號的脈衝數量為25個。

步驟S104中，利用濾波器2，接收調變脈衝信號，加以濾波以產生調變輸出波，如第五圖所示，並將調變輸出波輸出至待測驅動電路4中之閘極驅動電路41，閘極驅動電路41會驅動電力電子元件42，並輸出一輸出電壓與一輸出電流。其中，閘極驅動電路41係具有一閘極電阻。

步驟S105中，利用輸出電壓量測模組3，量測待測驅動電路4之電力電子元件42之輸出電壓波形圖，如第六圖所示。因電力電子元件42的特性，會產生步階響應(階躍響應)，在步階響應中，初始值與趨於穩態後的最終值之間，會視情況而有所振盪，振盪中的最高值稱之為「電壓過衝峰值(overshoot)」。

電壓過衝峰值若過高有可能造成電力電子元件42損壞，就是俗稱的燒毀。舉例來說，一個額定600伏特的絕緣柵雙極電晶體(以下以IGBT作為代稱)，給予一300伏特的輸入電壓，若電壓過衝峰值超過300伏特，此IGBT就會因為電壓超過額定600伏特而燒壞。因此，使用電力電子元件42不能只端看輸入電壓與電力電子元件穩態後的最終電壓值，還需將中間振盪的電壓過衝峰值列入考慮。

故，測試者可依照使用狀況，先行定義出最佳化電壓值，並利用脈衝命令產生模組1判斷電壓過衝峰值是否大於最佳化電壓值(步驟S106)。最佳化電壓值係測試者自行定義，可依照使用狀況、電力電子元件42內建的最佳化電壓值等進行定義。以上述例子繼續說明，最普遍的方式會將最佳化電壓值定義為額定600伏特與輸入電壓300伏特的中間值，即450伏特。此最佳化電壓值與額定600伏特具有一安全距離，因為無法確保電壓過衝峰值首次超過最佳化電壓值時是否會超過額定600伏特，故最佳化電壓值與額定600伏特不能太過接近。且電壓過衝峰值若過大，也會使得電磁干擾(Electro Magnetic Interference；EMI)過大。

如第六圖所示，電壓過衝峰值並未超過最佳化電壓值，故進入步驟S107。利用脈衝命令產生模組1從第KN、(K-1)N、(K-2)N、…、2N個被消除的輸出脈衝中，每逐次疊加一者至調變脈衝信號而修改調變脈衝信號，並重複步驟S103至S106。即脈衝命令產生模組1會從第15、12、9、6個輸出脈衝逐次疊加回調變脈衝信號並修改之，即逐次加回圖式中之輸出脈衝P15、P12、P9、P6，每加回一個輸出脈衝就重新進行步驟S103至S106。

更詳細的說明，脈衝命令產生模組1係先將輸出脈衝P15加回調變脈衝信號，並修改調變脈衝信號而加以輸出，重複步驟S103至S106。當重複至步驟 S106時，若脈衝命令產生模組1判斷電壓過衝峰值仍未大於最佳化電壓值，則脈衝命令產生模組1會再將輸出脈衝P12加回調變脈衝信號，再重複進行步驟S103至S106。若電壓過衝峰值仍未大於最佳化電壓值，脈衝命令產生模組1會再將輸出脈衝P9加回，繼續重複步驟S103至S106，直到電壓過衝峰值首次大於最佳化電壓值。

而實際上要執行到第四圖，表示脈衝命令產生模組1已經重複步驟S103至S106將輸出脈衝P30、P27、P24、P21、P18逐次疊加回一者至調變脈衝信號。

請一併參閱第二圖至第十一圖，其中，第八圖係顯示本發明較佳實施例中脈衝命令產生模組計算消除輸出脈衝之另一示意圖；第九圖係顯示本發明較佳實施例中脈衝命令產生模組輸出之調變脈衝信號之另一示意圖；第十圖係顯示本發明較佳實施例中濾波器濾波產生調變輸出波之另一波形示意圖；以及，第十一圖係顯示本發明較佳實施例中輸出電壓量測模組量測之另一輸出電壓波形圖。

第八圖係與第四圖相對應，只是在第八圖中，脈衝命令產生模組1係將輸出脈衝P15加回至調變脈衝信號(步驟S107)。第九圖係與第五圖相對應，脈衝命令產生模組1係輸出調變脈衝信號，第九圖產生的調變脈衝信號與第五圖相比，更接近於一完整的方波。

第十圖係對應到第六圖，濾波器2係接收調變脈衝信號，加以濾波產生調變輸出波，第十圖的調變輸出波，因調變脈衝信號更接近於一完整的方波，故濾波後產生的調變輸出波也會更趨近於一完整的方波。如圖所示，第六圖有五個類似鋸齒狀的振盪，而第十圖減為四個鋸齒狀的振盪，因此，第十圖的調變輸出波從0到1的上升時間會較第六圖的上升時間來的短。而上升時間縮短，可等同於將閘極驅動電路41的閘極電阻之電阻值變小。因此，在本實施例中，測試者不需用肉眼觀察電壓過衝峰值，並且用手動更換閘極電阻，解決了先前技術中，測試者利用人力觀察電壓過衝峰值與手動更換閘極電阻所衍生出的問題。

第十一圖係與第七圖相對應，利用脈衝命令產生模組1，判斷電壓過衝峰值若大於最佳化電壓值，便改以最佳化調變脈衝信號輸出(步驟S108)。因為脈衝命令產生模組1係逐次將消除的輸出脈衝加回至調變脈衝信號。因此，上升時間會逐步縮短，進而使電壓過衝峰值逐次升高，直到電壓過衝峰值首次超過最佳化電壓值，係定義此次修改而獲得的調變脈衝信號定義為最佳化調變脈衝信號。因為，電壓過衝峰值過高有可能會燒壞電力電子元件42，就算沒燒壞電力電子元件42，也會造成EMI雜訊過大。故，脈衝命令產生模組1在電壓過衝峰值首次超過最佳化電壓值後，便以該次的最佳化調變脈衝信號輸出，不會再重複步驟S107，將消除的輸出脈衝加回。

此外，也因為上升時間縮短，故上升頻率(切換頻率)會提高。舉例來說，當電力電子元件42電性連接到的一電力轉換器，若電力電子元件42的切換頻率提高，就可以使電力轉換器中之被動元件體積減少，進而提升電力轉換器內的能量密度。

綜上所述，本發明所提供之電力電子元件之電壓響應測試方法，利用輸出電壓量測模組確認電壓過衝峰值是否大於最佳化電壓值，若未大於最佳化電壓值，係利用脈衝命令產生模組將消除的輸出脈衝每逐次疊加回一者，進而縮短上升時間，使電壓過衝峰值逐步升高至首次超過最佳化電壓值，並改以最佳化調變脈衝信號輸出。

相較於先前技術，本發明不用利用人力觀察電壓過衝峰值與手動自行更換閘極電阻，係利用脈衝命令產生模組自動將消除的輸出脈衝每逐次疊加回一者，縮短上升時間，等同於達到縮小閘極電阻的電阻值的功效。且本發明因為可以利用消除輸出脈衝以拉長上升時間，避免電壓過衝峰值過高，因此，本發明的閘極電阻的電阻值甚至可以比先前技術中利用手動更換到閘極電阻的最小電阻值還要小。而閘極電阻的電阻值變小，就等同於縮小上升時間，因此，更可以達到提升電力電子元件的切換頻率的功效。

藉由以上較佳具體實施例之詳述，係希望能更加清楚描述本發明之特徵與精神，而並非以上述所揭露的較佳具體實施例來對本發明之範疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排於本發明所欲申請之專利範圍的範疇內。

Claims

一種電力電子元件之電壓響應測試方法，係利用一脈衝命令產生模組、一濾波器與一輸出電壓量測模組對一待測驅動電路進行測試，並包含以下步驟：(a)利用該脈衝命令產生模組，依據一內建最長上升時間與一脈衝輸出週期，計算出預定在一基準狀態下輸出之一基準脈衝信號之脈衝數量，藉以使該基準脈衝信號包含第1至第M個輸出脈衝；(b)利用該脈衝命令產生模組，定義一消除基準值N，並消除該第1至第M個輸出脈衝中之第N、第2N至第KN個輸出脈衝以形成預定在一調變狀態下輸出之一調變脈衝信號，其中，KN係小於或等於M之最大整數；(c)利用該脈衝命令產生模組，輸出該調變脈衝信號；(d)利用該濾波器，接收該調變脈衝信號，加以濾波以產生一調變輸出波，並將該調變輸出波輸出至該待測驅動電路；(e)利用該輸出電壓量測模組，量測該待測驅動電路之一電壓過衝峰值；(f)利用該脈衝命令產生模組，接收該電壓過衝峰值，並判斷該電壓過衝峰值是否大於一最佳化電壓值；(g)在該步驟(f)中的判斷結果為否時，利用該脈衝命令產生模組在第KN、(K-1)N、(K-2)N、…、2N個被消除的輸出脈衝中，每逐次疊加回一者至該調變脈衝信號而修改該調變脈衝信號後，重複執行該步驟(c)至(g)，直到其中一次疊加回輸出脈衝修改而獲得之該調變脈衝信號致使該電壓過衝峰值首次大於該最佳化電壓值時，將該次修改而獲得之該調變脈衝信號定義為一最佳化調變脈衝信號；以及(h)使該脈衝命令產生模組由該基準脈衝信號修改為以該最佳化調變脈衝信號輸出。
如申請專利範圍第1項所述之電力電子元件之電壓響應測試方法，其中，在該步驟(a)、(b)、(c)、(f)、(g)、(h)中，該脈衝命令產生模組包含：一脈衝命令計算單元，係用以計算出該基準脈衝信號與該些消除之第N、第2N至第KN個輸出脈衝；以及一脈衝命令產生單元，係電性連接該脈衝命令計算單元，用以接收該基準脈衝信號與該些消除之第N、第2N至第KN個輸出脈衝，以形成該調變脈衝信號。
如申請專利範圍第1項所述之電力電子元件之電壓響應測試方法，其中，在該步驟(a)、(b)、(c)、(f)、(g)、(h)中，該脈衝命令產生模組係一現場可程式化邏輯閘陣列(Field Programmable Gate Array；FPGA)。
如申請專利範圍第1項所述之電力電子元件之電壓響應測試方法，其中，在該步驟(d)、(e)中，該待測驅動電路包含：一閘極驅動電路，係電性連接該濾波器，用以接收該調變輸出波，並具有一閘極電阻；以及一電力電子元件，係電性連接該閘極驅動電路與該負載。
如申請專利範圍第1項所述之電力電子元件之電壓響應測試方法，其中，在該步驟(e)中，該輸出電壓量測模組係一伏特計。