TWI464433B - 印刷電路板信號線分類排查系統及方法 - Google Patents
印刷電路板信號線分類排查系統及方法 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI464433B TWI464433B TW098140026A TW98140026A TWI464433B TW I464433 B TWI464433 B TW I464433B TW 098140026 A TW098140026 A TW 098140026A TW 98140026 A TW98140026 A TW 98140026A TW I464433 B TWI464433 B TW I464433B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- circuit board
- printed circuit
- signal line
- classification
- signal
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
本發明涉及資料處理領域,尤其涉及一種印刷電路板信號線分類排查系統及方法。
隨著電路板佈線密度的提高,從四層板到六層板甚至到八層板,越來越多至關重要的信號線佈在電路板的內層。此外,安裝在電路板上的電子元器件以及介面也越來越多,其工作頻率及速度越來越高,那麼由於阻抗不匹配引起的反射對整個電路的影響也越來越大,反映出的信號完整性問題越來越多。然而目前業界在阻抗測試上只是選擇幾根標準阻抗條(coupon),首先標準阻抗條代表不了同樣線寬的其他線路的阻抗,因為此試樣是比較理想化的狀態。其次標準阻抗條只是在電路板頂層和底層有,對於其他層的信號線無法檢測到。再次標準阻抗條的檢測方法有很大的侷限性,比如線寬出現不一致,參考層不一致,過(Via)孔的影響,跨層線的問題,拐角的影響等等。這些都是引起阻抗不匹配的因素之一。然而複雜的電路板上有成千上萬條信號線,若每一條信號線都去測試其特徵阻抗值,顯然浪費人力,效率低下。
鑒於以上內容,有必要提供一種印刷電路板信號線分類排查系統
。該系統運行於電腦中,該電腦儲存有待排查的印刷電路板文件。該系統包括:設定模組,用於選擇信號線的分類條件,所述的分類條件包括信號線所屬的電路層、信號類型、線寬及信號特徵;資料獲取模組,用於從電腦中獲取待排查的印刷電路板文件,並從該文件中獲取該印刷電路板所有信號線的資料資訊;分類模組,用於根據上述選擇的信號線的分類條件將待排查的印刷電路板的所有信號線進行分類;顯示模組,用於將上述分類結果顯示於電腦的顯示裝置上。
鑒於以上內容,還有必要提供一種印刷電路板信號線分類排查方法。該方法包括:(a)選擇信號線的分類條件,所述的分類條件包括信號線所屬的電路層、信號類型、線寬及信號特徵;(b)獲取待排查的印刷電路板文件,並從該文件中獲取該印刷電路板所有信號線的資料資訊;(c)根據上述選擇的信號線的分類條件將獲取的待排查的印刷電路板的所有信號線進行分類;(d)將分類結果顯示於電腦的顯示裝置上。
通過本發明提供的印刷電路板信號線分類排查方法,能迅速地按照指定的分類條件對待排查印刷電路板上所有信號線進行分類,測試人員只需要選取每一類信號線的一條或幾條進行特徵阻抗測試即可得到反映該待排查印刷電路板所有信號線的全面的特徵阻抗測量結果。協助測試人員迅速判斷出特徵阻抗不匹配的信號線。
10‧‧‧印刷電路板信號線分類排查系統
1‧‧‧電腦
2‧‧‧記憶體
3‧‧‧顯示裝置
100‧‧‧設定模組
101‧‧‧資料獲取模組
102‧‧‧分類模組
103‧‧‧顯示模組
圖1係本發明印刷電路板信號線分類排查系統之運行環境圖。
圖2係本發明印刷電路板信號線分類排查方法之流程圖。
圖3係本發明印刷電路板信號線分類排查系統之用戶介面的示意圖。
圖4係經過本發明印刷電路板信號線分類排查系統對待排查的印刷電路板進行分類後的結果之示意圖。
如圖1所示,係本發明印刷電路板信號線分類排查系統之運行環境圖。該印刷電路板信號線分類排查系統10運行於電腦1中,該電腦1包括記憶體2及顯示裝置3。所述記憶體2中儲存有待排查的印刷電路板文件。
該系統10包括設定模組100、資料獲取模組101、分類模組102及顯示模組103。
所述設定模組100用於選擇信號線的分類條件。所述的分類條件包括:信號線所屬的電路層、信號類型、線寬及信號特徵。需要指出的是,上述分類條件是可複選的,例如在實際應用中,若只需要按照信號線所屬的電路層和線寬來進行分類,則只需要選擇信號線所屬的信號層及線寬兩個分類條件即可。
所述資料獲取模組101用於從記憶體2中獲取待排查的印刷電路板文件,並從該文件中獲取該印刷電路板所有信號線的資料資訊。
所述分類模組102用於根據上述選擇的信號線的分類條件將待排查的印刷電路板的所有信號線進行分類。
為了更清楚地說明本發明,以下對每個分類條件的分類過程進行闡述:
按照信號線的所屬的電路層進行分類,具體就是將信號線分為五類,包括:頂層線、底層線、內層線、電源層線、地層線。
按照信號類型進行分類,具體就是將信號線分為差分信號線和單端信號線。
按線寬分類,具體就是信號線按照線寬進行分類。
按信號特徵進行分類,具體就是將信號線按照信號特徵進行分類,具體為將信號線分為位址線、資料線、時鐘線、控制線。
需要說明的是上述過程闡述的是按照每一個分類條件單獨分類的過程,當分類條件是複選時,例如有兩個分類條件或多個時,則兩個或多個分類條件之間沒有特定的先後順序。
所述的顯示模組103用於將上述分類結果顯示於電腦1的顯示裝置3上。該顯示模組103還用於當選擇分類後的某一條信號線時,顯示模組103將該信號線在待排查印刷電路板中的位置資訊顯示於顯示裝置3上。
上述分類結束後,印刷電路板特徵阻抗測試人員只需要抽取每一類信號線中一條或幾條進行特徵阻抗測試,即可得到反映整個待排查印刷電路板的全面的特徵阻抗的測試結果。
如圖2所示,係本發明印刷電路板信號線分類排查方法之流程圖。
步驟S202,通過設定模組100選擇信號線的分類條件。所述的分類條件包括按照信號線所屬的電路層、信號類型、線寬及信號特徵。需要指出的是,上述分類條件是可複選的,例如在實際應用
中,若只需要按照信號線所屬的電路層和線寬來進行分類,則只需要選擇信號線所屬的信號層及線寬兩個分類條件即可。
步驟S204,資料獲取模組101從記憶體2中獲取待排查的印刷電路板文件,並從該文件中獲取該印刷電路板所有信號線的資料資訊。
步驟S206,分類模組102根據上述選擇的信號線的分類條件將待排查的印刷電路板的所有信號線進行分類。
為了更清楚地說明本發明,以下對每個分類條件的分類過程進行闡述:按照信號線的所屬的電路層進行分類,具體就是將信號線分為五類,包括:頂層線、底層線、內層線、電源層線、地層線。
按照信號類型進行分類,具體就是將信號線分為差分信號線和單端信號線。
按線寬分類,具體就是信號線按照線寬進行分類。
按信號特徵進行分類,具體就是將信號線按照信號特徵進行分類,具體為將信號線分為位址線、資料線、時鐘線、控制線。
需要說明的上述過程闡述的是按照每一個分類條件單獨分類的過程,當分類條件是複選時,例如有兩個分類條件或多個時,則兩個或多個分類條件之間沒有特定的先後順序。
步驟S208,並將上述分類結果顯示於電腦1的顯示裝置上。
當選擇分類後的某一條信號線時,顯示模組103將該信號線在待排查印刷電路板中的位置資訊顯示於電腦1的顯示裝置上。
上述分類結束後,印刷電路板特徵阻抗測試人員抽取每一類信號線中一條或幾條進行特徵阻抗測試,從而得到整個印刷電路板的全面的特徵阻抗的測試結果。
如圖3所示,係是本發明印刷電路板信號線分類排查系統的用戶介面之示意圖。通過該介面可以選擇需要進行分類排查的印刷電路板及選擇信號分類條件。
如圖4所示,係經過本發明印刷電路板信號線分類排查系統對待排查的印刷電路板進行分類後的結果之示意圖。
從上述顯示結果,印刷電路板特徵阻抗測試人員抽取每一類信號線中一條或幾條進行特徵阻抗測試,從而得到整個印刷電路板的全面的特徵阻抗的測試結果。
以上所述僅為本發明之較佳實施例而已,且已達廣泛之使用功效,凡其他未脫離本發明所揭示之精神下所完成之均等變化或修飾,均應包含在下述之申請專利範圍內。
10‧‧‧印刷電路板信號線分類排查系統
1‧‧‧電腦
2‧‧‧記憶體
3‧‧‧顯示裝置
100‧‧‧設定模組
101‧‧‧資料獲取模組
102‧‧‧分類模組
103‧‧‧顯示模組
Claims (6)
- 一種印刷電路板信號線分類排查系統,該系統運行於電腦中,該電腦中儲存有待排查的印刷電路板文件,該系統包括:設定模組,用於選擇信號線的分類條件,所述的分類條件包括該信號線所屬的電路層、信號類型、線寬及信號特徵;資料獲取模組,用於從該電腦中獲取該待排查的印刷電路板文件,並從該文件中獲取該印刷電路板所有信號線的資料資訊;分類模組,用於根據上述選擇的信號線的分類條件將待排查的印刷電路板的所有信號線進行分類;顯示模組,用於將上述分類結果顯示於電腦的顯示裝置上,從上述顯示結果抽取每一類信號線中一條或幾條進行特徵阻抗測試,從而得到整個印刷電路板的全面的特徵阻抗的測試結果。
- 如申請專利範圍第1項所述之印刷電路板信號線分類排查系統,所述分類條件是可複選的。
- 如申請專利範圍第1項所述之印刷電路板信號線分類排查系統,所述顯示模組還用於當選擇分類後的某一條信號線時,將該信號線在待排查印刷電路板中的位置資訊顯示於電腦的顯示裝置上。
- 一種印刷電路板信號線分類排查方法,該方法包括:(a)選擇信號線的分類條件,所述的分類條件包括該信號線所屬的電路層、信號類型、線寬及信號特徵;(b)獲取待排查的印刷電路板文件,並從該文件中獲取該印刷電路板所有信號線的資料資訊;(c)根據上述選擇的信號線的分類條件將獲取的待排查的印刷電路板的 所有信號線進行分類;(d)將分類結果顯示於電腦的顯示裝置上,從上述顯示結果抽取每一類信號線中一條或幾條進行特徵阻抗測試,從而得到整個印刷電路板的全面的特徵阻抗的測試結果。
- 如申請專利範圍第4項所述之印刷電路板信號線分類排查方法,所述分類條件是可複選的。
- 如申請專利範圍第4項所述之印刷電路板信號線分類排查方法,在步驟(d)之後還包括:當選擇分類後的某一條信號線時,將該信號線在待排查印刷電路板中的位置資訊顯示於電腦的顯示裝置上。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW098140026A TWI464433B (zh) | 2009-11-25 | 2009-11-25 | 印刷電路板信號線分類排查系統及方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW098140026A TWI464433B (zh) | 2009-11-25 | 2009-11-25 | 印刷電路板信號線分類排查系統及方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201118396A TW201118396A (en) | 2011-06-01 |
TWI464433B true TWI464433B (zh) | 2014-12-11 |
Family
ID=44935633
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW098140026A TWI464433B (zh) | 2009-11-25 | 2009-11-25 | 印刷電路板信號線分類排查系統及方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
TW (1) | TWI464433B (zh) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5865734B2 (ja) * | 2012-03-01 | 2016-02-17 | 株式会社Screenホールディングス | 領域分類装置、そのプログラム、基板検査装置、および領域分類方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW451272B (en) * | 2000-05-31 | 2001-08-21 | Promos Technologies Inc | Automated wafer classifying procedure device and method |
TW488005B (en) * | 2001-02-22 | 2002-05-21 | Chipmos Technologies Inc | Testing and sorting system for semiconductor devices |
TW557480B (en) * | 2002-08-01 | 2003-10-11 | Taiwan Semiconductor Mfg | Automatic wafer sorting system and method |
US20030206027A1 (en) * | 1999-04-28 | 2003-11-06 | Hitachi, Ltd. | Method of inspecting circuit pattern and inspecting instrument |
TWI242146B (en) * | 2003-10-03 | 2005-10-21 | Inventec Besta Co Ltd | Digital information characteristics management system and method for same |
TW200604870A (en) * | 2004-05-07 | 2006-02-01 | Mentor Graphics Corp | Integrated circuit layout design methodology with process variation bands |
-
2009
- 2009-11-25 TW TW098140026A patent/TWI464433B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20030206027A1 (en) * | 1999-04-28 | 2003-11-06 | Hitachi, Ltd. | Method of inspecting circuit pattern and inspecting instrument |
TW451272B (en) * | 2000-05-31 | 2001-08-21 | Promos Technologies Inc | Automated wafer classifying procedure device and method |
TW488005B (en) * | 2001-02-22 | 2002-05-21 | Chipmos Technologies Inc | Testing and sorting system for semiconductor devices |
TW557480B (en) * | 2002-08-01 | 2003-10-11 | Taiwan Semiconductor Mfg | Automatic wafer sorting system and method |
TWI242146B (en) * | 2003-10-03 | 2005-10-21 | Inventec Besta Co Ltd | Digital information characteristics management system and method for same |
TW200604870A (en) * | 2004-05-07 | 2006-02-01 | Mentor Graphics Corp | Integrated circuit layout design methodology with process variation bands |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201118396A (en) | 2011-06-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7141669B2 (ja) | Pcb設計レイアウトの回路開放短絡検査方法、検出システム及び電子デバイス | |
US9496853B2 (en) | Via resistance analysis systems and methods | |
US8413097B2 (en) | Computing device and method for checking design of printed circuit board layout file | |
CN110659661A (zh) | 瑕疵分类标记系统及瑕疵分类标记方法 | |
CN111880076B (zh) | 一种信号测试点检测方法、系统及相关组件 | |
CN107220442A (zh) | 一种用于pcb的差分过孔对检测工具 | |
CN104112031A (zh) | 检测电路板上芯片电源引脚布线的方法和装置 | |
TWI464433B (zh) | 印刷電路板信號線分類排查系統及方法 | |
WO2019019498A1 (zh) | Pcb线路获取方法、获取系统和维修的方法 | |
KR20120086410A (ko) | 자동광학검사기의 티칭데이터 자동 생성 장치 및 그 방법 | |
TWI468965B (zh) | 佈線檢查系統及方法 | |
TW201324219A (zh) | 訊號線檢查系統及方法 | |
US8464201B2 (en) | Electronic device and simulation method for checking printed circuit board power loss | |
US20140351776A1 (en) | Detecting device and method for pcb layout | |
JP5216517B2 (ja) | 画像検査システム | |
CN115794638A (zh) | 基于代码变更分析引擎的测试方法、系统及计算机设备 | |
TW202113599A (zh) | 依據標準值建立檢測模型以確認焊接狀態之系統及方法 | |
WO2021197231A1 (zh) | 图像标注方法、装置及系统 | |
JP4480947B2 (ja) | 製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システム | |
CN102043873B (zh) | 印刷电路板信号线分类排查系统及方法 | |
CN112702905A (zh) | 印刷电路板良率和生产设备错误率之回溯方法及其系统 | |
CN103870610A (zh) | 信号线检查系统及方法 | |
TW201316860A (zh) | 訊號線檢查系統及方法 | |
CN111043952A (zh) | 一种pcb接口排针垂直度自动检测方法 | |
WO2019047392A1 (zh) | 一种差分线路测试信息确定方法及设备 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |