TWI482957B

TWI482957B - 陣列式光學檢測模組

Info

Publication number: TWI482957B
Application number: TW102109875A
Authority: TW
Inventors: Tse Hsun Yen; Hsin Che Lee
Original assignee: King Yuan Electronics Co Ltd
Priority date: 2013-03-20
Filing date: 2013-03-20
Publication date: 2015-05-01
Also published as: TW201437625A

Description

陣列式光學檢測模組

本發明係關於一種陣列式光學檢測模組，尤指一具有複數鏡頭搭配複數光源筒之陣列式光學檢測模組。

習知光學檢測技術如台灣發明專利公告字號第M356906號之發明「用於測試影像感測晶片之探針測試裝置」，其設計為單一燈光模組對應複數鏡頭，以進行物件光學檢測。如文中所述，該發明由上而下依序包含有燈光模組、霧面濾鏡、複數組鏡頭固定模組、固定座、電路板以及探針固定模組。該電路板上分佈著陣列式的複數個視窗，該複數個鏡頭固定模組被固定於該固定座處，每一個鏡頭固定模組之鏡頭組對應一個視窗，而探針固定模組則將數探針固定保持於電路板下方，藉此當燈光模組產生光線後，經霧面濾鏡使光線更為均勻分佈，並使光線能透過鏡頭組聚焦投射至電路板下方的測試區域，提供影像感測晶片最佳的測試環境。

上述之發明存在一缺點，即其單一燈光模組若產生損壞，所有鏡頭檢測即須停止測試，若更替燈光模組其費用亦相當昂貴。

發明人原因於此，本於積極發明發明之精神，亟思一種可以解決上述問題之「陣列式光學檢測模組」，幾經研究實驗終至完成本發明。

本發明之主要目的係在提供一種陣列式光學檢測模組，係藉由複數鏡頭對應複數光源筒以進行光學檢測，俾能使單一光源筒損壞時，僅更換一光源筒即可，有別於先前單一光源之設計，可節省費用。

本發明之另一目的係在於鏡頭模組化之設計俾使拆裝維修更加迅速方便，且設計容易修改。

本發明之又一目的係在於多組鏡頭可同時檢測多組物件，可增加檢測效率。

本發明一種陣列式光學檢測模組，包括：一載板、至少一承載座、複數鏡頭、一基座以及複數光源筒。載板具有複數開孔，而至少一承載座用以承載與複數開孔相對應之複數鏡頭，每一承載座係固設於載板上。基座設置有與複數開孔相對應之複數定位孔，固設於每一承載座的相對側。複數光源筒對應穿設固定於每一定位孔內，藉由每一光源筒對應每一鏡頭進行光學檢測。

本發明可更包括一測試基座夾設於載板與每一承載座間，亦即測試基座可鎖附於載板上，且每一承載座可鎖附於測試基座。

再者，前述每一承載座與每一鏡頭間可夾設有一鏡頭承座，亦即每一鏡頭可先設置於每一鏡頭承座上，再將每一鏡頭承座組裝於每一承載座上。

又，前述每一鏡頭承座可固設有一阻擋片，用以止擋每一鏡頭，俾使每一鏡頭損壞時容易進行替換。

另外，上述之每一鏡頭承座與每一阻擋片間可更夾設有一O型環，俾能隔絕灰塵進入每一鏡頭內。

前述每一承載座對應每一鏡頭承座，可設有至少一針孔組，其可具有複數針孔，每一針孔組可對應設有一探針座，且載板可設有對應探針座之複數導通點，俾使測試訊號得以輸出。

再者，前述基座之每一定位孔可具有一卡合部，每一光源筒包括一具有一凸部之光源筒本體，每一卡合部可用以卡合每一凸部，俾可防止每一光源筒組裝時掉落。

另外，前述之每一光源筒可具有一穿孔及一蓋設於穿孔之均光板，俾使打出之光源更加均勻。又，每一光源筒可更具有一光源板及一蓋設於光源板之下蓋，光源板可藉由螺栓或其他等效元件將下蓋固設於基座，俾可將光源導引至每一光源筒內。

1‧‧‧載板

11‧‧‧開孔

12‧‧‧導通點

20‧‧‧承載座

21‧‧‧針孔組

22‧‧‧鏡頭承座

23‧‧‧阻擋片

24‧‧‧O型環

25‧‧‧探針座

3‧‧‧鏡頭

4‧‧‧基座

41‧‧‧定位孔

42‧‧‧卡合部

5‧‧‧光源筒

50‧‧‧光源筒本體

51‧‧‧凸部

52‧‧‧均光板

53‧‧‧光源板

54‧‧‧下蓋

55‧‧‧穿孔

6‧‧‧測試基座

61‧‧‧卡合槽

圖1係本發明一較佳實施例陣列式光學檢測模組之分解圖。

圖2係本發明一較佳實施例陣列式光學檢測模組之立體圖。

圖3係本發明一較佳實施例陣列式光學檢測模組之承載座與鏡頭分解圖。

圖4係本發明一較佳實施例陣列式光學檢測模組之光源筒分解圖。

請同時參閱圖1、圖2以及圖3，係為本發明一較佳實施例陣列式光學檢測模組之分解圖、立體圖以及承載座與鏡頭分解圖。如圖所示，本實施例之一種陣列式光學檢測模組包括：一載板1、至少一承載座20、複數鏡頭3、一基座4、複數光源筒5、複數光源筒本體50、複數測試基座6、複數鏡頭承座22、複數阻擋片23、複數O型環24、複數探針座25、複數均光板52、複數光源板53以及複數下蓋54。

本實施例載板1具有八開孔11、而測試基座6具有四卡合槽61、至少一承載座20之數量為四以及基座4具有八定位孔41。上述每一承載座20用以承載與每一開孔11相對應之每一鏡頭承座22，亦即每一承載座20用以承載二鏡頭承座22。每一設有鏡頭承座22之承載座20，分別鎖附於測試基座6之每一卡合槽61上，而測試基座6鎖附於載板1上。

本實施例基座4每一定位孔41與每一開孔11相對應，基座4係固設於每一承載座20的相對側。另外，本實施例之複數光源筒5數量為八，係對應穿設固定於每一定位孔41內，藉由每一光源筒5對應每一鏡頭3進行物件之光學檢測。

本實施例之每一鏡頭承座22裝設有一鏡頭3，亦即每一鏡頭3先固設於每一鏡頭承座22上，再將每一鏡頭承座22組裝於每一承載座20上。

又，本實施例之每一鏡頭承座22固設有一阻擋片23，用以止擋每一鏡頭3，俾使每一鏡頭3損壞時容易進行替換。再者，本實施例之每一鏡頭承座22與每一阻擋片23間夾設有一O型環24，俾能隔絕灰塵進入每一鏡頭3內。

另外，本實施例之每一承載座20對應每一鏡頭承座22，設有二針孔組21，其具有複數針孔，每一針孔組21對應設有一探針座25，且載板1設有對應探針座25之複數導通點12，俾使測試訊號得以輸出。

請參閱圖4，係為本發明一較佳實施例陣列式光學檢測模組之光源筒分解圖，本實施例基座4之每一定位孔41具有一卡合部42，每一光源筒5包括一具有一凸部51之光源筒本體50，每一卡合部42係用以卡合每一凸部51，俾可防止每一光源筒5組裝時掉落。

本實施例之每一光源筒5具有一穿孔55及一蓋設於穿孔55之均光板52，俾使打出之光源更加均勻。再者，每一光源筒5具有一光源板53及一蓋設於光源板53之下蓋54，光源板53可藉由螺栓或其他等效元件藉由下蓋 54固設於基座，俾可將光源導引至每一光源筒5內。

藉由上述之配置，俾能使單一光源筒5損壞時，僅更換一光源筒5即可，有別於先前之設計，可節省費用。再者，影像模組化之設計僅需拆卸承載座20，即可更換下方光源筒5，使維修更加迅速方便。又，複數鏡頭3可同時檢測多組物件，可增加檢測效率。

上述實施例僅係為了方便說明而舉例而已，本創作所主張之權利範圍自應以申請專利範圍所述為準，而非僅限於上述實施例。