TWI579749B - 觸控控制模組與觸控點之追蹤方法以及應用其之觸控式電子裝置 - Google Patents

觸控控制模組與觸控點之追蹤方法以及應用其之觸控式電子裝置 Download PDF

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TWI579749B
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Description

觸控控制模組與觸控點之追蹤方法以及應用其之觸控式電子裝置
本發明是有關於一種觸控控制模組與觸控點之追蹤方法以及應用其之觸控式電子裝置，且特別是有關於一種多點觸控之觸控控制模組與觸控點之追蹤方法以及應用其之觸控式電子裝置。
隨著觸控技術的發展，傳統一次僅能偵測一個觸控點的單一點觸控偵測技術，已無法符合現今市場上對於流暢、直覺之觸控輸入手勢的需求。市場的焦點亦逐漸轉向，投注更多的資源在多點觸控偵測的技術領域上。
一般而言，觸控面板是藉由全域掃描，掃描整個觸控面板的觸控偵測區，以偵測觸控點的位置。隨著觸控點的增加，以及觸控感測陣列解析度的提升，觸控面板需要面對觸控點密度愈來愈高的挑戰。當觸控點密度提高時，很容易發生觸控控制器無法在有效時間內完成掃描，導致報點的延遲甚至是漏報點的問題。除此之外，觸控面板在進行觸控偵測時，亦很容 易受到雜訊的影響，使得報點發生錯誤或是產生訊號抖動的問題。
當應用在同時需要回報多個觸控點的多點觸控面板時，前述問題將會變得更為顯著。在不同的偵測週期之間，容易發生追蹤點錯誤，導致軌跡發生大角度轉折，甚至是軌跡交錯、軌跡數量判斷錯誤的問題。在這樣的情況下，會使得多點觸控面板報點的正確性、精確性大幅度地降低，導致使用者操作上的困擾，降低了產品品質。因此目前亟需提出一種觸控點之追蹤方法，以改善上述缺失。
有鑒於此，本發明之觸控控制模組與觸控點之追蹤方法以及應用其之觸控式電子裝置，利用一最小感測值與一指間距值之函數形成一配對範圍，藉以作為同一軌跡觸控點的判斷機制。如此係可避免追點錯誤的發生。此外，在觸控點追蹤過程中，藉由即時回饋調整配對範圍，可以讓觸控點的追蹤更具精確性。
依據本發明之一方面，提出一種觸控點之追蹤方法，至少包括以下步驟。於一第一偵測週期中取得N個第一觸控點之後，於一第二偵測週期中取得M個候選點，N及M均為正整數。接著，當任一候選點落入任一第一觸控點之一配對範圍內時，配對候選點與第一觸控點，設定有配對之K個候選點為K個第二觸控點。各第二觸控點與對應之各第一觸控點位於同一軌跡上。然後，擷取一最大間距值，並且根據最大間距值回饋調整配對範圍。所述配對範圍為一最小感測值與一指間距值之函數，所述最大間距值為多數組配對之第一觸控點與候選點中間距最大者。
於一實施例中，所述配對範圍係為圓形，其半徑為最小感測值與1/2指間距值之和。
於另一實施例中，觸控點之追蹤方法更包括一選取步驟，由未配對之剩餘候選點中，選取出一或多個新增觸控點。
於另一實施例中，前述選取步驟包括一設定步驟，當一個剩餘候選點與對應之一個最接近第一觸控點，兩者間之位置差距大於一閥值時，設定所述剩餘候選點為一個新增觸控點。
於另一實施例中，追蹤方法中係將K個第二觸控點以及前述之一或多個新增觸控點，視為新的N個第一觸控點後，重新執行觸控點之追蹤方法。
於另一實施例中，回饋調整配對範圍之步驟包括下述步驟。根據最小感測值與指間距值，計算取得一調整門檻值。當最大間距值大於1/2之調整門檻值時，更新指間距值為原先之兩倍，藉以增加配對範圍。
於另一實施例中，回饋調整配對範圍之步驟包括下述步驟。根據最小感測值與指間距值，計算取得一調整門檻值。當最大間距值小於1/4之調整門檻值時，更新指間距值為原先之一半，藉以縮小配對範圍。
於另一實施例中，調整門檻值為最小感測值與指間距值之和之一半。
依據本發明之另一方面，提出一種觸控控制模組，電性連接於一多點觸控面板，用以接收來自多點觸控面板之多個觸控點訊號，藉以識別並追蹤多個觸控點。觸控控制模組執行之一觸控點之追蹤方法，包括下述步驟。於一第一偵測週期中取得N個第一觸控點後，於一第二偵測週期中取 得M個候選點。接著，當任一候選點落入任一第一觸控點之一配對範圍內時，配對此候選點與此第一觸控點，並設定有配對之K個候選點為K個第二觸控點。各第二觸控點與對應之各第一觸控點位於同一軌跡上。然後，擷取一最大間距值，並且根據最大間距值回饋調整配對範圍。所述最大間距值為多數組配對之第一觸控點與候選點中間距最大者，所述配對範圍為一最小感測值與一指間距值之函數。
依據本發明之另一方面，提出一種觸控式電子裝置，包括一多點觸控面板以及一觸控控制模組。多點觸控面板用以產生多個觸控點訊號。觸控控制模組連接於多點觸控面板，用以接收前述觸控點訊號，藉以取得並追蹤多點觸控面板上之多個觸控點。其中觸控控制模組用以於一第一偵測週期及一第二偵測週期中分別取得N個第一觸控點及M個候選點。觸控控制模組並且用以於任一候選點落入任一第一觸控點之一配對範圍內時，配對所述候選點與所述第一觸控點。配對範圍為一最小感測值與一指間距值之函數。觸控控制模組更用以設定有配對之K個候選點為K個第二觸控點，並且由多數組配對之第一觸控點與候選點中擷取出一最大間距值。觸控控制模組用以根據最大間距值，回饋調整配對範圍。
本發明之觸控控制模組與觸控點之追蹤方法以及應用其之觸控式電子裝置，利用配對範圍作為同一軌跡觸控點的判斷機制，可以避免因雜訊或新增手指，而發生觸控軌跡判斷錯誤的問題，可以提升多點觸控點軌跡追蹤的正確性。此外，藉由即時回饋調整配對範圍，更可以提升觸控點追蹤的精確性。整體而言，可以提升觸控式電子裝置在進行多點觸控時，操作的正確性，進而可以具有更佳之使用者體驗及產品品質。
100‧‧‧觸控式電子裝置
110‧‧‧多點觸控面板
120‧‧‧觸控控制模組
D1‧‧‧第一間距
D2‧‧‧第二間距
D3‧‧‧第三間距
D4‧‧‧第四間距
D5‧‧‧第一位置差距
D6‧‧‧第二位置差距
Fmin‧‧‧最小感測值
P1~P5‧‧‧第一觸控點
Q1~Q6‧‧‧候選點
R‧‧‧配對範圍
SF‧‧‧指間距值
S10~S50‧‧‧步驟
S51~S53‧‧‧步驟
V‧‧‧閥值
為讓本發明之上述以及其他特徵、優點與實施例能更明顯易懂，所附圖式之說明如下：第1圖繪示依照本發明一實施例之觸控點之追蹤方法之方法流程圖；第2A圖繪示依照本發明一實施例之多個第一觸控點之示意圖；第2B圖繪示多個第一觸控點及多個候選點之示意圖；第2C圖繪示第2B圖中一個第一觸控點及其配對範圍之示意圖；第2D圖繪示第2B圖之第一觸控點與候選點之配對狀態之示意圖；第3圖繪示第1圖之步驟S50之細部流程圖；第4圖繪示剩餘候選點與最接近之第一觸控點之位置差異之示意圖；第5圖繪示新的第一觸控點之示意圖；以及第6圖繪示依照本發明另一實施例之觸控式電子裝置之示意圖。
本發明之觸控控制模組與觸控點之追蹤方法以及應用其之觸控式電子裝置，利用一最小感測值與一指間距值之函數形成一配對範圍，藉以判斷第一觸控點與鄰近之候選點是否位於同一軌跡上，可避免觸控點軌跡判斷錯誤的問題。此外，藉由回饋調整之方式，可以提升觸控點追蹤的精確性。以下係提出實施例作為本發明之詳細說明，實施例係用以作為範例說明，並不會限縮本發明欲保護之範圍。此外，實施例之圖式中亦省略不必要之元件，以清楚顯示本發明之技術特點。
請參照第1圖，其繪示本發明一實施例之觸控點之追蹤方法之方法流程圖。本實施例之觸控點之追蹤方法，首先執行步驟S10。當於一第一偵測週期中取得N個第一觸控點之後，於一第二偵測週期中取得M個候選點，其中N及M均為正整數。請同時參照第2A圖及第2B圖，第2A圖繪示依照本發明一實施例之多個第一觸控點之示意圖，第2B圖繪示多個第一觸控點及多個候選點之示意圖。本實施例中係於第一偵測週期中取得5個第一觸控點P1~P5，此時N等於5，如第2A圖所示；接著在第二偵測週期中取得6個候選點Q1~Q6，此時M等於6，如第2B圖所示。
值得一提地是，實際應用上，在追蹤方法之步驟S10之前，更可以包括判斷是否存在有多個初始觸控點之步驟。由於多點觸控面板初始進行觸控點偵測時(例如裝置剛開機、硬體剛過電或韌/軟體尚在準備中時)，或是先前偵測週期沒有觸控點出現時，觸控控制模組實際上不會取得任何觸控點，此時初始觸控點數為0，判斷多個初始觸控點不存在。
當初使觸控點不存在時，進行多點觸控面板之全域掃描。全域掃描後，當取得至少一個掃描點時，便將前述之至少一個掃描點視為在第一偵測週期中取得之N個第一觸控點。全域掃描後，當仍然無法取得一或多個掃描點時，便反覆進行全域掃描，直至取得一或多個掃描點。
如第1圖所示，當取得N個第一觸控點P1~P5及M個候選點Q1~Q6後，本實施例之觸控點之追蹤方法接著進行步驟S20，當任一個候選點Q1~Q6落入任一個第一觸控點P1~P5之一配對範圍R內時，將所述候選點Q1~Q6與第一觸控點P1~P5配對。請參照第2C圖，其繪示第2B圖中一個第一觸控點及其配對範圍之示意圖。配對範圍R為一最小感測值Fmin與一指間距 距值SF之函數。
最小感測值Fmin及指間距值SF係為預先設定或者預先得知之數值。其中，最小感測值Fmin係為多點觸控面板可以感測到之觸控點的最小範圍，觸控點之大小必需大於或等於最小感測值Fmin，才能被多點觸控面板感測到。指間距值SF是多點觸控面板可以感測到之兩觸控點之間的最小距離，兩觸控點之間距必需大於或等於指間距值SF，才能被多點觸控面板分辨為兩個觸控點。最小感測值Fmin及指間距值SF可以依據硬體的最高解析能力設定，亦可以視產品需求進行調整。
於一實施例中，配對範圍R之半徑係為最小感測值Fmin與1/2之指間距值SF之和。也就是說，配對範圍R是以各第一觸控點P1~P5為圓心，且以(Fmin+1/2*SF)為半徑之圓形範圍。當任一候選點Q1~Q6落入任一第一觸控點P1~P5之配對範圍R內時，則將此候選點Q1~Q6與此第一觸控點P1~P5配對為一對。當同時有多個候選點Q1~Q6落入同一個第一觸控點P1~P5之配對範圍R時，取最接近之候選點Q1~Q6與其配對。
請參照第2D圖，其繪示第2B圖之第一觸控點與候選點之配對狀態之示意圖。如第2圖所示，本實施例中找出四對間距小於等於配對範圍R之第一觸控點P1~P5與候選點Q1~Q6，四個配對分別為(P1,Q1)、(P2,Q2)、(P3,Q3)以及(P4,Q5)。在這樣的狀況下，有四個候選點Q1、Q2、Q3及Q5有配對，而有兩個候選點Q4及Q6未配對。
值得注意地是，所有第一觸控點P1~P5中居於最下方之第一觸控點P5，其配對範圍R內沒有任何候選點Q1~Q6出現，因此未與任何候選點Q1~Q6配對。所有候選點Q1~Q6中由上而下之第四個候選點Q4，雖然位於 第三個第一觸控點P3之配對範圍R內，但是並非是最接近之候選點，因此未與任何第一觸控點P1~P5配對。第六個候選點Q6並未位在任何第一觸控點P1~P5之配對範圍R內，因此亦未與任何第一觸控點P1~P5配對。
接著如第1圖所示，在步驟S20之後，本實施例之觸控點之追蹤方法接著執行步驟S30，設定有配對之K個候選點為K個第二觸控點，各第二觸控點與對應之各第一觸控點位於同一軌跡上。本實施例中，將前述四個候選點Q1、Q2、Q3及Q5設定為四個第二觸控點，並將各個第二觸控點設定與對應之各第一觸控點P1、P2、P3及P4位於同樣的軌跡上，如第2D圖中繪示之多條直線所示。此時，四個第二觸控點(其前身即為候選點Q1、Q2、Q3及Q5)分別為四個第一觸控點P1、P2、P3及P4的下一觸控點，K之值為4。
在步驟S30之後，本實施例之觸控點之追蹤方法接著執行步驟S40，擷取一最大間距值。所述最大間距值為多組配對之第一觸控點與候選點中間距最大者。如第2D圖所示，四個配對(P1,Q1)、(P2,Q2)、(P3,Q3)以及(P4,Q5)中，各第一觸控點P1、P2、P3及P4與對應之各候選點Q1、Q2、Q3及Q5，分別具有第一間距D1、第二間距D2、第三間距D3及第四間距D4。本實施例中以第二間距D2為最大，因此擷取第二間距D2為所述之最大間距值。
請參照第1圖，本實施例之觸控點之追蹤方法接著執行步驟S50，根據最大間距值回饋調整配對範圍。以下進一步對於此步驟S50進行說明，請參照第3圖，其繪示第1圖之步驟S50之細部流程圖。
本實施例中，步驟S50進一步包括下述步驟。首先在步驟S51 中，根據最小感測值Fmin與指間距值SF，計算取得一調整門檻值。調整門檻值為最小感測值Fmin與指間距值SF之和之一半，亦即調整門檻值為(1/2*(Fmin+SF))。接著將調整門檻值，與前述步驟S40中擷取之最大間距值(亦即第二間距D2)進行比對，並根據比對結果分別執行不同的步驟。
根據比對結果之一方面，執行步驟S52，當最大間距值大於1/2之調整門檻值時，更新指間距值SF為原先之兩倍，藉以增加配對範圍R。就本實施例第2D圖之狀況為例，最大間距值(亦即第二間距D2)大於調整門檻值，表示候選點Q2與第一觸控點P2之位置差異大，可能導因於對應之手指頭移動速度增加。藉由將指間距值SF更新為原先數值的兩倍，使得在下一個偵測週期，例如在第三偵測週期中偵測觸控點時，可以更大的配對範圍R進行觸控點的配對，降低找不到下一觸控點的機會。
如第3圖所示，根據比對結果之另一方面，執行步驟S53。當最大間距值小於1/4之調整門檻值時，更新指間距值SF為原先之一半，藉以縮小配對範圍R。當最大間距值小於調整門檻值，表示對應之手指頭可能降低移動之速度。藉由將指間距值SF更新為原先數值的一半，使得在下一個偵測週期，例如在第三偵測週期中偵測觸控點時，可以更小更精確的配對範圍R進行觸控點的配對。
根據前述，利用步驟S51至步驟S53回饋調整配對範圍R，可以對於觸控點之位移距離或移動速度，進行適應性調整，提升觸控點追蹤的精確性。
本實施例之觸控點之追蹤方法，更可在完成步驟S30之後，包括新增觸控點之步驟。由未配對之一或多個剩餘候選點中，選取出一或多 個新增觸控點。如第2D圖所示，本實施例中尚有兩個剩餘候選點Q4、Q6，未與任何第一觸控點P1~P5配對。
前述選出一或多個新增觸控點之步驟，係輔以第4圖進行說明如下。第4圖繪示剩餘候選點與最接近之第一觸控點之位置差異之示意圖。當一個剩餘候選點與對應之一最接近第一觸控點，兩者間之一位置差距大於一閥值V時，設定此剩餘候選點為一個新增觸控點。當位置差距大於閥值時，表示此剩餘候選點與最接近之第一觸控點距離過大，不會是與第一觸控點位於同一軌跡上之觸控點，因此判定其為在第二偵測週期中才出現的新的觸控點。
如第4圖所示，第一個剩餘候選點Q4與第一觸控點P3最接近，兩者間具有一第一位置差距D5；第二個剩餘候選點Q6與第一觸控點P4最接近，兩者之間具有一第二位置差距D6。假定在本實施例中，位置差距之閥值V恰落於第一位置差距D5及第二位置差距D6之間，則第一位置差距D5小於閥值V，第二位置差距D6大於閥值V。在這樣的條件下，唯有第二個剩餘候選點Q6會被設定為新增觸控點。第一個剩餘候選點Q4則被捨棄。
經由前述新增觸控點之步驟後，在第二偵測週期中共計識別出五觸控點，即四個第二觸控點(候選點Q1、Q2、Q3、Q5)以及一個新增觸控點(候選點Q6)。觸控點之追蹤方法，接著將K個第二觸控點以及一或多個新增觸控點，視為新的N個第一觸控點，重新執行追蹤方法。
請參照第5圖，其繪示新的第一觸控點之示意圖。本實施例中係將四個第二觸控點(候選點Q1、Q2、Q3、Q5)及一個新增觸控點(候選點Q6)，視為五個新的第一觸控點，並重新由步驟S10開始，執行觸控點 之追蹤方法。此時在步驟S10中，在第一偵測週期中取得五個第一觸控點Q1、Q2、Q3、Q5、Q6後，於接下來的第二偵測週期中取得M個候選點，並接著執行找出K對觸控點及設定K個第二觸控點等步驟，此處不再重複贅述。
上述依照本發明一實施例之觸控點之追蹤方法，藉由找出K對間距小於等於一配對範圍之第一觸控點與候選點之方式，將K個候選點設定為K個第二觸控點，藉以進行同一軌跡上之觸控點的追蹤。以此方式，可以避免軌跡判斷錯誤的問題。另外，觸控點之追蹤方法中，更藉由取得一最大間距值，回饋調整配對範圍，可以提升觸控點追蹤的精確性。
接下來對於本發明另一實施例之一觸控式電子裝置，進行說明。
請參照第6圖，其繪示依照本發明另一實施例之觸控式電子裝置之示意圖。觸控式電子裝置100包括一多點觸控面板110以及一觸控控制模組120。多點觸控面板110用以產生多個觸控點訊號。觸控控制模組120電性連接於多點觸控面板110，用以接收前述觸控點訊號，藉以取得並追蹤多點觸控面板110上之多個觸控點。
進一步來說，觸控控制模組120用以於一第一偵測週期及一第二偵測週期中分別取得N個第一觸控點及M個候選點。再者，觸控控制模組120用以於任一個候選點落入任一個第一觸控點之一配對範圍內時，配對所述第一觸控點與所述候選點，其中配對範圍為一最小感測值與一指間距值之函數。此外，觸控控制模組120更用以設定有配對之K個候選點為K個第二觸控點，並且由多組配對之第一觸控點與候選點中擷取出一最大間距值，接著根據最大間距值回饋調整配對範圍。
本實施例中，最小感測值與指間距值，可以預先設定之方式儲存於觸控控制模組120中。實際應用上，可以根據多點觸控面板110的硬體解析度，決定最小感測值與指間距值。然而在不同的實施方式中，亦可以根據觸控控制模組120的效能或欲達到的反應時間等因素，設定最小感測值與指間距值。除此之外，最小感測值與指間距值亦可根據使用者的設定，或者觸控式電子裝置100實際運作上的狀況來進行調整。
在另一實施例中，觸控控制模組120係可用來執行一觸控點之追蹤方法。此觸控點之追蹤方法包括下述步驟。首先，當於一第一偵測週期中取得N個第一觸控點之後，於一第二偵測週期中取得M個候選點，其中N及M均為正整數。接著，當任一個候選點落入任一個第一觸控點之一配對範圍內時，配對所述第一觸控點與所述候選點，配對範圍為一最小感測值與一指間距值之函數。再來，設定有配對之K個候選點為K個第二觸控點，各第二觸控點與對應之各第一觸控點位於同一軌跡上。其次，擷取一最大間距值，最大間距值為多組配對之第一觸控點與候選點中間距最大者。然後，根據最大間距值，回體調整配對範圍。
觸控控制模組120所執行之觸控點之追蹤方法，其內容與前述依照本發明一實施例之觸控點之追蹤方法相類似，此處不再加以詳細描述。
根據前述依照本發明多個實施例之觸控控制模組、觸控點之追蹤方法，以及應用其之觸控式電子裝置，當於第一偵測週期中取得N個第一觸控點之後，於第二偵測週期中取得M個候選點。接著利用配對範圍進行第一觸控點與候選點之配對。然後，設定有配對之K個候選點為K個第二觸 控點，使各第二觸控點與對應之各第一觸控點位於同一軌跡上。再來，擷取一最大間距值，並根據最大間距值回饋調整配對範圍。以此方式，利用配對範圍作為同一軌跡觸控點的判斷機制，可以避免因雜訊或新增手指，發生觸控軌跡判斷錯誤的問題，進而可以提升軌跡追蹤的正確性。此外，藉由即時回饋調整配對範圍，可以提升觸控點追蹤之適應性，提升精確度。整體而言，觸控式電子裝置具有更佳之操作精確性，相對提供更佳之使用者體驗與產品品質。
雖然本發明已以多個實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明。任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附申請專利範圍所界定者為準。
S10~S50‧‧‧步驟

Claims (10)

  1. 一種觸控點之追蹤方法，包括：當於一第一偵測週期中取得N個第一觸控點之後，於一第二偵測週期中取得M個候選點，其中N及M均為正整數；當任一個該候選點落入任一個該第一觸控點之一配對範圍內時，配對該候選點與該第一觸控點，該配對範圍為一最小感測值與一指間距值之函數；設定有配對之K個該候選點為K個第二觸控點，各該第二觸控點與對應之各該第一觸控點位於同一軌跡上；擷取一最大間距值，該最大間距值為複數組配對之該第一觸控點與該候選點中，間距最大者；以及根據該最大間距值，回饋調整該配對範圍。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之追蹤方法，其中該配對範圍係為圓形，其半徑為該最小感測值與1/2該指間距值之和。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之追蹤方法，更包括：由未配對之一或多個剩餘候選點中，選取出一或多個新增觸控點。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之追蹤方法，其中該選取步驟包括：當一個該剩餘候選點與對應之一最接近第一觸控點，兩者間之一位置差距大於一閥值時，設定該剩餘候選點為一個該新增觸控點。
  5. 如申請專利範圍第3項所述之追蹤方法，更包括：將K個該第二觸控點以及該一或多個新增觸控點，視為新的N個第一觸控點，重新執行該追蹤方法。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之追蹤方法，其中根據該最大間距值，回饋調整該配對範圍之該步驟包括：根據該最小感測值與該指間距值，計算取得一調整門檻值；及當該最大間距值大於1/2之該調整門檻值時，更新該指間距值為原先之兩倍，藉以增加該配對範圍。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之追蹤方法，其中根據該最大間距值，回饋調整該配對範圍之該步驟包括：根據該最小感測值與該指間距值，計算取得一調整門檻值；及當該最大間距值小於1/4之該調整門檻值時，更新該指間距值為原先之一半，藉以縮小該配對範圍。
  8. 如申請專利範圍第6項或第7項所述之追蹤方法，其中根據該最小感測值與該指間距值，計算取得該調整門檻值之該步驟中，該調整門檻值為該最小感測值與該指間距值之和之一半。
  9. 一種觸控控制模組，電性連接於一多點觸控面板，用以接收來自該多點觸控面板之複數個觸控點訊號，藉以識別並追蹤該多點觸控面板上 之複數個觸控點，該觸控控制模組執行之一觸控點之追蹤方法包括：當於一第一偵測週期中取得N個第一觸控點之後，於一第二偵測週期中取得M個候選點，其中N及M均為正整數；當任一個該候選點落入任一個該第一觸控點之一配對範圍內時，配對該候選點與該第一觸控點，該配對範圍為一最小感測值與一指間距值之函數；設定有配對之K個該候選點為K個第二觸控點，各該第二觸控點與對應之各該第一觸控點位於同一軌跡上；擷取一最大間距值，該最大間距值為複數組配對之該第一觸控點與該候選點中，間距最大者；以及根據該最大間距值，回饋調整該配對範圍。
  10. 一種觸控式電子裝置，包括：一多點觸控面板，用以產生複數個觸控點訊號；以及一觸控控制模組，連接於該多點觸控面板，用以接收該些觸控點訊號，藉以取得並追蹤該多點觸控面板上之複數個觸控點；其中，該觸控控制模組用以於一第一偵測週期及一第二偵測週期中分別取得N個第一觸控點及M個候選點，該觸控控制模組用以於任一個該候選點落入任一個該第一觸控點之一配對範圍內時，配對該候選點與該第一觸控點，其中該配對範圍為一最小感測值與一指間距值之函數，該觸控控制模組更用以設定有配對之K個該候選點為K個第二觸控點，並且由複數組配對之該第一觸控點與該候選點中擷取出一最大 間距值，該觸控控制模組根據該最大間距值回饋調整該配對範圍。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI742894B (zh) * 2020-10-27 2021-10-11 明基電通股份有限公司 觸控操作方法及其觸控操作系統

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102193688A (zh) * 2011-05-18 2011-09-21 广东威创视讯科技股份有限公司 一种多点触摸跟踪识别方法及其系统
CN102231092A (zh) * 2011-05-18 2011-11-02 广东威创视讯科技股份有限公司 一种多点触摸跟踪识别方法及其系统
US20120280929A1 (en) * 2008-04-03 2012-11-08 N-Trig Ltd. Multi-touch and single touch detection
CN103425300A (zh) * 2012-05-14 2013-12-04 北京汇冠新技术股份有限公司 一种多点触摸轨迹跟踪方法
US20160154480A1 (en) * 2014-11-28 2016-06-02 Getac Technology Corporation Touch input method and electronic apparatus thereof

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8723825B2 (en) * 2009-07-28 2014-05-13 Cypress Semiconductor Corporation Predictive touch surface scanning
CN102890576B (zh) * 2011-07-22 2016-03-02 宸鸿科技(厦门)有限公司 触控屏触摸轨迹检测方法及检测装置
EP2587348B1 (en) * 2011-10-28 2020-12-02 Nintendo Co., Ltd. Information processing program, information processing system, and information processing method
US10452188B2 (en) * 2012-01-13 2019-10-22 Microsoft Technology Licensing, Llc Predictive compensation for a latency of an input device
CN103869939A (zh) * 2012-12-13 2014-06-18 富泰华工业（深圳）有限公司 触感反馈系统及其提供触感反馈的方法
JP5855771B2 (ja) * 2013-01-09 2016-02-09 シャープ株式会社 タッチパネルシステム
JP5805890B2 (ja) * 2013-01-09 2015-11-10 シャープ株式会社 タッチパネルシステム
US9430067B2 (en) * 2013-01-11 2016-08-30 Sony Corporation Device and method for touch detection on a display panel
KR102043148B1 (ko) * 2013-02-19 2019-11-11 엘지전자 주식회사 이동 단말기 및 그의 터치 좌표 예측 방법
US20160041689A1 (en) * 2013-03-15 2016-02-11 Sharp Kabushiki Kaisha Touch panel system
JP5805910B2 (ja) * 2013-03-29 2015-11-10 シャープ株式会社 タッチパネルシステム
JP6216145B2 (ja) * 2013-04-22 2017-10-18 シナプティクス・ジャパン合同会社 タッチパネルコントローラ及び半導体デバイス

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20120280929A1 (en) * 2008-04-03 2012-11-08 N-Trig Ltd. Multi-touch and single touch detection
CN102193688A (zh) * 2011-05-18 2011-09-21 广东威创视讯科技股份有限公司 一种多点触摸跟踪识别方法及其系统
CN102231092A (zh) * 2011-05-18 2011-11-02 广东威创视讯科技股份有限公司 一种多点触摸跟踪识别方法及其系统
CN103425300A (zh) * 2012-05-14 2013-12-04 北京汇冠新技术股份有限公司 一种多点触摸轨迹跟踪方法
US20160154480A1 (en) * 2014-11-28 2016-06-02 Getac Technology Corporation Touch input method and electronic apparatus thereof

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI742894B (zh) * 2020-10-27 2021-10-11 明基電通股份有限公司 觸控操作方法及其觸控操作系統

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