TWI529502B - 投影曝光裝置 - Google Patents

投影曝光裝置 Download PDF

Info

Publication number
TWI529502B
TWI529502B TW104136142A TW104136142A TWI529502B TW I529502 B TWI529502 B TW I529502B TW 104136142 A TW104136142 A TW 104136142A TW 104136142 A TW104136142 A TW 104136142A TW I529502 B TWI529502 B TW I529502B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
mirror
pupil
lens
projection objective
image
Prior art date
Application number
TW104136142A
Other languages
English (en)
Chinese (zh)
Other versions
TW201604664A (zh
Inventor
艾波爾
Original Assignee
卡爾蔡司Smt有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=41591684&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=TWI529502(B) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Priority claimed from EP06016914A external-priority patent/EP1890191A1/en
Application filed by 卡爾蔡司Smt有限公司 filed Critical 卡爾蔡司Smt有限公司
Publication of TW201604664A publication Critical patent/TW201604664A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI529502B publication Critical patent/TWI529502B/zh

Links

Landscapes

  • Lenses (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
  • Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)
TW104136142A 2006-08-14 2007-08-13 投影曝光裝置 TWI529502B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US83731706P 2006-08-14 2006-08-14
EP06016914A EP1890191A1 (en) 2006-08-14 2006-08-14 Catadioptric projection objective with pupil mirror

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201604664A TW201604664A (zh) 2016-02-01
TWI529502B true TWI529502B (zh) 2016-04-11

Family

ID=41591684

Family Applications (6)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW104136142A TWI529502B (zh) 2006-08-14 2007-08-13 投影曝光裝置
TW96129863A TWI430042B (zh) 2006-08-14 2007-08-13 具有光瞳鏡(pupil mirror)之反射折射投影物鏡、投影曝光裝置、及投影曝光方法
TW107116998A TW201908871A (zh) 2006-08-14 2007-08-13 具有光瞳鏡(pupil mirror)之反射折射投影物鏡、投影曝光裝置、及投影曝光方法
TW105139440A TW201732443A (zh) 2006-08-14 2007-08-13 具有光瞳鏡(pupil mirror) 之反射折射投影物鏡、投影曝光裝置、及投影曝光方法
TW104136141A TWI531874B (zh) 2006-08-14 2007-08-13 投影曝光裝置
TW103101879A TW201426205A (zh) 2006-08-14 2007-08-13 具有光瞳鏡(pupil mirror)之反射折射投影物鏡、投影曝光裝置、及投影曝光方法

Family Applications After (5)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW96129863A TWI430042B (zh) 2006-08-14 2007-08-13 具有光瞳鏡(pupil mirror)之反射折射投影物鏡、投影曝光裝置、及投影曝光方法
TW107116998A TW201908871A (zh) 2006-08-14 2007-08-13 具有光瞳鏡(pupil mirror)之反射折射投影物鏡、投影曝光裝置、及投影曝光方法
TW105139440A TW201732443A (zh) 2006-08-14 2007-08-13 具有光瞳鏡(pupil mirror) 之反射折射投影物鏡、投影曝光裝置、及投影曝光方法
TW104136141A TWI531874B (zh) 2006-08-14 2007-08-13 投影曝光裝置
TW103101879A TW201426205A (zh) 2006-08-14 2007-08-13 具有光瞳鏡(pupil mirror)之反射折射投影物鏡、投影曝光裝置、及投影曝光方法

Country Status (3)

Country Link
JP (8) JP5462625B2 (enrdf_load_stackoverflow)
CN (1) CN101523294B (enrdf_load_stackoverflow)
TW (6) TWI529502B (enrdf_load_stackoverflow)

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103135356B (zh) * 2011-11-23 2015-04-15 上海微电子装备有限公司 反射式光刻投影物镜
CN102436058B (zh) * 2011-12-14 2013-08-21 北京理工大学 一种用于深紫外波段的全球面折反式准直物镜
JP6028350B2 (ja) * 2012-03-16 2016-11-16 株式会社ニコン 基板処理装置、デバイス製造システム及びデバイス製造方法
US9651872B2 (en) 2013-03-13 2017-05-16 Carl Zeiss Smt Gmbh Projection lens with wavefront manipulator
DE102013204391B3 (de) * 2013-03-13 2014-05-28 Carl Zeiss Smt Gmbh Projektionsobjektiv mit Wellenfrontmanipulator
CN103353669B (zh) * 2013-07-30 2015-07-15 中国科学院光电技术研究所 一种高数值孔径浸没投影物镜
TW201514541A (zh) * 2013-09-19 2015-04-16 尼康股份有限公司 投影光學系統、投影光學系統的調整方法、曝光裝置、曝光方法以及元件製造方法
CN105116527B (zh) * 2015-09-25 2018-10-30 上海新跃仪表厂 一种大相对孔径低畸变广角长红外折反射式光学系统
JP6748482B2 (ja) * 2016-05-25 2020-09-02 キヤノン株式会社 露光装置、および、物品の製造方法
CN108152940B (zh) * 2016-12-05 2021-04-27 佳能株式会社 反射折射光学系统、照明光学系统、曝光装置
CN109581622B (zh) * 2017-09-29 2020-12-04 上海微电子装备(集团)股份有限公司 一种投影物镜
JP2019124796A (ja) * 2018-01-16 2019-07-25 キヤノン株式会社 結像光学系、画像投射装置およびカメラシステム
US11067389B2 (en) * 2018-03-13 2021-07-20 Kla Corporation Overlay metrology system and method
CN109298517B (zh) * 2018-11-05 2020-10-30 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 一种多光谱同轴折反式无焦光学系统
JP7431319B2 (ja) * 2019-09-10 2024-02-14 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. リソグラフィプロセスのサブフィールド制御及び関連する装置
KR102409108B1 (ko) * 2020-09-18 2022-06-15 삼성전기주식회사 촬상 광학계
CN113687500B (zh) * 2021-08-03 2024-03-26 润坤(上海)光学科技有限公司 折转式探测器光学系统
DE102021213827A1 (de) * 2021-12-06 2023-06-07 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren zur Optimierung einer Pupillen-Blendenform zur Nachbildung von Beleuchtungs- und Abbildungseigenschaften eines optischen Produktionssystems bei der Beleuchtung und Abbildung eines Objekts mittels eines optischen Messsystems
TWI813395B (zh) * 2022-07-22 2023-08-21 新鉅科技股份有限公司 光學透鏡組和頭戴式電子裝置
CN115332030B (zh) * 2022-08-23 2025-07-11 苏州博众仪器科技有限公司 一种物镜及其结构设计方法、透射电子显微镜
CN118981149B (zh) * 2024-07-09 2025-03-07 上海微电子装备(集团)股份有限公司 基于瞳面调制的垂向测量方法、调焦调平系统及曝光装置

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01120855U (enrdf_load_stackoverflow) * 1988-02-08 1989-08-16
JPH0215131U (enrdf_load_stackoverflow) * 1988-07-13 1990-01-30
JP3368091B2 (ja) * 1994-04-22 2003-01-20 キヤノン株式会社 投影露光装置及びデバイスの製造方法
JP3781044B2 (ja) * 1994-11-07 2006-05-31 株式会社ニコン 反射屈折光学系および投影露光装置
JPH10301058A (ja) * 1997-04-30 1998-11-13 Nikon Corp 反射屈折投影光学系
DE19824030A1 (de) * 1998-05-29 1999-12-02 Zeiss Carl Fa Katadioptrisches Projektionsobjektiv mit adaptivem Spiegel und Projektionsbelichtungsverfahren
DE10120446C2 (de) * 2001-04-26 2003-04-17 Zeiss Carl Projektionsbelichtungsanlage sowie Verfahren zur Kompensation von Abbildungsfehlern in einer Projektionsbelichtungsanlage, insbesondere für die Mikro-Lithographie
JP2005037896A (ja) * 2003-05-23 2005-02-10 Canon Inc 投影光学系、露光装置及びデバイスの製造方法
JP2005019628A (ja) * 2003-06-25 2005-01-20 Nikon Corp 光学装置、露光装置、並びにデバイス製造方法
KR101179350B1 (ko) * 2004-01-14 2012-09-11 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 반사굴절식 투영 대물렌즈
JP2005311020A (ja) * 2004-04-21 2005-11-04 Nikon Corp 露光方法及びデバイス製造方法
KR101376931B1 (ko) * 2004-05-17 2014-03-25 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 중간이미지를 갖는 카타디옵트릭 투사 대물렌즈
JP4843272B2 (ja) * 2004-07-31 2011-12-21 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー マイクロリソグラフィ投影露光装置の光学システム
JP4581662B2 (ja) * 2004-12-07 2010-11-17 株式会社ニコン 投影光学系及び露光装置並びにデバイスの製造方法
JP2009122247A (ja) * 2007-11-13 2009-06-04 Kayaba Ind Co Ltd 使用時に人体皮膚が接触する物品

Also Published As

Publication number Publication date
JP5684413B2 (ja) 2015-03-11
JP5462739B2 (ja) 2014-04-02
TW201732443A (zh) 2017-09-16
CN101523294A (zh) 2009-09-02
JP5684412B2 (ja) 2015-03-11
JP5462625B2 (ja) 2014-04-02
TW201604663A (zh) 2016-02-01
TW201604664A (zh) 2016-02-01
JP2011013681A (ja) 2011-01-20
JP2014074930A (ja) 2014-04-24
JP2015109463A (ja) 2015-06-11
JP2018077534A (ja) 2018-05-17
JP2017199031A (ja) 2017-11-02
TW200827938A (en) 2008-07-01
TW201426205A (zh) 2014-07-01
TWI531874B (zh) 2016-05-01
TWI430042B (zh) 2014-03-11
JP2014123749A (ja) 2014-07-03
CN101523294B (zh) 2012-08-08
JP2010500769A (ja) 2010-01-07
TW201908871A (zh) 2019-03-01
JP2016157137A (ja) 2016-09-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI529502B (zh) 投影曝光裝置
KR101367074B1 (ko) 동공 미러를 갖는 반사굴절식 투영 대물렌즈, 투영 노광 장치 및 방법
US7771065B2 (en) Optical unit and exposure apparatus having the same
US6621557B2 (en) Projection exposure apparatus and exposure methods
TWI435111B (zh) 包含偏向鏡之折反射投射物鏡以及投射曝光方法
KR101809343B1 (ko) 마이크로리소그래픽 장치
KR101679136B1 (ko) 마이크로리소그래픽 투영 노광 장치의 동작 방법 및 이러한 장치의 투영 오브젝티브
KR20100081308A (ko) 마이크로리소그래피 투사 노광 장치
KR101709430B1 (ko) 고 탄력성 매니퓰레이터를 갖는 투영 노광 장치
US20090231568A1 (en) Method of measuring wavefront error, method of correcting wavefront error, and method of fabricating semiconductor device
US20090040497A1 (en) Exposure apparatus, adjusting method, exposure method, and device fabrication method

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees