TWI593939B - Overhead wire abrasion measuring apparatus and overhead wire abrasion measuring method - Google Patents

Description

架空線磨耗測定裝置及架空線磨耗測定方法

本發明係關於一種藉由自電車之車頂上拍攝架空線之下表面之寬度並處理該圖像而測定架空線之磨耗之架線檢測領域，尤其是關於一種對於架空線之集電弓滑動面一部分傾斜之偏磨耗部分求出成為獲知架空線之壽命之指標之殘存直徑對應值的架空線磨耗測定裝置及架空線磨耗測定方法。

於圖8表示架空線之剖面之模式圖。架空線5係相對於圖8(a)所示之未磨耗之架空線5，藉由使其與未圖示之集電弓接觸，而如圖8(b)所示般架空線5之下表面平行於水平面地磨耗，或如圖8(c)所示般架空線5之下表面相對於水平面傾斜地磨耗。以下，將平行於水平面地磨耗之磨耗部稱為水平磨耗部5a，將相對於水平面傾斜地磨耗之磨耗部稱為傾斜磨耗部5b。

又，於架空線5之重疊部位或供跨接線進入之部位，亦有如圖8(d)所示般，架空線5之磨耗部成為包含水平磨耗部5a與傾斜磨耗部5b之被稱為偏磨耗之磨耗狀態之情況。

對於此種架空線5之磨耗，於下述專利文獻1中，記載有測定如圖8(b)所示之具有水平磨耗部5a之架空線5之磨耗量之架空線測定方法。又，於下述專利文獻2中，記載有測定如圖8(c)所示之具有傾斜磨耗部5b之架空線5之磨耗量之架空線測定方法。

又，對於如圖8(d)所示之架空線5之偏磨耗，於下述專利文獻3揭 示有進行使用雷射之偏磨耗計測。於該專利文獻3中，藉由雷射之反射光之強度差，將水平磨耗部5a與傾斜磨耗部5b二值化，並利用該等之寬度與預先準備之殘存直徑表格，如圖9所示般，算出水平磨耗部5a之殘存直徑H_A與傾斜磨耗部5b之殘存直徑H_B。

[先前技術文獻] [專利文獻]

[專利文獻1]日本專利第4635657號公報

[專利文獻2]日本專利第5534058號公報

[專利文獻3]日本專利第5380000號公報

[非專利文獻]

[非專利文獻1]編撰組共同撰寫，「寫給鐵道技術者的電氣概論電車線路系列2電車線」，(公司)日本鐵道電氣技術協會出版，1998年11月10日，p.4-5,32-33

此處，如於上述非專利文獻1所記載般，若架空線5之抗張強度降低，則有導致斷線之虞。應設定為，架空線5之抗張強度與架空線5之殘存剖面面積相關，藉由架空線之測定算出之殘存直徑亦與殘存剖面面積相關。即，作為表現具有水平磨耗部5a與傾斜磨耗部5b之偏磨耗架空線之磨耗狀態之指標，認為不以水平磨耗部5a之殘存直徑與傾斜磨耗部5b之殘存直徑之二個殘存直徑表現，而以根據剖面面積之一個值(以下，稱為殘存直徑對應值)表現較合適。

然而，於上述之先前之架空線測定方法中，雖可對水平磨耗部5a、傾斜磨耗部5b分別求出殘存直徑值，但無法對尤其處於偏磨耗狀態之架空線5，基於殘存剖面面積求出考慮到水平磨耗部5a及傾斜磨耗部5b之一個殘存直徑對應值，故有難以準確地把握架空線5之抗張 強度之問題。

根據此種情況，本發明之目的在於提供一種可基於殘存剖面面積算出考慮到水平磨耗部及傾斜磨耗部之一個殘存直徑對應值之架空線磨耗測定裝置及架空線磨耗測定方法。

用以解決上述問題之第1發明之架空線磨耗測定方法係利用設置於電車車頂上之磨耗測定用相機拍攝與集電弓接觸之架空線之下表面，並對拍攝到之上述架空線之下表面之圖像進行圖像處理，而求出上述架空線之殘存直徑者，其特徵在於：將剖面面積與具有水平磨耗部及傾斜磨耗部之偏磨耗架空線相同的僅具有水平磨耗部之水平磨耗架空線之殘存直徑，作為上述偏磨耗架空線之殘存直徑對應值而算出。

又，第2發明之架空線磨耗測定方法之特徵在於具有如下步驟：自上述架空線之下表面之圖像算出上述架空線之中心點之實際座標；自上述架空線之下表面之圖像算出上述水平磨耗部之端部之實際座標、上述水平磨耗部與上述傾斜磨耗部之邊界點之實際座標、及上述傾斜磨耗部之端部之實際座標；基於上述架空線之中心點之實際座標、以及上述水平磨耗部之端部、上述水平磨耗部與上述傾斜磨耗部之邊界點、及上述傾斜磨耗部之端部之實際座標，算出上述偏磨耗架空線之剖面面積；及基於上述偏磨耗架空線之剖面面積，算出上述殘存直徑對應值。

又，第3發明之架空線磨耗測定裝置係於電車車頂上設置拍攝與集電弓接觸之架空線之下表面之磨耗測定用相機，且具備對利用上述磨耗測定用相機拍攝到之上述架空線 之下表面之圖像進行圖像處理而求出上述架空線之殘存直徑之圖像處理部，其特徵在於：上述圖像處理部具備殘存直徑對應值算出處理部，該殘存直徑對應值算出處理部係將剖面面積與具有水平磨耗部及傾斜磨耗部之偏磨耗架空線相同的僅具有水平磨耗部之水平磨耗架空線之殘存直徑，作為上述偏磨耗架空線之殘存直徑對應值而算出。

又，第4發明之架空線磨耗測定裝置之特徵在於：上述圖像處理部具備：架空線中心點位置算出處理部，其自上述架空線之下表面之圖像算出上述架空線之中心點之實際座標；邊界點位置算出處理部，其自上述架空線之下表面之圖像至少算出上述水平磨耗部之端部之實際座標、上述水平磨耗部與上述傾斜磨耗部之邊界點之實際座標、及上述傾斜磨耗部之端部之實際座標；及磨耗剖面面積算出處理部，其基於由上述架空線中心點位置算出處理部算出之上述架空線之中心點之實際座標、以及由上述邊界點位置算出處理部算出之上述水平磨耗部之端部、上述水平磨耗部與上述傾斜磨耗部之邊界點、及上述傾斜磨耗部之端部之實際座標，算出上述偏磨耗架空線之剖面面積；且上述殘存直徑對應值算出處理部係基於由上述磨耗剖面面積算出處理部算出之上述偏磨耗架空線之剖面面積，算出上述殘存直徑對應值。

根據本發明之架空線磨耗測定裝置及架空線磨耗測定方法，即便為具有包含水平磨耗部與傾斜磨耗部之磨耗部之偏磨耗架空線，亦可算出考慮到殘存剖面面積之殘存直徑對應值，從而準確地把握偏磨 耗架空線之抗張強度。

1‧‧‧車輛

2‧‧‧線感測器(線感測器相機)

2a‧‧‧感測器面

3‧‧‧圖像處理裝置

3a‧‧‧線感測器圖像製作部

3b‧‧‧架空線中心點位置算出處理部

3c‧‧‧邊界點位置算出處理部

3d‧‧‧磨耗剖面面積算出處理部

3e‧‧‧殘存直徑對應值算出處理部

4‧‧‧記錄裝置

5‧‧‧架空線

5_A‧‧‧水平磨耗架空線

5_AB‧‧‧偏磨耗架空線

5a‧‧‧水平磨耗部

5b‧‧‧傾斜磨耗部

6‧‧‧軌道

a₁‧‧‧斜率

a₂‧‧‧斜率

C‧‧‧相機中心點

d₁~d₄‧‧‧距離

f‧‧‧焦點距離

H‧‧‧殘存直徑對應值

H_A‧‧‧殘存直徑

H_B‧‧‧殘存直徑

h‧‧‧高度

I‧‧‧線感測器圖像

L0‧‧‧直線

L1‧‧‧直線

L5‧‧‧直線

M1‧‧‧記憶體

M2‧‧‧記憶體

P0‧‧‧中心點

P1‧‧‧實際座標

p1‧‧‧邊界點

P2‧‧‧實際座標

p2‧‧‧邊界點

P3‧‧‧實際座標

p3‧‧‧邊界點

P4‧‧‧實際座標

p4‧‧‧邊界點

P5‧‧‧實際座標

p5‧‧‧邊界點

P6‧‧‧頂點

P7‧‧‧頂點

r‧‧‧半徑

S‧‧‧面積

S₁~S₄‧‧‧面積

S1~S5‧‧‧步驟

S_AB‧‧‧磨耗剖面面積

u1‧‧‧感測器面座標

u1'‧‧‧感測器面座標

u5‧‧‧感測器面座標

u5'‧‧‧感測器面座標

α‧‧‧摩耗角

θ₁₁‧‧‧角度

θ₁₂‧‧‧角度

θ₁₃‧‧‧角度

圖1係表示本發明之實施例之架空線磨耗測定裝置之說明圖。

圖2係本發明之實施例之架空線磨耗測定裝置之構成圖。

圖3係表示由本發明之實施例之架空線磨耗測定裝置之圖像處理部進行之處理之流程之流程圖。

圖4係表示線感測器圖像之一例之說明圖。

圖5係表示架空線、相機中心點、及感測器面之關係之說明圖。

圖6係用於說明架空線之剖面面積之算出方法之說明圖。

圖7係用於說明殘存直徑對應值之算出方法之說明圖。

圖8係表示架空線之剖面之模式圖，圖8(a)表示架空線未磨耗之狀態，圖8(b)表示架空線具有水平磨耗部之狀態，圖8(c)表示架空線具有傾斜磨耗部之狀態，圖8(d)表示架空線具有水平磨耗部與傾斜磨耗部之狀態。

圖9係表示先前之偏磨耗架空線之殘存直徑算出例之說明圖。

以下，一面參照圖式，一面詳細地說明本發明之架空線磨耗測定裝置。

[實施例]

使用圖1至圖7對本發明之架空線磨耗測定裝置之一實施例進行說明。

如圖1所示，於本實施例中在檢查車輛(電車)1之車頂上設置有拍攝與未圖示之集電弓接觸之架空線5之下表面之線感測器相機(磨耗測定用相機2)作為圖像之輸入機構。又，於檢查車輛1之車內設置有圖像處理裝置(圖像處理部)3及記錄裝置4。

線感測器相機2係以拍攝檢查車輛1之鉛垂上方之方式，且其掃 描線方向成為軌道6之枕木方向、換言之與檢查車輛1之行進方向正交之方向之方式設定其朝向。藉此，線感測器相機2之掃描線形成為橫穿架空線5。將由該線感測器相機2拍攝之架空線5之下表面之圖像信號輸入至圖像處理裝置3。

圖像處理裝置3係如圖2所示般，由線感測器圖像製作部3a、架空線中心點位置算出處理部3b、邊界點位置算出處理部3c、磨耗剖面面積算出處理部3d、殘存直徑對應值算出處理部3e、及作為記憶機構之記憶體M1、M2構成。

圖像處理裝置3按照圖3所示之流程圖，對自線感測器相機2輸入之圖像信號進行圖像處理而算出架空線磨耗部之殘存直徑對應值H(參照圖7(b))。

即，於圖像處理裝置3中，首先將自線感測器相機2輸入之圖像信號於線感測器圖像製作部3a按時間序列排列，並作為線感測器圖像I(參照圖4)保存至記憶體M1(步驟S1)。

此處，於本實施例中圖4所示之線感測器圖像I上之架空線之左端p1、水平磨耗部左端(水平磨耗部端部)p2、水平磨耗部與傾斜磨耗部之邊界點p3、傾斜磨耗部右端(傾斜磨耗部端部)p4、架空線之右端P5(對應於圖6所示之點P1、P2、P3、P4、P5；以下，將上述p1~p5簡稱為「邊界點p1~p5」)之像素位置係藉由如下方式而賦予：藉由對線感測器圖像I進行圖像處理而由系統自動設定、或使用者於GUI(Graphical User Interface：圖形使用者介面)上進行設定等。又，相機參數(焦點距離、感測器元件數及感測器寬度)係預先設定。

繼步驟S1之後，將基於線感測器圖像I而設定之邊界點p1、p5之像素位置經由記憶體M2與相機參數一併送至架空線中心點位置算出處理部3b，並藉由架空線中心點位置算出處理部3b算出架空線5之中心點之實際座標P0(x₀,y₀)(步驟S2)。

若具體地說明，則首先，將線感測器圖像I上之邊界點p1、p5之像素位置px1、px5[pix]轉換為圖5所示之感測器面座標u1、u5[mm]。以下為了簡便而表示無透鏡失真時之計算式。

此處，於每1元件之感測器寬度為△u時，以感測器面2a之左端為原點將像素位置px1、px5[pix]藉由下式(1)轉換為感測器面座標u1'、u5'[mm]。進而，若以感測器面2a之中心為原點，且將感測器面之寬度設為U，則將感測器面上之座標u1、u5[mm]按下式(2)轉換。惟於下式(1)、(2)中，將像素位置px1、px5表示為px，將感測器面座標u1'、u5'表示為u'，將感測器面座標u1、u5表示為u。

u’=△u×px‧‧‧(1)

u=u’-U/2‧‧‧(2)

再者，此時藉由考慮透鏡之失真而進行轉換，可獲得更高精度之結果。

於如以上般自線感測器圖像I上之邊界點p1、p5之像素位置px1、px5求出感測器面座標u1、u5之後，如圖5所示般，求出通過感測器面座標u1與相機中心點C之直線L1、及通過感測器面座標u5與相機中心點C之直線L5之式。惟此時，座標原點係設為相機中心點C。

直線L1、L5之式係使用焦點距離f以下式(3)求出。又，直線L1、L5之斜率a₁、a₅係a₁=f/u₁、a₅=f/u₅，且相對於水平方向(x方向)之直線L1、L5之角度θ₁、θ₅係以下式(4)求出。惟於下式(3)、(4)中，將直線L1、L5表示為L，將感測器面座標u1、u5表示為u，將直線L1、L5之斜率a₁、a₅表示為a，將相對於x方向之直線L1、L5之斜率θ₁、θ₅表示為θ。

y=ax=(f/u)x‧‧‧(3)

θ=arcTan(f/u)‧‧‧(4)

使用藉由以上求出之直線L1、L5之式、直線L1、L5之斜率a₁、a₅ 及相對於x方向之直線L1、L5之斜率θ₁、θ₅求出架空線5之中心點P0之實際座標(x₀,y₀)。

即，如圖5所示，若考慮通過架空線5之中心點P0與相機中心點C之直線L0，則相對於x方向之直線L0之角度θ₀=(θ₁+θ₅)/2，故直線L0之式可利用下式(5)求出。

y=a₀x=tan(θ₀)x‧‧‧(5)

進而，由於自位於該直線L0上之架空線5之中心點P0(x₀,y₀)至直線L1之距離、與架空線之半徑r[mm]相等，故可藉由下式(6)求出架空線5之中心點P0之x座標x₀。又，根據y₀=a₀x₀亦可求出y₀。再者，式(6)係使用下式(7)所示之「點與直線之距離d之公式」求出。

藉由以上，求出架空線5之中心點之實際座標P0(x₀,y₀)。

繼步驟S2之後，如圖2所示，與相機參數一併將線感測器圖像I上之邊界點p1~p5之像素位置經由記憶體M2送至邊界點位置算出處理部3c，並如圖3所示，藉由邊界點位置算出處理部3c求出邊界點p1、p2、p3、p4、p5之實際座標P1(x₁,y₁)、P2(x₂,y₂)、P3(x₃,y₃)、P4(x₄,y₄)、P5(x₅,y₅)(步驟S3)。

首先，求出邊界點p1、p5之實際座標P1、P5。實際座標P1、P5係利用其等為架空線5與直線L1、L5之接點之條件而求出。即，通過架空線5之中心點P0(x₀,y₀)之直線L1之垂線y=(-1/a₁)x+(1/a₁)x₀+y₀與直線L1(y=a₁x)之交點成為P1，通過架空線5之中心點P0(x₀,y₀)之直線L5之垂線y=(-1/a₅)x+(1/a₅)x₀+y₀與直線L5(y=a₅x)之交點成為P5。實際座 標P1、P5之x座標、y座標分別利用下式(8)、(9)求出。

又，為了進行邊界點p2、p3、p4之實際座標P2、P3、P4之算出，首先，求出邊界點p2、p4之實際座標P2、P4。直線L2、L4之式(y=a₂x，y=a₄x)係以與L1、L5相同之方式求出。如自圖6可知，邊界點p2、p4之實際座標P2、P4為架空線5之圓周上之點，故可作為下式(10)所示之以架空線5之中心點P0(x₀,y₀)為中心之半徑r之圓與直線L2、L4之交點而求出。但是，於下式(10)中，將實際座標P2、P4之x座標即x₂、x₄統一記載為x，將直線L2、L4之斜率a₂、a₄統一記載為a。

實際座標P2、P4之y座標即y₂、y₄係由y₂=a₂x₂、y₄=a₄x₄求出。

藉由以上，獲得實際座標P2(x₂,y₂)、P4(x₄,y₄)。

繼而，思索邊界點p3之實際座標P3(x₃,y₃)。通過架空線5之中心點P0與P3之直線L3之式y=a₃x係與直線L2、L4同樣地求出。此處，邊界點p3之實際座標P3之y座標即y₃可藉由判斷P2-P3間及P3-P4間之中哪一個為水平磨耗部5a、哪一個為傾斜磨耗部5b而求出。如圖6所示，於存在水平磨耗部5a與較其磨耗更多之傾斜磨耗部5b之情形時，實際座標P3之y座標y₃能以P2、P4之y座標y₂、y₄之值判斷。亦即，實際座標P2、P4中y之值較小者與P3之y座標u₃一致。若將其寫成條件式，則成為下式(11)。

並且，根據x₃=y₃/a₃，亦求出x₃。

藉由以上，獲得邊界點p3之實際座標P3(x₃,y₃)。

其次，若如圖2所示般，將架空線中心之實際座標P0及邊界點p2、p3、p4之實際座標P2、P3、P4經由記憶體M2送至磨耗剖面面積算出處理部3d，則磨耗剖面面積算出處理部3d如圖3所示般進行磨耗剖面面積之算出(步驟S4)。

於以下，具體地說明算出磨耗剖面面積之處理。

首先，對理想狀態下之磨耗剖面面積之算出處理進行說明。例如，針對如圖6所示般以半徑r[mm]之架空線5之x方向之頂點為P6、P7，且已知P6-P2間、P2-P3間、P3-P4間、P4-P7間之x方向之距離d₁、d₂、d₃、d₄[mm]之情形進行思索(d₁+d₂+d₃+d₄=2r)。

於該情形時，磨耗剖面面積S能以如下之方式求出。

即，賦予參數d₁、d₂、d₃、d₄時之磨耗剖面面積S係使用扇形P6P0P2、P4P0P7之面積S₁、S₂、及三角形P0P2P4、P2P3P4之面積S₃、S₄藉由下式(12)求出。

此處，若將θ₁₁(=∠P2P0P6)、θ₁₂(=∠P4P0P7)、h₁、h₂、h₄分別代入下式(13)、(14)，則磨耗剖面面積S可由下式(15)表示。

[數6]

於上述之理想狀態下，頂點P6、P7成為架空線之兩端，P6-P7間之距離d₆₇成為架空線之直徑值2r(d₆₇=2r)。相對於此，若利用線感測器相機2拍攝架空線5，則對應於線感測器圖像I上之邊界點p1、p5之實際座標P1、P5係與架空線5之x方向之頂點P6、P7不同，如圖6所示般，成為通過相機中心點C之直線、與架空線5之接點。因此P1-P5間之距離d₁₅不會成為架空線之直徑值2r(d₁₅≠2r)。

進而，亦必須考慮如圖5所示般P1、P5距架空線中心P0之相對位置係根據架空線5相對於線感測器相機2之偏位位置而變動之點。於以下說明求出考慮到上述之點之架空線之殘存直徑對應值之方法。

即，若已知P2、P3、P4之座標與r，即可求出實際之磨耗剖面面積。首先，若求出P2-P4間之長度d₂₄，則三角形P0P2P4之面積S₃因成為三邊之長度(d₂₄,r,r)為已知之三角形，故可利用下式(16)求出。

此處，於上式(16)中，a=d₂₄，b=c=r。

又，對於三角形P2P3P4之面積S₄，亦可利用P2-P3間之長度d₂₃(=d₂)、P3-P4間之長度d₃₄、P2-P4間之長度d₂₄為已知之三角形之面積之公式而與S₃同樣地求出。

繼而，求出∠P2P0P4(=θ₁₃)。即，藉由三角形之基本公式即面積=(底邊×高度)/2，求出以P2-P4為底邊時之三角形P0P2P4之高度h，利用等腰三角形之性質而藉由下式(17)求出角度θ₁₃。

若使用上述角度θ₁₃，則可求出扇形P2P0P4之面積，且磨耗剖面面積S可根據S=(扇形P2P0P4之面積)-(S₃+S₄)求出。

其次，如圖2所示般，若將磨耗剖面面積經由記憶體M2而送至殘存直徑對應值算出處理部3e，則殘存直徑對應值算出處理部3e如圖3所示般，進行殘存直徑對應值之算出(步驟S5)。

說明求出架空線5之具有水平磨耗部5a及傾斜磨耗部5b之部分之殘存直徑對應值H之方法(以下，將架空線5之具有水平磨耗部5a及傾斜磨耗部5b之部分稱為偏磨耗架空線5_AB)。首先，求出僅具有水平磨耗部5a之架空線5(以下，稱為水平磨耗架空線5_A)之磨耗剖面面積S之式係使用水平磨耗架空線5_A之半徑r、與圖7(b)所示之磨耗角α，藉由下式(18)求出。

此處，於下式(19)中，若已知偏磨耗架空線5_AB之磨耗剖面面積S_AB，則可將磨耗剖面面積S_AB代入下式(19)之S並應用牛頓法，藉由下式(20)算出磨耗角α。

藉由以上，可如圖7(b)所示般，求出與已知之偏磨耗架空線5_AB之磨耗剖面面積S_AB成為相同面積之水平磨耗架空線5_A之磨耗角α。

根據求出之α，利用下式(21)求出殘存直徑對應值H。

藉由以上，可求出與已知之偏磨耗架空線5_AB之磨耗剖面面積S_AB成為相同面積之水平磨耗架空線5_A之殘存直徑值、即偏磨耗架空線5_AB之殘存直徑對應值H。

將如此求出之殘存直徑對應值H記錄於記錄裝置4中。

再者，本發明之架空線磨耗測定裝置及架空線磨耗測定方法並不限定於上述之實施例，當然可於不脫離本發明之主旨之範圍內進行各種變更。

例如，於上述之實施例中，表示於邊界點位置算出處理部3c進行邊界點p1、p2、p3、p4、p5之實際座標P1(x₁,y₁)、P2(x₂,y₂)、P3(x₃,y₃)、P4(x₄,y₄)、P5(x₅,y₅)之算出之例，但於邊界點算出處理部3c只要至少進行邊界點p2、p3、p4之實際座標P2(x₂,y₂)、P3(x₃,y₃)、P4(x₄,y4)之算出即可。

又，於上述之本實施例中表示架空線5之磨耗面具有一個水平磨耗部5a與一個傾斜磨耗部5b之例，但架空線5之磨耗面亦可為其他不同之磨耗形狀。

由於根據上述之本實施例之架空線磨耗測定裝置及架空線磨耗測定方法，即便為具有水平磨耗部5a與傾斜磨耗部5b之偏磨耗架空線5_AB，亦可基於根據磨耗剖面面積S_AB獲得之殘存剖面面積算出考慮到水平磨耗部5a及傾斜磨耗部5b之殘存直徑對應值H，故可準確地把握架空線5之抗張強度。

又，由於殘存直徑對應值H可與通常之水平磨耗架空線5_A之殘存直徑值同等地處理，故亦有可將偏磨耗架空線5_AB與通常之水平磨耗 架空線5_A統一管理之優點。進而，自剖面面積求出殘存直徑對應值H之思索方法並非僅應用於偏磨耗，亦可進而對不同之磨耗形狀之架空線靈活地應用。

[產業上之可利用性]

本發明可較佳地應用於一種架空線磨耗測定裝置及架空線磨耗測定方法，其等係利用設置於電車車頂上之磨耗測定用相機拍攝與集電弓接觸之架空線之下表面，並對拍攝之架空線之下表面之圖像進行圖像處理而求出架空線之殘存直徑。

2‧‧‧線感測器(線感測器相機)

3a‧‧‧線感測器圖像製作部

3b‧‧‧架空線中心點位置算出處理部

3c‧‧‧邊界點位置算出處理部

3d‧‧‧磨耗剖面面積算出處理部

3e‧‧‧殘存直徑對應值算出處理部

M1‧‧‧記憶體

M2‧‧‧記憶體

Claims (4)

1. 一種架空線磨耗測定方法，其係利用設置於電車車頂上之磨耗測定用相機拍攝與集電弓接觸之架空線之下表面，並對拍攝到之上述架空線之下表面之圖像進行圖像處理，而求出上述架空線之殘存直徑者，其特徵在於：將剖面面積與具有水平磨耗部及傾斜磨耗部之偏磨耗架空線相同的僅具有水平磨耗部之水平磨耗架空線之殘存直徑，作為上述偏磨耗架空線之殘存直徑對應值而算出。
2. 如請求項1之架空線磨耗測定方法，其具有如下步驟：自上述架空線之下表面之圖像算出上述架空線之中心點之實際座標；自上述架空線之下表面之圖像算出上述水平磨耗部之端部之實際座標、上述水平磨耗部與上述傾斜磨耗部之邊界點之實際座標、及上述傾斜磨耗部之端部之實際座標；基於上述架空線之中心點之實際座標、以及上述水平磨耗部之端部、上述水平磨耗部與上述傾斜磨耗部之邊界點、及上述傾斜磨耗部之端部之實際座標，算出上述偏磨耗架空線之剖面面積；及基於上述偏磨耗架空線之剖面面積，算出上述殘存直徑對應值。
3. 一種架空線磨耗測定裝置，其係於電車車頂上設置拍攝與集電弓接觸之架空線之下表面之磨耗測定用相機，且具備對利用上述磨耗測定用相機拍攝到之上述架空線之下表面之圖像進行圖像處理而求出上述架空線之殘存直徑之圖像處理部，其特徵在於： 上述圖像處理部具備殘存直徑對應值算出處理部，該殘存直徑對應值算出處理部係將剖面面積與具有水平磨耗部及傾斜磨耗部之偏磨耗架空線相同的僅具有水平磨耗部之水平磨耗架空線之殘存直徑，作為上述偏磨耗架空線之殘存直徑對應值而算出。
4. 如請求項3之架空線磨耗測定裝置，其中上述圖像處理部具備：架空線中心點位置算出處理部，其自上述架空線之下表面之圖像算出上述架空線之中心點之實際座標；邊界點位置算出處理部，其自上述架空線之下表面之圖像至少算出上述水平磨耗部之端部之實際座標、上述水平磨耗部與上述傾斜磨耗部之邊界點之實際座標、及上述傾斜磨耗部之端部之實際座標；及磨耗剖面面積算出處理部，其基於由上述架空線中心點位置算出處理部算出之上述架空線之中心點之實際座標、以及由上述邊界點位置算出處理部算出之上述水平磨耗部之端部、上述水平磨耗部與上述傾斜磨耗部之邊界點、及上述傾斜磨耗部之端部之實際座標，算出上述偏磨耗架空線之剖面面積；且上述殘存直徑對應值算出處理部係基於由上述磨耗剖面面積算出處理部算出之上述偏磨耗架空線之剖面面積，算出上述殘存直徑對應值。