CN102902289A - 测试系统以及测试方法 - Google Patents

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王文武
庄宗仁
翁世芳
刘彬
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Abstract

本发明涉及一种测试系统以及测试方法。该测试方法包括有：待测电子设备控制测试环境稳定在第一测试环境；启动该待测电子设备的性能测试并获得第一测试数据；判断该待测电子设备是否需要改变测试环境，当该待测电子设备需要改变测试环境时，执行下一步骤，当该待测电子设备不需要改变测试环境时，继续执行提供稳定测试环境的步骤；该待测电子设备控制该测试环境稳定设备稳定在第二测试环境；启动该待测电子设备的性能测试并获得第二测试数据。

Description

测试系统以及测试方法
技术领域
本发明涉及一种测试系统以及测试方法，尤其涉及一种在稳定的测试环境对电子设备的性能进行测试的系统以及测试方法。
背景技术
一般的电子设备在制作完成之后均需要对其性能进行测试，为了保证测试的准确性，通常会使得电子设备在测试过程中所处的环境稳定，并且电子设备还需要在不同的稳定的测试环境中进行测试。然而，当需要改变测试环境时，均需要人为地对测试环境进行调节以及改变，而无法自动地依据待测试的电子设备的需求自动地更改其测试环境。
发明内容
有鉴于此，为解决现有技术中待测试的电子设备所处的测试环境无法自动地随着待测的电子设备需求进行改变，提供一种可以依据待测的电子设备的需求对其所处的测试环境自动进行改变的测试系统以及测试方法。
一种测试系统，该测试系统包括一待测电子设备与一测试环境稳定调节设备，该测试环境稳定调节设备用于为该待测电子设备提供一稳定的测试环境。该待测电子设备包括一第一处理单元与一第一通信单元，该第一处理单元通过该第一通信单元发送一控制信息至该测试环境稳定调节设备，以控制该测试环境稳定调节设备为该待测电子设备提供不同的稳定的测试环境。
一种测试方法，包括以下步骤：
提供稳定测试环境步骤：待测电子设备控制测试环境稳定在第一测试环境；
测试步骤：启动该待测电子设备的性能测试并获得第一测试数据；
判断步骤：判断该待测电子设备是否需要改变测试环境，当该待测电子设备需要改变测试环境时，执行下一步骤，当该待测电子设备不需要改变测试环境时，继续执行提供稳定测试环境的步骤；
改变测试环境步骤：该待测电子设备控制该测试环境稳定设备稳定在第二测试环境；
测试步骤：启动该待测电子设备的性能测试并获得第二测试数据。
相较于现有技术，该待测的电子设备依据其需求而对应地将其所需的测试环境的信息发送至一测试环境稳定调节设备，从而控制该测试环境稳定调节设备调节该待测的电子设备所处的测试环境。因此，在整个测试过程中，该待测电子设备可以自动地调节其所处的测试环境，而无需外界其他辅助，例如人为调节等。
附图说明
图1为本发明一实施方式中测试方法的流程图。
图2为本发明一实施方式中采用该测试方法的测试系统的测试示意图。
图3为本发明一实施方式中待测电子设备的结构示意图。
图4为本发明一实施方式中测试环境稳定调节设备的结构示意图。
主要元件符号说明
测试系统 10
待测电子设备　　　　　　　　　　　　100
测试环境稳定调节设备　　　　　　　　200
第一通信单元　　　　　　　　　　　　110
第一处理单元　　　　　　　　　　　　130
第一测试单元　　　　　　　　　　　　150
第二测试单元　　　　　　　　　　　　151
计时单元　　　　　　　　　　　　　　170
第二通信单元　　　　　　　　　　　　210
第二处理单元　　　　　　　　　　　　230
模数/数模转换单元　　　　　　　　　　220
测试环境检测单元　　　　　　　　　　240
执行单元　　　　　　　　　　　　　　250
编码/解码单元　　　　　　　　　　　　260
步骤　　　　　　　　　　　　　　　　S10~S50
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的较佳的实施方式进行详细描述。
请参阅图1，其为本发明一实施方式中测试方法的流程图。
需要首先说明的是，在电子设备在测试过程中为获得准确的测试数据，例如电子设备内部元件或者表面元件在工作过程中的温度变化、内部元件的运行情况等，其通常需要一个稳定的测试环境，例如温度、湿度、压力以及环境中固体颗粒的密度等参数均需要保持稳定。另外，电子设备的测试通常还需要在不同的测试环境下进行，进而使得测试数据更加准确。在本实施方式中，定义被测试的电子设备为待测电子设备，该待测电子设备可以是手机、音频/视频播放设备、电脑等，本实施方式该待测电子设备以手机为例进行说明，维持该待测电子设备所处的测试环境的设备为测试环境稳定调节设备。该测试方法以测试环境的温度为例进行说明，对应地，该测试环境稳定调节设备可以采用一恒温箱来实现。
当待测电子设备接收到外部的启动测试信号后，该测试方法依序包括有:
步骤S10，控制该测试环境稳定设备提供稳定的第一测试环境，该步骤是由待测电子设备来实现的。
待测电子设备输出一控制信息至该测试环境稳定调节设备，以控制该测试环境稳定调节设备为该待测电子设备提供的测试环境稳定在第一测试环境。例如，使得待测电子设备所处的第一测试环境为25℃。
具体地，待测电子设备首先获知其测试所需要的测试环境温度为25℃，待测电子设备则输出一控制信息至该测试环境稳定设备。该控制信息包括有该测试环境温度为25℃的信息。该测试环境稳定调节设备接收到该控制信息后，依据该控制信息调节该待测电子设备所处的测试环境的环境温度，并且使得该环境温度为25℃。
该待测电子设备与该测试环境稳定调节设备可以通过蓝牙、红外、USB、Wi-Fi、局域网或者广域网传输媒介进行数据交换。
优选地，该步骤还包括一解码的步骤。将待测电子设备输出的控制信息进行解码，以从该控制信息获取该第一测试环境的信息。
优选地，该步骤还包括一测试环境调节的步骤。当控制该测试环境稳定调节设备使待测电子设备所处的环境温度为第一测试环境，为使得第一测试环境稳定，还需要对该第一测试环境进行调节。
首先，采集测试环境稳定调节设备内的测试环境信息，例如测试环境的温度，并且将该测试环境的温度进行转换，并且将经过转换后的数据与第一测试环境进行比较运算，并且依据比较结果进一步调节测试环境，如调节温度。
例如，此时测试环境稳定调节设备内的温度为24.5℃，而此时第一测试环境为25℃，则将测试环境的信息24.5℃与第一测试环境25℃进行比较运算：24.5-25=-0.5，从而依据比较结果-0.5将第一测试环境的温度上调0.5度。
步骤S20，启动测试该待测电子设备的性能并获得第一测试数据，该步骤是由该待测电子设备来实现的。
测试环境稳定调节设备稳定使得该测试环境稳定在第一测试环境后，该测试环境稳定调节设备输出一环境稳定信号至该待测电子设备。该待测电子设备接收该环境稳定信号，启动测试该待测电子设备的性能，并且获得第一测试数据。进一步，该待测电子设备将该第一测试数据进行存储、处理以及显示。
优选地，对该待测电子设备内部元件在工作工程中的性能进行测试。在本实施方式中，对该待测电子设备内部元件在工作过程的温度进行测试，并且获得测试数据，即以该内部元件在工作过程中的温度作为代表该待测电子设备的性能。
另外，利用外部设备在该待测电子设备的控制下对该待测电子设备外部表面的性能进行测试。在本实施方式中，对该待测电子设备外部表面在工作过程中的温度进行测试，从而更加准确地获得待测电子设备的性能。
进一步，将获得的待测电子设备内部元件以及外部表面的温度测试数据进行存储、处理以及显示。
优选地，该步骤还包括一编码的步骤。将该测试环境稳定设备输出的环境稳定信号进行编码，并且将编码后的信息输出至该待测电子设备。
S30，判断是否需要改变测试环境，该步骤是由待测电子设备来实现的。
具体地，待测电子设备判断其是否需要改变测试环境，若该待测电子设备需要改变测试环境，则继续执行步骤S40；若该待测电子设备不需要改变测试环境，则继续执行步骤S10。
例如，对待测电子设备在第一测试环境中的测试时间进行计时，当计时时间达到一预定时间时，则认为待测电子设备已经完成在第一测试环境中的测试，需要改变测试环境，当然，若计时时间还未达到预定时间，则认为待测电子设备需要在第一测试环境中继续测试。该预定时间可以依据实际情况而定，例如1小时或者2小时，并不以此为限。
S40，控制该测试环境稳定设备提供稳定的第二测试环境，该步骤是由待测电子设备来实现的。
当待测电子设备需要改变测试环境时，例如需要在第二测试环境中进行测试，该第二测试环境为35℃。该待测电子设备重新输出一控制信息至该测试环境稳定调节设备，该控制信息包括该第二测试环境的环境测试温度为35℃的信息。该测试环境稳定调节设备接收该控制信息，并且依据该控制信息，将第一测试环境调节为第二测试环境，即将测试环境温度自25℃调节至35℃，并且使得第二测试环境稳定在35℃，从而为待测电子设备提供其所需要改变后的测试环境。
应当能够理解，可以控制测试环境稳定调节设备进一步执行测试环境调节的步骤。
S50，启动该待测电子设备的性能测试并获得第二测试数据。
测试环境稳定调节设备稳定该第一测试环境，并且在该测试环境稳定在第一测试环境后，该测试环境稳定调节设备输出一环境稳定信号至该待测电子设备。该待测电子设备接收该环境稳定信号，启动测试，并且获得第二测试数据。进一步，该待测电子设备将获得的第二测试数据进行存储。
应当能够理解，若待测电子设备执行完成步骤S40后，可以重复步骤S30，依据实际情况，待测电子设备可以仅测试第一、第二测试环境，也可以在更多的测试环境中进行测试。在本实施方式中，待测电子设备在完成该第二测试环境的测试后可认为完成本次测试，即待测电子设备停止测试。
请参阅图2，对应上述测试方法，图2为本发明一实施方式中采用该测试方法的测试系统的测试示意图，测试系统10包括待测电子设备100与测试环境稳定调节设备200，该测试环境稳定调节设备在待测电子设备100的控制下为待测电子设备100提供不同的稳定的测试环境。其中，在待测电子设备100置于测试环境稳定调节设备200中。
请一并参阅图3，其为本发明一实施方式中，待测电子设备与测试环境稳定调节设备的结构示意图。
待测电子设备100包括第一通信单元110、第一处理单元130以及第一测试单元150与计时单元170，其中，第一通信单元110、第一测试单元150及计时单元170均与该第一处理单元130电连接。
第一通信单元110用于接收或输出待测电子设备100所需要的信息，以及使得待测电子设备100与测试环境稳定调节设备200建立连接，以进行数据交换。第一通信单元110可以采用蓝牙、红外、USB、Wi-Fi、局域网或者广域网传输媒介来实现。
第一处理单元130在接收到外界输入的启动测试信号后，第一处理单元130输出一控制信息至测试环境稳定调节设备200，该控制信号包括有不同的测试环境信息，该不同的测试换进信息可以包括第一测试环境、第二测试环境，该第一测试环境可以为测试环境的温度，25℃，第二测试环境为35℃。
进一步，第一处理单元130还用于在获得测试环境稳定后控制该测试单元150启动或停止。
第一处理单元130还用于判断待测电子设备100是否需要改变测试环境，若该待测电子设备100需要改变测试环境，第一处理单元130将待测电子设备100所需要的改变后的测试环境信息以控制信息的方式通过第一通信单元110输出至测试环境稳定调节设备200。
在本实施方式中，该控制信息可以预先存储于存储介质（图未示）中，第一处理单元130依据需求而自该存储介质中读取。
第一测试单元150用于测试待测电子设备100的性能，在本实施方式中，第一测试单元150通过测试待测电子设备100在其运行过程中的温度数据来表示其性能。
第一测试单元150设置于待测电子设备100内部，以用于测试待测电子设备100的内部元件在运行过程中的性能数据，例如温度数据。
具体地，在需要测试待测电子设备100在运行过程中内部元件温度时，第一测试单元150可以采用一个或者多个温度感测元件（图未示）来实现，该多个温度感测元件与该第一处理单元130电连接，从而该多个温度感测元件在第一处理单元130的控制下启动或停止检测该待测电子设备100在其运行过程中内部元件的温度而测试数据，并且将该测试数据输出至第一处理单元130，即对应地获得该待测电子设备100的性能测试数据。
优选地，该测试系统还包括一第二测试单元151，该第二测试单元151设置于待测电子设备100的外部，以用于测试待测电子设备100外表面的性能数据。在本实施方式中，第二测试单元151测试该待测电子设备100外表面的温度，以对应地反应该待测电子设备的性能。
第二测试单元151可以采用一控制系统与一个或者多个温度感测元件来实现，其中，该多个温度感测元件设置于待测电子设备100的表面，该控制系统与该温度感测元件电连接，以控制该温度感测元件的启动或停止，同时，该控制系统与该待测电子设备100电连接，并且接受该待测电子设备100的控制。具体地，该控制系统可以采用计算机（图未示）来实现，该计算机在接收到待测电子设备100输出测试启动或停止信号后，控制该一个或多个温度感测元件启动检测该待测电子设备100表面的温度，并且将测试数据输出至该计算机。
优选地，第一处理单元130将第一测试单元150获得的测试数据输出至该计算机，从而该计算机对该第一、第二测试单元151、150所获得的测试数据进行分析、处理以及显示。
计时单元170用于对待测电子设备100在不同的稳定的测试环境中测试的时间。计时单元170在第一处理单元130的控制下开始计时，当计时单元170达到预定的计时时间后，计时单元170输出一计时完成信号至第一处理单元130，以表示待测电子设备100需要改变测试环境。
请参阅图4，其为本发明一实施方式中测试环境稳定调节设备的结构示意图，测试环境稳定调节设备200包括第二通信单元210、第二处理单元230与执行单元250。其中，第二通信单元210、执行单元250与第二处理单元230电连接。
第二通信单元210用于接收或输出测试环境稳定调节设备200需要输入或输出的数据信号，以及使得待测电子设备100与测试环境稳定调节设备200建立连接，以进行数据交换，例如，接收来自待测电子设备100输出的控制信息。对应地，第二通信单元210可以采用蓝牙、红外、USB、Wi-Fi、局域网或者广域网传输媒介来实现。
第二处理单元230自第二通信单元210接收待测电子设备100输出的控制信息，并且自该控制信息获取对应的测试环境的信息，例如获取该第一测试环境或第二测试环境的信息，并且依据测试环境的信息控制执行单元250工作。以及，当测试环境稳定调节设备200使得测试环境稳定后，第二处理单元230对应输出一环境稳定信号至待测电子设备100。
执行单元250在第二处理单元230的控制下，使得测试环境稳定调节设备200处于不同的稳定的测试环境，例如使得测试环境稳定调节设备200处于第一测试环境或者第二测试环境，即处于25℃或者35℃的测试环境，进而为待测电子设备提供不同的测试环境。执行单元250可以采用加热元件以及降温元件的配合来实现。
优选地，测试环境稳定调节设备200还包括一模数/数模转换单元220以及测试环境检测单元240，测试环境检测单元240用于采集测试环境稳定调节设备200内的测试环境信息，例如测试环境的温度，并且将该测试环境的温度输出至模数/数模转换单元220进行转换，并且将经过转换后的数据输出至第二处理单元230，第二处理单元将其与第一、第二测试环境进行比较运算，并且依据比较结果进一步调节执行单元250进行调节。例如，此时测试环境稳定调节设备200内的温度为24.5℃，而此时第一测试环境为25℃，则第二处理单元230将测试环境的信息24.5℃与第一测试环境25℃进行比较运算：24.5-25=-0.5，从而将比较结果-0.5控制执行单元250将温度上调0.5度。
优选地，测试环境稳定调节设备200还包括一编码/解码单元260，编码/解码单元260用于对第二通信单元210自待测电子设备100接收的控制信息进行解码，从而自控制信息中获取第一、第二测试环境的信息，同时，编码/解码单元260还用于对自第二通信单元210输出的环境稳定信号进行编码。

Claims (10)

1.一种测试系统，该测试系统包括一待测电子设备与一测试环境稳定调节设备，该测试环境稳定调节设备用于为该待测电子设备提供一稳定的测试环境，其特征在于，该待测电子设备包括一第一处理单元与一第一通信单元，该第一处理单元通过该第一通信单元发送一控制信息至该测试环境稳定调节设备，以控制该测试环境稳定调节设备为该待测电子设备提供不同的稳定的测试环境。
2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，该待测电子设备还包括一测试单元，该测试单元用于测试该待测电子设备的性能，当该待测电子设备控制该环境稳定调节设备稳定测试环境后启动该测试单元开始测试。
3.根据权利要2所述的测试系统，其特征在于，该测试单元包括一第一测试单元，该第一测试单元用于测试该待测电子设备内部的性能，并且该第一测试单元用于测试该待测电子设备内部元件在工作过程中的温度数据。
4.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，该测试环境稳定调节设备包括一第二处理单元、一第二通信单元以及一执行单元，该第二通信单元用于接收该控制信息，并且将该控制信息输出至该第二处理单元，该第二处理单元依据该控制信息获取待测电子设备所需的测试环境并且控制该执行单元启动，为该待测电子设备提供所需的不同的测试环境，并且该测当该测试环境稳定后该第二处理单元输出一环境稳定信号至该待测电子设备。
5.根据权利要求4所述的测试系统，其特征在于，该测试环境稳定调节设备为一恒温箱，该恒温箱在该待测电子设备的控制下为该待测电子设备提供不同温度的测试环境。
6.一种测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
提供稳定测试环境步骤：待测电子设备控制测试环境稳定在第一测试环境；
测试步骤：启动该待测电子设备的性能测试并获得第一测试数据；
判断步骤：判断该待测电子设备是否需要改变测试环境，当该待测电子设备需要改变测试环境时，执行下一步骤，当该待测电子设备不需要改变测试环境时，继续执行提供稳定测试环境的步骤；
改变测试环境步骤：该待测电子设备控制该测试环境稳定设备稳定在第二测试环境；
测试步骤：启动该待测电子设备的性能测试并获得第二测试数据。
7.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，在该第一步骤与第四步骤中，该待测电子设备输出一控制信息至一测试环境稳定设备，以控制该测试环境稳定设备为该待测电子设备提供所需稳定的第一测试环境或者第二测试环境，该控制信息包括第一测试测试与第二测试环境的信息。
8.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，在该第一步骤与第四步骤之后，该测试环境稳定调节设备输出一环境稳定信号至该待测待电子设备，该待测电子设备启动性能测试。
9.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，该第一步骤以及第四步骤还包括一测试环境调节的步骤，采集该待测电子设备所处的测试环境的信息，将该测试环境信息与第一测试环境或者第二测试环境进行比较运算，并且依据比较结果控制测试环境稳定设备调节该电子设备所处的测试环境。
10.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，该第三步骤为对该待测电子设备处于第一测试环境的时间进行计时，当计时时间达到预定时间时，表明该待测电子设备需要改变测试环境；当该计时时间未达到该预定时间时，表明该待测电子设备不需要改变测试环境。
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