TWI467160B - Solar energy module of the image and electrical detection device - Google Patents

Solar energy module of the image and electrical detection device Download PDF

Info

Publication number
TWI467160B
TWI467160B TW101132647A TW101132647A TWI467160B TW I467160 B TWI467160 B TW I467160B TW 101132647 A TW101132647 A TW 101132647A TW 101132647 A TW101132647 A TW 101132647A TW I467160 B TWI467160 B TW I467160B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
unit
disposed
light
image
solar module
Prior art date
Application number
TW101132647A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201411117A (zh
Inventor
Jen Wei Lien
Nien Ching Tsou
Original Assignee
Mas Automation Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mas Automation Corp filed Critical Mas Automation Corp
Priority to TW101132647A priority Critical patent/TWI467160B/zh
Priority to CN201210370926.0A priority patent/CN103674960A/zh
Publication of TW201411117A publication Critical patent/TW201411117A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI467160B publication Critical patent/TWI467160B/zh

Links

Description

太陽能模組之影像及電性檢測裝置
本發明涉及一種檢測裝置的技術領域，特別是有關於一種可進行自動光學檢測及電性檢測的檢測裝置。
無論是終端電子產品或中上游零組件，出貨的品質為客戶極為重視之一環，亦關係著製造商本身之商譽，因此產品檢測作業是不可或缺的一部分。一般而言，電子產品的產品檢測作業包含外觀及表面瑕疵檢測、電性瑕疵檢測。
其中，外觀及表面瑕疵檢測是利用自動光學檢測(Automated Optical Inspection，AOI)方式檢測檢測一待測物的外觀及表面是否有瑕疵，例如平面顯示器(Flat Panel Display，FPD)的外觀及表面是否有亮點、暗點等瑕疵，又例如太陽能電池的外觀及表面是否有破碎等瑕疵。檢測方式是利用自動光學檢測(Automated Optical Inspection，AOI)方式檢測一待測物的瑕疵狀況。自動光學檢測方式是利用一具有影像擷取單元的檢測裝置擷取一待測物的影像，並比對該待測物的影像與一預設的影像之間的差異，藉以分析及判定該待測物的瑕疵狀況。該影像擷取單元包含一鏡頭及一電荷耦合元件(Charge-coupled Device，CCD)。
電性檢測是利用一具有導電單元的檢測裝置接觸該待測物的接線而形成一迴路，藉以分析該迴路是否產生短路(short circuit)、斷路(open circuit)或漏電等電性瑕疵而判定該待測物是否功能正常。
惟，上述是利用兩種相異的檢測裝置分別進行待測物 的自動光學檢測及電性檢測，因此待測物必須在兩種不同檢測裝置之間拆裝、搬移，對於待測物的受測效率而言並無助益。
有鑑於解決傳統待測物在進行光學檢測及電性檢測時，必須於兩種檢測裝置之間折裝、搬移受測物而造成受測效率不彰的問題，本發明特別提供一種檢測裝置，其技術手段，包括：一載台、一第一檢測模組及一第二檢測模組，其中：該載台具有一透光區域；該第一檢測模組包含一移動單元及一影像擷取單元，該移動單元相對該載台移動，該影像擷取單元設置在該移動單元上對應該透光區域，並接受該移動單元的帶動而相對該透光區域移動；及該第二檢測模組包含一擺動單元及一導電單元，該擺動單元設置在該載台上相對該透光區域擺動，該導電單元設置在該擺動單元上，並接受該擺動單元的帶動而相對靠近或遠離該透光區域。
在具體實施上，該移動單元設置在該載台下方，並包含一滑軌及一滑台，該滑軌設置在該載台下方，該滑台設置在該滑軌上；該移動單元還包含一皮帶輪及一皮帶，該皮帶輪設置在該滑軌端部，該皮帶設置在該皮帶輪上而連接該滑台；該擺動單元樞接在該載台上所形成的一樞孔內；該第一檢測模組還包含一發光單元，該發光單元設置在該載台下方對應該透光區域；該發光單元包含一鹵素燈；該第一檢測模組還包含一遮光元件，該遮光元件設置 在該載台上方對應該透光區域；該影像擷取單元包含一鏡頭及一電荷耦合元件。
藉此，該待測物只需於同一檢測裝置上，即可自動地進行光學檢測及電性檢測，操作人員無需再於兩種檢測裝置之間拆裝、搬移該待測物，以便於提升該待測物的受測效率及檢測操作上的方便性。
為充分瞭解本發明上述技術手段及其效能，而據以實施本發明，請參閱實施方式內容並配合圖式說明如下：
請合併參閱圖1至圖3，揭示本發明一較佳實施例的圖式。其中，圖1揭示本發明的配置示意圖；圖2揭示圖1的側視圖；圖3揭示圖1的俯視圖。上述圖式說明檢測裝置，包括一載台11、一第一檢測模組112及一第二檢測模組113，其中：該載台11具有一透光區域111，該透光區域111實施上可以是由環氧樹脂、矽膠、石英及玻璃等透光材質製成(如圖3所示)。
該第一檢測模組112包含有一移動單元16及一影像擷取單元12，該移動單元16對於載台11能進行相對移動，而該影像擷取單元12設置在該移動單元16上對應透光區域111，並接受該移動單元11的帶動而相對於透光區域111進行移動。在具體實施上，該移動單元16是設置在載台11下方，並包含有一滑軌15及一滑台14，該滑軌15是設置在載台11下方，而該滑台14是設置在滑軌15上；該移動單元16還包含有一皮帶輪162及一皮帶161，該皮帶輪162 是設置在該滑軌15端部，而該皮帶161是設置在皮帶輪162上並連接滑台14。
該第二檢測模組113包含有一擺動單元17及一導電單元13，該擺動單元17設置在透光區域111雙側的載台11端邊上，能相對於透光區域111進行擺動，該導電單元13是設置在擺動單元17上，並接受該擺動單元17的帶動而相對靠近或遠離透光區域111。在具體實施上，該擺動單元17是樞接在載台11上所形成的一樞孔171內。
其中，該第一檢測模組112還包含一發光單元18(如圖5所示)，而該發光單元18是設置在載台11下方相對應於透光區域111；該發光單元18包含有一鹵素燈，該發光單元18可依據實際需求調整鹵素燈的數量；該第一檢測模組112還包含一遮光元件19(如圖5所示)，而該遮光元件19是設置在載台11上方相對應於透光區域111；該影像擷取單元12包含有一鏡頭及一電荷耦合元件。
在實際應用上，操作人員在將該一待測物2設置在該載台11的透光區域111上之後，可透過一處理模組(例如微處理器或微控制器)發出一第一檢測指令或一第二檢測指令給檢測裝置，使得檢測裝置要求第一檢測模組112進行自動光學檢測而取得待測物2的一影像資料或要求第二檢測模組113進行待測物2的電性檢測(I-V test)以取得待測物2的一電性資料。該處理模組即可依據影像資料或電性資料比對及分析以判定待測物2的瑕疵狀況或電性特性。
該檢測裝置在接收到第一檢測指令之後是依據下述步驟命令該第一檢測模組112進行待測物2的自動光學檢測： 首先，命令該載台11下方相對應於透光區域111的發光單元18發出光線至該透光區域111，使得該載台11下方對應透光區域111的影像擷取單元12可清晰透過透光區域111擷取得待測物2的影像資料，並且藉由遮光元件19遮蔽透光區域111，可減少外界光線的干涉、衍射，以取得清晰的影像資料；接者，命令該移動單元16的皮帶輪162轉動，使得皮帶輪162上所設置的皮帶161帶動滑台14在滑軌15上移動，連帶使得影像擷取單元12相對於透光區域111進行移動，如此，該影像擷取單元12能擷取待測物2各部位的影像資料；例如，如圖3所示，該待測物2可以是一太陽能模組，該太陽能模組具有多個串列配置的太陽能電池20，該影像擷取單元12則可擷取該太陽能模組中各太陽能電池20的影像資料；最後，該處理模組比對該待測物2的影像資料與一預設的影像資料之間的差異，分析及判定該待測物2的瑕疵狀況；例如，非完好無損的太陽能模組中與完好無損的太陽能模組(該預設的影像資料)，兩者的影像資料經比對後即可判定該太陽能模組中的太陽能電池是否破碎。
接著，該檢測裝置在接收到該第二檢測指令之後則依據下述步驟命令該第二檢測模組113進行該待測物2的電性檢測：首先，命令載台11上相對於透光區域111的擺動單元17擺動，使得擺動單元17上的導電單元13由相對遠離透光區域111轉變為相對靠近透光區域111，進而接觸待測物 2端邊並形成電性檢測迴路(如圖4a至圖4b所示)；最後，該處理模組藉由分析迴路是否產生短路、斷路或漏電等電性瑕疵而判定待測物2是否功能正常；例如該太陽能模組是否產生短路或斷路，而導致功能失常。
藉此，待測物2可以在同一台檢測裝置分別進行自動光學檢測及電性檢測，並且無須搬動及拆裝待測物2，可以更有效率地檢測待測物2，以及減少檢測裝置所須的佔置空間，進而提升受測效率及檢測操作上的方便性。
以上該僅為本發明的較佳實施例而已，並不用以限制本發明，凡在本發明的精神和原則之內所做的任何修改、替換、改進等，均應包含在本發明保護的範圍之內。
圖1為本發明較佳實施例的示意圖；圖2為圖1的側視圖；圖3為圖1的俯視圖；圖4a至圖4b為擺動單元的示意圖；圖5為發光單元的示意圖。
【主要件符號說明】
11‧‧‧載台
111‧‧‧透光區域
112‧‧‧第一檢測模組
113‧‧‧第二檢測模組
12‧‧‧影像擷取單元
13‧‧‧導電單元
14‧‧‧滑台
15‧‧‧滑軌
16‧‧‧移動單元
161‧‧‧皮帶
162‧‧‧皮帶輪
17‧‧‧擺動單元
171‧‧‧樞孔
18‧‧‧發光單元
19‧‧‧遮光元件
2‧‧‧待測物
20‧‧‧太陽能電池
11‧‧‧載台
112‧‧‧第一檢測模組
113‧‧‧第二檢測模組
12‧‧‧影像擷取單元
13‧‧‧導電單元
14‧‧‧滑座
15‧‧‧導軌
16‧‧‧移動單元
161‧‧‧皮帶
162‧‧‧皮帶輪
17‧‧‧擺動單元
171‧‧‧樞孔
2‧‧‧待測物

Claims (7)

  1. 一種太陽能模組之影像及電性檢測裝置，包括：一載台，具有一擺放太陽能模組的透光區域，該太陽能模組具有多個太陽能電池；一第一檢測模組，包含一移動單元及一影像擷取單元，該移動單元設置在該載台下方，並相對該載台移動，該影像擷取單元設置在該移動單元上對應該透光區域，並接受該移動單元的帶動而相對該透光區域移動，用以擷取該太陽能模組中各太陽能電池的影像資料；及一第二檢測模組，包含一擺動單元及一導電單元，該擺動單元設置在該透光區域雙側的載台端邊上，相對該透光區域擺動，該導電單元設置在該擺動單元上，並接受該擺動單元的帶動而相對靠近或遠離該透光區域，該導電單元相對靠近透光區域時能接觸該太陽能模組端邊而形成電性檢測迴路；其中，該擺動單元樞接在該載台端邊上所形成的一樞孔內。
  2. 如申請專利範圍第1項所述太陽能模組之影像及電性檢測裝置，其中該移動單元包含一滑軌及一滑台，該滑軌設置在該載台下方，該滑台設置在該滑軌上。
  3. 如申請專利範圍第2項所述太陽能模組之影像及電性檢測裝置，其中該移動單元還包含一皮帶輪及一皮帶，該皮帶輪設置在該滑軌端部，該皮帶設置在該皮帶輪上而連接該滑台。
  4. 如申請專利範圍第1項所述太陽能模組之影像及電性檢測裝置，其中該第一檢測模組還包含一發光單元，該 發光單元設置在該載台下方對應該透光區域。
  5. 如申請專利範圍第4項所述太陽能模組之影像及電性檢測裝置，其中該發光單元包含一鹵素燈。
  6. 如申請專利範圍第4項所述太陽能模組之影像及電性檢測裝置，其中該第一檢測模組還包含一遮光元件，該遮光元件設置在該載台上方對應該透光區域。
  7. 如申請專利範圍第1項所述太陽能模組之影像及電性檢測裝置，其中該影像擷取單元包含一鏡頭及一電荷耦合元件。
TW101132647A 2012-09-07 2012-09-07 Solar energy module of the image and electrical detection device TWI467160B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW101132647A TWI467160B (zh) 2012-09-07 2012-09-07 Solar energy module of the image and electrical detection device
CN201210370926.0A CN103674960A (zh) 2012-09-07 2012-09-28 检测装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW101132647A TWI467160B (zh) 2012-09-07 2012-09-07 Solar energy module of the image and electrical detection device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201411117A TW201411117A (zh) 2014-03-16
TWI467160B true TWI467160B (zh) 2015-01-01

Family

ID=50313168

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW101132647A TWI467160B (zh) 2012-09-07 2012-09-07 Solar energy module of the image and electrical detection device

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN103674960A (zh)
TW (1) TWI467160B (zh)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI568570B (zh) * 2014-12-15 2017-02-01 Wei Kuang Automation Co Ltd Coating detection method and device thereof
CN106230381A (zh) * 2016-08-29 2016-12-14 安徽凯达能源科技有限公司 太阳能电池板功率检测装置
CN108426729A (zh) * 2018-03-27 2018-08-21 芜湖鸣人热能设备有限公司 热能设备的检测工作箱

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200844460A (en) * 2006-11-09 2008-11-16 Nihon Micronics Kk Probe positioning method, movable probe unit mechanism, and inspection apparatus

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6262254A (ja) * 1985-09-12 1987-03-18 Fujitsu Ltd プリント板検査装置
DE10043726C2 (de) * 2000-09-05 2003-12-04 Atg Test Systems Gmbh Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten mit einem Paralleltester und eine Vorrichtung zum Ausführen des Verfahrens
TWM452334U (zh) * 2012-09-07 2013-05-01 Mas Automation Corp 檢測裝置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200844460A (en) * 2006-11-09 2008-11-16 Nihon Micronics Kk Probe positioning method, movable probe unit mechanism, and inspection apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
TW201411117A (zh) 2014-03-16
CN103674960A (zh) 2014-03-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6042402B2 (ja) 照明モジュール及びこれを用いる外観検査システム
CN107270816B (zh) 一种手机、平板电脑辅料检测设备
JP2007163453A (ja) イメージセンサーパッケージの検査装置、その検査ユニット及び検査方法
US8686310B2 (en) Packaged chip detection and classification device
TWI467160B (zh) Solar energy module of the image and electrical detection device
JPWO2004079352A1 (ja) 透明基板端面部の検査装置およびその検査方法
CN211905129U (zh) 点胶检测装置
TWI669485B (zh) 可調整取像組合之自動光學檢測設備及取像組合調整方法
KR100939645B1 (ko) 웨이퍼 검사장치
TWM461785U (zh) 自動化測試治具
CN103685661A (zh) 移动终端产品生产线的距离传感器自动校准系统及方法
CN110044926A (zh) 一种透镜缺陷检测装置
TWM452334U (zh) 檢測裝置
JP4592070B2 (ja) 液晶パネルの外観検査装置及び外観検査方法
CN202710178U (zh) 一种led光源模块光电检测装置
CN206262884U (zh) 一种led显示模组检测装置
CN104902269A (zh) 平板电脑摄像头色彩检测设备
CN208224656U (zh) 一种显示屏检测装置
CN103592309A (zh) 一种用于检测pin脚碳浆的智能检测系统
CN108318500B (zh) 一种滑动式检测的aoi设备
KR101378506B1 (ko) 디스플레이 패널 검사장치
CN202676609U (zh) 一种半导体组件检测设备
TWI407094B (zh) Solar wafer speed photoelectric detection system, detection methods and testing machine
CN206920556U (zh) 全自动化软缆测试设备
TWM530477U (zh) 一種發光二極體的光學檢測裝置