TWI536168B - 測試系統以及測試方法 - Google Patents

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Description

測試系統以及測試方法
本發明關於一種測試系統以及測試方法，尤其關於一種在穩定的測試環境對電子設備的性能進行測試的系統以及測試方法。
一般的電子設備在製作完成之後均需要對其性能進行測試，為了保證測試的準確性，通常會使得電子設備在測試過程中所處的環境穩定，並且電子設備還需要在不同的穩定的測試環境中進行測試。然而，當需要改變測試環境時，均需要人為地對測試環境進行調節以及改變，而無法自動地依據待測試的電子設備的需求自動地更改其測試環境。
有鑑於此，提供一種可以依據待測的電子設備的需求對其所處的測試環境自動進行改變的測試系統。
進一步，提供一種上述測試系統之測試方法亦實為必要。
一種測試系統，該測試系統包括一待測電子設備與一測試環境穩定調節設備，該測試環境穩定調節設備用於為該待測電子設備提供一穩定的測試環境。該待測電子設備包括一第一處理單元與一第一通信單元，該第一處理單元通過該第一通信單元發送一控制資訊至該測試環境穩定調節設備，以控制該測試環境穩定調節設備為該待測電子設備提供不同的穩定的測試環境。
一種測試方法，包括以下步驟：提供穩定測試環境步驟：待測電子設備控制測試環境穩定在第一測試環境；測試步驟：啟動該待測電子設備的性能測試並獲得第一測試資料；判斷步驟：判斷該待測電子設備是否需要改變測試環境，當該待測電子設備需要改變測試環境時，執行下一步驟，當該待測電子設備不需要改變測試環境時，繼續執行提供穩定測試環境的步驟；改變測試環境步驟：該待測電子設備控制該測試環境穩定設備穩定在第二測試環境；測試步驟：啟動該待測電子設備的性能測試並獲得第二測試資料。
相較於先前技術，該待測的電子設備依據其需求而對應地將其所需的測試環境的資訊發送至一測試環境穩定調節設備，從而控制該測試環境穩定調節設備調節該待測的電子設備所處的測試環境。因此，在整個測試過程中，該待測電子設備可以自動地調節其所處的測試環境，而無需外界其他輔助，例如人為調節等。
10‧‧‧測試系統
100‧‧‧待測電子設備
200‧‧‧測試環境穩定調節設備
110‧‧‧第一通信單元
130‧‧‧第一處理單元
150‧‧‧第一測試單元
151‧‧‧第二測試單元
170‧‧‧計時單元
210‧‧‧第二通信單元
230‧‧‧第二處理單元
220‧‧‧模數/數模轉換單元
240‧‧‧測試環境檢測單元
250‧‧‧執行單元
260‧‧‧編碼/解碼單元
S10~S50‧‧‧步驟
圖1為本發明一實施方式中測試方法的流程圖。
圖2為本發明一實施方式中採用該測試方法的測試系統的測試示意圖。
圖3為本發明一實施方式中待測電子設備的結構示意圖。
圖4為本發明一實施方式中測試環境穩定調節設備的結構示意圖。
請參閱圖1，其為本發明一實施方式中測試方法的流程圖。
需要首先說明的是，在電子設備在測試過程中為獲得準確的測試資料，例如電子設備內部元件或者表面元件在工作過程中的溫度變化、內部元件的運行情況等，其通常需要一個穩定的測試環境，例如溫度、濕度、壓力以及環境中固體顆粒的密度等參數均需要保持穩定。另外，電子設備的測試通常還需要在不同的測試環境下進行，進而使得測試資料更加準確。在本實施方式中，定義被測試的電子設備為待測電子設備，該待測電子設備可以是手機、音頻/視頻播放設備、電腦等，本實施方式該待測電子設備以手機為例進行說明，維持該待測電子設備所處的測試環境的設備為測試環境穩定調節設備。該測試方法以測試環境的溫度為例進行說明，對應地，該測試環境穩定調節設備可以採用一恒溫箱來實現。
當待測電子設備接收到外部的啟動測試信號後，該測試方法依序包括有：
步驟S10，控制該測試環境穩定設備提供穩定的第一測試環境，該步驟是由待測電子設備來實現的。
待測電子設備輸出一控制資訊至該測試環境穩定調節設備，以控制該測試環境穩定調節設備為該待測電子設備提供的測試環境穩 定在第一測試環境。例如，使得待測電子設備所處的第一測試環境為25℃。
具體地，待測電子設備首先獲知其測試所需要的測試環境溫度為25℃，待測電子設備則輸出一控制資訊至該測試環境穩定設備。該控制資訊包括有該測試環境溫度為25℃的資訊。該測試環境穩定調節設備接收到該控制資訊後，依據該控制資訊調節該待測電子設備所處的測試環境的環境溫度，並且使得該環境溫度為25℃。
該待測電子設備與該測試環境穩定調節設備可以通過藍牙、紅外、USB、Wi-Fi、局域網或者廣域網傳輸媒介進行資料交換。
優選地，該步驟還包括一解碼的步驟。將待測電子設備輸出的控制資訊進行解碼，以從該控制資訊獲取該第一測試環境的資訊。
優選地，該步驟還包括一測試環境調節的步驟。當控制該測試環境穩定調節設備使待測電子設備所處的環境溫度為第一測試環境，為使得第一測試環境穩定，還需要對該第一測試環境進行調節。
首先，採集測試環境穩定調節設備內的測試環境資訊，例如測試環境的溫度，並且將該測試環境的溫度進行轉換，並且將經過轉換後的資料與第一測試環境進行比較運算，並且依據比較結果進一步調節測試環境，如調節溫度。
例如，此時測試環境穩定調節設備內的溫度為24.5℃，而此時第一測試環境為25℃，則將測試環境的資訊24.5℃與第一測試環境25℃進行比較運算：24.5-25=-0.5，從而依據比較結果-0.5將第 一測試環境的溫度上調0.5度。
步驟S20，啟動測試該待測電子設備的性能並獲得第一測試資料，該步驟是由該待測電子設備來實現的。
測試環境穩定調節設備穩定使得該測試環境穩定在第一測試環境後，該測試環境穩定調節設備輸出一環境穩定信號至該待測電子設備。該待測電子設備接收該環境穩定信號，啟動測試該待測電子設備的性能，並且獲得第一測試資料。進一步，該待測電子設備將該第一測試資料進行存儲、處理以及顯示。
優選地，對該待測電子設備內部元件在工作工程中的性能進行測試。在本實施方式中，對該待測電子設備內部元件在工作過程的溫度進行測試，並且獲得測試資料，即以該內部元件在工作過程中的溫度作為代表該待測電子設備的性能。
另外，利用外部設備在該待測電子設備的控制下對該待測電子設備外部表面的性能進行測試。在本實施方式中，對該待測電子設備外部表面在工作過程中的溫度進行測試，從而更加準確地獲得待測電子設備的性能。
進一步，將獲得的待測電子設備內部元件以及外部表面的溫度測試資料進行存儲、處理以及顯示。
優選地，該步驟還包括一編碼的步驟。將該測試環境穩定設備輸出的環境穩定信號進行編碼，並且將編碼後的資訊輸出至該待測電子設備。
S30，判斷是否需要改變測試環境，該步驟是由待測電子設備來實現的。
具體地，待測電子設備判斷其是否需要改變測試環境，若該待測電子設備需要改變測試環境，則繼續執行步驟S40；若該待測電子設備不需要改變測試環境，則繼續執行步驟S10。
例如，對待測電子設備在第一測試環境中的測試時間進行計時，當計時時間達到一預定時間時，則認為待測電子設備已經完成在第一測試環境中的測試，需要改變測試環境，當然，若計時時間還未達到預定時間，則認為待測電子設備需要在第一測試環境中繼續測試。該預定時間可以依據實際情況而定，例如1小時或者2小時，並不以此為限。
S40，控制該測試環境穩定設備提供穩定的第二測試環境，該步驟是由待測電子設備來實現的。
當待測電子設備需要改變測試環境時，例如需要在第二測試環境中進行測試，該第二測試環境為35℃。該待測電子設備重新輸出一控制資訊至該測試環境穩定調節設備，該控制資訊包括該第二測試環境的環境測試溫度為35℃的資訊。該測試環境穩定調節設備接收該控制資訊並且依據該控制資訊，將第一測試環境調節為第二測試環境，即將測試環境溫度自25℃調節至35℃，並且使得第二測試環境穩定在35℃，從而為待測電子設備提供其所需要改變後的測試環境。
應當能夠理解，可以控制測試環境穩定調節設備進一步執行測試環境調節的步驟。
S50，啟動該待測電子設備的性能測試並獲得第二測試資料。
測試環境穩定調節設備穩定該第一測試環境，並且在該測試環境 穩定在第一測試環境後，該測試環境穩定調節設備輸出一環境穩定信號至該待測電子設備。該待測電子設備接收該環境穩定信號，啟動測試，並且獲得第二測試資料。進一步，該待測電子設備將獲得的第二測試資料進行存儲。
應當能夠理解，若待測電子設備執行完成步驟S40後，可以重複步驟S30，依據實際情況，待測電子設備可以僅測試第一、第二測試環境，也可以在更多的測試環境中進行測試。在本實施方式中，待測電子設備在完成該第二測試環境的測試後可認為完成本次測試，即待測電子設備停止測試。
請參閱圖2，對應上述測試方法，圖2為本發明一實施方式中採用該測試方法的測試系統的測試示意圖，測試系統10包括待測電子設備100與測試環境穩定調節設備200，該測試環境穩定調節設備在待測電子設備100的控制下為待測電子設備100提供不同的穩定的測試環境。其中，在待測電子設備100置於測試環境穩定調節設備200中。
請一併參閱圖3，其為本發明一實施方式中，待測電子設備與測試環境穩定調節設備的結構示意圖。
待測電子設備100包括第一通信單元110、第一處理單元130以及第一測試單元150與計時單元170，其中，第一通信單元110、第一測試單元150及計時單元170均與該第一處理單元130電連接。
第一通信單元110用於接收或輸出待測電子設備100所需要的資訊，以及使得待測電子設備100與測試環境穩定調節設備200建立連接，以進行資料交換。第一通信單元110可以採用藍牙、紅外、 USB、Wi-Fi、局域網或者廣域網傳輸媒介來實現。
第一處理單元130在接收到外界輸入的啟動測試信號後，第一處理單元130輸出一控制資訊至測試環境穩定調節設備200，該控制信號包括有不同的測試環境資訊，該不同的測試換進資訊可以包括第一測試環境、第二測試環境，該第一測試環境可以為測試環境的溫度，25℃，第二測試環境為35℃。
進一步，第一處理單元130還用於在獲得測試環境穩定後控制第一測試單元150啟動或停止。
第一處理單元130還用於判斷待測電子設備100是否需要改變測試環境，若該待測電子設備100需要改變測試環境，第一處理單元130將待測電子設備100所需要的改變後的測試環境資訊以控制資訊的方式通過第一通信單元110輸出至測試環境穩定調節設備200。
在本實施方式中，該控制資訊可以預先存儲於存儲介質(圖未示)中，第一處理單元130依據需求而自該存儲介質中讀取。
第一測試單元150用於測試待測電子設備100的性能，在本實施方式中，第一測試單元150通過測試待測電子設備100在其運行過程中的溫度資料來表示其性能。
第一測試單元150設置於待測電子設備100內部，以用於測試待測電子設備100的內部元件在運行過程中的性能資料，例如溫度資料。
具體地，在需要測試待測電子設備100在運行過程中內部元件溫度時，第一測試單元150可以採用一個或者多個溫度感測元件( 圖未示)來實現，該多個溫度感測元件與該第一處理單元130電連接，從而該多個溫度感測元件在第一處理單元130的控制下啟動或停止檢測該待測電子設備100在其運行過程中內部元件的溫度而測試資料，並且將該測試資料輸出至第一處理單元130，即對應地獲得該待測電子設備100的性能測試資料。
優選地，該測試系統還包括一第二測試單元151，該第二測試單元151設置於待測電子設備100的外部，以用於測試待測電子設備100外表面的性能資料。在本實施方式中，第二測試單元151測試該待測電子設備100外表面的溫度，以對應地反應該待測電子設備的性能。
第二測試單元151可以採用一控制系統與一個或者多個溫度感測元件來實現，其中，該多個溫度感測元件設置於待測電子設備100的表面，該控制系統與該溫度感測元件電連接，以控制該溫度感測元件的啟動或停止，同時，該控制系統與該待測電子設備100電連接，並且接受該待測電子設備100的控制。具體地，該控制系統可以採用電腦(圖未示)來實現，該電腦在接收到待測電子設備100輸出測試啟動或停止信號後，控制該一個或多個溫度感測元件啟動檢測該待測電子設備100表面的溫度，並且將測試資料輸出至該電腦。
優選地，第一處理單元130將第一測試單元150獲得的測試資料輸出至該電腦，從而該電腦對該第一、第二測試單元151、150所獲得的測試資料進行分析、處理以及顯示。
計時單元170用於對待測電子設備100在不同的穩定的測試環境中測試的時間。計時單元170在第一處理單元130的控制下開始計時 ，當計時單元170達到預定的計時時間後，計時單元170輸出一計時完成信號至第一處理單元130，以表示待測電子設備100需要改變測試環境。
請參閱圖4，其為本發明一實施方式中測試環境穩定調節設備的結構示意圖，測試環境穩定調節設備200包括第二通信單元210、第二處理單元230與執行單元250。其中，第二通信單元210、執行單元250與第二處理單元230電連接。
第二通信單元210用於接收或輸出測試環境穩定調節設備200需要輸入或輸出的資料信號，以及使得待測電子設備100與測試環穩定調節設備200建立連接，以進行資料交換，例如，接收來自待測電子設備100輸出的控制資訊。對應地，第二通信單元210可以採用藍牙、紅外、USB、Wi-Fi、局域網或者廣域網傳輸媒介來實現。
第二處理單元230自第二通信單元210接收待測電子設備100輸出的控制資訊，並且自該控制資訊獲取對應的測試環境的資訊，例如獲取該第一測試環境或第二測試環境的資訊，並且依據測試環境的資訊控制執行單元250工作。以及，當測試環境穩定調節設備200使得測試環境穩定後，第二處理單元230對應輸出一環境穩定信號至待測電子設備100。
執行單元250在第二處理單元230的控制下，使得測試環境穩定調節設備200處於不同的穩定的測試環境，例如使得測試環境穩定調節設備200處於第一測試環境或者第二測試環境，即處於25℃或者35℃的測試環境，進而為待測電子設備提供不同的測試環境。執行單元250可以採用加熱元件以及降溫元件的配合來實現。
優選地，測試環境穩定調節設備200還包括一模數/數模轉換單元220以及測試環境檢測單元240，測試環境檢測單元240用於採集測試環境穩定調節設備200內的測試環境資訊，例如測試環境的溫度，並且將該測試環境的溫度輸出至模數/數模轉換單元220進行轉換，並且將經過轉換後的資料輸出至第二處理單元230，第二處理單元將其與第一、第二測試環境進行比較運算，並且依據比較結果進一步調節執行單元250進行調節。例如，此時測試環境穩定調節設備200內的溫度為24.5℃，而此時第一測試環境為25℃，則第二處理單元230將測試環境的資訊24.5℃與第一測試環境25℃進行比較運算：24.5-25=-0.5，從而將比較結果-0.5控制執行單元250將溫度上調0.5度。
優選地，測試環境穩定調節設備200還包括一編碼/解碼單元260，編碼/解碼單元260用於對第二通信單元210自待測電子設備100接收的控制資訊進行解碼，從而自控制資訊中獲取第一、第二測試環境的資訊，同時，編碼/解碼單元260還用於對自第二通信單元210輸出的環境穩定信號進行編碼。
當然，本發明並不局限於上述公開的實施例，本發明還可以是對上述實施例進行各種變更。本技術領域人員可以理解，只要在本發明的實質精神範圍之內，對以上實施例所作的適當改變和變化都落在本發明要求保護的範圍之內。
S10~S50‧‧‧步驟

Claims (10)

  1. 一種測試系統，該測試系統包括一待測電子設備與一測試環境穩定調節設備，該測試環境穩定調節設備用於為該待測電子設備提供一穩定的測試環境，其中，該待測電子設備包括一第一處理單元與一第一通信單元，該第一處理單元通過該第一通信單元發送一控制資訊至該測試環境穩定調節設備，以控制該測試環境穩定調節設備為該待測電子設備提供不同的穩定的測試環境，其中，該控制資訊包含該待測電子設備所需的測試環境資訊。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之測試系統，其中，該待測電子設備還包括一測試單元，該測試單元用於測試該待測電子設備的性能，當該待測電子設備控制該環境穩定調節設備穩定測試環境後啟動該測試單元開始測試。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之測試系統，其中，該測試單元包括一第一測試單元，該第一測試單元用於測試該待測電子設備內部的性能，並且該第一測試單元用於測試該待測電子設備內部元件在工作過程中的溫度資料。
  4. 如申請專利範圍第2項所述的測試系統，其中，該測試環境穩定調節設備包括一第二處理單元、一第二通信單元以及一執行單元，該第二通信單元用於接收該控制資訊，並且將該控制資訊輸出至該第二處理單元，該第二處理單元依據該控制資訊獲取待測電子設備所需的測試環境並且控制該執行單元啟動，為該待測電子設備提供所需的不同的測試環境，並且該測當該測試環境穩定後該第二處理單元輸出一環境穩定信號至該待測電子設備。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之測試系統，其中，該測試環境穩定調節設備為一恒溫箱，該恒溫箱在該待測電子設備的控制下為該待測電子設備提供不同溫度的測試環境。
  6. 一種測試方法，其包括以下步驟：提供穩定測試環境步驟：待測電子設備控制測試環境穩定在第一測試環境；測試步驟：啟動該待測電子設備的性能測試並獲得第一測試資料；判斷步驟：判斷該待測電子設備是否需要改變測試環境，當該待測電子設備需要改變測試環境時，執行下一步驟，當該待測電子設備不需要改變測試環境時，繼續執行提供穩定測試環境的步驟；改變測試環境步驟：該待測電子設備發送一包括第二測試環境資訊的控制資訊控制該測試環境穩定設備穩定在第二測試環境；測試步驟：啟動該待測電子設備的性能測試並獲得第二測試資料。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之測試方法，其中，在該第一步驟與第四步驟中，該待測電子設備輸出一控制資訊至一測試環境穩定設備，以控制該測試環境穩定設備為該待測電子設備提供所需穩定的第一測試環境或者第二測試環境，該控制資訊包括第一測試測試與第二測試環境的資訊。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之測試方法，其中，在該第一步驟與第四步驟之後，該測試環境穩定調節設備輸出一環境穩定信號至該待測待電子設備，該待測電子設備啟動性能測試。
  9. 如申請專利範圍第6項所述之測試方法，其中，該第一步驟以及第四步驟還包括一測試環境調節的步驟，採集該待測電子設備所處的測試環境的資訊，將該測試環境資訊與第一測試環境或者第二測試環境進行比較運算，並且依據比較結果控制測試環境穩定設備調節該電子設備所處的測試環境。
  10. 如申請專利範圍第6項所述之測試方法，其中，該第三步驟為對該待測電子設備處於第一測試環境的時間進行計時，當計時時間達到預定時間時，表明該待測電子設備需要改變測試環境；當該計時時間未達到該預定時間時，表明該待測電子設備不需要改變測試環境。
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