TWI476790B - 可變阻抗材料 - Google Patents

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TWI476790B
TWI476790B TW097133851A TW97133851A TWI476790B TW I476790 B TWI476790 B TW I476790B TW 097133851 A TW097133851 A TW 097133851A TW 97133851 A TW97133851 A TW 97133851A TW I476790 B TWI476790 B TW I476790B
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Pao Hsuan Chen
David Shau Chew Wang
Ching Han Yu
Tong Cheng Tsai
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Polytronics Technology Corp
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可變阻抗材料
本發明係關於一種可變阻抗材料,特別係關於一種包含能降低瞬間的高壓對電子產品造成損害之高導電磁性金屬粉末。
積體電路接受外部之電源供應與待處理之輸入訊號,並輸出處理後之訊號。特而言之,由於積體電路之輸入端係直接連接於輸入級開關之閘極,因而相當容易受到損害。當積體電路藉由手動夾持或自動設備而焊接於電路板上時,易受損害之輸入端及輸出端即可能受到靜電放電而損害。例如,人體可經由靜電予以充電後再經由輸入端對半導體元件之積體電路進行放電。
自動組裝機台或測試機台之工具亦可能被充電後再經由積體電路之輸入端對半導體元件之積體電路進行放電。隨著半導體技術不斷演進,半導體元件之線寬亦隨之縮小,對抗靜電放電之保護機制的需求亦隨之顯現。積體電路元件大多配置ESD(electrostatic discharge)保護機制以避免過高之輸入電流,例如配置電阻元件於輸入端,藉以限制輸入電流。
US 6,642,297揭示一種可提供過電壓/過電流保護之組合物,其包含絕緣黏結劑、摻雜半導性粒子以及導電性粒子。該組合物在正常操作電壓時具有高電阻,但在承受一暫態過電壓事件時即切換至一低電阻狀態且在該過電壓 暫態事件中限制該過電壓至一較低位準。
US 6,013,358揭示一種過電壓保護元件,其使用鑽石鋸在一接地導體與另一導體間形成一間隙。該過電壓保護元件之基板材料可選自特定陶瓷材料,其密度小於3.8 g/cm3
US 5,068,634揭示一種過電壓保護元件及材料,其藉由將導電粒子係均勻地分散於黏結劑之中,使得電壓保護材料具有非線性之電阻特性。非線性之電阻特性係取決於粒子在黏結劑內之間距及黏結劑之電氣特性。藉由調整導電粒子之間距,非線性材料之電氣特性可在一大範圍內予以改變。
US 6,498,715揭示一種堆疊式低電容過電壓保護元件,包含基板、設置於基板上之導電性下電極、設置於該導電性下電極上之電壓敏感材料以及設置於該電壓敏感材料上之導電上電極。
US 6,645,393揭示一種可抑制暫態電壓之材料,包含二種均勻混合之粉末,其中一種粉末具有非線性電阻特性,另一種粉末為導電粉末。導電粉末係分散於具有非線性電阻特性之粉末中以降低元件之整體非線性電阻特性,亦即降低元件之崩潰電壓。
除了ESD外,電子元件也極易受電磁輻射的影響,特別是對數位計算裝置之影響更大。數位計算裝置中包含非常多以極高速度來開關及傳輸訊號的電晶體,而其運作的結果是產生了可觀的電磁輻射量。散逸的電磁輻射可能導 致錯誤的電晶體開關狀態、訊號損壞和資料損失。
目前有許多可用來保護電子元件免於受電磁輻射影響之技術。其中,以金屬製的外殼作為防護是一種廣為人知的方法,其係藉高導電表面以反射的方式來阻擋電磁輻射。然而,金屬製的外殼不僅昂貴,而且藉由反射來達到防護的效果常因缺少讓輻射耗散之能力而造成逸漏。歐洲專利公開號第EP0550373號揭示一內部中間層之結構,其係以具較高之導磁性及具較低之導電性的材料所製成。在受到電磁輻射的影響時,該中間層將吸收大部份的電磁場能量。與高導電材料相比較,高導磁性與低導電性的材料在吸收輻射方面表現出更有效率。
高頻的接收與發射裝置中,靜電與電磁偶合效應之產生是常見的。美國專利US 5,565,878揭示一種設置於玻璃窗片上之環狀保護金屬圖樣,其係為在該環狀保護金屬圖樣與玻璃窗片週邊之導電體間產生強烈靜電與電磁耦合而設置於玻璃窗片上。
美國專利US 6,058,000揭示一種電磁干擾與ESD防護的方法。該發明方法教示以一具防護導體表面之外殼、一內部防護導體平面、一用於連接該防護導體表面與該防護導體平面之導體連接器、一使電磁訊號得以穿過該防護導體平面之通道、一濾波電路以及一靜電箝位電路等之構成來達成電磁干擾與ESD防護。電磁防護之達成手段則有:對輸入訊號進行濾波、將頻寬不符需求之訊號電氣連接至防護障壁,以及將電壓不符需求之訊號電氣連接至防護障 壁等。而其中,發明中之防護導體平面與接地平面於結構設計上是分開的。
電磁與ESD防護之應用專利有WO/1996/028951"具靜電放電防護之植入裝置"。該專利述及到一小部份的耳蝸裝置失效之情形,而其中,有數個裝置內之與接收資訊有關之元件受到高壓電擊而損壞。在實驗室中,曾進行數次的相關實驗,試圖在其他耳蝸裝置上重複類似的失效情形。特而言之,植入裝置係浸泡於仿體液和組織之生理食鹽水中,且其因在高電磁場強度的影響下導致ESD之產生。由此得知,要防護裝置遭受電擊之破壞,不僅應注意到ESD方面之防護,而且也要注意到電磁場方面之影響。
SEMTECH CORPORATION所出版的使用指南SI97-01中,敘述如何使用TVS(Transient voltage Suppression)元件來保護裝置不受ESD的損害。該指南中指出,在同軸連接器之屏蔽上所發生的靜電放電,會導致電磁波穿越收發器電路板介面而到達電路板上。此電磁波係沿連接該屏蔽與主機板接地平面(Groud Plane)間之導線來傳遞。電路板導線的電感效應則會在CDS(Collision Detect Sense)接腳上產生高於1.5 kV的電壓電位。此等級的電壓過載會破壞收發器晶片的絕緣。同樣地,在導體流動的電流脈衝,會對電路板上位於其附近之其他元件產生因電磁耦合而發生之電性瞬變。TVS二極體即是被設計用來將此暫態電流從受保護的乙太網路收發器分流出來。TVS二極體可同時抑制過電壓和將暫態電流分流。然而,高單價以及缺乏耗 散能力是TVS二極體的主要缺點。
本發明提出一種包含導電粉末、半導體粉末及絕緣黏結物之可變阻抗材料,其在低施加電壓狀態呈現高電阻特性,但在高施加電壓狀態則呈現低電阻特性。
本發明之可變阻抗材料包含導電粉末、半導體粉末及絕緣黏結物。導電粉末之含量可介於該可變阻抗材料重量之10%至30%之間,半導體粉末之含量可介於該可變阻抗材料重量之30%至90%之間,絕緣黏結物之含量可介於該可變阻抗材料重量之3%至50%之間。該可變阻抗材料在低施加電壓狀態呈現高電阻特性,但在高施加電壓狀態則呈現低電阻特性。將該可變阻抗材料設置於過電壓保護元件之導體間的間隙,該過電壓保護元件之整體即具有在低施加電壓時呈現低電阻並在高施加電壓時則呈現低電阻之電氣特性。
本發明亦提出一種包含高導電磁粉末之可變阻抗材料,其可降低元件的觸發電壓,並且在低施加電壓狀態呈現高電阻特性而在高施加電壓狀態則呈現低電阻特性。
本發明之可變阻抗材料包含高導電磁粉末及絕緣黏結物。高導電磁粉末之含量可介於該可變阻抗材料重量之10%至85%之間,絕緣黏結物之含量可介於該可變阻抗材料重量之10%至30%之間。
在可變阻抗材料中加入包括羰基金屬之粉末(例如羰基鐵粉或羰基鎳粉)不僅能抑制過電壓,且能耗散暫態電 流。相較於傳統靜電放電裝置使用之材料,使用羰基金屬之高導電磁性之金屬粉末能降低元件之觸發電壓,而且其高導電磁特性也能吸收部份會造成訊號失真和資料錯誤之電磁輻射。
在本發明之一實施例中,該可變阻抗材料在低施加電壓狀態呈現高電阻特性,但在高施加電壓狀態則呈現低電阻特性。藉由將該可變阻抗材料設置於過電壓保護元件內兩導體間之間隙,該過電壓保護元件之整體即具有在低施加電壓時呈現高電阻並在高施加電壓時則呈現低電阻之電氣特性。
上文已經概略地敍述本發明之技術特徵及優點,俾使下文之本發明詳細描述得以獲得較佳瞭解。構成本發明之申請專利範圍標的之其它技術特徵及優點將描述於下文。本發明所屬技術領域中具有通常知識者應可瞭解,下文揭示之概念與特定實施例可作為基礎而相當輕易地予以修改或設計其它結構或製程而實現與本發明相同之目的。本發明所屬技術領域中具有通常知識者亦應可瞭解,這類等效的建構並無法脫離後附之申請專利範圍所提出之本發明的精神和範圍。
圖1至圖5例示本發明第一實施之過電壓保護元件10。參考圖1,形成一電極結構20於一基板12上,該基板12可由絕緣材料(例如塑膠材料)構成,亦即該基板12可為一塑膠基板,且具有一上表面12A及一下表面12B。該電極結構20包 含一第一非矩形導體14、一第二非矩形導體16、一第一側邊電極22以及一第二側邊電極24。該第一非矩形導體14具有設置於該上表面12A之一第一凸部14A,該第二非矩形導體16具有設置於該上表面12A之一第二凸部16A,該第一側邊電極22係設置於該基板12之一側邊且連接於該第一非矩形導體14,該第二側邊電極24係設置於該基板12之另一側邊且連接於該第二非矩形導體16。
此外,該電極結構20另包含一第一導電件22'及一第二導電件24',其可為電鍍金屬層或導電通孔。該第一導電件22'係夾設於該基板12與該第一側邊電極22之間,該第二導電件24'係夾設於該基板12與該第二側邊電極24之間。較佳地,該第一凸部14A與該第二凸部16A之一係一錐狀凸部,其具有漸縮之寬度。該第二凸部16A面向該第一凸部14A以形成介於二者之間的一放電通路18。
較佳地,該第一非矩形導體14與該第二非矩形導體16係呈梯形且以鏡相方式設置於該基板12上。特而言之,該第一非矩形導體14之外形可不同於該第二非矩形導體16。該第一凸部14A具有一第一平緣14B,該第二凸部16A具有一第二平緣16B,且該第二平緣16B面向該第一平緣14B。
參考圖2,其係圖1之電極結構20的剖示圖。該第一凸部14A與該第二凸部16A之上端的寬度大於中段的寬度,亦即該第一凸部14A與該第二凸部16A具有非均勻之厚度。因此,相較於中段處,該第一凸部14A與該第二凸部16A在上端處較靠近彼此,因此該放電通路18係形成於該第一凸部 14A上端與該第二凸部16A上端之間。
參考圖3,一可變阻抗材料26係形成於該第一凸部14A與該第二凸部16A之間。該可變阻抗材料26可包含導電粉末、半導體粉末及絕緣黏結物。導電粉末之含量可介於該可變阻抗材料重量之10%至30%之間,半導體粉末之含量可介於該可變阻抗材料重量之30%至90%之間,絕緣黏結物之含量可介於該可變阻抗材料重量之3%至50%之間。
較佳地,該導電粉末可選自鋁、銀、鈀、鉑、金、鎳、銅、鎢、鉻、鐵、鋅、鈦、鈮、鉬、釕、鉛及銥所組之族群之其中之一,該半導體粉末可包含氧化鋅或碳化矽,該絕緣黏結物包含環氧樹脂或矽膠。此外,該可變阻抗材料26可另包含絕緣粉末,其含量係介於該可變阻抗材料重量之10%至60%之間,其中該絕緣粉末可包含金屬氧化物,例如氧化鋁或氧化鋯。
參考圖4及圖5,一放電保護層30覆蓋該可變阻抗材料26,且一絕緣層32覆蓋該放電保護層30。較佳地,該放電保護層30可包含無機絕緣材料及有機絕緣材料,其中該無機絕緣材料可包含金屬氧化物,而該有機絕緣材料可包含環氧樹脂或矽膠。該絕緣層32可包含無機絕緣材料及有機絕緣材料,其中該無機絕緣材料包含金屬氧化物,而該有機絕緣材料包含環氧樹脂或矽膠。
圖6例示本發明第二實施例之過電壓保護元件10'。相較於圖5所示之過電壓保護元件10,圖6之過電壓保護元件10'另包含至少一設置於該下表面12B之對位區塊34。當該過電 壓保護元件10'要附著於一電路板上時,該對位區塊34即可用以對準該電路板上之另一對位區塊。此外,該對位區塊34並未電氣連接於該過電流保護元件10'之導電元件,且該對位區塊34亦可予以選擇性地設計為二個或多個。
圖7例示過電壓保護元件10與負載44之並聯電路40。將過電壓保護元件10與負載44並聯,當一高暫態電壓42施加於該過電壓保護元件10時,該過電壓保護元件10可切換至一低電阻狀態且將暫態電壓42限縮至一低電壓值。換言之,並聯於該過電壓保護元件10之負載44將承受限縮後之暫態電壓。
圖8係本發明之可變阻抗材料26之電阻與施加電壓之關係圖。該可變阻抗材料26在低施加電壓狀態呈現高電阻特性,但在高施加電壓狀態則呈現低電阻特性。藉由將該可變阻抗材料26設置於該第一非矩形導體14與該第二非矩形導體16之間隙,該過電壓保護元件10之整體即具有在低施加電壓時呈現低電阻並在高施加電壓時則呈現低電阻之電氣特性。
圖9顯示本發明第一實施例之過電壓保護元件10承受一暫態電壓42時之響應。參考圖7與圖9,在過電壓保護元件10與負載44並聯之情況下,當1900伏特之暫態電壓42施加於該過電壓保護元件10之第一非矩形導體14與第二非矩形導體16時,該過電壓保護元件10切換至一低電阻狀態且將1900伏特之暫態電壓42限縮約為518伏特。換言之,並聯於該過電壓保護元件10之負載44將承受限縮後約為518伏 特之暫態電壓,而不是承受1900伏特之暫態電壓42。
習知之過電壓保護元件均採用二個等寬且以一間隙予以分隔之導體,因此習知之過電壓保護元件的放電通路位置無法預測。相對地,本發明之過電壓保護元件10具有二個非矩形導體14、16,且二個非矩形導體14、16之凸部14A、16A彼此相向,因此二個非矩形導體14、16之間距並非均勻一致。特而言之,二個非矩形導體14、16之間隙在其凸部14A、16A位置的寬度較窄於其它位置,因此該放電通路即設計於該凸部14A、16A位置,且該可變阻抗材料26覆蓋該凸部14A、16A。
圖10例示本發明第三實施之過電壓保護元件10"。該過電壓保護元件10"包含一基板12及設置於該基板12上之一第一導體52與一第二導體54,且該第一導體52及該第二導體54間係以一間隙56予以分隔,而一可變阻抗材料26'係置於該間隙56。須另言明者,第一導體52及第二導體54可為任何形狀而仍不背離本發明所揭露之範圍。在本發明之一實施例中,該可變阻抗材料26'可包含高導電磁粉末及絕緣黏結物。高導電磁粉末之含量可介於該可變阻抗材料重量之10%至90%之間,其含量為該可變阻抗材料重量之20%至86%間為較佳;絕緣黏結物之含量可介於該可變阻抗材料重量之10%至90%之間,其含量為該可變阻抗材料重量之14%至80%間為較佳。
圖11顯示本發明之第三實施例之過電壓保護元件10"承受一暫態電壓42時之響應。參考圖7與圖10,將圖7之過 電壓保護元件10以電壓保護元件10"置換後進行測試可發現,當2000伏特之暫態電壓42施加於該過電壓保護元件10"之第一導體52並將該第一導體54接地時,該過電壓保護元件10"切換至一低電阻狀態並將2000伏特之暫態電壓42限縮至約為307伏特之觸發電壓。換言之,並聯於該過電壓保護元件10"之負載44將承受限縮後約為307伏特之暫態電壓,而不是承受2000伏特之暫態電壓42。
在本發明之一實施例中,高導電磁粉末包含羰基配體(Carbonyl Ligand)。例如,高導電磁粉末包括羰基金屬粉末(Carbonyl Metal),而其可包含例如羰基鐵粉(Carbonyl Iron)、羰基鐵鎳粉(Carbonyl Nickel)或羰基鐵鎳鈷合金粉末(Carbonyl Nickel/Cobalt Alloy)。在本發明之一實施例中,絕緣黏結物包含環氧樹脂或矽膠。下列表I顯示不同混合比例之可變阻抗材料26'之範例:
上述範例所使用之導電磁粉末為BASF公司所生產之羰基金屬之羰基鐵粉(Carbonyl Iron Power;CIP),其型號為enpulver SW-S,而上述範例所使用之絕緣黏結物為SIL-MORE INDUSTRIAL LTD所製造之矽膠,其型號為 SLR9530 A&B。觸發電壓則以SANKI所生產之靜電放電發生器(型號:ESD-8012A)進行試驗,其試驗條件:ESD-8012A輸出電壓為2 kV、INT.90、放電30次。範例1至範例4均顯示,可變阻抗材料26'中加入以一定比例內混合之羰基鐵粉及絕緣黏結物後,可將觸發電壓限縮於ESD保護上限電壓之1200伏特下。表I中顯示,導電磁粉末之含量變化從20%至86%而仍能將觸發電壓限縮在1200伏特下。由此可推論,導電磁粉末之適當含量可介於10%至90%間。此外,表I中絕緣黏結物之含量變化從14%至80%而仍能將觸發電壓限縮在1200伏特下,由此亦可推論絕緣黏結物之適當含量水平可介於10%至90%間。
在本發明之另一實施例中,可變阻抗材料26'另包含半導體粉末。該半導體粉末包含氧化鋅或碳化矽。半導體粉末之含量可介於該可變阻抗材料重量之0.001%至10%之間,其含量以介於該可變阻抗材料重量之0.001%至8%者為佳,而含量以介於該可變阻抗材料重量之1%至6.5%者為較佳。下列表II即顯示不同混合比例之可變阻抗材料26'之範例:
此一實施例係將半導體粉末(例如:氧化鋅)混入羰基鐵粉與矽膠聚合物的混合物中。表II中顯示氧化鋅的含量介於1.00%至6.20%間,而仍能限縮觸發電壓於1200伏特下。據此可推論,氧化鋅的合適含量為0.001%至10%間。
在本發明之又一實施例中,可變阻抗材料26'另包含絕緣粉末。該絕緣粉末包含金屬氧化物,其可為如氧化鋁或氧化鋯。絕緣粉末之含量可介於該可變阻抗材料重量之0.001%至10%之間,其含量以介於該可變阻抗材料重量之0.001%至8%者為佳,而含量以介於該可變阻抗材料重量之1%至6%者為較佳。下列表III即顯示不同混合比例之可變阻抗材料26'之範例:
此一實施例係將絕緣粉末(例如:三氧化二鋁)混入羰基鐵粉與矽膠聚合物的混合物中。表III中顯示三氧化二鋁的含量介於1.00%至6.00%間,而此仍能限縮觸發電壓於1200伏特下。據此可推論,三氧化二鋁的合適含量為0.001%至10%間。再者,於此混合物中,可變阻抗材料26'可包含氧化鋅或碳化矽等半導體粉末,其含量可佔可變阻抗材料 重量之0.001%至10%間。
高導電磁粉末包含至少一元素係選自鎳、鈷、鐵、鋁和釹組成之群組,該元素和有機官能基(如羰基、矽氧烷、胺基等)形成化合物。特言之,該高導電磁粉末係選自羰基鐵粉、羰基鎳粉或羰基鎳鈷合金粉末等。而其中,羰基鐵粉(CIP)特別地被選為研究之用。半導體粉末包含氧化鋅或碳化矽,而絕緣黏結物包含環氧樹脂或矽膠。此外,可變阻抗材料26'更可包含氧化鋁或氧化鋯等之絕緣粉末。
在可變阻抗材料26'中加入包括羰基金屬粉末(如羰基鐵粉或羰基鎳粉)不僅能抑制過電壓,且能耗散暫態電流。與傳統靜電放電裝置不同之處,在於以羰基金屬之相對高的導電磁金屬粉末能降低元件之觸發電壓。高導電磁特性也能吸收會造成訊號損壞和資料損失之電磁輻射。
本發明之技術內容及技術特點已揭示如上,然而本發明所屬技術領域中具有通常知識者仍可能基於本發明之教示及揭示而作種種不背離本發明精神之替換及修飾。因此,本發明之保護範圍應不限於實施例所揭示者,而應包括各種不背離本發明之替換及修飾,並為以下之申請專利範圍所涵蓋。
10‧‧‧過電壓保護元件
10'‧‧‧過電壓保護元件
10"‧‧‧過電壓保護元件
12‧‧‧基板
12A‧‧‧上表面
12B‧‧‧下表面
14‧‧‧第一非矩形導體
14A‧‧‧第一凸部
14B‧‧‧第一平緣
16‧‧‧第二非矩形導體
16A‧‧‧第二凸部
16B‧‧‧第二平緣
18‧‧‧放電通路
20‧‧‧電極結構
22‧‧‧第一側邊電極
22'‧‧‧第一導電件
24‧‧‧第二側邊電極
24'‧‧‧第二導電件
26‧‧‧可變阻抗材料
26'‧‧‧可變阻抗材料
30‧‧‧放電保護層
32‧‧‧絕緣層
40‧‧‧電路
42‧‧‧暫態電壓
44‧‧‧負載
52‧‧‧第一導體
54‧‧‧第二導體
56‧‧‧間隙
圖1至圖5例示本發明第一實施之過電壓保護元件;圖6例示本發明第二實施例之過電壓保護元件;圖7例示過電壓保護元件與負載並聯電路示意圖; 圖8係本發明之可變阻抗材料之電阻與施加電壓之關係圖;圖9顯示本發明第一實施例之過電壓保護元件承受一暫態電壓時之響應;圖10例示本發明第三實施之過電壓保護元件;以及圖11顯示本發明之第三實施例之過電壓保護元件承受一暫態電壓時之響應。
10"‧‧‧過電壓保護元件
12‧‧‧基板
26'‧‧‧可變阻抗材料
52‧‧‧第一導體
54‧‧‧第二導體
56‧‧‧間隙

Claims (10)

  1. 一種可變阻抗材料,包含:高導電磁粉末,其含量係介於該可變阻抗材料重量之75.8%至85%之間;絕緣黏結物,其含量係介於該可變阻抗材料重量之14%至18%之間;以及絕緣粉末,其含量係介於該可變阻抗材料重量之0.001%至10%之間。
  2. 根據請求項1之可變阻抗材料,其中該高導電磁粉末包含羰基配體。
  3. 根據請求項1之可變阻抗材料,其中該高導電磁粉末包含羰基金屬粉末。
  4. 根據請求項1之可變阻抗材料,其中該高導電磁粉末包含羰基鐵粉、羰基鎳粉或羰基鎳鈷合金粉末。
  5. 根據請求項1之可變阻抗材料,其中該絕緣黏結物包含環氧樹脂或矽膠。
  6. 根據請求項1之可變阻抗材料,其另包含半導體粉末。
  7. 根據請求項6之可變阻抗材料,其中該半導體粉末之含量係介於該可變阻抗材料重量之0.001%至10%之間。
  8. 根據請求項6之可變阻抗材料,其中該半導體粉末包含氧化鋅或碳化矽。
  9. 根據請求項1之可變阻抗材料,其中該絕緣粉末包含金屬氧化物。
  10. 根據請求項9之可變阻抗材料,其中該金屬氧化物係氧化鋁或氧化鋯。
TW097133851A 2008-03-06 2008-09-04 可變阻抗材料 TWI476790B (zh)

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