TWI580968B - 測試治具及c類型通用序列匯流排連接埠的測試方法 - Google Patents

Description

測試治具及C類型通用序列匯流排連接埠的測試方法

本發明是關於一種測試治具，且特別是有關於一種針對C類型通用序列匯流排（Universal Serial Bus Type C；　USB Type C）連接埠的測試治具。

隨著現今科技的發展，各種電子產品例如桌上型電腦、筆記型電腦、平板電腦、外接式硬碟或隨身碟等，已變得與人們的生活息息相關。

在應用各種電子產品的同時，大量的資料檔案也因而產生，而在眾多電子產品之間傳送資料檔案的方式中，通用序列匯流排（Universal Serial Bus Type C；　USB Type C）的應用尤其廣泛，因此，通用序列匯流排在設計上的不斷改良，為業界發展的一個重要方向。

新的Type C連接器和USB既有Type-A/B、Mini-A/B、Micro-A/B連接器最大的改變是連接器與接口不再有方向性，支援正反面都可插入的功能，使用者將不再需要分辨正反面，更容易將接口插入。

然而，目前生產線在測試Type C連接埠是否兼容USB 3.0或USB 2.0裝置的接頭時，需要正反插拔兩次，容易造成測試作業上的不方便。

本發明之一技術態樣在於提供一種測試治具，其能在保持C類型通用序列匯流排插頭插入連接埠的情況下，對C類型通用序列匯流排插頭正面與反面的連接進行測試。

根據本發明的一實施方式，一種測試治具用以測試電子裝置之連接埠，連接埠配置以電性連接C類型通用序列匯流排（Universal Serial Bus Type C；　USB Type C）插頭，C類型通用序列匯流排插頭利用開關式集成電路（Switch Integrated Circuit；　Switch IC）來切換通用型輸入／輸出訊號，使C類型通用序列匯流排插頭處於第一輸入輸出狀態或第二輸入輸出狀態，連接埠包含相對之第一連接部與第二連接部，分別對應第一輸入輸出狀態與第二輸入輸出狀態，以電性連接C類型通用序列匯流排插頭配置以插入連接埠之正面與反面。測試治具包含訊號選擇鍵與測試模組。訊號選擇鍵電性連接C類型通用序列匯流排插頭，並配置以切換通用型輸入／輸出訊號。測試模組根據C類型通用序列匯流排插頭之第一輸入輸出狀態或第二輸入輸出狀態，相應地電性連接第一連接部或第二連接部並傳輸測試訊號。

在本發明一或多個實施方式中，上述之測試模組包含測試單元與斷電單元。測試單元配置以在測試中向第一連接部或第二連接部之其一傳輸測試訊號。斷電單元配置以在測試中斷開第一連接部或第二連接部之另一與測試模組之電性連接。

在本發明一或多個實施方式中，上述之測試模組更包含控制單元。此控制單元與訊號選擇鍵電性連接，且配置以在測試結束後，向訊號選擇鍵提供控制訊號，以切換通用型輸入／輸出訊號。

根據本發明的另一實施方式，一種C類型通用序列匯流排連接埠的測試方法，其中連接埠配置以電性連接C類型通用序列匯流排插頭，C類型通用序列匯流排插頭利用開關式集成電路（Switch Integrated Circuit；　Switch IC）來切換通用型輸入／輸出訊號，使C類型通用序列匯流排插頭處於第一輸入輸出狀態或第二輸入輸出狀態，連接埠包含相對之第一連接部與第二連接部，分別對應第一輸入輸出狀態與第二輸入輸出狀態，以電性連接C類型通用序列匯流排插頭配置以插入連接埠之正面與反面。測試方法包含下列步驟（應了解到，在本實施方式中所提及的步驟，除特別敘明其順序者外，均可依實際需要調整其前後順序，甚至可同時或部分同時執行）： (1) 切換通用型輸入／輸出訊號；以及 (2) 根據第一輸入輸出狀態或第二輸入輸出狀態，以測試模組相應地電性連接該第一連接部或該第二連接部並傳輸測試訊號。

在本發明一或多個實施方式中，上述之電性連接第一連接部或第二連接部並傳輸測試訊號之步驟包含： (2.1) 在測試中向第一連接部或第二連接部之其一傳輸測試訊號；以及 (2.2) 在測試中斷開第一連接部或第二連接部之另一與測試模組之電性連接。

在本發明一或多個實施方式中，上述之切換通用型輸入／輸出訊號之步驟包含： (1.1) 在測試結束後，向訊號選擇鍵提供控制訊號，以切換通用型輸入／輸出訊號。

本發明上述實施方式與已知先前技術相較，至少具有以下優點：在保持C類型通用序列匯流排插頭插入連接埠的情況下，測試模組可先後跟連接埠的第一連接部及第二連接部電性連接，以對C類型通用序列匯流排插頭與電子裝置的電性連接進行測試，因此，使用者不必在測試的過程中，為要測試C類型通用序列匯流排插頭正面與反面的連接，而把C類型通用序列匯流排插頭從連接埠拔出並再次插入，因此，C類型通用序列匯流排插頭與電子裝置電性連接的測試能夠簡單容易且有效率地進行，可以實現只需插拔一次，便同時達到測試C類型通用序列匯流排插頭插入連接埠的正反插的功能。

以下將以圖式揭露本發明之複數個實施方式，為明確說明起見，許多實務上的細節將在以下敘述中一併說明。然而，應瞭解到，這些實務上的細節不應用以限制本發明。也就是說，在本發明部分實施方式中，這些實務上的細節是非必要的。此外，為簡化圖式起見，一些習知慣用的結構與元件在圖式中將以簡單示意的方式繪示之。

除非另有定義，本文所使用的所有詞彙（包括技術和科學術語）具有其通常的意涵，其意涵係能夠被熟悉此領域者所理解。更進一步的說，上述之詞彙在普遍常用之字典中之定義，在本說明書的內容中應被解讀為與本發明相關領域一致的意涵。除非有特別明確定義，這些詞彙將不被解釋為理想化的或過於正式的意涵。

請參照第1圖，其繪示依照本發明一實施方式之測試治具100的方塊圖。如第1圖所示，一種測試治具100用以測試電子裝置200之連接埠210，連接埠210配置以電性連接C類型通用序列匯流排（Universal Serial Bus Type C；　USB Type C）插頭300，C類型通用序列匯流排插頭300利用開關式集成電路（Switch Integrated Circuit；　Switch IC）來切換通用型輸入／輸出（General Purpose Input/Output；　GPIO）訊號，使C類型通用序列匯流排插頭300處於第一輸入輸出狀態或第二輸入輸出狀態，連接埠210包含相對之第一連接部211與第二連接部212，第一連接部211與第二連接部212分別對應第一輸入輸出狀態與第二輸入輸出狀態，以電性連接C類型通用序列匯流排插頭300配置以插入連接埠210之正面與反面（圖未示正面與反面）。測試治具100包含訊號選擇鍵110與測試模組120。訊號選擇鍵110電性連接C類型通用序列匯流排插頭300，並配置以切換通用型輸入／輸出訊號。測試模組120根據C類型通用序列匯流排插頭300之第一輸入輸出狀態或第二輸入輸出狀態，相應地電性連接第一連接部211或第二連接部212並傳輸測試訊號。

在實務的應用中，C類型通用序列匯流排插頭300可為USB 3.0 Type C或USB 3.1 Type C，而C類型通用序列匯流排插頭300配置以插入連接埠210之正面與反面具有相同之尺寸，即C類型通用序列匯流排插頭300可以正面或反面插入電子裝置200之連接埠210，而連接埠210的第一連接部211與第二連接部212，分別對應C類型通用序列匯流排插頭300之正面與反面，以使C類型通用序列匯流排插頭300與電子裝置200能夠電性連接。

在測試中，C類型通用序列匯流排插頭300插入電子裝置200之連接埠210，以使電子裝置200與C類型通用序列匯流排插頭300電性連接。如上所述，連接埠210包含相對之第一連接部211與第二連接部212。此時，測試模組120根據C類型通用序列匯流排插頭300之所處於之第一輸入輸出狀態與第二輸入輸出狀態，相應地電性連接連接埠210的第一連接部211或第二連接部212並傳輸測試訊號。在實務的應用中，C類型通用序列匯流排插頭300利用開關式集成電路（Switch Integrated Circuit；　Switch IC）來切換通用型輸入／輸出訊號，而通用型輸入／輸出訊號定義C類型通用序列匯流排插頭300處於第一輸入輸出狀態或第二輸入輸出之狀態，舉例而言，C類型通用序列匯流排插頭300之第一輸入輸出狀態與第二輸入輸出狀態可分別設定為高（High；　HI）或低（Low；　LO），當C類型通用序列匯流排插頭300被切換至第一輸入輸出狀態，即處於高（HI）之狀態時，測試模組120與第一連接部211電性連接，並且進行訊號傳輸之各種測試，當測試結束後，C類型通用序列匯流排插頭300被切換至第二輸入輸出狀態，即處於低（LO）之狀態，此時，測試模組120與第一連接部211之電性連接斷開，而測試模組120與第二連接部212電性連接，並且進行訊號傳輸之各種測試。

如此一來，在測試的過程中，在保持C類型通用序列匯流排插頭300插入連接埠210的情況下，測試模組120可先後跟連接埠210的第一連接部211及第二連接部212電性連接，以對C類型通用序列匯流排插頭300與電子裝置200的電性連接進行測試。也就是說，使用者不必在測試的過程中，為要測試上述C類型通用序列匯流排插頭300正面與反面的連接，而把C類型通用序列匯流排插頭300從連接埠210拔出並再次插入，因此，C類型通用序列匯流排插頭300與電子裝置200電性連接的測試能夠簡單容易且有效率地進行，可以實現只需插拔一次，便同時達到測試C類型通用序列匯流排插頭300插入連接埠210的正反插的功能。

在實務的應用中，電子裝置200可為桌上型電腦、筆記型電腦、平板電腦、外接式硬碟或隨身碟等等，但本發明並不以此為限。

更具體而言，如第1圖所示，測試模組120包含測試單元121與斷電單元122。測試單元121配置以在測試中向第一連接部211或第二連接部212之其一傳輸測試訊號，而斷電單元122則配置以在測試中斷開第一連接部211或第二連接部212之另一與測試模組120之電性連接。

為提高C類型通用序列匯流排插頭300與電子裝置200電性連接的測試效率，測試模組120更包含控制單元123。控制單元123與訊號選擇鍵110電性連接，且配置以在測試結束後，向訊號選擇鍵110提供控制訊號，以切換C類型通用序列匯流排插頭300之通用型輸入／輸出訊號。

具體而言，當C類型通用序列匯流排插頭300被切換至第一輸入輸出狀態，即處於高（HI）之狀態時，測試模組120與第一連接部211電性連接，並且進行訊號傳輸之各種測試，當測試結束後，測試模組120將向訊號選擇鍵110提供控制訊號，或是下達指令（Command），使訊號選擇鍵110把C類型通用序列匯流排插頭300切換至第二輸入輸出狀態，即處於低（LO）之狀態，此時，測試模組120與第一連接部211之電性連接斷開，而測試模組120與第二連接部212電性連接，並且進行訊號傳輸之各種測試。如此一來，C類型通用序列匯流排插頭300與電子裝置200電性連接的測試將更具效率。

另一方面，本發明之另一技術態樣為C類型通用序列匯流排連接埠的測試方法，此測試方法包含下列步驟(應了解到，在本實施方式中所提及的步驟，除特別敘明其順序者外，均可依實際需要調整其前後順序，甚至可同時或部分同時執行)： (1) 切換C類型通用序列匯流排插頭300之通用型輸入／輸出訊號；以及 (2) 根據第一輸入輸出狀態或第二輸入輸出狀態，以測試模組120相應地電性連接第一連接部211或第二連接部212並傳輸測試訊號。

具體而言，上述電性連接第一連接部211或第二連接部212並傳輸測試訊號之步驟(2)包含： (2.1) 在測試中向第一連接部211或第二連接部212之其一傳輸測試訊號；以及 (2.2) 在測試中斷開第一連接部211或第二連接部212之另一與測試模組120之電性連接。

再者，為提高C類型通用序列匯流排插頭300與電子裝置200電性連接的測試效率，上述切換通用型輸入／輸出訊號之步驟更包含子步驟： (1.1) 在測試結束後，向訊號選擇鍵110提供控制訊號，以切換通用型輸入／輸出訊號。

綜上所述，本發明的技術方案與現有技術相比具有明顯的優點和有益效果。通過上述技術方案，可達到相當的技術進步，並具有產業上的廣泛利用價值，其至少具有以下優點：在保持C類型通用序列匯流排插頭插入連接埠的情況下，測試模組可先後跟連接埠的第一連接部及第二連接部電性連接，以對C類型通用序列匯流排插頭與電子裝置的電性連接進行測試，因此，使用者不必在測試的過程中，為要測試C類型通用序列匯流排插頭正面與反面的連接，而把C類型通用序列匯流排插頭從連接埠拔出並再次插入，因此，C類型通用序列匯流排插頭與電子裝置電性連接的測試能夠簡單容易且有效率地進行，可以實現只需插拔一次，便同時達到測試C類型通用序列匯流排插頭插入連接埠的正反插的功能。

雖然本發明已以實施方式揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100‧‧‧測試治具
110‧‧‧訊號選擇鍵
120‧‧‧測試模組
121‧‧‧測試單元
122‧‧‧斷電單元
123‧‧‧控制單元
200‧‧‧電子裝置
210‧‧‧連接埠
211‧‧‧第一連接部
212‧‧‧第二連接部
300‧‧‧C類型通用序列匯流排插頭

第1圖繪示依照本發明一實施方式之測試治具的方塊圖。

100‧‧‧測試治具

110‧‧‧訊號選擇鍵

120‧‧‧測試模組

121‧‧‧測試單元

122‧‧‧斷電單元

123‧‧‧控制單元

200‧‧‧電子裝置

210‧‧‧連接埠

211‧‧‧第一連接部

212‧‧‧第二連接部

300‧‧‧C類型通用序列匯流排插頭

Claims (6)

1. 一種測試治具，用以測試一電子裝置之一連接埠，該連接埠配置以電性連接一C類型通用序列匯流排（Universal Serial Bus Type C；　USB Type C）插頭，該C類型通用序列匯流排插頭利用一開關式集成電路（Switch Integrated Circuit；　Switch IC）來切換一通用型輸入／輸出訊號，使該C類型通用序列匯流排插頭處於一第一輸入輸出狀態或一第二輸入輸出狀態，該連接埠包含相對之一第一連接部以及一第二連接部，分別對應該第一輸入輸出狀態與該第二輸入輸出狀態，以電性連接該C類型通用序列匯流排插頭配置以插入該連接埠之一正面以及一反面，該測試治具包含： 一訊號選擇鍵，電性連接該C類型通用序列匯流排插頭，並配置以切換該通用型輸入／輸出訊號；以及 一測試模組，根據該C類型通用序列匯流排插頭之該第一輸入輸出狀態或該第二輸入輸出狀態，相應地電性連接該第一連接部或該第二連接部並傳輸一測試訊號。
2. 如請求項1所述之測試治具，其中該測試模組包含： 一測試單元，配置以在一測試中向該第一連接部或該第二連接部之其一傳輸該測試訊號；以及 一斷電單元，配置以在該測試中斷開該第一連接部或該第二連接部之另一與該測試模組之電性連接。
3. 如請求項2所述之測試治具，其中該測試模組更包含： 一控制單元，與該訊號選擇鍵電性連接，該控制單元配置以在該測試結束後，向該訊號選擇鍵提供一控制訊號，以切換該通用型輸入／輸出訊號。
4. 一種C類型通用序列匯流排（Universal Serial Bus Type C；　USB Type C）連接埠的測試方法，其中一連接埠配置以電性連接一C類型通用序列匯流排插頭，該C類型通用序列匯流排插頭利用開關式集成電路（Switch Integrated Circuit；　Switch IC）來切換一通用型輸入／輸出訊號，使該C類型通用序列匯流排插頭處於一第一輸入輸出狀態或一第二輸入輸出狀態，該連接埠包含相對之一第一連接部以及一第二連接部，分別對應該第一輸入輸出狀態與該第二輸入輸出狀態，以電性連接該C類型通用序列匯流排插頭配置以插入該連接埠之一正面以及一反面，該測試方法包含： 切換該通用型輸入／輸出訊號；以及 根據該第一輸入輸出狀態或該第二輸入輸出狀態，以一測試模組相應地電性連接該第一連接部或該第二連接部並傳輸一測試訊號。
5. 如請求項4所述之C類型通用序列匯流排連接埠的測試方法，其中電性連接該第一連接部或該第二連接部並傳輸該測試訊號之步驟包含： 在一測試中向該第一連接部或該第二連接部之其一傳輸該測試訊號；以及 在該測試中斷開該第一連接部或該第二連接部之另一與該測試模組之電性連接。
6. 如請求項5所述之C類型通用序列匯流排連接埠的測試方法，其中切換該通用型輸入／輸出訊號之步驟包含： 在該測試結束後，向該訊號選擇鍵提供一控制訊號，以切換該通用型輸入／輸出訊號。