TWI486609B - 多點觸控測試系統及其治具 - Google Patents

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TWI486609B
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Shou Lun Chang
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Description

多點觸控測試系統及其治具
本發明係有關於一種觸控測試系統及其治具，其尤指一種多點觸控測試系統及其治具。
按，電子設備發展史中，鍵盤、滑鼠與觸控板等輸入介面的出現，解決了輸入控制的問題。不過，這些輸入介面所佔空間不小，例如，筆記型電腦或手機一半體積都被鍵盤佔據。若能省下鍵盤空間，自然能提升產品可攜性，最可行的方式，就是直接於面板以觸控方式進行操作。觸控面板確實能取代大多數鍵盤、滑鼠功能，並賦與使用者更直覺、便利的操作體驗；以更大的面板替代鍵盤，還能設計出更輕薄、時尚造型；加上完全採用固態面板技術，不需擔心鍵盤、滑輪…等機械零件故障的問題。
從技術原理來區別觸控面板，其可分為電阻技術觸控面板、電容技術觸控面板、紅外線技術觸控面板、表面聲波技術觸控面板、電磁技術觸控面板與光學技術觸控面板等。因此目前觸控面板開發的在考量兼具耐用性、成本、反應速度與便利性下，電阻式觸控面板與電容式觸控面板成為市場上的主力產品。
近年來，受到智慧型手機貼心的觸控介面，讓智慧型手機有機會贏得更多人的青睞。而多點觸控功能的出現，更造成使用介 面的新革命，用戶能以更直觀的方式使用應用該多點觸控面板的電子產品。
習知單點觸控測試治具係利用一致動器(例如：馬達、油壓缸)帶動一測試頭對面板作單點觸控測試；若以上述測試方式測試多點觸控面板，需要使用多個致動器帶動對應之測試頭對面板進行多點觸控測試，因該些測試頭間無相連結並由不同的致動器帶動該些測試頭，如此使每一測試頭按壓於面板之壓力不平均，此外整個測試治具的結構複雜，其體積較為龐大並佔用空間。
有鑒於上述問題，本發明提供一種多點觸控測試系統及其治具，其複數測試頭設置於一活動支架上，然後利用至少一驅動模組帶動活動支架，活動支架同時帶動該些測試頭，並使該些測試頭按壓於面板之壓力均相同，同時也簡化其測試治具。
本發明之目的，係提供一種多點觸控測試系統及其治具，多點觸控測試治具可使多個測試頭同時按壓一待測試物，以進行多點觸控測試。
本發明之目的，係提供一種多點觸控測試系統及其治具，多點觸控測試治具可使每一測試頭按壓於待測試物之壓力均相同，而且多點觸控測試治具之結構簡單。
為了達到上述所指稱之各目的與功效，本發明係揭示了一種多點觸控測試治具，其係包含：一承載平台，其承載一待測試物；一活動支架，其設置於該承載平台；複數測試頭，其設置於該活動支架，並對應該待測試物之一觸控區域；以及至少一驅動模 組，其驅動該活動支架作往復運動，該些測試頭隨該活動支架之運動同時按壓該觸控區域。
本發明提供一種多點觸控測試系統，其係包含：一多點觸控測試治具，其承載一待測試物；以及一監控裝置，其電性連接該多點觸控測試治具及該待測試物，該監控裝置啟動該多點觸控測試治具，該多點觸控測試治具對該待測試物作多點觸控測試，該待測試物產生至少一訊號，並傳送該訊號至該監控裝置，該監控制裝置依據該訊號判斷該待測試物通過測試。
1‧‧‧多點觸控測試系統
10‧‧‧多點觸控測試治具
101‧‧‧承載平台
101a‧‧‧第一側邊
101b‧‧‧第二側邊
1011‧‧‧第一安裝部
1012‧‧‧凹槽
1013‧‧‧第一開口
1014‧‧‧第二開口
1015‧‧‧第一承載平台
1016‧‧‧第二承載平台
1017‧‧‧角度調整機構
102‧‧‧活動支架
1021‧‧‧框體
1021a‧‧‧第一側邊
1021b‧‧‧第二側邊
10211‧‧‧第二安裝部
10212‧‧‧第一穿槽
10213‧‧‧第三安裝部
10214‧‧‧第二穿槽
10214a‧‧‧上側壁
10214b‧‧‧下側壁
1022‧‧‧滑動柱
10221‧‧‧止擋件
1023‧‧‧固定件
10231‧‧‧第一卡接部
10232‧‧‧第二卡接部
10233‧‧‧第一孔洞
10234‧‧‧第一鎖固件
10235‧‧‧第一穿孔
1024‧‧‧彈性件
1025‧‧‧定位件
10251‧‧‧固定部
10252‧‧‧第二穿孔
1026‧‧‧第二鎖固件
103‧‧‧測試頭
1031‧‧‧本體
1031a‧‧‧第一端
1031b‧‧‧第二端
10311‧‧‧容置槽
10312‧‧‧第三卡接部
10313‧‧‧卡勾
1032‧‧‧按壓部
10321‧‧‧按壓本體
10322‧‧‧導電件
1033‧‧‧彈性體
104‧‧‧驅動模組
1041‧‧‧固定座
1041a‧‧‧第一表面
1041b‧‧‧第二表面
1042‧‧‧致動器
10421‧‧‧心軸
10422‧‧‧控制電路
1043‧‧‧驅動件
10431‧‧‧驅動本體
10431a‧‧‧第一表面
10431b‧‧‧第二表面
10432‧‧‧凸部
10433‧‧‧連接部
1044‧‧‧第三鎖固件
12‧‧‧監控裝置
2‧‧‧待測試物
21‧‧‧觸控區域
H‧‧‧水平方向
V‧‧‧垂直方向
D‧‧‧間距
I‧‧‧第一方向
II‧‧‧第二方向
第一圖：其為本發明之第一實施例之測試系統的方塊圖；第二圖：其為本發明之第一實施例之測試系統的使用方塊圖；第三圖：其為本發明之第一實施例之測試系統的流程圖；第四圖：其為本發明之第二實施例之測試系統的流程圖；第五圖：其為本發明之第三實施例之測試治具的示意圖；第六圖：其為本發明之第三實施例之測試治具的使用狀態圖；第七圖：其為本發明之第三實施例之活動支架的示意圖；第八圖：其為本發明之第三實施例之活動支架組裝於承載平台之組裝圖；第九圖：其為本發明之第三實施例之測試頭設置於活動支架之組裝圖；第十圖：其為本發明之第八圖之A區域的組裝圖；第十一圖：其為本發明之第三實施例之測試頭的示意圖；第十二圖：其為本發明之第三實施例之驅動模組組裝於活動支架 的組裝圖；第十三A至十三E圖：其為本發明之第三實施例之測試治具的使用狀態圖；以及第十四圖：其為本發明之第四實施例之測試治具的示意圖。
為使 貴審查委員對本發明之特徵及所達成之功效有更進一步之瞭解與認識，謹佐以各實施例及配合詳細之說明，說明如後：
習知應用單點觸控測試治具對面板進行多點觸控測試時，不但無法使每一測試頭按壓於面板之壓力均相同，而且使測試治具之結構變得複雜。為了解決上述問題，本發明提供一種多點觸控測試系統及其治具，其可使每一測試頭按壓於面板之壓力均相同，並簡化測試治具之結構。
請參閱第一圖，其為本發明之第一實施例之測試系統的方塊圖；如圖所示，本實施例提供一種多點觸控測試系統1，多點觸控測試系統1係包含一多點觸控測試治具10及一監控裝置12，監控裝置12可為一電腦，其電性連接多點觸控測試治具10，以啟動多點觸控測試治具10進行多點觸控測試。請一併參閱第二圖及第三圖，其為本發明之第一實施例之測試系統的使用方塊圖及流程圖；如圖所示，當多點觸控測試系統1進行多點觸控測試時，先執行步驟S10，將一待測試物2設置於多點觸控測試治具10，然後監控裝置12電性連接待測試物2。其中待測試物2可為一觸控面板 或一筆記型電腦，若待測試物2為觸控面板，監控裝置12直接連接至觸控面板之一控制電路；若待測試物2為一筆記型電腦，監控裝置12連接筆記型電腦之連接埠，以接收待測試物2所產生之訊號。
接著執行步驟S12，監控裝置12啟動多點觸控測試治具10，使多點觸控測試治具10對待測試物2進行多點觸控測試。然後執行步驟S14，待測試物2產生至少一訊號，並傳送訊號至監控裝置12。最後執行步驟S16，監控裝置12依據待測試物2所產生之訊號產生一測試結果，並依據測試結果判斷待測試物2是否通過測試，待測試物2通過測試之條件為待測試物2經多次按壓可達到多點觸控功能，而且不造成待測試物2損壞，即待測試物2具有良好的耐壓性。當監控裝置12判斷待測試物2無法通過測試時，則重覆執行步驟S12至S16，再確認待測試物2之測試結果是否正確。當監控裝置12判斷待測試物2通過測試時，即停止多點觸控測試。
若待測試物2為筆記型電腦，本發明亦提供另一種測試方式，請參閱第四圖，其為本發明之第二實施例之測試系統的流程圖；如圖所示，使用本實施例之測試流程，須先於待測試物2內安裝一測試程式，當進行多點觸控測試時，先執行步驟S20，將待測試物2設置於多點觸控測試治具10，然後監控裝置12電性連接待測試物2，並啟動測試程式。接著執行步驟S22，監控裝置12啟動多點觸控測試治具10，使多點觸控測試治具10對待測試物2進行多點觸控測試。然後執行步驟S24，待測試物2產生至少一訊號，測試程式依據訊號產生一測試結果，並傳送訊號至監控裝置12。最後執行步驟S26，監控裝置12依據待測試物2所產生之測試結 果判斷待測試物2是否通過測試。本實施例之測試流程與第一實施例之測試流程不同在於，待測試物2本身即可產生測試結果，監控裝置12直接依據測試結果停止或繼續多點觸控測試，其無須處理待測試物2所產生之訊號。
下述詳細說明本發明之多點觸控測試治具10的結構，請參閱第五圖，其為本發明之第三實施例之測試治具的示意圖；如圖所示，本實施例之多點觸控測試治具10係包含一承載平台101、一活動支架102、複數測試頭103及至少一驅動模組104。活動支架102設置於承載平台101，該些測試頭103設置於活動支架102，驅動模組104設置於活動支架102。請一併參閱第六圖，其為本發明之第三實施例之測試治具的使用狀態圖；如圖所示，當待測試物2進行多點觸控測試時，先將待測試物2置放於承載平台101，待測試物2之一觸控區域21位於該些測試頭103下方，接著啟動驅動模組104以驅動活動支架2作往復運動，即活動支架2之運動方向與觸控區域21相互垂直，活動支架2帶動該些測試頭103同時按壓觸控區域21，待測試物2產生對應之訊號，以依據訊號判斷待測試物2是否通過多點觸控測試。
下述詳細說明活動支架102、測試頭103及驅動模組104之結構及其連結關係，請一併參閱第七圖至九圖，其為本發明之第三實施例之活動支架的示意圖、活動支架組裝於承載平台之組裝圖及測試頭設置於活動支架之組裝圖；如圖所示，活動支架102係包含方形之一框體1021、複數滑動柱1022、複數固定件1023、複數彈性件1024及至少一定位件1025。框體1021具有相對應之一對第一側邊1021a及一對第二側邊1021b，本實施例之該些滑動柱 1022分別設置於框體1021之二第一側邊1021a，每一第一側邊1021a上之該些滑動柱1022之數量相同，並相互對應，而且本實施例之該些滑動柱1022中四個滑動柱1022剛好位於框體1021之四個角落。
承載平台101具有相對應之二第一側邊101a及相對應之二第二側邊101b，框體1021係透過該些固定件1023固定於承載平台101，須先將該些固定件1023分別設置於承載平台101之二第一側邊101a，並對應位於框體1021之二第一側邊1021a的該些滑動柱1022。其中承載平台101之二第一側邊101a分別設有一第一安裝部1011，本實施例之第一安裝部1011具有一凹槽1012，凹槽1012具有一第一開口1013及一第二開口1014。二第一安裝部1011之二第一開口1013的開口方向為水平方向H，二第二開口1014之開口方向為垂直方向V，並位於承載平台101之底部。
請一併參閱第十圖，其為本發明之第八圖之A區域的組裝圖；如圖所示，然每一固定件1023具有一第一卡接部10231及一第二卡接部10232，第二卡接部10232連接第一卡接部10231。當每一固定件1023設置於承載平台101之二第一側邊101a時，第一卡接部10231從第一開口1013進入，並固定於第一安裝部1011之凹槽1012，而第二卡接部10232位於承載平台101之外部，並對應框體1021之滑動柱1022。其中第一卡接部10231具有一第一孔洞10233，第一孔洞10233對應第二開口1014，然後一第一鎖固件10234穿過第二開口1014，並鎖固於第一孔洞10233，以固定第一卡接部10231於凹槽1012內，上述僅為第一卡接部10231固定於凹槽1012之一實施例，亦可利用其他固定方式，於此不再贅述。
待該些固定件1023設置於承載平台101之後，框體1021設置於承載平台101，該些滑動柱1022穿設對應之固定件1023的第二卡接部10232，其中第二卡接部10232具有一第一穿孔10235，第一穿孔10235之貫穿方向為垂直方向V，每一滑動柱1022貫穿對應之第二卡接部10232之第一穿孔10235，並於第一穿孔10235內滑動，以使框體1021位於承載平台101之上方。
為了支撐框體1021於承載平台101之上方，並使框體1021與承載平台101間保持一間距D，本實施例係於位於框體1021之四角落的該些滑動柱1022更分別套設一彈性件1024(如：彈簧)，並位於對應之固定件1023與該框體1021之間。彈性件1024係透過本身之彈力支撐框體1021於承載平台101之上方，並使框體1021與承載平台101間維持固定之間隔D。然設有彈性件1024之滑動柱1022設有一止擋件10221，止擋件10221位於固定件1023之第二卡接部10232的下方，當滑動柱1022往上移動時，止擋件10221受固定件1023阻擋，以防止滑動柱1022脫離第二卡接部10232。
框體1021設置於承載平台101之後，安裝該些測試頭103於活動支架102，其先將該些測試頭103設置於定位件1025，然後將定位件1025設置於框體1021，其中框體1021的二第一側邊1021a分別設置一第二安裝部10211，本實施例之每一第二安裝部10211具有一第一穿槽10212，第一穿槽10212貫穿對應之第一側邊1021a，而定位件1025之兩端分別具有一固定部10251，每一固定部10251具有一第二穿孔10252。當定位件1025設置於框體1021時，定位件1025之二固定部10251分別位於對應之第二安裝部10211的上方，使每一固定部10251之第二穿孔10252對應第二安裝部 10211之第一穿槽10212，最後二第二鎖固件1026分別穿設對應之第二穿孔10252及第一穿槽10212，以使定位件1025固定於框體1021，進而使設置於定位件1025之該些測試頭103對應位於承載平台101之待測試物。
請一併參閱第十一圖，其係本發明之第三實施例之測試頭的示意圖；如圖所示，每一測試頭103包含一本體1031、一按壓部1032及一彈性體1033，本體1031具有一第一端1031a及一第二端1031b，第一端1031a具有一容置槽10311，容置槽10311係往第二端1031b延伸，按壓部1032穿設於本體1031之容置槽10311，彈性體1033設置於容置槽10311內，並抵接於按壓部1032。當按壓部1032往容置槽10311縮入時，彈性體1033可使往容置槽10311縮入之按壓部1032從容置槽10311伸出並回復至原始位置。
然本體1031具有一第三卡接部10312，本實施例之第三卡接部10312為一對卡勾10313，二卡勾10313相互對應，當測試頭103設置於定位件1025時，測試頭103之二卡勾10313勾設於定位件1025上。本實施例係設置二定位件1025於框體1021，而且每一定位件1025設置一測試頭103，其中定位件1025及測試頭103之數量及位置係依據使用者需求進行調整，例如：可設置單一定位件1025，並於定位件1025上設置複數個測試頭103，於此不再贅述。
上述每一測試頭103之按壓部1032係包含一按壓本體10321及一導電件10322，按壓本體10321為金屬材質(如：銅)，而導電件10322設置於按壓本體10321，尤其必須覆蓋對應待測試物之按壓本體10321的表面，即導電件10322對應待測試物之觸控區域。然 導電件10322之材質為導電泡棉，如此使該些測試頭103可模擬人按壓待測試物之狀態。
復參閱第五圖，待活動支架102設置於承載平台101後，設置至少一驅動模組104於活動支架102，以驅動活動支架102作往復運動，使活動支架102帶動該些測試頭103按壓待測試物之觸控區域，進而對待測試物進行多點觸控測試。本實施例係設置二個驅動模組104，二驅動模組104分別設置於活動支架102之框體1021的二第一側邊1021a，如此二驅動模組104可同時帶動框體1021，使活動支架102帶動該些測試頭103同時按壓待測試物之觸控區域，使該些測試頭103按壓於待測試物之壓力均相同。
請一併參閱第十二圖，其為本發明之第三實施例之驅動模組組裝於活動支架的組裝圖；如圖所示，每一驅動模組104包含一固定座1041、一致動器1042及一驅動件1043，固定座1041具有一第一表面1041a及一第二表面1041b，致動器1042設置於第一表面1041a，並具有一心軸10421，心軸10421穿設固定座1041。驅動件1043設置於固定座1041之第二表面1041b，並與心軸10421連接，如此致動器1042之心軸10421帶動驅動件1043作旋轉運動。然驅動件1043具有一驅動本體10431及一凸部10432，本實施例之驅動本體10431為一圓柱體，其具有一第一表面10431a及一第二表面10431b，第一表面10431a之中心具有一連接部10433，連接部10433連接致動器1042之心軸10421，凸部10432係從第二表面10431b向外延伸。
當驅動模組104設置於對應之框體1021的第一側邊1021a時，框體1021之第一側邊1021a設有一第三安裝部10213，第三安裝部 10213具有一第二穿槽10214，第二穿槽10214貫穿框體1021之第一側邊1021a，並與第二安裝部10211之第一穿槽10212相互垂直。驅動模組104之驅動件1043的凸部10432穿設於第第二穿槽10214，同時固定座1041利用一第三鎖固件1044鎖固於對應之固定件1023的第二卡接部10232，以固定驅動模組104於承載平台101上。當然固定座1041也可直接透過第三鎖固件1044鎖固於承載平台101上，以將固定座1041設置於承載平台101，於此不再贅述。其中致動器1042具有一控制電路10422，控制電路10422與監控裝置電性連接，使監控裝置啟動驅動模組104，進而啟動多點觸控測試治具10進行測試。
請一併參閱第十三A至第十三E圖，其為本發明之第三實施例之測試治具的使用狀態圖；如圖所示，先設定驅動模組104之驅動件1043的凸部10432之初始位置於A，凸部10432位於第二穿槽10214之中央，並抵接於第二穿槽10214之上側壁10214a及下側壁10214b接觸，此時凸部10432不會帶動活動支架102運動。
接著監控裝置啟動驅動模組104之致動器1042，致動器1042帶動驅動件1043作逆時針轉動，驅動件1043之凸部10432的位置由A轉至B，凸部10432持續抵壓第二穿槽10214之下側壁10214b，以帶動活動支架102往第一方向I移動，而且設置於活動支架102之該些滑動柱1022的該些彈性件1024產生壓縮狀態。當活動支架102往第一方向I移動時，設置於活動支架102之該些測試頭103亦往第一方向I移動，該些測試頭103之該些按壓部1032按壓待測試物2之觸控區域21，然該些按壓部1032往對應之本體1031縮入，並壓縮位於容置槽10311(請參閱第十一圖)內之彈性體 1033，以模擬人觸控的狀態。當該些按壓部1032按壓待測試物2之觸控區域21時，待測試物2產生至少一訊號，並傳送訊號至監控裝置，監控裝置依據訊號判斷待測試物2是否通過測試。
然後致動器1042持續帶動驅動件1043作逆時針轉動，驅動件1043之凸部10432的位置由B轉至C，凸部10432抵接於上側壁10214a，以帶動活動支架102往第二方向II移動，並回復至原始位置。此時設置於動活動支架102之該些滑動柱1022的該彈性件1024因壓縮而產生一回復力，而輔助驅動模組104帶動活動支架102回復至原始位置。同時該些測試頭103之該些按壓部1032離開待測試物2，位於每一測試頭103內之彈性體1033因壓縮而產生一回復力，將按壓部1032從本體1031推出，以使按壓部1032回復至原始位置。
接著致動器1042持續帶動驅動件1043作逆時針轉動，驅動件1043之凸部10432的位置由C轉至D，凸部10432持續抵接第二穿槽10214之上側壁10214a，並持續帶動活動支架102往第二方向II移動。然後致動器1042持續帶動驅動件1043作逆時針轉動，驅動件1043之凸部10432的位置由D轉至A，凸部10432抵壓第二穿槽10214之下側壁10214b，並帶動活動支架102往第一方向I移動，並使活動支架102回復至原始位置。然多點觸控測試治具10持續重覆上述步驟對待測試物2進行多點觸控測試。
請參閱第十四圖，其係本發明之第四實施例之測試治具的示意圖；如圖所示，本實施例之多點觸控測試治具10與上述實施例不同在於，本實施例之承載平台101具有一第一承載平台1015及一第二承載平台1016，第一承載平台1015樞接於第二承載平台 1016，使第一承載平台1015相對於第二承載平台1016翻轉。本實施例之承載平台101更包含一角度調整機構1017，角度調整機構1017設置第一承載平台1015與第二承載平台1016之樞接處，以控制第一承載平台1015相對於第二承載平台1016之翻轉角度。其中角度調整機構1017可為齒輪機構，亦可使用其他方式調整角度，於此不再贅述。
本實施例之承載平台101於使用時，第二承載平台1016承載待測試物2，然觸控區域21位於第一承載平台1015，然後依據觸控區域21與待測試物2間之角度而調整第一承載平台1015與第二承載平台1016間之角度。接著設有該些測試頭103之活動支架102設置於第一承載平台1015，以對應觸控區域21，並使該些測試頭103垂直於觸控區域21之表面。然活動支架102與第一承載平台1015之連結方式與第三實施例相同，於此不再贅述。然目前搖擺測試機台具有此種承載平台101，所以本發明之多點觸控測試治具可直接設置於目前搖擺測試機台，如此可以同時測試待測試物2之開關性能及多點觸控性能。
綜上所述，本發明係提供一種多點觸控測試系統及其治具，本發明之多點觸控測試治具將該些測試頭設置於活動支架，並利用驅動模組帶動活動支架作往復運動，該些測試頭同時按壓待測試物之觸控區域，並對待測試物作多點觸控測試，而活動支架同時帶動該些測試頭按壓待測試物，如此不但使該些測試頭按壓於待測試物之壓力均相同，而且也簡化多點觸控測試治具的結構。
惟以上所述者，僅為本發明之各實施例而已，並非用來限定本發明實施之範圍，舉凡依本發明申請專利範圍所述之形狀、構 造、特徵及精神所為之均等變化與修飾，均應包括於本發明之申請專利範圍內。
本發明係實為一具有新穎性、進步性及可供產業利用者，應符合我國專利法所規定之專利申請要件無疑，爰依法提出發明專利申請，祈 鈞局早日賜准專利，至感為禱。
1‧‧‧多點觸控測試系統
10‧‧‧多點觸控測試治具
12‧‧‧監控裝置

Claims (13)

  1. 一種多點觸控測試治具，其係包含：一承載平台，其承載一待測試物；一活動支架，其設置於該承載平台；複數測試頭，其設置於該活動支架，並對應該待測試物之一觸控區域；以及至少一驅動模組，其驅動該活動支架作往復運動，該些測試頭隨該活動支架之運動同時按壓該觸控區域，其中該些驅動模組係包含：一固定座，其設置於該承載平台；一致動器，其設置於該固定座；以及一驅動件，其設置於該固定座，並與該致動器及該活動支架連接，該致動器驅動該驅動件，該驅動件帶動該活動支架作往復運動，該活動支架帶動該些測試頭按壓該待測試物。
  2. 如申請專利範圍第l項所述之多點觸控測試治具，其中該活動支架係包含：一框體，其位於該承載平台之上方；複數滑動柱，其設置於該框體；以及複數固定件，其設置於該承載平台，該些滑動柱分別穿設對應之該固定件，並滑動於對應之該固定件；複數彈性件，其分別套設於對應之該滑動柱，並位於對應之該固定件與該框體之間；以及 至少一定位件，其設置於該框體，該些測試頭設置於該定位件，並對應該觸控區域。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之多點觸控測試治具，其中該活動支架更包含：至少一止擋件，其設置於對應之該滑動柱，並位於對應之該固定件的下方。
  4. 如申請專利範圍第2項所述之多點觸控測試治具，其中該承載平台具有一對第一側邊，每一第一側邊設有一第一安裝部，該些固定件設置於該二第一安裝部之二凹槽，並對應該些滑動柱。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之多點觸控測試治具，其中每一固定件係包含：一第一卡接部，其設置於該第一安裝部；以及一第二卡接部，其連接該第一卡接部，並位於該承載平台之外部，該滑動柱穿設於該第二卡接部。
  6. 如申請專利範圍第4項所述之多點觸控測試治具，其中該框體具有一對第一側邊，每一第一側邊設有一第二安裝部，該定位件之兩端分別具有一固定部，該二固定部分別固定於對應之該第二安裝部之一第一穿槽。
  7. 如申請專利範圍第2項所述之多點觸控測試治具，其中該框體具有一對第一側邊，每一第一側邊設有一第三安裝部，該驅動件具有一凸部，該凸部設置於該第三安裝部之一第二穿槽。
  8. 如申請專利範圍第2項所述之多點觸控測試治具，其中每一測試頭分別包含：一本體，其設置於該定位件；一按壓部，其穿設該本體；以及 一彈性體，其設置於該本體內，並抵接該按壓部。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之多點觸控測試治具，其中該按壓部係包含：一按壓本體，其穿設該本體；以及一導電件，其設置於該按壓本體，並對應該觸控區域。
  10. 如申請專利範圍第8項所述之多點觸控測試治具，其中該本體具有一第三卡接部，該第三卡接部設置於該定位件。
  11. 如申請專利範圍第1項所述之多點觸控測試治具，其中該承載平台係包含：一第一承載平台；以及一第二承載平台，其樞接於該第一承載平台，該第二承載平台承載該待測試物，該觸控區域位於該第一承載平台。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之多點觸控測試治具，其中該承載平台更包含：一角度調整機構，其設置於該第一承載平台與該第二承載平台間之樞接處，以調整該第一承載平台相對於該第二承載平台之翻轉角度。
  13. 一種多點觸控測試系統，其係包含：一多點觸控測試治具與一監控裝置，該多點觸控測試治具尚包含：一承載平台，其承載一待測試物；一活動支架，其設置於該承載平台；複數測試頭，其設置於該活動支架，並對應該待測試物之一觸控區域；及至少一驅動模組，電性連接該監控裝置與該待測試物，該監控裝 置啟動該驅動模組，該驅動模組驅動該活動支架作往復運動；其中，該些測試頭隨該活動支架之往復運動同時按壓該觸控區域，以對該待測試物作多點觸控測試，該待測試物產生至少一訊號，並傳送該訊號至該監控裝置，該監控制裝置依據該訊號判斷該待測試物通過測試；其中，該些驅動模組更包含：一固定座，其設置於該承載平台；一致動器，其設置於該固定座，並具有一控制電路，該控制電路與該監控裝置電性連接；以及一驅動件，其設置於該固定座，並與該致動器及該活動支架連接，該監控裝置啟透過該控制電路啟動該致動器，該致動器驅動該驅動件，該驅動件帶動該活動支架作往復運動，該活動支架帶動該些測試頭按壓該待測試物。
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