TWI527567B - 放射線攝影裝置 - Google Patents

Description

放射線攝影裝置

本發明是有關於一種用於醫療領域、工業領域、進而原子力領域等的檢測放射線圖像的放射線攝影裝置，尤其是有關於藉由偏移修正而改善放射線圖像的畫質的技術。

先前，作為醫療用X射線圖像的攝影裝置而使用放射線攝影裝置。放射線攝影裝置搭載有放射線源與放射線檢測器，近年來，作為放射線檢測器而使用平板型檢測器(FPD：Flat Panel Detector)。FPD具備排列為二維矩陣狀的多個檢測元件。各檢測元件檢測自放射線源照射並透射被檢體的放射線且將該放射線轉換為電荷資訊。然後，將經轉換的電荷資訊依序讀出並作為與放射線對應的輸出資料而輸出。

所讀出的輸出除依賴於檢測元件的輸出之外，還包含由雜訊(noise)成分等引起的輸出、或由檢測器的暗電流(dark current)等引起的輸出等多個成分。因此，即便在未入射放射線而未對檢測元件有任何輸入的狀態下，檢測元件的輸出亦不為0， 又，各檢測元件的輸出存在不均。針對各檢測元件計測在該狀態下讀出的輸出(偏移值)，並將針對各檢測元件計測的偏移值(偏移值分佈(profile))作為修正用資料加以記憶。

在使用放射線檢測器拍攝放射線透射圖像的情形時，進行從自檢測元件讀出的輸出資料減去修正用資料的偏移修正。藉由偏移修正而除去由暗電流等引起的偏移值，因此可減少在放射線透射圖像中產生的偽像(artifact)(例如參照專利文獻1)。

先前技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本專利特開2006-305228號公報

然而，在具有上述構成的先前例的情形時，存在以下問題點。

即，先前例的放射線檢測器中，偏移值根據放射線檢測器的溫度而變化。因此，在放射線檢測器的溫度高的情形時偏移值高，且在溫度低的情形時偏移值低。如此偏移值根據溫度而變動，因此若始終使用一次獲取的修正用資料進行偏移修正，則存在產生由偏移修正的過量或不足所引起的放射線圖像的劣化的情形。尤其若過度進行偏移修正，則擔心有診斷區域的圖像資訊不足而無法進行準確的診斷的問題。

作為避免該偏移修正的過量或不足的方法，列舉每當放 射線檢測器的溫度變動時就更新修正用資料而獲取適當的修正用資料。然而，為了更新修正用資料而需要一定的時間，在更新中無法進行放射線攝影。因此，在緊急需要放射線攝影的情形時，無法更新修正用資料。該情形時，難以獲取適當的修正用資料。進而，在電源剛接通後等溫度的變動劇烈的情形時，必須頻繁更新修正用資料。若頻繁地更新修正用資料，則放射線圖像攝影所需的時間變長，因此難以高效地拍攝放射線圖像。

本發明是鑒於上述情況而完成的，其目的在於提供一種放射線攝影裝置，可較佳地避免由溫度變化所引起的放射線圖像的不足或圖像品質的劣化。

本發明為達成上述目的而採用以下構成。

即，本發明的放射線攝影裝置具備：放射線源；放射線檢測部，排列有檢測元件，檢測自上述放射線源所照射的放射線；溫度測定部，測定上述放射線檢測部的溫度；偏移值獲取部，基於放射線非照射時的上述檢測元件的輸出資料而獲取偏移值；偏移修正用資料獲取部，基於上述偏移值獲取部獲取的偏移值、及上述溫度測定部測定到的上述放射線檢測部的溫度，而算出較上述溫度測定部測定到的較上述放射線檢測部的溫度低的溫度的偏移值即偏移修正用資料；及偏移修正部，使用上述偏移修正用資料進行偏移修正。

根據本發明的放射線攝影裝置，偏移修正用資料獲取部 基於偏移值獲取部獲取的偏移值、及溫度測定部測定到的放射線檢測部的溫度，而算出較溫度測定部測定到的放射線檢測部的溫度低的溫度的偏移值。偏移值根據溫度而變動，當溫度變低時偏移值亦變低。即，當使用較溫度測定部測定到的放射線檢測部的溫度低的溫度的偏移值進行偏移修正時，使用更低的偏移值，因此不會對檢測元件的輸出資料過度地進行偏移修正。因此，可在所形成的放射線透射圖像中確實避免由過度的偏移修正所引起的圖像資訊的不足。

又，本發明的放射線攝影裝置較佳為進而具備圖像處理部，對已藉由上述偏移修正部而進行偏移修正的上述檢測元件的輸出資料進行用以修補圖像的劣化的處理。

根據本發明的放射線攝影裝置，圖像處理部對已進行偏移修正的檢測元件的輸出資料進行圖像處理。僅靠偏移修正部的偏移修正大多情形下無法充分地對檢測元件的輸出資料進行修正，若直接使用偏移修正後的輸出資料進行圖像化，則有可能產生圖像品質的降低。由此，在本發明的放射線攝影裝置中，對進行偏移修正後的圖像進行對比度增強等用以修補圖像劣化的圖像處理等。由於藉由圖像處理部的處理而避免圖像劣化，因此可形成高品質的放射線透射圖像。

又，較佳為，本發明的放射線攝影裝置進而具備線形近似曲線算出部算出線形近似曲線，該線形近似曲線表示上述偏移值獲取部獲取的偏移值、與上述溫度測定部測定到的上述放射線 檢測部的溫度的相關關係，且上述偏移修正用資料獲取部基於上述線形近似曲線算出部算出的上述線形近似曲線，而算出較上述溫度測定部測定到的上述放射線檢測部的溫度低的溫度的偏移值。

根據本發明的放射線攝影裝置，線形近似曲線算出部獲取表示偏移值與放射線檢測部的溫度的相關關係的線形近似曲線。而且，偏移修正用資料獲取部基於線形近似曲線而算出較溫度測定部測定到的放射線檢測部的溫度低的溫度的偏移值。線形近似曲線以基於溫度的一次函數表示。因此實際上可容易地基於獲取偏移值時的溫度，而算出較溫度測定部測定到的放射線檢測部的溫度低的溫度的偏移值。即，無須使放射線檢測部的溫度為實際上低的溫度。其結果，可縮短形成放射線透射圖像所需的時間，因此可高效地進行放射線透射圖像的攝影。

又，本發明的放射線攝影裝置較佳為，上述線形近似曲線算出部針對上述各檢測元件而算出上述線形近似曲線，上述偏移修正用資料獲取部針對上述各檢測元件，基於上述各檢測元件的上述線形近似曲線而算出較上述溫度測定部測定到的上述放射線檢測部的溫度低的溫度的偏移值。

根據本發明的放射線攝影裝置，使用線形近似曲線而算出較溫度測定部測定到的放射線檢測部的溫度低的溫度的偏移值。該情形時，針對每個檢測元件而算出線形近似曲線，並基於所算出的線形近似曲線，而針對每個檢測元件來算出較溫度測定 部測定到的放射線檢測部的溫度低的溫度的偏移值。因此即便在偏移值獲取部獲取的偏移值針對每個檢測元件而言大幅變動的情形時，亦可針對各檢測元件而更準確地算出較溫度測定部測定到的放射線檢測部的溫度低的溫度的偏移值。因此，可在所形成的放射線透射圖像中，更確實地避免由過度的偏移修正所引起的圖像資訊的不足。

又，本發明的放射線攝影裝置較佳為，上述線形近似曲線算出部基於上述偏移值獲取部針對2個以上的上述檢測元件而獲取的偏移值的平均值、及上述溫度測定部測定到的上述放射線檢測部的溫度而算出平均線形近似曲線，上述偏移修正用資料獲取部基於上述線形近似曲線算出部算出的上述平均線形近似曲線，而算出較上述溫度測定部測定到的上述放射線檢測部的溫度低的溫度的偏移值。

根據本發明的放射線攝影裝置，線形近似曲線算出部算出偏移值獲取部針對2個以上的檢測元件而獲取的偏移值的平均值。而且基於偏移值的平均值、及溫度測定部測定到的上述放射線檢測部的溫度而算出平均線形近似曲線。

而且，偏移修正用資料獲取部使用所算出的平均線形近似曲線，針對各檢測元件而算出較溫度測定部測定到的放射線檢測部的溫度低的溫度的偏移值。即，構成偏移修正用資料的所有偏移值是基於同一線形近似曲線而算出。因此，為算出較溫度測定部測定到的放射線檢測部的溫度低的溫度的偏移值，無須針對 各檢測元件來算出不同的線形近似曲線，並使用該等線形近似曲線來進行計算。其結果，可容易且迅速地算出較溫度測定部測定到的放射線檢測部的溫度低的溫度的偏移修正資料，因此可更高效地進行放射線攝影。

又，亦可為使用平均線形近似曲線而算出較溫度測定部測定到的溫度低的任意溫度的偏移值，將藉由自算出平均線形近似曲線的畫素的畫素值減去該值而得的偏移差分值自偏移修正圖像的各畫素減去來製作偏移修正圖像。

可自線形近似曲線算出各畫素的每1℃溫度的畫素值的變動值，因此可自偏移修正圖像製作任意溫度的偏移修正圖像。例如，製作較偏移值獲取部獲取的畫素值低2℃的狀態的偏移修正圖像的情形時，只要自各畫素減去每1℃的畫素值的變動值的2倍的值即可。

又，本發明的放射線攝影裝置較佳為進而具備算出指示部，對上述偏移修正用資料獲取部的上述偏移修正用資料的算出進行指示。

根據本發明的放射線攝影裝置，算出指示部對偏移修正用資料獲取部進行指示以執行偏移修正用資料的算出。藉由具有該構成，可於任意時序算出較溫度測定部測定到的放射線檢測部的溫度低的溫度的偏移值分佈，並可將其作為偏移修正用資料來獲取。因此，即便於在完成X射線攝影的準備後放射線檢測部的溫度急遽變化而偏移值大幅變動的情形時等，亦可再次算出偏移 修正用資料。因此，即便在放射線檢測部的溫度急遽變化後，亦可形成更佳的X射線透射圖像。

根據本發明的放射線攝影裝置，偏移修正用資料獲取部基於偏移值獲取部獲取的偏移值、及線形近似曲線算出部算出的線形近似曲線，而算出較溫度測定部測定到的放射線檢測部的溫度低的溫度的偏移值。偏移值根據溫度而變動，當溫度變低時偏移值亦變低。即，當使用較溫度測定部測定到的放射線檢測部的溫度低的溫度的偏移值進行偏移修正時，使用更低值的偏移值，因此不會對檢測元件的輸出資料過度地進行偏移修正。

1‧‧‧放射線攝影裝置

3‧‧‧頂板

5‧‧‧X射線管(放射線源)

7‧‧‧FPD(放射線檢測部)

9‧‧‧X射線照射控制部

11‧‧‧FPD控制部

13‧‧‧信號處理部

15‧‧‧顯示部

17‧‧‧溫度感測器(溫度測定部)

19‧‧‧主控制部

21‧‧‧主動矩陣基板

23‧‧‧閘極驅動器

25‧‧‧放大器

27‧‧‧AD轉換器

29‧‧‧偏移值獲取部

31‧‧‧線形近似曲線算出部

33‧‧‧修正用資料獲取部(偏移修正用資料獲取部)

35‧‧‧偏移修正部

37‧‧‧再修正部

A‧‧‧檢測元件

M‧‧‧被檢體

L‧‧‧線形近似曲線

PA‧‧‧偏移值分佈

PB‧‧‧偏移值分佈

S1~S6‧‧‧步驟

圖1是說明實施例1的放射線攝影裝置的整體構成的方塊圖。

圖2是說明實施例1的FPD的概略構成的俯視圖。

圖3是說明實施例1的放射線攝影裝置的動作的流程圖。

圖4是表示實施例1中檢測元件Agh的偏移值與FPD 7的溫度的相關關係的曲線圖。

圖5是表示實施例1中實測溫度的偏移值分佈與最低運轉溫度的偏移值分佈的相關關係的曲線圖。

實施例1

以下，參照圖式對本發明的實施例1進行說明。再者， 使用X射線作為放射線的一例進行說明。

<整體構成的說明>

實施例1的放射線攝影裝置1如圖1所示，具備頂板3、X射線管5、FPD 7、X射線照射控制部9、FPD控制部11、信號處理部13、顯示部15、溫度感測器(sensor)17、及主控制部19。

頂板3載置採用水平姿勢的被檢體M。X射線管5與FPD 7隔著頂板3而對向配置。X射線管5對被檢體M照射X射線。FPD 7檢測透射被檢體M的X射線，並將檢測出的X射線轉換為電荷信號。X射線照射控制部9連接於X射線管5，控制自X射線管5照射的X射線量、及照射X射線的時序等。FPD控制部11連接於FPD 7，控制將在FPD 7轉換的電荷信號、即X射線檢測信號讀出的動作。

信號處理部13對自FPD 7讀出的X射線檢測信號進行處理並輸出圖像輸出信號。顯示部15設置在信號處理部13的後段，將自信號處理部13輸出的圖像輸出信號作為放射線透射圖像而顯示。溫度感測器17連接於FPD 7，測定FPD 7的溫度。X射線照射控制部9、FPD控制部11、信號處理部13、及顯示部15各者的動作由主控制部19總括地控制。再者，X射線管5相當於本發明的放射線源，FPD 7相當於本發明的放射線檢測部。溫度感測器17相當於本發明的溫度測定部。

進而，FPD 7如圖2所示，具備主動矩陣基板21、閘極驅動器23、放大器(amplifier)25、及類比數位(analog and digital， AD)轉換器27。主動矩陣基板21連接於閘極驅動器23及放大器25。又，在主動矩陣基板21上二維矩陣狀地排列有多個檢測元件A。實施例1中，檢測元件A排列為縱4,096×橫4,096左右的二維矩陣狀。但在圖2中，簡化圖示為檢測元件A排列為縱3×橫3的二維矩陣狀。

檢測元件A將照射的X射線轉換為電荷並作為電荷資訊加以累積。閘極驅動器23連接於檢測元件A，讀出檢測元件A中所累積的電荷資訊。放大器25連接於AD轉換器27，將自檢測元件A讀出的電荷資訊放大並輸出至AD轉換器27。AD轉換器27將輸入的電荷資訊自類比信號轉換為數位信號，並作為檢測元件A的輸出資料而輸出至信號處理部13。再者，閘極驅動器23、放大器25、及AD轉換器27各者的動作由FPD控制部11總括地控制。

信號處理部13如圖1所示，進而具備偏移值獲取部29、線形近似曲線算出部31、修正用資料獲取部33、偏移修正部35、及再修正部37。偏移值獲取部29與AD轉換器27連接，X射線非照射時的檢測元件A的輸出資料被輸入至偏移值獲取部29。偏移值獲取部29基於X射線非照射時的檢測元件A的輸出資料而獲取偏移值。

線形近似曲線算出部31設置於偏移值獲取部29的後段，且與溫度感測器17連接。線形近似曲線算出部31基於偏移值獲取部29獲取的偏移值、及溫度感測器17測定到的FPD 7的 溫度而算出線形近似曲線。修正用資料獲取部33設置於線形近似曲線算出部31的後段。修正用資料獲取部33基於所算出的線形近似曲線而算出任意溫度的偏移值，並將該偏移值作為偏移修正用資料加以記憶。

偏移修正部35與AD轉換器27及修正用資料獲取部33連接，X射線照射時的檢測元件A的輸出資料被輸入至偏移修正部35。偏移修正部35使用修正用資料獲取部33獲取的偏移修正用資料，而對檢測元件A的輸出資料進行偏移修正。再修正部37設置於偏移修正部35的後段，對已進行偏移修正的檢測元件A的輸出資料進行用以修補圖像的劣化的再修正。檢測元件A的輸出資料經過偏移修正及再修正後作為圖像輸出信號而輸出至顯示部15。再者，再修正部37相當於本發明的圖像處理部。

<動作的說明>

接下來，對實施例1的放射線攝影裝置的動作進行說明。圖3是說明實施例1的放射線攝影裝置的動作的流程圖。再者，在加以區別地稱呼各檢測元件A的情形時，附上行數g、列數h而記載為檢測元件Agh。

步驟S1(獲取偏移值)

首先，在接通放射線攝影裝置的電源之後獲取偏移值。即在未自X射線管5照射X射線的狀態下，自FPD控制部11對閘極驅動器23輸出閘極動作信號，對放大器25輸出放大器動作信號，且對AD轉換器27輸出AD轉換信號。

閘極驅動器23基於閘極動作信號而讀出各檢測元件A中所累積的電荷資訊。此時，讀出的電荷資訊為由雜訊成分或檢測器的暗電流等引起的電荷資訊。而且，從各檢測元件A讀出的電荷資訊被發送至放大器25。放大器25基於放大器動作信號而將所發送的電荷資訊放大並輸出至AD轉換器27。AD轉換器27基於AD轉換信號而將所輸入的電荷資訊自類比信號轉換為數位信號。經轉換的電荷資訊作為各檢測元件A的輸出資料而被發送至偏移值獲取部29。

偏移值獲取部29獲取所發送的輸出資料作為檢測元件A的偏移值。而且，偏移值獲取部29針對各檢測元件A獲取偏移值，並記憶針對各檢測元件A而獲取的一連串的偏移值(偏移值分佈)。

又，溫度感測器17計測自檢測元件A讀出電荷資訊的時間點的FPD 7的溫度。然後，所計測的FPD 7的溫度資料被從溫度感測器17發送至偏移值獲取部29。偏移值獲取部29獲取所發送的FPD 7的溫度資料來作為與所獲取的偏移值對應的FPD 7的溫度資料並加以記憶。再者，在實測偏移值時的FPD 7的溫度(實測溫度)為t℃時，針對檢測元件Agh而獲取的偏移值設為以下的Ft(g，h)。

然後，反覆獲取偏移值及FPD 7的溫度資料。實施例1中獲取次數為4次，但亦可適當變更獲取次數。即，實施例1中獲取4種FPD 7的溫度資料與對應於FPD 7的溫度的偏移值的組 合。在適當地獲得FPD 7的溫度資料與所對應的偏移值分佈的組合的時間點，步驟S1的步驟結束。

步驟S2(線形近似曲線的算出)

在步驟S1的步驟結束之後，進行線形近似曲線的算出。即，使偏移值獲取部29獲取的各偏移值、及FPD 7的溫度資料向線形近似曲線算出部31發送。線形近似曲線算出部31基於所獲取的多個偏移值與對應於此的FPD 7的溫度資料的組合，而針對各檢測元件A算出表示溫度與偏移值的相關關係的線形近似曲線。在線形近似曲線中，溫度x及偏移值y藉由以下的(1)所示的一次函數表示。

y=ax+b(a、b為常數)...(1)

而且，線形近似曲線算出部31針對各檢測元件A而算出表示偏移值與溫度的相關關係的線形近似曲線。

步驟S3(獲取偏移修正用資料)

在針對各檢測元件A算出線形近似曲線之後，進行偏移修正用資料的算出。即，線形近似曲線算出部31算出的各線形近似曲線被發送至修正用資料獲取部33。修正用資料獲取部33基於所發送的各線形近似曲線，而算出較獲取偏移值時的FPD 7的溫度(以下設為實測溫度)低的溫度t_low下的偏移值。

t_low為較實測溫度低的任意溫度，但更理想為FPD 7可 運轉的最低溫度(以下設為最低運轉溫度)。實施例1中，修正用資料獲取部33算出最低運轉溫度的偏移值。又，實施例1中最低運轉溫度為10℃，但亦可適當變更最低運轉溫度。即，基於實測溫度t下的偏移值Ft(g，h)、及針對檢測元件Agh算出的線形近似曲線，而算出最低運轉溫度的偏移值F₁₀(g，h)。

此處，使用圖4對算出最低運轉溫度的偏移值F₁₀(g，h)的一例進行說明。圖4是表示檢測元件Agh的偏移值與FPD 7的溫度的相關關係的曲線圖。

首先，偏移值獲取部29是4次獲取偏移值分佈。而且，線形近似曲線算出部31基於偏移值獲取部29獲取的偏移值分佈、及FPD 7的溫度資料，而針對各檢測元件A算出線形近似曲線。圖4所示的例中，針對檢測元件Agh，表示FPD 7的溫度x℃與偏移值y的相關關係的線形近似曲線L是以y=166.56x+2479.3的一次函數表示。即，最低運轉溫度的偏移值F₁₀(g，h)成為代入x=10的情形時的y的值即4144.9。

修正用資料獲取部33針對所有檢測元件A以相同的計算方法算出最低運轉溫度的偏移值。其結果，獲取最低運轉溫度的偏移值分佈。而且修正用資料獲取部33獲取最低運轉溫度的偏移值分佈作為偏移修正用資料並加以記憶。

偏移值根據FPD 7的溫度而變動。即當FPD 7的溫度變高時偏移值變高，當溫度變低時偏移值變低。因此，構成偏移修正用資料的偏移值F₁₀(g，h)是指檢測元件Agh可取得的偏移值 的最低值。即基於作為實測溫度的t℃下的偏移值分佈(圖5中以符號PA表示)及線形近似曲線，而算出最低運轉溫度的偏移值分佈(圖5中以符號PB表示)。而且，最低運轉溫度的偏移值分佈成為較在實測溫度t下獲取的偏移值分佈低的值。

修正用資料獲取部33獲取偏移修正用資料並加以記憶，藉此步驟S3的步驟結束。再者，自步驟S1至步驟S3的步驟是在自對放射線攝影裝置接通電源後至完成X射線攝影準備而可照射X射線為止的期間進行。

步驟S4(照射X射線、讀出電荷資訊)

獲取偏移修正用資料，在放射線攝影裝置中完成X射線攝影的準備之後照射X射線。自X射線管5對被檢體M照射的X射線透射被檢體M，並入射至構成FPD 7的各檢測元件A。各檢測元件A將入射的X射線轉換為電荷並作為電荷資訊而加以累積。

然後，自FPD控制部11對閘極驅動器23、放大器25、及AD轉換器27輸出信號。閘極驅動器23、放大器25、及AD轉換器27基於輸出的信號而讀出各檢測元件A中所累積的電荷資訊。讀出的電荷資訊作為各檢測元件A的輸出資料而發送至偏移修正部35。再者，將在照射X射線時讀出的檢測元件Agh的輸出資料設為E(g，h)。

步驟S5(偏移修正)

在讀出電荷資訊之後，修正用資料獲取部33將最低運轉溫度的偏移值分佈、即偏移修正用資料發送至偏移修正部35。而且， 偏移修正部35對所發送的各檢測元件A的輸出資料進行偏移修正，且算出偏移修正值。即，檢測元件Agh的偏移修正值G(g，h)藉由以下的(2)所示的計算式求出。

G(g，h)=E(g，h)-F₁₀(g，h)...(2)

偏移修正部35根據(2)所示的計算式，而針對各檢測元件A算出偏移修正值。算出的偏移修正值被發送至再修正部37。

如已於步驟S3中所述般，構成偏移修正用資料的偏移值F₁₀(g，h)是指偏移值Ft(g，h)可取得的最低值。即，實際上包含於檢測元件Agh的輸出資料中的偏移值，肯定高於用於偏移修正的偏移值F₁₀(g，h)。因此，藉由實施例1的偏移修正，可確實避免由過度修正所引起的圖像成分的不足。

步驟S6(再修正)

再修正部37基於所發送的偏移修正值而形成圖像。在步驟S5中減去的偏移值F₁₀(g，h)為低的值，因此僅靠步驟S5的偏移修正無法自檢測元件A的輸出資料完全除去由暗電流等引起的成分。因此在使用偏移修正值而形成的圖像中產生圖像劣化的情形多。

由此，再修正部37對基於偏移修正值而形成的圖像進行增強對比度等圖像處理。藉由圖像處理，偏移修正後的圖像成為對比度被增強的高品質的圖像。進行圖像處理而修補了圖像劣 化的圖像藉由再修正部37發送至顯示部19。顯示部19將所發送的圖像作為X射線透射圖像加以顯示。

如此，根據實施例1的放射線攝影裝置，線形近似曲線算出部31針對各檢測元件A算出線形近似曲線，修正用資料獲取部33使用各線形近似曲線而算出較實測溫度低的溫度的偏移值分佈。所算出的最低運轉溫度的偏移值分佈被作為偏移修正用資料而加以記憶。

而且，偏移修正部35對照射X射線時的檢測元件的輸出資料，使用偏移修正用資料進行偏移修正。而且在偏移修正後，藉由再修正部37而進行增強對比度的圖像處理。藉由使用較實測溫度低的溫度的偏移值，可確實避免由過度的偏移修正所引起的圖像資訊的不足。而且，由偏移修正的不足所引起的對比度的降低藉由利用再修正部37的圖像處理而消除，從而獲取高品質的圖像。因此，實施例1的放射線攝影裝置可獲取圖像資訊無不足且高品質的X射線透射圖像。

又，偏移修正用資料的算出是在自對放射線攝影裝置接通電源後至完成X射線攝影的準備為止的期間進行。因此不會因偏移修正用資料的算出而妨礙X射線攝影。而且，自對放射線攝影裝置接通電源後至完成X射線攝影的準備為止，FPD 7的溫度變動。即，偏移值獲取部29在涉及廣範圍的多個溫度獲取對應的偏移值。其結果，線形近似曲線算出部31可算出準確的線形近似曲線，因此作為較實測溫度低的溫度的偏移值而算出的數值成為 更接近於實測值的值。

而且，實施例1的放射線攝影裝置中，不管FPD 7的溫度如何，均始終將較實測溫度低的溫度的偏移值用作偏移修正用資料。因此，無須如先前般根據FPD 7的溫度的變動而更新偏移修正用資料。其結果，可縮短X射線透射圖像的形成所需的時間，因此實施例1的放射線攝影裝置可進行更高效的X射線攝影。

實施例2

接下來，參照圖式對本發明的實施例2的放射線攝影裝置的動作進行說明。再者，實施例2的放射線攝影裝置的整體構成與實施例1的放射線攝影裝置的整體構成相同。又，對與實施例1的放射線攝影裝置的動作共通的部分省略詳細說明。又，實施例2的流程圖與實施例1相同而為如圖3所示般。

步驟S1(獲取偏移值)

首先，在放射線攝影裝置接通電源之後獲取偏移值。即在未自X射線管5照射X射線的狀態下，偏移值獲取部29與實施例1相同地獲取4種實測溫度t與實測溫度t下的偏移值分佈的組合。

步驟S2(算出線形近似曲線)

線形近似曲線算出部31算出在4種實測溫度t的各者下獲取的偏移值分佈中、針對2個以上的代表性檢測元件A所獲取的偏移值的平均值。將在實測溫度t下算出的偏移值的平均值設為Ft(Ave)。而且，線形近似曲線算出部31基於所算出的4種平均值Ft(Ave)與實測溫度t的組合，而算出表示Ft(Ave)與實測溫 度t的相關關係的線形近似曲線f(t)。線形近似曲線f(t)藉由以下的(3)所示的一次函數表示。

f(t)=ct+d(c、d為常數)...(3)

再者，實施例2中算出的線形近似曲線f(t)相當於本發明的平均線形近似曲線。

步驟S3(獲取偏移修正用資料)

線形近似曲線算出部31將所算出的線形近似曲線f(t)發送至修正用資料獲取部33。修正用資料獲取部33對所發送的線形近似曲線f(t)算出最低運轉溫度的假定畫素值P。實施例2中，最低運轉溫度與實施例1同樣設為10℃，因此關於假定畫素值P，以下的(4)所示的計算式成立。

P=10c+d...(4)

其次，修正用資料獲取部33獲取偏移值的平均值Ft(Ave)與假定畫素值P的差分，並算出差分畫素值Q。即，關於差分畫素值Q，以下的(5)所示的計算式成立。

Q=Ft(Ave)-P=Ft(Ave)-(10c+d)...(5)

而且，修正用資料獲取部33算出自實測溫度t下所獲取的檢測元件A的偏移值減去差分畫素值Q而得的值。進而，修正用資料獲取部33針對所有檢測元件A進行自偏移值減去差分畫素值Q的計算，獲取算出的各值作為最低運轉溫度的偏移值分佈並加以記憶。

步驟S4(照射X射線、讀出電荷資訊)

獲取偏移修正用資料，在放射線攝影裝置中，在完成X射線攝影的準備之後照射X射線。累積於各檢測元件A中的電荷資訊被讀出，並作為各檢測元件A的輸出資料而發送至偏移修正部35。

步驟S5(偏移修正)

記憶於修正用資料獲取部33的最低運轉溫度的偏移值分佈作為偏移修正用資料而發送至偏移修正部35。偏移修正部35使用所發送的偏移值分佈，針對各檢測元件A算出偏移修正值。算出的偏移修正值被發送至再修正部37。

步驟S6(再修正)

在偏移修正值發送至再修正部37之後，再修正部37與實施例1相同地，對基於偏移修正值而形成的圖像進行增強對比度的圖像處理。進行了圖像處理的圖像藉由再修正部37而發送至顯示部19。顯示部19將所發送的圖像作為X射線透射圖像加以顯示。

藉由具有上述構成，在實施例2的放射線攝影裝置中，構成偏移修正用資料的所有偏移值是基於同一線形近似曲線而算出。因此，為算出最低運轉溫度的偏移值，無須針對各檢測元件 而使用不同的線形近似曲線，並使用該等線形近似曲線進行計算。其結果，可利用更簡單的構成獲取最低運轉溫度的偏移修正資料。即，可更容易且更迅速地算出偏移修正用資料，因此可更高效地進行放射線攝影。

本發明並不限定於上述實施方式，可如下述般實施變形。

(A)上述各實施例中，自步驟S1至步驟S3的步驟是在自對放射線攝影裝置接通電源後至完成X射線攝影的準備為止的期間進行，但並不限定於此。即，亦可預先在放射線攝影裝置的出廠階段進行偏移值的獲取、線形近似曲線的算出、及偏移修正用資料的獲取的一部分或全部。可藉由預先算出線形近似曲線或偏移修正用資料而進一步縮短X射線攝影所需的時間。又，即便在緊急需要X射線攝影的情況下，亦可使用預先算出的線形近似曲線等形成較佳的X射線透射圖像。

(B)又，上述各實施例中，亦可設為以任意時序進行步驟S1至步驟S3的步驟的構成。即亦可設為如下構成：進而設置由開關、按鈕等構成的算出指示部，藉由將算出指示部操作為開啟的狀態而進行步驟S1至步驟S3的步驟。藉由具有該構成，可在任意時序算出最低運轉溫度的偏移值分佈，從而可獲取偏移修正用資料。因此，即便在完成X射線攝影的準備之後FPD 7的溫度急劇變化而偏移值大幅變動的情形時等，亦可再度算出偏移修正用資料。因此，即便在FPD 7的溫度急劇變化之後，亦可形 成更佳的X射線透射圖像。

(C)上述各實施例中，使用使放射線直接轉換為電荷的直接轉換型的FPD，但並不限定於此。即，亦可應用將放射線轉換為光，進而使轉換光轉換為電荷的間接轉換型的FPD。

(D)上述各實施例中為醫用裝置，但本發明亦可應用於工業用或原子力用的裝置。

1‧‧‧放射線攝影裝置

3‧‧‧頂板

5‧‧‧X射線管(放射線源)

7‧‧‧FPD(放射線檢測部)

9‧‧‧X射線照射控制部

11‧‧‧FPD控制部

13‧‧‧信號處理部

15‧‧‧顯示部

17‧‧‧溫度感測器(溫度測定部)

19‧‧‧主控制部

29‧‧‧偏移值獲取部

31‧‧‧線形近似曲線算出部

33‧‧‧修正用資料獲取部(偏移修正用資料獲取部)

35‧‧‧偏移修正部

37‧‧‧再修正部

M‧‧‧被檢體

Claims (6)

1. 一種放射線攝影裝置，具備：放射線源；放射線檢測部，排列有檢測元件，所述檢測元件檢測自所述放射線源所照射的放射線並輸出放射線圖像；偏移值獲取部，基於放射線非照射時的所述檢測元件的輸出資料而獲取偏移值；溫度測定部，測定所述放射線檢測部檢測到所述放射線圖像時的溫度；偏移修正用資料獲取部，獲取偏移修正用資料，所述偏移修正用資料對應於較所述溫度測定部測定到的所述放射線檢測部的溫度低的溫度的所述偏移值；及偏移修正部，使用所述偏移修正用資料進行所述放射線圖像的偏移修正。
2. 如申請專利範圍第1項所述的放射線攝影裝置，進而具備圖像處理部，對已藉由所述偏移修正部而進行偏移修正的所述檢測元件的輸出資料進行用以修補圖像的劣化的處理。
3. 如申請專利範圍第1項或第2項所述的放射線攝影裝置，其中進而具備線形近似曲線算出部，算出線形近似曲線，該線形近似曲線表示所述偏移值獲取部獲取的偏移值、與所述溫度測定 部測定到的所述放射線檢測部的溫度的相關關係，且所述偏移修正用資料獲取部基於所述線形近似曲線算出部算出的所述線形近似曲線，而算出較所述溫度測定部測定到的所述放射線檢測部的溫度低的溫度的偏移值。
4. 如申請專利範圍第3項所述的放射線攝影裝置，其中所述線形近似曲線算出部針對所述各檢測元件而算出所述線形近似曲線，所述偏移修正用資料獲取部針對所述各檢測元件，基於所述各檢測元件的所述線形近似曲線而算出較所述溫度測定部測定到的所述放射線檢測部的溫度低的溫度的偏移值。
5. 如申請專利範圍第3項所述的放射線攝影裝置，其中所述線形近似曲線算出部基於所述偏移值獲取部針對2個以上的所述檢測元件而獲取的偏移值的平均值、及所述溫度測定部測定到的所述放射線檢測部的溫度，而算出平均線形近似曲線，所述偏移修正用資料獲取部基於所述線形近似曲線算出部算出的所述平均線形近似曲線，而算出較所述溫度測定部測定到的所述放射線檢測部的溫度低的溫度的偏移值。
6. 如申請專利範圍第1項或第2項所述的放射線攝影裝置，進而具備算出指示部，對所述偏移修正用資料獲取部的所述偏移修正用資料的算出進行指示。