TWI641809B

TWI641809B - 電子裝置測試系統及其方法

Info

Publication number: TWI641809B
Application number: TW106102950A
Authority: TW
Inventors: 張倍銘; 許世傑; 張世傑; 黃偉隆
Original assignee: 致伸科技股份有限公司
Priority date: 2017-01-25
Filing date: 2017-01-25
Publication date: 2018-11-21
Also published as: US10175280B2; TW201827793A; US20180210021A1

Abstract

本發明提供一種電子裝置測試系統，用以測試電子裝置之功能，電子裝置測試系統包括：測試計算機，用以執行電子裝置測試程式；掃描裝置，用以掃描電子裝置之條碼編號；以及光感測模組，用以偵測電子裝置與測試計算機的連接狀態；其中，當光感測模組確認連接狀態時，電子裝置測試程式啟動測試功能測試電子裝置，並依據條碼編號紀錄電子裝置的測試結果，隨後依據測試結果產生重測率。

Description

電子裝置測試系統及其方法

本發明係有關於一種電子裝置測試應用領域，尤指一種具連接確認的電子裝置測試系統及其方法。

電子裝置及其相關產品已成為人類社會中不可或缺的一部分，全世界每年會售出數以億計的電子產品，當中包括：筆記型電腦、平板、個人數位助理、行動電話等。而隨著大眾消費力的增長及科技的進步，電子產品汰舊換新的速度也愈來愈快，因此而產生的電子廢棄物也對地球環境造成莫大的傷害。

為降低電子廢棄物的總量，於消費者端，可藉由增加電子產品的功能性及多樣性，以降低消費者汰換電子產品的速率；於生產端，則利用產線上的測試系統對電子裝置的各功能進行測試，藉此提高電子裝置生產的良率，同時延長電子裝置的使用壽命。

於習知的測試系統中，在測試系統建立電子裝置的條碼編號後，測試系統會在一預設的時間內開啟測試功能以對電子裝置進行測試。但此時若電子裝置並未與測試系統正確連接，容易造成測試系統的誤判，使功能正常的電子裝置被判定為瑕疵品，讓功能正常的電子裝置變成了電子廢棄物而被丟棄。此外若為二次確認疑似瑕疵品的功能狀態，除了提高測試系統對電子裝置進行重新測試的頻率，因此耗費了更多的能源及人力成本外，亦無法精確地掌控產線的運作效能。

有鑑於此，如何提供一種具連接確認的電子裝置測試系統，並精確掌控產線的運作效能，為本發明欲解決的技術課題。

本發明之主要目的，在於提供一種具有連接確認的電子裝置測試系統，其可避免待測電子裝置未正確與測試計算機連接所產生的錯誤測試結果，並可利用測試結果計算並產生重測率及直通率，藉以精確掌控各產線或測試站的運作效能。

為達前述之目的，本發明提供一種電子裝置測試系統，用以測試電子裝置之功能，電子裝置測試系統包括：測試計算機，用以執行電子裝置測試程式；掃描裝置，用以掃描電子裝置之條碼編號；以及光感測模組，用以偵測電子裝置與測試計算機的連接狀態；其中，當光感測模組確認連接狀態時，電子裝置測試程式啟動測試功能測試電子裝置，並依據條碼編號紀錄電子裝置的測試結果，隨後依據測試結果產生重測率。

於上述較佳實施方式中，其中電子裝置測試系統進一步包括顯示裝置，顯示裝置用以顯示電子裝置測試程式的人機介面。

於上述較佳實施方式中，其中光感測模組包括：光發射元件及光接收元件。

於上述較佳實施方式中，其中光發射元件進一步包括遮罩，遮罩用於維持光發射元件發射光線之行進方向。

於上述較佳實施方式中，其中光接收元件為光電晶體或光敏電阻。

於上述較佳實施方式中，其中電子裝置具有通用序列匯流排介面連接埠。

於上述較佳實施方式中，其中電子裝置為：筆記型電腦、平板、個人數位助理、行動電話、手錶、遊戲機、滑鼠、鍵盤、螢幕、印表機、事務機、掃描器或攝相機。

本發明另一較佳作法，係關於一種電子裝置測試方法，用以測試電子裝置之功能，電子裝置測試方法包括下列步驟：(a).掃描電子裝置之條碼編號；(b).藉由光感測模組確認電子裝置是否已連接測試計算機，若否，則產生警示訊息，若是，則進行下一步驟；(c).測試電子裝置；(d).依據條碼編號紀錄電子裝置測試結果；以及(e).依據測試結果產生重測率。

於上述較佳實施方式中，其中於步驟(e)中，係依據重測率產生直通率。

L‧‧‧光線

S100~S104‧‧‧步驟

10‧‧‧測試計算機

101‧‧‧電子裝置測試程式

1011‧‧‧人機介面

102‧‧‧光感測模組

1021‧‧‧光發射元件

1022‧‧‧光接收元件

103‧‧‧遮罩

20‧‧‧掃描裝置

30‧‧‧顯示裝置

40‧‧‧電子裝置

圖1A及1B：係為本發明所提供之電子裝置測試系統；圖2：係為本發明電子裝置測試系統之測試流程圖；以及圖3：係為本發明電子裝置測試系統人機介面顯示之情境示意圖。

本發明的優點及特徵以及達到其方法將參照例示性實施例及附圖進行更詳細的描述而更容易理解。然而，本發明可以不同形式來實現且不應被理解僅限於此處所陳述的實施例。相反地，對所屬技術領域具有通常知識者而言，所提供的此些實施例將使本揭露更加透徹與全面且完整地傳達本發明的範疇。

首先，請參閱圖1A及圖1B所示，圖1A及1B係為電子裝置測試系統。於圖1A及圖1B中，安裝於產線測試站的電子裝置測試系統包括：測試計算機10、掃描裝置20及顯示裝置30，其中，測試計算機10與掃描裝置20及顯示裝置30電性連接。

測試計算機10可為視窗(Windows)系統或麥金塔(Macintosh)系統的電腦主機。測試計算機10用以安裝並執行電子裝置測試程式101並藉由電子裝置測試程式101控制由光發射元件1021及光接收元件1022所組成的光感測模組102。光感測模組102可設置於測試計算機10的連接埠(未示於圖中)位置。測試計算機10的連接埠用於電性連接電子裝置40，而光感測模組102(包括：光發射元件1021、光接收元件1022)係用於偵測電子裝置40與測試計算機10的連接狀態。光發射元件1021為一種發光二極體單元(Light-emitting diode,LED)，用以發射光線L至光接收元件1022，光接收元件1022可為光電晶體或光敏電阻。此外光發射元件1021具有遮罩103，遮罩103用以維持光線L於穩定的行進方向。掃描裝置20用以掃描電子裝置40的條碼編號以於測試計算機10中建立測試紀錄。顯示裝置30可為液晶電視或液晶螢幕，其用於顯示電子裝置40的測試紀錄結果。本發明雖僅提出以光感測模組偵測電子裝置40與測試計算機10連接狀態的實施方式，但實際應用時，可以其它種類的感測模組替代，例如可以壓力感測模組取代光感測模組，而不以光感測模組為限。

接著，請繼續參閱圖1B，掃描裝置20掃描電子裝置40的條碼編號並建立測試紀錄後，電子裝置測試程式101即控制並開啟由光發射元件1021及光接收元件1022所組成的光感測模組102。隨後可以人工或自動的方式將電子裝置40接上測試計算機10的連接埠。當電子裝置40與測試計算機10連接時，由於電子裝置40會同時阻斷光發射元件1021所發射的光線L，使光接收元件1022無法接收到光線L，造成光接收元件1022的電阻值增大。而電子裝置測試程式101則接收光接收元件1022因電阻值增大而產生的電子訊號，因此可以確認電子裝置40已接上測試計算機10的連接埠。電子裝置測試程式101隨即啟動測試功能，並於預設時間內測試電子裝置40中的各功能元件是否能正常運作。反之，若電子裝置40並未正確地連接測試計算機10的連接埠，光接收元件1022仍可持續接收到光線L，因此光接收元件1022的電阻值仍維持恆定的狀態，此時電子裝置測試程式101則判定電子裝置40並未連接測試計算機10的連接埠，因此不啟動測試功能。本發明所述之電子裝置40可為：筆記型電腦、平板、個人數位助理、行動電話、手錶、遊戲機、滑鼠、鍵盤、螢幕、印表機、事務機、掃描器或攝相機等具有通用序列匯流排介面(Universal Serial Bus,USB)連接埠的電子裝置。

請一併參閱圖1B及圖2，圖2係為本發明電子裝置測試系統之測試流程。首先，安裝於產線測試站的電子裝置測試系統以掃描裝置20掃描電子裝置40的條碼編號(步驟S100)。於步驟S100中，可以人為或自動的方式操作掃描裝置20對電子裝置40的條碼編號進行掃描，並透過測試計算機10中的電子裝置測試程式101建立測試紀錄等資料，同時於顯示裝置30上的人機介面顯示測試紀錄與測試結果。接著，藉由光感測模組102(光發射元件1021、光接收元件1022)確認電子裝置40是否已連接測試計算機10(步驟S101)。於步驟S101中，若光發射元件1021所發射的光線L並未被電子裝置40阻斷，電子裝置測試程式101判斷電子裝置40並未正確地與測試計算機10的連接埠連接，並進一步產生警示訊息(步驟S103)。於步驟S103中，警示訊息可於顯示裝置30上進行顯示。此時可以人工或自動的方式將電子裝置40重新裝設使其與測試計算機10正確連接。於步驟S101中，若光發射元件1021所發射的光線L被電子裝置40阻斷，電子裝置測試程式101判斷電子裝置40已正確地與測試計算機10的連接埠連接，則電子裝置測試程式101啟動測試功能並於一預設的時間內測試電子裝置40(步驟S102)。於步驟S102中，電子裝置40測試的預設時間可依照電子裝置40的種類及待測試的功能進行設定。最後，電子裝置測試程式101則依據條碼編號紀錄電子裝置40測試結果(步驟S104)。於步驟S104中，電子裝置測試程式101會依序記錄電子裝置40的條碼編號、連接確認情況及測試結果等測試資訊，並於顯示裝置30上的人機介面進行顯示，產線管理員則可依據測試結果計算以產生該產線的重測率，隨後依據該重測率計算以產生該產線的直通率，進而控管該產線的運作效能。

請一併參閱圖1B及圖3，圖3係為本發明電子裝置測試系統人機介面顯示之情境示意圖。於圖3中，測試站的顯示裝置30用於顯示電子裝置測試程式101的人機介面1011，人機介面1011顯示的資訊包括：條碼編號、連接確認及測試結果等測試數據，並可藉由測試數據計算出測試站的重測率及直通率。重測率的計算公式為：X/N*100%，其中N值為：投入測試個數，X值為：測試紀錄個數-投入測試個數；直通率的計算公式為：1-重測率，倘若一條產線上具有多個測試站，則將該產線上各測試站的直通率相乘，即為該條產線的直通率。舉例來說，條碼編號為「A00010」的電子裝置40已進行連接確認(顯示為✓)，其測試結果為「成功」。條碼編號為「A00011」的電子裝置40其連接確認失敗(顯示為X)，由於電子裝置測試程式101並未啟動測試功能，故其測試結果為「未測試」。隨後可以人工或自動的方式將條碼編號為「A00011」電子裝置40重新掃描並進行裝設使其與測試計算機10可正確連接，待其連接確認完成後(顯示為✓)，再次進行測試，其測試結果為「成功」。條碼編號為「A00012」的電子裝置40已進行連接確認(顯示為✓)，其測試結果為「失敗」。於圖3中，電子裝置40的投入測試個數=3，而測試紀錄個數=4，因此X值=1，重測率為：1/3*100%=33%。而由於圖3為單一的測試站，因此直通率為：1-33%=67%。

相較於習知技術，本發明所提供的電子裝置測試系統於功能測試進行之前，新增了電子裝置與測試計算機連接的確認步驟，可有效避免測試時，因電子裝置未與測試計算機正確連接所產生的錯誤結果。如此可減少電子裝置重新測試的頻率，降低能源及人力成本的耗損。且可依據測試結果計算出產線或測試站的重測率及直通率，藉此可精準地監控整體產線或測試站的運作效能，而有效提高電子裝置測試的準確性及自動化生產的效率。此外使用光感測模組進行偵測，亦不會對電子裝置造成任何的損害；故，本發明實為一極具產業價值之創作。

本發明得由熟悉本技藝之人士任施匠思而為諸般修飾，然皆不脫如附申請專利範圍所欲保護。

Claims

一種電子裝置測試系統，用以測試一電子裝置之功能，該電子裝置測試系統包括：一測試計算機，用以執行一電子裝置測試程式；一掃描裝置，用以掃描該電子裝置之一條碼編號；以及一光感測模組，用以偵測該電子裝置與該測試計算機的一連接狀態，該光感測模組包括一光發射元件及一光接收元件，該光發射元件用以發射光線至該光接收元件；其中，當該光發射元件發射的該光線被該電子裝置阻斷時，該電子裝置測試程式啟動測試功能測試該電子裝置，並依據該條碼編號紀錄該電子裝置的一測試結果，隨後依據該測試結果產生一重測率。
如申請專利範圍第1項所述之電子裝置測試系統，其中該電子裝置測試系統進一步包括一顯示裝置，該顯示裝置用以顯示該電子裝置測試程式的人機介面。
如申請專利範圍第1項所述之電子裝置測試系統，其中該光發射元件進一步包括一遮罩，該遮罩用於維持該光發射元件發射光線之行進方向。
如申請專利範圍第1項所述之電子裝置測試系統，其中該光接收元件為：光電晶體或光敏電阻。
如申請專利範圍第1項所述之電子裝置測試系統，其中該電子裝置具有一通用序列匯流排介面連接埠。
如申請專利範圍第1項所述之電子裝置測試系統，其中該電子裝置為：筆記型電腦、平板、個人數位助理、行動電話、手錶、遊戲機、滑鼠、鍵盤、螢幕、印表機、事務機、掃描器或攝相機。
一種電子裝置測試方法，用以測試一電子裝置之功能，該電子裝置測試方法包括下列步驟：(a).掃描該電子裝置之一條碼編號；(b).藉由一光感測模組確認該電子裝置是否已連接一測試計算機，其中該光感測模組包括一光發射元件及一光接收元件，該光發射元件用以發射光線至該光接收元件，若該光發射元件發射的該光線未被該電子裝置阻斷，則產生一警示訊息，若該光發射元件發射的該光線被該電子裝置阻斷，則進行下一步驟；(c).測試該電子裝置；(d).依據該條碼編號紀錄該電子裝置一測試結果；以及(e).依據該測試結果產生一重測率。
如申請專利範圍第7項所述之電子裝置測試方法，其中於步驟(e)中，係依據該重測率產生一直通率。