TWI524239B - 判斷觸碰位置的方法 - Google Patents

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TWI524239B TW099134411A TW99134411A TWI524239B TW I524239 B TWI524239 B TW I524239B TW 099134411 A TW099134411 A TW 099134411A TW 99134411 A TW99134411 A TW 99134411A TW I524239 B TWI524239 B TW I524239B
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Description

判斷觸碰位置的方法
本發明是有關於一種觸控技術，且特別是有關於一種於光學式觸控面板上判斷觸碰位置的方法。
隨著資訊技術、無線行動通訊和資訊家電的快速發展與應用，為了達到操作更人性化的目的，許多資訊產品已由傳統的鍵盤或滑鼠等輸入裝置，轉變為使用觸控面板作為輸入裝置。目前，觸控面板大致可區分為電阻式觸控面板、電容式觸控面板、聲波式觸控面板、電磁式觸控面板及光學式觸控面板等。
以光學式觸控面板為例，已有部分的光學式觸控面板導入不可見光光源與不可見光感測器來輔助判斷使用者於觸控面上的定位。更清楚來說，當使用者的手指接觸到觸控面時，所導入之不可見光源所發出的不可見光光束會反射。如此一來，位於手指與觸控面之接觸點下方的不可見光感測器就會接收到一感測訊號，藉以判斷出使用者於光學式觸控面板的觸碰位置。然而，當外界環境光過強時，此類的光學式觸控面板就很容易發生誤動作。
有鑒於此，本發明提供一種判斷觸碰位置的方法，其可使光學式觸控面板不易受到環境光的影響而發生誤動 作。
本發明提供一種判斷觸碰位置的方法，適於一光學式觸控面板，其中光學式觸控面板內建有多數個以矩陣方式排列且各別對應之可見光與不可見光的感測器，而此方法包括：讀取每一可見光與不可見光感測器的感測訊號；根據第一設定參數轉換每一可見光感測器的感測訊號為第一二進位碼，並且根據第二與第三設定參數轉換每一不可見光感測器的感測訊號為第二二進位碼；以及將所有第一二進位碼與所有第二二進位碼進行一及運算，藉以獲得多個邏輯運算值來判斷一使用者於光學式觸控面板上所觸碰的位置。
基於上述，在本發明之判斷觸碰位置的方法中，藉由將轉換自可見光感測器之感測訊號與不可見光感測器之感測訊號的第一二進位碼和第二二進位碼進行一及運算後就可準確地判斷出使用者於光學式觸控面板上所觸碰的位置。如此一來，不但可使觸碰位置的判斷不易受到外界環境光的影響，而且更可以降低光學式觸控面板受環境光之影響而發生誤動作的機率。
為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
圖1為本發明一實施例之判斷觸碰位置方法所適用的光學式觸控面板示意圖。請參照圖1，在本實施例中，光 學式觸控面板100可包括多數個以矩陣方式排列且各別對應之可見光的感測器Sv與不可見光的感測器Si。舉例而言，光學式觸控面板100可包括4×4個以矩陣方式排列之可見光的感測器Sv與4×4個以矩陣方式排列之不可見光的感測器Si，且各可見光的感測器Sv與不可見光的感測器Si相對應。較佳地是，各相對之可見光的感測器Sv與不可見光的感測器Si位於同一畫素區域P內，如圖2中所示。
請參照圖1，在本實施例中，光學式觸控面板100更可包括背光源110。此背光源110可具有可見光發光元件112與不可見光發光元件114。可見光發光元件112適於向觸控面St(也是顯示面)發出一可見光光束L以供顯示之用。不可見光發光元件114適於向觸控面St發出一不可見光光束L’以供判斷觸碰位置之用。
在本實施例中，光學式觸控面板100可進一步地包括下偏光板120、薄膜電晶體陣列基板130、顯示介質層140、彩色濾光片150以及上偏光板160。下偏光板120配置於背光源110上方。薄膜電晶體陣列基板130配置於下偏光板120上方，此薄膜電晶體陣列基板130可具有上述之不可見光的感測器Si、可見光的感測器Sv、多個(薄膜)電晶體(未繪示)、多條資料線(未繪示)以及多條埽描線(未繪示)。彩色濾光片150配置於薄膜電晶體陣列基板130上方。顯示介質層140配置於薄膜電晶體陣列基板130與彩色濾光片150之間。上偏光板160配置於彩色濾光片150上方。
然而，本實施例之判斷觸碰位置的方法並不僅限於適用在上述之光學式觸控面板100的結構中。亦即：任何包括可見光與不可見光感測器的光學式觸控面板，本實施例之判斷觸碰位置的方法就適用。
基於上述，圖3為本發明一實施例之判斷觸碰位置的方法流程圖。請參照圖3，此方法至少適用於圖1的光學式觸控面板100，且其包括：讀取每一可見光與不可見光感測器的感測訊號(步驟S301)；根據第一設定參數轉換每一可見光感測器的感測訊號為第一二進位碼，並且根據第二與第三設定參數轉換每一不可見光感測器的感測訊號為第二二進位碼(步驟S302)；以及將所有第一二進位碼與所有第二二進位碼進行一及運算(步驟S303)，藉以獲得多個邏輯運算值來判斷使用者於光學式觸控面板上所觸碰的位置。
更清楚來說，可見光感測器Sv與不可見光感測器Si之感測訊號Vv、Vi可能會受其他訊號(例如輸入資料線的訊號)干擾而產升雜訊(noise)。因此，在本實施例之判斷觸碰位置方法中，可以在讀取每一可見光感測器Sv與不可見光感測器Si的感測訊號時，藉由平均濾波手段來消除每一可見光感測器Sv與不可見光感測器Si之感測訊號Vv、Vi的雜訊。
舉例而言，當光學式觸控面板100的資料寫入方式為點反轉(dot inversion)時，可將光學式觸控面板100中之每一可見光感測器之感測訊號Vv(例如512單位之類比轉數位訊號)平均濾波為與其相鄰之上下左右四個可見光感測 器之感測訊號VU、VD、VL、VR(例如510、525，525、510單位之類比轉數位訊號)的平均V’(例如516單位之類比轉數位訊號)，而有效地消除可見光感測器Sv之感測訊號Vv的雜訊，如圖4中所示。當然，亦可藉由相同的方式以將不可見光感測器Si之感測訊號Vi的雜訊有效地消除。然，本發明不限於此，在其他實施例中，亦可藉由其他有效之濾除雜訊的手段來消除可見光感測器Sv之感測訊號Vv與不可見光感測器Si之感測訊號Vi的雜訊。
值得一提的是，消除可見光感測器Sv之感測訊號Vv與不可見光感測器Si之感測訊號Vi的雜訊並不限於在讀取感測訊號Vv、Vi時進行。在其他實施例中，亦可在讀取感測訊號Vv、Vi後，轉換感測訊號Vv、Vi之前，進行消除可見光感測器感Sv之測訊號Vv以及不可見光感測器Si之感測訊號Vi的雜訊。一且端視實際設計需求而論。
另外，在光學式觸控面板100的製造過程中，可能會產生缺陷(defect)，進而造成可見光感測器Sv與不可見光感測器Si的損毀。亦即：部分的可見光感測器Sv與不可見光感測器Si無法產生感測訊號Vv、Vi。因此，本實施例之判斷觸碰位置的方法更可以在轉換每一可見光感測器Sv之感測訊號Vv與不可見光感測器Si之感測訊號Vi之前，針對已損毀之可見光感測器Sv與不可見光感測器Si的感測訊號Vv、Vi進行一修補機制。
更清楚來說，請參照圖5，在本實施例中，可依據部分未損毀之可見光感測器Sv的感測訊號Vv來修補已損毀 之可見光感測器Svb的感測訊號，以及依據部分未損毀之不可見光感測器Si之感測訊號Vi來修補已損毀之不可見光感測器Sib之感測訊號。較佳地是，以鄰近於已損毀之可見光感測器Svb的可見光感測器Sv之感測訊號Vv來修補已損毀之可見光感測器Svb之感測訊號，並且以鄰近於已損毀之不可見光感測器Sib的不可見光感測器Si之感測訊號Vi來修補已損毀之不可見光感測器Sib的感測訊號。
舉例而言，若在光學式觸控面板100的製造過程中產生線缺陷(line defect)，而造成某一行之已損毀的可見光感測器與Svb與不可見光感測器Sib之感測訊號Vv、Vi無法產生的情形(如圖5中所示)。此時，可運用位於已損毀之可見光感測器Svb左右兩側之未損毀之可見光感測器Sv的感測訊號Vv進行內插(interpolation)，藉以獲得一內插值，並以此內插值當做已損毀之可見光感測器Svb的感測訊號Vv。同樣地，可運用位於已損毀之不可見光感測器Sib左右兩側之未損毀之不可見光感測器Si的感測訊號Vi進行內插，藉以獲得一內插值，並以此內插值當做已損毀之不可見光感測器Sib的感測訊號Vi。如此一來，即便光學式觸控面板100在其製造過程中產生缺陷，仍可順利地讀取所有可見光感測器Sv與不可見光感測器Si的感測訊號Vv、Vi，藉以作為判斷觸碰位置的依據。
於本實施例中，在讀取完每一可見光感測器Sv與不可見光感測器Si的感測訊號Vv、Vi之後，即可根據第一設定參數Vth1轉換每一可見光之感測器Sv的感測訊號Vv為 第一二進位碼B1(binary code)，並且根據第二與第三設定參數Vth2、Vth3轉換每一不可見光之感測器Si的感測訊號Vi為第二二進位碼B2(binary code)。
圖6中示出本發明一實施例之可見光感測器Sv之感測訊號Vv轉換為第一二進位碼B1的示意圖。請參照圖6，舉例而言，當可見光感測器Sv的感測訊號Vv大於或等於第一設定參數Vth1(例如為500單位之類比轉數位訊號，500ADC)(但並不限制於此)時，則可見光感測器Sv的感測訊號Vv會被轉換為例如邏輯“0”的第一二進位碼B1。另外，當可見光之感測器Sv的感測訊號Vv小於第一設定參數Vth1(例如為500單位之類比轉數位訊號，500ADC)時，則可見光感測器Sv的感測訊號Vv會被轉換為例如邏輯“1”的第一二進位碼B1。
另一方面，圖7中示出本發明一實施例之不可見光感測器Si的感測訊號Vi轉換為第二二進位碼B2的示意圖。請參照圖7，舉例而言，當不可見光感測器Si的感測訊號Vi小於或等於第二設定參數Vth2或者大於或等於第三設定參數Vth3時，則不可見光之感測器Si的感測訊號Vi會被轉換為例如邏輯“0”的第二二進位碼B2。另外，當不可見光之感測器Si的感測訊號Vi大於第二設定參數Vth2且小於第三設定參數Vth3時，則不可見光之感測器Si的感測訊號Vi會被轉換為例如邏輯“1”的第二二進位碼B2。
於此，圖8為本發明一實施例之感測訊號Vv、Vi轉換為二進位碼(binary code)B1、B2，並且進行及運算(AND operation)的示意圖。請同時參照圖6~圖8，舉例而言，在一低環境光強度(例如400流明)的環境下，當使用者手指F觸碰光學式觸控面板100之一觸碰區域Rt時，此觸碰區域Rt下的可見光感測器Sv的感測訊號Vv例如為150單位~200單位之類比轉數位訊號(150ADC~200ADC)。依照圖6所示，此觸碰區域Rt下的可見光感測器Sv之感測訊號Vv會被轉換為邏輯“1”的第一二進位碼B1(在圖8中以黑色代表)。
另外，在光學式觸控面板100中被使用者手指F遮蔽但未觸碰之陰影區RS，其下之可見光感測器Sv的感測訊號Vv例如為50單位之類比轉數位訊號(50ADC)。依照圖6所示，此陰影區RS下的可見光感測器Sv之感測訊號Vv會被轉換為邏輯“1”的第一二進位碼B1(在圖8中以黑色代表)。再者，在光學式觸控面板100中未被使用者手指F遮蔽或觸碰之環境光區R，其下之可見光感測器Sv的感測訊號Vv例如為100單位之類比轉數位訊號(100ADC)。依照圖6所示，此環境光區R下的可見光感測器Sv的感測訊號Vv會被轉換為邏輯“1”的第一二進位碼B1(在圖8中以黑色代表)。
與此同時，觸碰區域Rt下的不可見光感測器Si之感測訊號Vi例如為120~150單位之類比轉數位訊號(120ADC~150ADC)。依照圖7所示，此觸碰區域Rt下的不可見光感測器Si之感測訊號Vi會被轉換為邏輯“1”的第二二進位碼B2(在圖8中以黑色代表)。另外，陰影區RS 下之不可見光感測器Si的感測訊號Vi例如為小於(100)單位之類比轉數位訊號((100)ADC)。依照圖7所示，此陰影區RS下的不可見光感測器Si的感測訊號Vi會被轉換為邏輯“0”的第二二進位碼B2(在圖8中以白色代表)。再者，環境光區R下之不可見光感測器Si的感測訊號Vi例如為小於(100)單位之類比轉數位訊號((100)ADC)。依照圖7所示，此環境光區R下的不可見光感測器Si的感測訊號Vi會被轉換為邏輯“0”的第二二進位碼B2(在圖8中以白色代表)。
在獲得所有感測訊號Vv、Vi各別對應的二進位碼B1與B2後，將所有第一二進位碼B1與所有第二二進位碼B2進行一及運算(AND operation)，便可獲得圖8中之邏輯運算值欄位的多個邏輯運算值C(黑色代表0，白色代表1)。由圖8可知，邏輯運算值C為“1”的區域(黑色區域)即為使用者手指F實質上觸碰的區域；而邏輯運算值C為“0”的區域(白色區域)即為使用者手指F未觸碰的區域。換句話說，依據所有第一二進位碼B1與所有第二二進位碼B2進行一及運算(AND operation)所獲得的邏輯運算值C，就可判斷使用者於光學式觸控面板100上所觸碰的區域。
相似的，圖9為本發明一實施例之感測訊號Vv、Vi轉換為二進位碼(binary code)B1、B2，並且進行及運算(AND operation)的示意圖。請同時參照圖6、圖7與圖9，舉例而言，在一中環境光強度(例如2000流明)的環境下，當使用者手指F觸碰光學式觸控面板100之一觸碰區域Rt時， 此觸碰區域Rt下的不可見光感測器Si的感測訊號Vi例如為120~150單位之類比轉數位訊號(120ADC~150ADC)。依照圖7所示，此觸碰區域Rt下的不可見光感測器Si的感測訊號Vi會被轉換為邏輯“1”的第二二進位碼B2(在圖9中以黑色代表)。
另外，在光學式觸控面板100中被使用者手指F遮蔽但未觸碰之陰影區RS，其下之不可見光感測器Si的感測訊號Vi例如為80單位之類比轉數位訊號(80ADC)。依照圖7所示，此陰影區RS下的不可見光之感測器Si之感測訊號Vi會被轉換為邏輯“0”的第二二進位碼B2(在圖9中以白色代表)。然而，因此時之環境光強度較強，使得環境光區R下的不可見光感測器Si接收到較多來自環境光的不可見光，從而使得環境光區R下之不可見光感測器Si的感測訊號Vi較大，例如為120~150單位之類比轉數位訊號(120~150ADC)。依照圖7所示，此環境光區R下的不可見光之感測器Si的感測訊號Vi會被轉換為邏輯“1”的第二二進位碼B2(在圖9中以黑色代表)。
值得注意的是，此時若僅依上述所有由不可見光感測器Si之感測訊號Vi轉換來的第二二進位碼B2，去判斷使用者手指F觸碰之區域，則會發生誤判的情形。更明白地說，若依上述之所有第二二進位碼B2去判斷使用者手指F實質上觸碰之區域，則會將使用者手指F實質上觸碰之區域Rt及未觸碰之環境光區R皆判斷為使用者手指F接觸之區域，進而使得光學式觸控面板100發生誤動作。
但，在本實施例中，可藉由將所有第一二進位碼B1(以圖8所述及的方式來獲取)與所有第二二進位碼B2進行及運算，藉以獲得多個邏輯運算值C來有效地判斷使用者於光學式觸控面板100上所觸碰的區域。更清楚地說，透過所有第一二進位碼B1與所有第二二進位碼B2的及運算，可將對應環境光區R之邏輯“1”的第二二進位碼B2變成“0”的邏輯運算值C。以至於，此時邏輯運算值C為1的區域(黑色區域)即正確地代表出使用者實質上觸碰的區域。換句話說，藉由此將所有第一二進位碼B1與所有第二二進位碼B2進行及運算的動作，可有效地降低環境光的影響，從而正確地計算出使用者實質上觸碰的區域，進而降低光學式觸控面板100發生誤動作的機率。
除此之外，圖10為本發明一實施例之感測訊號Vv、Vi轉換為二進位碼(binary code)B1、B2，並且進行及運算(AND operation)的示意圖。請同時參照圖6、圖7與圖10，舉例而言，在一高環境光強度(例如5000流明)的環境下，當使用者手指F觸碰光學式觸控面板100之一觸碰區域Rt時，此觸碰區域Rt下的不可見光感測器Si之感測訊號Vi例如為130~160單位之類比轉數位訊號(130ADC~160ADC)。依照圖7所示，此觸碰區域Rt下的不可見光感測器Si之感測訊號Vi會被轉換為邏輯“1”的第二二進位碼B2(在圖10中以黑色代表)。然而，因此時之環境光強度很強，使得使用者手指F邊緣(未與光學式觸控面板100觸碰)下的區域Re接收到較多來自環境光的不可見 光，進而使得區域Re下之不可見光感測器Si的感測訊號Vi較大，例如為130~160單位之類比轉數位訊號(130~160ADC)。依照圖7所示，此區域Re下的不可見光感測器Si的感測訊號Vi亦會被轉換為邏輯“1”的第二二進位碼B2(在圖10中以黑色代表)。
相似地，此時若依上述所有由不可見光感測器Si之感測訊號Vi轉換來的第二二進位碼B2，去判斷使用者手指接觸之區域，則會發生誤判的情形。更詳細地說，若依上述所第二二進位碼B2去判斷使用者手指F接觸之區域，則會將使用者手指F觸碰區域Rt及使用者手指F邊緣(未與光學式觸控面板100觸碰)下的區域Re皆判斷使用者手指F實質上觸碰之區域，進而使得光學式觸控面板100發生誤動作。
但，即使在高環境光強度下，本實施例亦可藉由將所有第一二進位碼B1(以圖8所述及的方式來獲取)與所有第二二進位碼B2進行及運算，藉以有效地降低環境光的影響，從而正確地判斷使用者實質上觸碰之區域。進一步地說，即使在環境光發生巨大變化的情形下，本實施例仍可依據所有第一二進位碼B1與所有第二二進位碼B2進行及運算所獲得的邏輯運算值C以正確地判斷出使用者實質上觸碰之區域，藉以大幅地降低環境光的影響。
在此值得一提的是，在本實施例中，上述之轉換可見光感測器Sv之感測訊號Vv為第一二進位碼B1、轉換不可見光感測器Si之感測訊號Vi為第二二進位碼B2、將所有 第一二進位碼B1與所有第二二進位碼B2進行及運算之步驟的動作可藉由軟體的形式來達成，但本發明不以此為限，亦即在其他實施例中，可藉由如圖11所示之硬體架構來完成上述步驟的動作。更清楚來說，可以利用比較器CP1來轉換可見光感測器Sv之感測訊號Vv為第一二進位碼B1；利用比較器CP2來轉換不可見光感測器Si之感測訊號Vi為第二二進位碼B2；以及利用反及閘(NAND gate)與反向器(inverter)以將所有第一二進位碼B1與所有第二二進位碼B2進行及運算，從而輸出邏輯運算值C。
此外，在將所有第一二進位碼B1與所有第二二進位碼B2進行及運算以判斷出使用者實質上觸碰區域後，可進一步地對此觸碰區域進行一中心點運算(步驟S304)，藉以獲得使用者於光學式觸控面板100上所觸碰之位置的一觸碰參數。在本實施例中，例如可利用連通區域標定(conneted component labeling)方法進行中心點運算。然，本發明不限於此，在其他實施例中，亦可利用其他合適之方法進行中心點運算。而在對觸碰區域進行中心點運算之後，可進一步地判斷此觸碰區域是否大於一預設區域(步驟S305)。當判斷出觸碰區域大於預設區域時(亦即“是”)，則將具有邏輯“1”的所有邏輯運算值C設定為邏輯“0”(步驟S306)，否則(亦即“否”)輸出觸碰參數(步驟S307)以使光學式觸控面板100進行相應的運作。
更清楚來說，圖12為本發明一實施例之光學式觸控面板操作示意圖。請參照圖12，舉例而言，當使用者整隻手 H置於光學式觸控面板100之觸控面St，且於步驟S305已判斷出觸碰區域(Area)大於前述預設區域(例如(50~70)%之觸控面St的面積，但並不限制於此)，則此時具有邏輯“1”的所有邏輯運算值C會被設定為邏輯“0”，亦即視使用者未想對光學式觸控面板100進行操作。換言之，當使用者並非真的要操作光學式觸控面板100，而只是將手放置於光學式觸控面板觸控面St上時，光學式觸控面板100便不會視使用者欲進行操作而發生誤動作的情況。
综上所述，在本發明之判斷觸碰位置的方法中，藉由將轉換自可見光感測器之感測訊號與不可見光感測器之感測訊號的第一二進位碼和第二二進位碼進行一及運算後就可準確地判斷出使用者於光學式觸控面板上所觸碰的位置。如此一來，不但可使觸碰位置的判斷不易受到外界環境光的影響，而且更可以降低光學式觸控面板受環境光之影響而發生誤動作的機率。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
100‧‧‧光學式觸控面板
110‧‧‧背光源
112、114‧‧‧發光元件
120‧‧‧下偏光板
130‧‧‧薄膜電晶體陣列基板
140‧‧‧顯示介質層
150‧‧‧彩色濾光片
160‧‧‧上偏光板
Sv、Si、Svb、Sib‧‧‧感測器
ST‧‧‧觸控面
L、L’‧‧‧光束
P、Rt、RS、R、Re‧‧‧區域
Vv、VU、VD、VL、VR、V’、Vi、‧‧‧類比轉數位訊號
Vth1、Vth2、Vth3‧‧‧設定參數
B1、B2‧‧‧二進位碼
C‧‧‧邏輯運算值
F‧‧‧手指
H‧‧‧手
圖1為本發明一實施例之判斷觸碰位置方法所適用的光學式觸控面板示意圖。
圖2為本發明一實施例之光學式觸控面板上視示意 圖。
圖3為本發明一實施例之判斷觸碰位置的方法流程圖。
圖4為本發明一實施例之平均濾波方法示意圖。
圖5為本發明一實施例之修補機制方法示意圖。
圖6中示出本發明一實施例之可見光感測器之感測訊號轉換為第一二進位碼的示意圖。
圖7中示出本發明一實施例之不可見光感測器之感測訊號轉換為第二二進位碼的示意圖。
圖8、圖9、圖10為本發明一實施例之感測訊號轉換為二進位碼，並且進行及運算的示意圖。
圖11為本發明一實施例之轉換二進位碼與進行及運算的硬體架構示意圖。
圖12為本發明一實施例之光學式觸控面板操作示意圖。
S301~S307‧‧‧本發明一實施例之判斷觸碰位置的方法流程圖各步驟

Claims (11)

  1. 一種判斷觸碰位置的方法，適於一光學式觸控面板，其中該光學式觸控面板內建有多數個以矩陣方式排列之可見光與不可見光的感測器，該些可見光感測器各別配置以感測可見光，該些不可見光感測器各別配置以感測不可見光，而該方法包括：讀取所有可見光與不可見光之感測器的感測訊號；根據一第一設定參數轉換每一可見光之感測器的感測訊號為一第一二進位碼，並且根據一第二與一第三設定參數轉換每一不可見光之感測器的感測訊號為一第二二進位碼；以及將所有第一二進位碼所形成的一第一二進位矩陣與所有第二二進位碼所形成的一第二二進位矩陣進行一及運算(AND operation)，藉以獲得多個邏輯運算值來判斷一使用者於該光學式觸控面板上所觸碰的位置。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之判斷觸碰位置的方法，其中當該些邏輯運算值皆為邏輯“0”時，則表示該使用者並未於該光學式觸控面板上進行觸碰。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之判斷觸碰位置的方法，其中當該些邏輯運算值中有部分為邏輯“1”時，則表示該使用者有於該光學式觸控面板上進行觸碰。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之判斷觸碰位置的方法，其中具有邏輯“1”之所有邏輯運算值所對應的可見光與不可見光之感測器在該光學式觸控面板上涵蓋至少一觸碰 區域，而該方法更包括：對該觸碰區域進行一中心點運算，藉以獲得該使用者於該光學式觸控面板上所觸碰之位置的一觸碰參數。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之判斷觸碰位置的方法法，其中對該觸碰區域進行該中心點運算之後，該方法更包括：判斷該觸碰區域是否大於一預設區域。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之判斷觸碰位置的方法，其中當判斷出該觸碰區域大於該預設區域時，則將具有邏輯“1”的所有邏輯運算值設定為邏輯“0”，否則輸出該觸碰參數以致使該光學式觸控面板進行相應的運作。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之判斷觸碰位置的方法，其中在讀取每一可見光與不可見光之感測器的感測訊號時，該方法更包括：藉由一平均濾波手段來消除每一可見光與不可見光之感測器的感測訊號之雜訊。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之判斷觸碰位置的方法，其中在轉換每一可見光與不可見光之感測器的感測訊號之前，該方法更包括：對已損毀之可見光與不可見光之感測器的感測訊號進行一修補機制。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之判斷觸碰位置的方法，其中該修補機制包括：依據部分未損毀之可見光的感測器之感測訊號來修補 已損毀之可見光的感測器之感測訊號；以及依據部分未損毀之不可見光的感測器之感測訊號來修補已損毀之不可見光的感測器之感測訊號。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之判斷觸碰位置的方法，其中：所述部分未損毀之可見光的感測器鄰近於已損毀之可見光的感測器；以及所述部分未損毀之不可見光的感測器鄰近於已損毀之不可見光的感測器。
  11. 如申請專利範圍第10項所述之判斷觸碰位置的方法，其中：修補過後之已損毀之可見光的感測器之感測訊號至少為所述部分未損毀之可見光的感測器之感測訊號的內插值；以及修補過後之已損毀之不可見光的感測器之感測訊號至少為所述部分未損毀之不可見光的感測器之感測訊號的內插值。
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